JP4637868B2 - Image display device - Google Patents
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Description
本発明は、液晶表示装置に係り、特に画像表示領域を囲む周辺領域を狭くした液晶表示装置に関する。 The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device in which a peripheral region surrounding an image display region is narrowed.
画像表示装置として、液晶表示装置が知られている。特に、薄膜トランジスタを用いた液晶表示装置は高精細な画像を表示できるため、テレビ、パソコン用ディスプレイ、携帯用端末の画像表示装置として使用されている。 A liquid crystal display device is known as an image display device. In particular, liquid crystal display devices using thin film transistors can display high-definition images, and are therefore used as image display devices for televisions, personal computer displays, and portable terminals.
近年、画像表示装置は、その外枠が小型化される一方、情報の認識性を良好にするために画像表示領域は拡大している。また、表示画像の高精細化により、画素数が増加し、ゲート線及びドレイン線の本数が増えている。 In recent years, the outer frame of an image display apparatus has been reduced in size, while the image display area has been expanded in order to improve information recognition. In addition, the number of pixels is increased and the number of gate lines and drain lines is increased due to high definition of a display image.
図５は従来の液晶表示装置の透明基板及びその周辺の配線図である。 FIG. 5 is a wiring diagram of a transparent substrate of a conventional liquid crystal display device and its periphery.
液晶表示装置は間に液晶層を介して２枚の透明基板を対向させて形成されている。第１の透明基板ＰＮＬ１の液晶側の面は、Ｘ方向（横方向）に延在しＹ方向（縦方向）に並設される複数のゲート線ＧＷと、このゲート線と絶縁されてＹ方向に延在しＸ方向に並設されるドレイン（またはソース）線ＤＷとを備えている。第２の透明基板には対向電極及びカラーフルタが形成されている。 The liquid crystal display device is formed with two transparent substrates facing each other with a liquid crystal layer interposed therebetween. The surface of the first transparent substrate PNL1 on the liquid crystal side extends in the X direction (horizontal direction) and is arranged in parallel in the Y direction (vertical direction), and is insulated from the gate lines and insulated in the Y direction. And a drain (or source) line DW arranged in parallel in the X direction. A counter electrode and a color filter are formed on the second transparent substrate.
隣接する２本のゲート線ＧＷと隣接する２本のドレイン線ＤＷとで囲まれる領域に、該ゲート線からの走査信号によってオンするスイッチング素子と、該ドレイン線からの映像信号が前記スイッチング素子を介して供給される画素電極とが形成されて、いわゆる画素が構成されている。これら複数の画素が形成された領域が画素領域ＡＲである。 In a region surrounded by two adjacent gate lines GW and two adjacent drain lines DW, a switching element that is turned on by a scanning signal from the gate line, and a video signal from the drain line passes through the switching element. The pixel electrode supplied through the so-called pixel is formed to form a so-called pixel. A region where the plurality of pixels are formed is a pixel region AR.
画素領域ＡＲを囲んで周辺領域ＰＡが存在する。周辺領域にはドレイン駆動回路及びゲート駆動回路と、画素領域のゲート線及びドレイン線とを夫々接続するための配線が設けられている。 A peripheral area PA exists around the pixel area AR. Wirings for connecting the drain driving circuit and the gate driving circuit to the gate line and the drain line in the pixel region are provided in the peripheral region.
携帯端末用の液晶表示装置は周辺領域が狭くなっている。液晶表示装置における周辺領域は液晶駆動用の回路チップ（以下ドライバという）や接続用の配線が配置されている。 The peripheral area of the liquid crystal display device for portable terminals is narrow. In the peripheral area of the liquid crystal display device, a circuit chip for driving liquid crystal (hereinafter referred to as a driver) and wiring for connection are arranged.
また、第２の透明基板は第１の透明基板より小さく形成されている。第１の透明基板において、第２の透明基板と対向しない領域にドレインドライバＤＤｒとゲートドライバＧＤｒが設置される。 The second transparent substrate is formed smaller than the first transparent substrate. In the first transparent substrate, a drain driver DDr and a gate driver GDr are installed in a region not facing the second transparent substrate.
画像表示領域を大きくした液晶表示装置は、周辺領域が狭いため、液晶表示素子を点灯させて検査するための検査端子を設けるスペースを確保することができない。または、検査後、検査端子を切り落としていた。そのため従来の液晶表示装置は量産性が低かった。 Since the liquid crystal display device having an enlarged image display area has a narrow peripheral area, it is not possible to secure a space for providing an inspection terminal for inspecting the liquid crystal display element by lighting it. Or, after the inspection, the inspection terminal was cut off. Therefore, the conventional liquid crystal display device has low mass productivity.
検査用端子を設けない場合でも、ゲート線のゲートドライバとの接続端子及びドレイン線のドレインドライバとの接続端子を検査用端子として使用することができる。しかしこの場合、検査装置の端子と接続端子との位置合わせが難しくなる。 Even when the inspection terminal is not provided, the connection terminal of the gate line to the gate driver and the connection terminal of the drain line to the drain driver can be used as the inspection terminals. However, in this case, it is difficult to align the terminals of the inspection device and the connection terminals.
本発明の液晶表示装置は、液晶を介在して互いに対向配置される透明基板を備えている。一方の透明基板は、Ｘ方向（横方向）に延在しＹ方向（縦方向）に並設される複数のゲート線と、この複数のゲート線と絶縁されてＸ方向に延在しＹ方向に並設される複数のドレイン（またはソース）線とを備えている。またこの透明基板はこれら複数のゲート線と複数のドレイン線とで形成された画素領域を取り囲んで周辺領域を備えている。 The liquid crystal display device of the present invention includes transparent substrates disposed to face each other with a liquid crystal interposed therebetween. One transparent substrate has a plurality of gate lines extending in the X direction (horizontal direction) and arranged in parallel in the Y direction (vertical direction), and is insulated from the plurality of gate lines and extends in the X direction to extend in the Y direction. And a plurality of drain (or source) lines arranged side by side. The transparent substrate has a peripheral region surrounding a pixel region formed by the plurality of gate lines and the plurality of drain lines.
第１の基板は画素電極の形成された画素領域と画素領域を囲む周辺領域とを有し、周辺領域には液晶表示装置の点灯検査用端子が形成されている。この検査用端子の上に液晶駆動用の半導体チップが検査用端子と電気的に絶縁されて配置されている。 The first substrate has a pixel region in which a pixel electrode is formed and a peripheral region surrounding the pixel region, and a lighting inspection terminal of the liquid crystal display device is formed in the peripheral region. A semiconductor chip for driving a liquid crystal is disposed on the inspection terminal so as to be electrically insulated from the inspection terminal.
半導体チップはドレインドライバとゲートドライバとの２つの半導体チップからなり、検査用端子の上にはドレインドライバが配置されている。 The semiconductor chip is composed of two semiconductor chips, a drain driver and a gate driver, and the drain driver is disposed on the inspection terminal.
検査用端子はドレイン線検査用端子とゲート線検査用端子とを含む。 The inspection terminals include a drain line inspection terminal and a gate line inspection terminal.
また、本発明の他の構成として、液晶表示装置は、第１の基板と第２の基板との間に液晶層を有する液晶表示装置であって、第１の基板は画素電極を有する画素領域と画素領域を囲む周辺領域とを有し、周辺領域には３つのドレイン線検査用端子と４つのゲート線検査用端子とが配置され、３つのドレイン線検査用端子と４つのゲート線検査用端子との上に半導体チップが配置されている。 As another structure of the present invention, the liquid crystal display device is a liquid crystal display device having a liquid crystal layer between a first substrate and a second substrate, and the first substrate has a pixel region having a pixel electrode. And a peripheral region surrounding the pixel region. In the peripheral region, three drain line inspection terminals and four gate line inspection terminals are arranged, and three drain line inspection terminals and four gate line inspection terminals are arranged. A semiconductor chip is disposed on the terminals.
さらに、ドレイン線検査用端子は赤用ドレイン線検査端子と緑用ドレイン線検査端子と青用ドレイン線検査端子とからなる。 Further, the drain line inspection terminal includes a red drain line inspection terminal, a green drain line inspection terminal, and a blue drain line inspection terminal.
隣合うゲート線は異なるゲート線検査用端子に接続されている。 Adjacent gate lines are connected to different gate line inspection terminals.
本発明は液晶表示装置の検査用回路を設けた周辺領域を切断することなく、周辺領域を狭くしても画像表示の検査を確実に行える液晶表示装置を提供することができる。 The present invention can provide a liquid crystal display device capable of reliably inspecting image display even if the peripheral region is narrowed without cutting the peripheral region provided with the circuit for inspecting the liquid crystal display device.
上述の構成することで、表示領域を取り囲むパネル周辺領域を小さくすることができる。 With the above configuration, the panel peripheral area surrounding the display area can be reduced.
また、パネル周辺領域を小さくし、且つゲート線ＧＷ間の電気的短絡やドレイン線ＤＷ間の電気的短絡を確実に検出することができる。 In addition, the panel peripheral region can be reduced, and an electrical short circuit between the gate lines GW and an electrical short circuit between the drain lines DW can be reliably detected.
表示装置の検査用端子と検査装置の端子との位置合わせが容易となり、表示装置の製造が容易になる。 Positioning of the inspection terminal of the display device and the terminal of the inspection device is facilitated, and manufacturing of the display device is facilitated.
検査用端子の上に異方性導電膜を介して半導体チップが載ので、検査用端子が外気に触れることがなく、静電気よる破損、電蝕による電極の腐食を抑制できる。 Since the semiconductor chip is mounted on the inspection terminal via an anisotropic conductive film, the inspection terminal is not exposed to the outside air, and damage due to static electricity and corrosion of the electrode due to electric corrosion can be suppressed.
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
各実施例において、同じ機能の部位には同じ参照番号を付けた。 In each example, parts having the same function are denoted by the same reference numerals.
図１は、本発明による液晶表示装置１の平面図であり、第１の基板に形成した配線を示している。また、図１は、有効画面の対角方向の寸法が約５．０８ｃｍの携帯端末用の液晶表示装置の平面図であり、画素電極を形成した透明基板の平面図である。図１の液晶表示装置はアクティブ・マトリクス方式を採用している。
FIG. 1 is a plan view of a liquid
アクティブ・マトリックス方式の液晶表示装置は、互いに対向配置される矩形の基板を備えており、第１の基板ＰＮＬ１と第２の基板ＰＮＬ２との間に液晶層を有する。第２の基板ＰＮＬ２は第１の基板ＰＮＬ１より小さく形成されている。 The active matrix type liquid crystal display device includes rectangular substrates disposed opposite to each other, and has a liquid crystal layer between the first substrate PNL1 and the second substrate PNL2. The second substrate PNL2 is formed smaller than the first substrate PNL1.
第１の基板ＰＮＬ1の液晶側の面は、Ｘ方向（横方向）に延在しＹ方向（縦方向）に並設されるゲート線ＧＷと、ゲート線ＧＷと絶縁されてＸ方向に延在しＹ方向に並設されるドレイン線（またはソース線という）ＤＷとを備えている。ゲート線と平行に保持容量配線ＳＷが配置されている。図１には複数あるゲート線ＧＷ及びドレイン線の一部を記載した。 The liquid crystal side surface of the first substrate PNL1 extends in the X direction (horizontal direction) and juxtaposed in the Y direction (vertical direction), and is insulated from the gate line GW and extends in the X direction. And a drain line (or source line) DW arranged in parallel in the Y direction. A storage capacitor line SW is arranged in parallel with the gate line. FIG. 1 shows a part of a plurality of gate lines GW and drain lines.
互いに交差するゲート線とドレイン線とで囲まれる各領域に、該ゲート線からの走査信号によってオンするスイッチング素子と、該ドレイン線からの映像信号が前記スイッチング素子を介して供給される画素電極とが形成されて、いわゆる画素が構成されている。スイッチング素子としては薄膜トランジスタＴＦＴがある。 A switching element that is turned on by a scanning signal from the gate line, and a pixel electrode to which a video signal from the drain line is supplied via the switching element, in each region surrounded by the gate line and the drain line that intersect with each other Are formed to form a so-called pixel. As the switching element, there is a thin film transistor TFT.
第１の基板において、第２の透明基板と対向しない領域にドレインドライバＤＤｒとゲートドライバＧＤｒが設置される。また、ゲートドライバＧＤｒとドレインドライバＤＤｒは第１の基板ＰＮＬ1の短辺の片側にフリップチップ方式で実装してある。ゲートドライバＧＤｒはゲート線ＧＷに接続し、ドレインドライバはドレイン線ＤＷに接続している。 In the first substrate, the drain driver DDr and the gate driver GDr are installed in a region not facing the second transparent substrate. The gate driver GDr and the drain driver DDr are mounted on one side of the short side of the first substrate PNL1 by a flip chip method. The gate driver GDr is connected to the gate line GW, and the drain driver is connected to the drain line DW.
第２の基板ＰＮＬ２には共通電極が形成されている。また共通電極と画素電極とでコンデンサがＬＣ形成され、電圧を保持している。 A common electrode is formed on the second substrate PNL2. In addition, a capacitor is LC-formed by the common electrode and the pixel electrode, and holds a voltage.
第１の基板には共通電極と接続するコモン線Ｖｃｏｍが配置されている。 A common line Vcom connected to the common electrode is disposed on the first substrate.
図１に示した配線は第１の基板ＰＮＬ１上に形成された配線である。 The wiring shown in FIG. 1 is a wiring formed on the first substrate PNL1.
周辺領域ＰＡには、ゲート線検査用トランジスタＴＧ、ドレイン線検査用トランジスタＴＤが形成されている。 In the peripheral area PA, a gate line inspection transistor TG and a drain line inspection transistor TD are formed.
ゲート検査用トランジスタＴＧは第１の基板ＰＮＬ１の長辺側に設けられ、ゲート線の一端に接続している。また、ゲート線の他の一端はゲートドライバＧＤｒに接続される。 The gate inspection transistor TG is provided on the long side of the first substrate PNL1, and is connected to one end of the gate line. The other end of the gate line is connected to the gate driver GDr.
奇数行目のゲート線検査用トランジスタＴＧは一端に奇数行目のゲート線ＧＷが接続され、他の一端に奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯが接続されている。 The odd-numbered gate line inspection transistor TG has one end connected to the odd-numbered gate line GW, and the other end connected to the odd-numbered gate line inspection terminal CGO.
偶数行目のゲート線検査用トランジスタＴＧは一端に偶数行目のゲート線ＧＷが接続され、他の一端に偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥが接続されている。 The even-numbered gate line inspection transistor TG has one end connected to the even-numbered gate line GW and the other end connected to the even-numbered gate line inspection terminal CGE.
ドレイン線検査用トランジスタＴＤは一端にドレイン線ＤＷが接続され、他の一端には、赤用ドレイン線検査用端子ＣＲ、緑用ドレイン線検査用端子ＣＧ、青用ドレイン線検査用端子ＣＢの何れかが接続している。 The drain line inspection transistor TD has one end connected to the drain line DW, and the other end is connected to any one of the red drain line inspection terminal CR, the green drain line inspection terminal CG, and the blue drain line inspection terminal CB. Is connected.
ゲート線検査用トランジスタＴＧ、ドレイン線検査用トランジスタＴＤのゲートは共通の検査用スイッチＳに接続している。 The gates of the gate line inspection transistor TG and the drain line inspection transistor TD are connected to a common inspection switch S.
奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯ、偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥ、赤用ドレイン線検査用端子ＣＲ、緑用ドレイン線検査用端子ＣＧ、青用ドレイン線検査用端子ＣＢ、検査用コモン端子ＣＶの上に異方性導電膜を介してドレインドライバＤＤｒが配置される。このとき、ドレインドライバＤＤｒと検査用端子は電気的に絶縁されている。 Gate line inspection terminal CGO for odd rows, gate line inspection terminal CGE for even rows, red drain line inspection terminal CR, green drain line inspection terminal CG, blue drain line inspection terminal CB, inspection A drain driver DDr is disposed on the common terminal CV via an anisotropic conductive film. At this time, the drain driver DDr and the inspection terminal are electrically insulated.
検査用スイッチＳはゲートドライバの下になるように配置されている。ゲートドライバも異方性導電膜を介して第１の基板ＰＮＬに固定されている。このとき、ゲートドライバＧＤｒと検査用スイッチ端子は電気的に絶縁されている。 The inspection switch S is disposed below the gate driver. The gate driver is also fixed to the first substrate PNL via an anisotropic conductive film. At this time, the gate driver GDr and the inspection switch terminal are electrically insulated.
このように構成することで、周辺領域ＰＡを拡大することなく、液晶表示装置を製造できる。また、検査用端子部は異方性導電膜が密着しているので、外気に触れずらいので、端子部の電蝕を抑制できる。 With this configuration, a liquid crystal display device can be manufactured without enlarging the peripheral area PA. In addition, since the anisotropic conductive film is in close contact with the inspection terminal portion, it is difficult to touch the outside air, so that the electrolytic corrosion of the terminal portion can be suppressed.
さらに、基板の検査用端子を形成した個所を切断する必要がなく、液晶表示装置の製造工程を簡略化できる。また、検査用端子の切断工程を省略できるため、基板の切屑を抑制でき、ゴミによる表示不良を抑制できる。 Furthermore, it is not necessary to cut the portion where the inspection terminal of the substrate is formed, and the manufacturing process of the liquid crystal display device can be simplified. Moreover, since the cutting process of the inspection terminal can be omitted, chips on the substrate can be suppressed and display defects due to dust can be suppressed.
また、液晶を駆動させるときに、検査用スイッチＳを低レベルとすることで、全ての検査用トランジスタのゲートをＯＦＦすることができる。基板には検査用トランジスタのゲートをＯＦＦするための電圧を供給する端子ＴＶが設けてある。 Further, when the liquid crystal is driven, the gates of all the inspection transistors can be turned off by setting the inspection switch S to a low level. The substrate is provided with a terminal TV for supplying a voltage for turning off the gate of the inspection transistor.
次に検査方法について説明する。 Next, the inspection method will be described.
図２は赤を表示するときの駆動波形であり、夫々の検査用端子に入力する電圧の波形であり、図２（ａ）は奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯに入力される波形、図２（ｂ）は偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥに入力される波形、図２（ｃ）は赤用ドレイン線検査端子ＣＲに入力される波形、図２（ｄ）は緑及び青用ドレイン線検査端子ＣＧ及びＣＢに入力される波形である。なお、本実施例ではノーマリホワイトの液晶表示装置を使用した。 FIG. 2 is a driving waveform when displaying red, and is a waveform of a voltage input to each inspection terminal. FIG. 2A is a waveform input to the odd-numbered gate line inspection terminal CGO. 2B is a waveform input to the even-numbered gate line inspection terminal CGE, FIG. 2C is a waveform input to the red drain line inspection terminal CR, and FIG. 2D is green and blue. This is a waveform inputted to the drain line inspection terminals CG and CB for use. In this embodiment, a normally white liquid crystal display device was used.
奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯには周期がMｍｓ、パルス幅がNμｓのパルス電圧が供給される。一方、偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥには奇数行目に印加されたパルス電圧と周期をずらしたパルス電圧が印加される。このような構成とすることで、ゲート線間の短絡を検出することができる。 A pulse voltage having a period of Mms and a pulse width of N μs is supplied to the odd-numbered gate line inspection terminal CGO. On the other hand, a pulse voltage whose period is shifted from the pulse voltage applied to the odd-numbered row is applied to the gate line inspection terminal CGE in the even-numbered row. With such a configuration, a short circuit between the gate lines can be detected.
赤用ドレイン線検査端子ＣＲにはMｍｓ毎に極性の反転する電圧が供給される。緑及び青用ドレイン線検査端子ＣＧ及びＣＢにはMｍｓ毎に極性の反転する電圧が供給される。 A voltage whose polarity is inverted every Mms is supplied to the red drain line inspection terminal CR. A voltage whose polarity is inverted every Mms is supplied to the green and blue drain line inspection terminals CG and CB.
赤用ドレイン線検査端子ＣＲに供給する電圧を低くし、緑及び青用ドレイン線検査端子ＣＧ及びＣＢに供給する電圧を高くすることで、赤を表示することができる。このとき、赤用ドレイン線に隣合うドレイン線との短絡を検査することができる。 Red can be displayed by decreasing the voltage supplied to the red drain line inspection terminal CR and increasing the voltages supplied to the green and blue drain line inspection terminals CG and CB. At this time, a short circuit with the drain line adjacent to the red drain line can be inspected.
同様にして、緑又は青のどちらか一方を表示することで隣合うドレイン線間の短絡を検査することができる。 Similarly, a short circuit between adjacent drain lines can be inspected by displaying either green or blue.
ゲート線検査用トランジスタＴＧ及びドレイン線検査用トランジスタＴＤのゲートはＯＮしている。検査終了後は、検査用スイッチＳにより、ゲート線検査用トランジスタＴＧ及びドレイン線検査用トランジスタＴＤのゲートをＯＦＦさせる。たとえば、液晶を駆動させるときに、検査用スイッチＳを低レベルとすることで、全ての検査用トランジスタのゲートをＯＦＦすることができる。液晶駆動時は常に検査用トランジスタのゲートがＯＦＦしているので、安定して画像を表示することができる。 The gates of the gate line inspection transistor TG and the drain line inspection transistor TD are ON. After completion of the inspection, the gates of the gate line inspection transistor TG and the drain line inspection transistor TD are turned off by the inspection switch S. For example, when the liquid crystal is driven, the gates of all the inspection transistors can be turned off by setting the inspection switch S to a low level. Since the gate of the inspection transistor is always OFF when the liquid crystal is driven, an image can be displayed stably.
図１の液晶表示装置では、検査用スイッチＳが１つなので、駆動時の電圧供給用端子も１つで済む。 In the liquid crystal display device of FIG. 1, since there is one inspection switch S, only one voltage supply terminal is required for driving.
また検査終了後、各ドレイン線の一端はドレインドライバＤＤｒの端子が接続される。 Further, after the inspection is completed, one end of each drain line is connected to the terminal of the drain driver DDr.
図３はゲートドライバＧＤｒとドレインドライバＤＤｒを設けた第１の液晶表示装置１と、第１の液晶表示装置とフレキシブル基板ＦＰＣで接続された第２の液晶表示装置２とからなる液晶表示装置である。ドレイン線ＤＷの一部は第１の液晶表示装置と第２の液晶表示装置で兼用している。
FIG. 3 shows a liquid crystal display device comprising a first liquid
第１の基板には第２の液晶表示装置で使用されるの第２のコモン線Ｖｃｏｍ２が配線されている。 A second common line Vcom2 used in the second liquid crystal display device is wired on the first substrate.
図３の液晶表示装置は液晶駆動用の半導体チップを一方の基板短辺側に設けると同時に他方の基板短辺には第２の液晶表示装置とフレキシブル基板を介して接続するための端子が形成される。そのため、周辺領域はさらに狭くなる。このような液晶表示装置に本発明を適用することで、液晶表示装置の外形を小さくすることができる。 In the liquid crystal display device of FIG. 3, a semiconductor chip for driving liquid crystal is provided on one substrate short side, and at the same time, a terminal for connecting to the second liquid crystal display device via a flexible substrate is formed on the other substrate short side. Is done. Therefore, the peripheral area is further narrowed. By applying the present invention to such a liquid crystal display device, the outer shape of the liquid crystal display device can be reduced.
図４はゲートドライバとドレインドライバを１つのドライバＤｒに納めた液晶表示装置である。図１と同じ機能の部位には同じ記号を付してある。 FIG. 4 shows a liquid crystal display device in which a gate driver and a drain driver are accommodated in one driver Dr. Parts having the same functions as those in FIG.
ドレイン線ＤＷはＤ０からＤ３９７まで、全３９８本ある。ゲート線ＧＷはＧ０からＧ１７７まで、全１７８本ある。 There are a total of 398 drain lines DW from D0 to D397. There are a total of 178 gate lines GW from G0 to G177.
図４の液晶表示装置において、ドライバから遠い側半分の領域を駆動するゲート線は右側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続しており、ドライバから近い側半分の領域を駆動するゲート線は左側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続している。ドレイン線はドライバの長辺中央部を含む領域でドライバと接続している。 In the liquid crystal display device of FIG. 4, the gate line that drives the side half region far from the driver is connected to the driver Dr through the right peripheral region, and the gate line that drives the side half region near the driver is the left side. The driver Dr is connected through the peripheral region. The drain line is connected to the driver in a region including the central part of the long side of the driver.
基板右側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続しているゲート線は基板左側に形成したゲート線検査用トランジスタに接続している。 A gate line connected to the driver Dr through the peripheral region on the right side of the substrate is connected to a gate line inspection transistor formed on the left side of the substrate.
基板左側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続しているゲート線は基板右側に形成した検査用トランジスタに接続している。 A gate line connected to the driver Dr through a peripheral region on the left side of the substrate is connected to an inspection transistor formed on the right side of the substrate.
中央部には、ドレイン線用検査用スイッチ端子Ｓ１、赤用ドレイン線検査用端子ＣＲ、緑用ドレイン線検査用端子ＣＧ、青用ドレイン線検査用端子ＣＢが配置されている。ドレイン線用検査用スイッチ端子Ｓ１はドレイン線検査用トランジスタＴＤのゲートに接続されている。 In the center, a drain line inspection switch terminal S1, a red drain line inspection terminal CR, a green drain line inspection terminal CG, and a blue drain line inspection terminal CB are arranged. The drain line inspection switch terminal S1 is connected to the gate of the drain line inspection transistor TD.
ドレイン検査用端子の左側には、基板右側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続しているゲート線の検査端子が配置されている。このゲート線検査端子は、奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯ１、偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥ１、ゲート線用検査用スイッチ端子Ｓ２が配置されている。 On the left side of the drain inspection terminal, a gate line inspection terminal connected to the driver Dr through the peripheral region on the right side of the substrate is arranged. The gate line inspection terminals include an odd-numbered gate line inspection terminal CGO1, an even-numbered gate line inspection terminal CGE1, and a gate line inspection switch terminal S2.
ドレイン検査用端子の右側には、基板左側の周辺領域を通ってドライバＤｒと接続しているゲート線の検査端子が配置されている。このゲート線検査端子は、奇数行目のゲート線検査用端子ＣＧＯ２、偶数行目のゲート線検査用端子ＣＧＥ２、ゲート線用検査用スイッチ端子Ｓ３が配置されている。 On the right side of the drain inspection terminal, a gate line inspection terminal connected to the driver Dr through the peripheral region on the left side of the substrate is arranged. The gate line inspection terminals include an odd-numbered gate line inspection terminal CGO2, an even-numbered gate line inspection terminal CGE2, and a gate line inspection switch terminal S3.
これら検査用端子の上にドライバＤｒが異方性導電膜を介して固定されている。このとき、ドライバＤｒと検査用端子は電気的に絶縁されている。 A driver Dr is fixed on these inspection terminals via an anisotropic conductive film. At this time, the driver Dr and the inspection terminal are electrically insulated.
ＰＮＬ・・・・基板、AR・・・・画素領域、AP・・・・周辺領域、ＧＷ・・・・ゲート線、ＤＷ・・・・ドレイン線、ＧＤｒ・・・・ゲートドライバ、ＤＤｒ・・・・ドレインドライバ、ＴＤ・・・・ドレイン線検査用トランジスタ、ＴＧ・・・・ゲート線検査用トランジスタ、ＣＲ・・・・赤用ドレイン線検査用端子、ＣＧ・・・・緑用ドレイン線検査用端子、ＣＢ・・・・青用ドレイン線検査用端子、ＣＧＯ・・・・奇数行目のゲート線検査用端子、ＣＧＥ・・・・偶数行目のゲート線検査用端子。 PNL ... substrate, AR ... pixel area, AP ... peripheral area, GW ... gate line, DW ... drain line, GDr ... gate driver, DDr ... ..Drain driver, TD ... Drain line inspection transistor, TG ... Gate line inspection transistor, CR ... Red drain line inspection terminal, CG ... Green drain line inspection Terminal for CB,..., Blue drain line inspection terminal, CGO,... Odd line gate line inspection terminal, CGE,... Even line gate line inspection terminal.
Claims (8)
前記基板上に実装された２つのドライバチップを有する画像表示装置であって、
前記２つのドライバチップのうち１つは、前記映像信号線に映像信号を供給する映像信号出力端子を有し、
前記基板は、前記映像信号出力端子が接続される映像信号線接続端子と、映像信号線検査端子と、前記映像信号線接続端子と前記映像信号線検査端子との間に設けられ、通常の画像表示時にオフされ検査時に前記２つのドライバチップのうち１つの下となる当該基板上の端子からの電圧によりオンされて前記映像信号線接続端子と前記映像信号線検査端子との間の接続を制御する映像信号線検査用トランジスタとを有し、
前記映像信号出力端子を有する前記ドライバチップは、前記映像信号線検査用トランジスタの上に配置され、
前記２つのドライバチップのうち１つは前記映像信号線検査端子の上に配置される、
ことを特徴とする画像表示装置。 A substrate having a plurality of scanning signal lines, a plurality of video signal lines, and a plurality of pixels;
An image display device having two driver chips mounted on the substrate,
One of the two driver chips has a video signal output terminal for supplying a video signal to the video signal line,
The substrate is provided between the video signal line connection terminal to which the video signal output terminal is connected, and the video signal line inspection terminal, the video signal line connection terminal and the video signal line inspection terminal, normal image Turned on by a voltage from a terminal on the substrate, which is turned off at the time of display and below one of the two driver chips at the time of inspection, to control the connection between the video signal line connection terminal and the video signal line inspection terminal A video signal line inspection transistor
The driver chip having the video signal output terminal is disposed on the video signal line inspection transistor,
One of the two driver chips is disposed on the video signal line inspection terminal.
An image display device characterized by that.
前記２つのドライバチップのうち１つは前記走査信号線検査端子の上に配置される、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像表示装置。 The substrate has a scanning signal line inspection terminal;
One of the two driver chips is disposed on the scanning signal line inspection terminal.
The image display apparatus according to claim 1.
隣り合う２つの走査信号線のうちの一方は、前記第１の走査信号線検査端子に接続され、前記隣り合う２つの走査信号線のうちの他方は、前記第２の走査信号線検査端子に接続されていることを特徴とする請求項２に記載の画像表示装置。 The scanning signal line inspection terminal has a first scanning signal line inspection terminal and a second scanning signal line inspection terminal,
One of the two adjacent scanning signal lines is connected to the first scanning signal line inspection terminal, and the other of the two adjacent scanning signal lines is connected to the second scanning signal line inspection terminal. The image display device according to claim 2, wherein the image display device is connected.
前記映像信号線検査端子および前記映像信号線検査用トランジスタは、前記画素領域の外に形成されていることを特徴とする請求項１から５の何れかに記載の画像表示装置。 The plurality of pixels are formed in a pixel region,
6. The image display device according to claim 1, wherein the video signal line inspection terminal and the video signal line inspection transistor are formed outside the pixel region.
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