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JP4144427B2 - Optical waveguide and method for manufacturing the same - Google Patents

Optical waveguide and method for manufacturing the same Download PDF

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JP4144427B2
JP4144427B2 JP2003132449A JP2003132449A JP4144427B2 JP 4144427 B2 JP4144427 B2 JP 4144427B2 JP 2003132449 A JP2003132449 A JP 2003132449A JP 2003132449 A JP2003132449 A JP 2003132449A JP 4144427 B2 JP4144427 B2 JP 4144427B2
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誠良 樋口
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コアおよびクラッドを具備してなる光導波路に関するもので、例えば、光導波路の端面に形成されたマークの数を顕微鏡で目視することによって、その端面の形成状態を検査しうるようにした光導波路の構造およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の光導波路100としては、図17に示すようなものが存在する。図17(a)は光導波路100の平面図、図17(b)はその側面図である。この図17において、101は石英やシリコンなどで形成される基板、102d、102uはその基板101上に設けられるクラッド、103はその基板102d、102u内に設けられ光を閉じ込めて伝搬させるためのコア、103aはそのコア103に設けられた分岐部、104はカバーガラスである。また、この図において、105は光ファイバ105bを有するファイバアレイを示し、フィルタ105aを介して光導波路100の結合端面106に接合される。
【0003】
次に、この光導波路100を製造する工程を図18を用いて説明する。この光導波路100を製造する工程は、光導波路100のチップを形成する工程と、その光導波路100の結合端面106を研磨する工程と、その研磨された結合端面106の形成状態を検査する工程とからなる。
【0004】
まず、光導波路100のチップを形成する工程を説明する。図18に示すように、まず、石英やシリコンなどの平面状の基板101を準備し、その上面にUV硬化樹脂102aを滴下して(図18(a))図示しないスタンパで押圧し、紫外線を照射することによってコア用凹部102bを有する下部クラッド102dを形成する(図18(b))。そして、下部クラッド102dにより形成されたコア用凹部102bに対し、クラッド102dより屈折率の高いコア材を充填してコア103を形成する(図18(c))。次に、クラッド用樹脂102aをこのコア103上に滴下し、カバーガラス104で押圧して同様に上部クラッド102uを形成する(図18(d))。このようにして光導波路100を得る。
【0005】
そして、光導波路100を研磨する工程においては、その光導波路100の結合端面106が所定の角度をなし、また、分岐部103a近傍の所定の位置に結合端面106が形成されるように研磨する。具体的には、結合端面106で生じる光の反射に基づくコアへの影響を抑えるために、図17(b)における角度θ2を約82度に研磨し、また、ファイバアレイ105との結合効率を良くするために、図17(a)における角度θ1をほぼ直角に研磨する。また、分岐部103aとフィルタ105aの距離により変化する反射光の結合損失を最小にするために、光軸と垂直な方向の切断位置に関しても同様にコアパターンに適した位置に結合端面106を形成するように研磨する。この研磨作業は、研磨装置を用いて行われ、治具に光導波路100を取り付けて研磨板と結合端面106を接触回転させることによって行われる。
【0006】
この治具の構成を図19に示す。図19の(a)は、治具70の平面図、(b)はその正面図、(c)は(b)のM―M断面図を示したものである。この図19において、70は研磨装置に取り付けられる円盤状の治具であり、71は光導波路100を取り付けるための凹部である。そして、この光導波路100の結合端面106を研磨する工程においては、まず、図19(c)に示すように、治具70の凹部71に光導波路100の結合端面106を突出させて装着し、この結合端面106を下向きにして研磨装置の研磨板(図示せず)に接触させる。そして、この治具70を回転させることによって光導波路100の結合端面106を研磨する。
【0007】
結合端面106の形成状態を検査する工程においては、結合端面106に顕微鏡の対物レンズ8を近づけることによって行われ、具体的には、図17(a)における側面107と結合端面106との角度θ1、および、図17(b)における上面108uもしくは底面108dと結合端面106との角度θ2を実測し、また分岐部103aの切断位置をそのコアパターンなどから検査する。
【0008】
しかし、治具70に光導波路100を保持したままでは、図19(a)(b)に示すように、波線で示した顕微鏡の対物レンズ8を治具70の外周部分よりも内側に近づけることができないため、顕微鏡との焦点を合わせることができない。このため、従来では、図20に示すように、光導波路100を治具70から取り外して、顕微鏡ステージの上に光導波路100を載置し、そこで結合端面106の形成状態を一つずつ検査しなければならなかった。
【0009】
一方、かかる課題を解決するものとして下記の特許文献1に示すようなものが存在する。
【0010】
【特許文献1】
特開2002−214468号公報
【0011】
この特許文献1に開示されている光導波路は、基板上に光軸方向と直交するような複数のマークを蒸着して形成したものであり、研磨の工程において、マークの除去された程度を観察することによりθ1の値を実測せずに結合端面の形成状態を確認しうるようにしたものである。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような特許文献1に記載された光導波路は、平面視においてのみしかマークを視認することができないため、図17(a)における平面視の角度θ1しか検査することができない。しかも、治具に取り付けた状態でそのマークを観察しようとすると、治具の外周部よりも顕微鏡の対物レンズを近づけることができないため、従前と同様に治具からその光導波路を取り外して結合端面の形成状態を検査しなければならない。
【0013】
そこで、本発明は、上記課題に着目してなされたもので、治具から取り外すことなく光導波路の端面の形成状態を検査することができるような光導波路およびその光導波路の製造方法を提供することを目的とするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明の光導波路は、上記課題を解決するために、コアおよびクラッドを有してなり、クラッドからコアが露出する側の結合端面に、平面視における当該結合端面と光導波路側面とのなす形成角度(θ1)および、側面視における当該結合端面と光導波路上面とのなす形成角度(θ2)および、当該結合端面の形成位置を確認しうるマークを有してなる光導波路であって、当該マークを、前記コアの光軸と平行であって、かつ、クラッドの凹部に埋め込まれ、前記結合端面による露出断面が所定の長方形状をなす複数のマーク要素で構成し、当該マーク要素を、その結合端面側の端部と当該結合端面との距離を異なるように複数配置し、かつ前記光軸を挟んで両側にそれぞれ形成するようにしたものである。
【0015】
このように構成すれば、マークを結合端面から視認しうるように設けているので、結合端面を研磨する際、光導波路を治具に装着したまま顕微鏡の対物レンズをその端面に近づけることができ、従来のように、その光導波路を治具から取り外すことなくその端面の角度や位置を検査することができるようになる。また、マーク要素の露出側端部から結合端面までの距離を異なるように配置し、かつ、そのマーク要素の断面を所定の長方形状としたので、結合端面を側面と直角に形成できなかった場合に、その結合端面から露出するマーク要素の本数などが変化し、そのマークの状態を顕微鏡で見ただけで容易にその結合端面の形成状態を把握することができるようになる。さらに、このような構成において、コアを挟んだ両側にマークを配置するように設けたので、コアを中心として結合端面を均一かつ精度よく所定の角度に形成することができるようになる。なお、この配置の形態としては、コアを挟んで対称となるように設ける方法や、コアを挟んで同一形態となるように設ける方法などが考えられる。
【0016】
さらに、このような構成において、コアを挟んだ両側にマークを配置するように設けても良い。
【0017】
このように構成すれば、コアを中心として結合端面を均一かつ精度よく所定の角度に形成することができるようになる。なお、この配置の形態としては、コアを挟んで対称となるように設ける方法や、コアを挟んで同一形態となるように設ける方法などが考えられる。
【0018】
また、このマークにおける露出側端部と反対側の端部を光軸と直交方向に揃える。
【0019】
このように構成すれば、露出側端部と反対側の端部から入射される光の強度を均一にさせることができ、検査に適した均一な光を露出側端部から出力させることができるようになる。
【0020】
また、このような構成において、光の進行方向に沿って段差を有する複数のブロックから構成され、それぞれのブロックにおける段差寸法を他のブロックにおける段差寸法と異なるように設けても良い。
【0021】
このように構成すれば、マーク要素の切断状態を認識する際、段差の露出状態を把握することによって切断位置の寸法を厳密に把握することができるようになる。すなわち、例えば、図14に示すように、コアから側方に向けて順次太い線状のマーク要素からなるブロックを設け、かつ、それぞれのブロックにおける線要素の露出端部を光の進行方向に沿ってその線幅分の段を設けるようにする。このように構成した場合は、段差の大きいマーク要素の切断状態を把握することによって大まかな端面の切断位置を把握することができ、さらに、細いマーク要素の切断状態を把握することによって、それよりも寸法の小さい切断位置を把握することができるようになる。
【0022】
さらに、このようにマークを形成する場合、そのマークをコアと同一の材料で設けるようにしても良い。
【0023】
このように構成すれば、マークを形成する段階において、例えば、下部クラッド層上にコア用凹部とマーク用凹部を形成し、これらの凹部上にコア材を充填するようにすれば、マークとコアを同時に形成することができる。これにより、より簡単にマークを形成することができるようになる。
【0024】
また、コアおよびクラッドを有してなり、クラッドからコアが露出する側の結合端面に、平面視における当該結合端面と光導波路側面とのなす形成角度(θ1)および、側面視における当該結合端面と光導波路上面とのなす形成角度(θ2)および、当該結合端面の形成位置を確認しうるマークを有する光導波路の製造方法であって、クラッドに、コアの光軸と平行な複数の凹部を形成する工程と、当該凹部にマーク要素を形成するための材料を充填して所定の結合端面による露出断面が長方形状をなすマーク要素を形成する工程とを備えてなり、前記マーク要素の結合端面側の端部と前記結合端面との距離を異なるように、複数のマーク要素をコアの光軸を挟んだ両側にそれぞれ形成するようにする。
【0025】
のように構成すれば、コアとマークを同時に設けることができるため、スタンパの押圧工程でそれぞれの相対的な位置精度を高くすることができるようになる。
【0026】
【発明の実施の形態】
(第一の実施形態)
以下、本発明の実施の形態における光導波路1の構成について図面を参照して説明する。図1は第一の実施形態における光導波路1の平面図を示したものであり、図2はその正面図および図3はその側面図を示したものである。図1から図3において、2dは石英やシリコンなどによって構成される基板、3は下部クラッド層3dおよび上部クラッド層3uからなるクラッド、4は下部クラッド層3dに設けられるコア、2uはこのクラッド層3の上面に設けられるカバーガラスを示したものである。そして周知のように、このクラッド3の屈折率よりコア4の屈折率を高くすることによって、光をコア4内に閉じこめて伝搬させるようにしたものである。なお、この光導波路1は、コア4に分岐部41を設けているが、コアの端部における形成状態について精度が要求されるような光導波路全般について適用することができる。
【0027】
このようなものにおいて、本実施の形態においては、コア4の端部40が存在する結合端面6(図2参照)の形成状態を検査しうるマーク5を設けている。このマーク5は、図1における結合端面6の形成角度θ1および図3における結合端面6の角度θ2、および光軸方向に対する結合端面6の形成位置を検査しうるようにしたものであり、結合端面6から露出しているマーク5の露出パターンを検査することによって角度θ1、θ2、形成位置をそれぞれ検査しうるようにしたものである。
【0028】
このためマーク5は、その露出側に位置する露出側端部51を結合端面6側から視認しうる複数の線状マーク要素50によって構成される。このマーク要素50は、それぞれ矩形状断面を有し、かつ、それぞれ光軸方向と平行に同じ長さを有する。さらに、そのマーク要素50の露出側端部51は、結合端面6の形成角度θ1、θ2、形成位置によってそのマーク5の露出パターンを変化させうるように段違いに傾斜するように位置させている。すなわち、マーク要素50は、要求切断位置CLがほぼその中心となるように設けられ、また、図1に示すように、コア4の端部40を通る光軸に平行な線を中心として左右対称に配列され、そして、これらのマーク要素50のうち、コア4に近い側を結合端面6から奥側に設けるとともに、コア4から光軸と垂直な方向に遠ざかるにつれて順次露出側端部51を結合端面6側に位置させている。
【0029】
このマーク要素50について、図1のX部分の拡大図を図4に示す。このマーク要素50は、図4に示すように、要求切断位置CLにおけるマーク要素50の幅W3を最も厚くしてその露出形態を変化させ、検査工程において要求切断位置CLをスムーズに認識させるようにしている。さらに、その他のマーク要素50は相対的に線幅を細くするとともに、所定間隔毎に線幅を太くしてマーク要素50の露出本数をカウントしやすくしている。これらのマーク要素50の幅、間隔、角度は次のようにして設定される。
【0030】
まず、CLを平面視における要求切断位置とし、L1を最も結合端面6側(+側)に設けられた露出側端部51とCLとの距離、L2を最も結合端面6から奥側(−側)に設けられたマーク要素50の露出側端部51とCLとの距離とした場合、
【0031】
L1>+方向への設計許容範囲長さ
L2>−方向への設計許容範囲長さ
【0032】
となるように設定する。これにより、要求切断位置CLから設計許容範囲長さ内におけるずれに対して、マーク5を結合端面6から露出させられるようにしている。
【0033】
また、マーク要素50の線分長さをL3とした場合、
【0034】
L1≦L3
L2≦L3
【0035】
とする。これにより要求切断位置CL近傍で結合端面6が形成された場合、そこから露出するマーク要素50の本数を可能な限り多くできるようにしている。
さらに、一番細いマーク要素50の幅をW1、各マーク要素50間の距離をW4、各マーク要素50における露出側端部51の段差をL4、形成角度θ1に対する片方向の設計許容角度をDとした場合、位置精度のみの検査をする場合においては、L4を検査に必要な最小分解能に設定し、また、角度θ1の検査をする場合においては、
【0036】
D≧θ1
tanθ1=L4/(W1+W4)
【0042】
となるように、それぞれL4、W1、W4を設定する。そして、これらの関係を全て満たすように各パラメータを設定すれば、マーク5の露出パターンのみを検査することにより、角度θ1と切断位置Lを同時に検査することができるようにしている。
【0037】
次に、この光導波路1の製造方法について図5から図8を用いて説明する。まず、光導波路1を製造する場合、図5に示すように、石英やシリコンなどで形成された平面状の基板2dを準備し、その上面にUV硬化樹脂3aを滴下して(図5(a))図示しないスタンパで押圧し、紫外線を照射することによってコア用凹部30およびマーク用凹部31を有する下部クラッド層3dを形成する(図5(b))。そして、下部クラッド層3d上に形成されたコア用凹部30およびマーク用凹部31に対し、屈折率の高いコア材を充填してコア4およびマーク5を同時に形成する(図5(c))。次に、クラッド用樹脂3aをこのコア4およびマーク5上に滴下し、カバーガラス2uにて押圧し、同様に上部クラッド層3uを形成する(図5(d))。このようにして光導波路1を得る。
【0038】
次に、この光導波路1の結合端面6を研磨する。この光導波路1は、図6に示すように、結合端面6側が上側に突出するようにして治具70の凹部71に装着する。そして、この結合端面6を下向きにして図示しない研磨装置の研磨板に接触させるように取り付け、結合端面6を研磨する。この研磨においては、図1における光の進行方向と結合端面6との角度θ1が90度となるように研磨され、また、図3における結合端面6と上面との角度θ2は、90度よりも若干小さい所定の傾斜角度(例えば、82度)を有するように形成される。さらに、分岐部41の端部との距離が所定の距離となるように研磨される。
【0039】
そして、この研磨の工程においては、所定時間の研磨を行った後、治具70を研磨装置から取り外し、結合端面6が上向きになるようにして顕微鏡の対物レンズ8と対向するように設置し、治具70に光導波路1を取り付けたまま結合端面6の形成状態を上方から検査する。この検査の工程においては、顕微鏡を用いた目視作業によって行われるが、この実施の形態では、治具70の外周部分に対物レンズ8を接近させて検査する必要がなく、図6(a)(c)に示すように対物レンズ8を結合端面6に直接接近させて検査することができる。この検査の工程において目視されるマーク5の露出パターンの図を図7および図8に示す。
【0040】
図7は、図1においてθ1およびLを変化させて切断した場合のマークの露出パターンを示したものであり、CL、A1、A2ラインにおける切断の状態をそれぞれ示したものである。
【0041】
図1のCLで示すように、光の進行方向と直角な正規の形成位置、および正規な形成角度θ1である光の進行方向と90度をなす向きに結合端面6を形成した場合は、図7(a)に示すように、マーク5はコア4を中心として左右対称となる位置に同じ本数だけ露出する。また、図1のA1で示すように、正常な角度から所定角度ずれた状態で研磨した場合(θ1<90度)は、図7(b)で示すように、マーク5はコア4を中心として左右非対称となる位置に異なる本数露出することになる。さらに、図1のA2で示すように、θ1=90度であっても正規の位置CLと異なる位置で研磨された場合、結合端面6から露出するマーク5の本数が増減することになる。このため、あらかじめ、設計許容範囲におけるマーク要素50の露出本数を検査者に示しておき、コア4を中心として左右対称にこの本数のマーク要素50が露出するように研磨作業を繰り返す。
【0042】
また、図8は、図3における角度θ2の角度を変化させた場合のマークの露出パターンを示したものである。
【0043】
図3において正規の角度θ2で結合端面6が形成された場合、図8(a)に示すように、マーク要素50は所定の長方形状をなして露出する。また、正規の角度θ2よりも大きな角度で結合端面6が形成された場合、図8(b)に示すように、露出するマーク要素50は正規のマーク要素50の縦長寸法よりも小さくなり、正方形状に近づく。一方、正規の角度よりも小さな角度で結合端面6が形成された場合、図8(c)に示すように、露出するマーク要素50の縦長寸法は正規のマーク要素50の縦長寸法よりも長くなる。このため、あらかじめ、正規の角度θ2における露出端部の長さを検査者に示しておき、これと略同一の長さを有するように研磨作業を繰り返す。
【0044】
このように第一の実施の形態によれば、コア4の端部が存在する結合端面6を視認しうる方向からその結合端面6の形成状態、すなわち、形成角度θ1、θ2、および形成位置L、を検査しうるマーク5を設けるようにしたので、治具70に光導波路1を取り付けたまま結合端面6の形成状態を検査することができるようになる。
【0045】
また、この実施の形態では、光軸と平行に直線状のマーク要素50を設けたので、結合端面6から露出しているマーク要素50の本数をカウントするだけで形成角度θ1および形成位置Lを把握することができるようになる。
【0046】
さらに、この実施の形態では、下部クラッド層3dの上面にコア用凹部30とマーク用凹部31を設け、コア4を形成する工程で同時にマーク5も形成するようにしたので、マーク5を簡略に形成することができ、また、コア4とマーク5の相対的な位置精度を高くすることができる。
【0047】
この際、コア4と同一の材料をマーク用凹部31にも充填してマーク5を形成するようにしたので、よりマーク5の形成工程を簡素化することができるようになる。
【0048】
(第二の実施の形態)
次に、本発明の第二の実施の形態における光導波路1aの構成について説明する。図9は、第二の実施の形態における光導波路1aの平面図を示したものである。この図において、特に示さない限り第一の実施の形態と同じ番号を付したものは第一の実施の形態と同様に構成され、また、第一の実施の形態と同様の工程を経て製造される。
【0049】
この実施の形態において、マーク5aは、同一の線分長を有する複数の平行な線状マーク要素50によって構成され、しかも、そのマーク要素50の幅W1、W2、W3、マーク要素50間の距離W4、マーク要素50の露出側端部51の段差L4などについても第一の実施の形態と同様に設定される。ただし、この第二の実施の形態において、マーク要素50は、コア4を挟んで同一方向に傾斜させて設けられる。
【0050】
この第二の実施の形態においても、結合端面6から露出するマーク要素50の本数をカウントするだけで、その結合端面6の形成角度θ1、形成位置Lを検査することができ、また、同様に露出するマーク要素50の断面形状を検査することによって形成角度θ2を検査することができるようになる。
【0051】
(第三の実施の形態)
次に、本発明の第三の実施の形態について説明する。図10は第三の実施の形態における光導波路1bの平面図を示したものである。この図において、特に示さない限り第一の実施の形態と同じ番号を付したものは第一の実施の形態と同様に構成され、また、第一の実施の形態と同様の工程を経て製造される。
【0052】
この第三の実施の形態において、マーク要素50bは、反対側端部52bを図9におけるコア4のポート40a、40b側の結合端面6まで伸ばすことなく、その途中で光の進行方向に対してほぼ直角となる線上にその端部52bを揃えるようにしている。このように構成すれば、顕微鏡ステージから透過光を入射させてマーク5のパターンを顕微鏡で検査する場合、顕微鏡ステージから照射された透過光がマーク要素50bの露出側端部51と反対側の端部に届くまでの間にクラッドによって均一に弱められ、また、結合端面6側から露出してないマーク要素50bについては、さらに露出側端部51と結合端面6との間に存在するクラッドによってその透過光が弱められる。一方、結合端面6から露出しているマーク要素50bについては、露出側端部51の先端側にはクラッドが存在しないため、透過光は弱められることなく、露出側端部51が結合端面6から露出していないマーク要素50bよりも相対的に大きな光量で透過光が観察される。これによって、結合端面6から露出しているマーク要素50bと露出していないマーク要素50bの透過光の光量に差を持たせることができ、容易にマーク要素50bの露出の有無を確認することができる。
【0053】
(第四の実施の形態)
次に、本発明の第四の実施の形態について説明する。図11は第四の実施の形態における光導波路1cの平面図を示したものである。この図においても、特に示さない限り第一の実施の形態と同じ番号を付したものは第一の実施の形態と同様に構成され、また、第一の実施の形態と同様の工程を経て製造される。
【0054】
この実施の形態において、マーク5cは、複数の平行な線状マーク要素50によって構成され、しかも、そのマーク要素50cの幅W1、W2、W3、マーク要素50c間の距離W4、マーク要素50cの露出側端部51cの段差L4などについても第一の実施の形態と同様に設定される。ただし、この実施の形態では、要求切断位置CLに対して線対称となるようにマーク要素50cを設けている。具体的には、要求切断位置CLを中心軸としてマーク要素50cの長さが前後方向に同じになるようにし、さらに順次幅方向にその前後方向の長さを長くして設けられる。
【0055】
このように構成すれば、ウエハから1チップの光導波路1を抽出する工程において、切り落とされた先端側のチップ破片のマーク露出パターンと光導波路1側のマークの露出パターンを比較することによってダイスの刃の厚みなどの状態を調べることができる。
【0056】
(第五の実施の形態)
次に、本発明の第五の実施の形態について説明する。図12および図13は、第五の実施の形態における二種類の光導波路1d、1eの平面図を示したものである。この図12および図13において、特に示さない限り第一の実施の形態と同じ番号を付したものは第一の実施の形態と同様に構成され、また、第一の実施の形態と同様の工程を経て製造される。
【0057】
この実施の形態においては、マーク5d、5eは、線状のマーク要素50d、50eを密着させてブロック状となるように構成され、さらに、密着したマーク要素50d、50eの露出側端部51d、51eは前後方向に段違いとなるように設けられている。この場合、結合端面6におけるマーク5d、5eの露出パターンはブロック状になるため、線状マーク要素50d、50eの本数を数えることができず、そのブロックの露出サイズを測らなければならないが、結合端面から露出している部分の面積が大きくなるので露出している部分を探しやすくなる。また、マーク5d、5eがブロック化しているため、マーク5を容易に製作することができるようになる。一方、マーク5のサイズを測らなければならなくなるという問題に対しては、目視レベルでわかるサイズにすることでこの問題点を解決することができる。
【0058】
なお、ブロック状のマークを設ける場合、図13に示すように、第三の実施の形態と同様に露出側端部51eと反対側端部52eを光軸方向に対して直交する線上に揃えるように設けても良い。このように構成した場合は、第三の実施の形態と同様に、顕微鏡で露出パターンを検査する際、照射光のムラをなくすことができるようになる。
【0059】
(第六の実施の形態)
次に、本発明の第六の実施の形態について説明する。図14は第六の実施の形態における平面図を示したものである。この図においても、特に示さない限り第一の実施の形態と同じ番号を付したものは第一の実施の形態と同様に構成され、また、第一の実施の形態と同様の工程を経て製造される。
【0060】
この実施の形態においては、要求切断位置CLを中心軸として前後方向に同一長さを有する線状マーク要素50f1、50f2、50f3を密着させたブロック5f1、5f2、5f3を複数設けている。この線状マーク要素50f1、50f2、50f3は、異なるブロック5f1、5f2、5f3における線幅と異なるように設けられ、さらに、そのブロック5f1、5f2、5f3内における線状マーク要素50f1、50f2、50f3の両端部はそれぞれ隣接するマーク要素50f1、50f2、50f3の線幅分だけ長くなるように段差を設けるようにしている。
【0061】
図15にこのマーク5fの拡大図を示す。この図15は、マーク要素50f1、50f2、50f3の段差作成限界が1マイクロメートルである場合において、第一のブロック5f1の段差を1マイクロメートル、第二のブロック5f2の段差を2マイクロメートル、第三のブロック5f3を3マイクロメートルとして設けた場合の構成を示す。
【0062】
このようなものにおいて、例えば、図15に示すZ線に沿って切断され、そこで結合端面6が形成された場合、第五の実施の形態のように、結合端面6に露出しているマーク5fの寸法を測ることによって、もしくは、光導波路1の上面からマーク5の切断状態を目視することによって、第一ブロック5f1の一番左側に線状マーク要素500のみが結合端面6に露出しないことが分かる。このため、切断要求位置CLを挟んだ片方分である1マイクロメートルの半分、0.5マイクロメートル以上ずれていることが分かり、また、このブロック5f1の二番目501の線状マーク要素50f1が結合端面6に露出していることから、ずれの範囲は、0.5マイクロメートル〜1.5マイクロメートルの範囲であると分かる。また、第二のブロック5f2における結合端面6の露出パターンを見た場合、このブロック5f2における一番左側の線状マーク要素502は結合端面6に露出しておらず、また二番目503の線状マーク要素50f2が結合端面6に露出していることから、ずれの範囲は、1.0マイクロメートル〜3.0マイクロメートルの範囲内であることが分かる。さらに、第三のブロック5f3における結合端面6の露出パターンを見た場合、一番左端の線状マーク要素504が結合端面6にと出しているので、ずれの範囲は、0〜1.5マイクロメートルであることが分かる。そして、これらのアンド条件をとると、結局ずれの範囲は、1.0〜1.5マイクロメートルの範囲であることが分かる。
【0063】
このようにこの実施の形態のマーク5fは、複数の線状マーク要素50f1、50f2、50f3によってブロック5f1、5f2、5f3を構成し、また、それぞれのブロック5f1、5f2、5f3におけるマーク要素50f1、50f2、50f3の段差寸法を他のブロック5f1、5f2、5f3のマーク要素50f1、50f2、50f3の段差寸法と異なるようにしたので、段差の作製限界を超えた微少なサイズの測定も行うことができるようになる。
【0064】
なお、本発明は上述のような実施の形態によって実施されるが、本発明はこれらの実施の形態には限定されない。
【0065】
例えば、上記実施の形態では、一方の結合端面6側にマーク5、5b〜fを設けた場合の説明を行ったが、図16に示すように、両側の結合端面6にそれぞれ結合端面6を視認しうる方向からその結合端面6の形成角度または形成位置を確認しうるマーク5gを設けるようにしても良い。
【0066】
また、上記実施の形態では、コア材と同じ材料によってマーク5を形成するようにしたが、これと異なる材料によってマーク5を形成するようにしても良い。この際、クラッド3との識別を容易にすべく、クラッド3と異なる色を有するようにマーク5を着色しても良く、もしくは、無色透明で屈折率の異なるコア材と異なる材料によってマーク5を形成するようにしても良い。
【0067】
さらに、上記実施の形態では、コア4を有する下部クラッド層3dと同一の層にマーク5を設けるようにしたが、これと異なる層にマーク5を設けるようにしても良い。また、この際、結合端面6側からそのマーク5を視認できるようなものであれば、そのマーク5の断面形状については、矩形形状に限らず、円形状、楕円形状、太い線形状などのような形状を採用することもできる。
【0068】
また、上記実施の形態のうち、図15に示す第六の実施の形態では、線状マーク要素50f1、50f2、50f3の幅をそれぞれ1マイクロメートル、2マイクロメートル、3マイクロメートルとしているが、これに限らず、それぞれ1マイクロメートル、1.5マイクロメートル、2マイクロメートルなどのように要求精度に対応したピッチ幅にすることができる。
【0069】
【発明の効果】
本発明によれば、マークを結合端面から視認しうるように設けているので、結合端面を研磨する際、光導波路を治具に装着したまま顕微鏡の対物レンズをその端面に近づけることができ、従来のように、その光導波路を治具から取り外すことなくその端面の角度や位置を検査することができるようになる。また、マーク要素の露出側端部から前記端面までの距離を異なるように配置し、かつ、そのマーク要素の断面を所定の長方形状としたので、結合端面を側面と直角に形成できなかった場合に、その結合端面から露出するマーク要素の本数などが変化し、そのマークの状態を顕微鏡で見ただけで容易にその結合端面の形成状態を把握することができるようになる。さらに、このような構成において、コアを挟んだ両側にマークを配置するように設けたので、コアを中心として結合端面を均一かつ精度よく所定の角度に形成することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図2】図1における正面図を示したものである。
【図3】図1における側面図を示したものである。
【図4】図1におけるマーク要素の配列状態を示したものである。
【図5】本発明の第一の実施の形態における光導波路の製造工程を示したものである。
【図6】本発明における研磨装置に装着される治具を示したものである。
【図7】正面視における形成状態に対応するマークの露出パターンを示したものである。
【図8】側面視における形成状態に対応するマークの露出形態を示したものである。
【図9】第二の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図10】第三の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図11】第四の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図12】第五の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図13】第五の実施の形態における別の光導波路の平面図を示したものである。
【図14】第六の実施の形態における光導波路の平面図を示したものである。
【図15】図14におけるマークの拡大図(a)と、その切断状態(b)を示したものである。
【図16】マークを両側の結合端面に設けた光導波路の平面図を示したものである。
【図17】従来における光導波路の構成を示したものである。
【図18】従来における光導波路の製造工程を示す図である。
【図19】従来における結合端面の検査の状態を示したものである。
【図20】従来の顕微鏡を用いた検査の状態を示したものである。
【符号の説明】
1、1b〜1f・・・光導波路
3・・・クラッド
3d・・・下部クラッド層
4・・・コア
5・・・マーク
6・・・結合端面
40・・・コアの端部
50、50b〜50f・・・マーク要素
51、50b〜50f・・・マーク要素における露出側端部
70・・・治具
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention relates to an optical waveguide comprising a core and a clad. For example, by visually observing the number of marks formed on the end face of the optical waveguide with a microscope, the formation state of the end face can be inspected. The present invention relates to a structure of an optical waveguide and a manufacturing method thereof.
[0002]
[Prior art]
  A conventional optical waveguide 100 as shown in FIG. 17 exists. 17A is a plan view of the optical waveguide 100, and FIG. 17B is a side view thereof. In FIG. 17, 101 is a substrate formed of quartz or silicon, 102d and 102u are clads provided on the substrate 101, and 103 is a core provided in the substrates 102d and 102u for confining and propagating light. 103a is a branch portion provided in the core 103, and 104 is a cover glass. In this figure, reference numeral 105 denotes a fiber array having an optical fiber 105b, which is bonded to the coupling end face 106 of the optical waveguide 100 through a filter 105a.
[0003]
  Next, a process for manufacturing the optical waveguide 100 will be described with reference to FIG. The steps of manufacturing the optical waveguide 100 include a step of forming a chip of the optical waveguide 100, a step of polishing the coupling end surface 106 of the optical waveguide 100, and a step of inspecting the formation state of the polished coupling end surface 106. Consists of.
[0004]
  First, a process for forming the chip of the optical waveguide 100 will be described. As shown in FIG. 18, first, a flat substrate 101 such as quartz or silicon is prepared, and a UV curable resin 102a is dropped on the upper surface (FIG. 18 (a)) and pressed by a stamper (not shown) to emit ultraviolet rays. By irradiation, a lower clad 102d having a core recess 102b is formed (FIG. 18B). Then, the core 103 is formed by filling the core recess 102b formed by the lower clad 102d with a core material having a refractive index higher than that of the clad 102d (FIG. 18C). Next, the clad resin 102a is dropped onto the core 103 and pressed by the cover glass 104 to similarly form the upper clad 102u (FIG. 18D). In this way, the optical waveguide 100 is obtained.
[0005]
  Then, in the step of polishing the optical waveguide 100, polishing is performed so that the coupling end surface 106 of the optical waveguide 100 forms a predetermined angle and the coupling end surface 106 is formed at a predetermined position in the vicinity of the branching portion 103a. Specifically, in order to suppress the influence on the core based on the reflection of light generated at the coupling end face 106, the angle θ2 in FIG. 17B is polished to about 82 degrees, and the coupling efficiency with the fiber array 105 is increased. In order to improve, the angle θ1 in FIG. Further, in order to minimize the coupling loss of the reflected light that varies depending on the distance between the branching portion 103a and the filter 105a, the coupling end face 106 is similarly formed at a position suitable for the core pattern with respect to the cutting position in the direction perpendicular to the optical axis. Polish to make. This polishing operation is performed using a polishing apparatus, and is performed by attaching the optical waveguide 100 to a jig and rotating the polishing plate and the coupling end surface 106 in contact with each other.
[0006]
  The configuration of this jig is shown in FIG. 19A is a plan view of the jig 70, FIG. 19B is a front view thereof, and FIG. 19C is a sectional view taken along line MM in FIG. In FIG. 19, reference numeral 70 denotes a disk-like jig attached to the polishing apparatus, and 71 denotes a recess for attaching the optical waveguide 100. In the step of polishing the coupling end face 106 of the optical waveguide 100, first, as shown in FIG. 19C, the coupling end face 106 of the optical waveguide 100 is protruded and attached to the recess 71 of the jig 70. The coupling end face 106 is faced down and brought into contact with a polishing plate (not shown) of the polishing apparatus. Then, the coupling end face 106 of the optical waveguide 100 is polished by rotating the jig 70.
[0007]
  The step of inspecting the formation state of the coupling end surface 106 is performed by bringing the objective lens 8 of the microscope close to the coupling end surface 106. Specifically, the angle θ1 between the side surface 107 and the coupling end surface 106 in FIG. In addition, the angle θ2 between the upper surface 108u or the bottom surface 108d and the coupling end surface 106 in FIG. 17B is measured, and the cutting position of the branching portion 103a is inspected from the core pattern or the like.
[0008]
  However, if the optical waveguide 100 is held on the jig 70, the objective lens 8 of the microscope indicated by the wavy line is brought closer to the inside than the outer peripheral portion of the jig 70 as shown in FIGS. Cannot focus on the microscope. Therefore, conventionally, as shown in FIG. 20, the optical waveguide 100 is removed from the jig 70, and the optical waveguide 100 is placed on the microscope stage, where the formation state of the coupling end face 106 is inspected one by one. I had to.
[0009]
  On the other hand, there exists a thing as shown in the following patent document 1 as what solves this subject.
[0010]
[Patent Document 1]
  JP 2002-214468 A
[0011]
  The optical waveguide disclosed in Patent Document 1 is formed by vapor-depositing a plurality of marks orthogonal to the optical axis direction on a substrate, and observes the degree of removal of the marks in the polishing process. By doing so, the formation state of the coupling end face can be confirmed without actually measuring the value of θ1.
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
  However, in such an optical waveguide described in Patent Document 1, since the mark can be visually recognized only in a plan view, only the angle θ1 in the plan view in FIG. 17A can be inspected. Moreover, if you try to observe the mark while attached to the jig, you cannot bring the microscope objective lens closer to the outer periphery of the jig. The state of formation must be inspected.
[0013]
  Therefore, the present invention has been made paying attention to the above problems, and provides an optical waveguide that can inspect the formation state of the end face of the optical waveguide without removing it from the jig, and a method of manufacturing the optical waveguide. It is for the purpose.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
  That is, the optical waveguide of the present invention is to solve the above problems,An angle (θ1) formed between the coupling end surface and the side surface of the optical waveguide in a plan view, and the coupling end surface and the optical waveguide in a side view, formed on the coupling end surface on the side where the core is exposed from the cladding. Formation angle (θ2) with the upper surface and formation position of the coupling end surfaceAn optical waveguide having a mark capable of confirmingBecauseThe mark is composed of a plurality of mark elements that are parallel to the optical axis of the core and embedded in a concave portion of the cladding, and an exposed cross-section by the coupling end surface forms a predetermined rectangular shape, The plurality of end portions on the coupling end surface side and the coupling end surface are arranged at different distances, and are formed on both sides with the optical axis in between.
[0015]
  With this configuration, since the mark is provided so as to be visible from the coupling end surface, when the coupling end surface is polished, the objective lens of the microscope can be brought close to the end surface while the optical waveguide is mounted on the jig. As in the prior art, the angle and position of the end face can be inspected without removing the optical waveguide from the jig. In addition, the distance from the exposed side end of the mark element to the coupling end surface is different, and the cross-section of the mark element is a predetermined rectangleShape andBecause the joint end faceSide andIf it cannot be formed at right angles, the number of mark elements exposed from the joint end face changes, and the formation state of the joint end face can be easily grasped just by looking at the state of the mark with a microscope. become.Further, in such a configuration, since the marks are arranged on both sides of the core, the coupling end surface can be formed at a predetermined angle uniformly and accurately around the core. In addition, as a form of this arrangement, a method of providing symmetry so as to sandwich the core, a method of providing the same form with the core interposed, and the like can be considered.
[0016]
  Further, in such a configuration, marks may be provided on both sides of the core.
[0017]
  If comprised in this way, it will become possible to form a joint end surface in a predetermined angle uniformly and accurately centering on a core. In addition, as a form of this arrangement, a method of providing symmetry so as to sandwich the core, a method of providing the same form with the core interposed, and the like can be considered.
[0018]
  Also, the end on the opposite side of this mark from the exposed endAlign in the direction perpendicular to the optical axis.
[0019]
  If comprised in this way, the intensity | strength of the light which injects from the edge part on the opposite side to an exposure side edge part can be made uniform, and the uniform light suitable for a test | inspection can be output from an exposure side edge part. It becomes like this.
[0020]
  Further, in such a configuration, a plurality of blocks having steps along the light traveling direction may be provided, and the step size in each block may be different from the step size in the other blocks.
[0021]
  If comprised in this way, when recognizing the cutting state of a mark element, it will become possible to grasp | ascertain now the dimension of a cutting position exactly by grasping | ascertaining the exposure state of a level | step difference. That is, for example, as shown in FIG. 14, blocks each including thick line-shaped mark elements are provided sequentially from the core toward the side, and the exposed end portions of the line elements in each block are arranged along the light traveling direction. A step corresponding to the line width is provided. When configured in this way, it is possible to grasp the cutting position of the rough end face by grasping the cutting state of the mark element having a large step, and further, by grasping the cutting state of the thin mark element, Also, it becomes possible to grasp the cutting position having a small size.
[0022]
  Furthermore, when forming a mark in this way, the mark may be provided with the same material as the core.
[0023]
  If comprised in this way, in the step of forming a mark, for example, if a concave portion for a core and a concave portion for a mark are formed on the lower clad layer and the core material is filled on these concave portions, the mark and the core are formed. Can be formed simultaneously. Thereby, it becomes possible to form the mark more easily.
[0024]
  Moreover, it has a core and a clad, and on the coupling end surface on the side where the core is exposed from the clad,Formation angle (θ1) between the coupling end surface and the side surface of the optical waveguide in plan view, formation angle (θ2) between the coupling end surface and the top surface of the optical waveguide in side view, and formation position of the coupling end surfaceA method of manufacturing an optical waveguide having a mark that can be confirmed, comprising: forming a plurality of recesses in a clad parallel to the optical axis of a core; and filling the recess with a material for forming a mark element Forming a mark element whose exposed cross section by a predetermined coupling end face forms a rectangular shape, and the distance between the end of the mark element on the coupling end face side and the coupling end face is different,A plurality of mark elements are formed on both sides of the optical axis of the core.
[0025]
ThisWith this configuration, since the core and the mark can be provided at the same time, the relative positional accuracy of each can be increased in the stamper pressing process.The
[0026]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(First embodiment)
  Hereinafter, the configuration of the optical waveguide 1 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of the optical waveguide 1 in the first embodiment, FIG. 2 is a front view thereof, and FIG. 3 is a side view thereof. 1 to 3, 2d is a substrate made of quartz or silicon, 3 is a clad formed of a lower clad layer 3d and an upper clad layer 3u, 4 is a core provided on the lower clad layer 3d, and 2u is this clad layer. 3 shows a cover glass provided on the upper surface of 3. As is well known, the refractive index of the core 4 is made higher than the refractive index of the clad 3 so that light is confined in the core 4 and propagated. In addition, although this optical waveguide 1 is provided with the branch part 41 in the core 4, it can be applied to all optical waveguides that require accuracy in the formation state at the end of the core.
[0027]
  In such a case, in the present embodiment, the mark 5 that can inspect the formation state of the coupling end face 6 (see FIG. 2) where the end portion 40 of the core 4 exists is provided. This mark 5 is formed so that the formation angle θ1 of the coupling end surface 6 in FIG. 1 and the angle θ2 of the coupling end surface 6 in FIG. 3 and the formation position of the coupling end surface 6 with respect to the optical axis direction can be inspected. In this case, the angles θ1, θ2, and the formation position can be inspected by inspecting the exposed pattern of the mark 5 exposed from 6.
[0028]
  For this reason, the mark 5 has a plurality of linear mark elements 50 in which the exposed end 51 located on the exposed side can be visually recognized from the coupling end face 6 side.ByComposed. Each of the mark elements 50 has a rectangular cross section and has the same length in parallel with the optical axis direction. Further, the exposed end 51 of the mark element 50 is positioned so as to be inclined in a stepwise manner so that the exposed pattern of the mark 5 can be changed according to the formation angles θ1 and θ2 and the formation position of the coupling end face 6. That is, the mark element 50 is provided so that the required cutting position CL is substantially at the center thereof, and as shown in FIG. 1, the mark element 50 is symmetrical with respect to a line parallel to the optical axis passing through the end portion 40 of the core 4. Of these mark elements 50, the side close to the core 4 is provided on the back side from the coupling end surface 6, and the exposed side end portions 51 are coupled sequentially as the distance from the core 4 in the direction perpendicular to the optical axis is increased. It is located on the end face 6 side.
[0029]
  FIG. 4 shows an enlarged view of the portion X in FIG. As shown in FIG. 4, the mark element 50 has the largest width W3 of the mark element 50 at the required cutting position CL to change its exposure form so that the required cutting position CL can be recognized smoothly in the inspection process. ing. Further, the other mark elements 50 are relatively thin in line width, and the line width is increased at predetermined intervals so that the number of exposed mark elements 50 can be easily counted. The width, interval, and angle of these mark elements 50 are set as follows.
[0030]
  First, CL is a required cutting position in a plan view, L1 is the distance between the exposed end 51 provided on the most coupling end surface 6 side (+ side) and CL, and L2 is the farthest (−side) from the coupling end surface 6 ), When the distance between the exposed end 51 of the mark element 50 provided in CL and CL is
[0031]
  Design tolerance length in the L1> + direction
  Design allowable range length in L2>-direction
[0032]
Set to be. Thereby, the mark 5 can be exposed from the coupling end face 6 with respect to the deviation within the design allowable range length from the required cutting position CL.
[0033]
  When the line length of the mark element 50 is L3,
[0034]
  L1 ≦ L3
  L2 ≦ L3
[0035]
And As a result, when the coupling end face 6 is formed in the vicinity of the required cutting position CL, the number of mark elements 50 exposed therefrom can be increased as much as possible.
  Further, the width of the thinnest mark element 50 is W1, the distance between the mark elements 50 is W4, the step of the exposed side end 51 in each mark element 50 is L4, and the design allowable angle in one direction with respect to the formation angle θ1 is D. In the case where only the positional accuracy is inspected, L4 is set to the minimum resolution necessary for the inspection, and in the case where the angle θ1 is inspected,
[0036]
  D ≧ θ1
  tanθ1 = L4 / (W1 + W4)
[0042]
L4, W1, and W4 are set so that If each parameter is set so as to satisfy all of these relationships, the angle θ1 and the cutting position L can be inspected simultaneously by inspecting only the exposed pattern of the mark 5.
[0037]
  Next, a method for manufacturing the optical waveguide 1 will be described with reference to FIGS. First, when the optical waveguide 1 is manufactured, as shown in FIG. 5, a planar substrate 2d formed of quartz, silicon, or the like is prepared, and a UV curable resin 3a is dropped on the upper surface thereof (FIG. )) Pressing with a stamper (not shown) and irradiating with ultraviolet rays forms the lower clad layer 3d having the core recess 30 and the mark recess 31 (FIG. 5B). Then, the core recess 30 and the mark recess 31 formed on the lower cladding layer 3d are filled with a core material having a high refractive index to simultaneously form the core 4 and the mark 5 (FIG. 5C). Next, the clad resin 3a is dropped onto the core 4 and the mark 5 and pressed by the cover glass 2u to form the upper clad layer 3u in the same manner (FIG. 5 (d)). In this way, the optical waveguide 1 is obtained.
[0038]
  Next, the coupling end face 6 of the optical waveguide 1 is polished. As shown in FIG. 6, the optical waveguide 1 is attached to the recess 71 of the jig 70 so that the coupling end face 6 side protrudes upward. Then, the coupling end surface 6 is attached so that the coupling end surface 6 faces downward and is brought into contact with a polishing plate of a polishing apparatus (not shown), and the coupling end surface 6 is polished. In this polishing, the polishing is performed so that the angle θ1 between the light traveling direction and the coupling end face 6 in FIG. 1 is 90 degrees, and the angle θ2 between the coupling end face 6 and the upper surface in FIG. It is formed so as to have a slightly small predetermined inclination angle (for example, 82 degrees). Furthermore, it grind | polishes so that the distance with the edge part of the branch part 41 may become predetermined distance.
[0039]
  In this polishing step, after performing polishing for a predetermined time, the jig 70 is removed from the polishing apparatus, and is placed so as to face the objective lens 8 of the microscope with the coupling end face 6 facing upward, While the optical waveguide 1 is attached to the jig 70, the formation state of the coupling end face 6 is inspected from above. This inspection process is performed by visual inspection using a microscope, but in this embodiment, there is no need to inspect the objective lens 8 close to the outer peripheral portion of the jig 70, and FIG. As shown in c), the objective lens 8 can be inspected by being brought close to the coupling end face 6 directly. FIGS. 7 and 8 show exposure patterns of the marks 5 that are visually observed in the inspection process.
[0040]
  FIG. 7 shows the exposure pattern of the mark when cutting with varying θ1 and L in FIG. 1, and shows the cutting state on the CL, A1, and A2 lines, respectively.
[0041]
  As shown by CL in FIG. 1, when the coupling end face 6 is formed in a normal forming position perpendicular to the light traveling direction and a direction that forms 90 degrees with the light traveling direction that is the normal forming angle θ1, As shown in FIG. 7A, the same number of marks 5 are exposed at positions symmetrical with respect to the core 4. Further, as shown by A1 in FIG. 1, when polishing is performed in a state deviated from a normal angle by a predetermined angle (θ1 <90 degrees), the mark 5 is centered on the core 4 as shown in FIG. Different numbers are exposed at positions that are left-right asymmetric. Further, as indicated by A2 in FIG. 1, when the polishing is performed at a position different from the normal position CL even when θ1 = 90 degrees, the number of marks 5 exposed from the coupling end face 6 increases or decreases. For this reason, the number of mark elements 50 exposed in the design allowable range is shown to the inspector in advance, and the polishing operation is repeated so that this number of mark elements 50 is exposed symmetrically about the core 4.
[0042]
  FIG. 8 shows the mark exposure pattern when the angle θ2 in FIG. 3 is changed.
[0043]
  When the coupling end face 6 is formed at a regular angle θ2 in FIG. 3, the mark element 50 is exposed in a predetermined rectangular shape as shown in FIG. 8A. When the coupling end face 6 is formed at an angle larger than the normal angle θ2, as shown in FIG. 8B, the exposed mark element 50 becomes smaller than the vertical dimension of the normal mark element 50, and is square. It approaches the shape. On the other hand, when the coupling end face 6 is formed at an angle smaller than the regular angle, the vertically long dimension of the exposed mark element 50 is longer than the vertically long dimension of the regular mark element 50 as shown in FIG. . For this reason, the length of the exposed end portion at the normal angle θ2 is shown to the inspector in advance, and the polishing operation is repeated so as to have substantially the same length as this.
[0044]
  As described above, according to the first embodiment, the formation state of the coupling end surface 6 from the direction in which the coupling end surface 6 where the end of the core 4 exists can be visually recognized, that is, the formation angles θ1, θ2, and the formation position L. Since the marks 5 that can be inspected are provided, the formation state of the coupling end face 6 can be inspected while the optical waveguide 1 is attached to the jig 70.
[0045]
  Further, in this embodiment, since the linear mark elements 50 are provided in parallel with the optical axis, the formation angle θ1 and the formation position L can be determined only by counting the number of mark elements 50 exposed from the coupling end face 6. It becomes possible to grasp.
[0046]
  Further, in this embodiment, the core recess 30 and the mark recess 31 are provided on the upper surface of the lower clad layer 3d, and the mark 5 is simultaneously formed in the process of forming the core 4. Therefore, the mark 5 is simplified. In addition, the relative positional accuracy between the core 4 and the mark 5 can be increased.
[0047]
  At this time, since the mark 5 is formed by filling the same material as that of the core 4 into the mark recess 31, the process of forming the mark 5 can be further simplified.
[0048]
(Second embodiment)
  Next, the configuration of the optical waveguide 1a in the second embodiment of the present invention will be described. FIG. 9 is a plan view of the optical waveguide 1a according to the second embodiment. In this figure, unless otherwise indicated, the same reference numerals as those in the first embodiment are configured in the same manner as in the first embodiment, and are manufactured through the same steps as in the first embodiment. The
[0049]
  In this embodiment, the mark 5a is constituted by a plurality of parallel linear mark elements 50 having the same line segment length, and the distance between the width W1, W2, W3 of the mark element 50 and the mark element 50. W4, the step L4 of the exposed end 51 of the mark element 50, and the like are set in the same manner as in the first embodiment. However, in the second embodiment, the mark element 50 is provided to be inclined in the same direction with the core 4 interposed therebetween.
[0050]
  In the second embodiment, the formation angle θ1 and the formation position L of the coupling end surface 6 can be inspected only by counting the number of mark elements 50 exposed from the coupling end surface 6, and similarly. By inspecting the cross-sectional shape of the exposed mark element 50, the formation angle θ2 can be inspected.
[0051]
(Third embodiment)
  Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 10 is a plan view of the optical waveguide 1b according to the third embodiment. In this figure, unless otherwise indicated, the same reference numerals as those in the first embodiment are configured in the same manner as in the first embodiment, and are manufactured through the same steps as in the first embodiment. The
[0052]
  In the third embodiment, the mark element 50b is not extended to the coupling end face 6 on the port 40a, 40b side of the core 4 in FIG. The end 52b is aligned on a line that is substantially perpendicular. With this configuration, when the transmitted light is incident from the microscope stage and the pattern of the mark 5 is inspected by the microscope, the transmitted light irradiated from the microscope stage is the end opposite to the exposed end 51 of the mark element 50b. The mark element 50b that is uniformly weakened by the clad before reaching the portion and is not exposed from the coupling end face 6 side is further removed by the clad existing between the exposed side end 51 and the coupling end face 6 Transmitted light is weakened. On the other hand, the mark element 50b exposed from the coupling end surface 6 has no cladding on the tip side of the exposed side end portion 51, so that the transmitted light is not weakened, and the exposed side end portion 51 is separated from the coupling end surface 6. The transmitted light is observed with a relatively larger light amount than the unexposed mark element 50b. This makes it possible to make a difference in the amount of transmitted light between the mark element 50b exposed from the coupling end face 6 and the mark element 50b that is not exposed, so that the presence or absence of the mark element 50b can be easily confirmed. it can.
[0053]
(Fourth embodiment)
  Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 11 is a plan view of the optical waveguide 1c in the fourth embodiment. Also in this figure, unless otherwise indicated, the same reference numerals as those in the first embodiment are configured in the same manner as in the first embodiment, and manufactured through the same steps as in the first embodiment. Is done.
[0054]
  In this embodiment, the mark 5c is constituted by a plurality of parallel linear mark elements 50, and the width W1, W2, W3 of the mark element 50c, the distance W4 between the mark elements 50c, and the exposure of the mark element 50c. The level difference L4 and the like of the side end 51c is set in the same manner as in the first embodiment. However, in this embodiment, the mark element 50c is provided so as to be line-symmetric with respect to the required cutting position CL. Specifically, the length of the mark element 50c is made the same in the front-rear direction with the required cutting position CL as the central axis, and the length in the front-rear direction is sequentially increased in the width direction.
[0055]
  With this configuration, in the step of extracting the optical waveguide 1 of one chip from the wafer, the mark exposure pattern of the chip fragment on the tip side that has been cut off is compared with the exposure pattern of the mark on the optical waveguide 1 side. The state such as the thickness of the blade can be examined.
[0056]
(Fifth embodiment)
  Next, a fifth embodiment of the present invention will be described. 12 and 13 show plan views of two types of optical waveguides 1d and 1e in the fifth embodiment. In FIG. 12 and FIG. 13, unless otherwise indicated, the same reference numerals as in the first embodiment are configured in the same manner as in the first embodiment, and the same steps as in the first embodiment. It is manufactured through.
[0057]
  In this embodiment, the marks 5d and 5e are configured to be in a block shape by closely adhering the linear mark elements 50d and 50e, and further, the exposed side end portions 51d and 51d of the closely-adhered mark elements 50d and 50e, 51e is provided so as to be stepped in the front-rear direction. In this case, since the exposed pattern of the marks 5d and 5e on the coupling end face 6 is in a block shape, the number of the linear mark elements 50d and 50e cannot be counted, and the exposure size of the block must be measured. Since the area of the part exposed from the end surface becomes large, it becomes easy to find the exposed part. Moreover, since the marks 5d and 5e are blocked, the mark 5 can be easily manufactured. On the other hand, for the problem that the size of the mark 5 has to be measured, this problem can be solved by using a size that can be seen on the visual level.
[0058]
  When providing a block-shaped mark, as shown in FIG. 13, the exposed end 51e and the opposite end 52e are aligned on a line orthogonal to the optical axis direction, as in the third embodiment. May be provided. When configured in this manner, similarly to the third embodiment, when the exposure pattern is inspected with a microscope, it is possible to eliminate unevenness of the irradiation light.
[0059]
(Sixth embodiment)
  Next, a sixth embodiment of the present invention will be described. FIG. 14 shows a plan view of the sixth embodiment. Also in this figure, unless otherwise indicated, the same reference numerals as those in the first embodiment are configured in the same manner as in the first embodiment, and manufactured through the same steps as in the first embodiment. Is done.
[0060]
  In this embodiment, a plurality of blocks 5f1, 5f2, 5f3 are provided in which linear mark elements 50f1, 50f2, 50f3 having the same length in the front-rear direction with the required cutting position CL as the central axis are in close contact. The linear mark elements 50f1, 50f2, and 50f3 are provided so as to have different line widths in the different blocks 5f1, 5f2, and 5f3, and further, the linear mark elements 50f1, 50f2, and 50f3 in the blocks 5f1, 5f2, and 5f3 are provided. Both end portions are provided with steps so as to be longer by the line widths of the adjacent mark elements 50f1, 50f2, and 50f3.
[0061]
  FIG. 15 shows an enlarged view of the mark 5f. This FIG. 15 shows that when the mark element 50f1, 50f2, 50f3 has a step creation limit of 1 micrometer, the step of the first block 5f1 is 1 micrometer, the step of the second block 5f2 is 2 micrometers, A configuration when the third block 5f3 is provided as 3 micrometers is shown.
[0062]
  In such a case, for example, when the coupling end surface 6 is formed along the Z line shown in FIG. 15, the mark 5 f exposed on the coupling end surface 6 is formed as in the fifth embodiment. By measuring the size of the first block 5f1 or by visually observing the cut state of the mark 5 from the upper surface of the optical waveguide 1, only the linear mark element 500 is not exposed to the coupling end face 6 on the leftmost side of the first block 5f1. I understand. For this reason, it can be seen that the half of 1 micrometer, which is one part across the cutting request position CL, is shifted by 0.5 micrometer or more, and the linear mark element 50f1 of the second 501 of this block 5f1 is coupled. Since it is exposed at the end face 6, it can be seen that the range of deviation is in the range of 0.5 micrometers to 1.5 micrometers. When the exposed pattern of the coupling end surface 6 in the second block 5f2 is seen, the leftmost linear mark element 502 in the block 5f2 is not exposed on the coupling end surface 6, and the second 503 linear pattern is formed. Since the mark element 50f2 is exposed on the coupling end face 6, it can be seen that the range of deviation is in the range of 1.0 to 3.0 micrometers. Further, when the exposed pattern of the coupling end surface 6 in the third block 5f3 is seen, the leftmost linear mark element 504 protrudes to the coupling end surface 6, so the range of deviation is 0 to 1.5 micron. It turns out that it is a meter. And when these AND conditions are taken, it turns out that the range of deviation | shift is the range of 1.0-1.5 micrometers after all.
[0063]
  As described above, in the mark 5f of this embodiment, the plurality of linear mark elements 50f1, 50f2, 50f3 constitute the blocks 5f1, 5f2, 5f3, and the mark elements 50f1, 50f2 in the respective blocks 5f1, 5f2, 5f3. Since the step size of 50f3 is made different from the step size of the mark elements 50f1, 50f2, 50f3 of the other blocks 5f1, 5f2, 5f3, it is possible to measure a minute size exceeding the production limit of the step. become.
[0064]
  In addition, although this invention is implemented by embodiment as mentioned above, this invention is not limited to these embodiment.
[0065]
  For example, in the above embodiment, the case where the marks 5, 5b to f are provided on the one coupling end surface 6 side has been described. However, as shown in FIG. 16, the coupling end surfaces 6 are respectively provided on the coupling end surfaces 6 on both sides. You may make it provide the mark 5g which can confirm the formation angle or formation position of the joint end surface 6 from the direction which can be visually recognized.
[0066]
  Moreover, in the said embodiment, although the mark 5 was formed with the same material as a core material, you may make it form the mark 5 with a different material. At this time, the mark 5 may be colored so as to have a color different from that of the clad 3 for easy identification from the clad 3, or the mark 5 is made of a material different from a core material having a colorless and transparent refractive index different from the core material. You may make it form.
[0067]
  Furthermore, in the above embodiment, the mark 5 is provided in the same layer as the lower clad layer 3d having the core 4, but the mark 5 may be provided in a different layer. At this time, if the mark 5 can be visually recognized from the coupling end face 6 side, the cross-sectional shape of the mark 5 is not limited to a rectangular shape, but a circular shape, an elliptical shape, a thick line shape, or the like. Various shapes can also be adopted.
[0068]
  In the sixth embodiment shown in FIG. 15, the widths of the linear mark elements 50f1, 50f2, and 50f3 are 1 micrometer, 2 micrometers, and 3 micrometers, respectively. However, the pitch width may be 1 μm, 1.5 μm, 2 μm, or the like corresponding to the required accuracy.
[0069]
【The invention's effect】
  According to the present invention, since the mark is provided so as to be visible from the coupling end surface, when polishing the coupling end surface, the objective lens of the microscope can be brought close to the end surface while the optical waveguide is mounted on the jig, As in the prior art, the angle and position of the end face can be inspected without removing the optical waveguide from the jig. Also, the distance from the exposed end of the mark element to the end face is different, and the cross-section of the mark element is a predetermined rectangleShape andTherefore, when the joint end face could not be formed at right angles to the side face, the number of mark elements exposed from the joint end face changes, and it is easy to form the joint end face just by looking at the state of the mark with a microscope. It becomes possible to grasp the state.Further, in such a configuration, since the marks are arranged on both sides of the core, the coupling end surface can be formed at a predetermined angle uniformly and accurately around the core.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view of an optical waveguide according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a front view of FIG.
FIG. 3 is a side view of FIG. 1;
4 shows an arrangement state of mark elements in FIG. 1. FIG.
FIG. 5 shows an optical waveguide manufacturing process according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 shows a jig mounted on the polishing apparatus according to the present invention.
FIG. 7 shows an exposure pattern of a mark corresponding to a formation state in a front view.
FIG. 8 shows an exposed form of a mark corresponding to a formation state in a side view.
FIG. 9 is a plan view of an optical waveguide according to the second embodiment.
FIG. 10 is a plan view of an optical waveguide according to a third embodiment.
FIG. 11 is a plan view of an optical waveguide according to a fourth embodiment.
FIG. 12 is a plan view of an optical waveguide according to a fifth embodiment.
FIG. 13 is a plan view of another optical waveguide according to the fifth embodiment.
FIG. 14 is a plan view of an optical waveguide according to a sixth embodiment.
FIG. 15 is an enlarged view (a) of a mark in FIG. 14 and a cut state (b) thereof.
FIG. 16 is a plan view of an optical waveguide in which marks are provided on both coupling end faces.
FIG. 17 shows a configuration of a conventional optical waveguide.
FIG. 18 is a diagram showing a conventional manufacturing process of an optical waveguide.
FIG. 19 shows a conventional state of inspection of the coupling end face.
FIG. 20 shows the state of inspection using a conventional microscope.
[Explanation of symbols]
1, 1b-1f ... Optical waveguide
3 ... Clad
3d ... Lower cladding layer
4 ... Core
5 ... mark
6 ... Join end face
40 ... End of core
50, 50b to 50f ... Mark elements
51, 50b to 50f... Exposed side end portion in the mark element
70 ... Jig

Claims (8)

コアおよびクラッドを有してなり、クラッドからコアが露出する側の結合端面に、平面視における当該結合端面と光導波路側面とのなす形成角度(θ1)および、側面視における当該結合端面と光導波路上面とのなす形成角度(θ2)および、当該結合端面の形成位置を確認しうるマークを有してなる光導波路であって
当該マークを、前記コアの光軸と平行であって、かつ、クラッドの凹部に埋め込まれ、前記結合端面による露出断面が所定の長方形状をなす複数のマーク要素で構成し、
当該マーク要素を、その結合端面側の端部と当該結合端面との距離を異なるように複数配置し、かつ前記光軸を挟んで両側にそれぞれ形成したことを特徴とする光導波路。
An angle (θ1) formed between the coupling end surface and the side surface of the optical waveguide in a plan view, and the coupling end surface and the optical waveguide in a side view, formed on the coupling end surface on the side where the core is exposed from the cladding. forming angle formed between the upper surface (.theta.2) and, an optical waveguide comprising a mark that can confirm the formation position of the coupling end face,
The mark is parallel to the optical axis of the core and is embedded in a concave portion of the clad, and is composed of a plurality of mark elements whose exposed cross section by the coupling end surface forms a predetermined rectangular shape,
An optical waveguide characterized in that a plurality of the mark elements are arranged on both sides of the optical axis, and a plurality of the mark elements are arranged so that the distance between the end portion on the coupling end surface side and the coupling end surface is different.
前記マーク要素を、所定数毎にその形態を変化させて設けた請求項1に記載の光導波路。The optical waveguide according to claim 1, wherein the mark elements are provided by changing their forms every predetermined number. 前記マーク要素における結合端面側の端部とは反対側の端部を光軸と直交方向に揃えた請求項1に記載の光導波路。2. The optical waveguide according to claim 1, wherein an end of the mark element opposite to the end of the coupling end face is aligned in a direction orthogonal to the optical axis. 前記マークを、光軸方向に沿って段差を有するように密着して設けられた複数の直線状のマーク要素からなるブロックで構成し、各ブロックにおけるマーク要素の光軸方向に沿った段差寸法を異なるようにした請求項1に記載の光導波路。The mark is composed of a block composed of a plurality of linear mark elements provided in close contact with each other so as to have a step along the optical axis direction, and the step dimension along the optical axis direction of the mark element in each block is set. The optical waveguide according to claim 1, wherein the optical waveguides are different. 前記マークを、コアと同一材料で形成した請求項1に記載の光導波路。The optical waveguide according to claim 1, wherein the mark is made of the same material as the core. コアおよびクラッドを有してなり、クラッドからコアが露出する側の結合端面に、平面視における当該結合端面と光導波路側面とのなす形成角度(θ1)および、側面視における当該結合端面と光導波路上面とのなす形成角度(θ2)および、当該結合端面の形成位置を確認しうるマークを有する光導波路の製造方法であって、
クラッドに、コアの光軸と平行な複数の凹部を形成する工程と、
当該凹部にマーク要素を形成するための材料を充填して所定の結合端面による露出断面が長方形状をなすマーク要素を形成する工程とを備えてなり、
前記マーク要素の結合端面側の端部と前記結合端面との距離を異なるように、複数のマーク要素をコアの光軸を挟んだ両側にそれぞれ形成することを特徴とする光導波路の製造方法。
An angle (θ1) formed between the coupling end surface and the side surface of the optical waveguide in a plan view, and the coupling end surface and the optical waveguide in a side view, formed on the coupling end surface on the side where the core is exposed from the cladding. A method of manufacturing an optical waveguide having a mark capable of confirming a formation angle (θ2) formed with an upper surface and a formation position of the coupling end surface ,
Forming a plurality of recesses in the clad parallel to the optical axis of the core;
Filling the concave portion with a material for forming a mark element, and forming a mark element having a rectangular cross section exposed by a predetermined coupling end face,
A method of manufacturing an optical waveguide , comprising: forming a plurality of mark elements on both sides of an optical axis of a core so that a distance between an end of the mark element on the coupling end face side and the coupling end face is different.
前記凹部を形成する工程と、コア用の凹部を形成する工程とを同時にしたことを特徴とする請求項6に記載の光導波路の製造方法。The method for manufacturing an optical waveguide according to claim 6, wherein the step of forming the concave portion and the step of forming the concave portion for the core are performed simultaneously. 前記マーク要素を形成する材料をコア材と同じ材料とした請求項6に記載の光導波路の製造方法。The method for manufacturing an optical waveguide according to claim 6, wherein a material for forming the mark element is the same material as the core material.
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