JP4193215B2 - 電気光学装置及び電子機器 - Google Patents

Description

本発明は、例えば液晶表示装置、有機ＥＬ（Electro-Luminescence）表示装置等の電気光学装置及びそれを備えた電子機器に関する。

表示装置、例えば、電気光学材料として液晶を用いた液晶表示装置は、陰極線管（ＣＲＴ）に代わるディスプレイデバイスとして、各種情報処理機器の表示部や液晶テレビなどに広く用いられている。

この種の電気光学装置は、例えば、基板上に設けられた走査線駆動回路及びデータ線駆動回路や、走査線検査回路及びデータ線検査回路等の内部駆動回路及び該内部駆動回路と電気的に接続された複数の端子を備えている。また、該複数の端子に対して、実装部品が実装されると共に該実装部品に接続された外部駆動回路から所定種類の信号が供給される。そして、複数の端子を介して供給される所定種類の信号に基づいて、内部駆動回路が複数の画素を駆動し走査して画像を表示させたり、画素等の欠陥を検査したりする。

電気光学装置は、電気光学パネルの大型化が進み、かつ、内蔵回路が多様な機能を持つようになっているため、電気光学パネルの入力端子より供給される信号の配線が太くなり、配線の本数も増加する傾向にある。

図１は、従来の電気光学パネルにおける配線のレイアウトを示す平面図である。従来の電気光学パネルには、配線幅の太い複数の主信号配線３２、３４、及び３６が、単位回路毎に互いに平行に配設されている。そして、複数の主信号配線３２、３４、及び３６から、それぞれ副信号配線６２、６４、及び６６を介して、内部回路を構成するＴＦＴ（薄膜トランジスタ）５２に、主信号配線３２、３４、及び３６を伝搬した信号が供給される。

このように、複数の主信号配線３２、３４、及び３６を互いに平行に配設し、単位回路毎に主信号配線３２、３４、及び３６から内部回路に信号を供給する構成とすると、副信号配線６２は、主信号線３２を伝搬した信号を、主信号配線３４及び３６を跨いで内部回路に供給することとなる。このため、副信号配線６２と主信号配線３４及び３６との間の交差箇所が多くなり交差面積が増大するため、配線間交差容量が増大する。このように配線寄生容量が増大すると信号伝達に遅延が生じ、期待する時間内に信号の立ち上がりや立ち下がりが行われないという問題が生じる。このような問題を解決するため、配線幅を増大させて配線抵抗を下げることにより時定数を削減したり、回路上の工夫で寄生容量を低減させたりする液晶表示装置がある（例えば、特許文献１）。
特開平１０−１９９２８４号公報

しかしながら、これら従来の液晶表示装置のように、配線間交差容量の増大に伴う信号遅延を低減させるべく、配線幅を増加させて抵抗を下げようとすると、配線幅の増加に伴い交差面積が増大するため、配線間交差容量も増大する。その結果、寄生容量が増加してしまうため、配線幅の増加に伴う時定数削減の効果はきわめて少ない。一方、回路上の工夫で寄生容量を低減させようとすると、回路構成が複雑になるという問題が生じてしまう。

よって、本発明は、上記の課題を解決することのできる電気光学装置及び電子機器を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

本発明に係る電気光学装置は、複数のトランジスタと、所定の信号を伝搬する第１の主信号配線と、配線幅が前記第１の主信号配線より狭い第１の副信号配線と、前記第１の主信号配線と前記第１の副信号配線との間に配設された第２の主信号配線と、前記第１の主信号配線と前記第１の副信号配線とを接続し、かつ、前記第２の主信号配線を跨いで設けられた第１の接続配線と、前記複数のトランジスタの各々のゲートと前記第１の副信号配線とを接続する複数の第１配線と、を備え、前記第２の主信号配線は、前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと電気的に接続されている。
例えば、前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと前記第２の主信号配線とを接続する複数の第２配線をさらに備え、前記複数の第２配線は、前記第１の副信号配線を跨いで設けられている。
例えば、前記複数の第２配線は、前記第２の主信号配線と一体として形成されてなる。
例えば、配線幅が前記第２の主信号配線より狭い第２の副信号配線と、前記２の主信号配線と前記第２の副信号配線とを接続する第２の接続配線と、をさらに備え、前記複数のトランジスタは、前記第１の副信号配線と前記第２の副信号配線との間に配置されてなる。
例えば、前記第２の接続配線は、前記第１の副信号配線を跨がないように設けられている。
例えば、前記第２の接続配線は、前記第１の接続配線を跨がないように設けられている。
例えば、前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと前記第２の副信号配線とを接続する複数の第２配線をさらに備え、前記第２の副信号配線と前記第２の接続配線とは一体として形成されてなる。
例えば、前記第２の副信号配線と前記複数の第２配線とは一体として形成されてなる。
例えば、前記第２の接続配線は、前記複数のトランジスタのうち１のトランジスタのソース又はドレインと前記第２の主信号配線を接続する配線として機能する。
本発明に係る電子機器は、上記電気光学装置を備える。
また、上記課題を解決するため、本発明の第１の形態によれば、単位回路に対応して配設され、所定の信号を伝搬する第１の主信号配線と、配線幅が第１の主信号配線より狭い第１の副信号配線と、第１の主信号配線と第１の副信号配線との間に配設された第２の主信号配線と、第１の主信号配線と第１の副信号配線とに接続されており、第２の主信号配線に対して跨設された第１の接続配線と、第１の副信号配線に接続された複数の素子を有する内部回路とを備え、所定の信号は、第１の副信号配線を介して、第１の主信号配線から分岐して内部回路に供給されることを特徴とする電気光学装置を提供する。

上記構成によれば、複数の素子を第１の主信号配線に接続する場合、当該複数の素子は、第１の副信号配線を介して第１の主信号配線と電気的に接続されることとなる。ここで、第２の主信号配線は、第１の主信号配線と第１の副信号配線との間に配設されている。したがって、当該複数の素子と第１の副信号配線とを接続する配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線に対して跨設されないため、配線が交差する面積を低減させることができる。さらに、第１の副信号配線の配線幅を第１の主信号配線より狭くしたことにより、配線の交差に起因する寄生容量を削減できるため、信号伝搬特性の時定数を大幅に低減させることができ、高速に動作し、誤作動の少ない電気光学装置を提供することができる。

また、上記構成によれば、配線抵抗を下げる目的で第１の主信号配線の配線幅を広くした場合でも、配線が交差する面積はさほど増加しない。したがって、上記構成によれば、第１の主信号配線の配線幅を広くした場合であっても、配線の交差に起因する寄生容量の増加を抑えることができる。

また、当該電気光学装置において、第１の主信号配線及び第２の主信号配線は、互いに略平行に配置されることが好ましい。また、第１の副信号配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線に対して略平行に配置されることが好ましい。また、第１の接続配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線並びに第１の副信号配線に対して略垂直に配置されるのが好ましい。

当該電気光学装置は、配線幅が第２の主信号配線より狭い第２の副信号配線と、第２の主信号配線と第２の副信号配線とに接続されており、第１の副信号配線に対して跨設された第２の接続配線とをさらに備え、複数の素子は、第２の副信号配線に接続されており、第２の主信号配線は、第１の主信号配線と第２の副信号配線との間に配設されることが好ましい。

上記構成によれば、複数の素子と第２の副信号配線とを接続する配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線に対して跨設されないため、配線が交差する面積を低減させることができる。したがって、上記構成によれば、配線の交差に起因する寄生容量の増加を抑えることができる。

例えば、第１の副信号配線は、第２の主信号配線と第２の副信号配線との間に配設される。また、第２の副信号配線は、第２の主信号配線と第１の副信号配線との間に配設されてもよい。また、第１の副信号配線及び第２の副信号配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線と、複数の素子との間に配設されてもよい。

当該電気光学装置は、第１の主信号配線と第１の副信号配線及び第２の副信号配線との間に配設された第３の主信号配線をさらに備え、第１の接続配線及び第２の接続配線は、第３の主信号配線に対してさらに跨設して配設され、複数の素子は、第３の主信号配線に接続されることが好ましい。

上記構成によれば、複数の素子と第１の主信号配線及び第２の主信号配線との間に他の配線がさらに配置された場合であっても、第１の副信号配線及び第２の副信号配線とを接続する配線が主信号配線に対して跨設されることなく、各素子は、第１の主信号配線又は第２の主信号配線と電気的に接続される。したがって、配線幅の太い主信号配線が多い場合であっても、配線が交差する面積を低減させることができる。したがって、上記構成によれば、配線の交差に起因する寄生容量の増加を抑えることができる。

当該電気光学装置は、配線幅が第３の主信号配線より狭い第３の副信号配線と、第３の主信号配線と第３の副信号配線とに接続された第３の接続配線とをさらに備え、複数の素子は、第３の主信号配線と第３の副信号配線との間に配設されており、第３の副信号配線を介して第３の主信号配線に接続されたことが好ましい。第３の主信号配線は、第１の主信号配線及び第２の主信号配線に対して略平行に配設されることが好ましい。また、第３の副信号配線は、第１の副信号配線及び第２の副信号配線に対して略平行に配設されることが好ましい。

上記構成によれば、複数の素子と第３の副信号配線とを接続する配線が第１の副信号配線及び第２の副信号配線に対して跨設されないように、複数の素子と第３の副信号配線とを接続させることができる。したがって、配線が交差する面積をさらに低減させることができるため、配線の交差に起因する寄生容量の増加を抑えることができる。

また、当該配線が第１の副信号配線及び第２の副信号配線に対して跨設された場合であっても、各素子が第３の主信号配線にそれぞれ接続された場合と比して、配線が交差する面積をさらに低減させることができる。

当該電気光学装置において、複数の素子は、第１の素子群と第２の素子群とを有しており、第１の素子群は、第１の副信号配線及び第３の主信号配線に接続されており、第２の素子群は、第２の副信号配線及び第３の主信号配線に接続されてもよい。

本発明の第２の形態によれば、上記電気光学装置を備えた電子機器を提供する。ここで、電子機器とは、本発明にかかる電気光学装置を備えた一定の機能を奏する機器一般をいい、その構成に特に限定はないが、例えば、上記電気光学装置を備えたコンピュータ装置一般、表示装置、携帯電話、ＰＨＳ、ＰＤＡ、電子手帳等、電気光学装置を必要とするあらゆる装置が含まれる。

以下、図面を参照しつつ、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせのすべてが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
なお、以下の実施形態は、本発明の電気光学装置を液晶表示装置に適用したものである。

図２は、本発明の電気光学装置の一例である液晶表示装置の第１実施形態の電気的構成を示すブロック図である。同図を参照して、まず、本実施形態の液晶表示装置の全体構成について説明する。この図に示すように液晶表示装置は、電気光学パネルの一例である液晶パネルＡＡ、実装部材の一例であるフレキシブル基板Ｂ、及び外部基板Ｃを備える。外部基板Ｃは、外部駆動回路の一例である、タイミング発生回路３００、画像処理回路４００、電源回路５００、及び検査信号出力回路６００を備える。この液晶表示装置に供給される入力画像データＤは、例えば、３ビットパラレルの形式である。タイミング発生回路３００は、入力画像データＤに同期してＹクロック信号ＹＣＫ、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢ、Ｘクロック信号ＸＣＫ、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢ、Ｙ転送開始パルスＤＹ及びＸ転送開始パルスＤＸを生成する。また、タイミング発生回路３００は、画像処理回路４００を制御する各種のタイミング信号を生成し、これを出力する。

Ｙクロック信号ＹＣＫは、走査線２を選択する期間を特定し、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢはＹクロック信号ＹＣＫの論理レベルを反転したものである。Ｘクロック信号ＸＣＫは、データ線３を選択する期間を特定し、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢはＸクロック信号ＸＣＫの論理レベルを反転したものである。

画像処理回路４００は、入力画像データＤに、液晶パネルＡＡの光透過特性を考慮したガンマ補正等を施した後、ＲＧＢ各色の画像データをＤ／Ａ変換して、画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂを生成する。

電源回路５００は、タイミング発生回路３００、画像処理回路４００、及び検査信号出力回路６００に電源を供給する他、走査線駆動回路１００及びデータ線駆動回路２００等の動作に必要な電源を生成する。

このように生成された各種の制御信号及び電源は、フレキシブル基板Ｂを介して液晶パネルＡＡに供給される。

液晶パネルＡＡは、その素子基板上に、端子群１０、画像表示領域Ａ、走査線駆動回路１００、データ線駆動回路２００、走査線検査回路１１０、及びデータ線検査回路１２０を備える。端子群１０は、複数の電源端子及び複数の入力端子を有して構成される。

走査線駆動回路１００は、Ｙシフトレジスタ及びレベルシフタ等を備える。Ｙ転送開始パルスＤＹ、Ｙクロック信号ＹＣＫ及び反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢはＹシフトレジスタに供給される。Ｙシフトレジスタは、Ｙクロック信号ＹＣＫ及び反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢに同期して、Ｙ転送開始パルスＤＹを順次転送して信号を順次出力する。レベルシフタは、信号振幅を大振幅に変換し、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍとして各走査線２に出力する。

データ線駆動回路２００は、画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂを所定のタイミングでサンプリングしてデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎを生成し各データ線３に供給する。データ線駆動回路２００は、Ｘシフトレジスタ、レベルシフタ、及びサンプリング回路を備える。Ｘシフトレジスタは、Ｘ転送開始パルスＤＸをＸクロック信号ＸＣＫ及び反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢに同期して順次転送して各出力信号を生成する。

レベルシフタは、Ｘシフトレジスタの各出力信号のレベルを変換して、各サンプリング信号ＳＲ１〜ＳＲｎを順次生成する。サンプリング回路は、ｎ個のスイッチＳＷ１〜ＳＷｎを備える。各スイッチＳＷ１〜ＳＷｎは、ＴＦＴによって構成されている。そして、ゲートに供給される各サンプリング信号ＳＲ１〜ＳＲｎが順次アクティブになると、各スイッチＳＷ１〜ＳＷｎが順次オン状態となる。すると、フレキシブル基板Ｂを介して供給される画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂがサンプリングされる。そして、サンプリング結果であるデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎがデータ線３に順次供給される。

次に、画像表示領域Ａには、図２に示されるように、ｍ（ｍは２以上の自然数）本の走査線２が、Ｘ方向に沿って平行に配列して形成される一方、ｎ（ｎは２以上の自然数）本のデータ線３が、Ｙ方向に沿って平行に配列して形成されている。そして、走査線２とデータ線３との交差付近においては、ＴＦＴ５０のゲートが走査線２に接続される一方、ＴＦＴ５０のソースがデータ線３に接続されるとともに、ＴＦＴ５０のドレインが容量素子５１及び画素電極６に接続される。そして、各画素は、画素電極６と、対向基板に形成される対向電極と、これら両電極間に挟持された液晶とによって構成される。この結果、走査線２とデータ線３との各交差に対応して、画素はマトリクス状に配列されることとなる。

また、ＴＦＴ５０のゲートが接続される各走査線２には、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍが、パルス的に線順次で印加されるようになっている。このため、ある走査線２に走査信号が供給されると、当該走査線に接続されるＴＦＴ５０がオンするので、データ線３から所定のタイミングで供給されるデータ線信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘｎは、対応する画素に順番に書き込まれた後、所定の期間保持されることとなる。

各画素に印加される電位レベルに応じて液晶分子の配向や秩序が変化するので、光変調による階調表示が可能となる。例えば、液晶を通過する光量は、ノーマリーホワイトモードであれば、印加電位が高くなるにつれて制限される一方、ノーマリーブラックモードであれば、印加電位が高くなるにつれて緩和されるので、液晶表示装置全体では、画像信号に応じたコントラストを持つ光が各画素毎に出射される。このため、所定の表示が可能となる。

走査線検査回路１１０及びデータ線検査回路１２０は、それぞれ走査線２及びデータ線３に接続されており、例えば、点欠陥や線欠陥等の表示上の欠陥等を検査することにより、液晶表示パネルの良否を検査する。

走査線検査回路１１０及びデータ線検査回路１２０には、フレキシブル基板Ｂを介して検査信号出力回路６００に電気的に接続された第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６が配設されている。そして、検査信号出力回路６００が出力した信号が、第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６を介して走査線検査回路１１０及びデータ線検査回路１２０に供給される。走査線検査回路１１０及びデータ線検査回路１２０は、供給された検査信号に基づいて、液晶表示パネルの良否を検査する。

図３は、本発明を適用した一例であるデータ線検査回路１２０の構成の第１実施形態を示す図である。図４は、第１実施形態に係るデータ線検査回路１２０の平面レイアウト図である。本実施形態においてデータ線検査回路１２０及び走査線検査回路１１０は略同じ構成を有するため、以下においてデータ線検査回路１２０の構成を例に本実施形態のデータ線検査回路１２０の構成について説明する。

データ線検査回路１２０は、第１の主信号配線１３２と、第２の主信号配線１３４と、第３の主信号配線１３６と、第１の副信号配線１４２と、第２の副信号配線１４４と、第１の接続配線１５２と、第２の接続配線１５４と、第３の接続配線１５６と、内部回路を構成する複数の素子の一例である複数の薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）１５０とを有して構成される。

第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６は、画像表示領域Ａにおける複数の画素が設けられた領域の一端から他端に渡って配設されている。また、第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６は、互いに略平行に配設されている。また、第２の主信号配線１３４は、第１の主信号配線１３２と第３の主信号配線１３６との間に配設されており、第３の主信号配線１３６は、第２の主信号配線１３４とＴＦＴ１５０との間に配設されている。

第１の主信号配線１３２及び第２の主信号配線１３４は、ＴＦＴ１５０のゲートに供給する信号を伝搬し、第３の主信号配線１３６は、ＴＦＴ１５０のソース又はドレインに供給する信号を伝搬する。他の例において、第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６は、クロック信号や電源電圧等といった、長い距離に渡って供給する信号や電源を伝搬してもよい。

複数のＴＦＴ１５０は、第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び第３の主信号配線１３６が延在する方向に沿って配設されている。また、複数のＴＦＴ１５０は、第１の素子群の一例である、第１の主信号配線１３２に接続されるＴＦＴ１５０と、第２の素子群の一例である、第２の主信号配線１３４に接続されるＴＦＴ１５０とを含む。

ＴＦＴ１５０は、ゲート、ソース、及びドレインを有しており、第１の主信号配線１３２又は第２の主信号配線１３４を伝搬した信号がゲートに供給されており、第３の主信号配線１３６を伝搬した信号がソース又はドレインの一方に供給されている。また、ＴＦＴ１５０は各データ線３に対応して設けられており、ソース又はドレインの他方はデータ線３に接続されている。すなわち、ＴＦＴ１５０は、フレキシブル基板Ｂを介して検査信号出力部６００（図１参照）からゲートに供給された信号の電位に基づいて、第３の主信号配線１３６を伝搬する信号をデータ線３に供給するか否かを制御する。また、ＴＦＴ１５０は、ゲートに供給された信号の電位に基づいて、データ線３を伝搬する信号を第３の主信号配線１３６に供給してもよい。

第１の副信号配線１４２は、第１の主信号配線１３２を伝搬する信号を受け取り、ＴＦＴ１５０に供給するよう構成されている。具体的には、第１の副信号配線１４２は、第１の接続配線１５２を介して第１の主信号配線１３２に接続されており、第１の素子配線１６２を介して第１の副信号配線１４２に接続されたＴＦＴ１５０に対して当該信号を供給する。

第１の副信号配線１４２は、第１の主信号配線１３２より配線幅が狭く、第１の主信号配線１３２に対して略平行に配設されている。また、第１の副信号配線１４２は、第３の主信号配線１３６とＴＦＴ１５０との間に配設されている。具体的には、第１の副信号配線１４２は、第３の主信号配線１３６と第２の副信号配線１４４との間において、第３の主信号配線１３６及び第２の副信号配線１４４に隣接して配設される。第１の副信号配線１４２の配線幅は、第１の主信号配線１３２の配線幅の半分以下であってもよい。配線幅は、例えば、第１の主信号配線１３２が３０μｍとすると、第１の副信号配線１４２は１０μｍ程度である。

第１の接続配線１５２は、第１の主信号配線１３２と第１の副信号配線１４２とに接続されており、第１の主信号配線１３２を伝搬した信号を第１の副信号配線１４２に供給する。第１の接続配線１５２は、第２の主信号配線１３４及び第３の主信号配線１３６に対して跨設されている。また、第１の接続配線１５２は、第１の主信号配線１３２及び第１の副信号配線１４２に対して略垂直に配設されている。また、第１の接続配線１５２は、第１の主信号配線１３２より配線幅が狭いことが好ましい。

第１の接続配線１５２の数は、第１の素子配線１６２の数より少ないことが望ましい。第１の接続配線１５２は、例えば、複数のＴＦＴ１５０により構成されるブロックに対して１本や、複数の当該ブロックに対して１本配設される。

第１の素子配線１６２は、第１の副信号配線１４２を伝搬する信号をＴＦＴ１５０に供給する。具体的には、第１の素子配線１６２は、第１の副信号配線１４２に接続されているとともに、ＴＦＴ１５０のゲート電極として配設されており、当該信号の電位に基づいて、当該ＴＦＴ１５０を導通させるか否かを制御する。

第１の素子配線１６２は、第２の副信号配線１４４に対して跨設されている。また、第１の素子配線１６２は、第１の副信号配線１４２に対して略垂直に配設されている。また、第１の素子配線１６２は、第１の主信号配線１３２より配線幅が狭いことが好ましい。

第２の副信号配線１４４は、第２の主信号配線１３４を伝搬する信号を受け取り、ＴＦＴ１５０に供給するよう構成されている。具体的には、第２の副信号配線１４４は、第２の接続配線１５４を介して第２の主信号配線１３４に接続されており、第２の素子配線１６４を介して第２の副信号配線１４４に接続されたＴＦＴ１５０に対して当該信号を供給する。

第２の副信号配線１４４は、第２の主信号配線１３４より配線幅が狭く、第２の主信号配線１３４に対して略平行に配設されている。また、第２の副信号配線１４４は、第１の副信号配線１４２とＴＦＴ１５０との間において、第１の副信号配線１４２に対して隣接して配設される。第２の副信号配線１４４の配線幅は、第２の主信号配線１３４の配線幅の半分以下であってもよい。配線幅は、例えば、第２の主信号配線１３４が３０μｍとすると、第２の副信号配線１４４は１０μｍ程度である。

第２の接続配線１５４は、第２の主信号配線１３４と第２の副信号配線１４４とに接続されており、第２の主信号配線１３４を伝搬した信号を第２の副信号配線１４４に供給する。第２の接続配線１５４は、第３の主信号配線１３６及び第１の副信号配線１４２に対して跨設されている。また、第２の接続配線１５４は、第２の主信号配線１３４及び第２の副信号配線１４４に対して略垂直に配設されている。また、第２の接続配線１５４は、第２の主信号配線１３４より配線幅が狭いことが好ましい。

第２の接続配線１５４の数は、第２の素子配線１６４の数より少ないことが望ましい。例えば、第２の接続配線１５４は、複数のＴＦＴ１５０により構成されるブロックに対して１本や、複数の当該ブロックに対して１本配設される。また、第１の接続配線１５２の数は、第２の接続配線１５４の数と同じであってもよい。

第２の素子配線１６４は、第２の副信号配線１４４を伝搬する信号をＴＦＴ１５０に供給する。具体的には、第２の素子配線１６４は、第２の副信号配線１４４に接続されるとともに、ＴＦＴ１５０のゲート電極として配設されており、当該信号の電位に基づいて当該ＴＦＴ１５０を導通させるか否かを制御する。

第２の素子配線１６４は、第２の副信号配線１４４に対して略垂直に配設されている。また、複数の第２の素子配線１６４のうちの一部は、第２の接続配線１５４と一体に形成されている。また、第２の素子配線１６４は、第２の主信号配線１３４より配線幅が狭いことが好ましい。

第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６とＴＦＴ１５０とに接続されており、第３の主信号配線１３６を伝搬した信号をＴＦＴ１５０に供給する。本実施形態において、第３の接続配線１５６は、各ＴＦＴ１５０に対してそれぞれ配設されている。また、第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６と一体に形成されている。

第３の接続配線１５６は、第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４に対して跨設されている。また、第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６に対して略垂直に配設されている。また、第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６より配線幅が狭いことが好ましい。他の例において、データ線検査回路１２０は、第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４と同様に、第３の主信号配線１３６より配線幅が狭い副信号配線と、当該副信号配線と第３の主信号配線１３６とに接続された接続配線と、当該接続配線とＴＦＴ１５０とに接続された素子配線とを有してもよい。

このように本実施形態によれば、ＴＦＴ１５０を第１の主信号配線１３２に接続する場合、ＴＦＴ１５０は、第１の副信号配線１４２を介して第１の主信号配線１３２と電気的に接続されることとなる。ここで、第２の主信号配線１３４は、第１の主信号配線１３２と第１の副信号配線１４２との間に配設されている。したがって、第１の素子配線１６２は、第１の主信号配線１３２及び第２の主信号配線１３４に対して跨設されないため、配線が交差する面積を低減させることができる。さらに、第１の副信号配線１４２の配線幅を第１の主信号配線１３２より狭くしたことにより、配線の交差に起因する寄生容量を削減できるため、信号伝搬特性の時定数を大幅に低減させることができる。したがって、本実施形態によれば高速に動作し、誤作動の少ない電気光学装置を提供することができる。

また、本実施形態によれば、配線抵抗を下げる目的で、第１の主信号配線１３２、第２の主信号配線１３４、及び／又は第３の主信号配線１３６の配線幅を広くした場合でも、配線が交差する面積はさほど増加しない。したがって、本実施形態によれば、第１の主信号配線１３２等の配線幅を広くした場合であっても、配線の交差に起因する寄生容量の増加を抑えることができる。

図５は、本発明を適用した一例であるデータ線検査回路１２０の構成の第２実施形態を示す図である。また、図６は、第２実施形態に係るデータ線検査回路１２０の平面レイアウト図である。本実施形態においてもデータ線検査回路１２０及び走査線検査回路１１０は略同じ構成を有するため、以下においてデータ線検査回路１２０の構成を例に本実施形態のデータ線検査回路１２０の構成について説明する。なお、第１実施形態と同一の符号を付した構成については、第１実施形態と同様の機能を有しており、以下においては、第１実施形態と異なる点を中心に第２実施形態のデータ線検査回路１２０について説明する。

本実施形態において、データ線検査回路１２０は、第３の主信号配線１３６より配線幅が狭い第３の副信号配線１４６と、第３の副信号配線１４６とＴＦＴ１５０とに接続された第３の素子配線１６６とをさらに有して構成される。第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６と第３の副信号配線１４６とに接続されており、第３の主信号配線１３６を伝搬した信号を第３の副信号配線１４６に供給する。第３の副信号配線１４６の配線幅は、第３の主信号配線１３６の配線幅の半分以下であってもよい。配線幅は、例えば、第３の主信号配線１３６が３０μｍとすると、第３の副信号配線１４６は１０μｍ程度である。

第３の副信号配線１４６は、第３の主信号配線１３６に対して略平行に配設されており、第３の接続配線１５６は、第３の主信号配線１３６及び第３の副信号配線１４６に対して略垂直に配設されている。

本実施形態において、第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４は、第１の接続配線１５２及び第２の接続配線１５４が配設された領域（ブロック）ごとに配設されており、第３の接続配線１５６は、当該領域間に配設されている。すなわち、第３の接続配線１５６は、第１の副信号配線１４２及び第２の接続配線１５４に対して跨設されていない。

他の例において、第３の接続配線１５６は、第１の副信号配線１４２及び／又は第２の副信号配線１４４に対して跨設されてもよい。この場合、第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４は、第１の主信号配線１３２及び第２の主信号配線１３４と同様に、画像表示領域Ａにおける複数の画素が設けられた領域の一端から他端に渡って配設されてもよい。すなわち、第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４は、ブロックごとに配設されてもよく、複数のブロックに渡って配設されてもよい。

ＴＦＴ１５０は、第３の主信号配線１３６と第３の副信号配線１４６との間に設けられている。具体的には、画像表示領域Ａに設けられた画素の一部又は全部は、第３の主信号配線１３６と第３の副信号配線１４６との間に設けられており、ＴＦＴ１５０は、当該画素と第３の副信号配線１４６との間に設けられている。

本実施形態において、第３の接続配線１５６は、第３の副信号配線１４６に接続されるとともに、複数のＴＦＴ１５０のうちの一部にも接続されている。すなわち、第３の接続配線１５６は、第３の副信号配線１４６とＴＦＴ１５０とを接続する第３の素子配線１６６としても機能している。

このように本実施形態によれば、第３の素子配線１６６が第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４に対して跨設されないように、ＴＦＴ１５０と第３の副信号配線１４６とを接続させることができる。したがって、本実施形態によれば、配線が交差する面積をさらに低減させることができるため、配線の交差に起因する寄生容量の増加をさらに抑えることができる。

また、第３の素子配線１６６が第１の副信号配線１４２及び第２の副信号配線１４４に対して跨設された場合であっても、各ＴＦＴ１５０が第３の主信号配線１３６にそれぞれ接続された場合と比して、配線が交差する面積をさらに低減させることができる。

図７は、本発明の電子機器の一例であるパーソナルコンピュータ１０００の構成を示す斜視図である。図７において、パーソナルコンピュータ１０００は、表示パネル１００２と、キーボード１００４を有する本体部１００６とを備えて構成されている。当該パーソナルコンピュータ１０００の表示パネル１００２において、本発明の電気光学装置が利用されている。

上記発明の実施の形態を通じて説明された実施例や応用例は、用途に応じて適宜に組み合わせて、又は変更若しくは改良を加えて用いることができ、本発明は上述した実施形態の記載に限定されるものではない。そのような組み合わせ又は変更若しくは改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。例えば、上記実施形態では、本発明の電気光学装置を液晶表示装置に適用したものを例に説明したが、本発明の電気光学装置が適用されるものはこれに限られず、例えば有機ＥＬ表示装置等にも適用できる。また、上記実施形態では、本発明をデータ線検査回路に適用したものを例に説明したが、本発明はこれに限られず、例えば走査線駆動回路やデータ線駆動回路等の他の回路にも適用できる。

従来の電気光学パネルにおける配線のレイアウトを示す平面図である。 本発明の電気光学装置の一例である液晶表示装置の構成を示す図である。 データ線検査回路１２０の構成の第１実施形態を示す図である。 第１実施形態に係るデータ線検査回路１２０の平面レイアウト図である。 データ線検査回路１２０の構成の第２実施形態を示す図である。 第２実施形態に係るデータ線検査回路１２０の平面レイアウト図である。 本発明の電子機器の一例であるパーソナルコンピュータ１０００の構成を示す斜視図である。

符号の説明

１００・・・走査線駆動回路、１１０・・・走査線検査回路、１２０・・・データ線検査回路、１３２・・・第１の主信号配線、１３４・・・第２の主信号配線、１３６・・・第３の主信号配線、１３８・・・データ線、１３９・・・走査線、１４２・・・第１の副信号配線、１４４・・・第２の副信号配線、１４６・・・第３の副信号配線、１５０・・・薄膜トランジスタ、１５２・・・第１の接続配線、１５４・・・第２の接続配線、１５６・・・第３の接続配線、１６２・・・第１の素子配線、１６４・・・第２の素子配線、１６６・・・第３の素子配線、２００・・・データ線駆動回路、３００・・・タイミング発生回路、４００・・・画像処理回路、５００・・・電源回路、６００・・・検査信号出力回路

Claims (10)

1. 複数のトランジスタと、
   所定の信号を伝搬する第１の主信号配線と、
   配線幅が前記第１の主信号配線より狭い第１の副信号配線と、
   前記第１の主信号配線と前記第１の副信号配線との間に配設された第２の主信号配線と、
   前記第１の主信号配線と前記第１の副信号配線とを接続し、かつ、前記第２の主信号配線を跨いで設けられた第１の接続配線と、
   前記複数のトランジスタの各々のゲートと前記第１の副信号配線とを接続する複数の第１配線と、を備え、
   前記第２の主信号配線は、前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと電気的に接続されている、ことを特徴とする電気光学装置。
2. 前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと前記第２の主信号配線とを接続する複数の第２配線をさらに備え、
   前記複数の第２配線は、前記第１の副信号配線を跨いで設けられている、ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
3. 前記複数の第２配線は、前記第２の主信号配線と一体として形成されてなる、ことを特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
4. 配線幅が前記第２の主信号配線より狭い第２の副信号配線と、
   前記２の主信号配線と前記第２の副信号配線とを接続する第２の接続配線と、
   をさらに備え、
   前記複数のトランジスタは、前記第１の副信号配線と前記第２の副信号配線との間に配置されてなる、ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
5. 前記第２の接続配線は、前記第１の副信号配線を跨がないように設けられている、ことを特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
6. 前記第２の接続配線は、前記第１の接続配線を跨がないように設けられている、ことを特徴とする請求項４又は５に記載の電気光学装置。
7. 前記第２の副信号配線と前記第２の接続配線とは一体として形成されてなる、ことを特徴とする請求項４乃至請求項６のいずれか１項に記載の電気光学装置。
8. 前記複数のトランジスタの各々のソース又はドレインと前記第２の副信号配線とを接続する複数の第２配線をさらに備え、
   前記第２の副信号配線と前記複数の第２配線とは一体として形成されてなる、ことを特徴とする請求項４乃至請求項７のいずれか１項に記載の電気光学装置。
9. 前記第２の接続配線は、前記複数のトランジスタのうち１のトランジスタのソース又はドレインと前記第２の主信号配線を接続する配線として機能する、請求項４乃至請求項８のいずれか１項に記載の電気光学装置。
10. 請求項１から９のいずれか１項に記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。

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