JP4253475B2 - 発光素子駆動用半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 12
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000005811 Viola adunca Nutrition 0.000 description 1
- 240000009038 Viola odorata Species 0.000 description 1
- 235000013487 Viola odorata Nutrition 0.000 description 1
- 235000002254 Viola papilionacea Nutrition 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクプレーヤの光ピックアップの光源としてのレーザダイオード等の発光素子を駆動する半導体装置に関する。
【0002】
【従来技術】
光ピックアップに用いられ得る発光素子と当該発光素子を駆動する駆動用半導体装置は、通常、各々別工程で作成される。それ故、発光装置を形成するには、発光素子を駆動用半導体装置の出力端子に電気的に接続しなければならない。
例えばレーザダイオードが発光素子として使用される場合、図1に示す如く、キャンパッケージに封止された発光素子2が、位置決め自在となるべく、可撓性プリント基板3の配線4を介して発光素子駆動用半導体装置5に接続されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
近年、追記型光ディスク及び書き込み型光ディスク等の光記録媒体への情報記録を高速で且つ高密度にて実行することが要求されている故、レーザ光源である発光素子を高速でオンオフ駆動する必要がある。
しかしながら、上記の如き発光装置において、発光素子と半導体装置との間に設けられた可撓性プリント基板の配線が分布定数回路として作用する故に、高速で電流の切替を実施すると、切替時に発光素子へ供給される電流の電流値が安定しないリンギングが発生し、発光素子からの光パルスにノイズが生ずるという問題が1例として挙げられる。
【0004】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発光素子駆動用半導体装置は、基板と、前記基板に担持されて発光素子を駆動するICチップと、を含む発光素子駆動用半導体装置であって、前記基板の非周縁部に設けられて前記発光素子への駆動電流を中継する中継端子と、前記中継端子と前記ICチップの駆動電流出力端子とを接続する接続電流路と、前記ICチップ、前記中継端子及び前記接続電流路を覆う樹脂層と、を含み、前記樹脂層上であり且つ前記中継端子の近傍において、前記発光素子を担持する担持領域を有することを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】
本発明の実施例を、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
図2に示す如く、本発明による半導体装置5において、基板6が、発光素子駆動用のICチップ7を担持領域10若しくはその近傍で担持している。ICチップ7内には、発光素子(図示せず)を駆動するためのICパターン回路(図示せず)が設けられており、例えば発光中心波長が略405nmに設定された青紫色レーザダイオード(図示せず)を駆動する駆動回路が含まれている。基板6の担持領域10若しくはその近傍であり、且つ基板6の非周縁部に、発光素子の端子に接続されるべく中継端子8が形成されている。ICチップ7への電源供給や制御指令の供給等をなすための端子群9が基板6の周縁部に設けられている。
【0006】
中継端子8及びIC駆動用の端子群9は、印刷法等を用いて基板6に形成される。中継端子8及びIC駆動用の端子群9の各々とICチップ7は、ワイヤボンディング11によって電気的に接続される。本実施例では、接続電流路としてワイヤボンディング11を用いているが、これに限定されず、例えばフリップチップボンディングやTAB(Tape automated bonding)等の金属細線を用いない手段を使用しても良い。
【0007】
図3に示す如く、基板6のICチップ7が実装された面は、モールド樹脂層12によって封止されている。貫通孔13が中継端子8自体もしくはその近傍で、基板6及びモールド樹脂層12を貫通している。貫通孔13の内壁14には中継端子8の1部が露出している。この貫通孔13は、発光素子の端子が挿通可能な大きさ及び形状にされている。なお、貫通孔13の内壁14に導電性材料を更に配して、中継端子8の延長部が内壁14に延在するようにしても良い。
【0008】
貫通孔13は、図2に示す如く基板6を貫通する貫通孔13aを予め設け、且つモールド樹脂層12で封止する際に貫通孔13aに一致する位置に適切な形状及び大きさの部材(図示せず)を配置して樹脂封止工程を実施し、当該工程終了後に当該部材を除去するなどの方法で形成され得る。
図4に示す如く、半導体装置5には、発光素子2が実装されて発光装置1が形成される。半導体装置5の貫通孔13に発光素子2の端子15が各々挿通され且つハンダ16によって中継端子8と電気的に接続されて、発光装置1が形成される。かかる構成によって、発光素子2と半導体装置5の間に配線を設けることなく両者を電気的に接続することが可能となる。
【0009】
なお、中継端子8の数は、実装される発光素子の端子の数に依存する。
また、半導体装置5は、基板6をトランスファーモールド法によって封止しても良い。トランスファーモールド法を使用する場合、基板6の両面が樹脂で封止され得る。更に、基板6は、ハーメチックシールを用いて封止しても良い。
【0010】
半導体装置5には、更に位置調整手段が形成され得る。当該位置調整手段は、例えば、図2に示す如く、基板6の四隅に設けたノッチ17である。ノッチ17は、位置調整用ジグ(図示せず)に対応する。当該ジグにより、半導体装置5が実装された発光素子2と共に位置決めされ得る。位置決め調整は、例えば発光装置1の発光素子2を発光させた状態で、レンズ等の外部の光学素子に対して光軸が合うように実施される。つまり、当該位置調整手段は、発光装置の発光素子から出射する光の光軸を調整する手段に使用される。
光軸調整後、発光装置1は固定手段を用いて発光装置用フレーム(図示せず)に固定される。当該固定手段として、接着剤が使用され得る。なお、図2に示す如く、基板6に固定用貫通孔18を設け、固定用貫通孔18にネジを挿入して当該フレームに固定しても良い。
【0011】
図5に示した変形例としての半導体装置5においては、中継端子8が、基板6に設けられた導電性材料が充填された孔すなわちスルーホール19を介してパッド20に接続されている。パッド20は、発光素子(図示せず)の端子に接続され得る。例えば、当該発光素子は、ハンダ、バンプ及び異方性導電性膜等を用いてパッド20に接続及び固定され得る。上記の如き半導体装置は、表面実装型の発光素子を容易に実装することが出来る。上記した部分以外は、図2乃至図4に示した半導体装置5と同様である。
【0012】
当該変形例において、当該発光素子の光軸調整は、半導体装置5に発光素子を実装する際に実施しても良い。この場合における光軸調整は、半導体装置5を発光装置用フレーム(図示せず)に固定した後に、当該発光素子の端子と中継端子8とを接触させた状態で、当該発光素子を発光させて実施する。光軸調整終了後に、当該発光素子と当該半導体装置5は、ハンダを用いて接続及び固定され得る。
【0013】
なお図5において、中継端子8は基板6にスルーホール19を設けることとしたが、モールド樹脂層12にスルーホールを設けて、パッドをモールド樹脂層の表面に露出せしめても良い。
【0014】
上記の如く、基板と、前記基板に担持されて発光素子を駆動するICチップと、を含む発光素子駆動用半導体装置であって、前記基板の非周縁部に設けられて前記発光素子への駆動電流を中継する中継端子と、前記中継端子と前記ICチップの駆動電流出力端子とを接続する接続電流路と、を含み、前記中継端子の近傍において、前記基板が前記発光素子を担持する担持領域を有することを特徴とする半導体装置によれば、発光素子と発光素子駆動用半導体装置の間の配線長が短くなる故に、配線の低インピーダンス化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の発光装置の平面図である。
【図2】本発明による発光素子駆動用半導体装置の平面図である。
【図3】本発明による発光素子駆動用半導体装置の断面図である。
【図4】発光素子を載置した状態の本発明による発光素子駆動用半導体装置の断面図である。
【図5】本発明による発光素子駆動用半導体装置の変形例の断面図である。
【符号の説明】
1 発光装置
2 発光素子
5 半導体装置
6 基板
7 ICチップ
8 中継端子
10 担持領域
11 ワイヤボンディング
12 モールド樹脂層
13 貫通孔
17 ノッチ
18 固定用貫通孔
20 パッド
Claims (7)
- 基板と、前記基板に担持されて発光素子を駆動するICチップと、を含む発光素子駆動用半導体装置であって、
前記基板の非周縁部に設けられて前記発光素子への駆動電流を中継する中継端子と、
前記中継端子と前記ICチップの駆動電流出力端子とを接続する接続電流路と、
前記ICチップ、前記中継端子及び前記接続電流路を覆う樹脂層と、を含み、
前記樹脂層上であり且つ前記中継端子の近傍において、前記発光素子を担持する担持領域を有することを特徴とする半導体装置。 - 前記接続電流路は、ワイヤボンディングであることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記中継端子自体もしくはその近傍において、前記基板に前記発光素子の端子が挿通可能な貫通孔が設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記中継端子が前記発光素子の端子を支持するように設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記基板に位置調整手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記位置調整手段は、前記基板の縁部に設けられたノッチであることを特徴とする請求項5記載の半導体装置。
- 前記基板は、少なくとも1つの固定用貫通孔を有することを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002196381A JP4253475B2 (ja) | 2002-07-04 | 2002-07-04 | 発光素子駆動用半導体装置 |
US10/429,525 US7095060B2 (en) | 2002-07-04 | 2003-05-05 | Unit for driving light-emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002196381A JP4253475B2 (ja) | 2002-07-04 | 2002-07-04 | 発光素子駆動用半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004039932A JP2004039932A (ja) | 2004-02-05 |
JP4253475B2 true JP4253475B2 (ja) | 2009-04-15 |
Family
ID=29997046
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002196381A Expired - Fee Related JP4253475B2 (ja) | 2002-07-04 | 2002-07-04 | 発光素子駆動用半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7095060B2 (ja) |
JP (1) | JP4253475B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004013733B4 (de) * | 2004-03-18 | 2006-04-06 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbauteil in Stapelbauweise mit einem optisch aktiven Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung |
KR100576881B1 (ko) * | 2005-01-03 | 2006-05-10 | 삼성전기주식회사 | 반도체 레이저 다이오드장치 및 그 제조방법 |
US7253528B2 (en) * | 2005-02-01 | 2007-08-07 | Avago Technologies General Ip Pte. Ltd. | Trace design to minimize electromigration damage to solder bumps |
KR101249989B1 (ko) * | 2006-11-07 | 2013-04-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 광원 유닛과 이를 포함한 백라이트 유닛 및 액정표시장치 |
EP3168874B1 (en) | 2015-11-11 | 2020-09-30 | Lipac Co., Ltd. | Semiconductor chip package with optical interface |
KR101964853B1 (ko) * | 2015-11-11 | 2019-04-02 | 주식회사 지파랑 | 광 인터페이스를 가지는 반도체 칩 패키지 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5299730A (en) * | 1989-08-28 | 1994-04-05 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for isolation of flux materials in flip-chip manufacturing |
JP2570628B2 (ja) * | 1994-09-21 | 1997-01-08 | 日本電気株式会社 | 半導体パッケージおよびその製造方法 |
JP3264147B2 (ja) * | 1995-07-18 | 2002-03-11 | 日立電線株式会社 | 半導体装置、半導体装置用インターポーザ及びその製造方法 |
JP3420435B2 (ja) * | 1996-07-09 | 2003-06-23 | 松下電器産業株式会社 | 基板の製造方法、半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
US6712529B2 (en) * | 2000-12-11 | 2004-03-30 | Rohm Co., Ltd. | Infrared data communication module and method of making the same |
US7301279B2 (en) * | 2001-03-19 | 2007-11-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting apparatus and method of manufacturing the same |
-
2002
- 2002-07-04 JP JP2002196381A patent/JP4253475B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-05-05 US US10/429,525 patent/US7095060B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040004227A1 (en) | 2004-01-08 |
US7095060B2 (en) | 2006-08-22 |
JP2004039932A (ja) | 2004-02-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050629 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080818 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080826 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081003 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090120 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090126 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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