JP4564863B2 - 電源ライン測定装置 - Google Patents
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Description
上記演算制御手段は、
上記第1メモリから上記被測定信号波形の1周期内に含まれるn個の被測定波形データVk(k=0〜n−1)を読み出すとともに、上記第2メモリから上記正弦波の1周期内に含まれる上記n個と同数の基準波形データIk(k=0〜n−1)を読み出して、その先頭データ同士から次式(1)
上記被測定波形データVk(k=0〜n−1)と、上記基準波形データIkを+1/4周期もしくは−1/4周期ずらした1周期内に含まれる上記n個と同数の基準波形データJk(k=0〜n−1)とを、その先頭データ同士から次式(2)
上記第1積算値Xと上記第2積算値Yとから、上記基準波形に対する上記被測定信号波形の位相角θを逆正接関数値arctan(Y/X)として算出する第3機能とを備え、
所定時間範囲にわたって上記第1積算値Xおよび上記第2積算値Yの各演算を繰り返し実行して、上記第1積算値Xと上記第2積算値Yの各々をさらに積算してなる第1積算総和値Xmと第2積算総和値Ymとを得、上記所定時間範囲内における位相角平均値θaveを逆正接関数値arctan(Ym/Xm)から求めることを特徴としている。
なお、cosの基準波形データJkを上記sinの基準波形データIkに対して1/4周期遅れとしてもよい。
X=VIcosθ…(4)
また、第2積算値Yは、Icos(ωt)×Vsin(ωt+θ)を0〜2πまで積分したのと同値であるから、単純な正弦関数である次式(5)で表すことができる。
Y=VIsinθ…(5)
上記式(5)よりsinθ=Y/VI,
tanθ=sinθ/cosθ,したがって、
tanθ=(Y/VI)/(X/VI)=Y/Xとなり、被測定信号波形の位相角θは第1積算値Xと第2積算値Yとに基づいて次式(6)により求めることができる。
θ=arctan(Y/X)…(6)
上記(4)のX=VIcosθより、V=X/Icosθ…(7)
上記(5)のY=VIsinθより、V=Y/Isinθ…(8)
なお、式(7),式(8)のいずれを採用するかは、演算誤差を小さく抑えるうえで、cosθとsinθとで大きい値を示す方の演算式を選択することが好ましい。
H=√(RMS2−V2)…(9)
THD−F=H/V…(10)
また、実効値基準とするTHD−Rについては、上記式(9)で算出される高調波成分Hと上記式(3)で算出される実効値RMSとに基づいて次式(11)により求めることができる。
THD−R=H/RMS…(11)
また、上記式(2)により、電圧U1の第2積算値YU1,電圧U2の第2積算値YU2,電流A1の第2積算値YA1,電流A2の第2積算値YA2を求める。
θa=θA1−θU1
θb=θA2−θU2
により求める(−値が遅れで、+値が進み)。
PR=U1(1)×A1(1)×cosθa
PT=U2(1)×A2(1)×cosθb
より求める。よって、有効電力の総和Psumは、Psum=PR+PTとなる。
QR=−U1(1)×A1(1)×sinθa
QT=−U2(1)×A2(1)×sinθb
より求める。本明細書において、無効電力と力率は+を遅れ,−を進みとする。
よって、無効電力の総和Qsumは、Qsum=QR+QTとなる。
DPFsum=si|Psum/√(Psum2+Qsum2)|…(12)
(式中、siはQsumの演算結果による符号)
また、R相の変位力率DPF1およびT相の変位力率DPF2は、
DPF1=si1|cosθa|
DPF2=si2|cosθb|
により表され、si1,si2ともにsibθa,sinθbの符号と逆の符号を付ける。
θave=arctan(Ym/Xm)…(6a)
なお、上記式(1)および上記式(2)を変形し、第1積算値をn×X,第2積算値をn×Yとして算出して、この積算値n×X,積算値n×Yを加算して上記第1積算総和値Xm,上記第2積算総和値Ymとしてもよい。
θ1=arctan(Yv/Xv)
同じく、第1積算値Xiと第2積算値Yiとから、基準波形と漏れ電流Igの位相差θ2を上記式(6)にしたがって求める。
θ2=arctan(Yi/Xi)
Va(1)=Xv/Icosθ1
Va(1)=Yv/Isinθ1
で表され、また、漏れ電流Igの基本波成分Ig(1)は、
Ig(1)=Xi/Icosθ2
Ig(1)=Yi/Isinθ2
で表されるから、いずれもcosθとsinθとで大きい値を示す方の演算式を採用して基本波成分とすることが好ましい。
Igr=Ig(1)cosθ…(13)
R=Va(1)/Igr…(14)
なお、|θ|>90゜の場合には電路bの電圧Vbを測定し、その基本波成分をFVbとして、FVb/Igrにより絶縁抵抗Rを求めることが好ましい。
Igr(RMS)=Va(RMS)/R…(15)
この場合においても、|θ|>90゜の場合には電路bの電圧Vbを測定し、その実効値をVb(RMS)として、Vb(RMS)/Rにより実効値Igr(RMS)を求めることが好ましい。
θ1=arctan(Yv/Xv)
同じく、第1積算値Xiと第2積算値Yiとから、基準波形と漏れ電流Igの位相差θ2を上記式(6)にしたがって求める。
θ2=arctan(Yi/Xi)
Vab(1)=Xv/Icosθ1
Vab(1)=Yv/Isinθ1
で表され、また、漏れ電流Igの基本波成分Ig(1)は、
Ig(1)=Xi/Icosθ2
Ig(1)=Yi/Isinθ2
で表されるから、いずれもcosθとsinθとで大きい値を示す方の演算式を採用して基本波成分とすることが好ましい。
Igr=Ig(1)cosθ+Ig(1)sinθ/tan60゜
=2/√3×Ig(1)×sin(θ+60゜)…(16)
R=Vab(1)/Igr…(17)
また、有効漏れ電流Igrの実効値Igr(RMS)は、上記式(3)で求められる電圧Vabの実効値Vab(RMS)と絶縁抵抗Rとから次式(18)により算出することができる。
Igr(RMS)=Vab(RMS)/R…(18)
2a,2b A/D変換器
3 CPU(演算処理手段)
4 第1メモリ(波形データ格納用)
5 第2メモリ(基準波形データ格納用)
6 表示部
11 電圧入力部
12 漏れ電流入力部
Claims (2)
- 電源ラインの所定相から入力される被測定信号波形をデジタルの被測定波形データに変換するA/D変換器および上記被測定波形データを記憶する第1メモリと、あらかじめ作成された基準波形である正弦波の基準波形データが格納された第2メモリと、上記各メモリからデータを得て上記被測定信号波形のパラメータを算出する演算制御手段とを備えている電源ライン測定装置において、
上記演算制御手段は、
上記第1メモリから上記被測定信号波形の1周期内に含まれるn個の被測定波形データVk(k=0〜n−1)を読み出すとともに、上記第2メモリから上記正弦波の1周期内に含まれる上記n個と同数の基準波形データIk(k=0〜n−1)を読み出して、その先頭データ同士から次式(1)
上記被測定波形データVk(k=0〜n−1)と、上記基準波形データIkを+1/4周期もしくは−1/4周期ずらした1周期内に含まれる上記n個と同数の基準波形データJk(k=0〜n−1)とを、その先頭データ同士から次式(2)
上記第1積算値Xと上記第2積算値Yとから、上記基準波形に対する上記被測定信号波形の位相角θを逆正接関数値arctan(Y/X)として算出する第3機能とを備え、
所定時間範囲にわたって上記第1積算値Xおよび上記第2積算値Yの各演算を繰り返し実行して、上記第1積算値Xと上記第2積算値Yの各々をさらに積算してなる第1積算総和値Xmと第2積算総和値Ymとを得、上記所定時間範囲内における位相角平均値θaveを逆正接関数値arctan(Ym/Xm)から求めることを特徴とする電源ライン測定装置。 - 上記式(1)および上記式(2)を変形し、上記第1積算値をn×X,上記第2積算値をn×Yとして算出して、この積算値n×X,積算値n×Yをさらに積算して上記第1積算総和値Xm,上記第2積算総和値Ymとすることを特徴とする請求項1に記載の電源ライン測定装置。
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