JP4916574B1 - 伝送ケーブル用絶縁電線及び伝送ケーブル - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導体1と、導体1を被覆する絶縁層2とを備える絶縁電線5であって、絶縁層2が、メタロセン触媒を用いて合成することによって得られたプロピレン系共重合体と、ヒンダードフェノール構造と異なる化学構造を有する酸化防止剤とを含み、酸化防止剤が、プロピレン系共重合体100質量部に対し0.01質量部以上で1.5質量部未満の割合で配合されていることを特徴とする絶縁電線5。
【選択図】図1
Description
はじめに内部導体1を準備する。内部導体1としては、例えば銅、銅合金、アルミニウム等の金属からなる金属線が挙げられる。これらの金属はそれぞれ単独で又は組み合わせて用いることもできる。また、上記金属線を本体部とし、その表面にスズや銀からなるめっきを施してメッキ膜を形成したものを内部導体1として用いることもできる。また内部導体1としては、単線または撚線を用いることができる。
次に、内部導体1上に絶縁層2を形成する。
プロピレン系共重合体は、メタロセン触媒を用いて合成することによって得られたプロピレン系共重合体であり、プロピレン系共重合体とは、プロピレンを構成単位として含む樹脂のことをいい、ホモポリプロピレンのみならず、プロピレンと他のオレフィンとの共重合体をも含む。他のオレフィンとしては、例えばエチレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ヘキセン、2−ヘキセンなどが挙げられる。他のオレフィンは単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。中でも、エチレン、1−ブテンが、結晶性を低くし、少量の添加で諸特性の悪化を出来る限り抑えながら効率的に融点を下げることができることから好ましく用いられ、より好ましくはエチレンが用いられる。
(1)ランダムPPでのエチレン(質量%)=(0.509A733+0.438A722)/tρ
(2)ブロックPPでのエチレン(質量%)=(1.10A722−1.51A729+0.509A733)/tρ
(3)1-ブテン(質量%)=12.3(A766/t)
融点−結晶化ピーク温度=30〜40℃
を満たすことが好ましい。ここで、結晶化ピーク温度とは、前記2)の条件下で観察される結晶化熱ピーク部分の頂点から求められる結晶化ピーク温度を言うものとする。融点−結晶化ピーク温度は、好ましくは30〜35℃であり、より好ましくは31〜34℃である。
Xc=Hm/Hm0
(上記式中、Xcは結晶化度[%]を表し、Hmは融解熱[J/g]を表し、Hm0は100%結晶化熱[J/g]を表す。)
で定義されるものである。ここで、Hmは、上述したプロピレン系共重合体の融点の測定に際して観察される融解熱ピークの融解熱であり、融解熱としてはJIS-K7122の手法で求めた値が使用される。Hm0としては、165J/gの値が使用される。ここで、Hm0の値は、エドワード・P・ムーア・Jr著、ポリプロピレンハンドブック (1998,P149)から引用したものである。
酸化防止剤は、内部導体1との接触によるベース樹脂の劣化を防止するものであって、ヒンダードフェノール構造と異なる化学構造を有するものであればいかなるものであってもよい。
次に、上記のようにして得られた絶縁電線5を包囲するように外部導体3を形成する。外部導体3としては、従来より使用されている公知のものを使用することができる。例えば外部導体3は、導線や、導電シートを樹脂シートの間に挟んで構成したテープなどを絶縁層2の外周に沿って巻くことなどによって形成することができる。また、外部導体3は、コルゲート加工、即ち波形成形した金属管で構成することもできる。
最後にシース4を形成する。シース4は、外部導体3を物理的又は化学的な損傷から保護するものであり、シース4を構成する材料としては、例えばフッ素樹脂、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル等の樹脂が挙げられるが、環境性等の観点からポリエチレン樹脂等のハロゲンフリー材料が好ましく用いられる。
まずベース樹脂として、メタロセン触媒を用いて合成することによって得られたエチレン−プロピレンランダム共重合体であるWMG03(融点:142℃)を用意した。
表1に示すベース樹脂100質量部に対して表1に示す酸化防止剤及び金属不活性化剤を表1に示す割合(単位は質量部)で配合し、結晶化度を表1に示す通りとしたこと以外は実施例1と同様にして同軸ケーブルを作製した。
温度を200℃とした押出機(スクリュー径(D):直径25mm、有効スクリュー長(L):800mm、聖製作所社製)に、表1に示すベース樹脂を投入し、押出物をチューブ状に押し出し、このチューブ状の押出物で、直径0.172mmの錫めっき銅線を被覆した。こうして、導体と、導体を被覆する絶縁層とからなる絶縁電線を作製した。このとき、押出物は、絶縁層の外径が0.6mm、厚さ0.215mmとなるように押し出した。
絶縁層の厚さを表3に示す通りにしたこと以外は実施例1と同様にして同軸ケーブルを作製した。
(1)ベース樹脂
(1-1)WFX4(ウインテック、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンランダム共重合体(融点:125℃)
(1-2)WFW4(ウインテック、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンランダム共重合体(融点:136℃)
(1-3)WMG03(ウインテック、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンランダム共重合体(融点:142℃)
(1-4)WFX6(ウインテック、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンランダム共重合体(融点:125℃)
(1-5)FX4G(ノバテックPP、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンブテンランダム共重合体(融点:126℃)
(1-6)FW4B(ノバテックPP、日本ポリプロ社製)
プロピレンエチレンブテンランダム共重合体(融点:138℃)
(2)酸化防止剤
(2-1)セミヒンダードフェノール系酸化防止剤
a)AO−80(アデカスタブAO−80、ADEKA社製)
3,9−ビス[2−{3−(3−ターシャリーブチル−4−ヒドロキシ−5−メチル
フェニル)プロピオニルオキシ}−1,1−ジメチルエチル]−2,4,8,10−
テトラオキサスピロ[5,5]ウンデカン
b)AO−70(アデカスタブAO−70、ADEKA社製)
トリエチレングリコールビス[3−(3−tert−ブチル−4−ヒドロキシ−5−
メチルフェニル)プロピオネート]
(2-2)レスヒンダードフェノール系酸化防止剤
a)AO−40(アデカスタブAO−40、ADEKA社製)
4,4’−ブチリデンビス(3−メチル−6−ターシャリーブチル)フェノール
b)AO−30(アデカスタブAO−30、ADEKA社製)
1,1,3−トリス−(2−メチル−4−ヒドロキシ−5−ターシャリーブチルフェ
ニル)ブタン
c)Noc300(ノクラック300、大内新興化学工業社製)
4,4’−チオビス(3−メチル−6−ターシャリーブチル)フェノール
(2-3)ヒンダードフェノール系酸化防止剤
a)Ir3114(イルガノックス3114、BASF社製)
1,3,5−トリス(3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンジル)−
1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン
b)Ir1330(イルガノックス1330、BASF社製)
3,3’,3”,5,5’,5”−ヘキサ−tert−ブチル−a,a’,a”−(
メシチレン−2,4,6−トリイル)トリ−p−クレゾール
(3)金属不活性化剤
(3-1)非ヒンダードフェノール系金属不活性化剤
a)CDA−1(アデカスタブCDA−1、ADEKA社製)
3−(N−サリチロイル)アミノ−1,2,4−トリアゾール
b)CDA−6(アデカスタブCDA−6、ADEKA社製)
デカメチレンジカルボン酸ジサリチロイルヒドラジド
(3-2)ヒンダードフェノール系金属不活性化剤
a)IrMD1024(イルガノックスMD1024、BASF社製)
2’,3−ビス[3−(3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)
プロピオニル]プロピオノヒドラジド
実施例1〜27及び比較例1〜9で得られた同軸ケーブルについて、以下の特性を評価した。
エチレン含有率及びブテン含有率は、実施例1〜22及び比較例1〜9の同軸ケーブルのうち、絶縁電線の絶縁層を剥ぎ取り、その試験片について測定したIRスペクトルから算出した。結果を表1に示す。
結晶化ピーク温度および融解熱ピーク温度は、実施例1〜22及び比較例1〜9の同軸ケーブルのうち、絶縁電線の絶縁層を剥ぎ取り、その試験片をDSCで測定し、算出した。結果を表1に示す。また結晶化度についても同様の試験片についてDSCを測定し、算出した。結果を表1に示す。
誘電特性は誘電正接(tanδ)を測定することにより調べた。ここで、誘電正接(tanδ)は、実施例1〜22及び比較例1〜9の同軸ケーブルのうち絶縁層の製造に使用した樹脂組成物を、直径2mm、長さ10cmの棒状に成形し、このシートについて、サムテック社製SUM-TM0m0の測定プログラムを用いたマイクロ波測定システムにて、測定周波数3.0GHz、6.9GHz、10.7GHzおよび14.6GHzの各周波数にて測定した。結果を表2に示す。各周波数ごとのtanδの合格基準は以下の通りである。
3.0GHz・・・・1.10×10−4以下
6.9GHz・・・・1.50×10−4以下
10.7GHz・・・2.00×10−4以下
14.6GHz・・・2.50×10−4以下
実施例1〜22及び比較例1〜9で得られた同軸ケーブルについて、ネットワークアナライザー(8722ES アジレントテクノロジー社製)を用いて、周波数が3.0GHz、6.9GHz、10.7GHzおよび14.6GHzの場合のそれぞれについて減衰量を測定した。結果を表2に示す。
実施例1〜22及び比較例1〜9の同軸ケーブルのうち、絶縁電線を30mmの長さで切断して試験片を作製した。この試験片について、加熱変形試験(東洋精機製作所株式会社製の「三個掛加熱変形試験機型番W−3」)を用い、試験片は直径9mmの試料台の中央にのせ、荷重250g重、荷重時間1時間、121℃における変形量を測定した。この変形量からつぶれ率(加熱変形率)を算出し、このつぶれ率を耐熱性の指標とした。結果を表2に示す。
表面硬さを示すショアD硬度を測定し、そのショアD硬度を耐つぶれ性の指標とした。ショアD硬度は、実施例1〜22及び比較例1〜9の絶縁電線について、JIS K7215に準拠して測定した。荷重保持時間5秒での測定結果を表2に示す。
耐熱老化特性は以下のようにして評価した。即ちまず、実施例1〜22及び比較例1〜9で得られた同軸ケーブルについて引張試験を行い、引張強度および伸び残率を測定した。以下、それぞれ「初期引張強度」及び「初期伸び残率」という。次に、同軸ケーブルを恒温槽にて110℃で放置し、定期的に取り出して引張試験を行い、引張強度および伸び残率を測定した。そして、この引張強度が初期引張強度の50%となるか、または伸び残率が初期伸び残率の50%となった日数を、酸化防止剤及び金属不活性化剤を用いない比較例6の日数を100とした場合の相対値で算出した。結果を表2に示す。この相対値が110以上であれば耐熱老化性に優れるとして「合格」とし、110未満であれば耐熱老化性に劣るとして「不合格」とした。
ブルームは、長さ3mに切断した同軸ケーブルからシース及びラミネートテープを取り除き、50℃、3ヶ月放置し露出した絶縁層の表面を目視によって観察し、以下の基準で評価した。結果を表2に示す。
◎・・・マイクロスコープにて100倍で拡大し、表面に異物が全く確認できない
○・・・マイクロスコープにて100倍で拡大し、表面に異物が確認できる。
△・・・マイクロスコープにて25倍で拡大し、表面に異物が確認できる
×・・・目視で表面に明確に異物が確認できる
低温脆化特性は、実施例1、23〜27の同軸ケーブルについて低温脆化試験を行うことによって評価した。低温脆化試験は、以下のようにして行った。
Claims (6)
- 導体と、
前記導体を被覆する絶縁層とを備える伝送ケーブル用絶縁電線であって、
前記絶縁層が、
メタロセン触媒を用いて合成することによって得られたプロピレン系共重合体と、
セミヒンダードフェノール系酸化防止剤又はレスヒンダードフェノール系酸化防止剤とを含み、
前記酸化防止剤が、前記プロピレン系共重合体100質量部に対し0.01質量部以上で1.5質量部未満の割合で配合されていること、
を特徴とする伝送ケーブル用絶縁電線。 - 前記絶縁層が、ヒンダードフェノール構造と異なる化学構造を有する金属不活性化剤を更に含み、
前記金属不活性化剤が、前記プロピレン系共重合体100質量部に対して0.01質量部以上で1.5質量部未満の割合で配合されている、請求項1に記載の伝送ケーブル用絶縁電線。 - 前記プロピレン系共重合体が、エチレン−プロピレン共重合体である、請求項1又は2に記載の伝送ケーブル用絶縁電線。
- 前記プロピレン系共重合体が、125〜145℃の融点を有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の伝送ケーブル用絶縁電線。
- 前記絶縁層が、0.3mm以下の厚さを有する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の伝送ケーブル用絶縁電線。
- 請求項1〜5のいずれか一項に記載の伝送ケーブル用絶縁電線を有する伝送ケーブル。
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