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JP4517056B2 - Dc−dcコンバータ - Google Patents

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JP4517056B2
JP4517056B2 JP2004196646A JP2004196646A JP4517056B2 JP 4517056 B2 JP4517056 B2 JP 4517056B2 JP 2004196646 A JP2004196646 A JP 2004196646A JP 2004196646 A JP2004196646 A JP 2004196646A JP 4517056 B2 JP4517056 B2 JP 4517056B2
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Description

本発明は、DC−DCコンバータに関し、電流帰還形DC−DCコンバータ回路に適した電流検出回路およびスロープ補償回路に関する。
従来、非特許文献1に示される形式の、電流帰還形DC−DCコンバータ回路が提案され使用されている。非特許文献1に示される電流帰還形DC−DCコンバータ回路では、図2に示すような回路構成が使用され、安定度の高い常に一定の出力電圧が発生される。
図2において、VinはDC-DCコンバータに加えられる入力電圧で、VoutはDC−DCコンバータの出力電圧であり、RLは負荷を抵抗で置き換えたものである。図はVin ≧ Voutとなる降圧型を実現する構成となっている。この場合、トランジスタ10(Q1)は周期Tの一部(D×T、Dはデユーティ)で導通状態となる。ここでTは発振器210(OSC)の発振周期である。トランジスタ10(Q1)がオンするとトランジスタ10(Q1)およびインダクタ素子12(L)を通して図示のILf の電流が流れ、同時にインダクタ素子12(L)にはエネルギーの充電が起こるが、実使用の安定状態においてはVinおよびVoutは一定であるので、インダクタ素子12(L)の両端に加わる電圧は一定で、インダクタ素子12(L)の電流はこの期間において、負荷RLに流れる電流ILを平均値として、時間と共に増加する波形となる。
一方、時刻(D×T)を過ぎTまでの間では、トランジスタ10(Q1)はオフとなりダイオード11(D)がオンとなる。この時ダイオード11(D)およびインダクタ素子12(L)を通して図示の方向にILbの電流が流れ、インダクタ素子12(L)に蓄積されていたエネルギーの放電が起こる。この場合もインダクタ素子12(L)の両端に加わる電圧は一定であり、インダクタ素子12(L)の電流は、負荷RLに流れる電流を平均値として、時間と共に減少する波形となる。
以上のように発振器210(OSC)の一発振周期T内に、入力端子よりインダクタ素子12(L)にエネルギーが充電され、蓄積されたエネルギーは残りの時間内に放電されて負荷RLにエネルギーが受け渡される。この動作が1秒間にOSCの発振周波数回だけ繰り返されるので、一周期でのエネルギーの授受は小さくとも、大きな負荷電流を供給する事が出来るし、あるいはインダクタ素子12(L)のインダクタンス値を小さく出来るのである。
なおこのエネルギーの授受は、負帰還ループにより制御されている。例えば負荷抵抗が小さくなった(負荷電流が増大し、負荷での電力消費が大となった場合に相当)場合、前記蓄積されたエネルギーの放電は大となるので、前記充電されるエネルギーも大でなければならない。しかしながらこの充電されるエネルギーの割合はインダクタ素子12(L)の両端の電圧が変わらなければ、常に一定である。充電されるエネルギーを大とするには、充電時間を長くするしかない。
図2において、負荷での電力消費が大となった(負荷電流が大となった)、という情報はVout電圧とレファレンス電圧との差の電圧を誤差増幅器300で増幅することにより得られる。負荷電流が大となり、Vout電圧がわずかながら低下すると、誤差増幅器300の出力電圧Veが大となる。
図2中、OSC(210)は時刻T毎に前記充電時間を開始するためのセットパルスをラッチ220に供給する役目を持ち、比較器230の出力は前記充電時間を終了するためのリセットパルスをラッチ220に供給する役目を持っている。Veが大となれば比較器230の逆相入力端子(−で表示)の電圧が大となるので、比較器230の正相入力端子(+で表示)の電圧Vsも大とならねばリセットパルスを発生出来ない。Vsは上述のインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例する電流を、抵抗素子250(Rs)に供給して作成する。前記充電時間中には該電流は一定の割合で増大するので、Vsの値が前記比較器230の逆相入力端子の電圧より大となった瞬間に、比較器230からラッチ220にリセットパルスが送出されるが、Veが大の場合は充電時間を長くしてVsの値を大となる必要がある。したがって充電期間が増大し、この結果充電されるエネルギーも大となる。充電されるエネルギーが大となると負荷電流も増大し、その結果Voutも上昇する。以上の動作により、負荷での電力消費が大となった場合においてもVout電圧は一定に保たれる。
しかしながらVsを発生するためには、充電期間中にインダクタ素子12(L)に流れる電流、に比例する電流ILPを発生させる必要がある。充電期間中にインダクタ素子12(L)に流れる電流とトランジスタ10(Q1)に流れる電流は等しいので、一般的には、抵抗素子をトランジスタ10(Q1)と直列に接続しその両端の電圧を用いてVsを発生させる方法、あるいはトランジスタ10(Q1)と並列に接続した相似なトランジスタに流れる電流を用いる方法、などがある。
ただしこの場合、挿入した抵抗素子には負荷電流と同一レベルの大きな電流が流れる。負荷電流が大である場合には負荷100(RL)の値は小さくなるので、上記抵抗素子の抵抗値が小さくとも、相対的に負荷との抵抗比は大となり、したがって負荷100(RL)での電力消費量に比し上記抵抗素子の電力消費量の割合が大となってしまう。これはDC−DCコンバータの効率が下がる事に相当するので、抵抗を挿入せずにインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例した電流を取り出す必要がある。
また並列に相似なトランジスタを接続する方法においては、充電期間中はトランジスタ10(Q1)がオン状態にあり(線形領域で動作)、並列に接続した相似なトランジスタはその電流出力を得るために飽和領域で動作させるので、上記の2つのトランジスタの動作領域は異なる。したがって、相似なトランジスタに流れる電流は、トランジスタ10(Q1)の電流すなわちインダクタ素子12(L)の電流とは異なってしまう。
また更に、非特許文献1と図3に示されるように、図2の構成においては次のような安定性の問題が発生する。
図3は、図2における誤差増幅器300の出力電圧Ve、スロープ補償電圧Vc、およびインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例した(比例定数をKとする)電流ILPが抵抗250(Rs)に流れて発生した電圧Vs、との相互の関係を示すものである。ただし、抵抗250(Rs)に電流ILPが流れるのは、前記充電期間のみであるが、図2の系全体の動作は、前記インダクタ素子12(L)に1周期中の全期間において流れる電流により決定されているので、システムの安定性を論じる目的で、図3に示すように1周期中の全期間においてインダクタ素子12(L)に流れる電流と相似な電流を考えて、これが抵抗250(Rs)に流れVsという電圧が発生している、と考えている。
特に図3(a)は、スロープ補償電圧Vcを導入しなければ、前記充電を行う期間および充放電の1周期の時間Tとの割合(デューティ(D)と呼ぶ。)が50%を越した場合において、系の安定性が損なわれる事を示す図である。この場合、インダクタ素子12(L)の両端に加わる電圧は、前記充電を行う期間および放電を行う期間それぞれについて、一定であると仮定している。図3(a)における実線は、前記インダクタ素子12(L)の電流と相似な電流ILPが、1周期中の全期間において抵抗Rsに流れたとした場合の抵抗両端の電圧波形(すなわちVs)を表わすものである。実際のILPの波形は、上述の通り、充電を行う期間のみに電流が流れる形で、これは図2に示す波形である。
図2では、時刻ゼロでトランジスタ10(Q1)がオンとなる。この時図3(a)でVsはVeに比し低い電圧レベルにある。図2において、トランジスタ10(Q1)がオンするとインダクタ素子12(L)にVinより電流が供給されるが、この電流ILfはトランジスタ10(Q1)のエミッタ端子の電圧がVinと一致すると仮定すれば、
Figure 0004517056
で表され、時間と共に直線的に増加する電流となるので、インダクタ素子L(12)に流れる電流に比例した電流ILPが流れて発生するVsの電圧も、図3(a)のように直線的に上昇する形となる。ただし(1)式のIL0は、時刻ゼロにおけるインダクタ素子12(L)の電流を表わしている。この時のVsの傾きm1は、該電流の増加の割合をK倍したものであるから、
Figure 0004517056
である。
このようにVsは時刻と共に上昇を続け、時刻D×T後にVeと同一の電圧となる。VsがVeと同一電圧となると、図2において比較器230の出力が反転し、それ以前の、論理0の状態から論理1の状態に変わるので、ラッチ220のリセット端子(R)にパルスが入力され、ラッチ220の出力は論理0の状態に変わって、トランジスタ10(Q1)はオフに変わる。
トランジスタ10(Q1)がオフとなると、ILPは流れなくなるので図2に示すように、Vsの電圧は0に戻り、比較器230の出力は再び論理0の状態に戻るが、ラッチ220の出力には変化が無く論理0の状態に保たれるので、時刻D×T以降Tまでは、トランジスタ10(Q1)はオフとなったままである。
トランジスタ10(Q1)がオフとなった直後には、インダクタ素子12(L)には充電期間中に蓄えられたエネルギーが存在している。このエネルギーはトランジスタ10(Q1)がオフの期間である、時刻D×T以降Tの間で、図2のILbとなり放電する。ILbは、Voutが一定でダイオード11(D)による電圧降下が無視できるとすれば、
Figure 0004517056
となる。ただしILDTは時刻D×Tにおけるインダクタ素子12(L)の電流を示す。(3)式より、ILbは時間と共に減少する電流である事がわかる。この減少する電流に比例する電流が図2の抵抗Rsに流れたと考えて、Vsの変化を模擬的に図3(a)上に描くと、図3(a)の傾きm2を持つ直線となる。
したがってm2は、
Figure 0004517056
で表される形である。
なお一周期Tにおける、図2のILfおよびILbの平均値は、負荷100(RL)に流れる電流IRLに等しい。ILfおよびILbは単調に増加および減少する電流であるので、各時刻において平均値との間に差が生じるが、この差はコンデンサ13(C)に充電あるいはコンデンサ13(C)より供給される。定常状態におけるコンデンサ13(C)への電荷の出入りは、一周期で考えるとゼロである。
以上の動作を繰り返し、図2の回路は負荷100(RL)に一定の電流を供給し続けるのである。
ここでインダクタ素子12(L)に流れる電流が時刻ゼロにおいて、何らかの原因(負荷の電流が変わったなど)でΔI0だけ変動した場合を考えて見よう。この場合図2のVsの電圧は、図3(a)の点線で示される波形のように変化する。すなわち、K・ΔI0・Rsの電圧だけVsが変わる。ただし、インダクタ電流が変動しても出力電圧の大きな変動はなく、インダクタ両端の電圧は一定であると考えられるので、図3(a)の点線で示される波形のように、充電を行う期間のインダクタ電流の増加の割合に比例した値m1と、放電を行う期間の減少の割合に比例した値m2には変化がない。
ここで図3(a)において、1周期を経た時刻Tにおける安定状態からの変動量K・ΔI1・Rs を計算する。この値が前記時刻ゼロにおいて加わった電圧変動K・ΔI0・Rsより大であれば、一周期を経て変動が大となったわけであり、該変動は周期を経るごとに更に拡大して行くと考えられる。したがってこの系は不安定であると言える。一方、変動量K・ΔI1・Rs が前記時刻ゼロにおいて加わった電圧変動K・ΔI0・Rsより小であれば、一周期を経て変動が小となり、該変動は周期を経るごとに縮少して行く。したがってこのような系は安定であると言える。
図3(a)において、Vs波形の傾きm1およびm2、時刻ゼロにおける変動量K・ΔI0・Rsを用いると、
Figure 0004517056
が成り立つ。更に(2)式および(4)式を考慮すると、
Figure 0004517056
となる。(6)式は、インダクタ素子12(L)に起こった電流変動ΔI0が1周期後には(m2/m1)倍だけ増幅されてΔI1となる、という事を示している。ただし、ΔI1はΔI0の方向と逆向きとなっているので、(6)式の第2項にはマイナス符号が付く。デューティ50%以上の場合には|m2|>|m1|となるから(式(6)から考えて言い換えると、Vout>(Vin/2)の状態)、ΔI1はΔI0より大となる事がわかる。
これは、インダクタ素子12(L)に起こった電流変動は、周期を重ねる毎に次第に大きくなり、ついには発散してしまう、すなわち系は不安定である、という事である。
以上の議論は、図2の回路構成がデューティ50%以上の場合には不安定となり使用出来ない、という事を物語っている。この問題を解決するために、図3(b)に示すように時間と共に直線的に変化するスロープ補償電圧Vcを導入する。このスロープ補償電圧の傾きを−mとしよう(mは正の値である)。
ここで図3(a)での議論と同様に、インダクタ素子12(L)に流れる電流が時刻ゼロにおいて、何らかの原因(負荷の電流が変わったなど)でΔI0だけ変動したと考えて見よう。この場合Vsの電圧は、図3(b)の点線で示される波形のように変化する。すなわち、K・ΔI0・Rsの電圧だけVsが変わる。ただし、インダクタ電流が変動しても出力電圧の大きな変動はなく、インダクタ両端の電圧は一定であると考えられるので、図3(b)の点線で示される波形のように、充電を行う期間のインダクタ電流増加の割合に比例した値m1と、放電を行う期間の減少の割合に比例した値m2には変化がない。
一周期を過ぎた時刻Tにおける安定状態からの変動量K・ΔI1・Rs は、Vs波形の傾きm1、m2、Vc波形の傾き−mおよびK・ΔI0・Rsを用いると、
Figure 0004517056
すなわち、
Figure 0004517056
と計算される。(8)式は、インダクタ素子12(L)に起こった電流変動ΔI0が1周期後には(m2+m)/(m1+m)倍だけ増幅されてΔI1となる、という事を示している。
ここで、
Figure 0004517056
であれば、ΔI1はΔI0より小さくなる。すなわち系が安定となる。実際、m1とmは正の値を取り、m2は負の値をとるので、(m1+m)の値はm1の値よりも増加し、|m2+m|の値は|m2|の値に比し減少する。したがってmの値を適正に取れば、(9)式を満足させる事が出来る。(m1+m)が正の値を取り、(m2+m)の値が負となるとすれば、(9)式の条件は、
Figure 0004517056
すなわち、
Figure 0004517056
と書ける。
デューティが50%の場合にはm2=−m1となるので、(11)式の条件はm≧0となり、mの値はゼロでも良いが、デューティが100%となる場合(Vin=Voutの場合に相当)には、(2)式よりm1=0となるので、
Figure 0004517056
とする必要がある。(11)式および(12)式は、デユーティに依存して必要なmの値が変る事、およびデユーティが大となるにしたがってmの値も増加させる必要のある事、を示している。
しかしながら実際の回路においては、デユーティに依存してmの値を変化させる事が困難であるため、使用条件下で最大となるmの値に固定しておく事が通常である。
前述の通り、デユーティの相違により必要なmの値は異なる。したがって最大となるmの値を使用した場合には、系の安定性は確保されているものの、各デユーティ値における必要なmの値を提供しているわけではない。
また特許文献1中の Fig. 5 に示されているように、D/A変換器やカウンタなどを用い、折れ線グラフのようにmの値を段階的に変えて行くような方法がとられている。これは、各デユーティ値において必要なmの値を提供しようとするものであるが、D/A変換器やカウンタなどの追加機能が必要となり回路の消費電力が増大するため、DC-DCコンバータとしての効率を低下させてしまう。
「UNITRODE Application Note、U-97,3-43〜3-48」1999UNITRODE CORPORATION 米国特許第6177787号明細書「Circuits and Methods for Controlling Timing and Slope Compensation in Switching Regulators」
以上のように非特許文献1で提案されている図2の回路構成、および図3のスロープ補償方法では、インダクタ素子12(L)に流れる電流に比例した電流を検出するために、スイッチ用トランジスタ素子と直列に抵抗(電力消費が発生)を挿入する必要のある事、あるいは並列に相似なトランジスタを接続してもインダクタ素子12(L)に流れる電流を正確に検出出来ない事、デューティの変化に対応した最適なスロープ保証電圧を提供出来ない事、などの問題がある。また特許文献1で提案されているスロープ電圧波形作成方法は、デューティの変化に対応したスロープ補償電圧を作る事が出来るが、ハードウェアの規模が大となり余分な電力の発生が生じる事、などの欠点がある。
そこで本発明では、スイッチ用トランジスタ素子と直列に抵抗を接続する、あるいは並列に相似なトランジスタを接続する、事でインダクタ素子12(L)に流れる電流を検出する手法ではなく、より簡便に低消費電力でインダクタ素子12(L)に流れる電流を検出する手段を提供することを第1の目的とする。
更にスロープ補償電圧の傾きの最適値はデューティに依存する事より、デューティの変化に対応した傾きを発生させる簡便な手段を提供することを第2の目的とする。
本発明のDC-DCコンバータの第1の形態は、一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備える。
電流検出回路は、前記スイッチ用トランジスタ素子と前記インダクタ素子との接続点と入力電圧源間に、互いに直列に接続される第1および第2のスイッチ素子と、該第1および第2のスイッチ素子の接続点に現れる電圧変化を第1のインピーダンス素子の両端に印加するための増幅手段とを持ち、第1のインピーダンス素子に流れる電流を出力する。これにより、前記出力回路中のインダクタ素子に流れる電流に比例した電流を発生する。
本発明のDC-DCコンバータの第2の形態は、一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備える。
スロープ補償電流発生回路は、入力電圧源と他の電源間に、容量、電位シフト素子、および一定の電流を供給する電流源を直列に接続し、容量に並列に接続される第3のスイッチ素子と、前記電位シフト素子と前記一定の電流を供給する電流源との接続点における電圧と、入力電圧源間の電圧変化のべき乗に比例した電流を発生させる非線形な電圧-電流変換素子を持つ。この非線形な電圧-電流変換素子の出力電流は、前記一定の割合で変化する電圧のべき乗に比例した電流となる。
本発明のDC-DCコンバータの第3の形態は、一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備える。
電流合成電圧発生回路は、前記電流検出回路から出力される電流と、前記スロープ補償電流発生回路から出力される電流との合成電流を第2のインピーダンス素子に供給し、該第2のインピーダンス素子の両端に発生する電圧を出力電圧とする。
本発明によれば、簡単な回路構成でかつ低消費電力で、出力スイッチ用トランジスタ素子に直列に抵抗を接続することなく、あるいは出力スイッチ用トランジスタ素子に並列に相似なトランジスタを接続する事なく、インダクタ電流に比例した波形を電圧の形で発生させる事ができる。また、デューティに比例してその傾きが次第に大となるような、しかもその変化は連続でスムーズなものであるような、スロープ補償電圧を発生させる事が出来る。これらの電圧を合成手段により合成して用いれば、高速応答、安定動作、などの特徴を持ったDC-DCコンバータが構成出来る。
以下、本発明の実施の形態を実施例に基づき詳細に説明する。図1は、本発明実施例を示す回路構成図である。
図1において、トランジスタ10(MP1)および11(MN1)は、それぞれ出力回路のPMOSスイッチ用トランジスタ素子およびNMOSスイッチ用トランジスタ素子である。出力回路には、外付けのインダクタ素子12(L)、容量素子13(C)および負荷100(RL)が接続される。本発明の図1では、図2のNPNスイッチ用トランジスタ素子(10)およびスイッチ用ダイオード素子(11)に代えて、MOSトランジスタが使用されている。
トランジスタ10(MP1)および11(MN1)のゲート端子には、それぞれ19および20に示す制御波形が加えられているので、D×T期間中はトランジスタ10(MP1)がオンし、トランジスタ11(MN1)はオフとなる。したがって、入力VinよりLを通して電流が流れる。この期間が充電期間である。一方、周期TのうちD×Tを除く期間においては、トランジスタ10(MP1)はオフし、トランジスタ11(MN1)がオンとなる。インダクタ素子12(L)に蓄えられたエネルギーは、負荷100(RL)およびトランジスタ11(MN1)を通って放電する(放電期間)。図2においてVs電圧波形は、トランジスタ10(MP1)がオンしている期間の、インダクタ素子12(L)に流れる電流に比例したものであった。したがって、該期間にインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例した電流を作成する必要がある。
図1においては、電流検出回路200の出力電流であるIDがインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例した電流となる。IDは、スイッチ素子201(SW1)、202(SW2)、オペアンプ203、トランジスタ204(MP2)および抵抗素子205(RD)を用いて、以下のようにして発生される。
まずD×T期間中にインダクタ素子12(L)に流れる電流ILfは、トランジスタ10(MP1)に流れる電流と等しい事に着目する。該期間におけるトランジスタ10(MP1)のドレイン電流Idは、MP1がオン状態、すなわち線形領域で動作している事より、
Figure 0004517056
と表す事が出来る。ここで
β=(μpWMP1)/(LMP1)、μp:ホールの移動度、C:MP1の単位面積当りのゲート容量、WMP1:MP1のゲート幅、LMP1:MP1のゲート長、VGS:MP1のゲート・ソース間電圧、Vth:MP1のスレッショルド電圧、VDS:MP1のドレイン・ソース間電圧であり、それぞれトランジスタ10(MP1)のデバイスパラメータおよび端子間電圧で規定される量である。
この時、トランジスタ10(MP1)のオン抵抗Ron(MP1)は、VGS=Vinであるため、
Figure 0004517056
で計算されるが、MP1はオン状態であり、VDS≒0と考えて良いので、
Figure 0004517056
で近似される、と考えられる。ここでDC−DCコンバータの通常の使用状態(安定状態を指す)では、β、Vin、Vthpは一定であるので、Ron(MP1)も一定値となる。
一方、インダクタ素子12(L)に流れる電流ILfは、(1)式で与えられるので、図1における端子Aの電圧Voは、
Figure 0004517056
となる。ただしこの場合のLは、インダクタ素子のインダクタンスを表している。
DC−DCコンバータの通常の使用状態(安定状態を指す)では、(16)式の、β、L、Vin、Vthp、Voutは全て一定値であり、IL0も負荷100により定まる一定値となるので、(16)式はA点の電圧Voが時間と共に一定の割合で降下する事を示すものである。
該期間においてスイッチ素子201(SW1)をオンさせスイッチ素子202(SW2)をオフさせると、オペアンプ203の正相入力端子(+の表示)の電圧はA点の電圧と一致する。オペアンプ203とトランジスタ素子204(MP2)、抵抗素子205(RD)および電流合成電圧発生回路250の唯一の構成要素である抵抗Rs(以下、抵抗素子250(Rs)と記述する)、より成る回路では、第1に、オペアンプ203の正相入力端子の電圧と、トランジスタ素子204(MP2)のソース端子と接続されているオペアンプ203の逆相入力端子(−の表示)であるB点の電圧が一致するように動作するので、B点の電圧もA点の電圧に一致する。第2に、抵抗素子205(RD)に流れる電流は、トランジスタ素子204(MP2)を通って抵抗素子250(Rs)に流れるので、IDが抵抗素子250(Rs)に流れることにより発生する電圧Vs´は(Vin−A点の電圧Vo)の(Rs/RD)倍されるように動作する。すなわち、
Figure 0004517056
で、インダクタ素子に流れる電流ILfに比例した電圧Vs´が得られる。
なお、トランジスタ素子11(MN1)がオンする放電期間においては、スイッチ素子201(SW1)はオフでスイッチ素子202(SW2)はオンとなる。この場合、抵抗素子205(RD)の両端の電圧差はゼロとなり、Vsもゼロである。トランジスタ素子10(MP1)がオフ状態からオン状態に切り替わる際、過大な電流がトランジスタ素子10(MP1)に流れA点の電圧Voにスパイク上の電圧が現れる事がある。この場合においてもスイッチ素子201(SW1)をオンするタイミングをずらす事で、このような異常な電圧をVsに伝達せずに済む。
一方、スロープ補償電圧を発生するためのスロープ補償電流発生回路400は、容量素子401(Cs)、スイッチ素子402(SW3)、オフセット電圧源403(Vof)、定電流源404(Ic)およびトランジスタ素子405(MP3)より構成される。スロープ補償電流発生回路400の出力は電流Isであり、この電流が抵抗素子250(Rs)に流れて、Vsの一部であるスロープ補償分の電圧を発生する。
スイッチ素子402(SW3)は、インダクタ電流の充電期間にオフとなり、放電期間に
オンとなるスイッチである。トランジスタ素子10(MP1)がオンとなる充電期間において、スイッチ素子402(SW3)がオフとなると、定電流源404(Ic)の電流が容量素子401(Cs)に流れて、容量素子401(Cs)の両端の電圧は時間と共に直線的に増加する。この両端の電圧差Vcsは、
Figure 0004517056
である。このVcsとオフセット電圧源403(Vof)の電圧の和が、トランジスタ素子405(MP3)のゲート・ソース間に加わるので、トランジスタ素子405(MP3)が飽和領域で動作する事を仮定すると、スロープ補償電流発生回路400の出力電流Isは、
Figure 0004517056
となり、時間と共に増加する2次曲線となる。
ただし、βMP3=(μpWMP3)/(LMP3)、μp:ホールの移動度、C:MP3の単位面積当りのゲート容量、WMP3:MP3のゲート幅、LMP3:MP3のゲート長、Vth:MP3のスレッショルド電圧であり、それぞれトランジスタ405(MP3)のデバイスパラメータである。
Isは抵抗素子250(Rs)に供給されるので、Vsのスロープ補償電圧分として、2次曲線の形の電圧波形が得られる。2次曲線の傾きは、時間と共に増大するので、スロープ電圧の傾きも時間と共に増大する。
上述の結果を総合すると、Vsとして図4に示すような所望の電圧波形が得られる。
以上のように、図1の構成によれば、簡単な回路構成でかつ低消費電力で、出力スイッチ用トランジスタ素子に直列に抵抗を接続することなく、あるいは出力スイッチ用トランジスタ素子に並列に相似なトランジスタを接続する事なく、インダクタ電流に比例した波形を電圧の形で発生させる事ができる事がわかる。また、デューティに比例してその傾きが次第に大となるような、しかもその変化は連続でスムーズなものであるような、スロープ補償電圧を発生させる事が出来ることもわかる。これらの電圧を合成した電圧を用いて、高速応答、安定動作、などの特徴を持ったDC-DCコンバータを構成する。
次に本発明の図1の電流検出回路200およびスロープ補償電流発生回路400を用いて、実際に降圧型DC−DCコンバータ用ICを構成した例について述べる。図5にこれを示した。図5は、出力のスイッチ用トランジスタ素子であるトランジスタ10(MP1)、トランジスタ11(MN1)、帰還回路に抵抗素子22(Rf)と容量素子23(Cf)を持つ誤差増幅器300、レファレンス電圧源21(VREF)、発振器210(OSC)、フリップ・フロップ220(FF1)、比較器230および、本発明の電流検出回路200、スロープ補償電流発生回路400と電流の合成により電圧を発生する抵抗素子250(Rs)より成る。出力回路として、外付けにインダクタ素子12(L)、容量素子13(C)、負荷100(RL)、抵抗素子14(R1)および15(R2)よりなる電圧分圧器を想定している。
図5のDC−DCコンバータでは、周期Tを持つ発振器210(OSC)の出力によりフリップ・フロップ220(FF1)がセットされ、その結果Q/出力がローとなりトランジスタ10(MP1)がオンとなって充電期間が開始される。この時、トランジスタ11(MN1)はオフとなる。トランジスタ10(MP1)のゲート端子とトランジスタ11(MN1)のゲート端子には、両者ともフリップ・フロップ220(FF1)のQ/出力が加わるのであるが、トランジスタ10(MP1)とトランジスタ11(MN1)が同時にオン状態となりVinからグラウンド端子に貫通電流が流れるのを防ぐために、互いのQ/信号にはわずかな遅延を施してある。フリップ・フロップ220(FF1)より2本のQ/およびQ/´信号が出力されているのは、それぞれを区別するためである。
充電期間の開始と同時に、電流検出回路200およびスロープ補償電流発生回路400が動作し、抵抗素子250(Rs)の両端の電圧Vsも上昇し始める。一方、負荷100(RL)の両端の電圧Voutを抵抗素子14(R1)および15(R2)で分圧した電圧は、レファレンス電圧源21(VREF)の電圧と比較され、誤差増幅器300で増幅されて比較器230の逆相入力端子(−で表示)に入力されている。抵抗素子250(Rs)の両端の電圧Vsが上昇して、比較器230の逆相入力端子(−で表示)に加わっている電圧Veよりも大となると、比較器230よりフリップ・フロップ220(FF1)にリセットパルスが入力される。リセットパルスが入力されると、フリップ・フロップ220(FF1)のQ/出力およびQ/´出力はハイとなるので、トランジスタ10(MP1)はオフとなりトランジスタ11(MN1)はオンとなって、図5のDC−DCコンバータは放電期間に入る。この放電期間には、電流検出回路200およびスロープ補償電流発生回路400の出力電流はない。比較器230の出力はローとなるが、フリップ・フロップ220(FF1)の出力には変化がないので、放電期間は、発振器210(OSC)より次のトリガパルスがフリップ・フロップ220(FF1)に入力されるまで続く。
以上の動作を繰り返し、図5のDC−DCコンバータは、負荷100(RL)に安定に電流を供給し続ける。
図1の本発明の回路を組み込んだ、図5のDC−DCコンバータの動作を、SPICE回路シミュレーションにて確認した。図6にこれを示す。トランジスタのデバイスパラメータは、0.6μm設計ルールのCMOS素子のものを用いた。Vinは3.6VでVoutは2.5Vとした。図5中における各素子のパラメータ値は次のようである。
fosc=4 MHz (T=250 nS)、L=2.2μH、C=10μF、RL=20Ω、R1=400 kΩ、R2=100 kΩ、VREF=0.5 V、Rf=1,200 kΩ、Cf=20 pF、Rs=30 kΩ。
図6(a)は、図5のA点の電圧であるVoの波形およびVout波形を示すものである。Vo波形において、電圧が高い部分はトランジスタ10(MP1)がオン状態で、インダクタ素子12(L)にエネルギーが蓄積される充電期間を示している。電圧の低い部分は、トランジスタ11(MN1)がオン状態で放電期間に相当する。充電期間の方が放電期間より長く、この場合はデューティが50%以上である事がわかる。充電期間の電圧の高い部分では、電圧が時間と共に直線的に下降する。これは(16)式に示された通りである。Vout波形は、全期間を通して一定値に保たれている。
図6(b)は、図5のインダクタ素子12(L)に流れる電流の波形を示している。安定な繰り返し波形が得られている事がわかる。充電期間において、インダクタ素子12(L)に流れる電流は直線的に増加する。放電期間においては直線的に減少し、図のような波形が得られる事がわかる。
図6(c)は、図5のVs波形およびVe波形を示すものである。Vs波形は充電期間のみに変化し、放電期間においては一定値に保たれる。放電期間においては、図1のスイッチ素子201(SW1)はオフで202(SW2)および402(SW3)が共にオンしている。この時図1中のIDおよびIsは完全にはゼロにはならず、わずかな電流が流れるので、図6(c)のVs波形の電圧もゼロではなく、わずかな電圧が現れている。ただし電流の変化はなくVs波形の電圧値も一定である。充電期間においてVs波形は、時間と共に直線的に増加する図5のインダクタ素子12(L)に流れる電流に比例する電圧の変化と、2次曲線の形をしたスロープ補償電圧、との和より成り立っている事がわかり、図1の本発明の回路の動作が正しく行われている事がわかる。Vs波形の電圧がVe波形の電圧を超えたところで、図5中の比較器230よりリセットパルスが出力され、充電期間が終了するのは、前述の説明の通りである。
以上より、図1の本発明回路を用いた図5のDC−DCコンバータは、デューティが50%を越えた場合においても安定に動作する事が示される。これは図1の本発明回路の有効性を示している。
本発明の回路は、電流モード型DC−DCコンバータなどの、スロープ電流補償回路を必要とする種々の構成に適用することができる。
本発明の実施例のスロープ電流補償回路の回路構成を示す図である。 従来例の電流モード型DC−DCコンバータの回路構成を示す図である。 従来例の電流モード型DC−DCコンバータにおけるスロープ補償回路の必要性を示す図である。 本発明の回路により発生されるスロープ補償電圧波形を示す図である。 本発明の回路を適用した実施例の、電流モード型DC−DCコンバータの回路構成を示す図である。 本発明の回路を適用した実施例の、電流モード型DC−DCコンバータにおいて、スイッチ用トランジスタ素子とインダクタ素子の接続点の電圧、インダクタ電流およびスロープ補償電圧波形をシミュレーションした結果を示す図である。
符号の説明
Vin 入力電圧源
Vout DC−DCコンバータに必要な外付け回路を付加した状態での最終出力電圧
Vo スイッチ用トランジスタ素子とインダクタ素子の接続点の電圧
Vs インダクタ素子に流れる電流に比例する電圧
Ve 誤差増幅器の出力電圧
Vc スロープ補償電圧
T 周期
D デューティ
ILf、ILb 充電期間および放電期間にインダクタ素子に流れる電流
ID、Is 電流検出回路およびスロープ電流発生回路の出力電流
IRL 負荷に流れる電流
ILP 従来構成の回路中でインダクタ電流に比例した電流
m1、m2 Vsの傾き
m Vcの傾き
K 比例係数
ΔI0、ΔI1 インダクタ電流の変動量
10,11 スイッチング用トランジスタ(またはダイオード)素子
12 インダクタンス素子(L)
13 出力回路中の容量素子(C)
14、15 出力電圧を分圧する抵抗
19,20 スイッチング用トランジスタ素子のゲートに加わる電圧波形
21 レファレンス電圧源
22、23 誤差増幅器の帰還抵抗および帰還容量
100 負荷(RL)
200 電流検出回路
201、202 電流検出回路中のスイッチ
203 オペアンプ
204 電流検出回路中のトランジスタ素子
205 電流検出回路中の抵抗素子
210 発振回路(OSC)
220 ラッチ
230 比較器
240 減算器
250 Vs電圧を発生する抵抗素子
300 誤差増幅器
400 スロープ補償電流発生回路
401 スロープ補償電流発生回路中の容量素子
402 スロープ補償電流発生回路中のスイッチ素子
403 オフセット電圧源
404 定電流源
405 スロープ補償電流発生回路中のトランジスタ素子

Claims (3)

  1. 一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、
    前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、
    一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、
    上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備え、
    前記電流検出回路は、前記スイッチ用トランジスタ素子と前記インダクタ素子との接続点と入力電圧源間に、互いに直列に接続される第1および第2のスイッチ素子と、該第1および第2のスイッチ素子の接続点に現れる電圧変化を第1のインピーダンス素子の両端に印加するための増幅手段とを持ち、該第1のインピーダンス素子に流れる電流を出力する事を特徴とするDC−DCコンバータ。
  2. 一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、
    前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、
    一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、
    上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備え、
    前記スロープ補償電流発生回路は、入力電圧源と他の電源間に、容量、電位シフト素子、および一定の電流を供給する電流源を直列に接続し、容量に並列に接続される第3のスイッチ素子と、前記電位シフト素子と前記一定の電流を供給する電流源との接続点における電圧と、入力電圧源間の電圧変化のべき乗に比例した電流を発生させる非線形な電圧-電流変換素子を持つ事を特徴とするDC−DCコンバータ。
  3. 一方の端子が入力電圧源に接続され、制御入力の有無でオンおよびオフ動作を行うスイッチ用トランジスタ素子と、該スイッチ用トランジスタ素子の他方の端子と出力端子との間に接続されたインダクタ素子とを持つ出力回路と、
    前記出力回路中の、インダクタ素子に流れる電流を検出し、該電流に比例した電流を発生する電流検出回路と、
    一定の割合で変化する電圧の、べき乗に比例した電流を発生するスロープ補償電流発生回路と、
    上記両電流を合成し、該合成電流に比例した電圧を発生する電流合成電圧発生回路とを備え、
    前記電流合成電圧発生回路は、前記電流検出回路から出力される電流と、前記スロープ補償電流発生回路から出力される電流との合成電流を第2のインピーダンス素子に供給し、該第2のインピーダンス素子の両端に発生する電圧を出力電圧とする事を特徴とするDC−DCコンバータ。
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