[go: up one dir, main page]

JP5069191B2 - 光学読み取り装置 - Google Patents

光学読み取り装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5069191B2
JP5069191B2 JP2008213833A JP2008213833A JP5069191B2 JP 5069191 B2 JP5069191 B2 JP 5069191B2 JP 2008213833 A JP2008213833 A JP 2008213833A JP 2008213833 A JP2008213833 A JP 2008213833A JP 5069191 B2 JP5069191 B2 JP 5069191B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
angle
illumination light
light source
illumination
dark field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008213833A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010049528A (ja
Inventor
貴久 水田
秀知 崎山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kowa Co Ltd
Original Assignee
Kowa Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kowa Co Ltd filed Critical Kowa Co Ltd
Priority to JP2008213833A priority Critical patent/JP5069191B2/ja
Priority to US12/461,782 priority patent/US8243134B2/en
Publication of JP2010049528A publication Critical patent/JP2010049528A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5069191B2 publication Critical patent/JP5069191B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10Image acquisition
    • G06V10/12Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G06V10/14Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
    • G06V10/141Control of illumination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8822Dark field detection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9501Semiconductor wafers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Structure And Mechanism Of Cameras (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Description

本発明は、光学読み取り装置、特に被写体の画像を読み取る撮影光学系および撮像素子を有する光学読み取り装置に関するものである。
光学顕微鏡や半導体検査装置のような光学読み取り装置では、対象物体をいかに照明するか(光量、波長、入射角度の違い)で得られる画像が大きく異なる。画像の違いは、読み取りや検査の性能、信頼性に直結する。微細な対象を視認しやすくしたり、OCRなどの処理効率を高める上で暗視野照明は重要な照明手段である。
暗視野照明光源は、撮影光学系の光軸に一致しない照明角度で被写体を照明するためのものであるが、暗視野照明にリングスリット状の反射部を用いた照明光学系により照明光学系の周辺方向から被写体を照明するような構成(たとえば下記の特許文献1)の他、光学読み取り装置では発光ダイオード(LED)をある程度の指向性をもって配置する、たとえば光軸を取り囲むようなパターンで配置してリング照明として用いる技術が実用化されている。
また、この種の光学読み取り装置の読み取り対象の一例として半導体ウェハがあり、たとえば、この種の光学読み取り装置は、鏡面状の表面にマーキングされた記号をOCR処理などを介して読み取る場合に用いられることがある。また、その他にもレンズやガラス板のキズ検査などにも暗視野照明は有効であるが、マーキングやキズの深さまたはその上及び周辺への付着物や背景の状況によっては照明光の照射角度が重要になってくる。なお付着物とは酸化膜や窒化膜、ポリイミド等であり、背景は回路パターンなどが考えられる。
前述の通り、暗視野照明の光源には指向性が求められるので、さまざまな深さのキズ/マーキングに対応するにはさまざまな角度で照射する暗視野照明装置が必要となる。ウェハのマーキング認識に用いられるOCR光学系において、様々な品種のウェハに合わせた照明の入射角度が個々のウェハマーキングの認識率向上に大きく寄与するため、フレキシブルに対応できる光学系が求められている。
特許3445722号
上述のような半導体ウェハのマーキング、文字などを読み取る光学読み取り装置においては、さまざまな深さのキズ/マーキングに対応するために、物体に対し望んだ入射角度で照明できるような位置にLEDなどを用いた照明光源を配置することが考えられる。この場合、複数の入射角度の照明が必要な場合には、複数箇所に暗視野照明光源を配置することが必要になる。
しかしながら、このような手法で暗視野照明の入射角度の種類を増やせば、装置の汎用性は広がるが、照明光源の数が増え、配置スペースも大きくなることにより、装置の大型化、製造コストの増大につながる問題がある。また、暗視野照明の態様を可変にするにしても、場合によっては照明光源の向きを変えるだけでなく照明光源の位置も変える必要があり、適切な構造でない限り、照明光源の可動範囲に制限が加わったり、いたずらに装置が大型化、高コスト化する可能性がある。
本発明の課題は、上記の問題に鑑み、対象物の特性などに合せて暗視野照明の入射角度を種々に変更でき、撮影画像の視認性や画像処理効率を向上できるようにすることにある。
上記課題を解決するため、本発明においては、被写体の画像を読み取る撮影光学系および撮像素子を有する光学読み取り装置において、前記撮影光学系の光軸に不一致な照明角度で前記被写体を照明する暗視野照明光源と、前記暗視野照明光源の照明光を前記被写体方向に反射させる反射手段と、前記暗視野照明光源の照明光により直接被写体を照明する第1の照明角度、または、前記暗視野照明光源の照明光の前記反射手段を介した反射によって前記被写体を照明する第2の照明角度のいずれかを得られるように前記暗視野照明光源の角度および位置を調節する調節手段を有し、前記反射手段が、前記撮影光学系の近傍に配置された、前記暗視野照明光源とは異なる明視野照明光源および低角度暗視野照明光源を用いた照明光学系に含まれ、前記低角度暗視野照明光源が光軸との入射角度が1°乃至3°の第1低角度暗視野照明光源と、光軸との入射角度が3°乃至5°の第2低角度暗視野照明光源からなる構成を採用した。
あるいはさらに、前記反射手段の反射角度を調節する手段を有する構成を採用した。
上記構成によれば、前記調節手段により、前記暗視野照明光源の照明光を直接被写体を照明する第1の照明角度、または、前記反射手段を介した反射によって前記被写体を照明する第2の照明角度のいずれかを得られるように調節を行なえるので、異なるの照明方向を有する暗視野照明光源を多数配置するような構成に比して、装置の大型化、製造コストの増大を抑えつつ、広い暗視野照明光源の入射角度範囲を選択することができ、読み取った画像の画像処理、たとえばOCR処理などの効率を向上させることができる。
また、前記反射手段は、前記撮影光学系の近傍に配置された、前記暗視野照明光源とは異なる照明光源を用いた照明光学系に含まれる、たとえば、該照明光学系に含まれる反射手段を兼用することにより構成することができる。特に該照明光学系は、たとえば明視野照明光学系として構成することができる。
また、前記反射手段を含む、前記撮影光学系の近傍に配置された前記暗視野照明光源とは異なる照明光源を用いた照明光学系には、異なる照射角度の低角度暗視野照明光学系を設けることができる。さらに、以下の前記反射手段の反射角度を調節する手段を設けることによって、これらの低角度暗視野照明光学系の照射角度も調節でき、より多様な角度範囲内で暗視野照明角度を選択することができる。
さらに、前記反射手段の反射角度を調節する手段を設けることによって、より大きな角度範囲内で暗視野照明角度を選択することができる。
以下、図面を参照して、発明を実施するための最良の形態の一例として、半導体ウェハのマーキングや欠陥の読み取りに利用可能な光学読み取り装置に関する実施例を示す。
図1は本発明を採用した光学読み取り装置200の撮影光学系および照明光学系の要部の構成を示している。図1において符号201は光学読み取り装置200の筐体で、このプラスチックや金属などの材料からほぼL字型に構成された筐体201の内部、撮影光学系および照明光学系が収容されている。
撮影光学系は、CCDやCMOSセンサなどから成る撮像素子211を含み、その前方には前群レンズ213および後群レンズ212から成る光学系が配置されている。前群レンズ213の前方には全反射ミラー214が配置されており、撮影光学系の光軸は垂直下方に向けられている。
撮像素子211の出力は不図示の画像処理回路に入力され、撮影された画像を不図示のディスプレイに表示したり、あるいは被写体O(たとえば半導体ウェハ)のマーキングや文字などを撮影された画像からOCR処理などを介して読み取る処理が行なわれる。
撮影光学系の下部には、明視野照明と暗視野照明の両方を含む照明光学系が配置されている。この照明光学系はたとえば複数のLED光源から成るLEDアレイによって構成されたLED221を光源として含む。LED221は、照明光軸にほぼ一致するよう配置された明視野照明光源221a、第1の入射角度、たとえば2°(1°〜3°程度)の入射角度を有する低角度暗視野照明光源221b、そして、第2の入射角度、たとえば3°(3°〜5°程度)の入射角度を有する低角度暗視野照明光源221c、の3種の照明光源から構成される。このLED221の前方にはコンデンサレンズ222が配置され、ほぼ平行光に変換された照明光の光軸は、全反射ミラー214の下部に配置されたハーフミラー215により反射され、特に明視野照明光源221aの明視野照明光の光軸は撮影光学系の光軸とほぼ同軸となるよう垂直下方に向けられている。
ただし、LED221には明視野照明光源221aのみを含めるようにし、ハーフミラー215を介して照明を行うこの照明系は明視野照明光学系として用いるようにしてもよい。
本実施例では、ハーフミラー215は、後述の暗視野照明光源(LED231)の照明光を被写体O方向に反射させる反射手段としても用いられる。
ハーフミラー215はたとえば光軸と直交する方向に配置された支軸215aにより回動自在に支持されるとともに、不図示の機構によってたとえば1〜数度の角度の範囲内で任意の揺動角度で固定できるようになっている。これは上述の低角度暗視野照明光源221b、221cの照明光の照明角度を調整するためのものである。ハーフミラー215の角度は、不図示のノッチ機構などによって、明視野照明の光軸が正しく撮影光学系の光軸と同軸となるように迅速に初期位置に復帰できるように構成してもよい。
さらに明視野照明光学系の下部に相当する筐体201の下面には暗視野照明光学系を収容するハウジング203を突出して設けてある。
ハウジング203はたとえば図3に示すように筐体201の左右の側板を延長して構成することができ、これら左右の側板の間に、たとえば図2に示すようなブランコ型の支持部材250を介して暗視野照明光源としてのLED231が支持されている。
このLED231を照明光源として用いた暗視野照明光源は、撮影光学系の光軸に一致しない照明角度で被写体を照明するためのものである。
支持部材250は、図2に示すように、左右のアーム244、244の中間部に支持部245を有し、アーム244、244と支持部245の間の角部にLED231を配列した基板を支持するための支持板245a、245aを有する。これらの構造は、たとえば金属板の曲げ加工やプラスチックの一体成型などによって構成できる。
LED231は図3に示すように基板231a上に複数配列してある。図3では一列であるが、LED231の配列パターンはこのようなパターンに限定されるものではなく当業者において任意である。また、LED231は、投光部がレンズ状に加工されたタイプの素子を用いることによって、その先端方向に投光指向性を有するものとする。
基板231aは、左右のビス245c(図3では右側不図示)により支持部材250の角部に設けられた支持板245a、245a(図2)のタップ穴245b、245bに固着される。
支持部材250のアーム244、244の先端には透孔241a、241aが設けられており、図1および図3に示すように、ハウジング203の左右の側板に設けられた長孔243、243にビス241、241およびナット242、242を介して固定される。
本実施例では、ナット242、242は単なるリング状の部材として示してあるが、周囲に滑り止めのナール加工を施したり、あるいは蝶ナットを用いるなどして手動で緩めたり締め込んだりする操作を容易に行なえるようにしておく。
以上のような構造により、暗視野照明光源としてのLED231は図1に示すようにナット242、242〜ビス241、241の螺着を緩めることによって、支持部材250(図1では破線によって図示)を回動させることにより暗視野照明の角度(姿勢)を変更することができるとともに、長孔243、243に沿って上下に移動することによって位置も調節することができる。これにより暗視野照明の角度を変更しても、上下移動によってLED231の光軸が、被写体Oと、撮像光学系の光軸が交わる位置からずれないように調整することができる。
図1において、符号232、233、234はそれぞれ上記の支持部材250の回動および長孔243、243に沿っての上下動によって選択可能なLED231の照明姿勢を示している。
支持部材250の回動および長孔243、243に沿っての上下可動範囲は、符号231、232により示すようにLED231から直接、被写体Oを照明できるように、また、調節によってLED231からハーフミラー215方向を照射し、ハーフミラー215を介した反射によって被写体Oを照明できるように長孔243、243の長さ、位置、あるいは支持部材250のアーム244、244の長さを決定しておく。
このようにして、被写体Oに対する暗視野照明の角度を、LED231から直接、被写体Oを照明する第1の照明角度aと、ハーフミラー215を介した反射によって被写体Oを照明する第2の照明角度bのいずれかにそれぞれ選択できる。また、支持部材250のアーム244、244の角度、およびアーム244、244の長孔243、243に対する固着位置を微調整することにより、第1の照明角度aと第2の照明角度bはそれぞれ微調整が可能である。たとえば、第1の照明角度aの場合は、符号p〜qのように撮影光軸からおよそ60度〜70度の照明角度範囲を選択することができ、第2の照明角度bの場合は、符号r〜sのように撮影光軸からおよそ14度〜16度の照明角度範囲を選択することができる。
ここで、ハーフミラー215を利用せずに直接、このような角度範囲で暗視野照明をしようとすると構成に無理が生じることが判る。たとえば、図1の構成のままbのような照射角度範囲を得ようとすると、図1のハーフミラー215の下部に符号Aで示した位置にLED231を配置しなければならなくなるが、これでは撮像光学系にケラレが生じるため、実際にはLED231そのものが撮像光学系に入らないようにするより離れた撮像光学系に配置する必要が生じ、これにより構成が大型化する可能性があり、好ましくない。
さらに、ハーフミラー215を介した反射によって被写体Oを照明する第2の照明角度bの場合は、支軸215aを介してハーフミラー215を微少な角度で揺動させ、固定することによって、LED231とは異なる、位置が固定されたLED221の低角度暗視野照明光源221b、221cに関しても多様な角度範囲内で照明角度を調整することもでき、上記よりもさらに大きな角度範囲内で照明角度を選択することもできる。
これにより、たとえば、撮像素子211を介して読み取った被写体Oの画像の視認性が良くなかったり、OCR処理などの認識効率などに問題があった場合には、ナット242、242〜ビス241、241を緩めて第1の照明角度a、または第2の照明角度bを選択したり、またそれぞれの角度を微調整することによって、より適切な画像読み取り結果を得ることができる。
本実施例によれば、上記のように、明視野ないし低角度の暗視野照明用として配置されたハーフミラー215の反射を利用することにより、一つの照明光源で、まったく異なる2つの角度可変範囲を持つ照明を実現することができる。また、本実施例では、LED231を塔載した基板231aをある程度の長さを有するアーム244、244を有するブランコ型の支持部材250により支持し、さらにその支持部材250の固着角度および固着位置を長孔243、243によって微調整できるようにしているため、入射角度の可変範囲を、できるだけ少ない可動範囲で実現することができ、ハウジング203の部分をいたずらに大型化することがない。
以上のように、本実施例では、少なくとも一つの照明光源の取付角度および位置を可動させることにより、ある範囲で照明入射角度を連続的に変化させることが可能となる。その時の入射角度範囲は照明光源の可動範囲と対象物体との位置関係で決まってしまうが、さらにハーフミラー215(あるいは場合によってはミラー:たとえばハーフミラー215のかわりにリング状のミラーを配置する場合など)の反射を利用することにより、あるいはさらにハーフミラー215の揺動位置を調節することにより、各々1つの照明光源及びその可動範囲で、異なる2つ以上の多様な入射角度範囲を実現することができ、好ましい画質の撮影画像を得るチャンスを大きく広げることができる、という優れた効果がある。
本発明を採用した光学読み取り装置の構成を示した模式図である。 図1の光学読み取り装置のLEDの支持部材の構成を示した斜視図である。 図1の光学読み取り装置の要部の構成を示した斜視図である。
符号の説明
O 被写体
200 光学読み取り装置
203 ハウジング
211 撮像素子
212 後群レンズ
213 前群レンズ
214 全反射ミラー
215 ハーフミラー
221 LED
222 コンデンサレンズ
231 LED
241a、241a 透孔
242、242 ナット
243、243 長孔
244、244 アーム
245 支持部
250 支持部材

Claims (2)

  1. 被写体の画像を読み取る撮影光学系および撮像素子を有する光学読み取り装置において、
    前記撮影光学系の光軸に不一致な照明角度で前記被写体を照明する暗視野照明光源と、
    前記暗視野照明光源の照明光を前記被写体方向に反射させる反射手段と、
    前記暗視野照明光源の照明光により直接被写体を照明する第1の照明角度、または、前記暗視野照明光源の照明光の前記反射手段を介した反射によって前記被写体を照明する第2の照明角度のいずれかを得られるように前記暗視野照明光源の角度および位置を調節する調節手段を有し、
    前記反射手段が、前記撮影光学系の近傍に配置された、前記暗視野照明光源とは異なる明視野照明光源および低角度暗視野照明光源を用いた照明光学系に含まれ、
    前記低角度暗視野照明光源が光軸との入射角度が1°乃至3°の第1低角度暗視野照明光源と、光軸との入射角度が3°乃至5°の第2低角度暗視野照明光源からなることを特徴とする光学読み取り装置。
  2. 請求項に記載の光学読み取り装置において、前記反射手段の反射角度を調節する手段を有することを特徴とする光学読み取り装置。
JP2008213833A 2008-08-22 2008-08-22 光学読み取り装置 Expired - Fee Related JP5069191B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008213833A JP5069191B2 (ja) 2008-08-22 2008-08-22 光学読み取り装置
US12/461,782 US8243134B2 (en) 2008-08-22 2009-08-21 Optical reader capable of changing the incident angle of dark field illumination

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008213833A JP5069191B2 (ja) 2008-08-22 2008-08-22 光学読み取り装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010049528A JP2010049528A (ja) 2010-03-04
JP5069191B2 true JP5069191B2 (ja) 2012-11-07

Family

ID=41696000

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008213833A Expired - Fee Related JP5069191B2 (ja) 2008-08-22 2008-08-22 光学読み取り装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8243134B2 (ja)
JP (1) JP5069191B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9575008B2 (en) * 2014-02-12 2017-02-21 ASA Corporation Apparatus and method for photographing glass in multiple layers
US9298647B2 (en) 2014-08-25 2016-03-29 HGST Netherlands B.V. Method and apparatus to generate zero content over garbage data when encryption parameters are changed
IL254325B2 (en) 2015-03-13 2024-03-01 Genea Ltd Method and device for microscopy
US10302598B2 (en) 2016-10-24 2019-05-28 General Electric Company Corrosion and crack detection for fastener nuts

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4222804A1 (de) * 1991-07-10 1993-04-01 Raytheon Co Einrichtung und verfahren zur automatischen visuellen pruefung elektrischer und elektronischer baueinheiten
US5737122A (en) * 1992-05-01 1998-04-07 Electro Scientific Industries, Inc. Illumination system for OCR of indicia on a substrate
JP3386269B2 (ja) * 1995-01-25 2003-03-17 株式会社ニュークリエイション 光学検査装置
JP3980722B2 (ja) * 1997-04-03 2007-09-26 株式会社モリテックス Ccdマイクロスコープ
US5933521A (en) * 1997-06-23 1999-08-03 Pasic Engineering, Inc. Wafer reader including a mirror assembly for reading wafer scribes without displacing wafers
US6667762B1 (en) * 1998-05-29 2003-12-23 Robotic Vision Systems, Inc. Miniature inspection system
US6870949B2 (en) * 2003-02-26 2005-03-22 Electro Scientific Industries Coaxial narrow angle dark field lighting
US7823783B2 (en) * 2003-10-24 2010-11-02 Cognex Technology And Investment Corporation Light pipe illumination system and method
JP4825426B2 (ja) * 2005-01-31 2011-11-30 財団法人 東京都医学総合研究所 生物顕微鏡に用いる暗視野照明装置
US20070153084A1 (en) * 2005-12-30 2007-07-05 George Deveau Semiconductor wafer reader and illumination system
JP3142994U (ja) * 2008-04-22 2008-07-03 株式会社渋谷光学 暗視野照明装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010049528A (ja) 2010-03-04
US8243134B2 (en) 2012-08-14
US20100045807A1 (en) 2010-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100871855B1 (ko) 디지털 카메라를 사용한 책 스캐너
JP5086687B2 (ja) レーザ加工装置
CN102095736B (zh) 双光学放大倍率图像采集装置及图像采集控制处理系统
WO2005103658A1 (ja) 欠陥検査装置およびそれを用いた基板製造システム
JP5069191B2 (ja) 光学読み取り装置
CN107621692A (zh) 一种物镜模块及显微镜
JP2008064656A (ja) 周縁検査装置
CN107390449A (zh) 照明装置及检查装置
JP2012181114A (ja) 外観検査装置
JP2001027780A (ja) 接写用レンズユニット
JP2020170366A5 (ja)
KR100803461B1 (ko) 촬상렌즈 및 촬상렌즈 모듈용 검사 및 조정장치
JP7266514B2 (ja) 撮像装置及び表面検査装置
JP5954757B2 (ja) 外観検査装置
JP3951833B2 (ja) 資料提示装置
JP2014033049A (ja) 板状ワーク中心検出方法
CN207502807U (zh) 一种物镜模块及显微镜
JP2008128770A (ja) レンズ性能検査装置及びレンズ性能検査方法
JP2013083726A (ja) 拡大観察装置
US10996106B2 (en) Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method comprising a control unit to pivot a first and a second arm to hold an image pickup device in plural postures
US20070153084A1 (en) Semiconductor wafer reader and illumination system
JP7222765B2 (ja) 画像測定装置
KR102040564B1 (ko) 광학식 손떨림 보정유닛 성능 검사장치
TWI542860B (zh) 適用於光學檢測的可調適照明裝置
JP2011122820A (ja) 電子部品の実装部分確認用スコープ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110805

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120521

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120612

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120807

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120816

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150824

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees