JP4749132B2 - センサ検出装置及びセンサ - Google Patents
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Description
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る加速度センサの構成を示す回路図であり、図2は、本発明の実施の形態1に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。図において100は加速度を感知するセンサ素子であり、1はセンサ素子100の出力から加速度を検出するセンサ検出装置である。なお、本図に示すセンサ素子100は、従来のセンサの構成として図15に示したセンサ素子100と同じであるので、説明を省略する。
(a)駆動信号発生回路6の駆動信号
(b)入力段差動増幅器20の一方の入力であるオペアンプ21の入力信号Va
(c)入力段差動増幅器20の他方の入力であるオペアンプ22の入力信号Vb
(d)オペアンプ21の出力信号Vc
(e)オペアンプ22の出力信号Vd
(f)出力段差動増幅器25の出力信号Vz
(g)センサ検出装置1のセンサ出力信号
を示している。更に、監視回路40a、40bの高い側の比較器順電位をV1、低い側の基準電位をV2とし、また、監視回路40c、40dの高い側の比較器順電位をV3、低い側の基準電位をV4として図中に破線で示してある。
Vc−Vd=α0・(Va−Vb) …(1)
Vc=α1・Va−α2・Vb …(2)
Vd=α1・Vb−α2・Va …(3)
ただし、α1>α2であり、α0、α1及びα2は、抵抗R11、R12、R13、R14の抵抗値及びコンデンサC11の容量値により定まる増幅率である。
Vz=β・(VdーVc) …(4)
ただし、βは抵抗R15、R16、R17及びR18の抵抗値により定まる増幅率である。
図12は、本発明の実施の形態2に係る加速度センサの構成を示す回路図である。実施の形態2に係る加速度センサは、実施の形態1の加速度センサと比較して、センサ検出装置1aの構成が異なる。
図14は、本発明の実施の形態2の変形例に係るセンサ検出回路の構成を示す回路図である。本変形例のセンサ検出回路10bは、図13に示すセンサ検出回路10aに、更に監視回路40e、40f、40gを追加した構成である。
2 駆動信号出力端子
3 第1入力端子
4 第2入力端子
5 センサ出力端子
5a 第1センサ出力
5b 第2センサ出力
6 駆動信号発生回路(駆動手段)
7 基準電位発生回路
8 制御部
9 故障検知出力端子
10、10a、10b センサ検出回路
11 第1入力端子
12 第2入力端子
13 出力端子
13a 第1出力端子
13b 第2出力端子
20、50 入力段差動増幅器(差動増幅部)
21、51 オペアンプ(第1オペアンプ)
22、52 オペアンプ(第2オペアンプ)
25 出力段差動増幅器(出力段差動増幅部)
30 高域通過フィルタ
35 整流回路(変換出力手段)
40a、40b、40c、40d、40e、40f、40g 監視回路(監視部)
41 分圧回路
42 選択回路(選択部)
43 比較器
44 カウンタ
70 選択器
71 定電流源
100 センサ素子
Claims (10)
- ブリッジ回路を有するセンサ素子から出力される前記ブリッジ回路の2つの出力電位の電位差に応じて、前記センサ素子の状態を検出するセンサ検出装置において、
前記センサ素子から出力される2つの出力電位が入力される第1入力端子及び第2入力端子と、
該第1入力端子及び第2入力端子に入力される入力信号の電位を増幅して出力する差動増幅部と、
該差動増幅部の入力信号及び出力信号の電位を監視する監視部と
を備え、
前記差動増幅部は、入力される2つの入力信号の電位差を増幅して、2つの出力信号を出力するようにしてあり、
前記監視部は、前記2つの入力信号及び2つの出力信号の電位を監視するようにしてあること
を特徴とするセンサ検出装置。 - 前記差動増幅部の2つの出力信号の電位差を増幅する出力段差動増幅部を備える請求項1に記載のセンサ検出装置。
- 前記センサ素子を駆動するための駆動信号を発生する駆動手段を備える請求項1又は請求項2に記載のセンサ検出装置。
- 前記駆動手段は、周期的に変化する駆動信号を発生するようにしてあり、
周期的に変化する信号を直流の信号に変換して出力する変換出力手段を備える請求項3に記載のセンサ検出装置。 - 前記駆動手段は、周期的に変化する駆動信号又は直流の駆動信号を発生するようにしてある請求項3に記載のセンサ検出装置。
- 前記監視部は、
監視する電位と基準電位とを比較する比較器と、
該比較器の出力に接続されたカウンタと
を有する請求項4又は請求項5に記載のセンサ検出装置。 - 前記監視部は、複数の異なる基準電位の1つを選択する選択部を有し、監視する電位と選択された基準電位とを前記比較器が比較するようにしてある請求項6に記載のセンサ検出装置。
- 前記差動増幅部は、
前記第1入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第1オペアンプと、
前記第2入力端子が非反転入力に接続され、出力が抵抗を介して反転入力に接続された第2オペアンプとを有し、
前記第1オペアンプの反転入力及び前記第2オペアンプの反転入力がコンデンサを介して接続してある請求項1乃至請求項7のいずれか1つに記載のセンサ検出装置。 - 前記第1入力端子及び前記第2入力端子は、フィルタを介して前記差動増幅部に接続してある請求項1乃至請求項8のいずれか1つに記載のセンサ検出装置。
- ブリッジ回路を有し、該ブリッジ回路の2つの電位を出力するセンサ素子と、
該センサ素子が出力する2つの電位が入力される請求項1乃至請求項9のいずれか1つに記載のセンサ検出装置と
を備えることを特徴とするセンサ。
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DK2241344T3 (en) * | 2009-04-16 | 2014-03-03 | Hoffmann La Roche | Portable infusion with feel-testing device |
DE102009033232A1 (de) * | 2009-07-14 | 2011-01-27 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zur fahrzeugeigenen Funktionsdiagnose eines Rußsensors und/oder zur Erkennung von weiteren Bestandteilen im Ruß in einem Kraftfahrzeug |
JP5281556B2 (ja) * | 2009-12-07 | 2013-09-04 | セイコーインスツル株式会社 | 物理量センサ |
JP5517777B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2014-06-11 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | ブリッジ回路の断線検出回路および断線検出手段を有するシステム |
US9157822B2 (en) * | 2011-02-01 | 2015-10-13 | Kulite Semiconductor Products, Inc. | Electronic interface for LVDT-type pressure transducers using piezoresistive sensors |
FR2973883B1 (fr) * | 2011-04-05 | 2013-05-10 | Sagem Defense Securite | Procede et systeme de detection d'un court-circuit affectant un capteur |
JP6033529B2 (ja) * | 2011-05-30 | 2016-11-30 | 株式会社東海理化電機製作所 | 検出装置および電流センサ |
CN203170019U (zh) * | 2012-02-10 | 2013-09-04 | 欧格运动有限责任公司 | 一种具有可拆卸式弹性垫的飞盘 |
TWI571049B (zh) * | 2012-03-12 | 2017-02-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 信號量測電路 |
JP6505717B2 (ja) * | 2013-12-26 | 2019-04-24 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | センサ診断のための方法および装置 |
US9322732B2 (en) * | 2014-01-17 | 2016-04-26 | Hamilton Sundstrand Corporation | Strain gauge pressure sensor circuit with sensor disconnect detection |
JP6488784B2 (ja) * | 2015-03-16 | 2019-03-27 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
JP6443171B2 (ja) * | 2015-03-26 | 2018-12-26 | アイシン精機株式会社 | 荷重検出装置及び異常検知装置 |
JP6386970B2 (ja) * | 2015-05-25 | 2018-09-05 | アルプス電気株式会社 | センサの異常検出装置及びセンサ装置 |
US20180143240A1 (en) * | 2015-05-28 | 2018-05-24 | Sikorsky Aircraft Corporation | Systems and methods for assessing condition of a sensor |
US10527703B2 (en) | 2015-12-16 | 2020-01-07 | Allegro Microsystems, Llc | Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor |
JP6740076B2 (ja) * | 2016-10-04 | 2020-08-12 | 株式会社共和電業 | 搬送波型ひずみ測定装置における入力オープン検出回路 |
KR102071249B1 (ko) * | 2017-04-14 | 2020-04-01 | 주식회사 지니틱스 | 홀센서의 출력전압을 교정하여 렌즈위치를 검출하는 렌즈위치 검출장치 |
EP3401646B1 (en) | 2017-05-09 | 2020-04-15 | Melexis Technologies SA | Bridge sensor error check |
KR102035924B1 (ko) * | 2018-02-02 | 2019-11-08 | 최정태 | 고장진단회로 일체형 브릿지 구조의 압력센서 및 브릿지 구조 압력센서의 고장진단 방법 |
EP3611522B1 (en) * | 2018-08-14 | 2021-05-05 | NXP USA, Inc. | Embedded test circuitry and method therefor |
JP6908198B2 (ja) * | 2018-10-26 | 2021-07-21 | 富士電機株式会社 | 圧力センサ |
US11047920B2 (en) | 2019-04-02 | 2021-06-29 | Hamilton Sunstrand Corporation | Sensor to sensor short detection |
US11112444B2 (en) | 2019-04-02 | 2021-09-07 | Hamilton Sundstrand Corporation | Reduced error sensor fault detection |
US11630015B2 (en) * | 2020-08-17 | 2023-04-18 | Rosemount Aerospace Inc. | Verification of correct operation of a physical parameter sensor |
JP2023123979A (ja) * | 2022-02-25 | 2023-09-06 | 日本特殊陶業株式会社 | ガスセンサ |
TWI834322B (zh) * | 2022-09-30 | 2024-03-01 | 新唐科技股份有限公司 | 比較器檢測電路及其檢測方法 |
CN117929475B (zh) * | 2023-10-16 | 2024-11-26 | 成都汉威智感科技有限公司 | 一种1r1c集成氢气传感器结构 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4063447A (en) * | 1977-03-14 | 1977-12-20 | Honeywell, Inc. | Bridge circuit with drift compensation |
KR850000309B1 (ko) * | 1983-04-21 | 1985-03-18 | 재단법인 한국기계연구소 | 변위 측정장치 |
JP2538185Y2 (ja) * | 1991-03-06 | 1997-06-11 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 半導体加速度センサの診断回路 |
EP0536667B1 (en) * | 1991-10-07 | 1997-01-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Analogue signal processor |
JP2560811Y2 (ja) * | 1992-03-31 | 1998-01-26 | 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 | 半導体センサの故障検出装置 |
EP0592205B1 (en) * | 1992-10-07 | 1998-01-07 | Nec Corporation | Semiconductor sensor with fault detecting circuit |
JPH081390B2 (ja) | 1992-10-07 | 1996-01-10 | 日本電気株式会社 | 故障検出回路付半導体センサ装置 |
US5726564A (en) * | 1994-10-27 | 1998-03-10 | Zexel Corporation | Temperature-compensating method for a resistance bridge circuit, resistance bridge circuit with temperature-compensating circuit, and acceleration sensor using the same |
JP3274034B2 (ja) * | 1994-12-26 | 2002-04-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体加速度検出装置 |
US5631602A (en) * | 1995-08-07 | 1997-05-20 | Delco Electronics Corporation | Wheatstone bridge amplifier circuit with integrated diagnostic testing |
US6452151B1 (en) * | 1999-07-27 | 2002-09-17 | Rohm Co., Ltd. | Image-sensing semiconductor device and image-sensing device |
JP4184657B2 (ja) * | 2001-12-26 | 2008-11-19 | セイコーインスツル株式会社 | 圧力測定装置 |
JP2005049097A (ja) * | 2003-07-29 | 2005-02-24 | Alps Electric Co Ltd | 故障検出回路 |
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