JP4800781B2 - 電圧レベルシフト回路、および半導体集積回路 - Google Patents
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Description
Vo=Vi + VTP+(I/K) 1/2・・・・・(1)、
となる。ここで、VTPおよびKは、ソースフォロワとして動作するPチャネルエンハンスメント型トランジスタM31の閾値電圧およびコンダクタンス係数である。
このような構成により、電圧レベルシフト回路をソースフォロワ回路で構成し、また、それぞれのソースフォロワ回路にはカスコード回路を付加する。そして、カスコード回路のバイアス電圧を、そのカスコード回路と直列に接続されていないソースフォロワ回路からのバイアス電圧信号により制御する。
これにより、差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、ソースフォロワ回路における電源変動除去比を高めることができる。
このような構成により、Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタとNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(定電流負荷)とをP型基板上に形成し、ソースフォロワ回路を構成する。
これにより、Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタとNチャネルデプレッション型MOSトランジスタとを使用したソースフォロワ回路を、P型基板上に容易に構成することができる。
このような構成により、カスコード回路を、Nチャネルデプレッション型MOSトランジスタを用いて容易に構成することができる。
このような構成により、第1のソースフォロワ回路に接続された第1のカスコード回路のバイアス電圧を、第2のソースフォロワ回路に接続された第2のカスコード回路のバイアス電圧を基に制御する。また、第2のソースフォロワ回路に接続された第2のカスコード回路のバイアス電圧を、第1のソースフォロワ回路に接続された第1のカスコード回路のバイアス電圧を基に制御する。すなわち、第1のカスコード回路のバイアス電圧と、第2のカスコード回路のバイアス電圧とが等しくなるように相補に制御する。
これにより、差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、ソースフォロワ回路における電源変動除去比を高めることができる。
このような構成により、第1のソースフォロワ回路に直列に接続された第1のカスコード回路(M5)のゲート端子を、第2のソースフォロワ回路のバイアス電圧出力端子(B2)に接続する。また、第2のソースフォロワ回路に直列に接続された第2のカスコード回路(M6)のゲート端子を、第1のソースフォロワ回路のバイアス電圧出力端子(B1)に接続する。このようにして、第1のカスコード回路のバイアス電圧と、第2のカスコード回路のバイアス電圧とが等しくなるように相補に制御する。
これにより、差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、ソースフォロワ回路における電源変動除去比を高めることができる。
このような構成により、第1のソースフォロワ回路に直列に接続された第1のカスコード回路(M5)のゲート端子を、第2のソースフォロワ回路の第2のバイアス電圧出力端子(B2)に接続する。また、第2のソースフォロワ回路に直列に接続された第2のカスコード回路(M6)のゲート端子を、第1のソースフォロワ回路の第1のバイアス電圧出力端子(B1)に接続する。このようにして、第1のカスコード回路のバイアス電圧と、第2のカスコード回路のバイアス電圧とが等しくなるように相補に制御する。
これにより、差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、ソースフォロワ回路における電源変動除去比を高めることができる。
このような構成により、第1のソースフォロワ回路と第2のソースフォロワ回路に、1つの共通のカスコード回路を付加する。また、第1のソースフォロワ回路と第2のソースフォロワ回路の定電流負荷となるトランジスタには、カレントミラー回路により同一の定電流を流すようにする。
これにより、差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、ソースフォロワ回路における電源変動除去比を高めることができる。
これにより、半導体集積回路の差動増幅回路の入力に電圧レベルシフト回路を使用する場合に、各々の電圧レベルシフト回路における入出力電位差を精度よく同一に保つことができ、また、電源変動除去比を高めることができる。
図1は、本発明の電圧レベルシフト回路の第1の実施の形態を示す図である。図1において、破線100で囲んだ部分が、電圧レベルシフト回路として動作し、破線101で囲んだ部分が、差動増幅回路として動作する。また図1の回路はP型基板上に形成されている。
図2は、本発明の電圧レベルシフト回路の第2の実施の形態を示す図である。
図2に示す回路において、破線100で囲んだ部分が、電圧レベルシフト回路として動作し、破線101で囲んだ部分が、差動増幅回路として動作する。また図2に示す回路はP型基板上に形成されている。
また、図5は、本発明の電圧レベルシフト回路の第3の実施の形態を示す図である。
図5に示す電圧レベルシフト回路においては、Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタM21とPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタM22により、第1の電圧レベルシフト回路(ソースフォロワ回路)を構成し、また、Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタM23とPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタM24により第2の電圧レベルシフト回路(ソースフォロワ回路)を構成した例である。
M3、M4、M5、M6、M26…Nチャネルデプレッション型MOSトランジスタ
M9、M10、M11…Nチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ
M20…定電流源
M21、M22、M23…Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ
M24、M25、M31、M32…Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ
14…バイアス電圧源
100…電圧レベルシフト回路
101…差動増幅回路
102(In1)…第1の電圧レベルシフト回路の信号入力端子
103(Out1)…第1の電圧レベルシフト回路の信号出力端子
104(B1)…第1の電圧レベルシフト回路のバイアス電圧出力端子
105(In2)…第2の電圧レベルシフト回路の信号入力端子
106(Out2)…第2の電圧レベルシフト回路の信号出力端子
107(B2)…第2の電圧レベルシフト回路のバイアス電圧出力端子
Claims (6)
- 複数の入力信号に対応して複数設けられた、前記入力信号の直流電圧をレベルシフトして出力するソースフォロワ回路と、
前記ソースフォロワ回路のそれぞれと電源との間に接続され、該ソースフォロワ回路に電源電圧をバイアスした電圧を印加するカスコード回路と、
前記カスコード回路のバイアス電圧を、該カスコード回路と直列に接続されていないソースフォロワ回路からのバイアス電圧信号により制御する手段と、
前記ソースフォロワ回路によりレベルシフトされた信号を、差動増幅回路の入力信号として出力する手段と
を備えることを特徴とする電圧レベルシフト回路。 - 前記ソースフォロワ回路は、
Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタと、
前記Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタに直列に接続され、該Pチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタの定電流負荷となるNチャネルデプレッション型MOSトランジスタと
で構成され、
かつP型基板上に形成されたこと
を特徴とする請求項1に記載の電圧レベルシフト回路。 - 前記カスコード回路は、少なくとも1個以上のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタにより構成されたこと
を特徴とする請求項1または請求項2に記載の電圧レベルシフト回路。 - 第1の電圧信号入力端子(In1)と、第1の電圧信号出力端子(Out1)と、第1のバイアス電圧出力端子(B1)を具備した第1のソースフォロワ回路と、
第2の電圧信号入力端子(In2)と、第2の電圧信号出力端子(Out2)と第2のバイアス電圧出力端子(B2)を具備した第2のソースフォロワ回路と、
前記第1のソースフォロワ回路に直列に接続された第1のカスコード回路と、
前記第2のソースフォロワ回路に直列に接続された第2のカスコード回路と、
前記第1のバイアス電圧出力端子(B1)より出力される電圧を基に、前記第2のカスコード回路のバイアス電圧を制御する手段と、
前記第2のバイアス電圧出力端子(B2)より出力される電圧を基に、前記第1のカスコード回路のバイアス電圧を制御する手段と
を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の電圧レベルシフト回路。 - ゲート端子を第1の電圧信号入力端子(In1)に接続し、ドレイン端子を接地した第1のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M1)と、
ソース端子およびゲート端子を前記第1のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M1)のソース端子および第1の電圧信号出力端子(Out1)に接続し、ドレイン端子を前記第1のバイアス電圧出力端子(B1)に接続した第1のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M3)と
で構成され第1のソースフォロワ回路と、
ゲート端子を第2の電圧信号入力端子(In2)に接続し、ドレイン端子を接地した第2のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M2)と、
ソース端子およびゲート端子を前記第2のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M2)のソース端子および第2の電圧信号出力端子(Out2)に接続し、ドレイン端子を前記第2のバイアス電圧出力端子(B2)に接続した第2のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M4)と
で構成される第2のソースフォロワ回路と、
ゲート端子を第2のバイアス電圧出力端子(B2)に接続し、ソース端子を第1のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M3)のドレイン端子に接続し、ドレイン端子を電源電圧に固定した第3のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M5)により構成される第1のカスコード回路と、
ゲート端子を第1のバイアス電圧出力端子(B1)に接続し、ソース端子を第2のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M4)のドレイン端子に接続し、ドレイン端子を電源電圧に固定した第4のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M6)により構成される第2のカスコード回路と
を備えることを特徴とする請求項4に記載の電圧レベルシフト回路。 - ゲート端子を第1の電圧信号入力端子(In1)に接続し、ドレイン端子を接地した第1のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M1)と、
ソース端子およびゲート端子を、前記第1のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M1)のソース端子、第1の電圧信号出力端子(Out1)および第1のバイアス電圧出力端子(B1)に接続した第1のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M3)と
で構成される第1のソースフォロワ回路と、
ゲート端子を第2の電圧信号入力端子(In2)に接続し、ドレイン端子を接地した第2のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M2)と、
ソース端子およびゲート端子を、前記第2のPチャネルエンハンスメント型MOSトランジスタ(M2)のソース端子、第2の電圧信号出力端子(Out2)および第2のバイアス電圧出力端子(B2)に接続した第2のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M4)と
で構成される第2のソースフォロワ回路と、
ゲート端子を第2のバイアス電圧出力端子(B2)に接続し、ソース端子を第1のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M3)のドレイン端子に接続し、ドレイン端子を電源電圧に固定した第3のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M5)により構成される第1のカスコード回路と、
ゲート端子を第1のバイアス電圧出力端子(B1)に接続し、ソース端子を第2のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M4)のドレイン端子に接続し、ドレイン端子を電源電圧に固定した第4のNチャネルデプレッション型MOSトランジスタ(M6)により構成される第2のカスコード回路と
を備えることを特徴とする請求項4に記載の電圧レベルシフト回路。
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