JP4529404B2 - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
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Description
なお、このような問題点は、重合性モノマーとしてEDTを用いた場合に限らず、他のチオフェン誘導体、ピロール、アニリン等を用いた場合にも同様に生じていた。
すなわち、陰極箔の表面に金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物からなる皮膜を形成すると共に、コンデンサ素子の修復化成後に、ポリイミドシリコーン溶液に浸漬することにより、良好な結果が得られることが判明したものである。
本発明に係る固体電解コンデンサの製造方法は以下の通りである。すなわち、表面に酸化皮膜層が形成された陽極箔と、表面に金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物又はカーボン又はインジウム酸化スズからなる皮膜が形成された陰極箔を、セパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成し、このコンデンサ素子に修復化成を施す。その後、このコンデンサ素子をポリイミドシリコーンの0.05〜20wt%のケトン系溶液に浸漬し、引き上げた後、40〜100℃で溶媒を蒸発させ、その後、150〜200℃で熱処理する。
続いて、このコンデンサ素子を、重合性モノマーと酸化剤の混合液に浸漬し、コンデンサ素子内で導電性ポリマーの重合反応を発生させ、固体電解質層を形成する。そして、このコンデンサ素子を外装ケースに収納し、開口端部を封ロゴムで封止し、固体電解コンデンサを形成する。
金属窒化物としては、TiN、ZrN、HfN、VN、TaN、NbNのいずれかを用いることが好ましい。また、金属炭化物としては、TiC、WC、ZrC、HfC、VC、TaC、NbCのいずれかを用いることが好ましく、金属炭窒化物としては、TiCN、WCN、ZrCN、HfCN、VCN、TaCN、NbCNのいずれかを用いることが好ましい。
また、陰極箔の表面に形成する金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物又はカーボン又はインジウム酸化スズからなる皮膜の厚みは、0.05〜5μmとすることが好ましく、0.2〜3μmとすることがより好ましい。その理由は、この範囲未満では、静電容量向上効果が少なく、この範囲を超えると、陰極箔と皮膜の接合強度が低下するからである。
陰極箔の表面に金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物からなる皮膜を形成する方法としては、形成される皮膜の強度、陰極との密着性、成膜条件の制御等を考慮すると、蒸着法が好ましく、なかでも、陰極アークプラズマ蒸着法がより好ましい。
この陰極アークプラズマ蒸着法の適用条件は以下の通りである。すなわち、電流値は80〜300A、電圧値は15〜20Vである。なお、窒化チタンを用いる場合は、窒素を含む全圧が1×10-1〜1×10-4Torrの雰囲気で行う。
ポリイミドシリコーンを溶解する溶媒としては、ポリイミドシリコーンの溶解性の良好なケトン系溶媒が好ましく、シクロヘキサノン、アセトン、メチルエチルケトン等を用いることができる。
また、ポリイミドシリコーンの濃度は、0.05〜20wt%、好ましくは1.5〜9wt%、さらに好ましくは2〜6wt%である。濃度がこの範囲未満では耐圧が十分ではなく、この範囲を超えると静電容量が低下する。
重合性モノマーとしてEDTを用いた場合、コンデンサ素子に含浸するEDTとしては、EDTモノマーを用いることができるが、EDTと揮発性溶媒とを1:0〜1:3の体積比で混合したモノマー溶液を用いることもできる。
前記揮発性溶媒としては、ペンタン等の炭化水素類、テトラヒドロフラン等のエーテル類、ギ酸エチル等のエステル類、アセトン等のケトン類、メタノール等のアルコール類、アセトニトリル等の窒素化合物等を用いることができるが、なかでも、メタノール、エタノール、アセトン等が好ましい。
修復化成の化成液としては、リン酸二水素アンモニウム、リン酸水素二アンモニウム等のリン酸系の化成液、ホウ酸アンモニウム等のホウ酸系の化成液、アジピン酸アンモニウム等のアジピン酸系の化成液を用いることができるが、なかでも、リン酸二水素アンモニウムを用いることが望ましい。また、浸漬時間は、5〜120分が望ましい。
本発明に用いられる重合性モノマーとしては、上記EDTの他に、EDT以外のチオフェン誘導体、アニリン、ピロール、フラン、アセチレンまたはそれらの誘導体であって、所定の酸化剤により酸化重合され、導電性ポリマーを形成するものであれば適用することができる。なお、チオフェン誘導体としては、下記の構造式のものを用いることができる。
本発明の構成により静電容量の向上が可能となる理由は、以下の通りと考えられる。すなわち、導体材料からなる陰極箔に金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物からなる皮膜を形成すると、金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物が陰極箔金属と導通して、陰極箔の容量成分がなくなり、コンデンサの合成容量は最大となって、静電容量が増大すると考えられる。
表面に酸化皮膜層が形成された陽極箔と、蒸着法によって表面に窒化チタン皮膜を形成した陰極箔に電極引き出し手段を接続し、両電極箔をセパレータを介して巻回してコンデンサ素子を形成した。そして、このコンデンサ素子をリン酸二水素アンモニウム水溶液に40分間浸漬して、修復化成を行った。その後、このコンデンサ素子をポリイミドシリコーンの2.0wt%シクロヘキサノン溶液に浸漬し、引き上げた後、170℃で1時間熱処理した。
続いて、所定の容器に、EDTとp−トルエンスルホン酸第二鉄の45wt%ブタノール溶液を、そのモル比が6:1となるように注入して混合液を調製し、コンデンサ素子を上記混合液に10秒間浸漬してコンデンサ素子にEDTと酸化剤を含浸した。そして、このコンデンサ素子を120℃の恒温槽内に1時間放置して、コンデンサ素子内でPEDTの重合反応を発生させ、固体電解質層を形成した。その後、このコンデンサ素子を有底筒状のアルミニウムケースに収納し、封ロゴムで封止し、固体電解コンデンサを形成した。なお、この固体電解コンデンサの定格電圧は2.5WV、定格容量は120μFである。
陰極箔として、炭化チタン皮膜を形成した陰極箔を用いた。他の条件は上記実施例1と同様にして固体電解コンデンサを作成した。
(実施例3)
陰極箔として、炭窒化チタン皮膜を形成した陰極箔を用いた。他の条件は上記実施例1と同様にして固体電解コンデンサを作成した。
陰極箔として、カーボン皮膜を形成した陰極箔を用いた。他の条件は上記実施例1と同様にして固体電解コンデンサを作成した。
(実施例5)
陰極箔として、インジウム酸化スズ皮膜を形成した陰極箔を用いた。他の条件は上記実施例1と同様にして固体電解コンデンサを作成した。
通常の陰極箔を用い、ポリイミドシリコーン処理を施すことなく、他の条件は上記実施例1と同様にして固体電解コンデンサを作成した。
Claims (8)
- 陽極箔と陰極箔とをセパレータを介して巻回したコンデンサ素子に、重合性モノマーと酸化剤とを含浸して導電性ポリマーからなる固体電解質層を形成する固体電解コンデンサの製造方法において、
前記陰極箔として、予めその表面に金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物又はカーボン又はインジウム酸化スズからなる皮膜を形成した陰極箔を用いてコンデンサ素子を形成し、このコンデンサ素子をポリイミドシリコーン溶液に浸漬した後、そのコンデンサ素子に、前記重合性モノマーと酸化剤を含浸させ、前記導電性ポリマーからなる固体電解質層を形成することを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。 - 前記金属窒化物が、TiN、ZrN、HfN、VN、TaN、NbNのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記金属炭化物が、TiC、WC、ZrC、HfC、VC、TaC、NbCのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記金属炭窒化物が、TiCN、WCN、ZrCN、HfCN、VCN、TaCN、NbCNのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記金属窒化物又は金属炭化物又は金属炭窒化物又はカーボン又はインジウム酸化スズからなる皮膜の厚さが、0.05〜3μmであることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記ポリイミドシリコーン溶液の濃度が0.05wt%〜20wt%であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記重合性モノマーが、チオフェン誘導体であることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記チオフェン誘導体が、3,4−エチレンジオキシチオフェンであることを特徴とする請求項7に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
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