JP4693414B2 - プラズマ強化プロセスを実行するための装置およびその使用方法 - Google Patents
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Description
マグネトロン面の上部のトンネル11の延長(平面B)は、極の磁気強度と、極間距離(トラックの幅)と、中央および周辺の極の強度の比率(マグネトロンのアンバランスの度合)とに依存する。
に見えて均質なプラズマと、高い動作安定性とを作り出す一方、公報EP−0605534に示されるような、ドラム周囲の同様の部分にかかる、単独で動力を供給されるマグネトロンのような構成を備える同様の構成は、ドラムとシールドとの間の空間に沿ってプラズマ強度の勾配を示し、ウェブ入口からウェブ出口へと強度が高まって、ウェブ出口の区域で非常に高いプラズマ強度となり、不安定性の原因を作り出す。
Claims (15)
- プラズマ強化プロセスを実行するための装置であって、真空チャンバ内に、マグネトロン電極(32)と、位置付け手段と、ガス供給手段とを含み、マグネトロン電極は、極性が反対の周辺磁極および中央磁極を有する平坦なマグネトロン面(20)を含み、高周波数の交番磁界を生成するための手段をさらに含み、位置付け手段は、処理される表面がマグネトロン面(20)に面するように基板(25)を位置付けるために設けられており、ガス供給手段は、プロセスガスまたはプロセスガス混合物を、マグネトロン面(20)と処理される表面との間の空間に供給するために設けられており、
マグネトロン電極(32)はアンバランス型であること、および、マグネトロン面(20)と位置付け手段との間の距離は、マグネトロン面(20)の周辺磁極と中央磁極との間に延びる磁力線(10)によって形成されるより暗いトンネル(11)と処理される表面との間に走る可視プラズマ帯があるように、マグネトロン電極(32)によって作り出される磁界に適合され、プラズマ帯は処理される表面に向かって均質な明るさを有し、
処理される表面とマグネトロン面(20)との間の距離(A−C)は、トンネル(11)の可視高さ(A−B)よりも少なくとも2%かつ最大で20%だけ長いことを特徴とする、装置。 - マグネトロン面(20)の中央磁極の磁気強度は、周辺極の磁気強度の半分であることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
- マグネトロン電極(32)は、交流電圧(34)の電源に接続されている電極要素(21)を含むことを特徴とする、請求項1または2に記載の装置。
- 位置付け手段および/または基板(25)は、電気的に接地されるよう、電気的に浮くよう、または負にバイアスがかけられるよう構成されていることを特徴とする、請求項3に記載の装置。
- 位置付け手段は回転ドラム(30)であること、および、長さがドラム(30)の回転軸と平行になるよう配置されている矩形の面を有する複数のマグネトロン電極(32)がドラム(30)の周辺の一部のまわりに配置されていることを特徴とする、請求項1〜4のうちの1つに記載の装置。
- ガス供給手段は、マグネトロン面(20)間でドラム軸に平行に延びるガス供給ライン(33)を含むことを特徴とする、請求項5に記載の装置。
- 複数のマグネトロン(32)のうち、各マグネトロン(32)は別個の電源に接続されていることを特徴とする、請求項5または6に記載の装置。
- プラズマ強化化学気相成長プロセスを実行するための請求項1〜7のうちの1つに従った装置の使用。
- 有機シリコン化合物および酸素を含むプロセスガスを用いて酸化シリコンを堆積させるための請求項1〜7のうちの1つに従った装置の使用。
- 基板は、そのバリア特性を向上させるためにコーティングされたポリマーフィルム材料でできたウェブであることを特徴とする、請求項9に記載の使用。
- プラズマ強化プロセスにおいて基板の表面を処理するための方法であって、
真空チャンバ内に、マグネトロン電極(32)と、位置付け手段と、ガス供給手段とを付与し、前記マグネトロン電極は、極性が反対の周辺磁極および中央磁極を有する平坦なマグネトロン面(20)を含むとともに高周波数の交番磁界を生成するための手段をも含むアンバランス型であり、前記ガス供給手段は、マグネトロン面(20)と処理される表面との間の空間にプロセスガスまたはプロセスガス混合物を供給するために設けられ、
マグネトロン面(20)に対面して処理されるべき前記表面を有する基板(25)を位置付け、
マグネトロン面(20)の周辺磁極と中央磁極との間に延びる磁力線(10)によって形成される暗いトンネル(11)と処理される表面との間に走る可視プラズマ帯が存在するように、マグネトロン電極(32)と処理される前記表面との間にプラズマを発生させ、プラズマ帯は処理される前記表面に向かって均質な明るさを有し、
処理される表面とマグネトロン面(20)との間の距離(A−C)は、前記トンネル(11)の可視高さ(A−B)よりも少なくとも2%かつ最大で20%だけ大きくなるように適合させることによって前記処理される表面を前記トンネルの外側に位置付けることを特徴とする、方法。 - 生成された前記プラズマを視覚的に観察し、この観察に基づいて前記マグネトロン面と前記基板との間の距離を設定することをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- プラズマ強化気相堆積プロセスで処理されるべき前記表面上にコーティングを堆積させることをさらに含む、請求項12の方法。
- 有機シリコン化合物と酸素を含むプロセスガスを用いてシリコン酸化物を堆積させることをさらに含む、請求項13の方法。
- バリア特性を改善するように、ポリマ膜材料のウェブをコーティングすることをさらに含む、請求項11〜14のいずれかの方法。
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