JP4479827B2 - 発光ダイオード表示装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
(A)(a−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(a−2)活性層、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(a−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(a−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、赤色を発光する複数の第1発光ダイオードを第1発光ダイオード製造用基板に設け、
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(b−2)活性層、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(b−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(b−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、緑色を発光する複数の第2発光ダイオードを第2発光ダイオード製造用基板に設け、
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(c−2)活性層、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(c−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(c−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、青色を発光する複数の第3発光ダイオードを第3発光ダイオード製造用基板に設け、次いで、
(B)第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードを発光ユニット製造用基板に仮固定し、所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから構成され、第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードのそれぞれの第1電極が副共通電極に接続された発光ユニットを得た後、
(C)発光ユニットを発光ユニット製造用基板から表示装置用基板に転写して固定することで、発光ユニットの複数が、第1方向、及び、第1方向と直交する第2方向に2次元マトリクス状に配列されて成る発光ダイオード表示装置を得る、
各工程を具備する。
発光ダイオード表示装置における第1発光ダイオードの配置ピッチは、第1発光ダイオード製造用基板における第1発光ダイオードの製造ピッチの整数倍であり、
発光ダイオード表示装置における第2発光ダイオードの配置ピッチは、第2発光ダイオード製造用基板における第2発光ダイオードの製造ピッチの整数倍であり、
発光ダイオード表示装置における第3発光ダイオードの配置ピッチは、第3発光ダイオード製造用基板における第3発光ダイオードの製造ピッチの整数倍であることが、発光ダイオードを製造するときに使用する材料のロス等を少なくし、且つ、製造工程を合理化するといった観点から好ましい。尚、整数倍としてどのような値を採用するかは、発光ダイオード表示装置の仕様、発光ダイオードの製造プロセス等に基づき決定すればよい。
固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定した後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)第1発光ダイオードの第2電極に接続された第1コンタクトホール部を固定層に形成し、該第1コンタクトホール部から固定層上を延びる第1パッド部を形成し、
第2発光ダイオードの第2電極に接続された第2コンタクトホール部を固定層に形成し、該第2コンタクトホール部から固定層上を延びる第2パッド部を形成し、
第3発光ダイオードの第2電極に接続された第3コンタクトホール部を固定層に形成し、該第3コンタクトホール部から固定層上を延びる第3パッド部を形成し、
副共通電極に接続された第4コンタクトホール部を固定層に形成し、該第4コンタクトホール部から固定層上を延びる第4パッド部を形成し、以て、発光ユニットを得た後、
(B−5)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
絶縁材料層、並びに、絶縁材料層によって覆われ、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)絶縁材料層によって囲まれるように、表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1パッド部と第1の共通電極とを電気的に接続する第1接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2パッド部と第2の共通電極とを電気的に接続する第2接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3パッド部と第3の共通電極とを電気的に接続する第3接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
第4パッド部と第4の共通電極とを電気的に接続する第4接続部を、固定層から絶縁材料層上に亙り形成する、
各工程を備えている構成とすることができる。尚、このような構成を、便宜上、『本発明の第1の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法』と呼ぶ。
固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、本発明の第1の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法における工程(B)[即ち、工程(B−1)から工程(B−5)]を実行し、
第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層を形成した後、
(C−4)第1パッド部と第1の共通電極とを電気的に接続する第1接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2パッド部と第2の共通電極とを電気的に接続する第2接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3パッド部と第3の共通電極とを電気的に接続する第3接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
第4パッド部と第4の共通電極とを電気的に接続する第4接続部を、固定層から絶縁材料層上に亙り形成する、
各工程を備えている構成とすることができる。尚、このような構成を、便宜上、『本発明の第2の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法』と呼ぶ。
固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定して発光ユニットを得た後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
絶縁材料層、並びに、絶縁材料層によって覆われた、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)絶縁材料層によって囲まれるように、表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1発光ダイオードの第2電極と第1の共通電極とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第1接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2発光ダイオードの第2電極と第2の共通電極とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第2接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3発光ダイオードの第2電極と第3の共通電極とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第3接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
副共通電極と第4の共通電極とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第4接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成する、
各工程を備えている構成とすることができる。尚、このような構成を、便宜上、『本発明の第3の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法』と呼ぶ。
固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、本発明の第3の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法における工程(B)[即ち、工程(B−1)から工程(B−4)]を実行し、
第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層を形成した後、
(C−4)第1発光ダイオードの第2電極と第1の共通電極とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第1接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2発光ダイオードの第2電極と第2の共通電極とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第2接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3発光ダイオードの第2電極と第3の共通電極とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第3接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
副共通電極と第4の共通電極とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第4接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成する、
各工程を備えている構成とすることができる。尚、このような構成を、便宜上、『本発明の第4の構成に係る発光ダイオード表示装置の製造方法』と呼ぶ。
(a−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(a−2)活性層、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(a−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(a−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、赤色を発光する所望の数の第1発光ダイオード、
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(b−2)活性層、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(b−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(b−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、緑色を発光する所望の数の第2発光ダイオード、並びに、
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(c−2)活性層、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(c−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(c−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、青色を発光する所望の数の第3発光ダイオード、
から構成された発光ユニットの複数が、第1方向、及び、第1方向と直交する第2方向に2次元マトリクス状に配列されて成り、
各発光ユニットにおける第1発光ダイオードの第1電極、第2発光ダイオードの第1電極及び第3発光ダイオードの第1電極は、副共通電極に接続されており、
第1方向に沿って配列された各発光ユニットにおける第1発光ダイオードの第2電極、第2発光ダイオードの第2電極及び第3発光ダイオードの第2電極のそれぞれは、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極に接続されており、
第2方向に沿って配列された各発光ユニットにおける副共通電極は、第2方向に沿って延びる第4の共通電極に接続されている。
第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極は、表示装置用基板上に形成されており、
副共通電極は、表示装置用基板上に固定された固定層に形成されており、
発光ユニットにおける第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードは、固定層に固定されており、
固定層は、第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆う絶縁材料層によって囲まれており、
発光ユニットにおける第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードは、それぞれの第1電極が副共通電極に接続された状態で、副共通電極上に配置されており、
第1発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第1コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第1接続部を介して、第1の共通電極に接続されており、
第2発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第2コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第2接続部を介して、第2の共通電極に接続されており、
第3発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第3コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第3接続部を介して、第3の共通電極に接続されており、
副共通電極は、固定層に形成された第4コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層上に亙り形成された第4接続部を介して、絶縁材料層上に形成された第4の共通電極に接続されている構成とすることができる。
第1コンタクトホール部と第1接続部との間には、固定層に形成された第1パッド部が備えられており、
第2コンタクトホール部と第2接続部との間には、固定層に形成された第2パッド部が備えられており、
第3コンタクトホール部と第3接続部との間には、固定層に形成された第3パッド部が備えられており、
第4コンタクトホール部と第4接続部との間には、固定層に形成された第4パッド部が備えられている形態とすることができる。
第1パッド部の大きさは、第1発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第2パッド部の大きさは、第2発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第3パッド部の大きさは、第3発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きい構成とすることができる。具体的には、第1パッド部、第2パッド部あるいは第3パッド部の大きさ(面積)をSP、第1発光ダイオード、第2発光ダイオードあるいは第3発光ダイオードの第2電極の大きさ(面積)をSEとしたとき、
SE<SP<LU/3
好ましくは、
SE<SP<LU/12
を満足することが望ましい。ここで、LUは1画素の一辺の長さの最大値を指す。
第1コンタクトホール部を塞いでいる第1パッド部の中心は、第1コンタクトホール部の中心と一致しておらず、第1パッド部の中心は、第1の共通配線側にずれており、
第2コンタクトホール部を塞いでいる第2パッド部の中心は、第2コンタクトホール部の中心と一致しておらず、第2パッド部の中心は、第2の共通配線側にずれており、
第3コンタクトホール部を塞いでいる第3パッド部の中心は、第3コンタクトホール部の中心と一致しておらず、第3パッド部の中心は、第3の共通配線側にずれている構成とすることができる。このような構成を採用することで、たとえ、第1接続部、第2接続部及び第3接続部の形成時、これらの接続部と第4接続部との間に距離的なゆとりを得ることができ、これらの接続部と第4接続部との間に短絡が生じることを確実に防止することができる。
第1発光ダイオードと第2発光ダイオードと第3発光ダイオードとから構成された1画素の第1方向に沿った長さをLP-1、第2方向に沿った長さをLP-2とし、発光ユニットの第1方向に沿った長さをLU-1、第2方向に沿った長さをLU-2としたとき、
LU-1/LP-1≦0.5
LU-2/LP-2≦0.5
好ましくは、
LU-1/LP-1≦0.5
LU-2/LP-2≦0.25
を満足することが望ましい。
2.5×10-11m2≦Smax≦1×10-8m2、
好ましくは、
2.5×10-11m2≦Smax≦2.5×10-9m2
を満足することが望ましい。また、1つの発光ユニットにおける第1発光ダイオード、第2発光ダイオード、第3発光ダイオードのそれぞれの光出射面の面積の総和をSTotalとし、1つの発光ユニットの面積をSUnitとしたとき、限定するものではないが、
3×100≦SUnit/STotal≦1.3×104、
好ましくは、
5≦SUnit/STotal≦1×103
を満足することが望ましい。
(a−1)第1導電型(具体的には、実施例1にあってはn型)を有する第1化合物半導体層11、
(a−2)活性層13、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型(具体的には、実施例1にあってはp型)を有する第2化合物半導体層12、
(a−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極114、及び、
(a−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極115、
から成る。
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層11、
(b−2)活性層13、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層12、
(b−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極214、及び、
(b−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極215、
から成る。
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層11、
(c−2)活性層13、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層12、
(c−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極314、及び、
(c−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極315、
から成る。
SP/SE=2
である。
LU-1/LP-1≦0.5
LU-2/LP-2≦0.5
を満足している。より具体的には、
LU-1/LP-1=2
LU-2/LP-2=4
とした。また、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210、第3発光ダイオード310の内、最大の発光ダイオードの光出射面の面積をSmaxとしたとき、
2.5×10-11m2≦Smax≦1×10-8m2
を満足している。より具体的には、
Smax=1×10-10m2
とした。更には、1つの発光ユニットにおける第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210、第3発光ダイオード310のそれぞれの光出射面の面積の総和をSTotalとし、1つの発光ユニットの面積をSUnitとしたとき、
3×100≦SUnit/STotal≦1.3×104
を満足している。より具体的には、
SUnit/STotal=1.3×101
とした。また、発光ユニットを構成する第1発光ダイオード110の所望の数をN1、発光ユニットを構成する第2発光ダイオード210の所望の数をN2、発光ユニットを構成する第3発光ダイオード310の所望の数をN3としたとき、(N1,N2,N3)の値の組合せを、(1,1,1)とした。
先ず、周知の方法で、発光ダイオード10(110,210,310)を製造する。即ち、
(a−1)第1導電型(具体的には、実施例1にあってはn型)を有する第1化合物半導体層11、
(a−2)活性層13、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型(具体的には、実施例1にあってはp型)を有する第2化合物半導体層12、
(a−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極114、及び、
(a−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極115、
を備え、赤色を発光する複数の第1発光ダイオード110を第1発光ダイオード製造用基板に設け、
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層11、
(b−2)活性層13、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層12、
(b−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極、及び、
(b−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極、
を備え、緑色を発光する複数の第2発光ダイオード210を第2発光ダイオード製造用基板に設け、
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層11、
(c−2)活性層13、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層12、
(c−4)第1化合物半導体層11に電気的に接続された第1電極、及び、
(c−5)第2化合物半導体層12に電気的に接続された第2電極、
を備え、青色を発光する複数の第3発光ダイオード310を第3発光ダイオード製造用基板に設ける。
その後、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210及び第3発光ダイオード310を発光ユニット製造用基板53に仮固定し、所望の数の第1発光ダイオード110、所望の数の第2発光ダイオード210及び所望の数の第3発光ダイオード310から構成され、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210及び第3発光ダイオード310のそれぞれの第1電極114,214,314が副共通電極43に接続された発光ユニットを得る。
具体的には、第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオード110を固定層34に転写し、第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオード210を固定層34に転写し、第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオード310を固定層34に転写する。尚、これらの転写の順序は、本質的に任意である。そのために、固定層34が設けられた第1転写基板31を準備しておく。固定層34は、前述したとおり、第1転写基板側から、絶縁層32と埋込み材料層33の2層構成を有する。絶縁層32はポリイミド系樹脂から成り、埋込み材料層33は、感光性樹脂から成る。尚、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210、第3発光ダイオード310を埋め込むべき埋込み材料層33の部分を未硬化とし、埋込み材料層33の他の部分を硬化させておく。
そして、先ず、仮固定用基板20に第2電極15(115,215,315)が接するように仮固定用基板20に貼り合わせ後、発光ダイオード製造用基板10Aを発光ダイオード10(110,210,310)から除去する。その後、露出した第1化合物半導体層11にn側電極である第1電極14(114,214,314)を形成する。具体的には、先ず、第2電極15(115,215,315)を仮固定用基板20に貼り合わせる(図4の(B)及び図5の(A)参照)。より具体的には、表面に未硬化の接着剤から成る接着層21が形成されたガラス基板から成る仮固定用基板20を準備する。そして、第2電極15(115,215,315)と接着層21とを貼り合わせ、接着層21を硬化させる。その後、発光ダイオード製造用基板10Aを発光ダイオード10(110,210,310)から除去する。具体的には、発光ダイオード10(110,210,310)(より具体的には、第1化合物半導体層11)と発光ダイオード製造用基板10Aとの界面に、発光ダイオード製造用基板10Aを介してエキシマレーザを照射する。すると、レーザ・アブレーションが生じる結果、発光ダイオード製造用基板10Aを発光ダイオード10(110,210,310)から剥離することができる。その後、リフトオフ法と真空蒸着法にてn側電極である第1電極14(114,214,314)を第1化合物半導体層11上に形成する。こうして、図5の(B)に示す構造を得ることができる。
次に、所望の発光ダイオード10(110,210,310)を仮固定用基板20から中継基板22に転写する。即ち、仮固定用基板20に貼り合わされた発光ダイオード10(110,210,310)を、中継基板22に付着させる。具体的には、先ず、図34の(A)に模式的に図示するように、発光ダイオード10がアレイ状(2次元マトリクス状)に残された仮固定用基板20上の発光ダイオード10(110,210,310)に、ガラス板から成る中継基板22の表面に形成された微粘着層23を押し当てる(図6の(A)及び図6の(B)参照)。尚、図34の(A)、(B)及び図35の(A)、(B)において、中心に「G」が記載された丸印は、緑色を発光する第2発光ダイオード210を示し、図35の(B)において、中心に「R」が記載された丸印は、赤色を発光する第1発光ダイオード110を示し、中心に「B」が記載された丸印は、青色を発光する第3発光ダイオード310を示す。微粘着層23は、例えば、シリコーンゴムから成る。中継基板22は、図示しない位置決め装置に保持されている。そして、位置決め装置の作動によって、中継基板22と仮固定用基板20との位置関係を調整することができる。次いで、実装すべき発光ダイオード10(110,210,310)に対して、仮固定用基板20の裏面側から、例えば、エキシマレーザを照射する(図7の(A)参照)。これによって、レーザ・アブレーションが生じ、エキシマレーザが照射された発光ダイオード10(110,210,310)は、仮固定用基板20から剥離する。その後、中継基板22と発光ダイオード10との接触を解くと、仮固定用基板20から剥離した発光ダイオード10は、微粘着層23に付着した状態となる(図7の(B)参照)。仮固定用基板20の状態を図34の(B)に模式的に図示するが、第1の方向にあっては6個の発光ダイオード毎に1つの発光ダイオードが、また、第2の方向にあっては3個の発光ダイオード毎に1つの発光ダイオードが、微粘着層23に付着した状態となる。
次に、発光ユニットを形成すべき所望の数(実施例1にあっては、N1=1)の第1発光ダイオード110、所望の数(実施例1にあっては、N2=1)の第2発光ダイオード210及び所望の数(実施例1にあっては、N3=1)の第3発光ダイオード310から成る発光ダイオード群110,210,310におけるそれぞれの第1電極114,214,314上から固定層34上に亙り、スパッタリング法及びリフトオフ法に基づき、副共通電極43を形成する。
その後、固定層34及び副共通電極43を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群110,210,310を発光ユニット製造用基板53に貼り合わせて仮固定した後、第1転写基板31を除去する。具体的には、エポキシ樹脂やポリイミド樹脂といったレーザ・アブレーション性を有する樹脂層から成るレーザ剥離層52、及び、エポキシ樹脂等から成り、接着層としても機能する絶縁層(第2絶縁層51)が形成された発光ユニット製造用基板53を準備し、固定層34及び副共通電極43を、第2絶縁層51に貼り合わせて仮固定する(図11の(A)、(B)及び(C)参照)。その後、第1転写基板31の側から、例えば、エキシマレーザを照射する。これによって、レーザ・アブレーションが生じ、第1転写基板31は絶縁層32から剥離する(図12の(A)、(B)及び(C)参照)。
次に、第1発光ダイオード110の第2電極115に接続された第1コンタクトホール部121を固定層34に形成し、この第1コンタクトホール部121から固定層34上を延びる第1パッド部122を形成する。併せて、第2発光ダイオード210の第2電極215に接続された第2コンタクトホール部221を固定層34に形成し、この第2コンタクトホール部221から固定層34上を延びる第2パッド部222を形成する。更には、第3発光ダイオード310の第2電極315に接続された第3コンタクトホール部321を固定層34に形成し、この第3コンタクトホール部321から固定層34上を延びる第3パッド部322を形成する。併せて、副共通電極43に接続された第4コンタクトホール部421を固定層34に形成し、この第4コンタクトホール部421から固定層34上を延びる第4パッド部422を形成する。こうして、発光ユニットを得ることができる。具体的には、周知のリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、第2電極115,215,315並びに金属層41の上方の絶縁層32に開口部501,502,503,504を設ける。そして、係る開口部501,502,503,504内を含む絶縁層32上に金属材料層をスパッタリング法にて形成し、周知のリソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、係る金属材料層をパターニングすることで、第1コンタクトホール部121、第1パッド部122、第2コンタクトホール部221、第2パッド部222、第3コンタクトホール部321、第3パッド部322、第4コンタクトホール部421、第4パッド部422を得ることができる(図13の(A)、(B)及び(C)参照、並びに、図14の(A)、(B)及び(C)参照)。
次いで、発光ダイオード群110,210,310から構成された発光ユニットを、固定層34においてレーザ照射法に基づき分離する。尚、14の(A)、(B)及び(C)において、レーザを照射する部分を、白抜きの矢印で示す。
具体的には、先ず、発光ユニットを発光ユニット製造用基板53から表示装置用基板61に転写して固定することで、発光ユニットの複数が、第1方向、及び、第1方向と直交する第2方向に2次元マトリクス状に配列されて成る発光ダイオード表示装置を得る。
具体的には、先ず、各発光ユニットを第2転写基板(図示せず)に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板53を除去する。具体的には、[工程−110A−(2)]と実質的に同じ工程を実行すればよい。具体的には、発光ユニット製造用基板53の裏面側から、例えば、エキシマレーザを照射する。これによって、レーザ・アブレーションが生じ、発光ユニット製造用基板53がレーザ剥離層52から剥離する。
次いで、絶縁材料層71によって囲まれるように、表示装置用基板61上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去する。具体的には、発光ユニット及びその周囲の固定層34を、絶縁材料層71によって囲まれた露出した第4絶縁層63の上に配置(移動あるいは転写)する(図15の(A)、(B)、(C)参照)。より具体的には、第2転写基板上に形成されたアライメントマークを基準に、発光ユニット及びその周囲の固定層34を第2転写基板31から絶縁材料層71によって囲まれた露出した第4絶縁層63の上に配置する。発光ユニット及びその周囲の固定層34は、第2転写基板に設けられた微粘着層(図示せず)に弱く付着しているだけなので、発光ユニット及びその周囲の固定層34を第4絶縁層63と接触させた(押し付けた)状態で第2転写基板を表示装置用基板61から離れる方向に移動させると、発光ユニット及びその周囲の固定層34は第4絶縁層63の上に残される。更には、発光ユニット及びその周囲の固定層34をローラー等で第4絶縁層63に深く埋入することで、発光ユニット及びその周囲の固定層34を第4絶縁層63に固定(配置)することができる。全ての発光ユニットの配置が完了した後、第4絶縁層63を硬化させる。
その後、絶縁性樹脂から成る平坦化層72をスピンコーティング法にて全面に形成することで、平滑化された平坦化層72を得る。こうして、図16の(A)、(B)及び(C)に示す構造を得ることができる。
次いで、第1パッド部122と第1の共通電極401とを電気的に接続する第1接続部124を、固定層34から絶縁材料層71に亙り形成し、併せて、第2パッド部222と第2の共通電極402とを電気的に接続する第2接続部224を、固定層34から絶縁材料層71に亙り形成し、併せて、第3パッド部322と第3の共通電極403とを電気的に接続する第3接続部324を、固定層34から絶縁材料層71に亙り形成し、併せて、第4の共通電極404を絶縁材料層71上に形成し、更には、第4パッド部422と第4の共通電極404とを電気的に接続する第4接続部424を、固定層34から絶縁材料層71上に亙り形成する。
先ず、実施例1の[工程−100]と同様の方法で、発光ダイオード10(110,210,310)を製造する。次いで、実施例1の(工程−110)、即ち、[工程−110A]([工程−110A−(1)]及び[工程−110A−(2)])、[工程−110B]、[工程−110C]、[工程−110D]、[工程−110E]と同様の工程を実行することで、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210及び第3発光ダイオード310を発光ユニット製造用基板53に仮固定し、所望の数の第1発光ダイオード110、所望の数の第2発光ダイオード210及び所望の数の第3発光ダイオード310から構成され、第1発光ダイオード110、第2発光ダイオード210及び第3発光ダイオード310のそれぞれの第1電極114,214,314が副共通電極43に接続された発光ユニットを得る。
実施例2にあっては、第1方向に沿って延びる第1の共通電極401、第2の共通電極402及び第3の共通電極403が形成された表示装置用基板61を準備しておく。尚、実施例1と異なり、この時点においては、絶縁材料層は形成されていない。
そして、実施例1の[工程−120A]と同様にして、各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板53を除去する。
次いで、表示装置用基板61上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去する。具体的には、実施例1の[工程−120B]と同様にして、発光ユニット及びその周囲の固定層34を、所定の第4絶縁層63の部分の上に配置(移動あるいは転写)する(図20の(A)、(B)、(C)参照)。
その後、第1の共通電極401、第2の共通電極402及び第3の共通電極403を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層171を形成する(図21の(A)、(B)、(C)参照)。具体的には、全面に、CVD法にてSiO2から成る絶縁材料層171を形成した後、絶縁材料層171を研磨することで、あるいは又、絶縁材料層171をエッチバックすることで、第1パッド部122、第2パッド部222、第3パッド部322及び第4パッド部422を露出させる。
次に、第1パッド部122と第1の共通電極401とを電気的に接続する第1接続部124を、固定層34から絶縁材料層171に亙り形成し、併せて、第2パッド部222と第2の共通電極402とを電気的に接続する第2接続部224を、固定層34から絶縁材料層171に亙り形成し、併せて、第3パッド部322と第3の共通電極403とを電気的に接続する第3接続部324を、固定層34から絶縁材料層171に亙り形成し、併せて、第4の共通電極404を絶縁材料層171上に形成し、且つ、第4パッド部422と第4の共通電極404とを電気的に接続する第4接続部424を、固定層34から絶縁材料層171上に亙り形成する。
先ず、実施例1の[工程−100]と同様の方法で、発光ダイオード10(110,210,310)を製造する。次いで、実施例1の[工程−110A]、[工程−110B]を実行し、更に、実施例1の[工程−110C]である、固定層34及び副共通電極43を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群110,210,310を発光ユニット製造用基板53に貼り合わせて仮固定して発光ユニットを得た後、第1転写基板31を除去する。その後、実施例1の[工程−110E]と同様の工程を実行することで、発光ユニットを固定層34において分離する。
一方、実施例1と同様に、絶縁材料層71、並びに、絶縁材料層71によって覆われた、第1方向に沿って延びる第1の共通電極401、第2の共通電極402及び第3の共通電極403が形成された表示装置用基板61を準備しておく。
そして、実施例1の[工程−120A]と同様にして、各発光ユニットを第2転写基板(図示せず)に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板53を除去する。
次いで、実施例1の[工程−120B]及び[工程−120C]と同様にして、絶縁材料層71によって囲まれるように、表示装置用基板61上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去する(図25の(A)、(B)、(C)、及び、図26の(A)、(B)、(C)参照)。
その後、第1発光ダイオード110の第2電極115と第1の共通電極401とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部121を固定層34に形成し、且つ、第1接続部124を固定層34から平坦化層72、絶縁材料層71に亙り形成する。併せて、第2発光ダイオード210の第2電極215と第2の共通電極402とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部221を固定層34に形成し、且つ、第2接続部224を固定層34から平坦化層72、絶縁材料層71に亙り形成する。併せて、第3発光ダイオード310の第2電極315と第3の共通電極403とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部321を固定層34に形成し、且つ、第3接続部324を固定層34から平坦化層72、絶縁材料層71に亙り形成する。併せて、第4の共通電極404を絶縁材料層71上に形成し、副共通電極43と第4の共通電極404とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部421を固定層34に形成し、且つ、第4接続部424を固定層34から平坦化層72、絶縁材料層71に亙り形成する。
先ず、実施例3の[工程−300]と同様の工程を実行する。
実施例4にあっては、実施例2と同様に、第1方向に沿って延びる第1の共通電極401、第2の共通電極402及び第3の共通電極403が形成された表示装置用基板61を準備しておく。尚、実施例3と異なり、この時点においては、絶縁材料層は形成されていない。
そして、実施例1の[工程−120A]と同様にして、各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板53を除去する。
その後、実施例2の[工程−210B]と同様にして、表示装置用基板61上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去する(図30の(A)、(B)、(C)参照)。
次いで、第1の共通電極401、第2の共通電極402及び第3の共通電極403を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層171を、実施例2の[工程−210C]と同様にして形成する(図31の(A)、(B)、(C)参照)。
その後、第1発光ダイオード110の第2電極115と第1の共通電極401とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部121を固定層34に形成し、且つ、第1接続部124を固定層34から絶縁材料層171に亙り形成する。併せて、第2発光ダイオード210の第2電極215と第2の共通電極402とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部221を固定層34に形成し、且つ、第2接続部224を固定層34から絶縁材料層171に亙り形成する。併せて、第3発光ダイオード310の第2電極315と第3の共通電極403とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部321を固定層34に形成し、且つ、第3接続部324を固定層34から絶縁材料層171に亙り形成する。併せて、第4の共通電極404を絶縁材料層171上に形成し、副共通電極43と第4の共通電極404とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部421を固定層34に形成し、且つ、第4接続部424を固定層34から絶縁材料層171に亙り形成する。具体的には、実施例3の[工程−310C]と同様の工程を実行すればよい。
Claims (20)
- (A)(a−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(a−2)活性層、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(a−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(a−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、赤色を発光する複数の第1発光ダイオードを第1発光ダイオード製造用基板に設け、
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(b−2)活性層、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(b−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(b−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、緑色を発光する複数の第2発光ダイオードを第2発光ダイオード製造用基板に設け、
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(c−2)活性層、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(c−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(c−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
を備え、青色を発光する複数の第3発光ダイオードを第3発光ダイオード製造用基板に設け、次いで、
(B)第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードを発光ユニット製造用基板に仮固定し、所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから構成され、第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードのそれぞれの第1電極が副共通電極に接続された発光ユニットを得た後、
(C)発光ユニットを発光ユニット製造用基板から表示装置用基板に転写して固定することで、発光ユニットの複数が、第1方向、及び、第1方向と直交する第2方向に2次元マトリクス状に配列されて成る発光ダイオード表示装置を得る、
各工程を具備する発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 発光ダイオード表示装置における第1発光ダイオードの配置ピッチは、第1発光ダイオード製造用基板における第1発光ダイオードの製造ピッチの整数倍であり、
発光ダイオード表示装置における第2発光ダイオードの配置ピッチは、第2発光ダイオード製造用基板における第2発光ダイオードの製造ピッチの整数倍であり、
発光ダイオード表示装置における第3発光ダイオードの配置ピッチは、第3発光ダイオード製造用基板における第3発光ダイオードの製造ピッチの整数倍である請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定した後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)第1発光ダイオードの第2電極に接続された第1コンタクトホール部を固定層に形成し、該第1コンタクトホール部から固定層上を延びる第1パッド部を形成し、
第2発光ダイオードの第2電極に接続された第2コンタクトホール部を固定層に形成し、該第2コンタクトホール部から固定層上を延びる第2パッド部を形成し、
第3発光ダイオードの第2電極に接続された第3コンタクトホール部を固定層に形成し、該第3コンタクトホール部から固定層上を延びる第3パッド部を形成し、
副共通電極に接続された第4コンタクトホール部を固定層に形成し、該第4コンタクトホール部から固定層上を延びる第4パッド部を形成し、以て、発光ユニットを得た後、
(B−5)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
絶縁材料層、並びに、絶縁材料層によって覆われ、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)絶縁材料層によって囲まれるように、表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1パッド部と第1の共通電極とを電気的に接続する第1接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2パッド部と第2の共通電極とを電気的に接続する第2接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3パッド部と第3の共通電極とを電気的に接続する第3接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
第4パッド部と第4の共通電極とを電気的に接続する第4接続部を、固定層から絶縁材料層上に亙り形成する、
各工程を備えている請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定した後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)第1発光ダイオードの第2電極に接続された第1コンタクトホール部を固定層に形成し、該第1コンタクトホール部から固定層上を延びる第1パッド部を形成し、
第2発光ダイオードの第2電極に接続された第2コンタクトホール部を固定層に形成し、該第2コンタクトホール部から固定層上を延びる第2パッド部を形成し、
第3発光ダイオードの第2電極に接続された第3コンタクトホール部を固定層に形成し、該第3コンタクトホール部から固定層上を延びる第3パッド部を形成し、
副共通電極に接続された第4コンタクトホール部を固定層に形成し、該第4コンタクトホール部から固定層上を延びる第4パッド部を形成し、以て、発光ユニットを得た後、
(B−5)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層を形成した後、
(C−4)第1パッド部と第1の共通電極とを電気的に接続する第1接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2パッド部と第2の共通電極とを電気的に接続する第2接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3パッド部と第3の共通電極とを電気的に接続する第3接続部を、固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
第4パッド部と第4の共通電極とを電気的に接続する第4接続部を、固定層から絶縁材料層上に亙り形成する、
各工程を備えている請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定して発光ユニットを得た後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
絶縁材料層、並びに、絶縁材料層によって覆われた、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)絶縁材料層によって囲まれるように、表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1発光ダイオードの第2電極と第1の共通電極とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第1接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2発光ダイオードの第2電極と第2の共通電極とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第2接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3発光ダイオードの第2電極と第3の共通電極とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第3接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
副共通電極と第4の共通電極とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第4接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成する、
各工程を備えている請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 固定層が設けられた第1転写基板を準備しておき、
前記工程(B)においては、
(B−1)第1発光ダイオード製造用基板上の第1発光ダイオードを固定層に転写し、
第2発光ダイオード製造用基板上の第2発光ダイオードを固定層に転写し、
第3発光ダイオード製造用基板上の第3発光ダイオードを固定層に転写した後、
(B−2)発光ユニットを形成すべき所望の数の第1発光ダイオード、所望の数の第2発光ダイオード及び所望の数の第3発光ダイオードから成る発光ダイオード群におけるそれぞれの第1電極上から固定層上に亙り、副共通電極を形成し、次いで、
(B−3)固定層及び副共通電極を介して発光ユニットを形成すべき発光ダイオード群を発光ユニット製造用基板に貼り合わせて仮固定して発光ユニットを得た後、第1転写基板を除去し、次いで、
(B−4)発光ユニットを固定層において分離する、
各工程を備え、
第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極が形成された表示装置用基板を準備しておき、
前記工程(C)においては、
(C−1)各発光ユニットを第2転写基板に貼り合わせた後、発光ユニット製造用基板を除去し、次いで、
(C−2)表示装置用基板上に発光ユニットを配置した後、第2転写基板を除去し、
(C−3)第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆い、且つ、発光ユニットを取り囲む絶縁材料層を形成した後、
(C−4)第1発光ダイオードの第2電極と第1の共通電極とを電気的に接続するために、第1コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第1接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第2発光ダイオードの第2電極と第2の共通電極とを電気的に接続するために、第2コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第2接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第3発光ダイオードの第2電極と第3の共通電極とを電気的に接続するために、第3コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第3接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成し、
第4の共通電極を絶縁材料層上に形成し、
副共通電極と第4の共通電極とを電気的に接続するために、第4コンタクトホール部を固定層に形成し、且つ、第4接続部を固定層から絶縁材料層に亙り形成する、
各工程を備えている請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 第1パッド部の大きさは、第1発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第2パッド部の大きさは、第2発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第3パッド部の大きさは、第3発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きい請求項3又は請求項4に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードからの光は、第1電極側から射出され、
副共通電極は、光を透過させる構造を有する請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 副共通電極は、金属層又は合金層から成る請求項8に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。
- 副共通電極は、光透過電極、及び、光透過電極から延在する金属層又は合金層から成り、
第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードのそれぞれの第1電極は、光透過電極と接しており、
第4コンタクトホール部は、金属層又は合金層と接している請求項8に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 第1発光ダイオードと第2発光ダイオードと第3発光ダイオードとから構成された1画素の第1方向に沿った長さをLP-1、第2方向に沿った長さをLP-2とし、発光ユニットの第1方向に沿った長さをLU-1、第2方向に沿った長さをLU-2としたとき、
LU-1/LP-1≦0.5
LU-2/LP-2≦0.5
を満足する請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - LU-1/LP-1≦0.5
LU-2/LP-2≦0.25
を満足する請求項11に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - 第1発光ダイオード、第2発光ダイオード、第3発光ダイオードの内、最大の発光ダイオードの光出射面の面積をSmaxとしたとき、
2.5×10-11m2≦Smax≦1×10-8m2
を満足する請求項1に記載の発光ダイオード表示装置の製造方法。 - (a−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(a−2)活性層、
(a−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(a−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(a−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、赤色を発光する所望の数の第1発光ダイオード、
(b−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(b−2)活性層、
(b−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(b−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(b−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、緑色を発光する所望の数の第2発光ダイオード、並びに、
(c−1)第1導電型を有する第1化合物半導体層、
(c−2)活性層、
(c−3)第1導電型とは導電型が異なる第2導電型を有する第2化合物半導体層、
(c−4)第1化合物半導体層に電気的に接続された第1電極、及び、
(c−5)第2化合物半導体層に電気的に接続された第2電極、
から成り、青色を発光する所望の数の第3発光ダイオード、
から構成された発光ユニットの複数が、第1方向、及び、第1方向と直交する第2方向に2次元マトリクス状に配列されて成り、
各発光ユニットにおける第1発光ダイオードの第1電極、第2発光ダイオードの第1電極及び第3発光ダイオードの第1電極は、副共通電極に接続されており、
第1方向に沿って配列された各発光ユニットにおける第1発光ダイオードの第2電極、第2発光ダイオードの第2電極及び第3発光ダイオードの第2電極のそれぞれは、第1方向に沿って延びる第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極に接続されており、
第2方向に沿って配列された各発光ユニットにおける副共通電極は、第2方向に沿って延びる第4の共通電極に接続されている発光ダイオード表示装置。 - 第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極は、表示装置用基板上に形成されており、
副共通電極は、表示装置用基板上に固定された固定層に形成されており、
発光ユニットにおける第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードは、固定層に固定されており、
固定層は、第1の共通電極、第2の共通電極及び第3の共通電極を覆う絶縁材料層によって囲まれており、
発光ユニットにおける第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードは、それぞれの第1電極が副共通電極に接続された状態で、副共通電極上に配置されており、
第1発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第1コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第1接続部を介して、第1の共通電極に接続されており、
第2発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第2コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第2接続部を介して、第2の共通電極に接続されており、
第3発光ダイオードの第2電極は、固定層に形成された第3コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層に亙り形成された第3接続部を介して、第3の共通電極に接続されており、
副共通電極は、固定層に形成された第4コンタクトホール部、及び、固定層上から絶縁材料層上に亙り形成された第4接続部を介して、絶縁材料層上に形成された第4の共通電極に接続されている請求項14に記載の発光ダイオード表示装置。 - 第1コンタクトホール部と第1接続部との間には、固定層に形成された第1パッド部が備えられており、
第2コンタクトホール部と第2接続部との間には、固定層に形成された第2パッド部が備えられており、
第3コンタクトホール部と第3接続部との間には、固定層に形成された第3パッド部が備えられており、
第4コンタクトホール部と第4接続部との間には、固定層に形成された第4パッド部が備えられている請求項15に記載の発光ダイオード表示装置。 - 第1パッド部の大きさは、第1発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第2パッド部の大きさは、第2発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きく、
第3パッド部の大きさは、第3発光ダイオードの第2電極の大きさよりも大きい請求項16に記載の発光ダイオード表示装置。 - 第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードからの光は、第1電極側から射出され、
副共通電極は、光を透過させる構造を有する請求項14に記載の発光ダイオード表示装置。 - 副共通電極は、金属層又は合金層から成る請求項18に記載の発光ダイオード表示装置。
- 副共通電極は、光透過電極、及び、光透過電極から延在する金属層又は合金層から成り、
第1発光ダイオード、第2発光ダイオード及び第3発光ダイオードのそれぞれの第1電極は、光透過電極と接しており、
第4コンタクトホール部は、金属層又は合金層と接している請求項18に記載の発光ダイオード表示装置。
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Cited By (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101239853B1 (ko) | 2007-03-13 | 2013-03-06 | 서울옵토디바이스주식회사 | 교류용 발광 다이오드 |
US9899329B2 (en) | 2010-11-23 | 2018-02-20 | X-Celeprint Limited | Interconnection structures and methods for transfer-printed integrated circuit elements with improved interconnection alignment tolerance |
JP5966412B2 (ja) | 2011-04-08 | 2016-08-10 | ソニー株式会社 | 画素チップ、表示パネル、照明パネル、表示装置および照明装置 |
US8934259B2 (en) | 2011-06-08 | 2015-01-13 | Semprius, Inc. | Substrates with transferable chiplets |
KR101400389B1 (ko) * | 2011-11-01 | 2014-05-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광소자 |
US8349116B1 (en) | 2011-11-18 | 2013-01-08 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head heater assembly and method of transferring a micro device |
US9620478B2 (en) | 2011-11-18 | 2017-04-11 | Apple Inc. | Method of fabricating a micro device transfer head |
US8573469B2 (en) | 2011-11-18 | 2013-11-05 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a micro LED structure and array of micro LED structures with an electrically insulating layer |
US8809875B2 (en) | 2011-11-18 | 2014-08-19 | LuxVue Technology Corporation | Micro light emitting diode |
US8518204B2 (en) | 2011-11-18 | 2013-08-27 | LuxVue Technology Corporation | Method of fabricating and transferring a micro device and an array of micro devices utilizing an intermediate electrically conductive bonding layer |
US9773750B2 (en) | 2012-02-09 | 2017-09-26 | Apple Inc. | Method of transferring and bonding an array of micro devices |
US9548332B2 (en) | 2012-04-27 | 2017-01-17 | Apple Inc. | Method of forming a micro LED device with self-aligned metallization stack |
US9105492B2 (en) | 2012-05-08 | 2015-08-11 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head |
US8415771B1 (en) | 2012-05-25 | 2013-04-09 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head with silicon electrode |
US9034754B2 (en) | 2012-05-25 | 2015-05-19 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a micro device transfer head with silicon electrode |
US8569115B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-10-29 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a compliant bipolar micro device transfer head with silicon electrodes |
US8383506B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-02-26 | LuxVue Technology Corporation | Method of forming a compliant monopolar micro device transfer head with silicon electrode |
US8415767B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-04-09 | LuxVue Technology Corporation | Compliant bipolar micro device transfer head with silicon electrodes |
US8415768B1 (en) | 2012-07-06 | 2013-04-09 | LuxVue Technology Corporation | Compliant monopolar micro device transfer head with silicon electrode |
JP5935557B2 (ja) | 2012-07-09 | 2016-06-15 | ソニー株式会社 | 実装基板および光学装置 |
US8933433B2 (en) | 2012-07-30 | 2015-01-13 | LuxVue Technology Corporation | Method and structure for receiving a micro device |
US8791530B2 (en) | 2012-09-06 | 2014-07-29 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head with integrated electrode leads |
US9162880B2 (en) | 2012-09-07 | 2015-10-20 | LuxVue Technology Corporation | Mass transfer tool |
JP6017904B2 (ja) | 2012-09-21 | 2016-11-02 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 実装基板、表示パネルおよび表示装置 |
US8835940B2 (en) | 2012-09-24 | 2014-09-16 | LuxVue Technology Corporation | Micro device stabilization post |
US8941215B2 (en) | 2012-09-24 | 2015-01-27 | LuxVue Technology Corporation | Micro device stabilization post |
US9558721B2 (en) | 2012-10-15 | 2017-01-31 | Apple Inc. | Content-based adaptive refresh schemes for low-power displays |
CN104756178B (zh) | 2012-11-05 | 2018-05-25 | 索尼半导体解决方案公司 | 光学单元、制造光学单元的方法以及电子装置 |
US9236815B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-01-12 | LuxVue Technology Corporation | Compliant micro device transfer head array with metal electrodes |
US9159700B2 (en) | 2012-12-10 | 2015-10-13 | LuxVue Technology Corporation | Active matrix emissive micro LED display |
US9029880B2 (en) | 2012-12-10 | 2015-05-12 | LuxVue Technology Corporation | Active matrix display panel with ground tie lines |
US9255001B2 (en) | 2012-12-10 | 2016-02-09 | LuxVue Technology Corporation | Micro device transfer head array with metal electrodes |
US9178123B2 (en) | 2012-12-10 | 2015-11-03 | LuxVue Technology Corporation | Light emitting device reflective bank structure |
US9166114B2 (en) | 2012-12-11 | 2015-10-20 | LuxVue Technology Corporation | Stabilization structure including sacrificial release layer and staging cavity |
US9105714B2 (en) | 2012-12-11 | 2015-08-11 | LuxVue Technology Corporation | Stabilization structure including sacrificial release layer and staging bollards |
US9314930B2 (en) | 2012-12-14 | 2016-04-19 | LuxVue Technology Corporation | Micro pick up array with integrated pivot mount |
US9391042B2 (en) * | 2012-12-14 | 2016-07-12 | Apple Inc. | Micro device transfer system with pivot mount |
US9153171B2 (en) | 2012-12-17 | 2015-10-06 | LuxVue Technology Corporation | Smart pixel lighting and display microcontroller |
JP5974910B2 (ja) | 2013-01-18 | 2016-08-23 | ソニー株式会社 | 表示パネルおよび表示装置 |
US9308649B2 (en) | 2013-02-25 | 2016-04-12 | LuxVue Techonology Corporation | Mass transfer tool manipulator assembly |
US9095980B2 (en) | 2013-02-25 | 2015-08-04 | LuxVue Technology Corporation | Micro pick up array mount with integrated displacement sensor |
US9252375B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-02-02 | LuxVue Technology Corporation | Method of fabricating a light emitting diode display with integrated defect detection test |
US8791474B1 (en) | 2013-03-15 | 2014-07-29 | LuxVue Technology Corporation | Light emitting diode display with redundancy scheme |
US9484504B2 (en) | 2013-05-14 | 2016-11-01 | Apple Inc. | Micro LED with wavelength conversion layer |
US9217541B2 (en) | 2013-05-14 | 2015-12-22 | LuxVue Technology Corporation | Stabilization structure including shear release posts |
US9136161B2 (en) | 2013-06-04 | 2015-09-15 | LuxVue Technology Corporation | Micro pick up array with compliant contact |
US20160329173A1 (en) | 2013-06-12 | 2016-11-10 | Rohinni, LLC | Keyboard backlighting with deposited light-generating sources |
US8987765B2 (en) | 2013-06-17 | 2015-03-24 | LuxVue Technology Corporation | Reflective bank structure and method for integrating a light emitting device |
US8928021B1 (en) | 2013-06-18 | 2015-01-06 | LuxVue Technology Corporation | LED light pipe |
US9111464B2 (en) | 2013-06-18 | 2015-08-18 | LuxVue Technology Corporation | LED display with wavelength conversion layer |
US9035279B2 (en) | 2013-07-08 | 2015-05-19 | LuxVue Technology Corporation | Micro device with stabilization post |
KR101436123B1 (ko) * | 2013-07-09 | 2014-11-03 | 피에스아이 주식회사 | 초소형 led를 포함하는 디스플레이 및 이의 제조방법 |
US9296111B2 (en) | 2013-07-22 | 2016-03-29 | LuxVue Technology Corporation | Micro pick up array alignment encoder |
US9087764B2 (en) | 2013-07-26 | 2015-07-21 | LuxVue Technology Corporation | Adhesive wafer bonding with controlled thickness variation |
US9153548B2 (en) | 2013-09-16 | 2015-10-06 | Lux Vue Technology Corporation | Adhesive wafer bonding with sacrificial spacers for controlled thickness variation |
US9367094B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-06-14 | Apple Inc. | Display module and system applications |
US9768345B2 (en) * | 2013-12-20 | 2017-09-19 | Apple Inc. | LED with current injection confinement trench |
US9450147B2 (en) | 2013-12-27 | 2016-09-20 | Apple Inc. | LED with internally confined current injection area |
US9583466B2 (en) | 2013-12-27 | 2017-02-28 | Apple Inc. | Etch removal of current distribution layer for LED current confinement |
US9542638B2 (en) | 2014-02-18 | 2017-01-10 | Apple Inc. | RFID tag and micro chip integration design |
US9583533B2 (en) | 2014-03-13 | 2017-02-28 | Apple Inc. | LED device with embedded nanowire LEDs |
JP6128046B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2017-05-17 | ソニー株式会社 | 実装基板および電子機器 |
US9522468B2 (en) | 2014-05-08 | 2016-12-20 | Apple Inc. | Mass transfer tool manipulator assembly with remote center of compliance |
US9318475B2 (en) | 2014-05-15 | 2016-04-19 | LuxVue Technology Corporation | Flexible display and method of formation with sacrificial release layer |
US9741286B2 (en) | 2014-06-03 | 2017-08-22 | Apple Inc. | Interactive display panel with emitting and sensing diodes |
US9624100B2 (en) | 2014-06-12 | 2017-04-18 | Apple Inc. | Micro pick up array pivot mount with integrated strain sensing elements |
US9425151B2 (en) | 2014-06-17 | 2016-08-23 | Apple Inc. | Compliant electrostatic transfer head with spring support layer |
US9570002B2 (en) | 2014-06-17 | 2017-02-14 | Apple Inc. | Interactive display panel with IR diodes |
CN113437206B (zh) * | 2014-06-18 | 2024-03-08 | 艾克斯展示公司技术有限公司 | 微组装led显示器 |
MY182253A (en) * | 2014-07-20 | 2021-01-18 | X Celeprint Ltd | Apparatus and methods for micro-transfer-printing |
TWI647833B (zh) | 2014-08-26 | 2019-01-11 | 愛爾蘭商艾克斯瑟樂普林特有限公司 | 微組合複合式顯示裝置及發光元件 |
US9799261B2 (en) | 2014-09-25 | 2017-10-24 | X-Celeprint Limited | Self-compensating circuit for faulty display pixels |
US9991163B2 (en) | 2014-09-25 | 2018-06-05 | X-Celeprint Limited | Small-aperture-ratio display with electrical component |
US9799719B2 (en) | 2014-09-25 | 2017-10-24 | X-Celeprint Limited | Active-matrix touchscreen |
US9818725B2 (en) | 2015-06-01 | 2017-11-14 | X-Celeprint Limited | Inorganic-light-emitter display with integrated black matrix |
US9705432B2 (en) | 2014-09-30 | 2017-07-11 | Apple Inc. | Micro pick up array pivot mount design for strain amplification |
US9828244B2 (en) | 2014-09-30 | 2017-11-28 | Apple Inc. | Compliant electrostatic transfer head with defined cavity |
US10242977B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-03-26 | eLux, Inc. | Fluid-suspended microcomponent harvest, distribution, and reclamation |
US10520769B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-12-31 | eLux, Inc. | Emissive display with printed light modification structures |
US10418527B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-09-17 | eLux, Inc. | System and method for the fluidic assembly of emissive displays |
US10319878B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-06-11 | eLux, Inc. | Stratified quantum dot phosphor structure |
US10236279B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-03-19 | eLux, Inc. | Emissive display with light management system |
US10381332B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-08-13 | eLux Inc. | Fabrication method for emissive display with light management system |
US10381335B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-08-13 | ehux, Inc. | Hybrid display using inorganic micro light emitting diodes (uLEDs) and organic LEDs (OLEDs) |
US10446728B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-10-15 | eLux, Inc. | Pick-and remove system and method for emissive display repair |
US10535640B2 (en) | 2014-10-31 | 2020-01-14 | eLux Inc. | System and method for the fluidic assembly of micro-LEDs utilizing negative pressure |
US9825202B2 (en) | 2014-10-31 | 2017-11-21 | eLux, Inc. | Display with surface mount emissive elements |
US10543486B2 (en) | 2014-10-31 | 2020-01-28 | eLux Inc. | Microperturbation assembly system and method |
WO2016080768A1 (ko) * | 2014-11-18 | 2016-05-26 | 서울반도체 주식회사 | 발광 장치 및 이를 포함하는 차량용 램프 |
US9478583B2 (en) | 2014-12-08 | 2016-10-25 | Apple Inc. | Wearable display having an array of LEDs on a conformable silicon substrate |
CN107210351B (zh) * | 2014-12-19 | 2021-01-08 | Glo公司 | 在背板上制造发光二极管阵列的方法 |
KR102376468B1 (ko) * | 2014-12-23 | 2022-03-21 | 엘지이노텍 주식회사 | 적색 발광소자 및 조명장치 |
US9583493B2 (en) * | 2015-04-08 | 2017-02-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Integrated circuit and semiconductor device |
US9871345B2 (en) | 2015-06-09 | 2018-01-16 | X-Celeprint Limited | Crystalline color-conversion device |
US11061276B2 (en) | 2015-06-18 | 2021-07-13 | X Display Company Technology Limited | Laser array display |
US10133426B2 (en) | 2015-06-18 | 2018-11-20 | X-Celeprint Limited | Display with micro-LED front light |
US10255834B2 (en) | 2015-07-23 | 2019-04-09 | X-Celeprint Limited | Parallel redundant chiplet system for controlling display pixels |
US10380930B2 (en) | 2015-08-24 | 2019-08-13 | X-Celeprint Limited | Heterogeneous light emitter display system |
US10230048B2 (en) | 2015-09-29 | 2019-03-12 | X-Celeprint Limited | OLEDs for micro transfer printing |
US10066819B2 (en) | 2015-12-09 | 2018-09-04 | X-Celeprint Limited | Micro-light-emitting diode backlight system |
US10629393B2 (en) | 2016-01-15 | 2020-04-21 | Rohinni, LLC | Apparatus and method of backlighting through a cover on the apparatus |
WO2017142877A1 (en) * | 2016-02-16 | 2017-08-24 | Glo Ab | Method of selectively transferring led die to a backplane using height controlled bonding structures |
TWI681508B (zh) | 2016-02-25 | 2020-01-01 | 愛爾蘭商艾克斯瑟樂普林特有限公司 | 有效率地微轉印微型裝置於大尺寸基板上 |
US10193025B2 (en) | 2016-02-29 | 2019-01-29 | X-Celeprint Limited | Inorganic LED pixel structure |
US10153256B2 (en) | 2016-03-03 | 2018-12-11 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer printable electronic component |
US10153257B2 (en) | 2016-03-03 | 2018-12-11 | X-Celeprint Limited | Micro-printed display |
US10008483B2 (en) | 2016-04-05 | 2018-06-26 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer printed LED and color filter structure |
US10199546B2 (en) | 2016-04-05 | 2019-02-05 | X-Celeprint Limited | Color-filter device |
EP3443594A4 (en) | 2016-04-15 | 2019-12-18 | Glo Ab | METHOD FOR GENERATING AN ARRANGEMENT FROM A UNIT WITH MULTIPLE CELLS |
CN105870265A (zh) * | 2016-04-19 | 2016-08-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光二极管基板及其制备方法、显示装置 |
WO2017205132A1 (en) | 2016-05-24 | 2017-11-30 | Danesh Fariba | Selective die repair on a light emitting device assembly |
JP2017212283A (ja) * | 2016-05-24 | 2017-11-30 | ソニー株式会社 | 表示装置、および電子機器 |
US9997501B2 (en) | 2016-06-01 | 2018-06-12 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer-printed light-emitting diode device |
US11137641B2 (en) | 2016-06-10 | 2021-10-05 | X Display Company Technology Limited | LED structure with polarized light emission |
US9980341B2 (en) | 2016-09-22 | 2018-05-22 | X-Celeprint Limited | Multi-LED components |
US10782002B2 (en) | 2016-10-28 | 2020-09-22 | X Display Company Technology Limited | LED optical components |
US10347168B2 (en) | 2016-11-10 | 2019-07-09 | X-Celeprint Limited | Spatially dithered high-resolution |
EP3542394A1 (en) | 2016-11-15 | 2019-09-25 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer-printable flip-chip structures and methods |
US10600671B2 (en) | 2016-11-15 | 2020-03-24 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer-printable flip-chip structures and methods |
US10395966B2 (en) | 2016-11-15 | 2019-08-27 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer-printable flip-chip structures and methods |
DE102016124525B4 (de) * | 2016-12-15 | 2023-08-10 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Modul mit Leuchtdiodenchips und Verfahren zum Herstellen eines Moduls mit einer Mehrzahl von Leuchtdiodenchips |
US10332868B2 (en) | 2017-01-26 | 2019-06-25 | X-Celeprint Limited | Stacked pixel structures |
US10468391B2 (en) | 2017-02-08 | 2019-11-05 | X-Celeprint Limited | Inorganic light-emitting-diode displays with multi-ILED pixels |
CN110121770A (zh) | 2017-03-13 | 2019-08-13 | 首尔半导体株式会社 | 显示装置制造方法 |
US11024608B2 (en) | 2017-03-28 | 2021-06-01 | X Display Company Technology Limited | Structures and methods for electrical connection of micro-devices and substrates |
CN107017319A (zh) * | 2017-05-23 | 2017-08-04 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 彩色微发光二极管阵列基板的制作方法 |
CN107221291B (zh) * | 2017-07-31 | 2019-04-23 | 上海天马微电子有限公司 | 一种显示基板、显示面板及其驱动方法、显示装置 |
CN111108613B (zh) | 2017-09-13 | 2024-01-16 | 夏普株式会社 | Led单元、图像显示元件及其制造方法 |
US10748881B2 (en) * | 2017-12-05 | 2020-08-18 | Seoul Viosys Co., Ltd. | Light emitting device with LED stack for display and display apparatus having the same |
KR102603411B1 (ko) | 2017-12-18 | 2023-11-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 마이크로led 표시장치 |
JP7079106B2 (ja) * | 2018-01-24 | 2022-06-01 | シャープ株式会社 | 画像表示素子、及び画像表示素子の製造方法 |
US10714001B2 (en) | 2018-07-11 | 2020-07-14 | X Display Company Technology Limited | Micro-light-emitting-diode displays |
TWI686973B (zh) * | 2018-07-16 | 2020-03-01 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置及其製造方法 |
US11967605B2 (en) * | 2018-11-13 | 2024-04-23 | Seoul Viosys Co., Ltd. | Light emitting device |
US11127720B2 (en) | 2019-01-21 | 2021-09-21 | Nanosys, Inc. | Pixel repair method for a direct view display device |
CN111525013A (zh) | 2019-02-01 | 2020-08-11 | 隆达电子股份有限公司 | 发光二极管及其制造方法 |
US11430830B2 (en) | 2019-04-05 | 2022-08-30 | Nanosys, Inc. | White light emitting diode (LED) and method of repairing light emitting device using same |
CN210837757U (zh) * | 2020-01-06 | 2020-06-23 | 北京京东方光电科技有限公司 | 显示基板、拼接显示面板及显示装置 |
JPWO2023204155A1 (ja) * | 2022-04-20 | 2023-10-26 | ||
CN115410996B (zh) * | 2022-07-28 | 2024-04-19 | 惠科股份有限公司 | 显示面板及其制造方法 |
TWI824688B (zh) | 2022-08-31 | 2023-12-01 | 晶呈科技股份有限公司 | 晶粒封裝體的接合與轉移方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004178930A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Sony Corp | 発光素子およびこれを用いた表示装置 |
JP4082242B2 (ja) | 2003-03-06 | 2008-04-30 | ソニー株式会社 | 素子転写方法 |
JP4100203B2 (ja) | 2003-03-14 | 2008-06-11 | ソニー株式会社 | 素子転写方法 |
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