JP4812430B2

JP4812430B2 - 内視鏡装置

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Inventors: 清富小川; 優此村
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Description

本発明は、検査対象空間内に挿入される挿入部と、励起光と蛍光とにより混成された照明光を、挿入部の先端から検査対象空間内に出射する蛍光部材とを具備する内視鏡装置に関する。

周知のように、内視鏡装置は、医療分野及び工業用分野において広く利用されている。医療分野において用いられる内視鏡装置は、内視鏡の細長い挿入部を検査対象空間内となる体腔内に挿入することによって、体腔内の臓器を観察したり、必要に応じて処置具の挿通チャンネル内に挿入した処置具を用いて各種処置をしたりすることができる。

また、工業用分野において用いられる内視鏡装置は、内視鏡の細長い挿入部を検査対象空間内となるジェットエンジン内や、工場の配管等に挿入することによって、被検部位の傷及び腐蝕等の観察や各種処置等を行うことができる。

内視鏡装置は、先端に、撮像レンズやＣＣＤ等の撮像素子を有する撮像ユニットが配設されるとともに、検査対象空間内を先端から照射するためのライトガイド等を具備する照明光照射ユニットが配設された細長の挿入部を有する内視鏡と、該内視鏡が接続された装置本体とにより構成されているのが一般的である。

また、装置本体内には、内視鏡を駆動する各種部材、具体的には、撮像ユニットの駆動及び撮像ユニットから出力された被写体の画像信号を処理する画像処理ユニット等の電気部品や、照明光を照射するための光源等が配設されている。

ここで、内視鏡装置の光源としては、検査対象空間内を明るく照射するため、ハロゲンランプ、キセノンランプ、メタルハライドランプといった比較的消費電力が大きいランプが採用されるのが一般的であるが、近年では、消費電力の低減を図るため、発光ダイオード（ＬＥＤ）やレーザダイオード（ＬＤ）等の低消費電力の半導体発光素子を光源として採用している内視鏡装置も周知であり、例えば特許文献１に開示されている。

特許文献１に開示された内視鏡装置においては、光源にＬＤを採用し、該ＬＤから出射された波長の短い励起光、例えば青色のレーザ光を、内視鏡の挿入部に配設された照明用ライトガイドである光ファイバを介して、挿入部の先端に配設された蛍光部材に伝播し、該蛍光部材において青色のレーザ光と該レーザ光により励起された緑色、赤色の蛍光とが混成されることにより白色光に変換された照明光で検査対象空間内を照明する構成が開示されている。

また、蛍光部材から照射される照明光の一部である戻り光の強度を検出する光センサを、挿入部の先端または装置本体に設けることにより、ＬＤの故障や照明用ライトガイドの折れ等を戻り光の強度から検出し、該検出結果に基づいて、ＬＤへの電力供給を制御することができる構成も周知である。
特開２００５−２０５１９５号公報

しかしながら、従来から周知である光センサでは、上述したように、ＬＤの故障や照明用ライトガイドの折れ等を検出することはできるが、蛍光部材の劣化を検出することはできないといった問題があった。

詳しくは、蛍光部材が劣化した場合は、蛍光の強度が低下するまたは蛍光が照射しなくなる、即ち、略レーザ光のみが蛍光部材から照射されてしまうが、蛍光部材で散乱された略青色光のみの戻り光が光センサにより検出されてしまうと、青色光の強度は低下していないことから、蛍光体の劣化による色バランスの変化を検出することができず、照明光の色バランスは正常であると判定されてしまう。

よって、ＬＤの電力供給を制御することなく、略青色のレーザ光のみがそのまま検査対象空間内に照射され続けてしまうことから、使用者は、蛍光体の劣化に気付かずに、色バランスの崩れた照明光で、検査対象空間内を観察してしまう場合があるといった問題があった。

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、蛍光部材の劣化に伴う、蛍光の強度の低下または蛍光の未照射を確実に検出することができる構成を有する内視鏡装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明による内視鏡装置は、検査対象空間内に挿入される挿入部と、励起光を出射する発光素子と、前記励起光と該励起光により励起された蛍光とにより混成された照明光を、前記挿入部の先端から前記検査対象空間内に出射する蛍光部材と、前記照明光の一部である戻り光を検出する光センサと、一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記光センサに臨むよう設けられた、前記蛍光部材から出射された前記戻り光を前記光センサへ伝播する光検出用ライトガイドと、前記光検出用ライトガイドの前記他端と前記光センサとの間に設けられた、前記戻り光の波長を制限して透過と反射との少なくとも一方を行い、透過または反射後の前記戻り光を前記光センサに検出させる波長制限部材と、前記光センサにおいて検出された前記戻り光の強度を検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行う制御部と、を具備していることを特徴とする。

本発明によれば、蛍光部材の劣化に伴う、蛍光の強度の低下または蛍光の未照射を確実に検出することができる構成を有する内視鏡装置を提供することができる。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。尚、以下、内視鏡装置は、工業用の内視鏡装置を例に挙げて説明する。

（第１実施の形態）
図１は、本発明の第１実施の形態を示す内視鏡装置の外観を概略的に示す図、図２は、図１の内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図である。

同図に示すように、内視鏡装置１は、装置本体３と、内視鏡画像が表示されるモニタ４と、検査対象空間内に挿入される細長で可撓性を有する挿入部５と、該挿入部５の挿入方向基端に接続された、操作者により把持される操作部６と、該操作部６から延出された可撓性を有するユニバーサルコード７とにより主要部が構成されている。尚、装置本体３に、内視鏡装置１全体の電源スイッチであるメインスイッチ３５と、装置本体３内に具備された光源のスイッチであるランプスイッチ３６とが配設されている。

挿入部５に、該挿入部５の先端側から順に、先端部８と、複数の湾曲駒が回動自在に連接されて形成された湾曲部９と、可撓性部材にて形成された長尺な可撓管部１０とが連設されており、可撓管部１０の基端部が、操作部６に接続されている。尚、湾曲部９は、操作部６の湾曲操作ノブ１１の湾曲操作により、例えば上下／左右方向に湾曲される。

先端部８の内部に、図２に示すように、検査対象空間内の観察像を結像するための対物光学系２０と、対物光学系２０により結像された検査対象空間内の観察像を電気信号である映像信号に変換するＣＣＤ等の撮像素子２１と、検査対象空間内を照明する照明光を出射する蛍光部材２２と、照明光の配光を調節する照明光学系２３とが具備されている。尚、照明光は、後述するＬＤ２５から出射された励起光と該励起光により励起された蛍光とが混成されて構成される。

撮像素子２１に、映像信号線２４が接続されており、該映像信号線２４は、装置本体３内に具備される映像信号処理部２５まで撮像素子２１で変換された映像信号を伝送する。映像信号処理部２５は、伝送された映像信号をテレビ信号に変換し、内視鏡画像としてモニタ４に出力する。

また、図２に示すように、装置本体３内には、映像信号処理部２５の他に、励起光を出射する光源となる発光素子、例えばレーザダイオード（ＬＤ）２６と、ＬＤ２６を駆動する制御を行う光源制御部であるＬＤ制御部３０と、ＬＤ２６から出射された波長の短い励起光、例えば波長４４５ｎｍの青色のレーザ光を集光させる集光光学系２７とが具備されている。

集光光学系２７から出射されたレーザ光は、挿入部５及びユニバーサルコード７内において、一端が蛍光部材２２に臨み他端が集光光学系２７の焦点に臨むように配設された照明用ライトガイドである照明用光ファイバ１９の他端に入射される。尚、照明用光ファイバ１９は、１本の光ファイバから構成されている。

照明用光ファイバ１９の他端に入射されたレーザ光は、照明用光ファイバ１９を通過して、該照明用光ファイバ１９の一端側に伝播され、その後、蛍光部材２２に照射される。

蛍光部材２２に含まれる蛍光体は、レーザ光を励起光として赤色光と緑色光の蛍光を出射する。蛍光は、蛍光部材２２内で拡散された青色光と混成されて照明光となる白色光となり、照明光学系２３により、検査対象空間内に出射される。

さらに、図２に示すように、装置本体３内には、ＬＤ制御部３０に接続された光検出部３４と、該光検出部３４に接続された光センサであるフォトダイオード（ＰＤ）３３と、後述する光検出用光ファイバ１８の他端とＰＤ３３との間において、光検出用光ファイバ１８の他端から出射される光の行路上に設けられた波長制限部材である光学フィルタ１００とが具備されている。

光学フィルタ１００は、照明光の一部である戻り光の波長を制限して透過させ、透過後の戻り光をＰＤ３３に検出させるフィルタ、具体的には、戻り光から励起光である青色光を反射または吸収し、蛍光のみを透過させて、蛍光をＰＤ３３に検出させるフィルタである。

ＰＤ３３は、入射される戻り光、具体的には、光学フィルタ１００を透過した蛍光を検出するものであり、光検出部３４は、ＰＤ３３において検出された蛍光の強度を、後述するＬＤ制御部３０の駆動制御の下、検出するものである。

蛍光部材２２から出射された照明光の戻り光は、挿入部５及びユニバーサルコード７内において、一端が蛍光部材２２に臨み他端がＰＤ３３に臨むように配設された光検出用ライトガイドである光検出用光ファイバ１８の一端に入射される。尚、光検出用光ファイバ１８は、１本の光ファイバから構成されている。

光検出用光ファイバ１８の一端から入射された戻り光は、光検出用光ファイバ１８を通過して、該光検出用光ファイバ１８の他端側に伝播され、光学フィルタ１００に入射される。

その後、光学フィルタ１００において、戻り光から蛍光のみが透過された後、該蛍光は、ＰＤ３３に入射されて検出された後、さらに、制御部であるＬＤ制御部３０の駆動制御の下、光検出部３４により、ＰＤ３３により検出された蛍光の強度が検出され、該検出された強度から蛍光部材２２の劣化がＬＤ制御部３０により検出される構成となっている。

次に、このように構成された本実施の作用について説明する。先ず、メインスイッチ３５がオンされると、内視鏡装置１全体の電源がオンされ、撮像素子２１に結像された検査対象空間内の被写体の像が、映像信号処理部２５においてテレビ信号に変換され、モニタ４に内視鏡画像として表示される。

メインスイッチ３５がオンされた状態で、ランプスイッチ３６がオンされると、ＬＤ制御部３０の駆動制御により、ＬＤ２６が駆動され、ＬＤ２６から出射された励起光である、例えば青色のレーザ光が、照明用光ファイバ１９を介して蛍光部材２２に入射される。

その後、蛍光部材２２から、青色のレーザ光を励起光として赤色光と緑色光の蛍光が出射され、該蛍光は、蛍光部材２２内で拡散された青色光と混成されて照明光となる白色光となり、該白色光は、照明光学系２３により、検査対象空間内に出射され、被写体が照明される。

この際、照明光の戻り光は、光検出用光ファイバ１８を通過して、光学フィルタ１００に入射される。その後、戻り光は、光学フィルタ１００により、蛍光のみが透過され、該透過された蛍光が、ＰＤ３３に入射される。即ち、ＰＤ３３により蛍光が検出される。

その後、ＬＤ制御部３０の駆動制御の下、光検出部３４により、ＰＤ３３において検出された蛍光の強度が検出され、該検出された強度から蛍光部材２２の劣化がＬＤ制御部３０により検出される。

具体的には、光検出部３４において、蛍光の強度が検出されない場合、または検出された蛍光の強度が、所定の値、具体的には、検査対象空間内の検査に用いる通常の蛍光の強度よりも少なく、例えば半分以下の強度が検出された場合、ＬＤ制御部３０により、蛍光部材２２は劣化していると検出される。

その後、ＬＤ制御部３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される制御が行われる。具体的には、ＬＤ２６の駆動が停止される。尚、この際、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御してもよい。

このように、本実施の形態においては、装置本体３内の光検出用光ファイバ１８の他端とＰＤ３３との間において、光検出用光ファイバ１８の他端から出射される光の行路上に、照射光の戻り光から青色光を反射または吸収し、蛍光のみを透過させる光学フィルタ１００が設けられていると示した。

また、装置本体３内に、光学フィルタ１００により透過された蛍光を検出するＰＤ３３と、蛍光の強度を検出する光検出部３４とが設けられており、さらに、蛍光部材２２の劣化を検出するとともに、劣化の検出に基づき、ＬＤ２６からのレーザ光の出射を停止させる駆動制御を行うＬＤ制御部３０が設けられていると示した。

このことによれば、蛍光部材２２が劣化していたとしても、確実に、光検出用光ファイバ１８、光学フィルタ１００、ＰＤ３３、光検出部３４を介して、ＬＤ制御部３０は、蛍光部材２２の劣化を確実に検出することができる。

よって、蛍光部材２２の劣化に伴う、蛍光の強度の低下または蛍光の未照射を確実に検出することができる構成を有する内視鏡装置１を提供することができる。

尚、以下変形例を示す。
本実施の形態においては、ＬＤ２６から出射される励起光として、青色のレーザ光を例に挙げて示したが、これに限らず、波長の短い励起光であれば、例えば励起光として紫外光を用いてもよいことは勿論である。

また、半導体発光素子は、ＬＤに限定されず、低消費電力の半導体発光素子であれば、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）等であっても良いことは云うまでもない。

また、本実施の形態においては、ＬＤ制御部３０は、蛍光部材２２の劣化を検出するとＬＤ２６からのレーザ光の出射を停止させると示したが、これに加えて、ＬＤ制御部３０は、蛍光部材２２の劣化を検出した後、警告音、警告表示等を発する駆動制御を行うことにより、使用者に対し、蛍光部材２２の劣化を告知してもよい。

さらに、本実施の形態においては、ＬＤ制御部３０は、蛍光部材２２の劣化を検出すると示したが、これに限らず、ＬＤ制御部３０は、ＰＤ３３により、蛍光の検出がなされない場合は、照明用光ファイバ１９が破損した旨も検出することができる。

また、本実施の形態においては、ライトガイドである光検出用光ファイバ１８、照明用光ファイバ１９は、１本の光ファイバから構成されていると示したが、これに限らず、複数の光ファイバを束ねた光ファイババンドルであってもよい。

また、以下、別の変形例を、図３〜図５を用いて説明する。図３は、図１の内視鏡装置の内部の構成の変形例を、挿入部の先端部のみ断面にして概略的に示した図、図４は、図３の内視鏡装置の挿入部の先端部に着脱自在な光学アダプタを示す部分断面図、図５は、図４の光学アダプタを図３の内視鏡装置の挿入部の先端部に装着した状態を示す部分断面図である。

図３に示すように、先端部８において、該先端部８の外周に、雄ねじ８ａが形成されており、また、先端部８の外周であって雄ねじ８ａよりも先端側に、位置決め溝８ｂが形成されている。尚、雄ねじ８ａは、先端部８に光学アダプタ４０を装着するためのネジである。

先端部８の内部には、撮像素子２１と、照明用光ファイバ１９及び光検出用光ファイバ１８の先端側が配置されており、撮像素子２１は、撮像素子カバーガラス５１により保護され、照明用光ファイバ１９及び光検出用光ファイバ１８の先端側は、光ファイバカバーガラス５２により保護されている。

図４に示すように、光学アダプタ４０は、略円筒形状のアダプタ本体４３と、略円柱形状の止め輪４４と、抜け止め４５とから主要部が構成されている。アダプタ本体４３の内部には、撮像素子２１に被写体の観察像を結像するための対物光学系２０と、ＬＤ２６からのレーザ光を励起光として蛍光を発する蛍光部材２２と、該蛍光部材２２から出射される白色光である照明光を検査対象空間内に出射するための照明光学系２３とが配置されている。

アダプタ本体４３の先端側外周に、雄ねじ４３ａが形成されており、該雄ねじ４３ａは、抜け止め４５の内周に形成された雌ねじ４５ａと螺合している。アダプタ本体４３の挿入部側外周に、止め輪４４と係合するための止め輪係合部４３ｂが形成されている。

止め輪係合部４３ｂが止め輪４４の先端側内周に形成されたアダプタ係合部４４ｂと係合されることにより、止め輪４４は、アダプタ本体４３に対し回転自在に構成される。

また、抜け止め４５の雌ねじ４５ａとアダプタ本体４３の雄ねじ４３ａとの螺合部が接着固定されていることにより、止め輪４４がアダプタ本体４３から外れないように構成されている。

止め輪４４の挿入部５側の内周に、雌ねじ４４ａが形成されており、該雌ねじ４４ａが先端部８の外周の雄ねじ８ａと螺合することにより、光学アダプタ４０が先端部８に装着される。

アダプタ本体４３の挿入部５側の面に、位置決め突起４３ｃが形成されている。位置決め突起４３ｃは、光学アダプタ４０が先端部８に装着された際、先端部８の位置決め溝８ｂと嵌合することにより、アダプタ本体４３の先端部８に対する回転を規制する。

これにより、光学アダプタ４０が先端部８に装着された際、対物光学系２０は撮像素子２１に対向する位置に配置され、照明光学系２３及び蛍光部材２２は、照明用光ファイバ１９及び光検出用光ファイバ１８の先端側と対向する位置に配置される。

図５に示すように、光学アダプタ４０が、先端部８に装着された状態では、止め輪４４の内周の雌ねじ４４ａと先端部８外周の雄ねじ８ａとが螺合され、アダプタ本体４３の位置決め突起４３ｃと先端部８の位置決め溝８ｂとが嵌合されている。

このように光学アダプタ４０を先端部８に対し着脱自在に構成することで、光学アダプタ４０の交換により、対物光学系２０の特性を変更することができ、被写体に応じて視野角や観察方向、焦点深度が最適なものを選択することができる。尚、その他の構成は、上述した第１実施の形態と同様である。

光学アダプタ４０が装着された状態では、ＬＤ２６から出射された励起光であるレーザ光は、集光光学系２７、照明用光ファイバ１９、光ファイバカバーガラス５２を通って、蛍光部材２２に照射される。

蛍光部材２２から出射される照明光である白色光の戻り光は、光検出用光ファイバ１８を通って、透過する光学フィルタ１００で蛍光のみが抽出された後、ＰＤ３３に検出され、その後、蛍光の強度が、上述したように、ＬＤ制御部３０の駆動制御の下、光検出部３４により検出される。

このように、蛍光部材２２が光学アダプタ４０に配設された構成を有しておれば、先端部８から光学アダプタ４０が取り外されると、蛍光部材２２にＬＤ２６からレーザ光が照射されなくなるので照明光である白色光は出射されなくなることから、ＰＤ３３において蛍光が検出されなくなる。

よって、上述のように、ＬＤ制御部３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される駆動制御が行われることから、使用者は眩しさを感じることなく光学アダプタ４０を先端部８から着脱することができ、作業性が向上する。尚、この際、上述した本実施と同様に、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御しても同様の効果を得ることができる。

また、光学アダプタ４０を交換することにより、蛍光部材２２を別の特性の蛍光部材に交換することができることから、検査対象空間内を照明する光の波長を容易に変更することができる。このことから、使用者は、被写体に適した波長の照明を選択することができる。尚、その他の効果は、上述した第１実施の形態と同様である。

尚、光学アダプタ４０の先端部８に対する着脱は、上述のようなねじの螺合に限定されず、ビス止めや凹凸係合によるロック構造等を用いてもよい。

（第２実施の形態）
図６は、本発明の第２実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図である。
この第２実施の形態の内視鏡装置２０１の構成、作用は、図１、図２に示した内視鏡装置１と比して、照明光の戻り光を、２つのＰＤで検出する点が異なる。よって、この相違点のみを説明し、第１実施の形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。

図６に示すように、装置本体３内には、光源制御部であるＬＤ制御部２３０に接続された光検出部３４ａ、３４ｂと、光検出部３４ａに接続されたフォトダイオード（ＰＤ）３３ａと、光検出部３４ｂに接続されたフォトダイオード（ＰＤ）３３ｂと、光検出用光ファイバ１８の他端とＰＤ３３ａ、３３ｂとの間に設けられた波長制限部材である光スプリッタ２９とが具備されている。

また、光スプリッタ２９の入力端側、具体的には、光検出用光ファイバ１８の他端に臨む位置に、集光光学系１２７が配置されており、光スプリッタ２９の一方の出力端側に、集光光学系１２８が配置され、他方の出力端側に集光光学系１２９が配置されている。また、集光光学系１２８の焦点付近に、ＰＤ３３ａが配置され、集光光学系１２９の焦点付近に、ＰＤ３３ｂが配置されている。

集光光学系１２７は、光検知用光ファイバ１８から出射された照明光の戻り光を集光して、光スプリッタ２９に入射するものであり、集光光学系１２８は、光スプリッタ２９から出射された後述する蛍光を集光して、ＰＤ３３ａに入射するものであり、集光光学系１２９は、光スプリッタ２９から出射された後述する励起光を集光して、ＰＤ３３ｂに入射するものである。

光スプリッタ２９は、２個の直角プリズムから構成されており、２個の直角プリズムの斜面同士を接合してキューブ型に構成されている。また、光スプリッタ２９は、一方のプリズムの斜面に波長選択性のある反射薄膜３１が蒸着されている。

反射薄膜３１は、照明光の戻り光の内、励起光を透過し蛍光を反射する薄膜か、励起光を反射し蛍光を透過する薄膜かのいずれかにより構成されている。尚、以下、反射薄膜３１は、励起光を透過し蛍光を反射する薄膜として説明する。この場合、ＰＤ３３ａは、蛍光のみを検出する第１の光センサとなり、ＰＤ３３ｂは、励起光のみを検出する第２の光センサを構成する。

このような構成を有する光スプリッタ２９は、照明光の戻り光の波長を制限して透過と反射との少なくとも一方を行い、透過または反射後の励起光と蛍光とを、それぞれ別のＰＤにより検出させるスプリッタである。

具体的には、光スプリッタ２９は、ＰＤ３３ｂに向けて励起光である青色光を透過して、ＰＤ３３ｂに青色光を検出させるとともに、ＰＤ３３ａに向けて蛍光を反射して、ＰＤ３３ａに蛍光を検出させるスプリッタである。

光検出部３４ａは、ＰＤ３３ａにおいて検出された蛍光の強度を、ＬＤ制御部２３０の駆動制御の下、検出するものであり、光検出部３４ｂは、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度を、ＬＤ制御部２３０の駆動制御の下、検出するものである。

ＬＤ制御部２３０は、ＰＤ３３ａにおいて検出された蛍光の強度を、光検出部３４ａを駆動制御して検出するとともに、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度を、光検出部３４ｂを駆動制御して検出し、励起光の強度に対する蛍光の強度を検出することにより、蛍光部材２２の劣化を検出する。

具体的には、光検出部３４ａにおいて、蛍光の強度が検出されない場合、または検出された励起光の強度に対する蛍光の強度が、所定の値、具体的には、検査対象空間内の検査に用いる蛍光の強度よりも、少なく、例えば通常の半分以下の強度が検出された場合、ＬＤ制御部２３０により、蛍光部材２２は劣化していると検出される。

その後、ＬＤ制御部２３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される制御が行われる。具体的には、ＬＤ２６の駆動が停止される。尚、この際、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御してもよい。

次に、このように構成された本実施の作用を簡単に説明する。尚、ＬＤ２６によるレーザ光の出射から照明光の戻り光が光検出用光ファイバ１８の他端から出射されるまでは、上述した第１実施と同様であるため、その説明は省略する。

光検出用光ファイバ１８の他端から出射された戻り光は、集光光学系１２７により集光されて、光スプリッタ２９に入射される。その後、光スプリッタ２９において、ＰＤ３３ｂに向けて励起光である青色光が透過されて、透過された青色光が集光光学系１２９により集光されて、ＰＤ３３ｂに向けて出射され、ＰＤ３３ｂに検知される。また、ＰＤ３３ａに向けて蛍光が反射されて、反射された蛍光が集光光学系１２８により集光されて、ＰＤ３３ａに向けて出射され、ＰＤ３３ａに検知される。

次いで、ＬＤ制御部２３０の駆動制御の下、光検出部３４ａにより、蛍光の強度が検出されるともに、光検出部３４ｂにより、青色光の強度が検出される。その後、ＬＤ制御部２３０により、青色光の強度に対する蛍光の強度が検出されることにより、蛍光部材２２の劣化が検出される。最後に、蛍光部材２２の劣化が検出されれば、ＬＤ制御部２３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される制御が行われるか、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動する制御が行われる。

このように、本実施の形態においては、光スプリッタ２９により、戻り光から、蛍光と励起光とを分離して、それぞれ別個のＰＤ３３ａ、３３ｂに蛍光と励起光とを検出させるとともに、ＬＤ制御部２３０は、別個の光検出部３４ａ、３４ｂを駆動制御して、蛍光と励起光との強度をそれぞれ測定し、励起光の強度に対する蛍光の強度を検出することで、蛍光部材２２の劣化を検出すると示した。

このことによれば、蛍光の強度と励起光の強度との２つのパラメータを用いて、蛍光の強度の低下を検出することにより、第１実施の形態よりも、より精度良く、蛍光部材２２の劣化を検出することができる。

よって、蛍光部材２２の劣化に伴う、蛍光の強度の低下または蛍光の未照射を確実に検出することができる構成を有する内視鏡装置２０１を提供することができる。

また、ＬＤ制御部２３０は、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度のみを、光検出部３４ｂを駆動制御して検出することにより、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知することができる。この際、ＬＤ制御部２３０は、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知後、ＬＤ２６を完全に停止させる駆動制御を行う。

尚、蛍光部材２２の劣化と、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損とを切り分けは、上述したように、蛍光部材２２の劣化検出後、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御すれば、レーザ光が出射されていなくともＬＤ２６が駆動している場合は、使用者は蛍光部材２２の劣化と判断でき、ＬＤ２６の駆動が完全に停止している場合は、使用者は、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損と判断できる。

このことから、本実施の形態においては、ＬＤ制御部２３０は、蛍光部材２２の劣化と、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損とを切り分けて検知することができる。

尚、以下、変形例を示す。
本実施の形態においては、反射薄膜３１は、励起光を透過し蛍光を反射する薄膜として説明したが、反射薄膜３１は、励起光を反射し蛍光を透過する薄膜であってもよいことは勿論である。

この場合、集光光学系１２８は、光スプリッタ２９から出射された励起光を集光して、ＰＤ３３ａに入射するものとなり、集光光学系１２９は、光スプリッタ２９から出射された蛍光を集光して、ＰＤ３３ｂに入射するものとなる。また、ＰＤ３３ａは、励起光のみを検出する第２の光センサとなり、ＰＤ３３ｂは、蛍光のみを検出する第１の光センサを構成する。

よって、光スプリッタ２９は、ＰＤ３３ｂに向けて蛍光を透過して、ＰＤ３３ｂに蛍光を検出させるとともに、ＰＤ３３ａに向けて励起光を反射して、ＰＤ３３ａに励起光を検出させるスプリッタとなる。

また、光検出部３４ａは、ＰＤ３３ａにおいて検出された励起光の強度を、ＬＤ制御部２３０の制御の下、検出するものであり、光検出部３４ｂは、ＰＤ３３ｂにおいて検出された蛍光の強度を、ＬＤ制御部２３０の駆動制御の下、検出するものとなる。

また、本実施の形態においても、波長の短い励起光としては、青色のレーザ光に限定されずに、例えば紫外光を用いてもよいことは勿論であり、半導体発光素子は、ＬＤに限定されず、低消費電力の半導体発光素子であれば、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）等であっても良いことは云うまでもない。

さらに、ＬＤ制御部２３０は、蛍光部材２２の劣化を検出した後、警告音や警告表示等を発する駆動制御を行うことにより、使用者に対し、蛍光部材２２の劣化を告知してもよい。

さらに、本実施の形態の内視鏡装置２０１においても、上述した図３〜図５に示したように、挿入部５の先端部８に対し、光学アダプタ４０が着脱自在な構成であっても構わない。尚、この場合の効果は、上述した第１実施形態の効果と同一である。

（第３実施の形態）
図７は、本発明の第３実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図である。
この第３実施の形態の内視鏡装置３０１の構成は、図６に示した内視鏡装置２０１と比して、光スプリッタを、入射される戻り光に対し、波長の制限を行わず、戻り光を２方向に分割する、単なるハーフミラーから構成した点が異なる。よって、この相違点のみを説明し、第１、第２実施の形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。

図７に示すように、装置本体３内には、光源制御部であるＬＤ制御部３３０に接続された光検出部３４ａ、３４ｂと、光検出部３４ａに接続されたＰＤ３３ａと、光検出部３４ｂに接続されたＰＤ３３ｂと、波長制限部材である第１の光学フィルタ１０１と、波長制限部材である第２の光学フィルタ１０２と、光スプリッタ３２９とが具備されている。

また、光スプリッタ３２９の入力端側、具体的には、光検出用光ファイバ１８の他端に臨む位置に、集光光学系１２７が配置されており、光スプリッタ２９の一方の出力端側に、集光光学系１２８が配置され、他方の出力端側に集光光学系１２９が配置されている。

また、集光光学系１２８の焦点付近であって、集光光学系１２８とＰＤ３３ａとの間に、第１の光学フィルタ１０１が配置され、集光光学系１２９の焦点付近であって、集光光学系１２９とＰＤ３３ｂとの間に、第２の光学フィルタ１０２が配置されている。

集光光学系１２７は、光検知用光ファイバ１８の他端から出射された照明光の戻り光を、集光して光スプリッタ３２９に出射するものであり、集光光学系１２８は、光スプリッタ２９から出射された戻り光を集光して、第１の光学フィルタ１０１に出射するものであり、集光光学系１２９は、光スプリッタ３２９から出射された戻り光を集光して、第２の光学フィルタ１０２に出射するものである。

光スプリッタ３２９は、２個の直角プリズムの斜面同士を接合してキューブ型に構成されている。また、光スプリッタ３２９は、一方のプリズムの斜面に、入射された照明光の戻り光をＰＤ３３ａとＰＤ３３ｂに向けてそれぞれ分割する、単なるハーフミラーとして機能する反射薄膜１３１が蒸着されている。

ＰＤ３３ａは、蛍光のみを検出する第１の光センサであり、ＰＤ３３ｂは、励起光のみを検出する第２の光センサを構成する。

また、第１の光学フィルタ１０１は、光スプリッタ３２９により分割された照明光の戻り光の波長を制限して透過させ、ＰＤ３３ａに、透過後の戻り光を検出させるフィルタ、具体的には、蛍光のみを透過させ、ＰＤ３３ａに、透過後の蛍光を検出させるフィルタである。

第２の光学フィルタ１０２は、光スプリッタ３２９により分割された照明光の戻り光の波長を制限して透過させ、ＰＤ３３ａに、透過後の戻り光を検出させるフィルタ、具体的には、励起光である青色光のみを透過させ、ＰＤ３３ｂに、透過後の青色光を検出させるフィルタである。

光検出部３４ａは、ＰＤ３３ａにおいて検出された蛍光の強度を、ＬＤ制御部３３０の駆動制御の下、検出するものであり、光検出部３４ｂは、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度を、ＬＤ制御部３３０の駆動制御の下、検出するものである。

ＬＤ制御部３３０は、ＰＤ３３ａにおいて検出された蛍光の強度を、光検出部３４ａを用いて検出するとともに、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度を、光検出部３４ｂを用いて検出し、励起光の強度に対する蛍光の強度を検出することにより、蛍光部材２２の劣化を検出する。

具体的には、光検出部３４ａにおいて、蛍光の強度が検出されない場合、または検出された励起光の強度に対する蛍光の強度が、所定の値、具体的には、検査対象空間内の検査に用いる蛍光の強度よりも少なく、例えば通常の半分以下の強度が検出された場合、ＬＤ制御部３３０により、蛍光部材２２は劣化していると検出される。

その後、ＬＤ制御部３３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される駆動制御が行われる。具体的には、ＬＤ２６の駆動が停止される。尚、この際、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御してもよい。

次に、このように構成された本実施の作用を簡単に説明する。尚、本実施の形態においても、ＬＤ２６によるレーザ光の出射から照明光の戻り光が光検出用光ファイバ１８の他端から出射されるまでは、上述した第１実施と同様であるため、その説明は省略する。

光検出用光ファイバ１８の他端から出射された戻り光は、集光光学系１２７により集光されて、光スプリッタ３２９に入射される。その後、光スプリッタ３２９において、ＰＤ３３ａ、３３ｂに向けて戻り光が分割されて、一方の戻り光が集光光学系１２８により集光されて、ＰＤ３３ａに向けて出射され、第１の光学フィルタ１０１により、蛍光のみが透過された後、蛍光のみが、ＰＤ３３ａに検知される。

また、他方の戻り光が、集光光学系１２９により集光されて、ＰＤ３３ｂに向けて出射され、第２の光学フィルタ１０２により、励起光のみが透過された後、励起光のみが、ＰＤ３３ｂに検知される。

次いで、ＬＤ制御部３３０の駆動制御の下、光検出部３４ａにより、蛍光の強度が検出されるともに、光検出部３４ｂにより、励起光の強度が検出される。その後、ＬＤ制御部３３０により、励起光の強度に対する蛍光の強度が検出されることにより、蛍光部材２２の劣化が検出される。最後に、蛍光部材２２の劣化が検出されれば、ＬＤ制御部３３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される制御が行われるか、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動する制御が行われる。

このように、内視鏡装置３０１を構成しても、上述した第２実施の形態と同様の効果を得ることができる。また、本実施の形態においても、ＬＤ制御部３３０は、ＰＤ３３ｂにおいて検出された励起光の強度のみを、光検出部３４ｂを用いて検出することにより、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知することができる。この際、ＬＤ制御部３３０は、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知後、ＬＤ２６を完全に停止させる駆動制御を行う。

このことから、本実施の形態においても、ＬＤ制御部３３０は、蛍光部材２２の劣化と、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損とを切り分けて検知することができる。

尚、以下、変形例を示す。
本実施の形態においても、波長の短い励起光としては、青色のレーザ光に限定されずに、例えば紫外光を用いてもよいことは勿論であり、半導体発光素子は、ＬＤに限定されず、低消費電力の半導体発光素子であれば、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）等であっても良いことは云うまでもない。

さらに、ＬＤ制御部３３０は、蛍光部材２２の劣化を検出した後、警告音や警告表示等を発する駆動制御を行うことにより、使用者に対し、蛍光部材２２の劣化を告知してもよい。

さらに、本実施の形態の内視鏡装置３０１においても、上述した図３〜図５に示したように、挿入部５の先端部８に対し、光学アダプタ４０が着脱自在な構成であっても構わない。尚、この場合の効果は、上述した第１実施形態の効果と同一である。

（第４実施の形態）
図８は、本発明の第４実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図である。
この第４実施の形態の内視鏡装置４０１の構成は、図１、図２に示した内視鏡装置１と比して、照明光の戻り光を、青、緑、赤にそれぞれ感度を持つようにしたカラーフィルタを組み合わせた３チャンネルのＰＤを１つにパッケージしたＲＧＢカラーセンサにおいて、緑、赤色の蛍光と青色の励起光とに分けて透過させる点が異なる。よって、この相違点のみを説明し、第１実施の形態と同様の構成には同じ符号を付し、その説明は省略する。

図８に示すように、装置本体３内には、光源制御部であるＬＤ制御部４３０に接続された光検出部３４と、該光検出部３４に接続された光センサであるＲＧＢカラーセンサ１３３が具備されている。

ＲＧＢカラーセンサ１３３は、照明光の戻り光を、青色、緑色、赤色にそれぞれ感度を持つようにしたカラーフィルタ１１０Ｒ、１１０Ｇ、１１０Ｂを組み合わせた３チャンネルのＰＤを１つにパッケージしたカラーセンサである。

赤色カラーフィルタ１１０Ｒ、緑色カラーフィルタ１１０Ｇは、照明光の戻り光の波長を制限して透過させ、透過後の戻り光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させるフィルタ、具体的には、戻り光から青色の励起光を反射または吸収し、それぞれ、赤色、緑色の蛍光のみを透過させて、蛍光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させる第１の波長制限部材である。

青色カラーフィルタ１１０Ｂは、照明光の戻り光の波長を制限して透過させ、透過後の戻り光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させるフィルタ、具体的には、戻り光から赤色及び緑色の蛍光を反射または吸収し、青色の励起光のみを透過させて、青色の励起光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させる第２の波長制限部材である。

光検出部３４は、ＲＧＢカラーセンサ１３３において検出された蛍光の強度及び励起光の強度を、ＬＤ制御部４３０の駆動制御の下、検出するものである。

ＬＤ制御部４３０は、カラーフィルタ１３３において検出された蛍光及び励起光の強度を、光検出部３４を用いて検出し、励起光の強度に対する蛍光の強度を検出することにより、蛍光部材２２の劣化を検出する。

具体的には、ＲＧＢカラーセンサ１３３において、蛍光の強度が検出されない場合、または検出された励起光の強度に対する蛍光の強度が、所定の値、具体的には、検査対象空間内の検査に用いる蛍光の強度よりも低く、例えば通常の半分以下の強度が検出された場合、ＬＤ制御部４３０により、蛍光部材２２は劣化していると検出される。

その後、ＬＤ制御部４３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される駆動制御が行われる。具体的には、ＬＤ２６の駆動が停止される。尚、この際、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動制御してもよい。

光検出用光ファイバ１８の他端から出射された戻り光は、ＲＧＢカラーフィルタ１３３に出射され、ＲＧＢカラーフィルタ１３３において、赤色カラーフィルタ１１０Ｒ、緑色カラーフィルタ１１０Ｇにより、戻り光から赤色、緑色の蛍光のみをそれぞれのフィルタで透過させて、蛍光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させるとともに、青色カラーフィルタ１１０Ｂにより、戻り光から青色の励起光のみを透過させて、励起光をＲＧＢカラーセンサ１３３に検出させる。

次いで、ＬＤ制御部４３０の駆動制御の下、光検出部３４により、蛍光の強度及び励起光の強度が検出される。その後、ＬＤ制御部３３０により、励起光の強度に対する蛍光の強度が検出されることにより、蛍光部材２２の劣化が検出される。最後に、蛍光部材２２の劣化が検出されれば、ＬＤ制御部３３０により、ＬＤ２６からのレーザ光の出射が停止される制御が行われるか、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力で点灯するようにＬＤ２６を駆動する制御が行われる。

このように、内視鏡装置４０１を構成しても、上述した第１〜第３実施の形態と同様の効果を得ることができる。また、本実施の形態においても、ＬＤ制御部４３０は、カラーフィルタ１３３において検出された青色の励起光の強度のみを、光検出部３４を用いて検出することにより、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知することができる。この際、ＬＤ制御部４３０は、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損を検知後、ＬＤ２６を完全に停止させる駆動制御を行う。

尚、蛍光部材２２の劣化と、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損とを切り分けは、上述したように、蛍光部材２２の劣化検出後、ＬＤ２６の駆動を完全に停止させずに、ＬＤ２６からレーザ光が出射しない出力でＬＤ２６を駆動制御すれば、レーザ光が出射されていなくともＬＤ２６が駆動している場合は、使用者は蛍光部材２２の劣化と判断でき、ＬＤ２６の駆動が完全に停止している場合は、使用者は、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損と判断できる。

このことから、本実施の形態においても、ＬＤ制御部４３０は、蛍光部材２２の劣化と、照明用光ファイバ１９またはＬＤ２６の破損とを切り分けて検知することができる。

尚、以下、変形例を示す。
本実施の形態においても、ＬＤ制御部４３０は、蛍光部材２２の劣化を検出した後、警告音または警告表示等を発する制御を行うことにより、使用者に対し、蛍光部材２２の劣化を告知してもよい。

さらに、本実施の形態の内視鏡装置４０１においても、上述した図３〜図５に示したように、挿入部５の先端部８に対し、光学アダプタ４０が着脱自在な構成であっても構わない。尚、この場合の効果は、上述した第１実施形態の効果と同一である。

また、上述した第１〜第４実施の形態においては、内視鏡装置は、工業用の内視鏡装置を例に挙げて示したが、工業用の内視鏡装置に限定されず、医療用の内視鏡装置に適用してもよいことは云うまでもない。

［付記］
以上詳述した如く、本発明の実施例によれば、以下の如き構成を得ることができる。即ち、
（１）検査対象空間内に挿入される挿入部と、
励起光を出射する発光素子と、
前記励起光と該励起光により励起された蛍光とにより混成された照明光を、前記挿入部の先端から前記検査対象空間内に出射する蛍光部材と、
前記照明光の一部である戻り光を検出する光センサと、
一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記光センサに臨むよう設けられた、前記蛍光部材から出射された前記戻り光を前記光センサへ伝播する光検出用ライトガイドと、
前記光検出用ライトガイドの前記他端と前記光センサとの間に設けられた、前記戻り光の波長を制限して透過と反射との少なくとも一方を行い、透過または反射後の前記戻り光を前記光センサに検出させる波長制限部材と、
前記光センサにおいて検出された前記戻り光の強度を検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行う制御部と、
を具備していることを特徴とする内視鏡装置。

（２）一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記発光素子に臨むよう設けられた、前記発光素子から出射された前記励起光を前記蛍光部材へ伝播する照明用ライトガイドをさらに具備していることを特徴とする付記１に記載の内視鏡装置。

（３）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させることにより、前記光センサに前記蛍光のみを検出させ、
前記制御部は、前記光センサにおいて検出された前記蛍光の強度のみを検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記１または２に記載の内視鏡装置。

（４）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させる光学フィルタであることを特徴とする付記３に記載の内視鏡装置。

（５）前記挿入部の先端に着脱自在な光学アダプタをさらに具備し、
前記光学アダプタに、前記蛍光部材が設けられていることを特徴とする付記１〜４のいずれか１項に記載の内視鏡装置。

（６）前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記励起光を前記第２の光センサに向けて透過させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて反射させる、または前記励起光を前記第２の光センサに向けて反射させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて透過させる光スプリッタから構成されていることを特徴とする付記１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。

（７）前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記戻り光を、前記第１の光センサと前記第２の光センサとに分割するハーフミラーをさらに具備し、
前記波長制限部材は、前記第１の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記蛍光のみを透過させる第１の光学フィルタと、前記第２の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記励起光のみを透過させる第２の光学フィルタとから構成されていることを特徴とする付記１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。

（８）前記制御部は、前記第１の光センサによりおいて検出された前記蛍光の強度を検出するとともに、前記第２の光センサにおいて検出された前記励起光の強度を検出し、
前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記６または７に記載の内視鏡装置。

（９）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを前記光センサに向けて透過させる第１の波長制限部材と、前記戻り光から前記励起光のみを前記光センサに向けて透過させる第２の波長制限部材とから構成されており、
前記制御部は、前記光センサで検出された前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。

（１０）前記制御部は、前記蛍光部材の劣化を検出した後、前記発光素子からの前記励起光の出射を停止させる制御を行うことを特徴とする付記１〜９のいずれか１項に記載の内視鏡装置。

（１１）励起光を出射する発光素子と、
前記励起光と該励起光により励起された蛍光とにより混成された照明光を出射する蛍光部材と、
前記照明光の一部である戻り光を検出する光センサと、
一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記光センサに臨むよう設けられた、前記蛍光部材から出射された前記戻り光を前記光センサへ伝播する光検出用ライトガイドと、
前記光検出用ライトガイドの前記他端と前記光センサとの間に設けられた、前記戻り光の波長を制限して透過と反射との少なくとも一方を行い、透過または反射後の前記戻り光を前記光センサに検出させる波長制限部材と、
前記光センサにおいて検出された前記戻り光の強度を検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行う制御部と、
を具備していることを特徴とする内視鏡用照明装置。

（１２）一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記発光素子に臨むよう設けられた、前記発光素子から出射された前記励起光を前記蛍光部材へ伝播する照明用ライトガイドをさらに具備していることを特徴とする付記１１に記載の内視鏡用照明装置。

（１３）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させることにより、前記光センサに前記蛍光のみを検出させ、
前記制御部は、前記光センサにおいて検出された前記蛍光の強度のみを検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記１１または１２に記載の内視鏡用照明装置。

（１４）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させる光学フィルタであることを特徴とする付記１３に記載の内視鏡用照明装置。

（１５）前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記励起光を前記第２の光センサに向けて透過させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて反射させる、または前記励起光を前記第２の光センサに向けて反射させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて透過させる光スプリッタから構成されていることを特徴とする付記１１または１２に記載の内視鏡用照明装置。

（１６）前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記戻り光を、前記第１の光センサと前記第２の光センサとに分割するハーフミラーをさらに具備し、
前記波長制限部材は、前記第１の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記蛍光のみを透過させる第１の光学フィルタと、前記第２の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記励起光のみを透過させる第２の光学フィルタとから構成されていることを特徴とする付記１１または１２に記載の内視鏡用照明装置。

（１７）前記制御部は、前記第１の光センサによりおいて検出された前記蛍光の強度を検出するとともに、前記第２の光センサにおいて検出された前記励起光の強度を検出し、
前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記１５または１６に記載の内視鏡用照明装置。

（１８）前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを前記光センサに向けて透過させる第１の波長制限部材と、前記戻り光から前記励起光のみを前記光センサに向けて透過させる第２の波長制限部材とから構成されており、
前記制御部は、前記光センサで検出された前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする付記１１または１２に記載の内視鏡用照明装置。

（１９）前記制御部は、前記蛍光部材の劣化を検出した後、前記発光素子からの前記励起光の出射を停止させる制御を行うことを特徴とする付記１１〜１８のいずれか１項に記載の内視鏡用照明装置。

本発明の第１実施の形態を示す内視鏡装置の外観を概略的に示す図。図１の内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図。図１の内視鏡装置の内部の構成の変形例を、挿入部の先端部のみ断面にして概略的に示した図。図３の内視鏡装置の挿入部の先端部に着脱自在な光学アダプタを示す部分断面図。図４の光学アダプタを図３の内視鏡装置の挿入部の先端部に装着した状態を示す部分断面図。本発明の第２実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図。本発明の第３実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図。本発明の第４実施の形態を示す内視鏡装置の内部の構成を概略的に示す図。

符号の説明

１…内視鏡装置
５…挿入部
１８…光検出用光ファイバ１８
２２…蛍光部材
２６…ＬＤ
２９…光スプリッタ
３０…ＬＤ制御部
３３…ＰＤ
３３ａ…ＰＤ
３３ｂ…ＰＤ
４０…光学アダプタ
１００…光学フィルタ
１０１…第１の光学フィルタ
１０２…第２の光学フィルタ
１１０Ｒ…赤色カラーフィルタ
１１０Ｇ…緑色カラーフィルタ
１１０Ｂ…青色カラーフィルタ
１３３…ＲＧＢカラーセンサ
２０１…内視鏡装置
２３０…ＬＤ制御部
３０１…内視鏡装置
３２９…光スプリッタ
３３０…ＬＤ制御部
４０１…内視鏡装置
４３０…ＬＤ制御部

Claims

検査対象空間内に挿入される挿入部と、
励起光を出射する発光素子と、
前記励起光と該励起光により励起された蛍光とにより混成された照明光を、前記挿入部の先端から前記検査対象空間内に出射する蛍光部材と、
前記照明光の一部である戻り光を検出する光センサと、
一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記光センサに臨むよう設けられた、前記蛍光部材から出射された前記戻り光を前記光センサへ伝播する光検出用ライトガイドと、
前記光検出用ライトガイドの前記他端と前記光センサとの間に設けられた、前記戻り光の波長を制限して透過と反射との少なくとも一方を行い、透過または反射後の前記戻り光を前記光センサに検出させる波長制限部材と、
前記光センサにおいて検出された前記戻り光の強度を検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行う制御部と、
を具備していることを特徴とする内視鏡装置。
一端が前記蛍光部材に臨み他端が前記発光素子に臨むよう設けられた、前記発光素子から出射された前記励起光を前記蛍光部材へ伝播する照明用ライトガイドをさらに具備していることを特徴とする請求項１に記載の内視鏡装置。
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させることにより、前記光センサに前記蛍光のみを検出させ、
前記制御部は、前記光センサにおいて検出された前記蛍光の強度のみを検出し、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする請求項１または２に記載の内視鏡装置。
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを透過させる光学フィルタであることを特徴とする請求項３に記載の内視鏡装置。
前記挿入部の先端に着脱自在な光学アダプタをさらに具備し、
前記光学アダプタに、前記蛍光部材が設けられていることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の内視鏡装置。
前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記励起光を前記第２の光センサに向けて透過させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて反射させる、または前記励起光を前記第２の光センサに向けて反射させ前記蛍光を前記第１の光センサに向けて透過させる光スプリッタから構成されていることを特徴とする請求項１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。
前記光センサは、前記蛍光のみを検出する第１の光センサと、前記励起光のみを検出する第２の光センサとから構成されており、
前記戻り光を、前記第１の光センサと前記第２の光センサとに分割するハーフミラーをさらに具備し、
前記波長制限部材は、前記第１の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記蛍光のみを透過させる第１の光学フィルタと、前記第２の光センサと前記ハーフミラーの間に設けられた、前記励起光のみを透過させる第２の光学フィルタとから構成されていることを特徴とする請求項１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。
前記制御部は、前記第１の光センサによりおいて検出された前記蛍光の強度を検出するとともに、前記第２の光センサにおいて検出された前記励起光の強度を検出し、
前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする請求項６または７に記載の内視鏡装置。
前記波長制限部材は、前記戻り光から前記蛍光のみを前記光センサに向けて透過させる第１の波長制限部材と、前記戻り光から前記励起光のみを前記光センサに向けて透過させる第２の波長制限部材とから構成されており、
前記制御部は、前記光センサで検出された前記励起光の強度に対する前記蛍光の強度を検出することにより、前記蛍光部材の劣化を検出する制御を行うことを特徴とする請求項１、２または５のいずれか１項に記載の内視鏡装置。
前記制御部は、前記蛍光部材の劣化を検出した後、前記発光素子からの前記励起光の出射を停止させる制御を行うことを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載の内視鏡装置。