JP4727469B2 - 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム - Google Patents
画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4727469B2 JP4727469B2 JP2006077628A JP2006077628A JP4727469B2 JP 4727469 B2 JP4727469 B2 JP 4727469B2 JP 2006077628 A JP2006077628 A JP 2006077628A JP 2006077628 A JP2006077628 A JP 2006077628A JP 4727469 B2 JP4727469 B2 JP 4727469B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- measurement point
- intersection
- route
- points
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 515
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 94
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 35
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 34
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 19
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 15
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 7
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 6
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 2
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37193—Multicoordinate measuring system, machine, cmm
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37219—Predict next probed point from previous probed points
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37447—Path planning using ann, for measurement task pattern, optimal path, dummy points
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37449—Inspection path planner
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
[システム構成]
図1は、本発明の実施形態に係る画像測定システムの全体構成を示す斜視図である。このシステムは、非接触型の画像測定機1と、この画像測定機1を駆動制御すると共に、必要なデータ処理を実行するコンピュータシステム2と、計測結果をプリントアウトするプリンタ3とにより構成されている。
[測定経路の設定手順]
次に、図3のフローチャート、適宜図4〜図13を参照し、このように構成された本実施形態に係る画像測定システムの測定経路の設定手順について説明する。なお、この測定経路の設定は、例えば、オフラインティーチングにおけるパートプログラムの作成処理の中での処理となる。図4〜図6,図9,図13は、測定点を決定する方法を模式的に表した図である。図7は、測定点Pnから測定点Pn+1の間の測定経路の決定方法を表した図である。
つづいて、初期経路導出部363は、測定点Pnの2つ先(測定点Pn+1の1つ先)の測定点Pn+2が存在するか否かを判断する(ステップS6)。ここで、測定点Pn+2が存在する場合には(ステップS6,YES)、測定点Pnから1つ先の測定点Pn+1に対象を移し(ステップS7)、ステップS4〜ステップS6までの処理を繰り返し実行する。ステップS4〜ステップS7を繰り返し実行することで、測定点の測定順番を順次決定していき、第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する図9に示すような初期経路を導出する(ステップS8)。
Claims (6)
- 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定システムであって、
測定点を取得する測定点取得部と、
該測定点取得部が取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定部と、
前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定部と、
測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出部と、
順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定部と、
前記第1測定点決定部の決定結果、前記第2測定点決定部の決定結果、及び前記次測定点決定部の決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出部と、
前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定部と、
該交差解消判定部の判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出部と、
該変換経路導出部によって導出された変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定部と
を備えることを特徴とする画像測定システム。 - 前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度が180°に近づくほど前記第1評価量は小さくなり、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と前記次候補測定点との距離との和が小さいほど前記第1評価量は小さくなるものとされ、
前記次測定点決定部は、前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量のうち、最も小さい第1評価量となった次候補測定点を次の測定点に決定する
ことを特徴とする請求項1記載の画像測定システム。 - 評価対象の各測定点での経路の屈曲角度が180°に近づくほど前記第2評価量及び前記第3評価量は小さくなり、当該各測定点間の距離が小さいほど前記第2評価量及び前記第3評価量は小さくなるものとされ、
前記交差解消判定部は、算出した第2評価量よりも算出した第3評価量が小さいときに、交差を解消すると判定する
ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像測定システム。 - 前記特定の交差形態の交差箇所は、8の字状に交差している箇所であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の画像測定システム。
- 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定方法であって、
測定点を取得する測定点取得ステップと、
取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、
前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、
測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、
順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、
前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、
前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、
該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、
該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップと
を有することを特徴とする画像測定方法。 - 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定プログラムであって、
測定点を取得する測定点取得ステップと、
取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、
前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、
測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、
順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、
前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、
前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、
該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、
該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップと
をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする画像測定プログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006077628A JP4727469B2 (ja) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム |
EP20070004015 EP1837725B1 (en) | 2006-03-20 | 2007-02-27 | Image measuring machine moving an imaging means in a nonstop measurement mode |
DE200760005528 DE602007005528D1 (de) | 2006-03-20 | 2007-02-27 | Bildvermessungssystem, wobei ein Bildmessgerät in einem Non-Stop-Modus bewegt wird |
CN2007100887053A CN101042299B (zh) | 2006-03-20 | 2007-03-20 | 图像测量系统和图像测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006077628A JP4727469B2 (ja) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007255941A JP2007255941A (ja) | 2007-10-04 |
JP4727469B2 true JP4727469B2 (ja) | 2011-07-20 |
Family
ID=38242270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006077628A Active JP4727469B2 (ja) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1837725B1 (ja) |
JP (1) | JP4727469B2 (ja) |
CN (1) | CN101042299B (ja) |
DE (1) | DE602007005528D1 (ja) |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5319445A (en) * | 1992-09-08 | 1994-06-07 | Fitts John M | Hidden change distribution grating and use in 3D moire measurement sensors and CMM applications |
JP3689191B2 (ja) * | 1996-08-05 | 2005-08-31 | 大成建設株式会社 | 三次元形状自動認識方法及びその装置 |
JPH11104982A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-04-20 | Meidensha Corp | ロボットの教示方法 |
JP3468504B2 (ja) * | 1999-06-09 | 2003-11-17 | 株式会社ミツトヨ | 測定手順ファイル生成方法、測定装置および記憶媒体 |
JP2002168793A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 |
EP2264557A1 (de) | 2001-07-16 | 2010-12-22 | Werth Messtechnik GmbH | Verfahren zum Messen eines Objektes mit einem Koordinatenmessgerät mit Bildverarbeitungssenor |
JP4138555B2 (ja) * | 2003-03-31 | 2008-08-27 | 株式会社ミツトヨ | 非接触三次元測定装置 |
JP2005010042A (ja) * | 2003-06-19 | 2005-01-13 | Olympus Corp | 検査装置 |
JP4299688B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2009-07-22 | パナソニック株式会社 | 基板検査方法及び基板検査装置 |
-
2006
- 2006-03-20 JP JP2006077628A patent/JP4727469B2/ja active Active
-
2007
- 2007-02-27 DE DE200760005528 patent/DE602007005528D1/de active Active
- 2007-02-27 EP EP20070004015 patent/EP1837725B1/en not_active Not-in-force
- 2007-03-20 CN CN2007100887053A patent/CN101042299B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE602007005528D1 (de) | 2010-05-12 |
CN101042299A (zh) | 2007-09-26 |
EP1837725A3 (en) | 2008-05-14 |
CN101042299B (zh) | 2010-09-29 |
EP1837725B1 (en) | 2010-03-31 |
EP1837725A2 (en) | 2007-09-26 |
JP2007255941A (ja) | 2007-10-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5911934B2 (ja) | 輪郭線計測装置およびロボットシステム | |
JP5204955B2 (ja) | 三次元レーザスキャナのスキャニング方法 | |
EP1826528B1 (en) | Image measuring system, image measuring method and image measuring program | |
EP2634530B1 (en) | Shape measuring device, shape measuring method, and structure manufacturing method | |
WO2012053645A1 (ja) | 工具寸法の測定方法及び測定装置 | |
US8589103B2 (en) | On-machine measurement method and measurement apparatus | |
JP6669294B1 (ja) | パンタグラフ変位測定装置及びトロリ線硬点検出方法 | |
JP2001319219A (ja) | 画像測定装置用パートプログラム生成装置及び方法、並びに画像測定装置及びその測定結果表示方法 | |
JP6747151B2 (ja) | 追尾式レーザ干渉計による位置決め機械の検査方法及び装置 | |
JP2004093190A (ja) | 三次元測定装置 | |
JP2010136563A (ja) | パンタグラフ型集電装置の検査装置及びパンタグラフ型集電装置の検査方法 | |
JP4634867B2 (ja) | 画像測定システム及び方法 | |
JP6647094B2 (ja) | 表面性状測定機用のパートプログラム生成装置 | |
JP4727469B2 (ja) | 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム | |
JP2004219154A (ja) | 物体の表面形状計測方法及び自動溶接装置 | |
JP6719815B2 (ja) | 表面性状測定機の制御方法 | |
US7268894B2 (en) | Image measuring method, image measuring system and image measuring program | |
JP6188384B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP5359778B2 (ja) | オートフォーカス制御装置およびその制御を用いた計測処理装置、ならびにオートフォーカス制御方法 | |
EP4032653A1 (en) | Sheet metal machining system, laser machining machine, sheet metal machining method, and machining region setting program for laser machining | |
JP2014215153A (ja) | 画像測定装置及びその制御用プログラム | |
JP2523420B2 (ja) | 光学式測定装置における画像処理方法 | |
CN112091422B (zh) | 加工路径显示装置 | |
JP4340138B2 (ja) | 非接触式3次元形状測定装置 | |
JP6996916B2 (ja) | 処理装置、処理方法、及び処理プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090127 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110329 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110413 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140422 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |