JP4776599B2 - 成膜装置および成膜方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 37
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 13
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims description 12
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 114
- 239000010408 film Substances 0.000 description 48
- 239000000463 material Substances 0.000 description 35
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 9
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 238000002294 plasma sputter deposition Methods 0.000 description 4
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000004992 fission Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003758 nuclear fuel Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
本発明に係る成膜装置の第1実施形態について、図1から図6を参照して説明する。
本発明に係る成膜装置の第2実施形態について、図7を参照して説明する。
本発明に係る成膜装置の第3実施形態について、図8を参照して説明する。
2 放電電極
2a 雰囲気ガス流路
3 尖端部
4 接地電極
5 絶縁体
6 電源部
7 電極移動部
8 真空手段
9 雰囲気ガス
10 雰囲気ガス供給部
11、11B、11C 中性子有感物質部
11a、11b 中性子有感物質部雰囲気ガス流路
12、12A 雰囲気ガス供給接続配管
13 雰囲気ガス供給配管
30 中性子検出器
31 本体ケース
32 アノード
33 カソード
34 周方向位置決め絶縁体
35 端栓
36 軸方向位置決め絶縁体
37 充填ガス
38 信号ケーブル要素
39 溶接部
40 内周壁
41 中性子変換層
Claims (8)
- 先端が円錐または多角錐様をなしスパッタリングターゲット材で形成された先端部を有する導体棒である中心電極と、
このスパッタリングターゲット材の皮膜を内面に形成させ前記中心電極と同心状に設置した円筒状の接地電極と、
前記中心電極の前記先端部を除いた部分と前記接地電極との間を電気的に絶縁する筒状またはスリーブ状の絶縁体と、
両電極間に電力を印加する電源部と、
前記接地電極内に雰囲気ガスを供給する雰囲気ガス供給部とを備えたことを特徴とする成膜装置。 - 前記接地電極内に供給される雰囲気ガスは、
前記中心電極内に長手軸方向へ形成された雰囲気ガス流路から供給されることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。 - 前記雰囲気ガス流路は、
前記接地電極内へ雰囲気ガスを供給する開口を複数有することを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。 - 前記雰囲気ガス流路は、
前記接地電極内へ雰囲気ガスを供給する開口が多孔質状に形成されたことを特徴とする請求項2に記載の成膜装置。 - 前記接地電極内に供給される雰囲気ガスは、
前記絶縁体内に長手軸方向へ形成された雰囲気ガス流路から供給されることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。 - 前記雰囲気ガス流路の内壁は、導電性を有することを特徴とする請求項5に記載の成膜装置。
- 前記接地電極内に供給される雰囲気ガスは、
前記中心電極の先端部に雰囲気ガスを導入する雰囲気ガス供給配管から供給されることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。 - スパッタリングターゲット材の皮膜を内面に形成させる円筒状の接地電極を、先端が円錐または多角錐様をなしスパッタリングターゲット材で形成された先端部を有する導体棒である中心電極と同心状に設置し、
前記中心電極の前記先端部を除いた部分と前記接地電極との間を電気的に絶縁する筒状またはスリーブ状の絶縁体を挿入した後、
前記中心電極と前記接地電極との間に電力を印加し、
前記中心電極の前記先端部と前記接地電極との間にプラズマを発生させるとともに前記接地電極内に雰囲気ガスを供給して前記接地電極の内面にスパッタリングターゲット材の皮膜を形成することを特徴とする成膜方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007223736A JP4776599B2 (ja) | 2007-08-30 | 2007-08-30 | 成膜装置および成膜方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007223736A JP4776599B2 (ja) | 2007-08-30 | 2007-08-30 | 成膜装置および成膜方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009057583A JP2009057583A (ja) | 2009-03-19 |
JP4776599B2 true JP4776599B2 (ja) | 2011-09-21 |
Family
ID=40553601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007223736A Expired - Fee Related JP4776599B2 (ja) | 2007-08-30 | 2007-08-30 | 成膜装置および成膜方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4776599B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8502157B2 (en) * | 2011-09-09 | 2013-08-06 | General Electric Company | Boron containing coating for neutron detection |
CN112462412B (zh) * | 2020-10-28 | 2023-01-03 | 郑州工程技术学院 | 一种GaN中子探测器用的10B4C中子转换层制备方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5222335B2 (ja) * | 1972-08-08 | 1977-06-16 | ||
JPS5388676A (en) * | 1977-01-14 | 1978-08-04 | Anelva Corp | Film forming apparatus |
JPS63282258A (ja) * | 1987-05-12 | 1988-11-18 | Canon Inc | スパッタリング法による堆積膜形成装置 |
JPH02141928A (ja) * | 1988-11-22 | 1990-05-31 | Sony Corp | 磁気記録媒体の製造方法 |
JPH07116597B2 (ja) * | 1989-07-20 | 1995-12-13 | 石油公団 | スパッタリング装置 |
JP3198658B2 (ja) * | 1992-09-30 | 2001-08-13 | 株式会社島津製作所 | スパッタリング装置 |
JPH06279998A (ja) * | 1993-03-29 | 1994-10-04 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 円筒内面のドライコーティング方法 |
-
2007
- 2007-08-30 JP JP2007223736A patent/JP4776599B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009057583A (ja) | 2009-03-19 |
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A621 | Written request for application examination |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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