[go: up one dir, main page]

JP4971835B2 - 露光方法及び露光装置 - Google Patents

露光方法及び露光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4971835B2
JP4971835B2 JP2007053316A JP2007053316A JP4971835B2 JP 4971835 B2 JP4971835 B2 JP 4971835B2 JP 2007053316 A JP2007053316 A JP 2007053316A JP 2007053316 A JP2007053316 A JP 2007053316A JP 4971835 B2 JP4971835 B2 JP 4971835B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposed
photomask
pattern
exposure
alignment mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007053316A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008216593A (ja
Inventor
本 正 実 岩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
V Technology Co Ltd
Original Assignee
V Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by V Technology Co Ltd filed Critical V Technology Co Ltd
Priority to JP2007053316A priority Critical patent/JP4971835B2/ja
Publication of JP2008216593A publication Critical patent/JP2008216593A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4971835B2 publication Critical patent/JP4971835B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

本発明は、被露光体を一方向に搬送し、光源から被露光体にフォトマスクを介して所定のタイミングで露光光を照射し、所定のパターンを露光する方法に関し、詳しくは、フォトマスクの配置のずれ量を検出して露光光の照射タイミングを自動補正し、パターンの露光位置精度を向上しようとする露光方法及び露光装置に係るものである。
従来の露光装置は、光源から露光光を被露光体に対して照射する露光光学系と、該露光光学系に対向して配置され上記被露光体を載置して一定速度で搬送する搬送手段とを備え、上記露光光学系の光路上に介装するフォトマスクのマスクパターンの像を上記被露光体上に露光するもので、上記被露光体の移動方向にて露光光学系による露光位置の手前側を撮像位置とし、被露光体に予め形成された基準パターンを撮像する撮像手段と、該撮像手段で撮像された基準パターンに予め設定された基準位置を検出し、該基準位置を基準にして露光光学系の露光光の照射タイミングを制御し、被露光体の所定位置にフォトマスクのマスクパターンの像を露光させる制御手段と、を備えていた(例えば、特許文献1参照)。
特開2006−17895号公報
しかし、このような従来の露光装置は、露光光の照射タイミングを自動調整する機能を有していなかったので、フォトマスクの配置が被露光体の搬送方向にずれた場合にはマスクパターンを所定位置に正しく露光することが困難であった。したがって、パターンの露光位置精度を高い精度で確保することが困難であった。
この場合、パターンの露光位置精度を高い精度で確保するためには、照射タイミングを変えて複数回の試し露光を実施し、適切な照射タイミングを見つける必要があった。
そこで、本発明は、このような問題点に対処し、フォトマスクの配置のずれ量を検出して露光光の照射タイミングを自動補正し、パターンの露光位置精度を向上しようとする露光方法及び露光装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、第1の発明による露光方法は、表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送し、光源から前記被露光体にフォトマスクを介して所定のタイミングで露光光を照射し、前記フォトマスク上に前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に少なくとも一列に並べて設けられた複数のマスクパターンを露光する露光方法であって、前記マスクパターンの列に対して前記被露光体の搬送方向手前側の位置にて、前記基準パターンを観察するために前記フォトマスクに設けられている覗き窓内、又は該覗き窓外に前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸上に中心軸を合致させて形成され、前記軸に対して互いに異なる角度で交差する第1及び第2の細線状パターンを含んで構成したアライメントマークを、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に複数の受光素子を一直線に並べた撮像手段により撮像する段階と、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出する段階と、前記フォトマスクのずれ量により前記露光光の照射タイミングを自動補正して露光光を照射する段階と、を実行するものである。
第2の発明による露光方法は、表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送し、光源から前記被露光体にフォトマスクを介して所定のタイミングで露光光を照射し、前記フォトマスク上に前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に少なくとも一列に並べて設けられた複数のマスクパターンを露光する露光方法であって、前記フォトマスクのマスクパターンの列の中心軸上又は該中心軸に平行な軸上に形成され、前記中心軸又は前記軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されたアライメントマークを、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に複数の受光素子を一直線に並べた撮像手段により撮像する段階と、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出する段階と、前記フォトマスクのずれ量により前記露光光の照射タイミングを自動補正して露光光を照射する段階と、を実行するものである
好ましくは、前記撮像手段は、前記被露光体上に設けられた基準パターン、及び前記アライメントマーク同一視野内に捕らえて同時にフォーカスさせて撮像するのが望ましい。
より好ましくは、前記露光光を照射する段階は、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて、前記被露光体に形成された基準パターンの搬送方向の先頭側に位置する縁部を検出し、該縁部が検出されてから、予め設定された値に前記フォトマスクのずれ量を加算補正した距離だけ前記被露光体が移動したタイミングで露光光を照射するのが望ましい
さらに好ましくは、前記露光光を照射する段階の前に、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記被露光体上に設けられた基準パターンの前記搬送方向に平行して伸びた縁部と前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンのうち、いずれか一方の細線状パターン上予め設定された基準位置との間の距離を演算して該距離が所定値となるように前記フォトマスクを前記被露光体に対して相対的に前記搬送方向と略直交する方向に変位するのが望ましい。
また、上記第2の発明において、前記フォトマスクは、前記被露光体上に設けられた基準パターンを観察可能とする覗き窓を前記マスクパターンの列の側方に設け、前記アライメントマークを前記覗き窓内又は覗き窓外に形成し、前記覗き窓が前記被露光体の搬送方向手前側となるように前記被露光体に対して対向配置されるのが望ましい。
さらに、上記第1の発明において、前記アライメントマークは、前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと、前記軸に対して所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されるのが望ましい。
この場合、又は、上記第2の発明においては、前記アライメントマーク、二本の前記第1の細線状パターン、及び該二本の第1の細線状パターンの間に設けられた一本の前記第2の細線状パターンを含で構成されるのが望ましい。
また、第3の発明による露光装置は、表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送する搬送手段と、前記搬送手段の上方に配設され、少なくとも一列に並んだ複数のマスクパターンと、該マスクパターンの列の側方に設けられ、前記被露光体の前記基準パターンを観察するための覗き窓と、該覗き窓内又は覗き窓外にて前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸上に中心軸を合致させて形成され、前記軸に対して互いに異なる角度で交差する第1及び第2の細線状パターンを含んで構成したアライメントマークとを設けたフォトマスクを、前記マスクパターンの列の中心軸が前記被露光体の搬送方向に略直交すると共に前記覗き窓が前記マスクパターンの列に対して前記被露光体の搬送方向手前側となるようにして前記被露光体と近接対向させて保持するマスクステージと、前記フォトマスクを介して前記被露光体に照射する露光光を放射する光源と、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に一直線に並べて複数の受光素子を有し、前記フォトマスクの前記アライメントマークを撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出し、前記露光光の照射タイミングを前記フォトマスクのずれ量により補正制御する制御手段と、を備えものである。
さらに、第4の発明による露光装置は、表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送する搬送手段と、前記搬送手段の上方に配設され、少なくとも一列に並んだ複数のマスクパターンと、該マスクパターンの列の中心軸上又は該中心軸に平行な軸上に形成され、前記中心軸又は前記軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されたアライメントマークとを設けたフォトマスクを、前記マスクパターンの列の中心軸が前記被露光体の搬送方向に略直交するようにして被露光体と近接対向させて保持するマスクステージと、前記フォトマスクを介して前記被露光体に照射する露光光を放射する光源と、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に一直線に並べて複数の受光素子を有し、前記フォトマスクの前記アライメントマークを撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出し、前記露光光の照射タイミングを前記フォトマスクのずれ量により補正制御する制御手段と、を備えたものである
好ましくは、前記撮像手段は、前記被露光体上に設けられた基準パターン、及び前記アライメントマーク同一視野内に捕らえて同時にフォーカスさせて撮像するのが望ましい。
より好ましくは、前記制御手段は、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて、前記被露光体に形成された基準パターンの搬送方向の先頭側に位置する縁部を検出し、該縁部が検出されてから、予め設定された値に前記フォトマスクのずれ量を加算補正した距離だけ前記被露光体が移動したタイミングで露光光が照射されるように制御するのが望ましい。
さらに好ましくは、前記マスクステージは、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に前記フォトマスクを変位可能に形成され、前記制御手段は、前記撮像手段により撮像された前記基準パターン及び前記アライメントマークの画像に基づいて、前記基準パターンの前記搬送方向に平行して伸びた縁部と前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンのうち、いずれか一方の細線状パターン上予め設定された基準位置との間の距離を演算し、該距離が所定値となるように前記マスクステージを駆動制御して前記フォトマスクを前記搬送方向と交差する方向に変位させるのが望ましい。
そして、前記光源は、前記制御手段によって制御されて点灯及び消灯するフラッシュランプであるのが望ましい。
請求項1,2,9又は10に係る発明によれば、フォトマスクの配置のずれ量を検出して露光光の照射タイミングを自動補正し、マスクパターンの露光位置精度を向上することができる。したがって、本露光を行なう前に複数回の試し露光を行なって露光光の適切なタイミングを見つける必要がなく、露光工程の時間短縮を図ることができる。
また、請求項3又は11に係る発明によれば、撮像手段により被露光体の基準パターンとフォトマスクに設けられたアライメントマークとを同一視野内に捕らえて同時にフォーカスさせて撮像して、露光光の照射タイミングの演算、及び被露光体の基準パターンとフォトマスクのマスクパターンとの間の搬送方向と略直交する方向のずれ量の演算をリアルタイムで行なうことができる。したがって、被露光体の搬送速度を上げて露光をすることができ、露光時間をより短縮することができる。
さらに、請求項4又は12に係る発明によれば、露光光の照射タイミングの基準を被露光体に形成された基準パターンの搬送方向の先頭側に位置する縁部に設定しているので、受光素子を被露光体の搬送方向に略直交する方向に一直線に並べて有する撮像手段により、その輝度変化を検出して上記縁部を容易に検出することができる。したがって、フォトマスクのずれ量の検出と被露光体の基準パターンの上記縁部の検出とを一台の撮像手段で行なうことができ、撮像手段の構成を簡単にすることができる。
そして、請求項5又は13に係る発明によれば、フォトマスクのマスクパターンと被露光体の基準パターンとの位置合わせをすることができ、マスクパターンの露光位置精度をより向上することができる。
また、請求項6に係る発明によれば、マスクパターンの列の側方に覗き窓を形成し、該覗き窓を通してフォトマスクに対向して搬送される被露光体上に設けられた基準パターンを観察するようにしているので、撮像手段による基準パターンの撮像が容易になる。
さらに、請求項7に係る発明によれば、被露光体の搬送方向へのフォトマスクの配置のずれ量は、第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測し、その間隔と予めメモリに記憶された基準値との差分を演算することにより算出することができる。また、フォトマスクのずれ量の検出分解能を向上することができる。したがって、露光光の照射タイミングの制御精度を向上することができる。
さらにまた、請求項8に係る発明によれば、被露光体の搬送方向へのフォトマスクの配置のずれ量は、隣り合う細線状パターンの間隔を計測し、その間隔の差分を演算することにより算出することができる。したがって、基準値を予めメモリに記憶しておく必要がない。また、フォトマスクのずれ量の検出分解能を向上することができる。したがって、露光光の照射タイミングの制御精度を向上することができる。
そして、請求項14に係る発明によれば、露光光の照射及び停止の制御を容易に行なうことができると共に、その制御を高速に行なうことができる。
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明による露光装置の第1の実施形態を示す概要図である。この露光装置は、被露光体を一方向に搬送し、被露光体にフォトマスク9を介して所定のタイミングで露光光を照射し、所定のパターンを露光するもので、搬送手段1と、マスクステージ2と、光源3と、撮像手段4と、照明手段5と、制御手段6とから成る。なお、以下の説明においては、被露光体が感光性樹脂としてカラーレジストを塗布したカラーフィルタ基板7から成る場合について述べる。
上記搬送手段1は、載置面であるステージ8上面にカラーフィルタ基板7を載置して矢印A方向に搬送するものであり、図示省略の搬送用モータが後述の制御手段6により制御されてステージ8を移動するようになっている。また、上記搬送手段1には、図示省略の例えばエンコーダやリニアセンサー等の位置検出センサーや速度センサーが設けられており、その出力を制御手段6にフィードバックして位置検出及び速度制御を可能にしている。なお、上記ステージ8には、カラーフィルタ基板7の全露光領域に対応して図示省略の開口部が設けられており、ステージ8の下方に配設された後述の照明手段5によりカラーフィルタ基板7を下方から照明できるようになっている。
搬送手段1の上方には、マスクステージ2が設けられている。このマスクステージ2は、複数のマスクパターン12を設けたフォトマスク9(図2参照)をカラーフィルタ基板7と、例えば100〜300μmのギャップを介して近接対向して保持するものであり、フォトマスク9の複数のマスクパターン12が形成された領域に対応して開口部を設け、フォトマスク9の周縁部を保持するようになっている。また、マスクステージ2は、制御手段6により制御されてカラーフィルタ基板7の搬送方向(図1の矢印A方向)と略直交する方向にフォトマスク9を変位可能に形成されている。この場合、マスクステージ2を駆動する手段は、例えばモータと、ボールネジと、ガイドレールとを組み合わせて構成することができる。なお、上記略直交するという記載は、所定の許容範囲内で直交するということを意味し、以下同様である。
ここで、上記フォトマスク9は、図2に示すように、透明基材10と、遮光膜11と、マスクパターン12と、アライメントマーク13と、覗き窓14とから成っている。
上記透明基材10は、紫外線及び可視光を高効率で透過する透明なガラス基材であり、例えば石英ガラスから成る。上記透明基材10の一方の面10aには、図3又は図4に示すように、遮光膜11が形成されている。この遮光膜11は、露光光を遮光するものであり、不透明な例えばクロム(Cr)の薄膜で形成されている。
上記遮光膜11には、図2に示すように、例えば一列に並べて複数のマスクパターン12が形成されている。この複数のマスクパターン12は、対向して搬送されるカラーフィルタ基板7に露光光を照射可能とする所定形状の開口であり、図5に示すカラーフィルタ基板7上に形成されたブラックマトリクス15のピクセル16(基準パターン)上に転写されるものである。また、例えば上記ピクセル16の縦横幅と略一致した矩形状とされ、上記ピクセル16のピッチ間隔と一致した間隔で形成されている。そして、図2に示すように、例えば中央近傍部に位置するマスクパターン12aの同図において下側縁部が基準位置Sとして予め設定されている。なお、図2においては、複数のマスクパターン12を一列に並べて設けた場合について示しているが、マスクパターン12の列は複数列であってもよい。
上記透明基材10の他方の面10bにて上記マスクパターン12の形成領域に対応した領域(図2参照)には、図3に示すように、紫外線反射防止膜17が形成されており、露光光に含まれる紫外線成分の透過効率を向上できるようになっている。
上記マスクパターン12の列の側方には、図2に示すように、該マスクパターン12の列の中心軸Xに平行で所定距離Lだけ離れた軸Y上に中心軸を合致させてアライメントマーク13が設けられている。このアライメントマーク13は、上記マスクパターン12に予め設定された基準位置Sと上記カラーフィルタ基板7のピクセル16に予め設定された基準位置S(図5参照)との位置合わせをすると共に、フォトマスク9の配置のずれ量を検出するためのものであり、上記軸Yに対して互いに異なる角度で交差する少なくとも二本の細線状パターンから構成されている。その具体的構成例は、同図に示すようにマスクパターン12の列の中心軸Xに平行な軸Yに対して直交して伸びた第1の細線状パターンとしての二本の細線状パターン18a,18bと、該二本の細線状パターン18の間に設けられ上記軸Yに対して45度の角度で傾斜した第2の細線状パターンとしての細線状パターン18cとからなっている。そして、マスクパターン12の列の中心軸Xに平行な軸Yに直交して伸びた二本の細線状パターン18a,18bのうち、例えば、同図において下側の細線状パターン18a上にアライメント基準位置予め設定されている。これにより、上記細線状パターン18aと上記カラーフィルタ基板7の基準位置Sとの間の距離が所定値となるようにフォトマスク9の位置を調整することにより、上記マスクパターン12の基準位置Sとカラーフィルタ基板7の基準位置Sとの位置合わせができる。なお、細線状パターン18cの傾斜角度は、45度に限られない。また、アライメントマーク13は、軸Yに直交する二本の細線状パターン18a,18bと、該二本の細線状パターン18a,18b間に設けられ軸Yに対して傾斜した細線状パターン18cとで構成したものに限られず、軸Yに対して直交する細線状パターンと傾斜した細線状パターンとを含んで構成したものであれば如何なるものであってもよい。ただし、以下の説明においては、アライメントマーク13を上記三本の細線状パターン18a〜18cで構成した場合について述べる。
上記マスクパターン12の列の側方には、図2に示すように、覗き窓14が形成されている。この覗き窓14は、対向して搬送される図5に示すカラーフィルタ基板7に形成されたピクセル16を観察するためのものであり、後述する撮像手段4により例えば図5に示すように中央近傍部に位置するピクセル16aの搬送方向に平行して伸びた同図において下側縁部に予め設定された基準位置Sを検出可能となっている。そして、図2に示すように、上記マスクパターン12の列の中心軸Xに平行して一方の端部9a側から他方の端部9b側に向かって伸びて矩形状に形成され、その内部に上記アライメントマーク13を配設している。なお、覗く窓14は、マスクパターン12の列の中心軸Xに平行して中央部から一方の端部9aに向かって伸びて矩形状に形成され、その外部に上記アライメントマーク13を配設してもよい。
また、図4に示すように、透明基材10の他方の面10bにて上記覗き窓14及びアライメントマーク13の形成領域に対応した領域(図2参照)には、可視光を透過し紫外線を反射する波長選択性膜19が形成され、露光光に含まれる紫外線成分が上記覗き窓14及びアライメントマーク13形成領域を通してカラーフィルタ基板7に照射され、カラーフィルタ基板7に塗布されたカラーレジストを露光するのを防止できるようになっている。
そして、上記フォトマスク9は、図1に示すように、上記遮光膜11を形成した側を下にし、覗き窓14をカラーフィルタ基板7の搬送方向手前側に位置させ、且つマスクパターン12の列の中心軸Xが上記搬送方向(矢印A方向)と略直交するようにしてマスクステージ2に保持される。
マスクステージ2の上方には、光源3が設けられている。この光源3は、フォトマスク9を介してカラーフィルタ基板7に照射する紫外線の露光光を放射するものであり、制御手段6によって制御されて点灯及び消灯するフラッシュランプである。なお、光源3から放射される露光光は、例えばコンデンサレンズ20により平行光にされてフォトマスク9を照射するようになっている。
搬送手段1のステージ8の上方には、撮像手段4が設けられている。この撮像手段4は、カラーフィルタ基板7に形成されたブラックマトリクス15のピクセル16とフォトマスク9に形成されたアライメントマーク13とをハーフミラー21を介してそれぞれ同一視野内に捕えて撮像するものであり、カラーフィルタ基板7の搬送方向と略直交する方向に一直線に並べて複数の受光素子22(図9参照)を有するラインカメラである。その具体的構成例は、図1に示すように、複数の受光素子22と、その前方に配設されてカラーフィルタ基板7に形成されたブラックマトリクス15のピクセル16やフォトマスク9に形成されたアライメントマーク13をそれぞれ上記受光素子22の受光面上に結像させる集光レンズ23と、受光素子22と集光レンズ23との間に設けられた光学距離補正手段24と、を備えている。
上記光学距離補正手段24は、図6に示すように、受光素子22とカラーフィルタ基板7との間の光学距離及び受光素子22とフォトマスク9との間の光学距離を略合致させるものであり、空気の屈折率よりも大きい所定の屈折率を有する透明な部材、例えばガラスプレートから成っている。これにより、撮像手段4の光軸方向にずれて位置するカラーフィルタ基板7のピクセル16とフォトマスク9のアライメントマーク13とを同時にフォーカスさせて撮像することができる。
上記搬送手段1のステージ8の下方には、上記マスクステージ2と対向して照明手段5が設けられている。この照明手段5は、可視光からなる照明光を放射してカラーフィルタ基板7を裏面から照明し、撮像手段4によりカラーフィルタ基板7のピクセル16とフォトマスク9のアライメントマーク13とを撮像可能にするものであり、例えばハロゲンランプ等である。そして、照明手段5の照明光の放射方向前方には、図示省略の紫外線カットフィルタが設けられており、照明手段5から放射される可視光に含まれる紫外線によりカラーフィルタ基板7のカラーレジストが露光されるのを防止している。
上記搬送手段1、撮像手段4、マスクステージ2、及び光源3に電気的に結線して制御手段6が設けられている。この制御手段6は、撮像手段4により撮像された画像を処理し、フォトマスク9のアライメントマーク13を構成する三本の細線状パターン18a〜18cの間隔を計測してフォトマスク9のカラーフィルタ基板7の搬送方向へのずれ量を算出し、露光光の照射タイミングを上記フォトマスク9のずれ量により補正制御するものであり、図7に示すように、搬送手段駆動コントローラ25と、画像処理部26と、マスクステージ駆動コントローラ27と、光源駆動コントローラ28と、照明手段駆動コントローラ29と、演算部30と、メモリ31と、制御部32と、を備えている。
上記搬送手段駆動コントローラ25は、搬送手段1のステージ8を矢印A方向に所定速度で移動させるものであり、搬送手段1に備えた速度センサーの出力をフィードバックして速度制御をするようになっている。
また、上記画像処理部26は、撮像手段4により撮像された画像を2値化処理して一ライン分の画像データを順次出力するものである。
さらに、上記マスクステージ駆動コントローラ27は、カラーフィルタ基板7のピクセル16の基準位置Sとフォトマスク9のアライメントマーク13のアライメント基準位置(細線状パターン18a)との間の距離が所定値となるようにマスクステージ2を変位させるものである。
さらにまた、上記光源駆動コントローラ28は、光源3の点灯及び消灯を駆動制御するものである。そして、上記照明手段駆動コントローラ29は、照明手段5の点灯及び消灯を駆動制御するものである。
また、上記演算部30は、画像処理部26からの画像データに基づいてフォトマスク9に設けられたアライメントマーク13の三本の細線状パターン18a〜18cのうち隣り合う二つの細線状パターン18a,18c及び18b,18c間隔を計測してその差を演算し、フォトマスク9の搬送方向へのずれ量を算出し、カラーフィルタ基板7に形成されたピクセル16の搬送方向に先後して位置する二つの縁部16b,16cの位置データを搬送手段1の位置センサーから入力して、該二つの縁部16b,16c間の中心位置を算出し、該ピクセル16の中心位置が検出されてからマスクパターン12の列の中心軸Xとアライメントマーク13の中心軸Yとの間の距離Lに上記フォトマスク9のずれ量を加算等するものである。
さらに、上記メモリ31は、図示省略の操作手段により入力される制御パラメータ、例えばカラーフィルタ基板7の搬送速度V、光源3の照射時間、光源3の出力値等や、マスクパターン12の列の中心軸Xとアライメントマーク13の中心軸Yとの間の距離L、カラーフィルタ基板7のピクセル16の基準位置Sとアライメントマーク13の基準位置(細線状パターン18a)との間の設定距離D、及び上記演算部30で演算された結果等を一時的に保存するものである。
そして、上記制御部32は、上記各構成要素が適切に駆動するように装置全体を統合して制御するものである。
次に、このように構成された露光装置の動作、及び該露光装置を使用して行なう露光方法について説明する。
先ず、フォトマスク9が遮光膜11を形成した側を下にし、覗き窓14をカラーフィルタ基板7の搬送方向(矢印A方向)手前側に位置させ、且つマスクパターン12の列の中心軸Xが上記搬送方向と略直交するようにしてマスクステージ2に保持される。
次に、所定のカラーレジストを塗布したカラーフィルタ基板7が搬送手段1のステージ8上の所定位置に載置される。そして、図示省略の露光開始スイッチが投入されると、露光装置が起動し、制御手段6の照明手段駆動コントローラ29により照明手段5が点灯される。また、搬送手段駆動コントローラ25が起動してステージ8が所定速度Vで図1に示す矢印A方向への移動を開始し、カラーフィルタ基板7が同方向に搬送される。さらに、撮像手段4が起動し、フォトマスク9の覗き窓14を通してカラーフィルタ基板7上の画像とフォトマスク9のアライメントマーク13とが同時にフォーカスされて撮像され、制御手段6の画像処理部26で2値化処理されて一ライン分の画像データが順次出力される。
ここで、制御手段6の演算部30においては、先ず、撮像手段4により撮像された画像の画像データに基づいて、図8に示すようにフォトマスク9のアライメントマーク13の三本の細線状パターン18a〜18cのうち隣り合う二つの細線状パターン18a,18c及び18b,18cの間隔G,Gが計測される。具体的には、撮像手段4により撮像された画像の輝度変化により上記三本の細線状パターン18a〜18cのエッジを検出した後、各細線状パターンの中心位置が検出される。そして、隣り合う二つの細線状パターン18a,18c及び18b,18cの間隔G,Gの差が演算され、フォトマスク9の搬送方向へのずれ量G=(G−G)/2が算出される。このずれ量Gは、メモリ31に一時的に保存される。
次に、撮像手段4により撮像された画像の画像データにより、図9に示すカラーフィルタ基板7のピクセル16の搬送方向に先後して位置する二つの縁部16b,16cのうち先頭側の縁部16bが検出される。該ピクセル16の搬送方向先頭側縁部16bの検出は、上記撮像手段4の画像が暗から明に変化する瞬間をとらえることにより検出することができる。そして、上記ピクセル16の搬送方向先頭側縁部16bが検出されると、その位置データPが搬送手段1の位置センサーの出力により取得される。
さらに、撮像手段4の画像が明から暗に変化する瞬間をとらえて、図9に示すピクセル16の搬送方向後尾側縁部16cが検出されると、その位置データPが搬送手段1の位置センサーの出力により取得される。
次に、上記二つの位置データP,Pを用いて、ピクセル16の二つの縁部16b,16c間の中心位置Pが演算部30で(P+P)/2を演算することによって算出される。そして、演算部30において、このピクセル16の中心位置Pと、マスクパターン12の列の中心軸X及びアライメントマーク13の中心軸Y間の距離Lと、フォトマスク9の搬送方向へのずれ量Gとに基づいて露光光の照射位置Pが、
P=Ks×P+L+Ke×G…(1)
を演算することによって求められる。そして、この演算結果はメモリ31に一時保存される。なお、式(1)において、Ks,Keは撮像手段4の分解能であり、Ksはカラーフィルタ基板7の搬送方向の分解能を示し、Keは撮像手段4の隣接する受光素子22間の分解能を示している。
同時に、撮像手段4により撮像された画像の輝度変化に基づいて、カラーフィルタ基板7のピクセル16に予め設定された図9に示す基準位置Sと、アライメントマーク13に予め設定された基準位置(細線状パターン18a)との間の距離Dが演算部30で計測される。
そして、マスクステージ駆動コントローラ27において、上記計測された距離Dがメモリ31から読み出された所定値Dと比較され、図10に示すように(D−D)=0となるようにマスクステージ2がマスクステージ駆動コントローラ27によって搬送方向と交差する方向に変位される。なお、図9に示すように、フォトマスク9がカラーフィルタ基板7に対して相対的に矢印B方向にずれているときには、図10に示すようにフォトマスク9を矢印C方向に移動すればよい。
引き続きカラーフィルタ基板7は、図1に示す矢印A方向に搬送される。このとき、光源駆動コントローラ28においては、カラーフィルタ基板7が搬送される間、搬送手段1の位置センサーから常時出力されるカラーフィルタ基板7の位置データとメモリ31から読み出された露光光照射位置Pのデータとが比較される。そして、両データが一致したとき、光源3を点灯駆動するトリガーが光源駆動コントローラ28から光源3に出力され、光源3が所定時間だけ点灯される。これにより、光源3から所定時間だけ露光光が放射され、フォトマスク9のマスクパターン12がカラーフィルタ基板7のピクセル16上に露光される。
以後、カラーフィルタ基板7の搬送方向に沿って並ぶ各ピクセル16の中心位置Pが検出される毎に、上記式(1)を演算して露光光照射位置Pが算出される。そして、カラーフィルタ基板7が搬送されて、露光光照射位置Pに達する毎に光源3を点灯駆動するトリガーが光源駆動コントローラ28から光源3に出力され、光源3が所定時間だけ点灯される。これにより、カラーフィルタ基板7の各ピクセル16上にフォトマスク9のマスクパターン12が露光される。
この場合、光源3を点灯駆動するトリガーが二つ置きに出力されるようにすれば、図5に斜線を付して示すように、カラーフィルタ基板7の複数のピクセル16に対して二列置きに露光することができる。
なお、上記第1の実施形態においては、カラーフィルタ基板7のピクセル16の中心位置Pの検出を基準にして露光タイミングを設定する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、ピクセル16の搬送方向先頭側縁部16bの検出を基準にして露光タイミングを設定してもよい。
図12は本発明の露光装置の第2の実施形態の概略構成を示す正面図である。上記第1の実施形態と異なるところは、図13に示すように、フォトマスク9に例えば一列に並べて設けられた複数のマスクパターンの列の中心軸上にアライメントマーク13を設けた点である。したがって、この第2の実施形態においては、撮像手段4によりフォトマスク9のアライメントマーク13と、マスクパターン12を通して観察されるカラーフィルタ基板7のピクセル16とが同時に撮像される。
このように構成された第2の実施形態の露光装置によれば、先ず、撮像手段4によりアライメントマーク13が撮像されて、図13に示すようにフォトマスク9の矢印A方向へのずれ量Gが算出される。次に、撮像手段4によりフォトマスク9のマスクパターン12を通してカラーフィルタ基板7のピクセル16の搬送方向先頭側縁部が検出されると、露光光の照射タイミングが演算される。例えば、ピクセル16の搬送方向の幅をWとすると、上記ピクセル16の搬送方向先頭側縁部が検出されてカラーフィルタ基板7が(W/2+G)だけ移動した時点で露光光を照射するように照射タイミングが設定され、同時刻に光源3が所定時間だけ点灯されて露光光が照射される。なお、ここでは、撮像手段4の分解能Ks,Keは考慮していないが、露光位置精度をより向上するためには、上記分解能を考慮して露光光の照射タイミングを演算するとよい。
また、同時に、撮像手段4によりフォトマスク9のマスクパターン12を通して、カラーフィルタ基板7のピクセル16に設定された基準位置Sが検出され、上記第1の実施形態と同様に、基準位置Sとアライメントマーク13の細線状パターン18aとの距離が計測される。そして、この距離が予め設定された値と一致するようにフォトマスク9がカラーフィルタ基板7の搬送方向と略直交する方向に変位される。これにより、フォトマスク9のマスクパターン12に設定された基準位置Sとカラーフィルタ基板7のピクセル16の基準位置Sとが位置合わせされる。
なお、上記第1及び第2の実施形態においては、フォトマスク9の基準位置Sとカラーフィルタ基板7の基準位置Sとのアライメントをとる場合について説明したが、例えば、フォトマスク9のマスクパターン12の形状がカラーフィルタ基板7の搬送方向と略直交する方向に並んだ一列分のピクセル16の長さに対応した長さのライン状である場合には、フォトマスク9とカラーフィルタ基板9とのアライメントはとらなくてもよい。
また、上記第1及び第2の実施形態においては、露光光の照射及び停止の制御を光源の点灯及び消灯の制御により行なう場合について説明したが、本発明はこれに限られず、シャッターの開閉により露光光の照射及び停止の制御を行ってもよい。
さらに、上記第1及び第2の実施形態においては、照明手段5を搬送手段1のステージ8の下方に設けて背面照明とした場合について説明したが、本発明はこれに限られず、上記ステージ8の上方に設けて落射照明としてもよい。
また、以上の説明においては、フォトマスク9の覗き窓14又はマスクパターン12を通してカラーフィルタ基板7のピクセル16を観察する場合について述べたが、本発明はこれに限られず、例えば従来の露光装置にフォトマスク9の配置のずれ量Gを検出するための撮像手段を設け、カラーフィルタ基板7のピクセル16を撮像する他の撮像手段をフォトマスク7の搬送方向手前側に設けてもよい。この場合、上記他の撮像手段でピクセル16の搬送方向先頭側縁部16b又はピクセル16の中心位置Pを検出してから露光を実行するタイミングを、上記フォトマスク9の配置のずれ量Gにより補正して行なえばよい。
さらに、以上の説明においては、露光光を所定のタイミングで間欠照射する場合について述べたが、本発明はこれに限られず、露光開始時における露光光の照射タイミングを上記フォトマスク9の配置のずれ量Gにより補正して行ってもよい。
そして、以上の説明においては、被露光体がカラーフィルタ基板7である場合について述べたが、本発明はこれに限られず、被露光体は、所定の基準パターンがマトリクス状に設けられたものであれば如何なるものであってもよい。
本発明による露光装置の第1の実施形態を示す概要図である。 上記露光装置において使用されるフォトマスクの平面図である。 上記フォトマスクのX−X線断面図である。 上記フォトマスクのY−Y線断面図である。 上記露光装置において使用されるカラーフィルタ基板の平面図である。 上記露光装置に備えられた撮像手段の光学距離補正を示す説明図である。 上記露光装置の制御手段の概略構成を示すブロック図である。 上記フォトマスクの配置のずれ量の算出原理を示す説明図である。 上記フォトマスクとカラーフィルタ基板とのアライメント調整を説明する図であり、調整前の状態を示す平面図である。 上記フォトマスクとカラーフィルタ基板とのアライメント調整を説明する図であり、調整後の状態を示す平面図である。 上記露光装置における露光光の照射タイミングを説明する平面図である。 本発明による露光装置の第2の実施形態の概略構成を示す正面図である。 上記第2の実施形態の露光装置に適用されるフォトマスクの一構成例を示す平面図である。
符号の説明
1…搬送手段
2…マスクステージ
3…光源
4…撮像手段
6…制御手段
7…カラーフィルタ基板(被露光体)
9…フォトマスク
12…マスクパターン
14…覗き窓
16…ピクセル(基準パターン)
18a,18b…細線状パターン(第1の細線状パターン)
18c…細線状パターン(第2の細線状パターン)

Claims (14)

  1. 表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送し、光源から前記被露光体にフォトマスクを介して所定のタイミングで露光光を照射し、前記フォトマスク上に前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に少なくとも一列に並べて設けられた複数のマスクパターンを露光する露光方法であって、
    前記マスクパターンの列に対して前記被露光体の搬送方向手前側の位置にて、前記基準パターンを観察するために前記フォトマスクに設けられている覗き窓内、又は該覗き窓外に前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸上に中心軸を合致させて形成され、前記軸に対して互いに異なる角度で交差する第1及び第2の細線状パターンを含んで構成したアライメントマークを、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に複数の受光素子を一直線に並べた撮像手段により撮像する段階と、
    前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出する段階と、
    前記フォトマスクのずれ量により前記露光光の照射タイミングを自動補正して露光光を照射する段階と、
    を実行することを特徴とする露光方法。
  2. 表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送し、光源から前記被露光体にフォトマスクを介して所定のタイミングで露光光を照射し、前記フォトマスク上に前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に少なくとも一列に並べて設けられた複数のマスクパターンを露光する露光方法であって、
    前記フォトマスクのマスクパターンの列の中心軸上又は該中心軸に平行な軸上に形成され、前記中心軸又は前記軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されたアライメントマークを、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に複数の受光素子を一直線に並べた撮像手段により撮像する段階と、
    前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出する段階と、
    前記フォトマスクのずれ量により前記露光光の照射タイミングを自動補正して露光光を照射する段階と、
    を実行することを特徴とする露光方法。
  3. 前記撮像手段は、前記被露光体上に設けられた基準パターン、及び前記アライメントマーク同一視野内に捕らえて同時にフォーカスさせて撮像することを特徴とする請求項1又は2記載の露光方法。
  4. 前記露光光を照射する段階は、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて、前記被露光体に形成された基準パターンの搬送方向の先頭側に位置する縁部を検出し、該縁部が検出されてから、予め設定された値に前記フォトマスクのずれ量を加算補正した距離だけ前記被露光体が移動したタイミングで露光光を照射することを特徴とする請求項1又は2記載の露光方法。
  5. 前記露光光を照射する段階の前に、前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記被露光体上に設けられた基準パターンの前記搬送方向に平行して伸びた縁部と前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンのうち、いずれか一方の細線状パターン上予め設定された基準位置との間の距離を演算して該距離が所定値となるように前記フォトマスクを前記被露光体に対して相対的に前記搬送方向と略直交する方向に変位することを特徴とする請求項1又は2記載の露光方法。
  6. 前記フォトマスクは、前記被露光体上に設けられた基準パターンを観察可能とする覗き窓を前記マスクパターンの列の側方に設け、前記アライメントマークを前記覗き窓内又は覗き窓外に形成し、前記覗き窓が前記被露光体の搬送方向手前側となるように前記被露光体に対して対向配置されることを特徴とする請求項2記載の露光方法。
  7. 前記アライメントマークは、前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと、前記軸に対して所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されたことを特徴とする請求項1記載の露光方法。
  8. 前記アライメントマーク、二本の前記第1の細線状パターン、及び該二本の第1の細線状パターンの間に設けられた一本の前記第2の細線状パターンを含で構成されたことを特徴とする請求項2又は7記載の露光方法。
  9. 表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送する搬送手段と、
    前記搬送手段の上方に配設され、少なくとも一列に並んだ複数のマスクパターンと、該マスクパターンの列の側方に設けられ、前記被露光体の前記基準パターンを観察するための覗き窓と、該覗き窓内又は覗き窓外にて前記マスクパターンの列の中心軸に平行な軸上に中心軸を合致させて形成され、前記軸に対して互いに異なる角度で交差する第1及び第2の細線状パターンを含んで構成したアライメントマークとを設けたフォトマスクを、前記マスクパターンの列の中心軸が前記被露光体の搬送方向に略直交すると共に前記覗き窓が前記マスクパターンの列に対して前記被露光体の搬送方向手前側となるようにして前記被露光体と近接対向させて保持するマスクステージと、
    前記フォトマスクを介して前記被露光体に照射する露光光を放射する光源と、
    前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に一直線に並べて複数の受光素子を有し、前記フォトマスクの前記アライメントマークを撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出し、前記露光光の照射タイミングを前記フォトマスクのずれ量により補正制御する制御手段と、
    を備えたことを特徴とする露光装置。
  10. 表面に基準パターンが設けられた被露光体を一方向に搬送する搬送手段と、
    前記搬送手段の上方に配設され、少なくとも一列に並んだ複数のマスクパターンと、該マスクパターンの列の中心軸上又は該中心軸に平行な軸上に形成され、前記中心軸又は前記軸に対して直交して伸びた第1の細線状パターンと所定の角度で傾斜した第2の細線状パターンとを含んで構成されたアライメントマークとを設けたフォトマスクを、前記マスクパターンの列の中心軸が前記被露光体の搬送方向に略直交するようにして被露光体と近接対向させて保持するマスクステージと、
    前記フォトマスクを介して前記被露光体に照射する露光光を放射する光源と、
    前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に一直線に並べて複数の受光素子を有し、前記フォトマスクの前記アライメントマークを撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段により撮像された画像を処理し、前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンの間隔を計測して前記フォトマスクの前記搬送方向へのずれ量を算出し、前記露光光の照射タイミングを前記フォトマスクのずれ量により補正制御する制御手段と、
    を備えたことを特徴とする露光装置。
  11. 前記撮像手段は、前記被露光体上に設けられた基準パターン、及び前記アライメントマーク同一視野内に捕らえて同時にフォーカスさせて撮像することを特徴とする請求項9又は10記載の露光装置。
  12. 前記制御手段は、前記撮像手段により撮像された画像に基づいて、前記被露光体に形成された基準パターンの搬送方向の先頭側に位置する縁部を検出し、該縁部が検出されてから、予め設定された値に前記フォトマスクのずれ量を加算補正した距離だけ前記被露光体が移動したタイミングで露光光が照射されるように制御することを特徴とする請求項9又は10記載の露光装置。
  13. 前記マスクステージは、前記被露光体の搬送方向と略直交する方向に前記フォトマスクを変位可能に形成され、
    前記制御手段は、前記撮像手段により撮像された前記基準パターン及び前記アライメントマークの画像に基づいて、前記基準パターンの前記搬送方向に平行して伸びた縁部と前記アライメントマークの前記第1及び第2の細線状パターンのうち、いずれか一方の細線状パターン上予め設定された基準位置との間の距離を演算し、該距離が所定値となるように前記マスクステージを駆動制御して前記フォトマスクを前記搬送方向と交差する方向に変位させることを特徴とする請求項9又は10記載の露光装置。
  14. 前記光源は、前記制御手段によって制御されて点灯及び消灯するフラッシュランプであることを特徴とする請求項9〜13のいずれか1項に記載の露光装置。
JP2007053316A 2007-03-02 2007-03-02 露光方法及び露光装置 Active JP4971835B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007053316A JP4971835B2 (ja) 2007-03-02 2007-03-02 露光方法及び露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007053316A JP4971835B2 (ja) 2007-03-02 2007-03-02 露光方法及び露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008216593A JP2008216593A (ja) 2008-09-18
JP4971835B2 true JP4971835B2 (ja) 2012-07-11

Family

ID=39836710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007053316A Active JP4971835B2 (ja) 2007-03-02 2007-03-02 露光方法及び露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4971835B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102422208A (zh) 2009-04-30 2012-04-18 凸版印刷株式会社 液晶显示装置
CN102414603B (zh) 2009-04-30 2014-08-20 凸版印刷株式会社 彩色滤光片及液晶显示装置、以及曝光掩膜
JP5633021B2 (ja) * 2009-06-29 2014-12-03 株式会社ブイ・テクノロジー アライメント方法、アライメント装置及び露光装置
KR20120102113A (ko) * 2009-12-24 2012-09-17 도판 인사츠 가부시키가이샤 노광 방법 및 노광 장치
JP5344766B2 (ja) * 2010-06-17 2013-11-20 株式会社ブイ・テクノロジー フォトマスク及びそれを使用するレーザアニール装置並びに露光装置
JP5843191B2 (ja) * 2011-08-03 2016-01-13 株式会社ブイ・テクノロジー フォトマスク

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04142547A (ja) * 1990-10-03 1992-05-15 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レジスタマーク位置検出装置
JPH07335529A (ja) * 1994-06-09 1995-12-22 Nikon Corp 投影露光装置
JPH09115798A (ja) * 1995-10-16 1997-05-02 Nikon Corp 位置検出装置
JP3514029B2 (ja) * 1995-10-17 2004-03-31 富士ゼロックス株式会社 2次元位置姿勢測定方法及び装置、画像記録装置用制御装置、及びマニピュレータ用制御装置
JP2006017895A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Integrated Solutions:Kk 露光装置
JP4738887B2 (ja) * 2005-05-19 2011-08-03 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008216593A (ja) 2008-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101650113B1 (ko) 노광 장치 및 포토마스크
CN101258448A (zh) 曝光装置
KR101674131B1 (ko) 얼라인먼트 방법, 얼라인먼트 장치 및 노광 장치
CN101268420A (zh) 曝光装置
JP4971835B2 (ja) 露光方法及び露光装置
JP2008076709A (ja) 露光装置
JP5756813B2 (ja) 基板露光方法
KR101308691B1 (ko) 노광 장치 및 피노광체
JP4764237B2 (ja) 露光装置
CN102947760B (zh) 光掩模和使用它的激光退火装置以及曝光装置
JP5098041B2 (ja) 露光方法
KR101650116B1 (ko) 노광 장치 및 그것에 사용하는 포토마스크
JP5261847B2 (ja) アライメント方法、アライメント装置及び露光装置
JP6879484B2 (ja) 画像取得装置、露光装置、及び画像取得方法
CN104169802B (zh) 校正用掩模及校正方法
JP2009251290A (ja) 露光装置
JP5256434B2 (ja) 近接露光装置
TWI490657B (zh) 曝光裝置及其所使用的光罩
HK1119784B (en) Exposure device and object to be exposed

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120316

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120403

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120406

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4971835

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250