JP4504491B2 - 高純度合成石英粉の製造方法 - Google Patents
高純度合成石英粉の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4504491B2 JP4504491B2 JP37520699A JP37520699A JP4504491B2 JP 4504491 B2 JP4504491 B2 JP 4504491B2 JP 37520699 A JP37520699 A JP 37520699A JP 37520699 A JP37520699 A JP 37520699A JP 4504491 B2 JP4504491 B2 JP 4504491B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silica
- quartz powder
- aqueous solution
- acid
- hydrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 161
- 239000010453 quartz Substances 0.000 title claims description 50
- 239000000843 powder Substances 0.000 title claims description 42
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 49
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 29
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 claims description 25
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 239000003729 cation exchange resin Substances 0.000 claims description 22
- NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;1-ethenyl-2-ethylbenzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCC1=CC=CC=C1C=C.C=CC1=CC=CC=C1C=C NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 16
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims description 15
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 13
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 10
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 27
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 7
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N Peracetic acid Chemical compound CC(=O)OO KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 4
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 229940023913 cation exchange resins Drugs 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N hydron Chemical group [H+] GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000003456 ion exchange resin Substances 0.000 description 3
- 229920003303 ion-exchange polymer Polymers 0.000 description 3
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 2
- ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N ammonium persulfate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O ROOXNKNUYICQNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 and in particular Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 2
- 238000000909 electrodialysis Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000010979 pH adjustment Methods 0.000 description 2
- LPXPTNMVRIOKMN-UHFFFAOYSA-M sodium nitrite Chemical compound [Na+].[O-]N=O LPXPTNMVRIOKMN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- JQWHASGSAFIOCM-UHFFFAOYSA-M sodium periodate Chemical compound [Na+].[O-]I(=O)(=O)=O JQWHASGSAFIOCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 2
- MLIWQXBKMZNZNF-KUHOPJCQSA-N (2e)-2,6-bis[(4-azidophenyl)methylidene]-4-methylcyclohexan-1-one Chemical compound O=C1\C(=C\C=2C=CC(=CC=2)N=[N+]=[N-])CC(C)CC1=CC1=CC=C(N=[N+]=[N-])C=C1 MLIWQXBKMZNZNF-KUHOPJCQSA-N 0.000 description 1
- LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-difluorophenoxy)pyridin-3-amine Chemical compound NC1=CC=CN=C1OC1=CC=C(F)C=C1F LCPVQAHEFVXVKT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxyphenyl)piperazin-1-yl]aniline Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1N1CCN(C=2C=CC(N)=CC=2)CC1 VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052910 alkali metal silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001870 ammonium persulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000011260 aqueous acid Substances 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000011162 core material Substances 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- BNBLBRISEAQIHU-UHFFFAOYSA-N disodium dioxido(dioxo)manganese Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Mn]([O-])(=O)=O BNBLBRISEAQIHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VTIIJXUACCWYHX-UHFFFAOYSA-L disodium;carboxylatooxy carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C(=O)OOC([O-])=O VTIIJXUACCWYHX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000003014 ion exchange membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012286 potassium permanganate Substances 0.000 description 1
- USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L potassium persulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O USHAGKDGDHPEEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005049 silicon tetrachloride Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010288 sodium nitrite Nutrition 0.000 description 1
- 229960001922 sodium perborate Drugs 0.000 description 1
- 229940045872 sodium percarbonate Drugs 0.000 description 1
- PFUVRDFDKPNGAV-UHFFFAOYSA-N sodium peroxide Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][O-] PFUVRDFDKPNGAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L sodium persulfate Substances [Na+].[Na+].[O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O CHQMHPLRPQMAMX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- YKLJGMBLPUQQOI-UHFFFAOYSA-M sodium;oxidooxy(oxo)borane Chemical compound [Na+].[O-]OB=O YKLJGMBLPUQQOI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002351 wastewater Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/10—Forming beads
- C03B19/1005—Forming solid beads
- C03B19/106—Forming solid beads by chemical vapour deposition; by liquid phase reaction
- C03B19/1065—Forming solid beads by chemical vapour deposition; by liquid phase reaction by liquid phase reactions, e.g. by means of a gel phase
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は高純度合成石英粉の製造方法に関し、特に半導体用熱処理部材、半導体単結晶引き上げ用坩堝、光学用部材、石英ランプ、炉心材、治工具、洗浄槽材などの原料として使用される高純度合成石英粉の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
石英原料は長く天然石英を使用していたが、純度のバラつき、資源の枯渇、開発による環境汚染問題などから、今日では合成石英を使用するようになってきている。
【0003】
従来、合成石英粉はテトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、四塩化珪素等を原料としていたため、高純度ではあるが高価であり、これらを使用して合成石英ガラスを製造すると高コストとなり、工業的に適性の高いものではなかった。
【0004】
一方、半導体製品の高集積化が進んでおり、特に半導体単結晶引き上げ用坩堝部材では不純物の極めて少ない高純度合成石英ガラスが求められている。こうした要求から、低コストで高純度の合成石英ガラス粉を得る試みがなされてきており、原料として安価な水ガラスを使用する方法が、特開昭59−54632号公報、特開平4−349126号公報、特開平11−11929号公報等に記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、これらの方法で得られる合成石英粉は微量な重金属を十分に取り除くことができず、特にチタンを十分に取り除くことはできなかった。
そこで、本発明の目的は、低コストな水ガラスを原料としても、高純度で極めてチタン含量の少ない合成石英粉を得ることのできる高純度合成石英粉の製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは上記課題を解決すべく鋭意研究した結果、以下の工程を経ることにより上記目的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
【0007】
即ち、本発明の高純度合成石英粉の製造方法は、水ガラスを脱アルカリ処理してシリカ水溶液を得る第1工程と、第1工程で得られたシリカ水溶液に酸化剤と酸とを加えた後、水素型陽イオン交換樹脂に通す第2工程と、第2工程で得られたシリカ水溶液をゲル化させシリカ粒子を得る第3工程と、ゲル化したシリカを過酸化水素を含有する酸の水溶液で洗浄する第4工程と、洗浄したシリカを焼成する第5工程と、を含有することを特徴とするものである。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態につき具体的に説明する。
本発明の第1工程に使用する水ガラスは特に限定されず、どのような水ガラスでも使用することができるが、好ましくはSiO2/M2O(MはNa、K、Liであり、工業的には入手の容易なNaが好ましい)のモル比が0.4〜10.0、好ましくは0.5〜8.0である水ガラスを使用する。モル比が0.4未満であると脱アルカリしてシリカ溶液を得るために過大な設備が必要であり、一方、10.0を超えると工業的に安定な水ガラスとなり得ず、水ガラスの入手が困難となり、いずれも工業的な適性を欠くこととなりやすい。
【0009】
また、水ガラスにおけるSiO2の濃度は、好ましくは2〜30重量%、より好ましくは3〜15重量%である。この濃度が2重量%未満であると後述の第3工程でのゲル化が困難であるとともに脱水時に多くのエネルギーが必要となり、工業化適性の低いものとなる。一方、30重量%を超えると第1工程で得られるシリカ水溶液が不安定となりやすい。
【0010】
上記範囲の濃度の水ガラスを得るには、幾つか方法があるが、最も簡便なのは上記濃度の水ガラスをそのまま使用する方法である。これは水ガラスの製造にあたって濃度を調製しておけばよいだけである。次には上記濃度よりも高濃度の水ガラスを水(好ましくは純水)で希釈する方法である。また、粉末の水溶性珪酸アルカリも市販されており、これを水(好ましくは純水)に溶解して上記濃度とすることでも得ることができる。
【0011】
本発明の第1工程は水ガラスを脱アルカリ処理してシリカ水溶液を得るものであるが、ここで用いられる脱アルカリ処理としては特に限定されるものではなく、例えば、陽イオン交換樹脂法、電気泳動法、電解透析法等を用いることができる。ここでの脱アルカリ処理により殆どのアルカリを除去するが、好ましくは概ねNa2O濃度1%以下程度まで、より好ましくはpH5.0以下まで脱アルカリ処理する。
【0012】
上記脱アルカリ処理として好ましいのは水素型陽イオン交換樹脂法である。ここで使用される水素型陽イオン交換樹脂は、特に限定されるものではなく、市販の強酸性型のビーズ状、繊維状、クロス状等の水素型陽イオン交換樹脂を使用することができる。
【0013】
これら水素型陽イオン交換樹脂に対する上記水ガラスの通液方法もなんら限定されるものではなく、例えばカラムに上記水素型陽イオン交換樹脂を充填して通液する方法や、水ガラスと水素型陽イオン交換樹脂をバッチ方式で処理するなどの周知の方法を用いることができる。尚、使用済みの水素型陽イオン交換樹脂は通常の方法、即ち、塩酸、硫酸、硝酸等の酸を使用して水素型に再生することができる。
【0014】
本発明の第2工程は、上記で得られたシリカ水溶液に酸化剤と酸とを加えた後、水素型陽イオン交換樹脂に通すものである。
【0015】
本発明の第2工程で使用される酸化剤は特に限定されるものではないが、例えば、過酸化水素、過酸化ナトリウム、過炭酸ナトリウム、過酢酸、過ホウ酸ナトリウム、過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム、過ヨウ素酸カリウム、過ヨウ素酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム、過硫酸ナトリウム、亜硝酸ナトリウム等を例示することができ、これらを単独若しくは複数の組み合わせで使用することができる。これらの酸化剤のなかでも過酸化水素を用いると残留物が水だけであるので後処理が全く不要であるので、作業性と効率性の点で好ましい。
【0016】
かかる酸化剤の添加は、シリカ水溶液に含まれる微量の重金属のイオン化を促し、次の第3工程における重金属の除去率を向上させる機能を有する。このため、上記酸化剤の好ましい使用量の下限値は該微量な重金属の量に依存するが、微量な重金属量測定を頻繁に行うことは工業的に不利である。しかし、該微量な重金属は原料となる水ガラスに由来するものであるので、SiO2の量を基準にして酸化剤の使用量を決めることができる。即ち、上記酸化剤の好ましい使用量は、シリカ水溶液中のSiO2重量に対して0.5ppm以上、より好ましくは1.0ppm以上である。上記酸化剤の使用量の上限は特にないが、SiO2重量に対して3000ppm以上使用しても効果に差はないので、工業的合理性の点からSiO2重量に対して3000ppm以下とするのがよい。
【0017】
本発明の第2工程で使用される酸も特に限定されるものではなく、例えば、塩酸、硫酸、硝酸等を使用すればよく、これらは単独でも複数を組み合わせて使用してもよい。第1工程を経たシリカ水溶液は一旦酸性になるが、経時的にpHは上昇し、そのままでは中性域においてゲル化を起こしてしまうので、本第2工程において酸を添加することによりシリカ水溶液を安定化させるものである。従ってこれら酸の使用量は、該シリカ水溶液のpHを0.1〜3.0、好ましくは0.2〜2.0となるような量で使用する。
【0018】
本発明の第2工程は、上記のように酸化剤及び酸を加えたシリカ水溶液を水素型陽イオン交換樹脂に通すものである。ここで使用される水素型陽イオン交換樹脂は、特に限定されるものではなく、市販の強酸性型のビーズ状、繊維状、クロス状等の水素型陽イオン交換樹脂を使用することができる。
【0019】
これら水素型陽イオン交換樹脂に対する上記シリカ水溶液の通液方法はなんら限定されるものではなく、例えばカラムに上記水素型陽イオン交換樹脂を充填して通液する方法や、シリカ水溶液と水素型陽イオン交換樹脂をバッチ方式で処理するなどの周知の方法を用いることができる。尚、使用済みの水素型陽イオン交換樹脂は通常の方法、即ち、塩酸、硫酸、硝酸等の酸を使用して水素型に再生することができる。
【0020】
上記シリカ水溶液を水素型陽イオン交換樹脂に通す処理によりシリカ水溶液中の微量な重金属、特にチタンを殆ど除去することができる。この処理の程度としては、例えば、シリカ水溶液1リットル当たり20g〜200gの水素型陽イオン交換樹脂への通液とすることが好ましい。
【0021】
本発明の第3工程は、上述の第2工程で得られたシリカ水溶液をゲル化させシリカ粒子を得るものである。かかるゲル化方法は特に限定されるものではなく、通常の方法を使用すればよい。即ち、シリカ水溶液を脱水させる方法、シリカ水溶液を加熱する方法(例えば、pH0.1〜2.0の通常使用の範囲では安定であるシリカ水溶液も加熱することによりゲル化させることができる)、シリカ水溶液のpHを2.0〜8.0、好ましくはpH4.0〜8.0に調整することによりゲル化させる方法(pH4.0未満、特にpH3.0以下であると上述のように通常使用の範囲では安定であるが長時間放置することによりこの範囲のpHでもゲル化させることができる)等を使用すればよいが、より短時間にゲル化できるという点からpHを4.0〜8.0に調整することによりゲル化させる方法が好ましい。
【0022】
本発明の第3工程に使用するシリカ水溶液は酸性であるので、pHを上記に調整するにはアルカリ剤を使用することになるが、高純度品を得る観点からアルカリ剤としてはアンモニア若しくはアンモニア水を用いることが好ましい。
【0023】
ゲル化させたシリカは通常の方法で、例えば40〜200℃の温度で乾燥し、必要に応じて粉砕することによりシリカ粒子を得ることができる。
【0024】
本発明の第4工程は、上述の第3工程で得られたシリカを洗浄することにより、シリカに付着している不純分を除去するものである。洗浄に先立ち、シリカ粒子を粉砕して微粒子化することが洗浄効果を向上させる上で好ましい。粉砕方法は特に限定されず、通常シリカ粒子の粉砕に用いられる方法を使用できる。尚、粉砕のために必要であれば、シリカ粒子を乾燥させることができる。乾燥方法は特に限定されないが、例えば40〜200℃の温度で乾燥させることができる。
【0025】
洗浄は、水洗等通常行われている方法を用いることができるが、シリカ粒子の粉砕時に鉄分が混入することがあるので、好ましくは酸の水溶液で洗浄するのがよい。尚、この場合、酸の水溶液による洗浄後、水(好ましくは超純水)ですすぎを行うことが好ましい。
【0026】
酸の水溶液としては特に限定されるものではないが、例えば、塩酸、硫酸、硝酸等を使用すればよく、これらは単独でも複数を組み合わせて使用してもよい。
酸の濃度も特に限定されるものではないが、好ましくは2〜20重量%とする。
2重量%以上であれば効果的であるが、20重量%を超えてもそれ以上効果は向上せず、かえって酸洗浄後のすすぎのための水洗時間や水洗水の浪費となりやすい。
【0027】
また、洗浄用の酸の水溶液に過酸化水素を添加すると、僅かに残存している金属分も除去することができるので、好ましい。過酸化水素は2%以上添加してもそれ以上効果は向上せず、かえって排水の処分等の問題となりやすい。尚、過酸化水素の添加効果は極微量でも生ずるが、好ましくは100ppm以上であるとその効果が顕著である。
【0028】
上記シリカの洗浄は、通常行われる洗浄と同程度で十分に行われればよいが、好ましくは40℃以上沸点以下の温度で10分〜4時間程度の時間行う。
【0029】
本発明の第5工程は、第4工程で得られたシリカを焼成することにより、OH含量の極めて少ない高純度の石英粉を得るものである。
【0030】
焼成温度及び時間は、従来高純度の石英を得る場合に行われる焼成と同程度の温度及び時間で行えばよい。高純度の石英は極力OH含量の少ないことが好ましく、より高温でより長時間の焼成を行えばそれだけOH含量の少ない石英を得ることができるので、所望とするOH含量となるよう適宜条件を設定すればよい。
【0031】
尚、第4工程で得られたシリカが水分を含んでいる場合は、一旦通常の方法で乾燥させてから焼成を行うことが効率的であり、工業的に好ましい。
【0032】
【実施例】
以下に実施例をあげて本発明をさらに説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
実施例1
第1工程として、SiO2/Na2O=3.2のモル比の原料水ガラス(SiO2濃度29重量%)を純水で希釈してSiO2濃度6重量%の水ガラスとした。この水ガラス1000gを、水素型陽イオン交換樹脂(オルガノ(株)製アーバンライトIR−120B)を充填したカラムに通液して脱アルカリし、SiO2濃度5.0重量%、pH2.5のシリカ水溶液1150gを得た。
【0033】
第2工程として、第1工程で得られたシリカ水溶液に塩酸を加えpHを1.0に調整し、酸化剤として過酸化水素をシリカ水溶液中のSiO2重量に対して2000ppm添加した。その後、このシリカ水溶液を水素型陽イオン交換樹脂(オルガノ(株)製アーバンライトIR−120B)100mlを充填したカラムに通液して、微量の金属イオンの除去された高純度のシリカ水溶液を得た。
【0034】
第3工程として、第2工程で得られたシリカ水溶液にアンモニア水を添加してシリカ水溶液のpHを6.0として室温放置し、シリカ水溶液全体をゲル化させ、シリカゲル体920gを得た。これを90℃で10時間乾燥し、575gのシリカ粒子を得た。
【0035】
第4工程として、第3工程で得られたシリカ粒子を石英乳鉢で粉砕し、概ねシリカ粒子径を0.1mm〜1mm とし、これを過酸化水素1重量%を添加した90℃の10重量%塩酸1リットルに60分間浸漬洗浄し、超純水ですすぎ洗浄して、575gの高純度シリカを得た。
【0036】
第5工程として、第4工程で得られた高純度シリカを150℃で乾燥させた後、1200℃で20時間焼成して高純度石英粉を得た。
得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0037】
実施例2
第1工程で原料水ガラスの希釈率を変え、脱アルカリする水ガラスのSiO2濃度を3.5重量%とした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0038】
実施例3
第1工程で原料水ガラスの希釈率を変え、脱アルカリする水ガラスのSiO2濃度を7.5重量%とした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0039】
実施例4
第1工程での脱アルカリで、イオン交換樹脂の量を変え、得られるシリカ水溶液のpHを4.0とした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0040】
実施例5
第1工程での脱アルカリをバッチ式に換えた他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0041】
実施例6
第1工程の脱アルカリ処理を、陰陽両イオン交換膜を4枚づつ交互に配置した電解透析槽を用い、水ガラスに3A/dm2の直流電流を通電してpH8.0となるように透析を行って脱アルカリした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0042】
実施例7
第2工程で用いる酸化剤としての過酸化水素をSiO2重量に対して100ppmとした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0043】
実施例8
第2工程で用いる酸化剤としての過酸化水素をSiO2重量に対して10ppmとした他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0044】
実施例9
第2工程で用いる酸化剤として過酸化水素に換えて過酢酸を2000ppm使用した他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0045】
実施例10
第2工程でpH調整用の塩酸を硝酸に換えた他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0046】
実施例11
第2工程でpH調整用の塩酸を硫酸に換えた他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0047】
実施例12
第2工程での水素型陽イオン交換樹脂処理をバッチ式に換えた他は実施例1と同様にして高純度石英粉を得た。得られた高純度石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0048】
比較例1
第2工程において過酸化水素を使用しなかった他は実施例1と同様にして石英粉を得た。得られた石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0049】
比較例2
第2工程において塩酸を使用しなかった他は実施例1と同様にして石英粉を得た。得られた石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0050】
比較例3
第2工程を行わなかった他は実施例1と同様にして石英粉を得た。得られた石英粉の分析値を下記の表1に示す。
【0051】
比較例4
天然石英(不純物の極めて少ない、所謂半導体グレードとよばれるもの)の分析値を下記の表1に示す。
【0052】
【表1】
表中の数値はいずれも重量ppmである。
【0053】
【発明の効果】
本発明によれば、低コストな水ガラスを原料として用いても、高純度で極めてチタン含量の少ない合成石英粉を得ることができる。
Claims (1)
- 水ガラスを脱アルカリ処理してシリカ水溶液を得る第1工程と、第1工程で得られたシリカ水溶液に酸化剤と酸とを加えた後、水素型陽イオン交換樹脂に通す第2工程と、第2工程で得られたシリカ水溶液をゲル化させシリカ粒子を得る第3工程と、ゲル化したシリカを過酸化水素を含有する酸の水溶液で洗浄する第4工程と、洗浄したシリカを焼成する第5工程と、を包含することを特徴とする高純度合成石英粉の製造方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37520699A JP4504491B2 (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 高純度合成石英粉の製造方法 |
KR1020027008282A KR100720016B1 (ko) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | 실리카 입자, 합성 석영 가루 및 합성 석영 유리의 합성방법 |
US10/169,191 US7140201B2 (en) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | Method for producing silica particles |
PCT/JP2000/009357 WO2001047808A1 (fr) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | Procedes de production de particules de silice, de particules de quartz de synthese et de verre au quartz de synthese |
CNB008176086A CN1315725C (zh) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | 二氧化硅粒子、合成石英粉、合成石英玻璃的合成方法 |
TW089128352A TWI221149B (en) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | Method for producing synthetic quartz glass |
EP00987771A EP1256547A4 (en) | 1999-12-28 | 2000-12-28 | METHOD FOR THE PRODUCTION OF SILICA, SYNTHETIC QUARTZ POWDER AND SYNTHETIC QUARTZ GLASS |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP37520699A JP4504491B2 (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 高純度合成石英粉の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001192223A JP2001192223A (ja) | 2001-07-17 |
JP4504491B2 true JP4504491B2 (ja) | 2010-07-14 |
Family
ID=18505151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP37520699A Expired - Fee Related JP4504491B2 (ja) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | 高純度合成石英粉の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4504491B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003104747A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Watanabe Shoko:Kk | 合成石英ルツボ |
JP6141710B2 (ja) * | 2013-07-16 | 2017-06-07 | 野口 崇 | 高純度合成シリカ粉末の製造方法 |
JP7174483B2 (ja) * | 2018-10-17 | 2022-11-17 | 太平洋セメント株式会社 | シリカの精製方法、およびシリカ粒子 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6321212A (ja) * | 1986-07-14 | 1988-01-28 | Jgc Corp | 高純度シリカの製造方法 |
JPH03174315A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-29 | Nippon Monsanto Kk | 高純度ケイ酸水溶液の製造方法 |
-
1999
- 1999-12-28 JP JP37520699A patent/JP4504491B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6321212A (ja) * | 1986-07-14 | 1988-01-28 | Jgc Corp | 高純度シリカの製造方法 |
JPH03174315A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-29 | Nippon Monsanto Kk | 高純度ケイ酸水溶液の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001192223A (ja) | 2001-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7140201B2 (en) | Method for producing silica particles | |
KR101426250B1 (ko) | 고순도 실리카졸 및 그의 제조방법 | |
CN107473231B (zh) | 一种对高纯石英砂尾矿的加工提纯工艺 | |
JPH0643246B2 (ja) | シリカの高純度化方法 | |
CZ302013B6 (cs) | Zpusob prípravy stabilního koloidního oxidu kremicitého | |
JP4504491B2 (ja) | 高純度合成石英粉の製造方法 | |
JP6134599B2 (ja) | 高純度シリカゾルおよびその製造方法 | |
JP2005534595A (ja) | 硫酸とフッ化水素酸を含む研磨浴におけるガラス物品研磨の際のヘキサフルオロケイ酸塩の濃度を減少させ制御するプロセス | |
CN107083168B (zh) | 一种玻璃用纳米透明隔热涂料及其应用 | |
JPH0717370B2 (ja) | 高純度ケイ酸水溶液の製造方法 | |
JP3362793B2 (ja) | シリカゾルの製造方法 | |
CN104860322B (zh) | 一种低钠离子含量高纯硅溶胶的制备方法 | |
JP4649677B2 (ja) | 高純度シリカ粒子の製造方法、これにより得られた高純度シリカ粒子及びこれを用いた高純度石英ガラス粒子の製造方法 | |
JP5057622B2 (ja) | 低ホウ素シリカ粒子の製造方法、この方法により得られる低ホウ素シリカ粒子及びこれを用いた低ホウ素石英ガラス粒子の製造方法 | |
JP2002241122A (ja) | 高純度シリカの製造方法 | |
JP2003012321A (ja) | 高純度シリカ粒子の製造方法、これにより得られた高純度シリカ粒子及びこれを用いた高純度石英ガラス粒子の製造方法 | |
JP6047395B2 (ja) | 高純度シリカゾルおよびその製造方法 | |
JPH0457606B2 (ja) | ||
JP4070154B2 (ja) | 超高純度シリカ粉及びその製造方法、並びに前記超高純度シリカ粉を用いた単結晶引上げ用シリカガラスルツボ | |
JP2001233628A (ja) | 合成石英ガラス粉末の製造方法 | |
JPH0121091B2 (ja) | ||
JP3478395B2 (ja) | シリカゾル及びシリカ粉末 | |
JPH075289B2 (ja) | 低トリウム高純度シリカの製造方法 | |
JPH05294611A (ja) | シリカゾル及びその製造方法 | |
JP2002173314A (ja) | 高純度コロイダルシリカ及び高純度合成石英粉の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091009 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100209 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100409 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100423 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4504491 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |