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JP4573664B2 - マイクロ揺動素子およびその製造方法 - Google Patents

マイクロ揺動素子およびその製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、回転変位可能な部位を有する例えばマイクロミラー素子、加速度センサ、角速度センサ、振動素子などのマイクロ揺動素子に関する。
近年、様々な技術分野において、マイクロマシニング技術により形成される微小構造を有する素子の応用化が図られている。例えば光通信技術の分野においては、光反射機能を有する微小なマイクロミラー素子が注目されている。
光通信においては、光ファイバを媒体として光信号が伝送され、また、光信号の伝送経路を或るファイバから他のファイバへと切換えるべく、一般に、いわゆる光スイッチング装置が使用される。良好な光通信を達成するうえで光スイッチング装置に求められる特性としては、切換え動作における、大容量性、高速性、高信頼性などが挙げられる。これらの観点より、光スイッチング装置としては、マイクロマシニング技術により作製されるマイクロミラー素子を組み込んだものに対する期待が高まっている。マイクロミラー素子によると、光スイッチング装置における入力側の光伝送路と出力側の光伝送路との間で、光信号を電気信号に変換せずに光信号のままでスイッチング処理を行うことができ、上掲の特性を得るうえで好適だからである。
マイクロミラー素子は、光を反射するためのミラー面を備え、当該ミラー面の揺動により光の反射方向を変化させることができる。ミラー面を揺動するうえで静電引力を利用する静電駆動型のマイクロミラー素子が、多くの装置で採用されている。静電駆動型マイクロミラー素子は、いわゆる表面マイクロマシニング技術により製造されるマイクロミラー素子と、いわゆるバルクマイクロマシニング技術により製造されるマイクロミラー素子とに、大きく2つに類別することができる。
表面マイクロマシニング技術では、基板上において、各構成部位に対応する材料薄膜を所望のパターンに加工し、このようなパターンを順次積層することにより、支持体、ミラー面および電極部など、素子を構成する各部位や、後に除去される犠牲層を形成する。一方、バルクマイクロマシニング技術では、材料基板自体をエッチングすることにより支持体やミラー支持部などを所望の形状に成形し、必要に応じてミラー面や電極を薄膜形成する。バルクマイクロマシニング技術については、例えば下記の特許文献1〜3に記載されている。
特開平10−190007号公報 特開平10−270714号公報 特開平2000−31502号公報
マイクロミラー素子に要求される技術的事項の一つとして、光反射を担うミラー面の平面度が高いことが挙げられる。しかしながら、表面マイクロマシニング技術によると、最終的に形成されるミラー面が薄いためにミラー面が湾曲し易く、従って、広面積のミラー面において高い平面度を達成するのが困難である。これに対し、バルクマイクロマシニング技術によると、相対的に分厚い材料基板自体をエッチング技術により削り込んでミラー支持部を構成して当該ミラー支持部上にミラー面を設けるため、広面積のミラー面であっても、その剛性を確保することができる。その結果、充分に高い光学的平面度を有するミラー面を形成することが可能である。
図30は、バルクマイクロマシニング技術によって作製される従来のマイクロミラー素子X4の一部省略斜視図である。マイクロミラー素子X4は、上面にミラー面44が設けられたミラー支持部41と、フレーム42(一部省略)と、これらを連結する一対のトーションバー43とを有する。ミラー支持部41には、その一対の端部に櫛歯電極41a,41bが形成されている。フレーム42には、櫛歯電極41a,41bに対応して、内方に延びる一対の櫛歯電極42a,42bが形成されている。一対のトーションバー43は、フレーム42に対するミラー支持部41の揺動動作の軸心A4を規定している。
このような構成のマイクロミラー素子X4においては、静電引力を発生させるために近接して設けられた一組の櫛歯電極、例えば櫛歯電極41aおよび櫛歯電極42aは、電位非付与時には、図31(a)に示すように、2段に分れた配向をとる。一方、所定電位付与時には、図31(b)に示すように、櫛歯電極41aが櫛歯電極42aに引き込まれ、これによりミラー支持部41が回転変位する。より具体的には、例えば、各櫛歯電極41a,42aに所定電位を付与することによって櫛歯電極41aを正に帯電させ且つ櫛歯電極42aを負に帯電させると、櫛歯電極41a,42a間には静電引力が発生し、ミラー支持部41が、一対のトーションバー43を捩りながら軸心A4まわりに揺動動作する。このようなミラー支持部41の揺動駆動により、ミラー支持部41上に設けられたミラー面44により反射される光の反射方向を切り換えることができる。
図32は、マイクロミラー素子X4の製造方法を表す。図32においては、図30に示すミラー支持部41の一部、フレーム42、トーションバー43、および一組の櫛歯電極41a,42aの一部の形成過程を、一の断面の変化として表す。当該一の断面は、加工が施される材料基板(ウエハ)における単一のマイクロスイッチング素子形成区画に含まれる複数の断面を、モデル化して連続断面として表したものである。
マイクロミラー素子X4の製造方法においては、まず、図32(a)に示すような材料基板400を用意する。材料基板400は、いわゆるSOI(Silicon on Insulator)ウエハであり、シリコン層401と、シリコン層402と、これらの間の絶縁層403とからなる積層構造を有する。次に、図32(b)に示すように、シリコン層401に対して所定のマスクを介して異方性エッチング処理を行うことにより、シリコン層401において成形されるべき構造部(ミラー支持部41、フレーム42の一部、トーションバー43、櫛歯電極41a)を形成する。次に、図32(c)に示すように、シリコン層402に対して所定のマスクを介して異方性エッチング処理を行うことにより、シリコン層402において成形されるべき構造部(フレーム42の一部、櫛歯電極42a)を形成する。次に、図32(d)に示すように、絶縁層403に対して等方性エッチングを行うことにより、絶縁層403において露出する箇所を除去する。このようにして、ミラー支持部41、フレーム42、トーションバー43、および一組の櫛歯電極41a,42aが形成される。他組の櫛歯電極41b,42bも櫛歯電極41a,42aと同様にして形成される。
以上のような過程を経て製造されるマイクロミラー素子X4では、ミラー支持部41の回転変位が0°であるとき、図31(a)や図32(d)に示すように一組の櫛歯電極41a,42aは素子の厚さ方向において離隔しているので、各櫛歯電極41a,42aに対して所定電位を付与しても当該櫛歯電極41a,42a間には有効な静電引力が発生しにくく、且つ、一組の櫛歯電極41b,42bは素子の厚さ方向において離隔しているので、各櫛歯電極41b,42bに対して所定電位を付与しても当該櫛歯電極41b,42b間には有効な静電引力が発生しにくい。そのため、櫛歯電極41a,42a間または櫛歯電極41b,42b間に静電引力を発生させて回転変位0°からミラー支持部41を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成することができない場合がある。また、回転変位0°にてミラー支持部41を停止させる際には、停止位置近傍にて静電引力の高精度制御が困難であるので、回転変位0°付近にてミラー支持部41が揺動を繰り返すいわゆる残留振動が発生してしまい、ミラー支持部41は直ちには停止し得ない。このように、マイクロミラー素子X4は、ミラー支持部41(可動機能部)の揺動動作における特に動作開始時および動作停止時の制御性に乏しい。このようなマイクロミラー素子X4は、ミラー支持部41を高速かつ正確に駆動するうえで、困難性を有する。
本発明は、このような事情のもとで考え出されたものであって、可動機能部の揺動動作について制御性に優れたマイクロ揺動素子、および、そのようなマイクロ揺動素子を製造するための方法を提供することを、目的とする。
本発明の第1の側面によるとマイクロ揺動素子が提供される。本マイクロ揺動素子は、フレームと、可動機能部と、フレームおよび可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、揺動動作の駆動力を発生させるための第1櫛歯電極および第2櫛歯電極とを備える。第1櫛歯電極は、電気的に接続された第1導体部および第2導体部ならびに当該第1および第2導体部の間の絶縁部が揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第1電極歯を有する。第2櫛歯電極は、本素子の非駆動時には第1電極歯の第2導体部に対向せずに第1導体部に対向する複数の第2電極歯を有する。この第2電極歯は、揺動動作の方向において第1導体部よりも長い。本発明において、マイクロ揺動素子の非駆動時とは、第1および第2櫛歯電極間に静電引力(駆動力)が発生しておらず、且つ、可動機能部の回転変位が0°である時を意味する。
本マイクロ揺動素子では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1櫛歯電極の第1電極歯の第1導体部と第2櫛歯電極の第2電極歯とは対向し合う。すなわち、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1および第2櫛歯電極は、素子の厚さ方向において重なり合う。また、第1櫛歯電極に所定電位を付与すると、各第1電極歯において互いに電気的に接続されている第1導体部と第2導体部とは同電位となる。したがって、本マイクロ揺動素子では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1および第2櫛歯電極に対して所定電位を付与すると、当該櫛歯電極間には有効な静電引力が発生する。そのため、本マイクロ揺動素子において第1および第2櫛歯電極間に静電引力を発生させて回転変位0°から可動機能部を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成しやすい。一方、回転変位0°にて可動機能部を停止させる際には、停止位置近傍にて静電引力の高精度制御が可能であるので、回転変位0°付近での可動機能部の残留振動を抑制して、可動機能部を早急に停止させやすい。
また、本マイクロ揺動素子の駆動時には、可動機能部の回転変位が0°付近でない場合にも、第1櫛歯電極の第1電極歯と第2櫛歯電極の第2電極歯とは対向し合い、第1および第2櫛歯電極の間には有効な静電引力が発生する。
加えて、本マイクロ揺動素子では、第2櫛歯電極の第2電極歯は揺動動作の方向において第1櫛歯電極の第1電極歯の第1導体部よりも長いところ、このような構成は、可動機能部の揺動動作時において第1および第2櫛歯電極の間の対向面積が変化して有効な静電引力が生じるうえで、好適である。
以上のように、本マイクロ揺動素子は、可動機能部の動作開始および動作停止をも含む全揺動動作について制御性に優れる。このようなマイクロ揺動素子は、可動機能部を高速かつ正確に駆動するうえで、好適である。
好ましい実施の形態においては、フレームは、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の絶縁層とからなる積層構造を有する多層部位を含み、第1櫛歯電極はフレームの多層部位に固定され、第1電極歯の第1導体部は第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1電極歯の第2導体部は第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1および第2導体層は、絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている。このような構成によると、第1櫛歯電極の第1および第2導体部を適切に電気的に接続することができる。
他の好ましい実施の形態においては、可動機能部は、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の絶縁層とからなる積層構造を有する多層部位を含み、第1櫛歯電極は可動機能部の多層部位に固定され、第1電極歯の第1導体部は第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1電極歯の第2導体部は第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1および第2導体層は、絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている。このような構成によると、第1櫛歯電極の第1および第2導体部を適切に電気的に接続することができる。
本発明の第2の側面によると別のマイクロ揺動素子が提供される。本マイクロ揺動素子は、フレームと、可動機能部と、フレームおよび可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、揺動動作の駆動力を発生させるための第1櫛歯電極および第2櫛歯電極とを備える。第1櫛歯電極は、電気的に接続された第1導体部および第2導体部ならびに当該第1および第2導体部の間の絶縁部が揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第1電極歯を有する。第2櫛歯電極は、電気的に接続された第3導体部および第4導体部ならびに当該第3および第4導体部の間の絶縁部が揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第2電極歯を有する。本素子の非駆動時には、第1電極歯の第2導体部は第2電極歯に対向せず、第1電極歯の第1導体部は、第2電極歯の第4導体部に対向せずに第3導体部に対向する。
本マイクロ揺動素子では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1櫛歯電極の第1電極歯の第1導体部と第2櫛歯電極の第2電極歯の第3導体部とは対向し合う。すなわち、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1および第2櫛歯電極は、素子の厚さ方向において重なり合う。また、第1櫛歯電極に所定電位を付与すると、各第1電極歯において互いに電気的に接続されている第1導体部と第2導体部とは同電位となり、且つ、第2櫛歯電極に所定電位を付与すると、各第2電極歯において互いに電気的に接続されている第3導体部と第4導体部とは同電位となる。したがって、本マイクロ揺動素子では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、第1および第2櫛歯電極に対して所定電位を付与すると、当該櫛歯電極間には有効な静電引力が発生する。そのため、本マイクロ揺動素子において第1および第2櫛歯電極間に静電引力を発生させて回転変位0°から可動機能部を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成しやすい。一方、回転変位0°にて可動機能部を停止させる際には、停止位置近傍にて静電引力の高精度制御が可能であるので、回転変位0°付近での可動機能部の残留振動を抑制して、可動機能部を早急に停止させやすい。
また、本マイクロ揺動素子の駆動時には、可動機能部の回転変位が0°付近でない場合にも、第1櫛歯電極の第1電極歯と第2櫛歯電極の第2電極歯とは対向し合い、第1および第2櫛歯電極の間には有効な静電引力が発生する。
加えて、本マイクロ揺動素子では、第1櫛歯電極ないし第1電極歯と、第2櫛歯電極ないし第2電極歯とは、揺動動作の方向において位置ずれしているところ、このような構成は、可動機能部の揺動動作時において第1および第2櫛歯電極の間の対向面積が変化して有効な静電引力が生じるうえで、好適である。
以上のように、本マイクロ揺動素子は、可動機能部の動作開始および動作停止をも含む全揺動動作について制御性に優れる。このようなマイクロ揺動素子は、可動機能部を高速かつ正確に駆動するうえで、好適である。
本発明の第2の側面において、好ましくは、フレームは、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の第1絶縁層とからなる積層構造を有する第1多層部位を含み、可動機能部は、第3導体層と、第4導体層と、当該第3および第4導体層の間の第2絶縁層とからなる積層構造を有する第2多層部位を含み、第1櫛歯電極はフレームの第1多層部位に固定され、第1櫛歯電極は可動機能部の第2多層部位に固定され、第1電極歯の第1導体部は第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1電極歯の第2導体部は第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、第1および第2導体層は、第1絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続され、第2電極歯の第3導体部は第3導体層と連続し且つ電気的に接続され、第2電極歯の第4導体部は第4導体層と連続し且つ電気的に接続され、第3および第4導体層は、第2絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている。このような構成によると、第1櫛歯電極の第1導体部および第2導体部を適切に電気的に接続することができ、且つ、第2櫛歯電極の第3導体部および第4導体部を適切に電気的に接続することができる。
本発明の第3の側面によると、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間に介在する絶縁層とを含む積層構造を有する材料基板に対して加工を施すことにより、フレームと、可動機能部と、当該フレームおよび可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、揺動動作の駆動力を発生させるための第1櫛歯電極および第2櫛歯電極と、を備えるマイクロ揺動素子を製造するための方法が提供される。本方法は、第1櫛歯電極用第1マスク部を含んで第1導体層上に形成された第1マスクパターン、および、第2櫛歯電極用マスク部を含んで第1導体層上に形成された第2マスクパターンを介し、第1導体層に対して当該第1導体層の厚さ方向の途中までエッチング処理を施す、第1エッチング工程と、第1マスクパターンを除去する工程と、第1導体層において第1櫛歯電極の第1導体部および第2櫛歯電極が絶縁層に接して残存形成されるように、第1導体層に対して第2マスクパターンを介してエッチング処理を施す、第2エッチング工程と、第2導体層において第1櫛歯電極の第2導体部が絶縁層に接して残存形成されるように、第1櫛歯電極用第2マスク部を含んで第2導体層上に形成された第3マスクパターンを介して第2導体層に対してエッチング処理を施す、第3エッチング工程と、第1櫛歯電極の第1および第2導体部の間に介在する絶縁部が絶縁層において残存形成されるように、絶縁層に対してエッチング処理を施す、第4エッチング工程と、を含む。このような方法によると、本発明の第1の側面に係るマイクロ揺動素子を適切に製造することができる。本発明においては、各エッチング工程を、単一のエッチング処理で行ってもよいし、複数段階にわたるエッチング処理で行ってもよい。
本発明の第3の側面における好ましい実施の形態では、第1マスクパターンは捩れ連結部用マスク部を含み、第2エッチング工程では、第1導体層において捩れ連結部も絶縁層に接して残存形成される。このような構成によると、材料基板の厚さ方向(素子の厚さ方向)の寸法が第2電極歯よりも短い捩れ連結部を適切に形成することができる。
本発明の第3の側面における他の好ましい実施の形態では、第2導体層には、捩れ連結部用マスク部を含む第4マスクパターンが絶縁層から離隔して埋め込まれており、第3エッチング工程では、第2導体層において捩れ連結部も絶縁層に接して残存形成される。第4マスクパターンの絶縁層からの離隔距離は、形成される捩れ連結部の、材料基板の厚さ方向における寸法に相当する。このような構成によると、材料基板の厚さ方向(素子の厚さ方向)の寸法が第1電極歯よりも短い捩れ連結部を適切に形成することができる。
図1から図5は、本発明の第1の実施形態に係るマイクロミラー素子X1を表す。図1および図2は、各々、マイクロミラー素子X1の正面図および裏面図である。図3から図5は、各々、図1の線III−III、線IV-IV、および線V-Vに沿った断面図である。
マイクロミラー素子X1は、ミラー支持部11と、フレーム12と、捩れ連結部13と、櫛歯電極14,15,16,17とを備え、MEMS技術の一種であるバルクマイクロマシニング技術などにより、SOIウエハである材料基板に対して加工を施すことによって製造されたものである。当該材料基板は、第1および第2シリコン層ならびに当該シリコン層間の絶縁層よりなる積層構造を有し、各シリコン層は、不純物のドープにより所定の導電性が付与されている。マイクロミラー素子X1における上記の各部位は主に第1シリコン層および/または第2シリコン層に由来して形成されるところ、図の明確化の観点より、図1においては、第1シリコン層に由来して絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表し、図2においては、第2シリコン層に由来して絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表す。
ミラー支持部11は、第1シリコン層に由来する部位であり、その表面には、光反射機能を有するミラー面11aが設けられている。ミラー面11aは、例えば、第1シリコン層上に成膜されたCr層およびその上のAu層よりなる積層構造を有する。このようなミラー支持部11およびミラー面11aは、本発明における可動機能部を構成する。また、ミラー支持部11ないし可動機能部について図4に示す長さL1は、例えば20〜300μmである。
フレーム12は、主に第1および第2シリコン層に由来する部位であり、図1および図2に示すように、ミラー支持部11を囲む形状を有する。また、フレーム12の第1シリコン層由来部位は、図1および図3に示すように、主部12Aと、これから離隔するアイランド部12a,12bとを有する。図1に示すように、主部12A上には電極パッド18Aが設けられている。図2に示すように、フレーム12の第2シリコン層由来部位上には電極パッド18B,18Cが設けられている。フレーム12の第2シリコン層由来部位において、電極パッド18Bが設けられている箇所と、電極パッド18Cが設けられている箇所とは、構造的にも電気的にも分離されている。また、図3に示すように、フレーム12において、アイランド部12aと、絶縁層由来部位(図3において、主部12Aやアイランド部12a,12bの直下にて斜線ハッチングを付されて表されている部位)の一部と、第2シリコン層由来部位とは、一の多層部位を構成し、アイランド部12bと、絶縁層由来部位の一部と、第2シリコン層由来部位の一部とは、他の多層部位を構成する。これら多層部位において、アイランド部12aは、フレーム12の絶縁層由来部位を貫通する導電プラグ19Aを介してフレーム12の第2シリコン層由来部位と電気的に接続されており、アイランド部12bは、フレーム12の絶縁層由来部位を貫通する導電プラグ19Bを介してフレーム12の第2シリコン層由来部位と電気的に接続されている。このようなフレーム12について図4に示す長さL2は、例えば5〜50μmである。
捩れ連結部13は、一対のトーションバー13aからなる。各トーションバー13aは、第1シリコン層に由来する部位であり、フレーム12の主部12Aとミラー支持部11とに接続してこれらを連結する。トーションバー13aにより、フレーム12の主部12Aとミラー支持部11とは電気的に接続される。また、図4に示すように、本実施形態では、トーションバー13aは、素子厚さ方向Hにおいてミラー支持部11およびフレーム12の主部12Aよりも薄肉である。これに代えて、トーションバー13aは、素子厚さ方向Hにおいてミラー支持部11およびフレーム12の主部12Aと同一の厚さを有してもよい。このような捩れ連結部13ないし一対のトーションバー13aは、ミラー支持部11ないし可動機能部の揺動動作の揺動軸心A1を規定する。このような揺動軸心A1は、好ましくは、ミラー支持部11または可動機能部の重心またはその近傍を通る。
櫛歯電極14は、第1シリコン層に由来する複数の電極歯14Aからなる。複数の電極歯14Aは、図1および図2に示すように、ミラー支持部11から各々が延出し、相互に平行である。櫛歯電極15は、第1シリコン層に由来する複数の電極歯15Aからなる。複数の電極歯15Aは、電極歯14Aとは反対の側にミラー支持部11から各々が延出し、相互に平行である。好ましくは、電極歯14A,15Aの延び方向と揺動軸心A1の延び方向とは直交する。このような櫛歯電極14ないし電極歯14Aと櫛歯電極15ないし電極歯15Aとは、ミラー支持部11を介して電気的に接続されている。
櫛歯電極16は、櫛歯電極14と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、複数の電極歯16Aからなる。複数の電極歯16Aは、フレーム12から各々が延出し、相互に平行である。また、各電極歯16Aは、図3および図5に示すように、第1シリコン層に由来する導体部16aと、第2シリコン層に由来する導体部16bと、絶縁層に由来して導体部16a,16bの間に介在する絶縁部16cとからなる積層構造を有する。これら導体部16a,16bおよび絶縁部16cは、可動機能部の揺動動作の方向に連なっている。導体部16aは、フレーム12のアイランド部12aと連続し且つ電気的に接続されている。導体部16bは、フレーム12の第2シリコン層由来部位と連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部16aおよび導体部16bは、上述のアイランド部12a、導電プラグ19A、およびフレーム12の第2シリコン層由来部位を介して電気的に接続されている。また、絶縁部16cは、フレーム12の絶縁層由来部位と連続する。
このような櫛歯電極16は、櫛歯電極14と共に駆動機構を構成する。図1および図2に表れているように、櫛歯電極14の各電極歯14Aの延び方向と、櫛歯電極16の各電極歯16Aの延び方向とは、平行である。図1、図2、および図5に表れているように、櫛歯電極14,16は、ミラー支持部11ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯14A,16Aが位置ずれした態様で配されている。また、マイクロミラー素子X1の非駆動時には、図3および図5に表れているように、電極歯14Aは、電極歯16Aの導体部16bに対向せずに導体部16aに対向する。すなわち、櫛歯電極14ないし電極歯14Aと櫛歯電極16ないし電極歯16Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、電極歯14Aは、素子厚さ方向Hにおいて、電極歯16Aの導体部16aよりも長い。
櫛歯電極17は、櫛歯電極15と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、複数の電極歯17Aからなる。複数の電極歯17Aは、フレーム12から各々が延出し、図1および図2に示すように相互に平行である。また、各電極歯17Aは、図3に示すように、第1シリコン層に由来する導体部17aと、第2シリコン層に由来する導体部17bと、絶縁層に由来して導体部17a,17bの間に介在する絶縁部17cとからなる積層構造を有する。これら導体部17a,17bおよび絶縁部17cは、可動機能部の揺動動作の方向に連なっている。導体部17aは、フレーム12のアイランド部12bと連続し且つ電気的に接続されている。導体部17bは、フレーム12の第2シリコン層由来部位と連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部17aおよび導体部17bは、上述のアイランド部12b、導電プラグ19B、およびフレーム12の第2シリコン層由来部位を介して電気的に接続されている。また、絶縁部17cは、フレーム12の絶縁層由来部位と連続する。
このような櫛歯電極17は、櫛歯電極15と共に駆動機構を構成する。図1および図2に表れているように、櫛歯電極15の各電極歯15Aの延び方向と、櫛歯電極17の各電極歯17Aの延び方向とは、平行である。櫛歯電極15,17は、ミラー支持部11ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯15A,17Aが位置ずれした態様で配されている。また、マイクロミラー素子X1の非駆動時には、図3に表れているように、電極歯15Aは、電極歯17Aの導体部17bに対向せずに導体部17aに対向する。すなわち、櫛歯電極15ないし電極歯15Aと櫛歯電極17ないし電極歯17Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、電極歯15Aは、素子厚さ方向Hにおいて、電極歯17Aの導体部17aよりも長い。
図6から図8は、マイクロミラー素子X1の製造方法の一例を表す。この方法は、バルクマイクロマシニング技術によりマイクロミラー素子X1を製造するための一手法である。図6から図8においては、図8(c)に示すミラー支持部M、フレームF1,F2、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2の形成過程を、一の断面の変化として表す。当該一の断面は、加工が施される材料基板(多層構造を有するウエハ)における単一のマイクロミラー素子形成区画に含まれる複数の所定箇所の断面を、モデル化して連続断面として表したものである。ミラー支持部Mは、ミラー支持部11の一部に相当する。フレームF1,F2は、各々、フレーム12に相当し、フレーム12の所定箇所の横断面を表す。トーションバーT1は、トーションバー13aに相当し、トーションバー13aの横断面を表す。トーションバーT2は、トーションバー13aに相当し、トーションバー13aの延び方向の断面を表す。櫛歯電極E1は、櫛歯電極14,15の一部に相当し、電極歯14A,15Aの横断面を表す。櫛歯電極E2は、櫛歯電極16,17の一部に相当し、電極歯16A,17Aの横断面を表す。
マイクロミラー素子X1の製造においては、まず、図6(a)に示すような材料基板100を用意する。材料基板100は、シリコン層101,102と、当該シリコン層101,102間の絶縁層103とからなる積層構造を有するSOIウエハである。シリコン層101,102は、不純物をドープすることにより導電性を付与されたシリコン材料よりなる。不純物としては、Bなどのp型不純物や、PおよびSbなどのn型不純物を採用することができる。絶縁層103は例えば酸化シリコンよりなる。シリコン層101の厚さは例えば20〜100μmであり、シリコン層102の厚さは例えば100〜600μmであり、絶縁層103の厚さは例えば0.5〜5μmである。
次に、図6(b)に示すように、シリコン層101および絶縁層103を貫通するホールH1を形成する。ホールH1の形成においては、まず、DRIE(deep reactive ion etching)により、所定のマスクを介してシリコン層101に対して絶縁層103に至るまで異方性エッチング処理を行い、シリコン層101において所定のホールを形成する。DRIEでは、例えば、エッチングと側壁保護とを交互に行うBoschプロセスにおいて、良好な異方性エッチング処理を行うことができる。後出のDRIEについても、このようなBoschプロセスを採用することができる。次に、絶縁層103にて当該所定のホールに露出する箇所を、例えばウェットエッチングにより除去する。このようにし、シリコン層101に加えて絶縁層103を貫通するホールH1を形成することができる。
マイクロミラー素子X1の製造においては、次に、図6(c)に示すように、例えばCVD法により、ホールH1の内部に導電材料19’を堆積させる。このとき、シリコン層101上にも堆積するまで、充分量の導電材料19’をホールH1に供給する。導電材料19’としては、所定の不純物をドープさせたポリシリコン、または、CuやWなどの金属を、採用することができる。導電材料19’とシリコン層101との良好な電気的接続を確保するうえでは、導電材料19’を堆積させる直前に、ホールH1の表面における自然酸化膜を、フッ酸などを作用させることにより除去しておくのが好ましい。
次に、図6(d)に示すように、シリコン層101の表面を露出させる。例えば、研磨法により、ホールH1外の導電材料19’を研磨して除去する。本工程にて、導電プラグ19が残存形成されることとなる。導電プラグ19は、上述の導電プラグ19A,19Bに相当する。本工程を経た材料基板においては、シリコン層101とシリコン層102とは、導電プラグ19を介して電気的に接続している。
マイクロミラー素子X1の製造においては、次に、図7(a)に示すように、シリコン層101,102上にミラー面11aおよび電極パッド18を形成する。シリコン層101上のミラー面11aおよび電極パッド18の形成においては、まず、スパッタリング法により、シリコン層101に対して例えばCr(50nm)およびこれに続いてAu(200nm)を成膜する。次に、所定のマスクを介してこれら金属膜に対してエッチング処理を順次行うことにより、ミラー面11aおよび電極パッド18をパターン形成する。Auに対するエッチング液としては、例えば、ヨウ化カリウム−ヨウ素水溶液を使用することができる。Crに対するエッチング液としては、例えば硝酸第二セリウムアンモニウム水溶液を使用することができる。シリコン層102上の電極パッド18の形成手法は、シリコン層101上のミラー面11aおよび電極パッド18の形成手法と同様である。シリコン層101上の電極パッド18は、上述の電極パッド18Aに相当し、シリコン層102上の電極パッド18は、上述の電極パッド18B,18Cに相当する。
マイクロミラー素子X1の製造においては、次に、図7(b)に示すように、シリコン層101上に酸化膜パターン110を形成し且つその後にレジストパターン111を形成し、また、シリコン層102上に酸化膜パターン112を形成する。酸化膜パターン110は、ミラー支持部M(ミラー支持部11)、フレームF1,F2(フレーム12)、および櫛歯電極E1(櫛歯電極14,15)に対応するパターン形状を有する。レジストパターン111は、トーションバーT1,T2(トーションバー13a)および櫛歯電極E2(櫛歯電極16,17)に対応するパターン形状を有する。酸化膜パターン112は、フレームF1,F2(フレーム12)および櫛歯電極E2(櫛歯電極16,17)に対応するパターン形状を有する。酸化膜パターン110の形成においては、まず、CVD法により、シリコン層101の表面に、厚さが例えば1μmとなるまで例えば二酸化ケイ素を成膜する。次に、シリコン層101上の当該酸化膜について、所定のレジストパターンをマスクとしたエッチングによりパターニングする。酸化膜パターン112および後出の酸化膜パターンについても、酸化物材料の成膜、酸化膜上のレジストパターンの形成、およびその後のエッチング処理、を経て形成される。一方、レジストパターン111の形成においては、まず、シリコン層101上に液状のフォトレジストをスピンコーティングにより成膜する。次に、露光処理およびその後の現像処理を経て、当該フォトレジスト膜をパターニングする。フォトレジストとしては、例えば、AZP4210(クラリアントジャパン製)やAZ1500(クラリアントジャパン製)を使用することができる。前出および後出のレジストパターンについても、このようなフォトレジストの成膜ならびにその後の露光処理および現象処理を経て、形成することができる。
次に、図7(c)に示すように、酸化膜パターン110およびレジストパターン111をマスクとして、DRIEにより、シリコン層101に対し所定の深さまで異方性エッチング処理を行う。所定の深さとは、トーションバーT1,T2の厚さに相当し、例えば5μmである。
次に、図7(d)に示すように、剥離液を作用させることにより、レジストパターン111を剥離する。剥離液としては、例えばAZリムーバ700(クラリアントジャパン製)を使用することができる。
次に、図8(a)に示すように、酸化膜パターン110をマスクとして、DRIEにより、トーションバーT1,T2を残存形成しつつシリコン層101に対して絶縁層103に至るまで異方性エッチング処理を行う。本エッチング処理により、ミラー支持部M(ミラー支持部11)、櫛歯電極E1(櫛歯電極14,15)、トーションバーT1,T2(トーションバー13a)、およびフレームF1,F2(フレーム12)の一部が、成形される。
次に、図8(b)に示すように、酸化膜パターン112をマスクとして、DRIEにより、シリコン層102に対して絶縁層103に至るまで異方性エッチング処理を行う。本エッチング処理により、フレームF1,F2(フレーム12)の一部および櫛歯電極E2(櫛歯電極16,17)が成形される。
次に、図8(c)に示すように、絶縁層103において露出している箇所、および酸化膜パターン110,112を、エッチング除去する。エッチング手法としては、ドライエッチングまたはウエットエッチングを採用することができる。ドライエッチングを採用する場合、エッチングガスとしては、例えば、CF4やCHF3などを採用することができる。ウエットエッチングを採用する場合、エッチング液としては、例えば、フッ酸とフッ化アンモニウムからなるバッファードフッ酸(BHF)を使用することができる。
以上の一連の工程を経ることにより、ミラー支持部M、フレームF1,F2、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2を成形してマイクロミラー素子X1を製造することができる。
マイクロミラー素子X1においては、櫛歯電極14,15,16,17に対して必要に応じて所定の電位を付与することにより、ミラー支持部11ないし可動機能部を揺動軸心A1まわりに揺動動作させることができる。櫛歯電極14,15に対する電位付与は、電極パッド18A、フレーム12の主部12A、捩れ連結部13(両トーションバー13a)、およびミラー支持部11を介して、実現することができる。櫛歯電極14,15は、例えばグラウンド接続される。一方、櫛歯電極16に対する電位付与は、電極パッド18Bおよびフレーム12の第2シリコン層由来部位、更には導電プラグ19Aおよびアイランド部12aを介して、実現することができる。櫛歯電極17に対する電位付与は、電極パッド18Cおよびフレーム12の第2シリコン層由来部位、更には導電プラグ19Bおよびアイランド部12bを介して、実現することができる。フレーム12の第2シリコン層由来部位において電極パッド18Bが接合する箇所と電極パッド18Cが接合する箇所とは、上述のように電気的に分離されている。したがって、櫛歯電極16,17に対する電位付与は独立して行うことができる。
櫛歯電極14,16の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極14,16間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極14は櫛歯電極16に引き込まれる。そのため、ミラー支持部11ないし可動機能部は、揺動軸心A1まわりに揺動動作し、例えば図9に示すように、当該静電引力と各トーションバー13aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極14,16への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極14,16間の静電引力を消滅させると、各トーションバー13aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部11ないし可動機能部は、図3に示す姿勢をとる。
一方、櫛歯電極15,17の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極15,17間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極15は櫛歯電極17に引き込まれる。そのため、ミラー支持部11ないし可動機能部は、揺動軸心A1まわりに揺動動作し、当該静電引力と各トーションバー13aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極15,17への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極15,17間の静電引力を消滅させると、各トーションバー13aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部11ないし可動機能部は、図3に示す姿勢をとる。
以上のようなミラー支持部11ないし可動機能部の揺動駆動により、ミラー支持部11上に設けられたミラー面11aにて反射される光の反射方向を適宜切り換えることができる。
マイクロミラー素子X1では、可動機能部(ミラー支持部11,ミラー面11a)の回転変位が図3に示すように0°であるときであっても、櫛歯電極16の各電極歯16Aの導体部16aと櫛歯電極14の各電極歯14Aとは対向し合い、櫛歯電極17の各電極歯17Aの導体部17aと櫛歯電極15の各電極歯15Aとは対向し合う。すなわち、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極14,16は素子厚さ方向Hにおいて重なり合い、且つ、櫛歯電極15,17は素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、櫛歯電極16に所定電位を付与すると、各電極歯16Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部16aと導体部16bとは同電位となり、櫛歯電極17に所定電位を付与すると、各電極歯17Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部17aと導体部17bとは同電位となる。したがって、マイクロミラー素子X1では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極14,16に対して所定電位を付与すると櫛歯電極14,16間には有効な静電引力が発生し、櫛歯電極15,17に対して所定電位を付与すると櫛歯電極15,17間には有効な静電引力が発生する。そのため、マイクロミラー素子X1において櫛歯電極14,16間または櫛歯電極15,17間に静電引力を発生させて回転変位0°から可動機能部を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成しやすい。一方、回転変位0°にて可動機能部を停止させる際には、停止位置近傍にて櫛歯電極14,16間または櫛歯電極15,17間の静電引力の高精度制御が可能であるので、回転変位0°付近での可動機能部の残留振動を抑制して、可動機能部を早急に停止させやすい。
また、マイクロミラー素子X1の駆動時において可動機能部の回転変位が0°付近でない場合には、櫛歯電極14の各電極歯14Aは、櫛歯電極16の導体部16aのみならず導体部16bとも対向し合って櫛歯電極14,16間には有効な静電引力が発生するか、或は、櫛歯電極15の各電極歯15Aは、櫛歯電極17の導体部17aのみならず導体部17bとも対向し合って櫛歯電極15,17間には有効な静電引力が発生する。
加えて、マイクロミラー素子X1では、櫛歯電極14の電極歯14Aは、揺動動作の方向において櫛歯電極16の電極歯16Aの導体部16aよりも長く、且つ、櫛歯電極15の電極歯15Aは、揺動動作の方向において櫛歯電極17の電極歯17Aの導体部17aよりも長いところ、このような構成は、可動機能部の揺動動作時において櫛歯電極14,16間または櫛歯電極15,17間の対向面積が変化して有効な静電引力が生じるうえで、好適である。
以上のように、マイクロミラー素子X1は、可動機能部の動作開始および動作停止をも含む全揺動動作について制御性に優れる。このようなマイクロミラー素子X1は、可動機能部を高速かつ正確に駆動するうえで、好適である。
また、上述のマイクロミラー素子X1の製造方法によると、櫛歯電極14ないし電極歯14Aと櫛歯電極16ないし電極歯16Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法、および、櫛歯電極15ないし電極歯15Aと櫛歯電極17ないし電極歯17Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法を、高精度に制御することができる。図8(a)を参照して上述したエッチング工程において、エッチングストップ層として機能する絶縁層103を利用して櫛歯電極E1(櫛歯電極14,15)を成形することにより、素子厚さ方向Hの寸法について櫛歯電極E1(櫛歯電極14,15)を高精度に形成することができるからである。
図10から図14は、本発明の第2の実施形態に係るマイクロミラー素子X2を表す。図10および図11は、各々、マイクロミラー素子X2の正面図および裏面図である。図12から図14は、各々、図10の線XII−XII、線XIII−XIII、および線XIV−XIVに沿った断面図である。
マイクロミラー素子X2は、ミラー支持部21と、フレーム22と、捩れ連結部23と、櫛歯電極24,25,26,27とを備え、MEMS技術の一種であるバルクマイクロマシニング技術などにより、SOIウエハである材料基板に対して加工を施すことによって製造されたものである。当該材料基板は、第1および第2シリコン層ならびに当該シリコン層間の絶縁層よりなる積層構造を有し、各シリコン層は、不純物のドープにより所定の導電性が付与されている。マイクロミラー素子X2における上記の各部位は主に第1シリコン層および/または第2シリコン層に由来して形成されるところ、図の明確化の観点より、図10においては、第1シリコン層に由来して絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表し、図11においては、第2シリコン層に由来して絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表す。
ミラー支持部21は、図12によく表れているように、第1シリコン層に由来する第1構造部21aと、第2シリコン層に由来する第2構造部21bと、絶縁層に由来して第1構造部21aおよび第2構造部21bの間に介在する絶縁膜21cとからなる。第1構造部21aおよび第2構造部21bは、図13に示すように、絶縁膜21cを貫通する導電連絡部28Aを介して電気的に接続されている。また、第1構造部21a上には、光反射機能を有するミラー面21dが設けられている。ミラー面21dは、例えば、第1シリコン層上に成膜されたCr層およびその上のAu層よりなる積層構造を有する。このようなミラー支持部21およびミラー面21dは、本発明における可動機能部を構成する。
フレーム22は、主に第1および第2シリコン層に由来する部位であり、図10および図11に示すように、ミラー支持部21を囲む形状を有する。また、フレーム22の第2シリコン層由来部位は、図11および図12に示すように、主部22Aと、これから離隔するアイランド部22a,22b,22cとを有する。アイランド部22a,22b,22c上には、各々、電極パッド29A,29B,29Cが設けられている。また、図13に示すように、フレーム22の第1シリコン層由来部位とアイランド部22cとは、フレーム22の絶縁層由来部位(図13において、主部22Aやアイランド部22cの直上にて斜線ハッチングを付されて表されている部位)を貫通する導電連絡部28Bを介して電気的に接続されている。
捩れ連結部23は、一対のトーションバー23aからなる。各トーションバー23aは、第1シリコン層に由来する部位であり、ミラー支持部21の第1構造部21aとフレーム22の第1シリコン層由来部位とに接続してミラー支持部21およびフレーム22を連結する。トーションバー23aにより、ミラー支持部21の第1構造部21aとフレーム22の第1シリコン層由来部位とは電気的に接続される。また、図13に示すように、本実施形態では、トーションバー23aは、素子厚さ方向Hにおいてミラー支持部21の第1構造部21aおよびフレーム22の第1シリコン層由来部位よりも薄肉である。これに代えて、トーションバー23aは、素子厚さ方向Hにおいてミラー支持部21およびフレーム22の第1シリコン層由来部位と同一の厚さを有してもよい。このような捩れ連結部23ないし一対のトーションバー23aは、ミラー支持部21ないし可動機能部の揺動動作の揺動軸心A2を規定する。このような揺動軸心A2は、好ましくは、ミラー支持部21または可動機能部の重心またはその近傍を通る。
櫛歯電極24は、複数の電極歯24Aからなる。複数の電極歯24Aは、図10および図11に示すように、ミラー支持部21から各々が延出し、相互に平行である。好ましくは、電極歯24Aの延び方向と揺動軸心A2の延び方向とは直交する。また、各電極歯24Aは、図12および図14に示すように、第1シリコン層に由来する導体部24aと、第2シリコン層に由来する導体部24bと、絶縁層に由来して導体部24a,24bの間に介在する絶縁部24cとからなる積層構造を有する。これら導体部24a,24bおよび絶縁部24cは、可動機能部の揺動動作の方向に連なっている。導体部24aは、ミラー支持部21の第1構造部21aと連続し且つ電気的に接続されている。導体部24bは、ミラー支持部21の第2構造部21bと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部24aおよび導体部24bは、ミラー支持部21における第1構造部21a、導電連絡部28A、および第2構造部21bを介して電気的に接続されている。また、絶縁部24cは、ミラー支持部21の絶縁膜21cと連続する。
櫛歯電極25は、複数の電極歯25Aからなる。複数の電極歯25Aは、図10および図11に示すように、電極歯24Aとは反対の側にミラー支持部21から各々が延出し、相互に平行である。好ましくは、電極歯25Aの延び方向と揺動軸心A2の延び方向とは直交する。また、各電極歯25Aは、図12に示すように、第1シリコン層に由来する導体部25aと、第2シリコン層に由来する導体部25bと、絶縁層に由来して導体部25a,25bの間に介在する絶縁部25cとからなる積層構造を有する。導体部25aは、ミラー支持部21の第1構造部21aと連続し且つ電気的に接続されている。導体部25bは、ミラー支持部21の第2構造部21bと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部25aおよび導体部25bは、ミラー支持部21における第1構造部21a、導電連絡部28A、および第2構造部21bを介して電気的に接続されている。また、絶縁部25cは、ミラー支持部21の絶縁膜21cと連続する。このような櫛歯電極25ないし電極歯25Aと、櫛歯電極24ないし電極歯24Aとは、ミラー支持部21を介して電気的に接続されている。
櫛歯電極26は、櫛歯電極24と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、第2シリコン層に由来する複数の電極歯26Aからなる。複数の電極歯26Aは、図11および図12に示すように、フレーム22のアイランド部22aから各々が延出し、相互に平行である。
このような櫛歯電極26は、櫛歯電極24と共に駆動機構を構成する。図10および図11に表れているように、櫛歯電極24の各電極歯24Aの延び方向と、櫛歯電極26の各電極歯26Aの延び方向とは、平行である。図10、図11、および図14に表れているように、櫛歯電極24,26は、ミラー支持部21ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯24A,26Aが位置ずれした態様で配されている。マイクロミラー素子X2の非駆動時には、図12および図14に表れているように、電極歯26Aは、電極歯24Aの導体部24aに対向せずに導体部24bに対向する。すなわち、櫛歯電極24ないし電極歯24Aと櫛歯電極26ないし電極歯26Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、電極歯26Aは、素子厚さ方向Hにおいて、電極歯24Aの導体部24bよりも長い。
櫛歯電極27は、櫛歯電極25と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、第2シリコン層に由来する複数の電極歯27Aからなる。複数の電極歯27Aは、図11および図12に示すように、フレーム22のアイランド部22bから各々が延出し、相互に平行である。
このような櫛歯電極27は、櫛歯電極25と共に駆動機構を構成する。図10および図11に表れているように、櫛歯電極25の各電極歯25Aの延び方向と、櫛歯電極27の各電極歯27Aの延び方向とは、平行である。櫛歯電極25,27は、ミラー支持部21ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯25A,27Aが位置ずれした態様で配されている。マイクロミラー素子X2の非駆動時には、図12および図14に表れているように、電極歯27Aは、電極歯25Aの導体部25aに対向せずに導体部25bに対向する。すなわち、櫛歯電極25ないし電極歯25Aと櫛歯電極27ないし電極歯27Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、電極歯27Aは、素子厚さ方向Hにおいて、電極歯25Aの導体部25bよりも長い。
図15から図17は、マイクロミラー素子X2の製造方法の一例を表す。この方法は、バルクマイクロマシニング技術によりマイクロミラー素子X2を製造するための一手法である。図15から図17においては、図17(d)に示すミラー支持部M、フレームF1,F2、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2の形成過程を、一の断面の変化として表す。当該一の断面は、加工が施される材料基板(多層構造を有するウエハ)における単一のマイクロミラー素子形成区画に含まれる複数の所定箇所の断面を、モデル化して連続断面として表したものである。ミラー支持部Mは、ミラー支持部21の一部に相当する。フレームF1,F2は、各々、フレーム22に相当し、フレーム22の所定箇所の横断面を表す。トーションバーT1は、トーションバー23aに相当し、トーションバー23aの横断面を表す。トーションバーT2は、トーションバー23aに相当し、トーションバー23aの延び方向の断面を表す。櫛歯電極E1は、櫛歯電極24,25の一部に相当し、電極歯24A,25Aの横断面を表す。櫛歯電極E2は、櫛歯電極26,27の一部に相当し、電極歯26A,27Aの横断面を表す。
マイクロミラー素子X2の製造においては、まず、図15(a)に示すように、シリコン基板200の上に酸化膜パターン201を形成する。本実施形態では、シリコン基板200は、PやSbをドープすることによって導電性が付与されたシリコンよりなるウエハであり、例えば200μmの厚みを有する。酸化膜パターン201は、導電連絡部形成用の開口部201aを有する。
次に、例えばCVD法により、酸化膜パターン201の上方からシリコン基板200に対してポリシリコンを供給することによって、図15(b)に示すように、開口部201a内に導電連絡部28を形成し、且つ、酸化膜パターン201上にポリシリコン層202を形成する。ポリシリコン層202の成長端面には凹凸が生じるので、ポリシリコン成膜後には、CMP法によりポリシリコン層202の露出面を研磨して平坦化するのが望ましい。導電連絡部28およびポリシリコン層202は、CVD時にポリシリコンにPをドープすることによって導電性が付与される。導電連絡部28は、上述の導電連絡部28A,28Bに相当する。ポリシリコン層202は、形成すべきトーションバーT1,T2の厚さに相当する厚さ(例えば5μm)を有する。本工程を経た材料基板においては、シリコン基板200とポリシリコン層202とは、導電連絡部28を介して電気的に接続している。
次に、図15(c)に示すように、ポリシリコン層202上に酸化膜パターン203を形成する。酸化膜パターン203は、トーションバーT1,T2に対応するパターン形状を有する。
次に、例えばCVD法により、酸化膜パターン203の上方からシリコン基板200に対して更にポリシリコンを供給することによって、図15(d)に示すように、ポリシリコン層202内に酸化膜パターン203を埋め込む。
次に、図15(e)に示すように、エピタキシャル成長法により、ポリシリコン層203上にポリシリコン層204を形成する。本実施形態では、ポリシリコン層204は、エピタキシャル成長時にポリシリコンにPをドープすることによって導電性が付与されており、ポリシリコン層203の表面から約100μmの厚みを有する。本工程では、ポリシリコン層204の表面には、比較的大きな凹凸が形成されてしまう。
次に、図16(a)に示すように、ポリシリコン層204の表面を研削およびそれに続いて鏡面研磨する。これにより、酸化膜パターン201上のポリシリコン層203およびポリシリコン層204の総厚を例えば60μmとする。
次に、図16(b)に示すように、ポリシリコン層204上にミラー面21dを形成し、シリコン基板200上に電極パッド29を形成する。ポリシリコン層204上のミラー面21dの形成においては、まず、スパッタリング法により、シリコン層204に対して例えばCr(50nm)およびこれに続いてAu(200nm)を成膜する。次に、所定のマスクを介してこれら金属膜に対してエッチング処理を順次行うことにより、ミラー面21dをパターン形成する。シリコン基板200上の電極パッド29の形成手法は、ポリシリコン層204上のミラー面21dの形成手法と同様である。シリコン基板200上の電極パッド29は、上述の電極パッド29A,29B,29Cに相当する。
マイクロミラー素子X2の製造においては、次に、図16(c)に示すように、ポリシリコン層204上に酸化膜パターン205を形成し、シリコン基板200上に酸化膜パターン206およびレジストパターン207を形成する。酸化膜パターン205は、ミラー支持部M(ミラー支持部21)、フレームF1,F2(フレーム22)、および櫛歯電極E1(櫛歯電極24,25)に対応するパターン形状を有する。酸化膜パターン206は、フレームF1,F2(フレーム22)および櫛歯電極E2(櫛歯電極26,27)に対応するパターン形状を有する。また、レジストパターン207は、ミラー支持部Mの一部(ミラー支持部21の第2構造部21b)および櫛歯電極E1(櫛歯電極24,25)に対応するパターン形状を有する。
次に、図16(d)に示すように、酸化膜パターン205をマスクとして、DRIEにより、ポリシリコン層204およびシリコン層203に対して酸化膜パターン201に至るまで異方性エッチング処理を行う。本エッチング処理により、ミラー支持部M(ミラー支持部21)の一部、櫛歯電極E1(櫛歯電極24,25)の一部、トーションバーT1,T2(トーションバー23a)、およびフレームF1,F2(フレーム22)の一部が、成形される。
次に、図17(a)に示すように、酸化膜パターン206およびレジストパターン207をマスクとして、DRIEにより、シリコン基板200に対して所定の深さまで異方性エッチング処理を行う。所定の深さとは、上述のミラー支持部21の第2構造部21bの厚さや、上述の櫛歯電極24,25における電極歯24A,25Aの導体部24b,25bの素子厚さ方向における長さに相当し、例えば5μmである。
次に、図17(b)に示すように、剥離液を作用させることにより、レジストパターン207を剥離する。剥離液としては、例えばAZリムーバ700(クラリアントジャパン製)を使用することができる。
次に、図17(c)に示すように、酸化膜パターン206をマスクとして、DRIEにより、ミラー支持部21の第2構造部21bおよび櫛歯電極24,25における電極歯24A,25Aの導体部24b,25bを残存形成しつつシリコン基板200に対して酸化膜パターン201に至るまで異方性エッチング処理を行う。本エッチング処理により、ミラー支持部M(ミラー支持部21)の一部、櫛歯電極E1(櫛歯電極24,25)の一部、櫛歯電極E2(櫛歯電極26,27)、およびフレームF1,F2(フレーム22)の一部が、成形される。
次に、図17(d)に示すように、酸化膜パターン201において露出している箇所、および酸化膜パターン203,205,206を、エッチング除去する。エッチング手法としては、ドライエッチングまたはウエットエッチングを採用することができる。
以上の一連の工程を経ることにより、ミラー支持部M、フレームF1,F2、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2を成形してマイクロミラー素子X2を製造することができる。
マイクロミラー素子X2においては、櫛歯電極24,25,26,27に対して必要に応じて所定の電位を付与することにより、ミラー支持部21ないし可動機能部を揺動軸心A2まわりに揺動動作させることができる。櫛歯電極24,25に対する電位付与は、電極パッド29C、アイランド部22c、導電連絡部28B、フレーム22の第1シリコン層由来部位、捩れ連結部(両トーションバー23a)、およびミラー支持部21の第1構造部21a、更には導電連絡部28Aおよび第2構造部21bを介して、実現することができる。櫛歯電極24,25は、例えばグラウンド接続される。一方、櫛歯電極26に対する電位付与は、電極パッド29Aおよびフレーム22のアイランド部22aを介して、実現することができる。櫛歯電極27に対する電位付与は、電極パッド29Bおよびフレーム22のアイランド部22bを介して実現することができる。フレーム22の第2シリコン層由来部位において電極パッド29Aが接合するアイランド部22aと電極パッド29Bが接合するアイランド部22bとは、電気的に分離している。したがって、櫛歯電極26,27に対する電位付与は独立して行うことができる。
櫛歯電極24,26の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極24,26間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極24は櫛歯電極26に引き込まれる。そのため、ミラー支持部21ないし可動機能部は、揺動軸心A2まわりに揺動動作し、例えば図18に示すように、当該静電引力と各トーションバー23aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極24,26への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極24,26間の静電引力を消滅させると、各トーションバー23aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部21ないし可動機能部は、図12に示す姿勢をとる。
一方、櫛歯電極25,27の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極25,27間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極25は櫛歯電極27に引き込まれる。そのため、ミラー支持部21ないし可動機能部は、揺動軸心A2まわりに揺動動作し、当該静電引力と各トーションバー23aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極25,27への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極25,27間の静電引力を消滅させると、各トーションバー23aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部21ないし可動機能部は、図12に示す姿勢をとる。
以上のようなミラー支持部21ないし可動機能部の揺動駆動により、ミラー支持部21上に設けられたミラー面21dにて反射される光の反射方向を適宜切り換えることができる。
マイクロミラー素子X2では、可動機能部(ミラー支持部21,ミラー面21d)の回転変位が図12に示すように0°であるときであっても、櫛歯電極24の各電極歯24Aの導体部24bと櫛歯電極26の各電極歯26Aとは対向し合い、櫛歯電極25の各電極歯25Aの導体部25bと櫛歯電極27の各電極歯27Aとは対向し合う。すなわち、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極24,26は素子厚さ方向Hにおいて重なり合い、且つ、櫛歯電極25,27は素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、櫛歯電極24に所定電位を付与すると、各電極歯24Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部24aと導体部24bとは同電位となり、櫛歯電極25に所定電位を付与すると、各電極歯25Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部25aと導体部25bとは同電位となる。したがって、マイクロミラー素子X2では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極24,26に対して所定電位を付与すると櫛歯電極24,26間には有効な静電引力が発生し、櫛歯電極25,27に対して所定電位を付与すると櫛歯電極25,27間には有効な静電引力が発生する。そのため、マイクロミラー素子X2において櫛歯電極24,26間または櫛歯電極25,27間に静電引力を発生させて回転変位0°から可動機能部を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成しやすい。一方、回転変位0°にて可動機能部を停止させる際には、停止位置近傍にて櫛歯電極24,26間または櫛歯電極25,27間の静電引力の高精度制御が可能であるので、回転変位0°付近での可動機能部の残留振動を抑制して、可動機能部を早急に停止させやすい。
また、マイクロミラー素子X2の駆動時において可動機能部の回転変位が0°付近でない場合には、櫛歯電極26の各電極歯26Aは、櫛歯電極24の導体部24bのみならず導体部24aとも対向し合って櫛歯電極24,26間には有効な静電引力が発生するか、或は、櫛歯電極27の各電極歯27Aは、櫛歯電極25の導体部25bのみならず導体部25aとも対向し合って櫛歯電極25,27間には有効な静電引力が発生する。
加えて、マイクロミラー素子X2では、櫛歯電極26の電極歯26Aは、揺動動作の方向において櫛歯電極24の電極歯24Aの導体部24bよりも長く、且つ、櫛歯電極27の電極歯27Aは、揺動動作の方向において櫛歯電極25の電極歯25Aの導体部25bよりも長いところ、このような構成は、可動機能部の揺動動作時において櫛歯電極24,26間または櫛歯電極25,27間の対向面積が変化して有効な静電引力が生じるうえで、好適である。
以上のように、マイクロミラー素子X2は、可動機能部の動作開始および動作停止をも含む全揺動動作について制御性に優れる。このようなマイクロミラー素子X2は、可動機能部を高速かつ正確に駆動するうえで、好適である。
また、上述のマイクロミラー素子X2の製造方法によると、櫛歯電極24ないし電極歯24Aと櫛歯電極26ないし電極歯26Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法、および、櫛歯電極25ないし電極歯25Aと櫛歯電極27ないし電極歯27Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法を、高精度に制御することができる。図17(c)を参照して上述したエッチング工程において、エッチングストップ層として機能する酸化膜パターン201を利用して櫛歯電極E2(櫛歯電極26,27)を成形することにより、素子厚さ方向Hの寸法について櫛歯電極E2(櫛歯電極26,27)を高精度に形成することができるからである。
図19から図23は、本発明の第3の実施形態に係るマイクロミラー素子X3を表す。図19および図20は、各々、マイクロミラー素子X3の正面図および裏面図である。図21から図23は、各々、図19の線XXI−XXI、線XXII−XXII、および線XXIII−XXIIIに沿った断面図である。
マイクロミラー素子X3は、ミラー支持部31と、フレーム32と、捩れ連結部33と、櫛歯電極34,35,36,37とを備え、MEMS技術などのバルクマイクロマシニング技術により、多層SOIウエハである材料基板に対して加工を施すことによって製造されたものである。当該材料基板は、第1〜第3シリコン層と、第1および第2シリコン層間の第1絶縁層と、第2および第3シリコン層間の第2絶縁層とからなる積層構造を有し、各シリコン層は、不純物のドープにより所定の導電性が付与されている。図の明確化の観点より、図19においては、第1シリコン層に由来して第1絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表し、図20においては、第3シリコン層に由来して第2絶縁層より紙面手前方向に突き出る箇所について、斜線ハッチングを付して表す。
ミラー支持部31は、図21によく表れているように、第1シリコン層に由来する第1構造部31aと、第2シリコン層に由来する第2構造部31bと、第1絶縁層に由来して第1構造部31aおよび第2構造部31bの間に介在する絶縁膜31cとからなる。第1構造部31aおよび第2構造部31bは、図22に示すように、絶縁膜31cを貫通する導電プラグ38Aを介して電気的に接続されている。
フレーム32は、主に第1〜第3シリコン層に由来する部位であり、図19および図20に示すように、ミラー支持部31を囲む形状を有する。フレーム32の第3シリコン層由来部位は、図20および図21に示すように、主部32Aと、これから離隔するアイランド部32a,32bとを有する。フレーム32の第2シリコン層由来部位は、第3シリコン層由来部位と同じパターン形状を有し、図24に示すように、主部32Bと、これらから離隔するアイランド部32c,32dとを含む。
このようなフレーム32においては、図19に示すように、第1シリコン層由来部位上に電極パッド39Aが設けられている。第1シリコン層由来部位は、図22に示すように、第1絶縁層由来部位(図21において、フレーム32の第1シリコン層由来部位の直下にて斜線ハッチングを付して表されている部位)を貫通する導電プラグ38Bを介して主部32Bと電気的に接続されている。また、図20に示すように、アイランド部32a,32b上には各々電極パッド39B,39Cが設けられている。図21に示すように、アイランド部32aは、第2絶縁層由来部位(図21において、第2シリコン層由来部位の直下にて斜線ハッチングを付して表されている部位)を貫通する導電プラグ38Cを介してアイランド部32cと電気的に接続されており、アイランド部32bは、第2絶縁層由来部位を貫通する導電プラグ38Dを介してアイランド部32dと電気的に接続されている。
捩れ連結部33は、一対のトーションバー33aからなる。各トーションバー33aは、第2シリコン層に由来する部位であり、図22に示すように、ミラー支持部31の第2構造部31bとフレーム32の主部32Bとに接続してこれらを連結する。トーションバー33aにより、ミラー支持部31の第2構造部31bとフレーム32の主部32Bとは電気的に接続される。また、トーションバー33aは、素子厚さ方向Hにおいて、ミラー支持部31およびフレーム32よりも薄肉である。このような捩れ連結部33ないし一対のトーションバー33aは、ミラー支持部31ないし可動機能部の揺動動作の揺動軸心A3を規定する。このような揺動軸心A3は、好ましくは、ミラー支持部31または可動機能部の重心またはその近傍を通る。
櫛歯電極34は、複数の電極歯34Aからなる。複数の電極歯34Aは、図19および図20に示すように、ミラー支持部31から各々が延出し、相互に平行である。好ましくは、電極歯34Aの延び方向と揺動軸心A3の延び方向とは直交する。また、各電極歯34Aは、図21および図23に示すように、第1シリコン層に由来する導体部34aと、第2シリコン層に由来する導体部34bと、第1絶縁層に由来して導体部34a,34bの間に介在する絶縁部34cとからなる積層構造を有する。これら導体部34a,34bおよび絶縁部34cは、可動機能部の揺動動作の方向に連なっている。導体部34aは、ミラー支持部31の第1構造部31aと連続し且つ電気的に接続されている。導体部34bは、ミラー支持部31の第2構造部31bと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部34aおよび導体部34bは、ミラー支持部31における第1構造部31a、導電プラグ38A、および第2構造部31bを介して電気的に接続されている。また、絶縁部34cは、ミラー支持部31の絶縁膜31cと連続する。
櫛歯電極35は、複数の電極歯35Aからなる。複数の電極歯35Aは、図19および図20に示すように、電極歯34Aとは反対の側にミラー支持部31から各々が延出し、相互に平行である。好ましくは、電極歯35Aの延び方向と揺動軸心A3の延び方向とは直交する。また、各電極歯35Aは、図21に示すように、第1シリコン層に由来する導体部35aと、第2シリコン層に由来する導体部35bと、第1絶縁層に由来して導体部35a,35bの間に介在する絶縁部35cとからなる積層構造を有する。これら導体部35a,35bおよび絶縁部35cは、可動機能部の揺動動作の方向に連なっている。導体部35aは、ミラー支持部31の第1構造部31aと連続し且つ電気的に接続されている。導体部35bは、ミラー支持部31の第2構造部31bと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部35aおよび導体部35bは、ミラー支持部31における第1構造部31a、導電プラグ38A、および第2構造部31bを介して電気的に接続されている。また、絶縁部35cは、ミラー支持部31の絶縁膜31cと連続する。このような櫛歯電極35ないし電極歯35Aと、櫛歯電極34ないし電極歯34Aとは、ミラー支持部31を介して電気的に接続されている。
櫛歯電極36は、櫛歯電極34と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、複数の電極歯36Aからなる。複数の電極歯36Aは、図19および図20に示すように、フレーム32から各々が延出し、相互に平行である。また、各電極歯36Aは、図21および図23に示すように、第2シリコン層に由来する導体部36aと、第3シリコン層に由来する導体部36bと、第2絶縁層に由来して導体部36a,36bの間に介在する絶縁部36cとからなる積層構造を有する。導体部36aは、フレーム32のアイランド部32cと連続し且つ電気的に接続されている。導体部36bは、フレーム32のアイランド部32aと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部36aおよび導体部36bは、アイランド部32c、導電プラグ38C、およびアイランド部32aを介して電気的に接続されている。また、絶縁部36cは、フレーム32の第2絶縁層由来部位と連続する。
このような櫛歯電極36は、櫛歯電極34と共に駆動機構を構成する。図19および図20に表れているように、櫛歯電極34の各電極歯34Aの延び方向と、櫛歯電極36の各電極歯36Aの延び方向とは、平行である。図19、図20、および図23に表れているように、櫛歯電極34,36は、ミラー支持部31ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯34A,36Aが位置ずれした態様で配されている。また、マイクロミラー素子X3の非駆動時には、図21および図23に示すように、電極歯34の導体部34aは電極歯36に対向せず、電極歯34の導体部34bは、電極歯36の導体部36bに対向せずに導体部36aに対向する。すなわち、櫛歯電極34ないし電極歯34Aと櫛歯電極36ないし電極歯36Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。
櫛歯電極37は、櫛歯電極35と協働して静電引力(駆動力)を発生するための部位であり、複数の電極歯37Aからなる。複数の電極歯37Aは、図19および図20に示すように、フレーム32から各々が延出し、相互に平行である。また、各電極歯37Aは、図21に表れているように、第2シリコン層に由来する導体部37aと、第3シリコン層に由来する導体部37bと、第2絶縁層に由来して導体部37a,37bの間に介在する絶縁部37cとからなる積層構造を有する。導体部37aは、フレーム32のアイランド部32dと連続し且つ電気的に接続されている。導体部37bは、フレーム32のアイランド部32bと連続し且つ電気的に接続されている。したがって、導体部37aおよび導体部37bは、アイランド部32d、導電プラグ38D、およびアイランド部32bを介して電気的に接続されている。また、絶縁部37cは、フレーム32の第2絶縁層由来部位と連続する。
このような櫛歯電極37は、櫛歯電極35と共に駆動機構を構成する。図19および図20に表れているように、櫛歯電極35の各電極歯35Aの延び方向と、櫛歯電極37の各電極歯37Aの延び方向とは、平行である。櫛歯電極35,37は、ミラー支持部31ないし可動機能部の揺動動作時において互いに当接しないように、それらの電極歯35A,37Aが位置ずれした態様で配されている。また、マイクロミラー素子X3の非駆動時には、図21に示すように、電極歯35の導体部35aは電極歯37に対向せず、電極歯35の導体部35bは、電極歯37の導体部37bに対向せずに導体部37aに対向する。すなわち、櫛歯電極35ないし電極歯35Aと櫛歯電極37ないし電極歯37Aとは、素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。
図25から図28は、マイクロミラー素子X3の製造方法の一例を表す。この方法は、バルクマイクロマシニング技術によりマイクロミラー素子X3を製造するための一手法である。図25から図28においては、図28(c)に示すミラー支持部M、フレームF1,F2,F3、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2の形成過程を、一の断面の変化として表す。当該一の断面は、加工が施される材料基板(多層構造を有するウエハ)における単一のマイクロミラー素子形成区画に含まれる複数の所定箇所の断面を、モデル化して連続断面として表したものである。ミラー支持部Mは、ミラー支持部31の一部に相当する。フレームF1,F2,F3は、各々、フレーム32に相当し、フレーム32の所定箇所の横断面を表す。トーションバーT1は、トーションバー33aに相当し、トーションバー33aの横断面を表す。トーションバーT2は、トーションバー33aに相当し、トーションバー33aの延び方向の断面を表す。櫛歯電極E1は、櫛歯電極34,35の一部に相当し、電極歯34A,35Aの横断面を表す。櫛歯電極E2は、櫛歯電極36,37の一部に相当し、電極歯36A,37Aの横断面を表す。
マイクロミラー素子X3の製造においては、まず、図25(a)に示すような材料基板300を用意する。材料基板300は、シリコン層301,302,303と、シリコン層301,302間の絶縁層304と、シリコン層302,303間の絶縁層305とからなる積層構造を有するSOIウエハである。シリコン層301,302,303は、不純物をドープすることにより導電性を付与されたシリコン材料よりなる。不純物としては、Bなどのp型不純物や、PおよびSbなどのn型不純物を採用することができる。絶縁層304,305は例えば酸化シリコンよりなる。
次に、図25(b)に示すように、シリコン層301および絶縁層304を貫通するホールH2を形成し、シリコン層303および絶縁層305を貫通するホールH3を形成する。ホールH2の形成においては、まず、DRIEにより、所定のマスクを介してシリコン層301に対して絶縁層304に至るまで異方性エッチング処理を行うことにより、シリコン層301において所定のホールを形成する。次に、絶縁層304にて当該所定のホールに露出する箇所を、例えばウェットエッチングにより除去する。ホールH3の形成においては、まず、DRIEにより、所定のマスクを介してシリコン層303に対して絶縁層305に至るまで異方性エッチング処理を行うことにより、シリコン層303において所定のホールを形成する。次に、絶縁層305にて当該所定のホールに露出する箇所を、例えばウェットエッチングにより除去する。このようにし、シリコン層301に加えて絶縁層304を貫通するホールH2、および、シリコン層303に加えて絶縁層305を貫通するホールH3を、形成することができる。
マイクロミラー素子X3の製造においては、次に、図25(c)に示すように、例えばCVD法により、ホールH2,H3の内部に導電材料38’を堆積させる。このとき、シリコン層301,303上にも堆積するまで、充分量の導電材料38’をホールH2,H3に供給する。導電材料38’としては、所定の不純物をドープさせたポリシリコン、または、CuやWなどの金属を、採用することができる。
次に、図25(d)に示すように、シリコン層301,303の表面を露出させる。例えば、研磨法により、ホールH2,H3外の導電材料38’を研磨して除去する。本工程にて、導電プラグ38が残存形成されることとなる。シリコン層301側の導電プラグ38は、上述の導電プラグ38A,38Bに相当し、シリコン層303側の導電プラグ38は、上述の導電プラグ38C,38Dに相当する。
マイクロミラー素子X3の製造においては、次に、図26(a)に示すように、シリコン層301,303上にミラー面31dおよび電極パッド39を形成する。シリコン層301上のミラー面31dおよび電極パッド39の形成においては、まず、スパッタリング法により、シリコン層301に対して例えばCr(50nm)およびこれに続いてAu(200nm)を成膜する。次に、所定のマスクを介してこれら金属膜に対してエッチング処理を順次行うことにより、ミラー面31dおよび電極パッド39をパターン形成する。Auに対するエッチング液としては、例えば、ヨウ化カリウム−ヨウ素水溶液を使用することができる。Crに対するエッチング液としては、例えば硝酸第二セリウムアンモニウム水溶液を使用することができる。シリコン層303上の電極パッド39の形成手法は、シリコン層301上のミラー面31dおよび電極パッド39の形成手法と同様である。シリコン層301上の電極パッド39は、上述の電極パッド39Aに相当し、シリコン層303上の電極パッド39は、上述の電極パッド39B,39Cに相当する。
マイクロミラー素子X3の製造においては、次に、図26(b)に示すように、シリコン層301上に酸化膜パターン310を形成し、シリコン層303上に、酸化膜パターン311を形成し且つその後にレジストパターン312を形成する。酸化膜パターン310は、ミラー支持部M(ミラー支持部31)、フレームF1,F2,F3(フレーム32)、および櫛歯電極E1(櫛歯電極34,35)に対応するパターン形状を有する。酸化膜パターン311は、フレームF1,F2,F3(フレーム32)、および櫛歯電極E2(櫛歯電極36,37)に対応するパターン形状を有する。また、レジストパターン312は、トーションバーT1,T2(トーションバー33a)および櫛歯電極E1(櫛歯電極34,35)に対応するパターン形状を有する。
次に、図26(c)に示すように、酸化膜パターン311およびレジストパターン312をマスクとして、DRIEにより、シリコン層303に対し所定の深さまで異方性エッチング処理を行う。
次に、図27(a)に示すように、剥離液を作用させることにより、レジストパターン312を剥離する。剥離液としては、例えばAZリムーバ700(クラリアントジャパン製)を使用することができる。
次に、図27(b)に示すように、酸化膜パターン310をマスクとして、DRIEにより、シリコン層301に対して絶縁層304に至るまで異方性エッチング処理を行う。本エッチング処理により、ミラー支持部M(ミラー支持部31)の一部、櫛歯電極E1(櫛歯電極34,35)の一部、およびフレームF1,F2,F3(フレーム32)の一部が、成形される。
次に、図27(c)に示すように、酸化膜パターン311をマスクとして、DRIEにより、櫛歯電極E1用の残存マスク部303a、トーションバーT1,T2用の残存マスク部303b、およびミラー支持部M用の残存マスク部303cが残存形成されるように、絶縁層305に至るまで異方性エッチング処理を行う。残存マスク部303a,303b,303cは、併せて、レジストパターン312に対応するパターン形状を有する。本工程のエッチング処理により、フレームF1,F2,F3(フレーム32)の一部および櫛歯電極E2(櫛歯電極36,37)の一部が、成形される。
次に、図28(a)に示すように、残存マスク部303a,303b,303cを含むシリコン層303由来部位をマスクとして、絶縁層305に対しシリコン層302に至るまでエッチング処理を行う。本工程において、絶縁層305の一部が充分にエッチング除去される前に、酸化膜パターン311がマスクとして機能できない程度にまで除去されないよう、絶縁層305および酸化膜パターン311の厚さを設定しておく必要がある。或は、本工程においてエッチング選択性を利用すべく、シリコン層303に対するマスクとしては、酸化膜パターン311に代えて、窒化膜や金属膜よりなるマスクパターンを採用してもよい。
次に、図28(b)に示すように、DRIEにより、シリコン層302において前工程にて露出した箇所に対し絶縁層304に至るまで異方性エッチング処理を行う。このとき、残存マスク部303a,303b,303cもエッチング除去される。本工程のエッチング処理により、ミラー支持部M(ミラー支持部31)の一部、フレームF1,F2,F3(フレーム32)の一部、トーションバーT1,T2(トーションバー33a)、櫛歯電極E1の一部(導電部34b,35b)、および櫛歯電極E2の一部(導電部36a,37a)が、成形される。
次に、図28(c)に示すように、絶縁層304,305において露出している箇所、および酸化膜パターン310,311を、エッチング除去する。エッチング手法としては、ドライエッチングまたはウエットエッチングを採用することができる。ドライエッチングを採用する場合、エッチングガスとしては、例えば、CF4やCHF3などを採用することができる。ウエットエッチングを採用する場合、エッチング液としては、例えば、フッ酸とフッ化アンモニウムからなるバッファードフッ酸(BHF)を使用することができる。
以上の一連の工程を経ることにより、ミラー支持部M、フレームF1,F2,F3、トーションバーT1,T2、および一組の櫛歯電極E1,E2を成形してマイクロミラー素子X3を製造することができる。
マイクロミラー素子X3においては、櫛歯電極34,35,36,37に対して必要に応じて所定の電位を付与することにより、ミラー支持部31ないし可動機能部を揺動軸心A3まわりに揺動動作させることができる。櫛歯電極34,35に対する電位付与は、電極パッド39A、フレーム32の第1シリコン層由来部位、導電プラグ38B、フレーム32の主部32C、捩れ連結部(両トーションバー33a)、およびミラー支持部31の第2構造部31b、更には導電プラグ38Aおよびミラー支持部31の第1構造部31aを介して、実現することができる。櫛歯電極34,35は、例えばグラウンド接続される。一方、櫛歯電極36に対する電位付与は、電極パッド39Bおよびフレーム32のアイランド部32a、更には導電プラグ38Cおよびフレーム32のアイランド部32cを介して、実現することができる。櫛歯電極37に対する電位付与は、電極パッド39Cおよびフレーム32のアイランド部32b、更には導電プラグ38Dおよびフレーム32のアイランド部32dを介して、実現することができる。櫛歯電極36,37への電位付与経路は電気的に分離されているため、櫛歯電極36,37に対する電位付与は独立して行うことができる。
櫛歯電極34,36の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極34,36間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極34は櫛歯電極36に引き込まれる。そのため、ミラー支持部31ないし可動機能部は、揺動軸心A3まわりに揺動動作し、例えば図29に示すように、当該静電引力と各トーションバー33aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極34,36への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極34,36間の静電引力を消滅させると、各トーションバー33aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部31ないし可動機能部は、図21に示す姿勢をとる。
一方、櫛歯電極35,37の各々に所定の電位を付与することにより櫛歯電極35,37間に所望の静電引力を発生させると、櫛歯電極35は櫛歯電極37に引き込まれる。そのため、ミラー支持部31ないし可動機能部は、揺動軸心A3まわりに揺動動作し、当該静電引力と各トーションバー33aの捩り抵抗力の総和とが釣り合う角度まで回転変位する。このような揺動動作における回転変位量は、櫛歯電極35,37への付与電位を調整することにより、調節することができる。また、櫛歯電極35,37間の静電引力を消滅させると、各トーションバー33aはその自然状態に復帰し、ミラー支持部31ないし可動機能部は、図21に示す姿勢をとる。
以上のようなミラー支持部31ないし可動機能部の揺動駆動により、ミラー支持部31上に設けられたミラー面31dにて反射される光の反射方向を適宜切り換えることができる。
マイクロミラー素子X3では、可動機能部(ミラー支持部31,ミラー面31d)の回転変位が図21に示すように0°であるときであっても、櫛歯電極34の各電極歯34Aの導体部34bと櫛歯電極36の各電極歯36Aの導体部36aとは対向し合い、櫛歯電極35の各電極歯35Aの導体部35bと櫛歯電極37の各電極歯37Aの導体部37aとは対向し合う。すなわち、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極34,36は素子厚さ方向Hにおいて重なり合い、且つ、櫛歯電極35,37は素子厚さ方向Hにおいて重なり合う。また、櫛歯電極34に所定電位を付与すると、各電極歯34Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部34aと導体部34bとは同電位となり、櫛歯電極35に所定電位を付与すると、各電極歯35Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部35aと導体部35bとは同電位となり、櫛歯電極36に所定電位を付与すると、各電極歯36Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部36aと導体部36bとは同電位となり、櫛歯電極37に所定電位を付与すると、各電極歯37Aにおいて互いに電気的に接続されている導体部37aと導体部37bとは同電位となる。したがって、マイクロミラー素子X3では、可動機能部の回転変位が0°であるときであっても、櫛歯電極34,36に対して所定電位を付与すると櫛歯電極34,36間には有効な静電引力が発生し、櫛歯電極35,37に対して所定電位を付与すると櫛歯電極35,37間には有効な静電引力が発生する。そのため、マイクロミラー素子X3において櫛歯電極34,36間または櫛歯電極35,37間に静電引力を発生させて回転変位0°から可動機能部を動作させる際には、当該動作について充分な応答性を達成しやすい。一方、回転変位0°にて可動機能部を停止させる際には、停止位置近傍にて櫛歯電極34,36間または櫛歯電極35,37間の静電引力の高精度制御が可能であるので、回転変位0°付近での可動機能部の残留振動を抑制して、可動機能部を早急に停止させやすい。
また、マイクロミラー素子X3の駆動時において可動機能部の回転変位が0°付近でない場合には、櫛歯電極34,36は素子厚さ方向Hにおいて重なり合って櫛歯電極34,36間には有効な静電引力が発生するか、或は、櫛歯電極35,37は素子厚さ方向Hにおいて重なり合って櫛歯電極35,37間には有効な静電引力が発生する。
加えて、マイクロミラー素子X3では、櫛歯電極34ないし電極歯34Aと櫛歯電極36ないし電極歯36Aとは、揺動動作の方向において位置ずれしており、且つ、櫛歯電極35ないし電極歯35Aと櫛歯電極37ないし電極歯37Aとは、揺動動作の方向において位置ずれしているところ、このような構成は、可動機能部の揺動動作時において櫛歯電極34および櫛歯電極36の間の対向面積、または、櫛歯電極35および櫛歯電極37の間の対向面積が変化して、有効な静電引力が生じるうえで、好適である。
以上のように、マイクロミラー素子X3は、可動機能部の動作開始および動作停止をも含む全揺動動作について制御性に優れる。このようなマイクロミラー素子X2は、可動機能部を高速かつ正確に駆動するうえで、好適である。
また、上述のマイクロミラー素子X3の製造方法によると、櫛歯電極34ないし電極歯34Aと櫛歯電極36ないし電極歯36Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法、および、櫛歯電極35ないし電極歯35Aと櫛歯電極37ないし電極歯37Aとの素子厚さ方向Hにおける重なり寸法を、高精度に制御することができる。所望の重なり寸法に対応する厚さを第2シリコン層302が予め有する材料基板300を用いることができるからである。
本発明の第1の実施形態に係るマイクロミラー素子の正面図である。 本発明の第1の実施形態に係るマイクロミラー素子の裏面図である。 図1の線III−IIIに沿った断面図である。 図1の線IV−IVに沿った断面図である。 図1の線V−Vに沿った断面図である。 第1の実施形態に係るマイクロミラー素子の製造方法における一部の工程を表す。 図6の後に続く工程を表す。 図7の後に続く工程を表す。 駆動時における図1の線III−IIIに沿った断面図である。 本発明の第2の実施形態に係るマイクロミラー素子の正面図である。 本発明の第2の実施形態に係るマイクロミラー素子の裏面図である。 図10の線XII−XIIに沿った断面図である。 図10の線XIII−XIIIに沿った断面図である。 図10の線XIV−XIVに沿った断面図である。 第2の実施形態に係るのマイクロミラー素子の製造方法における一部の工程を表す。 図15の後に続く工程を表す。 図16の後に続く工程を表す。 駆動時における図10の線XII−XIIに沿った断面図である。 本発明の第3の実施形態に係るマイクロミラー素子の平面図である。 本発明の第3の実施形態に係るマイクロミラー素子の裏面図である。 図19の線XXI−XXIに沿った断面図である。 図19の線XXII−XXIIに沿った断面図である。 図19の線XXIII−XXIIIに沿った断面図である。 図19に示すマイクロミラー素子におけるフレームの第2シリコン層由来部位の平面図である。 第3の実施形態に係るのマイクロミラー素子の製造方法における一部の工程を表す。 図25の後に続く工程を表す。 図26の後に続く工程を表す。 図27の後に続く工程を表す。 駆動時における図19の線XXI−XXIに沿った断面図である。 従来のマイクロミラー素子の一部省略斜視図である。 一組の櫛歯電極の配向を表す。 従来のマイクロミラー素子の製造方法における一部の工程を表す。
符号の説明
X1,X2,X3,X4 マイクロミラー素子
11,21,31,91 ミラー支持部
11a,21d,31d,91a ミラー面
12,22,32,92 フレーム
13,23,33 捩れ連結部
13a,23a,33a,93 トーションバー
14〜17,24〜27,34〜37 櫛歯電極
18A〜18C,29A〜29C,39A〜39C 電極パッド
19A,19B,38A〜38D 導電プラグ
28A,28B 導電連絡部

Claims (8)

  1. フレームと、
    可動機能部と、
    前記フレームおよび前記可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、
    前記揺動動作の駆動力を発生させるために、前記フレームと前記可動機能部とのいずれか一方に形成された第1櫛歯電極および前記フレームと前記可動機能部とのいずれか他方に形成された第2櫛歯電極と、を備え、
    前記第1櫛歯電極は、電気的に接続された、前記揺動動作の方向の一方側の第1導体部および前記揺動動作の方向の他方側の第2導体部ならびに当該第1および第2導体部の間の絶縁部が前記揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第1電極歯を有し、
    前記第2櫛歯電極は、非駆動時には前記第1電極歯の前記第2導体部に対向せずに前記第1導体部に対向する複数の第2電極歯を有し、
    前記揺動動作の方向において、前記第2電極歯の厚さは、前記第1導体部の厚さよりも大きい、マイクロ揺動素子。
  2. 前記フレームは、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の絶縁層とからなる積層構造を有する多層部位を含み、
    前記第1櫛歯電極は前記フレームの前記多層部位に固定され、
    前記第1電極歯の第1導体部は前記第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1電極歯の第2導体部は前記第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1および第2導体層は、前記絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている、請求項1に記載のマイクロ揺動素子。
  3. 前記可動機能部は、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の絶縁層とからなる積層構造を有する多層部位を含み、
    前記第1櫛歯電極は前記可動機能部の前記多層部位に固定され、
    前記第1電極歯の第1導体部は前記第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1電極歯の第2導体部は前記第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1および第2導体層は、前記絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている、請求項1に記載のマイクロ揺動素子。
  4. フレームと、
    可動機能部と、
    前記フレームおよび前記可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、
    前記揺動動作の駆動力を発生させるために、前記フレームと前記可動機能部とのいずれか一方に形成された第1櫛歯電極および前記フレームと前記可動機能部とのいずれか他方に形成された第2櫛歯電極と、を備え、
    前記第1櫛歯電極は、電気的に接続された、前記揺動動作の方向の一方側の第1導体部および前記揺動動作の方向の他方側の第2導体部ならびに当該第1および第2導体部の間の絶縁部が前記揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第1電極歯を有し、
    前記第2櫛歯電極は、電気的に接続された、前記揺動動作の方向の一方側の第3導体部および前記揺動動作の方向の他方側の第4導体部ならびに当該第3および第4導体部の間の絶縁部が前記揺動動作の方向に連なる積層構造を各々が有する複数の第2電極歯を有し、
    非駆動時には、前記第1電極歯の前記第2導体部は前記第2電極歯に対向せず、前記第1電極歯の前記第1導体部は、前記第2電極歯の前記第導体部に対向せずに前記第導体部に対向する、マイクロ揺動素子。
  5. 前記フレームは、第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間の第1絶縁層とからなる積層構造を有する第1多層部位を含み、
    前記可動機能部は、第3導体層と、第4導体層と、当該第3および第4導体層の間の第2絶縁層とからなる積層構造を有する第2多層部位を含み、
    前記第1櫛歯電極は前記フレームの前記第1多層部位に固定され、
    前記第櫛歯電極は前記可動機能部の第2多層部位に固定され、
    前記第1電極歯の第1導体部は前記第1導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1電極歯の第2導体部は前記第2導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第1および第2導体層は、前記第1絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続され、
    前記第2電極歯の第3導体部は前記第3導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第2電極歯の第4導体部は前記第4導体層と連続し且つ電気的に接続され、前記第3および第4導体層は、前記第2絶縁層を貫通する導電連絡部により電気的に接続されている、請求項4に記載のマイクロ揺動素子。
  6. 第1導体層と、第2導体層と、当該第1および第2導体層の間に介在する絶縁層とを含む積層構造を有する材料基板に対して加工を施すことにより、フレームと、可動機能部と、当該フレームおよび可動機能部を連結して当該可動機能部の揺動動作の揺動軸心を規定する捩れ連結部と、前記揺動動作の駆動力を発生させるための第1櫛歯電極および第2櫛歯電極と、を備えるマイクロ揺動素子を製造するための方法であって、
    第1櫛歯電極用第1マスク部を含んで前記第1導体層上に形成された第1マスクパターン、および、第2櫛歯電極用マスク部を含んで第1導体層上に形成された第2マスクパターンを介し、前記第1導体層に対して当該第1導体層の厚さ方向の途中までエッチング処理を施す、第1エッチング工程と、
    前記第1マスクパターンを除去する工程と、
    前記第1導体層において前記第1櫛歯電極の第1導体部および第2櫛歯電極が前記絶縁層に接して残存形成されるように、前記第1導体層に対して前記第2マスクパターンを介してエッチング処理を施す、第2エッチング工程と、
    前記第2導体層において前記第1櫛歯電極の第2導体部が前記絶縁層に接して残存形成されるように、第1櫛歯電極用第2マスク部を含んで前記第2導体層上に形成された第3マスクパターンを介して前記第2導体層に対してエッチング処理を施す、第3エッチング工程と、
    前記第1櫛歯電極の前記第1および第2導体部の間に介在する絶縁部が前記絶縁層において残存形成されるように、前記絶縁層に対してエッチング処理を施す、第4エッチング工程と、を含むマイクロ構造体の製造方法。
  7. 前記第1マスクパターンは捩れ連結部用マスク部を含み、前記第2エッチング工程では、前記第1導体層において前記捩れ連結部も前記絶縁層に接して残存形成される、請求項6に記載のマイクロ揺動素子の製造方法。
  8. 前記材料基板の前記第2導体層には、捩れ連結部用マスク部を含む第4マスクパターンが前記絶縁層から離隔して埋め込まれており、前記第3エッチング工程では、前記第2導体層において前記捩れ連結部も前記絶縁層に接して残存形成される、請求項6に記載のマイクロ揺動素子の製造方法。
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