JP2003254850A - 自己診断機能付きセンサ出力処理回路 - Google Patents
自己診断機能付きセンサ出力処理回路Info
- Publication number
- JP2003254850A JP2003254850A JP2002055831A JP2002055831A JP2003254850A JP 2003254850 A JP2003254850 A JP 2003254850A JP 2002055831 A JP2002055831 A JP 2002055831A JP 2002055831 A JP2002055831 A JP 2002055831A JP 2003254850 A JP2003254850 A JP 2003254850A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- signal
- processing circuit
- output
- self
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2829—Testing of circuits in sensor or actuator systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/08—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/08—Circuits for altering the measuring range
- G01R15/09—Autoranging circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Air Bags (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
ナミックレンジを増大することにより精度向上が可能な
3線式自己診断機能付きセンサ出力処理回路を提供する
こと。 【解決手段】 電源電圧の高位電源電位Vccよりも所定
の電圧マージンΔVだけ低いか又は電源電圧の低位電源
電位0Vよりも所定の電圧マージンΔVだけ高い範囲に
信号電圧Vsのダイナミックレンジを制限した状態で、
センサ1の異常判定時に、出力信号電圧Voを更にこの
信号電圧Vsの最高電位より高い電位レベル又は信号電
圧Vsの最低電位よりも低い電位レベルに信号出力端子
7の電位を保持して、異常状態を発信する。これによ
り、信号電圧のダイナミックレンジを縮小することなく
異常を報知することができるので、3線式自己診断機能
付きセンサ出力処理回路を精度を向上することができ
る。
Description
幅してアナログ出力する信号処理回路部そして/又はセ
ンサの動作状態を自己診断してその結果を信号処理回路
部が出力するアナログ信号電圧とともに出力する自己診
断機能付きセンサ出力処理回路に関する。
と一体に集積又は実装されて、又は、センサと別体に形
成されるとともに、センサの出力信号を処理してアナロ
グ信号電圧として出力するセンサ出力処理回路技術にお
いて、センサの動作状態を自己診断してその結果特に動
作異常状態を信号処理回路部が出力するアナログ信号電
圧とともに出力する自己診断機能付きセンサ出力処理回
路が実用化されている。
処理回路を図6に示す。
流バッファ、4は高位側の電源端子、5は低位側の電源
端子、6は信号入力端子、7は信号出力端子、8は自己
診断回路部、9は自己診断回路部8の異常出力端子であ
る。信号処理回路部2はセンサ1の出力信号電圧を電圧
増幅し、電流バッファ3は信号処理回路部2の出力信号
電圧を電力増幅して信号出力端子7から出力する。自己
診断回路部8は、入力される各部の電圧状態が正常範囲
かどうかを判定し、異常である場合に異常出力端子に異
常判定電圧Vxを出力する。
処理回路を図7に示す。1はセンサ、2は信号処理回路
部、3は電圧リミッタ機能をもつ電流バッファ、4は高
位側の電源端子、5は低位側の電源端子、6は信号入力
端子、7は信号出力端子、8は自己診断回路部である。
信号処理回路部2は、センサ1の出力信号電圧を電圧増
幅し、電流バッファ3は信号処理回路部2の出力信号電
圧を電力増幅するが、内蔵のリミッタ回路に規制されて
たとえば電源電圧Vccを5Vとする場合に、0.5〜4.
5Vの範囲で信号出力端子7から信号電圧を出力する。
自己診断回路部8は、入力される各部の電圧状態が正常
範囲かどうかを判定し、異常である場合に信号処理回路
部2や電圧リミッタ型電流バッファ3に異常判定電圧を
出力し、電圧リミッタ型電流バッファ3の出力電圧をそ
の可能な最低レベル(この場合0.5V)又は最高レベ
ル(4.5V)に保持する(飽和させる)。
出力に対応する信号出力端子7の電圧Voがこのような
最低レベル(この場合0.5V)又は最高レベル(4.
5V)に一定時間以上保持される(飽和する)ことはあ
り得ないようにあらかじめ設計されているので、それを
受信する受信側回路は、所定時間の低位飽和電圧(この
場合は0.5V)又は高位飽和電圧(この場合は4.5
V)の持続を検出してセンサ又は自己診断機能付きセン
サ出力処理回路の異常を検出することができる。歪みゲ
ージを用いたホイートストンブリッジ型の荷重センサを
センサ1として用いた場合の荷重と出力電圧Voとの関
係を図8に示す。
診断機能付きセンサ出力処理回路は、上記した4線式自
己診断機能付きセンサ出力処理回路より信号ラインの本
数を削減できるので配線を簡素化できるものの、実質的
に有効使用できる信号電圧範囲は、信号電圧と異常判定
電圧との電圧マージンをΔVとすれば、この電圧マージ
ンΔVだけ信号電圧の電圧変動範囲が縮小するため、検
出精度が低下するという問題があった。
センサ出力処理回路の上記問題点を解決することをその
目的とするものであり、伝送線を増加することなく伝送
信号電圧のダイナミックレンジを増大することにより精
度向上を図ることをその目的としている。
機能付きセンサ出力処理回路は、電源電圧が印加される
一対の電源端子と、センサからアナログ信号が入力され
る信号入力端子と、前記信号入力端子に入力された前記
アナログ信号を少なくとも増幅する信号処理回路部と、
前記信号処理回路部が出力するアナログ電圧を出力信号
電圧として出力する信号出力端子と、前記センサ又は前
記信号処理回路部の各部の電位状態に基づいて前記セン
サ又は前記信号処理回路部の動作状態を診断して診断結
果を前記信号処理回路部に出力する自己診断回路部とを
備える自己診断機能付きセンサ出力処理回路において、
前記信号処理回路部は、前記出力信号電圧の最高電位を
前記電源電圧の高位電源電位よりも所定値だけ低く設定
するか、そして/又は、前記出力信号電圧の最低電位を
前記電源電圧の低位電源電位よりも所定値だけ高く設定
し、前記自己診断回路部は、前記自己診断結果が前記セ
ンサ又は前記信号処理回路部の異常状態を示す場合に、
前記出力信号電圧の最高電位よりも高い電位レベル、そ
して/又は、前記出力信号電圧の最低電位よりも低い電
位レベルに前記信号出力端子の電位を保持して前記異常
状態を発信することを特徴としている。
己診断機能付きセンサ出力処理回路と同様、電源電圧の
高位電源電位よりも所定の電圧マージンΔVだけ低いか
又は電源電圧の低位電源電位よりも所定の電圧マージン
ΔVだけ高い範囲に信号電圧のダイナミックレンジを制
限した状態で、異常判定時に、出力信号電圧を更にこの
信号電圧の最高電位より高い電位レベル又は信号電圧の
最低電位よりも低い電位レベルに信号出力端子7の電位
を保持して異常状態を発信する。これにより、信号電圧
のダイナミックレンジを縮小することなく異常を報知す
ることができるので、3線式自己診断機能付きセンサ出
力処理回路を精度を向上することができる。
は、前記出力信号電圧の最高電位を前記電源電圧の高位
電源電位よりも所定値だけ低く設定するか、そして/又
は、前記出力信号電圧の最低電位を前記電源電圧の低位
電源電位よりも所定値だけ高く設定するリミッタ回路を
有する。このようにすれば、信号電圧と異常判定電圧と
を分別するための電圧マージンΔVを確実に確保するこ
とができる。
出力電圧飽和特性を利用してその出力信号電圧が上記最
高電位又は最低電位で飽和するように設計すること当然
可能である。
は、前記異常状態の検出時にオンして前記信号出力端子
と前記両電源端子の一方とを短絡するクランプスイッチ
を有する。このようにすれば、異常判定時に簡単に信号
出力端子の電位を電源電圧の高位電源電位又は低位電源
電位に近い値に設定することができる。
は、前記異常状態の検出時にオフして前記信号処理回路
部の出力端と前記信号出力端子との導通を切断するアナ
ログスイッチを有する。このようにすれば、上記クラン
プスイッチのオン時における信号処理回路部の出力電流
の増大を抑止して、電力消費の低減と異常反転電位の電
源端子電位への一層の近接を実現することができる。
センサ出力処理回路の好適な態様を図面を参照して以下
の実施例により具体的に説明する。
能付きセンサ出力処理回路を図1に示す。1はセンサ、
2は信号処理回路部、3は電圧リミッタ機能をもつ電流
バッファ、4は高位側の電源端子、5は低位側の電源端
子、6は信号入力端子、7は信号出力端子、8は自己診
断回路部、10は信号入力端子、11はアナログスイッ
チ回路、12はクランプスイッチ回路である。
員の着座を検出する歪みゲージを用いたホイートストン
ブリッジ型の荷重センサからなる。
れる一対の差動信号電圧中の高周波成分を遮断するロー
パスフィルタ21、22と、ローパスフィルタ21、2
2の出力電圧を差動アナログ電圧増幅するオペアンプ型
の電圧リニア増幅回路23とからなる。ローパスフィル
タ21、22はチョークコイルとコンデンサからなる通
常のタイプのものを用いるが、ローパスフィルタ21、
22を省略してもよい。電圧リニア増幅回路23の有効
ダイナミックレンジ(入力電圧差に応じて出力電圧が直
線変化する領域)は、0.5〜4.5Vに設定して、後
述する電流バッファ3を省略してもよい。
る電圧リニア増幅回路23の出力電圧を電流増幅して信
号出力端子7からそれを出力するとともに、その出力電
圧のダイナミックレンジを0.5〜4.5Vの範囲に制
限する。なお、電源電圧Vccは5Vに設定されている。
1、82と、一対のダイオードDにより構成されて電圧
異常判定回路81、82の出力電圧の論理和を合成する
ダイオードオア回路83とからな。電圧異常判定回路8
1、82は、電圧リニア増幅回路23の一対の入力電圧
が所定の正常範囲(2.0〜3.0V)を逸脱したかど
うかを判定するウインドコンパータからなる。自己診断
回路部8は異常判定時にハイレベルの異常判定電圧Vx
を出力する。
確保のために逆向きに直列接続された一対のMOSFE
T111と、自己診断回路部8が出力する異常判定電圧
Vxを反転するインバータ回路112とからなり、電圧
リミッタ型電流バッファ3の出力端と信号出力端子7と
の間に介設されている。
子7と低位側の電源端子5とを短絡可能に接続されたク
ランプトランジスタ121とこのクランプスイッチ12
1のベース電流制限抵抗122と、バイアス(前段負
荷)抵抗123とからなる。
パスフィルタ21、22で直流化された後、電圧リニア
増幅回路23でリニア電圧増幅され、電圧リミッタ型電
流バッファ3で中間電位レベルに設定される所定電圧範
囲に制限されつつ電流増幅され、通常は常時オンしてい
るアナログスイッチ回路11を通じて信号出力端子7か
ら出力される。
近傍又は5V近傍になるということは断線又は短絡など
の異常時以外はあり得ない。したがって、電圧リニア増
幅回路23の一対の信号電圧の少なくとも一方が所定範
囲を逸脱すると、自己診断回路部8はハイレベル電位か
らなる異常判定電圧Vxをアナログスイッチ回路11と
クランプスイッチ回路12とに出力し、アナログスイッ
チ回路11はオフされ、クランプスイッチ回路12はオ
ンされる。これにより、信号出力端子7の電位はほぼ0
Vに接地され、図示しない受信側回路は、異常を検出す
る。
ンサ1の荷重との関係を図2に示す。 センサ出力に比
例する信号電圧に相当する出力電圧Voのダイナミック
レンジは0.5〜4.5Vと広く確保することができ、
かつ、異常判定電圧はほぼ0Vで出力されるので、両者
の間に0.5Vの電圧マージンを確保することができ
る。 (変形態様)上記実施例では、センサ1の異常だけを検
出したが、信号処理回路部2などの回路側の異常を同様
に判定してオア出力することも当然可能である。 (変形態様)図3は、図1において電圧リミッタ型電流
バッファ3を省略するか単に電流増幅回路とし、電圧リ
ニア増幅回路23が0.5V及び4.5Vで飽和するよ
うにした場合の特性図を示す。同様の効果を得ることが
できる。
能付きセンサ出力処理回路を図4に示す。1はセンサ、
2はセンスアンプ、3は電圧リミッタ、100は加算回
路、101は電流バッファ、8は自己診断回路部であ
る。
圧増幅し、電圧リミッタ3はセンスアンプ2の出力電圧
を0.65〜4.35Vに制限し、自己診断回路部8は
センサ1の出力電圧の異常を判定し、正常の場合にロー
レベル電圧(たとえば0V)を、異常の場合にハイレベ
ル電圧(たとえば5V)を出力する。
号電圧Vsと自己診断回路部8の出力電圧Vxとを加算
し、電流バッファ101は加算回路100の出力電圧を
電流増幅して出力する。電流バッファ101は反転出力
形式の回路としてもよいが、0〜5Vを出力可能な回路
とされている。
符号の回路に比較して、加算回路100及び電流バッフ
ァ101だけが異なっているので、それらだけを説明す
る。
回路からなり、信号電圧Vsと出力電圧Vxとを加算す
る。自己診断回路部8の出力が正常(この実施例では0
V)であれば加算回路100の出力電圧は実質的に信号
電圧Vsに等しく、自己診断回路部8の出力が異常(こ
の実施例では5V)であれば加算回路100の出力電圧
は5V(反転出力0Vを出力してもよい)に飽和するの
で、両信号を明確に区分することができる。このように
すれば、全体をバイポーラトランジスタ集積回路で構成
することができ、MOSFET111駆動のためにその
ゲート電極に高電圧を印加する必要がなく、かつ、簡単
な構成により自己診断機能付きセンサ出力処理回路全体
を簡単なバイポーラ集積回路で構成することができるた
め、コスト削減効果が大きい。
ことにより、電圧リミッタ3を省略することもでき、セ
ンスアンプ2が電圧リミッタ3を兼ねることもできる。
また、加算回路100が電流バッファ101を兼ねるこ
ともできる。
の出力電圧を加算回路100にて電圧リミッタ3の出力
電圧に加算することにより、電流バッファ101が出力
する出力信号電圧Voをハイレベル(約5V)又はロー
レベル(約0V)にスイングしたが、その代わりに、加
算回路100をオペアンプ型の差動電圧増幅回路に変更
し、そのー入力端に電圧リミッタ3の出力電圧を印加
し、その+入力端に自己診断回路部8の出力電圧を基準
電圧として印加するようにしてもよい。
7と高位側の電源端子4とを短絡するクランプスイッチ
12’を追加した回路を図5に示す。
ンサ1の出力電圧異常に対してはクランプスイッチ12
をオンし、アナログスイッチ11、クランプスイッチ1
2’をオフしてそれを出力し、信号処理回路部2又は電
圧リミッタ型電流バッファ3の動作異常に対してはクラ
ンプスイッチ12’をオンし、アナログスイッチ11、
クランプスイッチ12をオフしてそれを出力する。
回路故障かを判別することができる。この態様は特に、
センサ1と、それ以外の回路2、3とが分離可能に構成
されている場合にその一方だけを交換すればよいので修
理コストを低減できる利点がある。なお、回路2、3、
8、11、12、12’は種々のセンサに対して共通形
式に作成しておくとともに、その感度(電圧増幅率)、
オフセット電圧調整端子を設け、受信するセンサ出力に
応じてそれらを出荷時又は交換時に又は随時、手動又は
自動で調整するようにしておけばよい。このようにすれ
ば、部品点数及び保守が容易となる。
力処理回路を示す回路図である。
サ入力物理量との関係を示す特性図である(電圧リミッ
タ付き)。
サ入力物理量との関係を示す特性図である(出力飽和
型)。
力処理回路を示す回路図である。
力処理回路を示す回路図である。
理回路を示すブロック回路図である。
理回路を示すブロック回路図である。
サ入力物理量との関係を示す特性図である。
Claims (4)
- 【請求項1】電源電圧が印加される一対の電源端子と、 センサからアナログ信号が入力される信号入力端子と、 前記信号入力端子に入力された前記アナログ信号を少な
くとも増幅する信号処理回路部と、 前記信号処理回路部が出力するアナログ電圧を出力信号
電圧として出力する信号出力端子と、 前記センサ又は前記信号処理回路部の各部の電位状態に
基づいて前記センサ又は前記信号処理回路部の動作状態
を診断して診断結果を前記信号処理回路部に出力する自
己診断回路部と、 を備える自己診断機能付きセンサ出力処理回路におい
て、 前記信号処理回路部は、 前記出力信号電圧の最高電位を前記電源電圧の高位電源
電位よりも所定値だけ低く設定するか、そして/又は、
前記出力信号電圧の最低電位を前記電源電圧の低位電源
電位よりも所定値だけ高く設定し、 前記自己診断回路部は、 前記自己診断結果が前記センサ又は前記信号処理回路部
の異常状態を示す場合に、前記出力信号電圧の最高電位
よりも高い電位レベル、そして/又は、前記出力信号電
圧の最低電位よりも低い電位レベルに前記信号出力端子
の電位を保持して前記異常状態を発信することを特徴と
する自己診断機能付きセンサ出力処理回路。 - 【請求項2】請求項1記載の自己診断機能付きセンサ出
力処理回路において、 前記信号処理回路部は、 前記出力信号電圧の最高電位を前記電源電圧の高位電源
電位よりも所定値だけ低く設定するか、そして/又は、
前記出力信号電圧の最低電位を前記電源電圧の低位電源
電位よりも所定値だけ高く設定するリミッタ回路を有す
ることを特徴とする自己診断機能付きセンサ出力処理回
路。 - 【請求項3】請求項1記載の自己診断機能付きセンサ出
力処理回路において、 前記自己診断回路部は、 前記異常状態の検出時にオンして前記信号出力端子と前
記両電源端子の一方とを短絡するクランプスイッチを有
することを特徴とする自己診断機能付きセンサ出力処理
回路。 - 【請求項4】請求項1記載の自己診断機能付きセンサ出
力処理回路において、 前記自己診断回路部は、 前記異常状態の検出時にオフして前記信号処理回路部の
出力端と前記信号出力端子との導通を切断するアナログ
スイッチを有することを特徴とする自己診断機能付きセ
ンサ出力処理回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002055831A JP2003254850A (ja) | 2002-03-01 | 2002-03-01 | 自己診断機能付きセンサ出力処理回路 |
DE10308546A DE10308546A1 (de) | 2002-03-01 | 2003-02-27 | Sensorausgangs-Verarbeitungsvorrichtung mit Eigendiagnose-Funktion |
US10/374,500 US6940290B2 (en) | 2002-03-01 | 2003-02-27 | Sensor output processing device having self-diagnosis function |
FR0302566A FR2837570A1 (fr) | 2002-03-01 | 2003-03-03 | Dispositif de traitement de sortie de capteur ayant une fonction d'auto-diagnostic |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002055831A JP2003254850A (ja) | 2002-03-01 | 2002-03-01 | 自己診断機能付きセンサ出力処理回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003254850A true JP2003254850A (ja) | 2003-09-10 |
Family
ID=27751003
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002055831A Pending JP2003254850A (ja) | 2002-03-01 | 2002-03-01 | 自己診断機能付きセンサ出力処理回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6940290B2 (ja) |
JP (1) | JP2003254850A (ja) |
DE (1) | DE10308546A1 (ja) |
FR (1) | FR2837570A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006078304A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Moric Co Ltd | トルクセンサ |
JP2008534344A (ja) * | 2005-03-23 | 2008-08-28 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 保護システム |
JP2010170554A (ja) * | 2009-01-23 | 2010-08-05 | Micronas Gmbh | 電気回路の機能検査方法 |
KR101035587B1 (ko) * | 2003-11-27 | 2011-05-19 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 반도체 장치의 테스트 회로 |
KR20150103086A (ko) * | 2012-12-28 | 2015-09-09 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 결함 검출 및 셀프 테스트 기능을 가진 센서 |
JP2016152583A (ja) * | 2015-02-19 | 2016-08-22 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 出力アンプ及びそれを備えたicチップ |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4746510B2 (ja) * | 2006-02-21 | 2011-08-10 | 愛三工業株式会社 | 負荷駆動系の異常診断システムおよび燃料ポンプ制御システム |
JP4680815B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-05-11 | パナソニック株式会社 | 増幅回路および光ピックアップ |
JP4262753B2 (ja) * | 2007-01-04 | 2009-05-13 | 日本航空電子工業株式会社 | 短絡検出回路、rdコンバータ及びデジタル角度検出装置 |
DK2156150T3 (da) * | 2007-06-07 | 2019-06-24 | Mettler Toledo Gmbh | Fremgangsmåde til tilstandsovervågning af et kraftmåleapparat, kraftmåleapparat og kraftmålemodul |
RU2451912C2 (ru) * | 2007-06-07 | 2012-05-27 | Меттлер-Толедо Аг | Устройство измерения множества сил, силоизмерительный модуль и способы мониторинга состояния устройства измерения множества сил |
JP2010134835A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Renesas Electronics Corp | 地図描画装置及び地図データの表示制御方法 |
JP5517777B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2014-06-11 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | ブリッジ回路の断線検出回路および断線検出手段を有するシステム |
EP3080627B1 (en) * | 2013-12-26 | 2020-10-14 | Allegro MicroSystems, LLC | Methods and apparatus for sensor diagnostics |
US9739846B2 (en) | 2014-10-03 | 2017-08-22 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensors with self test |
US10527703B2 (en) | 2015-12-16 | 2020-01-07 | Allegro Microsystems, Llc | Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor |
JP7192421B2 (ja) | 2018-11-15 | 2022-12-20 | 株式会社ジェイテクト | センサ情報出力装置および車両制御装置 |
US11194004B2 (en) | 2020-02-12 | 2021-12-07 | Allegro Microsystems, Llc | Diagnostic circuits and methods for sensor test circuits |
US11906610B2 (en) * | 2021-03-10 | 2024-02-20 | Honeywell International Inc. | Offset calibration and diagnostics for resistance-based bridge circuits |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5200877A (en) * | 1990-04-04 | 1993-04-06 | Baton Labs, Inc. | Battery protection system |
WO1996005517A1 (fr) * | 1994-08-08 | 1996-02-22 | The Nippon Signal Co., Ltd. | Dispositif de surveillance de derangement pour un montage en pont |
DE19728381B4 (de) * | 1997-07-03 | 2006-11-09 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Schaltung zur Funktionsüberwachung einer Sensorbrücke |
JPH1164041A (ja) * | 1997-08-12 | 1999-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | 物理量センサ |
EP1069407B1 (de) * | 1999-07-15 | 2005-11-30 | Micronas GmbH | Elektronische Gebereinrichtung |
US6433554B1 (en) * | 1999-12-20 | 2002-08-13 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for in-range fault detection of condition responsive sensor |
US6518880B2 (en) * | 2000-06-28 | 2003-02-11 | Denso Corporation | Physical-quantity detection sensor |
-
2002
- 2002-03-01 JP JP2002055831A patent/JP2003254850A/ja active Pending
-
2003
- 2003-02-27 US US10/374,500 patent/US6940290B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-02-27 DE DE10308546A patent/DE10308546A1/de not_active Withdrawn
- 2003-03-03 FR FR0302566A patent/FR2837570A1/fr active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101035587B1 (ko) * | 2003-11-27 | 2011-05-19 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 반도체 장치의 테스트 회로 |
JP2006078304A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Moric Co Ltd | トルクセンサ |
JP2008534344A (ja) * | 2005-03-23 | 2008-08-28 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 保護システム |
JP2010170554A (ja) * | 2009-01-23 | 2010-08-05 | Micronas Gmbh | 電気回路の機能検査方法 |
KR20150103086A (ko) * | 2012-12-28 | 2015-09-09 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 결함 검출 및 셀프 테스트 기능을 가진 센서 |
KR102015894B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2019-08-29 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 결함 검출 및 셀프 테스트 기능을 가진 센서 |
JP2016152583A (ja) * | 2015-02-19 | 2016-08-22 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 出力アンプ及びそれを備えたicチップ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030164711A1 (en) | 2003-09-04 |
US6940290B2 (en) | 2005-09-06 |
FR2837570A1 (fr) | 2003-09-26 |
DE10308546A1 (de) | 2003-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003254850A (ja) | 自己診断機能付きセンサ出力処理回路 | |
US10018658B2 (en) | Class D audio amplifier and method for reading a current supplied by the amplifier | |
JP7100476B2 (ja) | オーディオアンプ、それを用いたオーディオ出力装置および電子機器 | |
JP2004294069A (ja) | 物理量センサ装置 | |
JPH06314934A (ja) | 低電圧回路 | |
JP4882710B2 (ja) | 負荷駆動装置の故障検出装置および負荷駆動用ic | |
JP2017079444A (ja) | 開放・天絡検出回路 | |
US20190235006A1 (en) | Wiring line abnormality detecting device | |
CN107526387B (zh) | 半导体物理量传感器装置 | |
JP5989171B1 (ja) | 電流検出回路、及びその回路を備えた車両用電子制御装置 | |
US10054502B2 (en) | Sensor driving device | |
JP6330798B2 (ja) | 音楽再生装置 | |
KR950021938A (ko) | 배터리 충전 제어 장치 및 그 방법 | |
JP2008160661A (ja) | 増幅器保護回路 | |
US7164320B2 (en) | Current threshold circuit | |
JP2006349466A (ja) | 温度検出装置 | |
JP3648702B2 (ja) | パワーアンプicおよびオーディオシステム | |
JP5370915B2 (ja) | 電圧制限回路 | |
JP2002176327A (ja) | センサの過剰な負のオフセットを検出するための方法および装置 | |
JP2004072462A (ja) | 信号出力回路 | |
JPH10338125A (ja) | ソレノイド負荷監視回路 | |
JPH0715343Y2 (ja) | 電源装置の出力短絡・開放検知回路 | |
JPH08181584A (ja) | 可変遅延回路および遅延時間検査方法 | |
US10006783B2 (en) | Resolver signal detection circuit | |
JP6392644B2 (ja) | 電源制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040422 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051101 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060512 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060705 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060822 |