JP5011973B2 - フォトマスク - Google Patents
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Description
図4、及び図5に示すように、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタ(4)は、ガラス基板(40)上にブラックマトリックス(41)、着色画素(42)、及び透明導電膜(43)が順次に形成されたものである。
図4、及び図5はカラーフィルタを模式的に示したもので、着色画素(42)は12個表されているが、実際のカラーフィルタにおいては、例えば、対角17インチの画面に数百μm程度の着色画素が多数個配列されている。
ブラックマトリックス(41)は、遮光性を有するマトリックス状のものであり、着色画素(42)は、例えば、赤色、緑色、青色のフィルタ機能を有するものであり、透明導電膜(43)は、透明な電極として設けられたものである。
ブラックマトリックスは、カラーフィルタの着色画素の位置を定め、大きさを均一なものとし、また、表示装置に用いられた際に、好ましくない光を遮蔽し、表示装置の画像をムラのない均一な、且つコントラストを向上させた画像にする機能を有している。
或いは、ガラス基板(40)上に、ブラックマトリックス形成用の黒色感光性樹脂を用いてフォトリソグラフィ法によってブラックマトリックス(41)を形成するといった方法がとられている。
また、透明導電膜(43)の形成は、着色画素が形成されたブラックマトリックス基板上に、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)を用いスパッタ法によって透
明導電膜を形成するといった方法がとられている。
多様な液晶表示装置の開発、実用に伴い、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタには、上記基本的な機能に付随して種々な機能が付加されるようになった。
しかし、TN型液晶においては、原理的に広い視野角を得ることは困難であり、コントラストが低下し表示品質が悪化する。コントラストが良好な視野角は狭いといった問題を有していた。
また、図9(a)、(b)は、別な例の一画素を拡大して示す平面図、及び断面図である。図9(a)、(b)に示すように、この別な例は、平面形状がストライプ状の配向制御用リブ(23B)であり、一画素内で90°屈曲させた配向制御用リブ(23B)が形成されたカラーフィルタ(8B)である。このようなカラーフィルタを用いた液晶表示装置は、一画素内で液晶分子の傾斜方向が4方向となる。
いは図9に示す配向制御用リブ(23B)が設けられたカラーフィルタは、設けられた配向制御用突起の総面積に準じて光の透過率が低下する。すなわち、配向制御用突起が設けられたカラーフィルタを用いた液晶表示装置には、その分の輝度(透過率)の低下がもたらされる。
従って、液晶表示装置の輝度(透過率)を更に向上させるために、配向制御用突起に関しては、画素内の液晶の配向を正常に行う高さが保たれ、且つ極力狭い幅であることが要求されている。
フォトマスク(PM)は、フォトスペーサー、及び配向制御用突起(23A)或いは配向制御用リブ(23B)の形成に対応したパターンが形成されている。フォトマスクの膜面(51)はフォトレジスト層(60)に対向している。
図6中に示す点線は、照射される光の回折によって光分解されない、すなわち、現像処理後にフォトスペーサー及び配向制御用突起として形成される部分に対応したフォトレジスト層(60)の部分を表している。
ポジ型フォトレジストを用いた場合、ギャップ(G)の幅が100μm程度で得られる配向制御用突起(23A)の幅(W3)は12μm程度、高さ(H3)は1.4μm程度が限度である。
図1は、本発明によるフォトマスクの一参考例の遮光パターンの一部を拡大して示す平面図である。このフォトマスクは、配向制御用突起を形成するためのものであり、配向制御用突起を形成するフォトレジストとしてポジ型フォトレジストを用いた際のものである。
図1に示すように、フォトマスクの光透過領域(52)中に、外径(D1)の寸法が12μm以下の円形の遮光パターンであって、その遮光パターンの中心部に光透過部(T0)を有する環状遮光パターン(P1)が設けられている。
尚、図1には、環状遮光パターン(P1)の外形が円形で、光透過部(T0)の外形が円形の例を示してある。
環状遮光パターン(P1)の環状の線幅(W1)が0.5μmより小さいと、干渉の効果が少なく微細な配向制御用突起が形成されない。また、線幅(W1)が3.0μmより大きいと、解像してしまい断面形状がかまぼこ状突起とならず、環状の突起となってしまう。
すなわち、請求項1に係わる発明は、12μm以下で、より微細な配向制御用突起の形成に好適なものである。
配向制御用突起の形成に用いるポジ型フォトレジストの組成を下記に示す。
・樹脂 :クレゾールノボラックエポキシ樹脂 12wt%
・感光剤 :ジアゾナフトキノン(DNQ) 14wt%
・溶剤:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMAC)
73.95%
〔フォトマスク〕
配向制御用突起を形成する遮光パターンとして、図1に示す遮光パターンにおいて、環状遮光パターン(P1)の外径(D1)が9μm、光透過部(T0)の外径(D2)が5μm、環状遮光パターン(P1)の線幅(W1)が2μmを有する遮光パターンを用いた。
ガラス基板上にブラックマトリックス、着色画素、及び透明導電膜を順次に形成し、この透明導電膜上に上記組成のポジ型フォトレジストを塗布して膜厚2.0μmのフォトレジスト層を設けた。
近接露光のギャップを100μmとし、上記フォトマスクを介した露光を100mJ/cm2 与え、現像、ベーキングを施し配向制御用突起を形成した。
得られた配向制御用突起は高さ(膜厚)1.3μm、外径8.0μmを有し、平面形状が円形、断面形状がかまぼこ状の良好な配向制御用突起であった。
20・・・TFT基板
21・・・液晶分子
22a、22b、23・・・配向制御用突起
23A、23B・・・配向制御用突起(リブ、楕円形状)
27・・・液晶分子
40・・・ガラス基板
41・・・ブラックマトリックス
41A・・・マトリックス部
41B・・・額縁部
42・・・着色画素
43・・・透明導電膜
50・・・フォトマスクの基板
51・・・フォトマスクの膜面
52・・・フォトマスクの光透過領域
60・・・フォトレジスト層
73・・・フォトスペーサー
80・・・MVA−LCD
D1・・・環状遮光パターンの外径
D2・・・光透過部の外径
G・・・近接露光のギャップ
H3、H4・・・配向制御用突起(リブ)の高さ
L・・・露光光
P0・・・島状の光遮光部
P1・・・環状遮光パターン
PM・・・フォトマスク
T0・・・光透過部
W1・・・環状遮光パターンの幅
Claims (3)
- 近接露光法を用いたフォトリソグラフィ法により、ポジ型フォトレジストを用いて設けた感光性組成物層に所望形状の配向制御用突起を形成する際に使用するフォトマスクにおいて、該感光性組成物層に配向制御用突起を形成するための単位の遮光パターンとして、フォトマスクの光透過領域中に、径もしくは一辺の寸法が12μm以下の円形もしくは多角形の遮光パターンであって、該遮光パターンの中心部に光透過部を有する環状遮光パターンを形成し、前記光透過部の中心に、さらに島状の光遮光部を形成したことを特徴とするフォトマスク。
- 前記環状遮光パターンの線幅が、0.5μm〜3.0μmであることを特徴とする請求項1記載のフォトマスク。
- 前記光透過部の外形が、環状遮光パターンの外形と相似であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載のフォトマスク。
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