JP4473175B2 - 記憶制御方法、プログラム及び装置 - Google Patents
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Description
複数の記憶デバイス36の性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定ステップと、
性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイス36の追加によりボリューム38のサイズを大きくする性能改善ステップと、
を備えたことを特徴とする。
(1)単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、
(2)コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、
(3)コマンドを受領してから目的トラックにヘッド移動してオントラックするまでのシーク時間、
(4)目的トラックオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間、
(5)一定時間内のエラー回数および空き容量、
の何れか又は組合せを含む。
複数の記憶デバイスの性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定ステップと、
性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善ステップと、
を実行させることを特徴とする。
(1)単位時間当たりのデータ転送量(MB/s)で表わされるリードライト性能。
(2)コマンドを受領してから正常終了を応答するまでの応答時間。
(3)コマンドを受領してから目的トラックにヘッドを移動してオントラックするまでのシーク時間。
(4)目的トラックにオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間。
(5)一定時間内のエラー回数。
(6)空き容量。
(相対性能閾値)=[(性能測定値の総和/ディスク台数)]×相対性能率N
で求められる。ここで相対性能率NはN=0%〜100%の範囲の任意の値を取り、具体的にはディスク装置の定格性能から定めた図5(A)の最低性能閾値テーブル52−1における各最低性能閾値の割合と同じ値を使用すればよい。例えばリードライト性能の最低性能閾値TH[A1]が定格性能の70%であった場合には、相対性能閾値の算出式における相対性能率NとしてもN=70%を使用すればよい。
TH[A2]=[(A1+A2+A3)/3]×N
として算出する。同様にして、応答時間58、シーク時間60、回転待ち時間62、エラー回数64及び空き容量66について、相対性の閾値TH[B2]、TH[C2],TH[D2]、TH[E2]、TH[F2]を算出する。
(付記1)
上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御方法に於いて、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定ステップと、
前記性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
前記性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善ステップと、
を備えたことを特徴とする記憶制御方法。(1)
付記1記載の記憶制御方法に於いて、
前記性能測定ステップは、前記記憶デバイスにおける複数種類の性能を測定し、
前記性能測定値保存ステップは前記性能測定ステップで測定された複数種類の性能測定値を保存し、
前記性能改善ステップは、前記複数種類の性能測定値毎に性能閾値を設定し、少なくとも何れか1つの性能測定値が対応する性能閾値を下回った際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御方法。(2)
付記1記載の記憶制御方法に於いて、前記記憶デバイスはディスク媒体にデータを読み書きするディスク装置であり、前記ディスク装置の性能測定値は、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、コマンドを受領してから目的トラックにヘッド移動してオントラックするまでのシーク時間、目的トラックオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間、一定時間内のエラー回数および空き容量の何れか又は組合せを含むことを特徴とする記憶制御方法。(3)
付記1記載の記憶制御方法に於いて、前記性能改善ステップは、性能測定値に対応して最低性能閾値を予め設定し、性能測定値が前記最低性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御方法。
付記1記載の記憶制御方法に於いて、前記性能改善ステップは、前記複数の記憶デバイスの性能測定値の平均値に所定の相対性能率を乗じて相対性能閾値を求め、性能測定値が前記相対性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御方法。
付記1記載の記憶制御方法に於いて、前記性能改善ステップは、記憶デバイスを追加した際に、既存記憶デバイスに書き込まれていたデータの一ステップを前記追加記憶デバイスに再配置することを特徴とする記憶制御方法。
付記1記載の記憶制御方法に於いて、前記性能改善ステップは、記憶デバイスを追加した際に、既存記憶デバイスの書き込まれていたデータの一ステップを前記追加記憶デバイス及び既存記憶デバイスに再配置することを特徴とする記憶制御方法。
上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御装置のコンピュータに、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定ステップと、
前記性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
前記性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。(4)
付記8記載のプログラムに於いて、
前記性能測定ステップは、前記記憶デバイスにおける複数種類の性能を測定し、
前記性能測定値保存ステップは前記性能測定ステップで測定された複数種類の性能測定値を保存し、
前記性能改善ステップは、前記複数種類の性能測定値毎に性能閾値を設定し、少なくとも何れか1つの性能測定値が対応する性能閾値を下回った際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とするプログラム。
付記8記載のプログラムに於いて、前記記憶デバイスはディスク媒体にデータを読み書きするディスク装置であり、前記ディスク装置の性能測定値は、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、コマンドを受領してから目的トラックにヘッド移動してオントラックするまでのシーク時間、目的トラックオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間、一定時間内のエラー回数および空き容量の何れか又は組合せを含むことを特徴とするプログラム。
付記8記載のプログラムに於いて、前記性能改善ステップは、性能測定値に対応して最低性能閾値を予め設定し、性能測定値が前記最低性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とするプログラム。
付記8記載のプログラムに於いて、前記性能改善ステップは、前記複数の記憶デバイスの性能測定値の平均値に所定の相対性能率を乗じて相対性能閾値を求め、性能測定値が前記相対性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とするプログラム。
付記8記載のプログラムに於いて、前記性能改善ステップは、記憶デバイスを追加した際に、既存記憶デバイスに書き込まれていたデータの一ステップを前記追加記憶デバイスに再配置することを特徴とするプログラム。
付記8記載のプログラムに於いて、前記性能改善ステップは、記憶デバイスを追加した際に、既存記憶デバイスに書き込まれていたデータの一ステップを前記追加記憶デバイス及び既存記憶デバイスに再配置することを特徴とするプログラム。
上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御装置に於いて、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定部と、
前記性能測定部により測定した性能測定値を保存する性能測定値保存部と、
前記性能測定値保存部の性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善部と、
を備えたことを特徴とする記憶制御装置。(5)
付記15記載の記憶制御装置に於いて、
前記性能測定部は、前記記憶デバイスにおける複数種類の性能を測定し、
前記性能測定値保存部は前記性能測定部で測定された複数種類の性能測定値を保存し、
前記性能改善部は、前記複数種類の性能測定値毎に性能閾値を設定し、少なくとも何れか1つの性能測定値が対応する性能閾値を下回った際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御装置。
付記15記載の記憶制御装置に於いて、前記記憶デバイスはディスク媒体にデータを読み書きするディスク装置であり、前記ディスク装置の性能測定値は、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、コマンドを受領してから目的トラックにヘッド移動してオントラックするまでのシーク時間、目的トラックオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間、一定時間内のエラー回数、空き容量を含むことを特徴とする記憶制御装置。
付記15記載の記憶制御装置に於いて、前記性能改善部は、性能測定値に対応して最低性能閾値を予め設定し、性能測定値が前記最低性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御装置。
付記15記載の記憶制御装置に於いて、前記性能改善部は、前記複数の記憶デバイスの性能測定値の平均値に所定の相対性能率を乗じて相対性能閾値を求め、性能測定値が前記相対性能閾値以下となった場合に記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御装置。
付記15記載の記憶制御装置に於いて、前記性能改善部は、記憶デバイスを追加した際に、既存記憶デバイスに書き込まれていたデータの一部を前記追加記憶デバイスに再配置することを特徴とする記憶制御装置。
12−1,12−2:サーバ
14:ネットワーク
16: チャネルアダプタ
18,18−1,18−2:制御モジュール
20−1,20−2:ディスクアレイ
22:CPU
24:バス
26:通信アダプタ
28:キャッシュメモリ
30,30−1,30−2:デバイスインタフェース
32−1,32−2,34−1,34−2:デバイスパス
36,36−1〜36−4:ディスク装置(記憶デバイス)
38:ボリューム
40:リソース処理部
42:キャッシュ処理部
44:RAID制御部
46:性能測定部
48:性能測定値保存部
50:性能測定値テーブル
52:性能閾値テーブル
54:性能改善部
56:リードライト性能
58:応答時間
60:シーク時間
62:回転待ち時間
64:エラー回数
66:空き容量
70:ファイル
Claims (5)
- 上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御方法に於いて、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼動中に定期的に測定する性能測定ステップと、
前記性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
前記性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善ステップと、
を備え、
前記性能改善ステップは、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、シーク時間、回転待ち時間、エラー回数、空き容量の性能測定項目ごとに全ディスクの合計値をディスク台数で除算した平均値を求め、その平均値に所定の数値を乗算した測定性能閾値をそれぞれの性能測定項目ごとに求め、いずれかのディスクの性能測定項目の値が対応する測定性能閾値よりも低性能を示す値であるときに性能低下であると判定することを特徴とする記憶制御方法。
- 請求項1記載の記憶制御方法に於いて、
前記性能測定ステップは、前記記憶デバイスにおける複数種類の性能を測定し、
前記性能測定値保存ステップは前記性能測定ステップで測定された複数種類の性能測定値を保存し、
前記性能改善ステップは、前記複数種類の性能測定値毎に性能閾値を設定し、少なくとも何れか1つの性能測定値が対応する性能閾値を下回った際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくすることを特徴とする記憶制御方法。
- 請求項1記載の記憶制御方法に於いて、前記記憶デバイスはディスク媒体にデータを読み書きするディスク装置であり、前記ディスク装置の性能測定値は、単位時間当りのデータ転送量となる前記リード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの前記応答時間、コマンドを受領してから目的トラックにヘッド移動してオントラックするまでのシーク時間、目的トラックオントラックしてからヘッドに目的セクタが現れるまでのディスクの回転待ち時間、一定時間内のエラー回数および空き容量の何れか又は組合せを含むことを特徴とする記憶制御方法。
- 上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御装置のコンピュータに、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼働中に定期的に測定する性能測定ステップと、
前記性能測定ステップにより測定した性能測定値を保存する性能測定値保存ステップと、
前記性能測定値保存ステップの性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善ステップと、
を実行させ、
前記性能改善ステップは、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、シーク時間、回転待ち時間、エラー回数、空き容量の性能測定項目ごとに全ディスクの合計値をディスク台数で除算した平均値を求め、その平均値に所定の数値を乗算した測定性能閾値をそれぞれの性能測定項目ごとに求め、いずれかのディスクの性能測定項目の値が対応する測定性能閾値よりも低性能を示す値であるときに性能低下であると判定することを特徴とするプログラム。
- 上位装置からの入出力要求に基づき、RAID構成をとる複数の記憶デバイスにより構成されたボリュームにアクセスする記憶制御装置に於いて、
前記複数の記憶デバイスの性能を装置稼働中に定期的に測定する性能測定部と、
前記性能測定部により測定した性能測定値を保存する性能測定値保存部と、
前記性能測定値保存部の性能測定値から性能低下を判別した際に、記憶デバイスの追加により前記ボリュームのサイズを大きくする性能改善部と、
を備え、
前記性能改善部は、単位時間当りのデータ転送量となるリード及びライト性能、コマンドを受領してから終了応答するまでの応答時間、シーク時間、回転待ち時間、エラー回数、空き容量の性能測定項目ごとに全ディスクの合計値をディスク台数で除算した平均値を求め、その平均値に所定の数値を乗算した測定性能閾値をそれぞれの性能測定項目ごとに求め、いずれかのディスクの性能測定項目の値が対応する測定性能閾値よりも低性能を示す値であるときに性能低下であると判定することを特徴とする記憶制御装置。
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