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JP4851290B2 - 接続端子 - Google Patents

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JP4851290B2
JP4851290B2 JP2006271467A JP2006271467A JP4851290B2 JP 4851290 B2 JP4851290 B2 JP 4851290B2 JP 2006271467 A JP2006271467 A JP 2006271467A JP 2006271467 A JP2006271467 A JP 2006271467A JP 4851290 B2 JP4851290 B2 JP 4851290B2
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  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)

Description

本発明は、接続端子に関し、特に、自動車や産業機器などにおいて大電流を通電する電気配線に好適に用いられる接続端子に関するものである。
従来より、自動車や産業機器などの電気配線において接続端子が用いられている。そして、例えば電気自動車の充電装置などのように大電流量が流れる回路の場合、接続端子の接点での発熱が特に大きくなるので、接続端子での温度上昇を抑えるために、接続端子を大型化したり、冷却フィンを取付けたり、あるいは端子の形状を改良することなどが行なわれている。
例えば特許文献1には、嵌合型の雌端子金具の形状を改良する試みがなされている。すなわち、相手側雄端子金具のタブとの接触部が形成されて導電路を構成する端子本体とタブを接触部へ押圧するバネ片とを別部品とし、導電路となる端子本体の板厚を厚くし、導電路とならないバネ片の板厚を薄くした雌端子金具が開示されている。
このものによれば、導電路となる端子本体の板厚を厚くしているので、雌端子金具に大電流を流したときに接点での発熱を小さくする一方で、導電路とならないバネ片の板厚を薄くしているので、雌端子金具全体を小型化している。
特開平11−67311号公報
しかしながら、従来では、試作した接続端子の通電時における発熱量や上昇温度を予測するすべがなかったので、新しく接続端子を設計試作した場合、その都度温度上昇試験を行なって接続端子の上昇温度を測定し、上昇温度が接続端子の温度規格に適合しているか確認しなければならなかった。そのため、接続端子の迅速な設計開発ができないという問題があった。
本発明が解決しようとする課題は、迅速な設計開発を可能とし、通電時の温度上昇を抑えた接続端子を提供することにある。
本発明者らが鋭意研究した結果、通電時に実際に接続端子の上昇温度を調べなくても、ある関係式により、設計段階で通電時の接続端子の上昇温度が予測できることが分かった。そして、かかる知見を基に、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明に係る接続端子は、電線端末が圧着されたオス端子の電線圧着部における接触抵抗値と、電線端末が圧着されたメス端子の電線圧着部における接触抵抗値と、前記オス端子と前記メス端子とが嵌合接続された嵌合部における接触抵抗値との和からなる接続端子全体の接触抵抗値を、前記オス端子の電線圧着部の長さと、前記メス端子の電線圧着部の長さと、前記嵌合部の長さとの和からなる接触部分の長さで割ってなる接続端子の規格化された接触抵抗値Rterに関して、前記電線の線抵抗値Rwireと、通電電流値Iと、前記接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔTとの間にter (Ω/mm)<ΔT(K)/(α(K・mm/W)×I (A )−β/α×Rwire (Ω/mm)なる関係式が電線径及び接続端子の形状によらず成立すること及び上記関係式においてα=752、β/α=3.7であることを用いて、温度上昇試験を行うことなく通電時の温度上昇を予測して設計されることを要旨とするものである。

本発明に係る接続端子によれば、設計段階で通電時の接続端子の上昇温度を予測するので、新しく接続端子を設計試作する場合に、その都度温度上昇試験を行なって接続端子の上昇温度を測定し、上昇温度が接続端子の温度規格に適合しているか確認しなくても良くなる。これにより、接続端子の迅速な設計開発を可能にする。そして、この知見を基に、接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔTを下回る温度上昇となる接触抵抗値Rterとするので、通電時の温度上昇を抑えることができる。
次に、本発明の実施形態について図を参照して詳細に説明する。
本発明に係る接続端子は、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)に関して、電線の線抵抗値Rwire(Ω/mm)と、通電電流値I(A)と、接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔT(℃)との関係が、Rter (Ω/mm)<ΔT(K)/(752(K・mm/W)×I (A )−3.7×Rwire (Ω/mm)となるものである。
接続端子の規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)とは、接続端子全体で見たときの単位長さ当たりの接触抵抗値であり、長さは、接触部分の長さを基準にしている。そのため、電線端末が圧着されたオス端子の電線圧着部における接触抵抗値(Ω)と、電線端末が圧着されたメス端子の電線圧着部における接触抵抗値(Ω)と、オス端子とメス端子とが嵌合接続された嵌合部における接触抵抗値(Ω)との和からなる接続端子全体の接触抵抗値(Ω)を、オス端子の電線圧着部の長さ(mm)と、メス端子の電線圧着部の長さ(mm)と、嵌合部の長さ(mm)との和からなる接触部分の長さ(mm)で割った値となっている。
なお、本実施形態においては、接触抵抗値をΩで表し、長さをmmで表しているが、特に限定するものではなく、例えば接触抵抗値をμΩとしたり、長さをmにしても良い。
嵌合部だけでなくオス端子の電線圧着部やメス端子の電線圧着部の接触抵抗値(Ω)も含めるのは、通電されると、電線圧着部での接触抵抗によってもジュール熱が発生して接続端子の温度上昇に寄与するからである。
また、接触部分の長さ(mm)で割らずに単に接続端子全体の接触抵抗値(Ω)とするのではなく、接触抵抗値を規格化するのは、接続端子には様々な種類があり、その形状や大きさが異なるため、形状や大きさが異なるものも含めて接続端子の温度上昇を考える場合、単に接続端子全体の接触抵抗値(Ω)とすると、接触抵抗と温度上昇との間に相関関係が見られないからである。
接続端子の許容上昇温度ΔT(℃)は、接続端子の温度規格までの上昇温度を表す。接続端子の温度上昇可能な範囲を示しており、この範囲での温度上昇であれば問題はない。接続端子の温度規格としては、例えば100A通電時には60℃以下であること、などがある。ただし、この温度規格は接続端子の使用環境により異なっている。
ここで、上記関係式を導く過程について説明する。
接続端子において、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と温度上昇との間には相関関係が見られる。そして、接続端子に通電したときの接続端子の温度上昇は、接続端子での蓄熱量(発熱量と放熱量との差)により定まる。このとき、dt時間での端子の上昇温度をdTとすると、式1が成り立つ。
(式1)
×Rter−W=Cp×dT/dt
但し、
I:通電電流値(A)
ter:接続端子の規格化された接触抵抗値(Ω/mm)
W:接続端子の放熱量(W/mm)
Cp:接続端子の熱容量(J/K)
ここで、定常状態において、dT=0であることから、式1は、I×Rter−W=0となる。また、接続端子における放熱量W(W/mm)は、大気への放熱と電線への放熱とが考えられるので、式2が成り立つ。
(式2)
W=Ka×ΔT1+Kw×ΔT2
但し、
Ka:接続端子と大気との間の熱伝導率(W/mm・K)
Kw:接続端子と電線との間の熱伝導率(W/mm・K)
ΔT1:接続端子の上昇温度(K)
ΔT2:接続端子と電線との間の温度差(K)
ここで、ΔT1とΔT2との関係から、式3が成り立つ。
(式3)
ΔT2=ΔT1+Tair−Twire
但し、
air:大気温度(K)
wire:電線温度(K)
以上の式1〜式3をまとめると、接続端子の上昇温度ΔT1(K)を表す式4が成り立つ。
(式4)
ΔT1={1/(Ka+Kw)}×I×Rter+{Kw/(Ka+Kw)}×(Twire−Tair
式4より、接続端子の上昇温度ΔT1(K)は、接続端子の規格化された接触抵抗値(Ω/mm)に対して一次で表されている。ここで、Twireは通電電流値(A)により変化するので、電線の発熱量(W/mm)を考慮する。電線の発熱量(W/mm)を表す関係式として、式5が成り立つ。
(式5)
×Rwire=Kwa×(Twire−Tair
但し、
wire:電線の線抵抗値(Ω/mm)
Kwa:電線と大気との間の熱伝導率(W/mm・K)
よって、式4と式5とから、接続端子の上昇温度ΔT1(K)は、式6のようになる。
(式6)
ΔT1={1/(Ka+Kw)}×I×Rter+{(Kw/Kwa)/(Ka+Kw)}×I×Rwire
このとき、Ka、Kw、Kwaはそれぞれ定数なので、式6に示すように、接続端子の上昇温度ΔT1(K)は、接続端子の規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と、電線の線抵抗値Rwire(Ω/mm)と、通電電流値I(A)とで表され、これらの値を求めることにより、接続端子の上昇温度ΔT1(K)を算出することができる。なお、式6を簡易に表すと、以下のようになる。
(式7)
ΔT1=α×I×Rter+β×I×Rwire
但し、
α=1/(Ka+Kw)(K・mm/W)
β=(Kw/Kwa)/(Ka+Kw)(K・mm/W)
式7より、使用する電線が同じで通電電流が同じもので考えると、接続端子の上昇温度ΔT1(K)は、接続端子の規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)によることが分かる。すなわち、この場合、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)を知ることができれば、接続端子の上昇温度が分かるようになる。一方、使用する電線を変更するときを考えると、例えば、使用する電線径を大きくすれば、Rwireの値が小さくなるので、温度上昇が小さくなる。これは、電線径が大きくなれば接続端子から電線への放熱量が増加して、接続端子の温度上昇が抑えられることと一致する。
このように、関係式7を用いれば、設計段階で通電時の接続端子の温度上昇を予測することができる。そして、新しく端子を設計試作する場合に、その都度温度上昇試験を行なって接続端子の温度規格に適合するか確認しなくても良くなり、迅速な設計開発を可能にする。
そして、本発明では、上述する知見を基に、接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔT(℃)を下回る温度上昇となる接触抵抗値Rter(Ω/mm)とする。よって、式8の関係とする。
(式8)
ΔT>ΔT1=α×I×Rter+β×I×Rwire
式8を変形して、接続端子の規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)で表すと、式9のようになる。
(式9)
ter<ΔT/(α×I)−(β/α)×Rwire
そして、αおよびβの値は、実験値より定まって、式10が得られる。
(式10)
ter (Ω/mm)<ΔT(K)/(752(K・mm/W)×I (A )−3.7×Rwire (Ω/mm)
以上により上記関係式が得られる。そして、式9を満たす規格化された接触抵抗値Rterとなる接続端子とするので、接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔT(℃)を下回る温度上昇となり、通電時の温度上昇を抑えることができる。
次に、本発明の実施例について説明する。実施例では、実際に使用されているいくつかの接続端子を用いて上記関係式を算出し、算出した関係式に基づく予測値と実測値との比較を行なった。
(使用した接続端子)
接続端子A:箱型端子(13mm×6mm、長さ66mm)
接続端子B:リングバネ式端子(φ7mm、長さ51mm)
接続端子C:ルーバー端子(φ9mm、長さ70mm)
接続端子D:箱型端子(3mm×2.5mm、長さ22mm)
接続端子E:箱型端子(3mm×2.5mm、長さ22mm、箱型端子Dに対して板厚を20%増やしたもの)
接続端子F:箱型端子(3mm×2.5mm、長さ22mm、箱型端子Dに対して電気伝導度が1.6倍高い銅合金材料で構成したもの)
接続端子G:ルーバー端子(φ4mm、長さ27mm)
(接触抵抗の測定方法)
各接続端子の電線との接続部分(圧着部分)での電圧降下を測定した。
(温度の測定方法)
メス端子圧着部分直下に熱電対をとりつけてこの部分の温度をモニタした。
<1>関係式の算出
(実施例1)
形状の異なる3種類の接続端子A〜Cについて、電線径が15mmの電線端末を圧着したオス端子の電線圧着部における接触抵抗値(Ω)と、電線径が15mmの電線端末を圧着したメス端子の電線圧着部における接触抵抗値(Ω)と、オス端子とメス端子とを嵌合接続した嵌合部における接触抵抗値(Ω)とをそれぞれ測定してこれらの和からなる接続端子全体の接触抵抗値(Ω)を求めた。また、このときのオス端子の電線圧着部の長さ(mm)と、メス端子の電線圧着部の長さ(mm)と、嵌合部の長さ(mm)とをそれぞれ測定してこれらの和からなる接触部分の長さ(mm)を求めた。そして、接続端子全体の接触抵抗値(Ω)を接触部分の長さ(mm)で割って、それぞれの接続端子について、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)を算出した。さらに、接続した電線に100Aの電流を通電して、接続端子A〜Cの上昇温度(℃)を測定した。その結果を表1および図1に示す。
Figure 0004851290
図1より、接続端子A〜Cのように形状の異なる接続端子においても、100Aの電流を通電したときの接続端子の上昇温度(℃)は、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)に対して一次で表されることが分かった。
そこで、表2に示す各通電条件にてそれぞれ、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と接続端子の上昇温度(℃)を測定した。その結果を表2および図2に示す。
Figure 0004851290
図2より、各通電条件においてもそれぞれ、接続端子の上昇温度(℃)は、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)に対して一次で表された。
ここで、式7より、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と接続端子の上昇温度(℃)との関係を表すグラフの傾きはα×Iとなるので、図2よりそれぞれのグラフの傾きを求めてIとα×Iとの関係から式7の定数αを求めた。その結果を表3および図3に示す。
Figure 0004851290
図3に示すグラフから、傾きα=752(K・mm/W)が求まった。
次いで、式7のβの値を求める。βは、式7における第2項(β×I×Rwire)にかかるものである。各通電条件での上昇温度ΔT1(℃)および式7における第1項(α×I×Rter)の値から、式7における第2項(β×I×Rwire)の値が求まる。そして、I×Rwireとβ×I×Rwireとの関係から定数βを求めた。その結果を表4および図4に示す。
Figure 0004851290
図4に示すグラフから、傾きβ=2836(K・mm/W)が求まった。以上より、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と接続端子の上昇温度ΔT1(℃)の関係式は、式11のように定まった。
(式11)
ΔT1(K)=752(K・mm/W)×I (A ×Rter (Ω/mm)+2836(K・mm/W)×I (A ×Rwire (Ω/mm)
(実施例2)
接続端子として、形状の異なる4種類の接続端子D〜Gを使用し、電線として、電線径が3mmのものを使用した以外は実施例1と同様にして、それぞれの接続端子について、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)を算出した。さらに、接続した電線に34Aの電流を通電して、接続端子D〜Gの上昇温度(℃)を測定した。その結果を表5および図5に示す。
Figure 0004851290
表5および図5より、実施例1と同様に、形状の異なる接続端子においても、接続端子の上昇温度(℃)は、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)に対して一次で表されることが分かった。このとき、図5に示されるグラフの傾きは0.9×10であった。
式7より、グラフの傾きはα×Iとなる。実施例1において定数αを求めたときのIとα×Iとの関係を示すグラフに、図5より求めたグラフの傾き(α×I)をプロットした。その結果を表6および図6に示す。
Figure 0004851290
図6より、図5より求めたグラフの傾きは、実施例1において定数αを求めたときのIとα×Iとの関係を示すグラフとほぼ同じ直線上にのることが分かった。
次いで、接続端子Dについて、図5より求めたグラフの傾き(α×I)と、規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)と、接続端子Dでの上昇温度(℃)とから、式7における第2項(β×I×Rwire)の値を算出し、実施例1において定数βを求めたときのI×Rwireとβ×I×Rwireとの関係を示すグラフにプロットした。その結果を表7および図7に示す。
Figure 0004851290
図7より、接続端子Dについての式7における第2項(β×I×Rwire)の値は、実施例1において定数βを求めたときのI×Rwireとβ×I×Rwireとの関係を示すグラフとほぼ同じ直線上にのることが分かった。
以上より、電線径が異なる場合においても、接続端子の上昇温度(℃)は規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)に対して一次で表され、定数αおよびβが同じ値となることを確認した。つまり、電線径が異なる場合においても、接続端子の上昇温度ΔT1(℃)を予測するのに、式11が適用できることを確認した。
(比較例1)
実施例1と同じく、形状の異なる3種類の接続端子A〜Cについて、オス端子とメス端子とにそれぞれ電線径が15mmの電線を圧着してオス端子とメス端子とを嵌合接続した状態で、メス端子先端とオス端子先端との間の接触抵抗値(Ω)を測定した。そして、接続した電線に100Aの電流を通電して、接続端子の上昇温度(℃)を測定した。その結果を表8および図8に示す。
Figure 0004851290
図8に示すように、メス端子先端とオス端子先端との間の接触抵抗と上昇温度との間にはきれいな相関関係が見られなかった。そのため、接触抵抗から接続端子の上昇温度を予測することはできなかった。
<2>上記関係式に基づく予測値と実測値との比較
(実施例3)
実施例2で使用した接続端子Fおよび開発した形状の違う接続端子Hについて、初期および耐久試験(高温放置:120℃、120H)を行ない、温度上昇試験を行なった。使用電線の電線径は3mmであり、通電電流を34Aとした。結果を表9に示す。
Figure 0004851290
表9より、接続端子Fおよび接続端子Hについて、初期および耐久試験後のいずれにおいても上昇温度の予測値と実測値とが良く一致していることが分かる。また、耐久試験後の接触抵抗を測定することで、初期状態だけでなく耐久試験後の上昇温度も容易に推定することができる。すなわち、本発明により端子開発における開発期間を短縮することが可能となった。
以上、上記式11により設計段階で通電時の接続端子の上昇温度が予測可能となり、新しく接続端子を設計試作する場合に、接続端子の温度規格に適合するか確認するのにその都度温度上昇試験を行なわなくても良いので、迅速な設計開発が可能になる。そして、端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度を下回る温度上昇となる規格化された接触抵抗値Rterとするので、通電時の接続端子の温度上昇を抑えることができる。
以上、本発明の実施の形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の改変が可能である。
例えば上記実施形態では、電線径が15mmおよび3mmの2つについて実証しているが、その間にある電線径でも適用可能である。また、接続端子の形状は、上記接続端子A〜Hに限られるものではないことは、言うまでもない。
本発明に係る接続端子は、特に、自動車や産業機器などにおいて大電流を通電する電気配線に好適に用いられる。
15mm電線、通電電流値100Aにおける接続端子の上昇温度(℃)と規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)との関係を表すグラフである。 15mm電線、各通電電流値における接続端子の上昇温度(℃)と規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)との関係を表すグラフである。 15mm電線、通電電流値100Aにおいて、定数αを求めるためのIとα×Iとの関係を表すグラフである。 15mm電線、通電電流値100Aにおいて、定数βを求めるためのI×Rwireとβ×I×Rwireとの関係表すグラフである。 3mm電線、通電電流値34Aにおける接続端子の上昇温度(℃)と規格化された接触抵抗値Rter(Ω/mm)との関係を表すグラフである。 3mm電線、通電電流値34Aおよび15mm電線、通電電流値100AにおけるIとα×Iとの関係を示すグラフである。 3mm電線、通電電流値34Aおよび15mm電線、通電電流値100AにおけるI×Rwireとβ×I×Rwireとの関係表すグラフである。 15mm電線、通電電流値100Aにおける接続端子の上昇温度(℃)と接触抵抗値R(Ω/mm)との関係を表すグラフ(比較例)である。

Claims (1)

  1. 電線端末が圧着されたオス端子の電線圧着部における接触抵抗値と、電線端末が圧着されたメス端子の電線圧着部における接触抵抗値と、前記オス端子と前記メス端子とが嵌合接続された嵌合部における接触抵抗値との和からなる接続端子全体の接触抵抗値を、前記オス端子の電線圧着部の長さと、前記メス端子の電線圧着部の長さと、前記嵌合部の長さとの和からなる接触部分の長さで割ってなる接続端子の規格化された接触抵抗値Rterに関して、前記電線の線抵抗値Rwireと、通電電流値Iと、前記接続端子の温度規格までの上昇温度を表す許容上昇温度ΔTとの間に
    ter (Ω/mm)<ΔT(K)/(α(K・mm/W)×I (A )−β/α×Rwire (Ω/mm)
    なる関係式が電線径及び接続端子の形状によらず成立すること及び上記関係式においてα=752、β/α=3.7であることを用いて、温度上昇試験を行うことなく通電時の温度上昇を予測して設計されることを特徴とする接続端子。
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