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JP4154470B2 - 情報記録再生装置および情報再生方法 - Google Patents

情報記録再生装置および情報再生方法 Download PDF

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JP4154470B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報記録再生装置および情報再生方法に関し、特に、サンプルサーボ方式の光ディスク記録記録再生装置に用いて好適なものである。
【0002】
【従来の技術】
ITインフラの整備・進展に伴い、光ディスクのさらなる大容量化が要求されている。かかる要求に応えるために、光ディスクの記録密度を高めようとすると、ピット長およびピット間隔をさらに短縮する必要がある。しかし、かかる場合には、符号間干渉による再生特性の劣化といった新たな問題が生じる。
【0003】
かかる符号間干渉の問題は、イコライザフィルタ等を用いた波形等化処理を再生信号に施すことにより抑制できる。しかしながら、記録密度の向上のためにピット長およびピット間隔をさらに短縮すると、等化誤差が生じ、隣接波形に影響を及ぼしたり、ノイズが強調されたりして、十分な再生特性を得ることができない。
【0004】
そこで、波形等化処理によってもなお符号間干渉の影響を除去できないような高密度記録に対しては、ビタビ復号化処理を適用したデータ再生方法が採用されている。かかるビタビ復号化処理は、符号間干渉を逆に積極的に利用し、最も尤度の高い復号パスを選択して信号検出を行うというものである。なお、ビタビ復号化処理を利用した高密度記録については、たとえば、「ビタビ復号による高密度記録」、テレビ学会技報、Vol.14、No.64、pp13〜17、Vir'90-63、(Sep.1990)に記載されている。
【0005】
しかしながら、かかるビタビ復号化処理を採用した場合においても、ディスク側の特性や記録レーザパワーの変動等、記録再生時の条件・環境が変化すると、上記尤度比較のために設定された閾値がそのままではその条件・環境に整合したものとはならず、そのため、設定された閾値によってビタビ復号化処理を実行すると、データ再生の誤りが増長される結果となってしまう。
【0006】
そこで、上記記録再生時の条件・環境を事前に検出し、その検出結果に応じて尤度比較のための閾値を適宜調整するものが提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
【0007】
【特許文献1】
特開平6−37650号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、記録媒体の高密度化がさらに進み符号間干渉による再生波形のS/Nの劣化が顕著となると、ビタビ復号化処理における復号パスの適正な選択が困難となる。したがって、上記のように閾値を調整したとしても、再生波形のS/N劣化に起因した復号パスの選択誤りが増大し、このため、適正なデータを再生することができなくなるとの問題が生じる。
【0009】
そこで、本発明は、かかるビタビ復号化処理における問題を回避し、符号間干渉がさらに進んでも比較的精度よくデータを再生し得る情報記録再生装置および情報再生方法を提供する。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題に鑑み、本発明は、以下の特徴を有する。
【0011】
請求項1の発明は、符号化後のNビットの符号列中にK個の1が存在するよう符号化する変調方式によって記録データを変調して記録媒体に記録するとともに、前記変調方式により変調されて記録された記録データを記録媒体から再生する情報記録再生装置であって、記録媒体上の所定領域にテストデータを記録するテストデータ記録手段と、前記テストデータを再生して当該記録媒体にデータを記録し再生した際の記録再生特性を導出する記録再生特性導出手段と、前記変調方式に応じたサンプルデータを記憶するサンプルデータ記憶手段と、前記記録媒体から前記記録データを再生したときの再生信号上の各ビット位置のうち前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置を特定するビット位置特定手段と、前記サンプルデータ記憶手段に記憶されたサンプルデータのうち前記ビット位置特定手段によって特定された前記ビット位置が1となるサンプルデータを読み出すと共に、前記記録再生特性に基づいて、当該読み出したサンプルデータからサンプル再生信号を生成するサンプル再生信号生成手段と、当該生成されたサンプル再生信号と前記記録媒体から再生された前記記録データの再生信号とを比較し、当該再生された前記記録データの再生信号に最も近似するサンプル再生信号に対応するサンプルデータを再生データとして出力する再生データ出力手段とを有することを特徴とする。
【0012】
請求項2の発明は、請求項1に記載の情報記録再生装置において、前記ビット位置特定手段は、前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置に加え、それに隣接するビット位置をさらに特定することを特徴とする。
【0013】
請求項3の発明は、請求項1または2に記載の情報記録再生装置において、 前記記録媒体から再生した再生信号を所定周期でサンプリングして標本値を導出するサンプリング手段をさらに備え、前記サンプル再生信号生成手段は、前記サンプリング周期に応じた標本値を前記記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから生成し、前記再生データ出力手段は、前記サンプリング手段によって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成手段によって生成された前記サンプルデータの標本値とを比較して前記再生データを出力することを特徴とする。
【0015】
請求項4の発明は、請求項3に記載の情報記録再生装置において、再生データ出力手段は、前記サンプリング手段によって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成手段によって生成された前記サンプルデータの標本値の二乗誤差の総和を算出し、当該二乗誤差の総和が最も小さい前記サンプルデータを再生データとして出力することを特徴とする。
【0016】
請求項5の発明は、請求項1から4の何れかにおいて、前記テストデータ記録手段は、前記記録媒体の記録領域が物理的または論理的に複数の領域に区分されている場合に、各区分のデータ記録に先立った位置に前記テストデータを記録し、 前記記録再生特性導出手段は、前記テストデータを再生することによって当該区分の前記記録再生特性を導出し、前記サンプル再生信号生成手段は、各区分の記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから当該区分のサンプル再生信号を生成し、再生データ出力手段は、区分毎に生成された前記サンプル再生信号と前記記録媒体から再生された再生信号とを比較して再生データとして出力することを特徴とする。
【0017】
請求項6の発明は、符号化後のNビットの符号列中にK個の1が存在するよう符号化され記録された記録データを記録媒体から再生する情報再生方法であって、記録媒体上の所定領域に記録されたテストデータを再生して当該記録媒体にデータを記録し再生した際の記録再生特性を導出する記録再生特性導出ステップと、前記記録媒体から前記記録データを再生したときの再生信号上の各ビット位置のうち前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置を特定するビット位置特定ステップと、記憶手段に記憶されたサンプルデータのうち前記ビット位置特定ステップによって特定された前記ビット位置が1となるサンプルデータを読み出すと共に、前記記録再生特性に基づいて、当該読み出したサンプルデータからサンプル再生信号を生成するサンプル再生信号生成ステップと、当該生成されたサンプル再生信号と前記記録媒体から再生された前記記録データの再生信号とを比較し、当該再生された前記記録データの再生信号に最も近似するサンプル再生信号に対応するサンプルデータを再生データとして出力する再生データ出力ステップとを有することを特徴とする。
【0018】
請求項7の発明は、請求項6に記載の情報再生方法において、前記ビット位置特定ステップは、前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置に加え、それに隣接するビット位置をさらに特定することを特徴とする。
【0019】
請求項8の発明は、請求項6または7に記載の情報再生方法において、前記記録媒体から再生した再生信号を所定周期でサンプリングして標本値を導出するサンプリングステップをさらに備え、前記サンプル再生信号生成ステップは、前記サンプリング周期に応じた標本値を前記記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから生成し、前記再生データ出力ステップは、前記サンプリングステップによって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成ステップによって生成された前記サンプルデータの標本値とを比較して前記再生データを出力することを特徴とする。
【0021】
請求項9の発明は、請求項8に記載の情報再生方法において、再生データ出力ステップは、前記サンプリングステップによって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成ステップによって生成された前記サンプルデータの標本値の二乗誤差の総和を算出し、当該二乗誤差の総和が最も小さい前記サンプルデータを再生データとして出力することを特徴とする。
【0022】
請求項10の発明は、請求項6から9の何れかに記載の情報再生方法において、 前記記録媒体の記録領域が物理的または論理的に複数の領域に区分されており、且つ、各区分のデータ記録に先立った位置に前記テストデータが記録されている場合、前記記録再生特性導出ステップは、前記テストデータを再生することによって当該区分の前記記録再生特性を導出し、前記サンプル再生信号生成ステップは、各区分の記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから当該区分のサンプル再生信号を生成し、再生データ出力ステップは、区分毎に生成された前記サンプル再生信号と前記記録媒体から再生された再生信号とを比較して、再生データを出力することを特徴とする。
【0023】
本発明によれば、テストデータの再生結果からその時々の環境・条件下における記録再生特性を導出できる。かかる記録再生特性は、たとえば、記録再生系およびその間に介在する記録媒体を伝送路と見たときのインパルス応答として表現できる。かかるインパルス応答を伝達関数としてサンプルデータから再生波形を算出すれば、何れかのサンプルデータの再生波形が、実際に記録媒体から再生した再生信号の再生波形の期待値となっている筈である。したがって、本発明では、サンプルデータから算出した再生波形のうち、実際に記録媒体から再生した再生波形に最も整合するものを、当該再生した再生波形の期待値とし、当該期待値とされた再生波形の算出元となったサンプルデータを、記録媒体からの再生データとする。
【0024】
ここで、サンプルデータから算出される再生波形は、インパルス応答(伝達関数)自身が符号間干渉によるS/Nの劣化を含むものであるから、実際に記録媒体から再生した再生信号の再生波形に符号間干渉によってS/Nの劣化を生じたとしても、期待値とされるべきサンプルデータの再生波形と実際に記録媒体から再生した再生信号の再生波形とは、比較的精度よく整合することとなる。
【0025】
よって、本発明によれば、高密度記録媒体から、その時々の環境・条件に応じて、比較的精度よく、再生データを生成することができる。
【0026】
なお、上記各請求項に記載の発明において、記録媒体は、書き換え型の光ディスクの他、追記型光ディスク、光磁気ディスク等を広く含むものである。また、テストデータは、所定領域に1回のみ記録する方法の他、当該領域に繰り返し記録するようにしても良い。また、数種のテストデータを記録し、各テストデータの再生結果に応じて記録再生特性を導出するようにしても良い。さらに、記録パワーを切り替えてテストデータを複数回記録し、その再生結果に応じて記録再生特性を導出するようにしても良い。
【0027】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。
【0028】
ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【0030】
まず、図1に実施の形態に係るサンプルサーボ方式の光ディスク(以下、「ディスク」と称する)のトラック・セクターフォーマットを示す。
【0031】
同図に示す如く、1トラック(ディスク一周分)は、32セクター(セクタ0〜セクタ31)により構成されている。また、1セクタは、1つのセクタヘッダと、43のブロック(ブロック1〜ブロック43)から構成されている。さらに、1ブロックは、2バイトのサーボフィールドと、16バイトのデータフィールドから構成されている。
【0032】
ディスク上、セクタヘッダに対応する領域には、ヘッダ情報がピットとして予め記録されている。また、サーボフィールドに対応する領域には、トラッキングサーボ用のピットと、クロック生成用のピットが予め記録されている。
【0033】
図2に、サーボフィールドのピットパターンを示す。同図に示す如く、サーボフィールドのピットパターンは、AパターンとBパターンの何れかとなっている。すなわち、ディスク上には、16トラック毎にAパターンとBパターンが交互に配置されるようにピットが形成されている。図において、P11、P12とP21、P22は、トラッキングサーボ用のピットであり、P13、P23は、クロック再生用のピットである。
【0034】
ここで、P11とP21はトラックセンター軸に対してディスク径方向に僅かに変位している。また、P12とP22は、P11とP21の変位方向とは逆の方向に僅かに変位している。よって、P11、P12の組およびP21、P22の組を走査した際の検出信号によってトラッキングエラー信号を得ることができる。このように、当該ディスクにおいては、サンプルサーボフィールドに形成されたピットの組によってトラッキングエラー信号を得ることができるので、トラッキング制御のための案内溝が不要となる。
【0035】
また、クロックピットP13、P23は、サーボフィールド中の一定の位置に形成されている。よって、かかるクロックピットを走査した際の検出信号は、一定周期で発生することとなる。かかる検出信号を比較信号としてPLL(Phase-Locked-Loop)を掛けることにより、データフィールドの各ビットに同期した再生クロックや、後述するサンプリングクロック(標本値データ生成用)を生成することができる。
【0036】
なお、かかるサンプルサーボ方式の光ディスクの詳細については、たとえば、SPIE、Vol.695、Optical Mass Data Storage 2(1986)に記載されている。また、サーボフィールドに形成されたプリピットを利用したトラッキングサーボ(サンプルサーボ)の詳細については、たとえば、SPIE、Vol.529、Third International Conference on Optical Mass Data Storage (1985)に記載されている。
【0037】
図3に、ディスクに対して情報の記録・再生を行う記録再生装置を示す。
【0038】
図において、1は各部を制御する制御回路、2は記録データに誤り訂正符号を付加するECCエンコーダ、3は誤り訂正処理がなされた記録データに対して、たとえば4/11符号のような符号変調を施す変調回路である。
【0039】
ここで、4/11符号とは、8ビットを11ビットに変換すると共に、符号化後の11ビット中に1が4つ存在し、且つ、連続する1の個数が3つ以下となる符号化方式である。なお、4/11符号の詳細については、たとえば、特許第2606265号に記載されている。
【0040】
4は11ビットのテストデータを所定回数だけ繰り返して出力するテストパターン生成回路、5は変調回路3またはテストパターン生成回路4からのデータを記録波形信号に変換する駆動信号生成回路、6は駆動信号生成回路5からの駆動信号(記録波形信号)または制御回路1からの指令に応じて半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路、7は記録再生用のレーザ光を出射する半導体レーザ7aおよびディスクからの反射光を受光する光検出器7bを有する光ピックアップである。
【0041】
8は光検出器7bからの検出信号を増幅する再生信号増幅回路、9は光検出器7bからの検出信号のうちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびクロックピット検出信号に基づいてサーボ信号を生成するサーボ回路、10はサーボ回路9からのフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号に応じて光ピックアップ7から出射されるレーザ光の収束位置を制御するサーボ機構、11はサーボ回路9からの回転サーボ信号に応じてディスクを所定の回転速度で駆動するスピンドルモータである。
【0042】
12は再生信号増幅回路8からの再生RF信号を所定周期でサンプリングし、各サンプリングタイミングにおける標本値をデジタルデータに変換するA/Dコンバータ、13はA/Dコンバータ12からの標本値データを順次記憶するメモリ、14は想定パターン生成回路16(後述)からのサンプル標本値データとメモリ13に記憶された標本値データとの間の二乗誤差の総和Veを算出する比較回路である。
【0043】
15は再生信号増幅回路8からの再生RF信号からテストデータ区間を抽出するテストパターン抽出回路、16はサンプリングデータを当該ディスクに記録しこれを再生したと想定した際の再生RF信号を、上記A/Dコンバータ12と同一のサンプリング周期にて標本化した標本値データ(サンプル標本値データ)を生成する想定パターン生成回路、17は上記テストデータと4/11符号の全てのデータパターンをサンプルデータとして記憶するサンプルデータメモリ、18は比較回路14にて算出されたVeが最も小さくなるサンプルデータをサンプルデータメモリ17から読み出しこれを再生データとして順次出力する再生データ選択回路、19はPLLを内蔵すると共に再生信号増幅回路8からのクロックピット検出信号を比較信号として再生クロックおよびサンプリングクロックを生成するクロック生成回路である。
【0044】
なお、上記想定パターン生成回路16は、以下のようにして、サンプルデータからサンプル標本値データを生成する。
【0045】
まず、テストパターン抽出回路15からの再生波形信号とサンプルデータメモリ17内に記憶されたテストデータとに基づいて、当該再生時における記録再生系(伝送路)のインパルス応答h(t)(伝達関数)を算出する。次に、かかるインパルス応答h(t)をもとに、サンプルデータの再生RF信号の期待値g(t)を求める。
【0046】
ここで、期待値g(t)は、サンプルデータの記録波形信号をs(t)とした場合、記録波形信号s(t)とインパルス応答h(t)のコンボリューション値によって与えられる。すなわち、再生RF信号の期待値g(t)は、
g(t)=s(t)*h(t) ・・・(1)
によって算出できる。
【0047】
上記サンプル標本値データは、かかる期待値g(t)によって表現される再生RF信号の、サンプリングタイミングにおける波高値によって与えられる。すなわち、サンプリングタイミングをt1、t2、…、tnとしたとき、サンプル標本値データは、g(t1)、g(t2)、…、g(tn)によって与えられる。
【0048】
想定パターン生成回路16は、サンプルデータメモリ17から読み出したサンプリングデータについて、(1)式をもとにg(t1)、g(t2)、…、g(tn)を計算することにより、当該サンプルデータのサンプル標本値データを算出する。
【0049】
次に、上記記録再生装置における記録時の動作について説明する。
【0050】
記録指令に従って光ピックアップ7がアクセスされ、記録開始セクタのセクタヘッダが検出されると、テストパターン生成回路4からのテストデータが駆動信号生成回路5に所定回数だけ繰り返し供給される。かかるテストデータは、当該セクタの先頭ブロック(ブロック1)のデータフィールド開始位置に書き込まれる。これにより、当該データフィールドの開始位置にテストデータに応じたピットが形成される。
【0051】
テストデータの書き込みが終わると、変調回路3からの記録データが駆動信号生成回路5に順次供給される。かかる記録データは、前記テストデータの記録終了位置に引き続いてブロック1のデータフィールドに順次書き込まれる。これにより、上記テストデータピットに引き続いて記録データに応じたピットが形成される。
【0052】
かかる記録データの書き込みは、当該セクタの終了位置、すなわちブロック43のデータフィールド終了位置まで継続される。そして、レーザ光の走査位置が次のセクタに移行し、当該セクタのセクタヘッダが検出されると、再度、テストパターン生成回路4からのテストデータが駆動信号生成回路5に所定回数だけ繰り返し供給される。しかして、当該セクタのブロック1のデータフィールド開始位置にテストデータが書き込まれる。しかる後、記録データ変調回路3からの記録データが駆動信号生成回路5に供給され、上記と同様、記録データの書き込みが行われる。
【0053】
以下同様にして、セクタ移行が生じるたびに、各セクタの先頭ブロックのデータフィールド開始位置にテストデータが書き込まれる。記録データは、各セクタのデータフィールドのうち、テストデータの記録領域を除いた残りの領域に順次書き込まれて行く。
【0054】
次に、上記記録再生装置における再生時の動作について説明する。
【0055】
まず、図4のタイミングチャートを参照して、A/Dコンバータ12ないし再生データ選択回路18の回路系における処理動作について説明する。
【0056】
同図(a)に示すような記録ピットをレーザ光が走査すると、再生信号増幅回路8から同図(b)〜(d)に示すような再生RF信号が出力される。ここで、同図(b)〜(d)は、それぞれ記録密度が相違する場合の再生RF信号を示しており、同図(c)は同図(b)よりも記録密度が高い場合、同図(d)は同図(c)よりも記録密度が高い場合の再生RF信号を示している。
【0057】
例えば、当該再生時において、再生信号増幅回路8から、同図(c)に示す再生RF信号が出力されたとすると、かかる再生RF信号を受けてA/Dコンバータ12は、当該再生RF信号を同図(e)のサンプリングクロックにてサンプリングした標本値データをメモリ13に送る。
【0058】
比較回路14は、メモリ13に格納された標本値データを参照し、再生RF信号中の各ビット位置のうち、標本値データの大きいものからJ番目(たとえばJ=5)までのビット位置(同図(c)の矢印位置)を決定する。そして、サンプルデータメモリ17中のサンプルデータのうち、自己に含まれる4つの1が全てこのビット位置の何れかに対応しているサンプルデータについてのみ、想定パターン生成回路16にサンプル標本値データを生成せしめる。
【0059】
比較回路14は、かかるサンプル標本値データと、メモリ13に記憶された標本値データとの間の二乗誤差の総和Veを、上記比較対象となっているサンプルデータ毎に算出する。
【0060】
いま、メモリ13に記憶された11ビット相当分の再生RF信号の標本値データをVs1(i)(i=1〜n)、想定パターン生成回路16により出力されるサンプルデータの標本値データをVs2(i)(i=1〜n)とすると、上記Veは、
Ve=Σ(Vs1(i)−Vs2(i))2 ・・・(2)
によって与えられる。
【0061】
比較回路14は、式(2)をもとに各サンプルデータについてVeを算出し、算出したVeの大小比較を行う。そして、Veが最も小さいサンプルデータを、再生データ選択回路18に通知する。これを受けて、再生データ選択回路18は、かかるサンプルデータをサンプルデータメモリ17から読み出し、これを再生データとして出力する。
【0062】
なお、上記において、1(有意)とされるべきビット位置の個数Jは、符号化単位に含まれる1の個数が予め決まっている場合、この個数Kよりも数個だけ大きい個数に設定すると良い。これにより、比較候補とされるサンプルデータを効率的に絞り込むことができ、再生データの選択誤りを抑制しながら演算処理の軽減を図ることができる。
【0063】
次に、図5を参照して、再生時の動作について説明する。
【0064】
記録指令に従って光ピックアップ7が再生開始セクタにアクセスされると、まず、当該セクタの先頭ブロックのデータフィールド開始位置に書き込まれたテストデータの再生RF信号が、テストパターン抽出回路15によって抽出され(S101)、これが想定パターン生成回路16に送られる。想定パターン生成回路16は、かかるRF信号をもとに、当該再生時における記録再生系のインパルス応答h(t)を算出する(S102)。
【0065】
しかる後、テストデータに引き続いて書き込まれた記録データの読み出しが開始されると、その再生RF信号がA/Dコンバータ12にてA/D変換され、その標本値データが順次メモリに記憶される。比較回路14は、メモリ13に記憶された標本値データのうち、最初の11ビット相当区間の標本値データを参照し(S103)、当該11ビット相当区間の各ビット位置のうち、標本値データの大きいものからJ番目(たとえばJ=5)までのビット位置を決定する(S104)。そして、サンプルデータメモリ17中のサンプルデータのうち、4つの1が全てこのビット位置の何れかに対応しているサンプルデータのみを対象として、想定パターン生成回路16にサンプル標本値データを生成せしめる(S105)。
【0066】
しかして、サンプル標本値データが生成されると、次に、比較回路14は、当該サンプル標本値データとメモリ13内の標本値データとの間の二乗誤差の総和Veを算出する(S106)。そして、算出したVeを大小比較し、Veが最も小さいサンプルデータを特定する。かかる特定を受け、再生データ選択回路18は、当該特定されたサンプルデータをサンプルデータメモリ17から読み出す。そして、読み出したサンプルデータを再生データとして後段回路に出力する(S107)。
【0067】
しかして、最初の11ビット相当区間に対する再生データの出力がなされると、S103に戻り、次の11ビット相当区間の標本値データがメモリ13から参照される。そして、上記と同様にして、当該11ビット相当区間に適応するサンプルデータが比較回路14によって特定され、当該サンプルデータが再生データとして後段回路に出力される(S104〜S107)。
【0068】
かかる再生データの出力は、走査位置が次のセクタに移行するまで繰り返される。しかして、次のセクタへの移行が検出されると(S108)、S101に戻り、当該セクタの開始ブロックのデータフィールド開始位置に書き込まれたテストデータの再生RF信号が、テストパターン抽出回路15によって抽出され、これが想定パターン生成回路16に送られる。しかして、当該セクタについて適用されるインパルス応答h(t)が想定パターン生成回路16にて算出され(S102)、これをもとに、サンプル標本値データが生成される。そして、上記と同様、このサンプル標本値データとメモリ13内の標本値データとの間でVeが算出され、Veの最も小さいサンプルデータが、再生データとして出力される(S103〜S108)。
【0069】
かかる再生データの出力は、走査位置が次のセクタに移行するまで繰り返される。そして、次のセクタへの移行が検出されると(S108)、上記と同様、インパルス応答h(t)が再設定(S101、S102)され、これをもとに、再生データの出力が実行される(S103〜S108)。
【0070】
上記実施の形態によれば、記録再生系(ディスクを含む)のインパルス応答h(t)を、その時々にテストデータの再生RF信号から検出し、当該インパルス応答h(t)に基づいてサンプルデータの標本値データを生成し、この標本値データと実際に再生した再生RF信号の標本値データを比較してサンプルデータを選択出力するものであるから、ディスクの記録密度がさらに向上し、例えば図4(d)に示す如く符号間干渉が一層進んだとしても、その時々に記録再生系の環境・条件の変化に応じて、精度よく、再生データを生成・出力することができる。
【0071】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明はかかる実施の形態に限定されるものではないことは言うまでもない。
【0072】
たとえば、上記実施の形態では、標本値データが大きいものからJ番目までのビット位置が1(有意)であるサンプルデータのみを比較対象とするものであったが、図6に示す如く、当該J番目までのビット位置とこれに隣接するビット位置が1(有意)であるサンプルデータを比較対象とするようにしても良い(図6のS110参照)。かかる場合、比較対象とすべきサンプルデータの個数は、上記実施の形態の場合に比べ増加するが、反面、誤ったサンプルデータを再生データとして特定する確率は低減する。よって、上記実施の形態に比べ再生データ出力のための演算処理量は増大するが、再生データの誤り率は低減できる。
【0073】
また、上記実施の形態では、セクタ毎にテストデータを書き込み、再生時に用いるインパルス応答h(t)をセクタ毎に切り替えるようにしたが、数個あるいは数十個のセクタ毎にテストデータを書き込み、当該セクタ単位でインパルス応答h(t)を切り替えるようにしても良い。
【0074】
また、テストデータは、開始ブロック(ブロック1)のデータフィールド開始位置に繰り返し記録する他、当該位置に1回のみ記録するようにしても良く、当該領域に数種のテストデータを記録し、各テストデータの再生結果に応じてインパルス応答h(t)を算出するようにしても良い。さらに、レーザパワーを切り替えてテストデータを複数回記録し、その再生結果に応じてh(t)算出するようにしても良い。
【0075】
また、上記実施の形態では、標本値データの二乗誤差の総和Veを求めることにより、再生RF信号に最も整合するサンプルデータを選択するようにしたが、これ以外の方法にて再生RF信号に対する整合性を判別し、それに応じてサンプルデータを選択出力するようにして良い。
【0076】
また、上記実施の形態では、クロックピット検出信号を比較信号とするPLL(クロック生成回路19)によりサンプリングクロックを生成したが、水晶クロックなどの固定クロックで発信する発振器を用いてサンプリングクロックを生成するようにしてもよい。
【0077】
さらに、上記実施の形態では、変調回路3の符号化方式として4/11符号化方式を採用したが、これ以外の符号化方式を採用することもできる。
【0078】
その他、記録再生系および光ディスクのタイプは、上記実施の形態のものに限られず、これ以外の書き換え型の光ディスク、追記型光ディスク、光磁気ディスク等とすることもできる。
【0079】
発明に係る実施の形態は、本発明の技術思想の範囲内で、適宜、種々の変更が可能である。
【0080】
【発明の効果】
本発明によれば、記録再生系(記録媒体を含む)の特性をその時々の再生信号から検出し、当該特性に基づいてサンプルデータから再生信号を生成し、このサンプル再生信号のうち実際に再生した再生信号に最も整合するサンプル再生信号のサンプルデータを再生データとして出力するものであるから、記録媒体の記録密度がさらに向上し符号間干渉が一層進んだとしても、また、その時々に記録再生系の環境・条件が変化したとしても、比較的精度よく、再生データを生成・出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態に係る光ディスクのセクターフォーマットを示す図
【図2】 当該光ディスクのサーボフィールドのピットパターンを示す図
【図3】 実施の形態に係る記録再生装置の構成を示す図
【図4】 再生データの生成方法を説明するためのタイミングチャート
【図5】 当該記録再生装置の再生動作を示すフローチャート
【図6】 他の再生動作を示すフローチャート
【符号の説明】
1 制御回路
4 テストパターン生成回路
12 A/Dコンバータ
13 メモリ
14 比較回路
15 テストパターン抽出回路
16 想定パターン生成回路
17 サンプルデータメモリ
18 再生データ選択回路
19 クロック生成回路

Claims (10)

  1. 符号化後のNビットの符号列中にK個の1が存在するよう符号化する変調方式によって記録データを変調して記録媒体に記録するとともに、前記変調方式により変調されて記録された記録データを記録媒体から再生する情報記録再生装置であって、
    記録媒体上の所定領域にテストデータを記録するテストデータ記録手段と、
    前記テストデータを再生して当該記録媒体にデータを記録し再生した際の記録再生特性を導出する記録再生特性導出手段と、
    前記変調方式に応じたサンプルデータを記憶するサンプルデータ記憶手段と、
    前記記録媒体から前記記録データを再生したときの再生信号上の各ビット位置のうち前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置を特定するビット位置特定手段と、
    前記サンプルデータ記憶手段に記憶されたサンプルデータのうち前記ビット位置特定手段によって特定された前記ビット位置が1となるサンプルデータを読み出すと共に、前記記録再生特性に基づいて、当該読み出したサンプルデータからサンプル再生信号を生成するサンプル再生信号生成手段と、
    当該生成されたサンプル再生信号と前記記録媒体から再生された前記記録データの再生信号とを比較し、当該再生された前記記録データの再生信号に最も近似するサンプル再生信号に対応するサンプルデータを再生データとして出力する再生データ出力手段と、
    を有することを特徴とする情報記録再生装置。
  2. 請求項1において、
    前記ビット位置特定手段は、前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置に加え、それに隣接するビット位置をさらに特定することを特徴とする情報記録再生装置。
  3. 請求項1または2において、
    前記記録媒体から再生した再生信号を所定周期でサンプリングして標本値を導出するサンプリング手段をさらに備え、
    前記サンプル再生信号生成手段は、前記サンプリング周期に応じた標本値を前記記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから生成し、
    前記再生データ出力手段は、前記サンプリング手段によって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成手段によって生成された前記サンプルデータの標本値とを比較して前記再生データを出力する、
    ことを特徴とする情報記録再生装置。
  4. 請求項3において、
    再生データ出力手段は、前記サンプリング手段によって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成手段によって生成された前記サンプルデータの標本値の二乗誤差の総和を算出し、当該二乗誤差の総和が最も小さい前記サンプルデータを再生データとして出力する、
    ことを特徴とする情報記録再生装置。
  5. 請求項1から4の何れかにおいて、
    前記テストデータ記録手段は、前記記録媒体の記録領域が物理的または論理的に複数の領域に区分されている場合に、各区分のデータ記録に先立った位置に前記テストデータを記録し、
    前記記録再生特性導出手段は、前記テストデータを再生することによって当該区分の前記記録再生特性を導出し、
    前記サンプル再生信号生成手段は、各区分の記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから当該区分のサンプル再生信号を生成し、
    再生データ出力手段は、区分毎に生成された前記サンプル再生信号と前記記録媒体から再生された再生信号とを比較して再生データとして出力する、
    ことを特徴とする情報記録再生装置。
  6. 符号化後のNビットの符号列中にK個の1が存在するよう符号化され 記録された記録データを記録媒体から再生する情報再生方法であって、
    記録媒体上の所定領域に記録されたテストデータを再生して当該記録媒体にデータを記録し再生した際の記録再生特性を導出する記録再生特性導出ステップと、
    前記記録媒体から前記記録データを再生したときの再生信号上の各ビット位置のうち前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置を特定するビット位置特定ステップと、
    記憶手段に記憶されたサンプルデータのうち前記ビット位置特定ステップによって特定された前記ビット位置が1となるサンプルデータを読み出すと共に、前記記録再生特性に基づいて、当該読み出したサンプルデータからサンプル再生信号を生成するサンプル再生信号生成ステップと、
    当該生成されたサンプル再生信号と前記記録媒体から再生された前記記録データの再生信号とを比較し、当該再生された前記記録データの再生信号に最も近似するサンプル再生信号に対応するサンプルデータを再生データとして出力する再生データ出力ステップと、
    を有することを特徴とする情報再生方法。
  7. 請求項6において、
    前記ビット位置特定ステップは、前記再生信号の振幅値が大きいものからJ番目(N>J>K)までのビット位置に加え、それに隣接するビット位置をさらに特定する
    ことを特徴とする情報再生方法。
  8. 請求項6または7において、
    前記記録媒体から再生した再生信号を所定周期でサンプリングして標本値を導出するサンプリングステップをさらに備え、
    前記サンプル再生信号生成ステップは、前記サンプリング周期に応じた標本値を前記記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから生成し、
    前記再生データ出力ステップは、前記サンプリングステップによって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成ステップによって生成された前記サンプルデータの標本値とを比較して前記再生データを出力する、
    ことを特徴とする情報再生方法。
  9. 請求項8において、
    再生データ出力ステップは、前記サンプリングステップによって導出された前記記録データの標本値と前記サンプル再生信号生成ステップによって生成された前記サンプルデータの標本値の二乗誤差の総和を算出し、当該二乗誤差の総和が最も小さい前記サンプルデータを再生データとして出力する、
    ことを特徴とする情報再生方法。
  10. 請求項6から9の何れかにおいて、
    前記記録媒体の記録領域が物理的または論理的に複数の領域に区分されており、且つ、各区分のデータ記録に先立った位置に前記テストデータが記録されている場合、
    前記記録再生特性導出ステップは、前記テストデータを再生することによって当該区分の前記記録再生特性を導出し、
    前記サンプル再生信号生成ステップは、各区分の記録再生特性に基づいて前記サンプルデータから当該区分のサンプル再生信号を生成し、
    再生データ出力ステップは、区分毎に生成された前記サンプル再生信号と前記記録媒体から再生された再生信号とを比較して、再生データを出力する、
    ことを特徴とする情報再生方法。
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