JP4604577B2 - 接着剤組成物、それを用いたフィルム状接着剤及び回路接続材料、並びに回路部材の接続構造及びその製造方法 - Google Patents
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本発明の接着剤組成物は、硬化性成分と、上記一般式(1)又は(2)で表されるシラン化合物と、を含有する。
R11−SiR13(OR12)2 (4)
R11−Si(R13)2−OR12 (5)
[式(3)〜(5)中、R11、R12及びR13はそれぞれ独立に炭素数1〜12の直鎖状若しくは分岐状のアルキル基、シクロアルキル基、フェニル基又は置換フェニル基を示す。]
F−R21−SiR23(OR22)2 (7)
F−R21−Si(R23)2−OR22 (8)
[式(6)〜(8)中、R21は炭素数1〜6のアルキレン基を示し、R22及びR23はそれぞれ独立に炭素数1〜12の直鎖状若しくは分岐状のアルキル基、シクロアルキル基、フェニル基又は置換フェニル基を示し、Fはウレイド基、3,4−エポキシシクロヘキシル基、グリシジルオキシ基、イソシアネート基、ビニル基、メタクリレート基、アクリレート基又はメルカプト基を示す。]
図1は、フィルム状接着剤の一実施形態を示す断面図である。図1に示すフィルム状接着剤1は、上述した接着剤組成物をフィルム状に形成してなるものである。このフィルム状接着剤によれば、取り扱いが容易であり、被着体へ容易に設置することができ、接続作業を容易に行うことができる。
図2は、本発明の回路部材の接続構造の一実施形態を示す概略断面図である。図2に示すように、本実施形態の回路部材の接続構造は、相互に対向する第一の回路部材20及び第二の回路部材30を備えており、第一の回路部材20と第二の回路部材30との間には、これらを接続する回路接続部材10が設けられている。
次に、上述した回路部材の接続構造の製造方法について説明する。
30mlのガラス製反応容器に乾燥窒素を充填し、ここにアミノ基を有するシリルエーテル化合物であるγ−アミノプロピルトリエトキシシラン1.00g(チッソ社製、サイラエースS330)と、塩基性化合物であるトリエチルアミン0.492g(和光純薬工業社製)と、溶媒である脱水ヘキサン10ml(和光純薬工業社製)とを加えて、均一になるまで撹拌して混合液を得た。次に、得られた混合液に、アルキル(フェニル)シリルハロリドであるトリイソプロピルシリルクロリド0.824g(チッソ社製)を10分間かけて滴下し、25℃で48時間撹拌して反応を終了した。その後、析出したトリエチルアミン塩酸塩をガラスフィルターでろ別し、ヘキサンを留去した。次に、減圧蒸留を行い、下記式(9)で表されるN−トリ(イソプロピル)シリル−γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(沸点:180℃/67Pa)(シラン化合物A)0.99gを得た。なお、得られたN−トリ(イソプロピル)シリル−γ−アミノプロピルトリエトキシシランの赤外線吸収スペクトルを図4に、NMRスペクトルを図5にそれぞれ示す。
アルキル(フェニル)シリルハロリドに代えて、ジフェニルイソプロピルシリルクロリド1.23g(塩化イソプロピルマグネシウムとジクロロジフェニルシランからの合成品:第4版実験化学講座24 有機合成VI 145頁参照)を用いた以外は合成例1と同様にして反応を行い、下記式(10)で表されるN−(ジフェニルイソプロピル)シリル−γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(沸点:250℃/80Pa)(シラン化合物B)1.12gを得た。なお、得られたN−(ジフェニルイソプロピル)シリル−γ−アミノプロピルトリエトキシシランの赤外線吸収スペクトルを図6に、NMRスペクトルを図7にそれぞれ示す。
4,4−(9−フルオレニリデン)−ジフェノール45gと、3,3’,5,5’−テトラメチルビフェノールジグリシジルエーテル50gとをN−メチルピロリジオン1000mlに溶解し、これに炭酸カリウム21gを加え、110℃で攪拌した。3時間攪拌後、多量のメタノールに滴下し、生成した沈殿物を濾取してフェノキシ樹脂(フィルム形成材A)75gを得た。得られたフェノキシ樹脂の分子量を、東ソー社製GPC8020(カラム:東ソー社製TSKgelG3000HXL及びTSKgelG4000HXL、流速:1.0ml/min)により測定した結果、ポリスチレン換算でMn=12,500、Mw=30,300、Mw/Mn=2.42であった。
窒素導入管、温度計、冷却管及びメカニカルスターラーを取り付けた2リットルの四つ口フラスコに、テトラブロモビスフェノールA(FG−2000、帝人化成社製)333.83gと、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(YD−8125、分子蒸留品、エポキシ当量172g/当量、東都化成社製)205.56gと、N,N−ジメチルアセトアミド1257gとを入れ、窒素雰囲気下で均一になるまで撹拌混合して混合液を得た。次に、得られた混合液に水酸化リチウム0.94gを添加し、温度を徐々に上げながら120℃で9時間反応させた。反応の追跡は、一定時間ごとに反応溶液の粘度を測定し、粘度が増加しなくなるまで反応を行った。反応終了後、反応溶液を放冷し、これに活性アルミナ(200メッシュ)約420gを加えて一晩放置した。その後、活性アルミナを濾別して、フェノキシ樹脂のN,N−ジメチルアセトアミド溶液を得た。次いで、窒素導入管、温度計、冷却管及びメカニカルスターラーを取り付けた1リットルの四つ口フラスコに、得られたフェノキシ樹脂のN,N−ジメチルアセトアミド溶液807.62gと、末端カルボキシル基含有ブタジエン−アクリロニトリル共重合体(Hycar CTBNX1009−SP、宇部興産社製)50.88gとを入れ、撹拌混合しながら十分に窒素置換した。次に、窒素雰囲気下で撹拌混合し、温度を徐々に上げながら溶剤が還流する状態で8.5時間加熱した。冷却後、多量のメタノールに滴下し、生成した沈殿物を濾取してフェノキシ樹脂(フィルム形成材B)470gを得た。
合成例3で得られたフィルム形成材A、トルエン、及び酢酸エチルを、質量比がフィルム形成材A:トルエン:酢酸エチル=40:30:30となるように混合した混合溶液A100部と、合成例4で得られたフィルム形成材B、及びメチルエチルケトンを、質量比がフィルム形成材B:メチルエチルケトン=50/50となるように混合した混合溶液B20質量部と、ラジカル重合性化合物としてのイソシアヌル酸エチレンオキサイド変性ジアクリレート(東亞合成社製、M−313)10質量部と、ウレタンアクリレート(新中村化学工業社製、NKオリゴUA512)40質量部と、ラジカル重合開始剤としての1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ−2−エチルへキサノネート(日本油脂社製、パーヘキサ25O)3質量部と、導電性粒子としてのNi/Auめっきポリスチレン粒子(平均粒径4μm)10質量部と、合成例1で得られたシラン化合物A3質量部とを混合し、接着剤組成物を得た。この接着剤組成物を、厚み50μmのPETフィルム上に塗工し、70℃で5分間乾燥させて、膜厚25μmの接着剤フィルムを得た。
合成例3で得られたフィルム形成材A、トルエン、及び酢酸エチルを、質量比がフィルム形成材A:トルエン:酢酸エチル=40:30:30となるように混合した混合溶液A100質量部と、エポキシ樹脂、及び潜在性硬化剤の混合物としてのマイクロカプセル型潜在性硬化剤を含有する液状エポキシ(HX3941HP、旭化成工業社製、エポキシ当量185)60質量部と、導電性粒子としてNi/Auめっきポリスチレン粒子(平均粒径4μm)10質量部と、合成例1で得られたシラン化合物A2質量部とを混合し、接着剤組成物を得た。この接着剤組成物を、厚み50μmのPETフィルム上に塗工し、70℃で5分間乾燥させて、膜厚25μmの接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、合成例2で得られたシラン化合物B3質量部と汎用シランカップリング剤としてのγ−メタクリロイルプロピルトリメトキシシラン(信越シリコーン社製、KBM503)5質量部とを用いた以外は実施例1と同様にして、接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、合成例2で得られたシラン化合物B2質量部を用いた以外は実施例2と同様にして、接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン3質量部を用いた以外は実施例1と同様にして、接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン2質量部を用いた以外は実施例2と同様にして、接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、γ−エポキシプロピルトリメトキシシラン3質量部を用いた以外は実施例1と同様にして、接着剤フィルムを得た。
シラン化合物Aに代えて、γ−エポキシプロピルトリメトキシシラン2質量部を用いた以外は実施例2と同様にして、接着剤フィルムを得た。
バンプ面積50μm×50μm、ピッチ100μm、高さ20μmの金バンプを配置したICチップと、厚み1.1mmのガラス上にインジュウム−錫酸化物(ITO)を蒸着により形成したITO基板(表面抵抗率20Ω/□以下)とを準備した。このICチップとITO基板との間に、実施例1,3及び比較例1,3で得られた接着剤フィルムを配置し、これらを石英ガラスと加圧ヘッドとで挟んで、200℃、100MPa(バンプ面積換算)で10秒間加熱加圧して、ICチップとITO基板との接続を行った。このとき、接着剤フィルムは、あらかじめITO基板上に接着剤フィルムの接着面を70℃、0.5MPa(バンプ面積換算)で5秒間加熱加圧して貼り付け、その後、PETフィルムを剥離してICチップと上記の温度及び圧力条件で接続した。これにより、実施例1,3及び比較例1,3の接着剤フィルムを用いたIC/ITO接続構造をそれぞれ作製した。
実施例2,4及び比較例2,4の接着剤フィルムを用い、接着剤フィルムとICチップとの接続を220℃、100MPa(バンプ面積換算)で5秒間加熱加圧することで行った以外は上記接続構造の作製1と同様にして、ICチップとITO基板との接続を行った。これにより、実施例2,4及び比較例2,4の接着剤フィルムを用いたIC/ITO接続構造をそれぞれ作製した。
上記接続構造の作製1,2により、実施例1〜4及び比較例1〜4の接着剤フィルムを用いたIC/ITO接続構造をそれぞれ10個ずつ作製した。このIC/ITO接続構造の接続直後の接続抵抗(初期接続抵抗)と、高温高湿試験(85℃、85%RH)を500時間行った後の接続抵抗(高温高湿試験後接続抵抗)とを四端子法で測定した。また、40℃で5日間加熱して劣化させた実施例1〜4及び比較例1〜4の接着剤フィルムを用いて、上記接続構造の作製1,2により、IC/ITO接続構造をそれぞれ10個ずつ作製した。この劣化後の接着剤フィルムを用いたIC/ITO接続構造の接続直後の接続抵抗(劣化後接続抵抗)を四端子法で測定した。測定結果の平均値をそれぞれ表9に示す。なお、10個のうち1個でも接続抵抗が大きすぎて測定できないものがある場合には、OPEN不良とした。
上記高温高湿試験を行った後のIC/ITO接続構造の接続面を金属顕微鏡で観察した。作製した各10個のIC/ITO接続構造のうち剥離が観察されたもの不良とし、不良数を測定した。その結果を表9に示す。
金めっきバンプ(50μm×50μm、バンプ高さ15μm、スペース10μm)付きICチップ(1.0mm×10mm×0.55mm)と、0.7mm厚のガラスとを準備した。このICチップとガラスとの間に、実施例1,3及び比較例1,3で得られた接着剤フィルムを配置し、200℃、100MPa(バンプ面積換算)で3秒間加熱加圧して、ICチップとガラスとの接続を行った。これにより、実施例1,3及び比較例1,3の接着剤フィルムを用いたIC/ガラス接続構造をそれぞれ作製した。
実施例2,4及び比較例2,4の接着剤フィルムを用い、220℃、100MPa(バンプ面積換算)で5秒間加熱加圧することで接続を行った以外は上記接続構造の作製3と同様にして、ICチップとガラスとの接続を行った。これにより、実施例2,4及び比較例2,4の接着剤フィルムを用いたIC/ガラス接続構造をそれぞれ作製した。
上記接続構造の作製3,4により、実施例1〜4及び比較例1〜4の接着剤フィルムを用いたIC/ITO接続構造をそれぞれ10個ずつ作製した。このIC/ITO接続構造について、接続直後のせん断接着強度(初期接着強度)と、高温高湿試験(85℃、85%RH)を168時間行った後のせん断接着強度(高温高湿試験後接着強度)とを、ボンドテスタ(Dyge社製)を用いて測定した。測定結果の平均値をそれぞれ表10に示す。
Claims (9)
- 前記硬化性成分が、ラジカル重合性化合物及びラジカル重合開始剤を含むものであることを特徴とする請求項1記載の接着剤組成物。
- 前記硬化性成分が、エポキシ樹脂及び該エポキシ樹脂の潜在性硬化剤を含むものであることを特徴とする請求項1又は2記載の接着剤組成物。
- さらにフィルム形成材を含有することを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか一項に記載の接着剤組成物。
- 請求項1〜4のうちのいずれか一項に記載の接着剤組成物をフィルム状に形成してなることを特徴とするフィルム状接着剤。
- 第一の回路基板の主面上に第一の回路電極が形成された第一の回路部材と、第二の回路基板の主面上に第二の回路電極が形成された第二の回路部材とを、前記第一の回路電極と前記第二の回路電極とを対向配置させた状態で接続するための回路接続材料であって、
請求項1〜4のうちのいずれか一項に記載の接着剤組成物を含有することを特徴とする回路接続材料。 - さらに導電性粒子を含有することを特徴とする請求項6記載の回路接続材料。
- 第一の回路基板の主面上に第一の回路電極が形成された第一の回路部材と、
第二の回路基板の主面上に第二の回路電極が形成された第二の回路部材と、
前記第一の回路基板の主面と前記第二の回路基板の主面との間に設けられ、前記第一の回路電極と前記第二の回路電極とを対向配置させた状態で前記第一及び第二の回路部材同士を接続する回路接続部材と、
を備える回路部材の接続構造であって、
前記回路接続部材は、請求項6又は7記載の回路接続材料の硬化物からなり、
前記第一の回路電極と前記第二の回路電極とが電気的に接続されていることを特徴とする回路部材の接続構造。 - 第一の回路基板の主面上に第一の回路電極が形成された第一の回路部材と、
第二の回路基板の主面上に第二の回路電極が形成された第二の回路部材と、
前記第一の回路基板の主面と前記第二の回路基板の主面との間に設けられ、前記第一の回路電極と前記第二の回路電極とを対向配置させた状態で前記第一及び第二の回路部材同士を接続する回路接続部材と、
を備える回路部材の接続構造の製造方法であって、
前記第一の回路基板の主面と前記第二の回路基板の主面との間に請求項6又は7記載の回路接続材料を配置し、
前記第一及び第二の回路部材を介して前記回路接続材料を加熱及び加圧して硬化処理して前記第一の回路部材と前記第二の回路部材とを接続することにより前記回路部材の接続構造を製造することを特徴とする回路部材の接続構造の製造方法。
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