JP4104253B2 - 基板一体型構造体 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 52
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 40
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 34
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 24
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 18
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 12
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 5
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 30
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 description 23
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 12
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 12
- 229910019068 Mg—Ge Inorganic materials 0.000 description 10
- 229910019086 Mg-Cu Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 9
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 9
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 229910021365 Al-Mg-Si alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 229910018459 Al—Ge Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 229910018125 Al-Si Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910018520 Al—Si Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910019092 Mg-O Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910019395 Mg—O Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 3
- 229910021364 Al-Si alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018464 Al—Mg—Si Inorganic materials 0.000 description 2
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018516 Al—O Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020220 Pb—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000009415 formwork Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
Images
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、軽量にして放熱性に優れ、高信頼性を有する半導体装置用回路基板一体型構造体に関する。
【0002】
【従来の技術】
パワーモジュールを初めとする各種の半導体装置には、セラミックス基板の両面にCuからなる回路を設けたものが、回路基板として利用されている。特に高集積化及び大電力化により、高い放熱性を必要とする場合には、セラミックスとして高熱伝導率の窒化アルミニウムが賞用されている。
【0003】
しかし、前記のCuからなる回路を設けている回路基板においては、Cu回路(或いは、裏面に設けられる放熱用Cu板)と窒化アルミニウム基板の熱膨張係数の差に起因する熱応力の繰り返しによって、窒化アルミニウム基板に微細なクラックが発生することがあるため、高い信頼性を必要とする場合には降伏耐力の低いAl板を接合することが試みられている。
【0004】
また、回路基板は、通常、その放熱用金属板を放熱フィン等に接合するためにベースCu板に半田付けして使用されるが、熱応力の繰り返しに対してベースCu板と回路基板間に発生する半田クラックを避けるため、ベース板に熱膨張係数が小さい材質を用いることも行われ、近年では、炭化珪素多孔体にAlを主成分とする金属を前記炭化珪素多孔体の空隙部に含浸させて得られるアルミニウム−炭化珪素複合体(以下、Al/SiC複合材という)が開発されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
近年の半導体装置の高集積化、大電力化に伴って、軽量コンパクトで益々高い放熱性が求められるようになり、(1)セラミックス基板の両面に設けられた金属板のうち片面の金属板を省略し直接ベース板に接合する、(2)ベース板を省略して、セラミックス基板を水冷板や放熱フィン等のヒートシンクに直接搭載する、等の試みが進められている。しかし、これらの試みは、各構成部品の熱膨張率差と組立工程や使用環境の温度変化によって生じる応力に耐えられず、信頼性が確保できないという問題がある。
【0006】
また、回路基板をベース板に取り付けるに際して熱伝導を良くすることを主目的に半田を用いているが、半田は、セラミックス基板とベース板等の間の熱膨張差を吸収して変形し、セラミックス基板やシリコンチップに割れを生じることを防ぐ役割をも持っていた。しかし、今後、環境汚染問題から半田が鉛フリー組成になることが望ましく、この場合には塑性変形を起こす応力が高くなり、応力緩和能が低下する。更に、鉛フリー半田は現在のPb−Sn系に比べて半田濡れ性に劣ることを考えると、回路基板とベース板またはヒートシンク等の放熱部品との間で、密着性に優れた信頼性のある接合がますます必要になってくる。
【0007】
更に、Al/SiC複合材を放熱部品として用いる場合、Alを主成分とする金属を炭化珪素多孔体に含浸させると同時にセラミックス基板と接合させることも検討されているが、複合材の製造自体が非常に高度な技術であるうえ、セラミックス基板が前記Alを主成分とする金属層に埋もれてしまう等、未解決な課題がある。しかも、放熱部品やセラミックス基板の形状が変わると、それに合わせて使用する型枠等を変えなくてはならなくなり、生産上不都合でもある。
【0008】
一方、放熱部品であるベース板とセラミックス基板を接合材で接着する技術については、例えば特開平3−125463号公報のとおりに多くの提案がある。前記技術では、Al−Si系又はAl−Ge系の合金箔を接合材とし、バッチ式真空炉を用いて接合が行われているが、バッチ式真空炉に大きなベース板を投入すると容積効率が悪くなるので、生産性が低下する。また、大型の連続真空炉は、高価であり厳密な温度制御も難しいので、このような接合には不向きである。
【0009】
上記したとおりに、セラミックス回路基板と放熱部品とを直接接合すると、効率的な放熱性を有するモジュールが得られるにもかかわらず、工業的な接合技術がないために、実現していない。
【0010】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的は、セラミックス回路基板と放熱部品とを接合する、工業的な接合技術を提供し、効率的な放熱性を有する、軽量なモジュールを提供することにある。即ち、窒化アルミニウム基板の少なくとも一方の面にAl回路を形成させてなる回路基板が、半田を使用せずにAl/SiC複合材からなる放熱部品に接合された構造を持ち、軽量にして放熱性に優れた高信頼性の基板一体型構造体を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明は、少なくとも一面にアルミニウムまたはアルミニウム合金板が接合された窒化アルミニウム基板と、炭化珪素質多孔体にAlを主成分とする金属を含浸してなる放熱部品とからなる基板一体構造体であって、前記アルミニウムまたはアルミニウム合金板と前記放熱部品とが、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が500〜630℃であるAl合金を介して接合されていることを特徴とする基板一体型構造体である。
【0012】
また、本発明は、放熱部品は、該放熱部品の主面にAlを主成分とする金属層が厚さ10μm以上設けられていることを特徴とする前記の回路基板一体型構造体である。
【0013】
また、本発明は、放熱部品が、炭化珪素を40〜70体積%で残部がSiを4〜14重量%含むアルミニウム合金からなり、熱伝導率が160W/mK以上であるアルミニウム−炭化珪素複合体からなることを特徴とする前記の回路基板一体型構造体。
【0014】
更に、窒化アルミニウム基板が、熱伝導率130W/mK以上であり、その表面のX線回折ピーク強度比が、2≦(Y2O3・Al2O3/AlN)×100≦17、かつ(2Y2O3・Al2O3/AlN)×100≦2を有するものであることを特徴とする前記の回路基板一体型構造体である。
【0015】
【発明の実施の形態】
本発明は、少なくとも一面にアルミニウムまたはアルミニウム合金板が接合された窒化アルミニウム基板と、炭化珪素質多孔体にAlを主成分とする金属を含浸してなる放熱部品とからなる基板一体型構造体であって、前記アルミニウムまたはアルミニウム合金板と前記放熱部品とが、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有するAl合金で接合されていることを特徴とする基板一体型構造体である。上記構成を採用することにより、軽量で、放熱性に優れた高信頼性の基板一体型構造体を提供することができる。
【0016】
本発明で使用される窒化アルミニウム基板は、Y2O3を焼結助剤として焼成されたものであり、熱伝導率が130W/mK以上であることが好ましい。また、その表面のCuKαによるX線回折のメインピークの強度比が、2≦(Y2O3・Al2O3/AlN)×100≦17、かつ(2Y2O3・Al2O3/AlN)×100≦2であるものが好ましい。このような表面特性を有する窒化アルミニウム基板は、酸化処理等の煩雑な表面処理を施さなくとも、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、少なくとも一部が液相を形成する温度が500〜630℃のAl合金を用いて、Alを主成分とする金属と十分に強い強度で接合させることができる。
【0017】
前記窒化アルミニウム基板の表面特性の調整は、原料窒化アルミニウム粉中のAl2O3とY2O3分組成比、脱脂後焼成前までの増加酸素量、焼成温度等を調整することによって行うことができる。
【0018】
例えば、2Y2O3・Al2O3が多い場合には、相対的にAl2O3を増やせば良いので、酸素量の多い窒化アルミニウム粉末原料を用いるか、Al2O3を添加して、Y2O3を減らす。一方、Y2O3・Al2O3が多い場合には、Y2O3の添加量を減らすか、焼成温度を下げる。その他、脱脂を空気中で行えばAl2O3を増加させることができる。
【0019】
窒化アルミニウム基板にAl回路を形成させるには、Al板を接合してからエッチングする、Al板から打ち抜かれたパターンを接合する、等によって行うことができる。接合材には、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が500〜630℃のAl合金を用いるが、これを含めた接合条件については後述する。生産性向上のためには、放熱部品との接合と同時にAl板又はAlからなるパターンを接合することが好ましい。
【0020】
本発明で使用されるAlを主成分とする金属を炭化珪素多孔体に含浸させてなる複合体からなる放熱部品は、例えば、炭化珪素の多孔体(プリフォームともいう)にAlを主成分とする金属を含浸させることによって製造することができる(例えば、セラミックデータブック‘95、山口雄三、堀三郎、95〜101頁(1995))。放熱部品は、適当な熱膨張率と高い熱伝導率を持つことが望ましく、160W/mK以上の熱伝導率と6〜10ppmの熱膨張率を持つことが望ましい。この物性は、Alを主成分とする金属と炭化珪素の体積比率等によって調節でき、炭化珪素が40〜70体積%で残部がAlを主成分とする金属であることが望ましい。更に、Alを主成分とする金属としては、組立工程や使用環境における温度にさらされた場合でも特性が劣化しない合金組成が望ましく、たとえば、Siを4〜14重量%含むAl合金が望ましい。
【0021】
本発明に於いて、前記放熱部品は、その主面に炭化珪素が露出していない構造のものが好ましく、前記Alを主成分とする金属が10μm以上の層となっている構造であることが望ましい。前記主面とは回路基板がろう付けされる面のことであり、また、放熱部品の表面がメッキされる場合は、メッキされる部分の表面をさす。これらの表面に炭化珪素が露出していると、ろう付け面に欠陥が生じやすい、メッキ被膜が形成しにくい、メッキやろう付けの付着強度が低い等の欠点が生じやすい。
【0022】
本発明の基板一体型構造体の表面は、必要に応じて表面にAlまたはAl合金が露出している部分の全面又は部分にNiメッキされる。特に半田付け部分はNiメッキが必要であり、Alワイヤボンドする部分にはNiメッキがない方が信頼性が高いので、従って部分メッキが好ましい。
【0023】
本発明において、アルミニウムまたはアルミニウム合金板と窒化アルミニウム板の接合には、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が500〜630℃のAl合金、例えば、Al−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金、Al−Mg−Si系合金等を用いる。その理由は、以下のとおりである。
【0024】
前記したとおりの、窒化アルミニウム基板とアルミニウムまたはアルミニウム合金板との接合にはAl−Si系合金やAl−Ge系合金が知られているが、本発明になるMgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有するAl合金には、前記合金に比較して、窒化アルミニウム基板との接合条件の許容幅が広く、真空中でなくとも接合できる特徴があるので、生産性に優れた接合が可能となる。
【0025】
即ち、従来公知のAl−Si系合金やAl−Ge系合金では、比較的多量にSiやGeを添加しないと融点が低下しないが、多量に添加すると硬くて脆くなる問題が生じる。このような問題を起こさせないように、例えばAl−Si系合金において、Siの割合を5%まで下げると融点が615℃となり、加圧を行っても620℃以下の温度での接合は困難となる。
【0026】
これに対し、本発明のMgを含有するAl合金、ことにAl−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金或いはAl−Mg−Si系合金では、Cu、Ge、Siの割合を4%程度まで下げても適切に加圧等の手段を講じることによって、600℃程度での接合も可能となり、接合条件の許容幅が広がる。更に、Al−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金並びにAl−Mg−Si系は、SiやGeが単独でAlに添加されている場合に比べて、Cu、Ge、SiやMgがAl中に均一に拡散し易いため、局部的な溶融が生じたり、余分な接合材が押し出されてハミダシが生じ難く、比較的短時間で安定した接合が可能となることによる。
【0027】
本発明において、Mgを含有するAl合金中のMgについては、少量添加することによって、接合状態が良好になる。これはAl表面の酸化物層の除去効果や窒化アルミニウム基板表面と接合材の濡れ性改善効果によると推察される。Mgの割合は、0.05〜3重量%が好ましい。0.05重量%未満では添加効果が顕著でなくなり、3重量%超ではAl又はAl合金の硬度に悪影響を与えるうえ、接合時に多量に揮発して炉操業に支障をきたすことがある。特に好ましくは、0.1〜1.0重量%である。
【0028】
Al−Mg−Cu系合金中のCuの割合は、2〜10重量%であることが好ましい。2重量%未満では、接合温度が高くなってAlの融点に近くなってしまい、また10重量%超では、接合後のろう材の拡散部が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐れがある。好ましくは2〜6重量%である。
【0029】
また、Al−Mg−Ge系合金中のGeの割合は、2〜20重量%であることが好ましい。2重量%未満では、接合温度が高くなってAlの融点に近くなってしまい、また20重量%超では、接合後のろう材の拡散部が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐れがある。好ましくは2〜10重量%である。
【0030】
Al−Mg−Si系合金中のSiの割合は、4〜14重量%あることが好ましい。4重量%未満では、接合温度が高くなってAlの融点に近くなってしまい、また14重量%超では、接合後のろう材の拡散部が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐れがある。好ましくは4〜12重量%である。
【0031】
本発明で使用されるAl−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金或いはAl−Mg−Si系合金は、Al、Mg、Cu、Ge、Siの主要成分はもとより、それ以外の成分を含んでいてもよい。例えばAl、Mg、Cu、Ge、Si以外に、Zn、In、Mn、Cr、Ti、Bi、B、Fe等の成分を合計で5重量%程度以下を含んでいてもよい。本発明で使用される接合材の組成について日本工業規格の例をあげれば、4重量%程度のCuと0.5重量%程度のMgが含まれる2018合金、更に0.5重量%程度のMn等が含まれる2017合金を始め、2001、2005、2007、2014、2024、2030、2034、2036、2048、2090、2117、2124、2214、2218、2224、2324、7050等が挙げられる。
【0032】
前記Mgを含有する液相温度が500〜630℃のAl合金で窒化アルミニウム基板とアルミニウム板とを接合するときの温度については、液相範囲が500〜630℃にあるのでかなり広範囲の温度が適用できるが、接合材の組成によって適正温度条件は異なる。ZnやIn等の低融点成分が添加されていたり、MgやCu、Ge等の含有量が比較的多い場合には、600℃以下でも十分に接合できる。接合温度が630℃超では、接合時にろう接欠陥(回路に生じる虫食い現象)が生じやすくなるので好ましくない。
【0033】
本発明において、加熱接合時に、窒化アルミニウム基板と垂直な方向に10〜100kgf/cm2、特に15〜80kgf/cm2で加圧することは好ましいことである。加圧方法としては、重しを載せる、治具を用いて機械的に加えることによって行うことができる。加圧は、少なくとも接合が始まる温度、例えば、Al−0.3%Mg−4%Cu合金箔を用いて610℃で接合する場合は、580℃までの温度範囲では前記圧力以内に保たれていることが望ましい。
【0034】
本発明の基板一体型構造体においては、窒化アルミニウム基板の一方の面にAl回路が形成され、他方の反対面にはアルミニウム板を介して、若しくは介さずに、ベース板やヒートシンクなどの放熱部品が接合される。上記のAl−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金或いはAl−Mg−Si系合金の組成と、Al/SiC複合材に用いるAlを主成分とする金属の組成を適宜選択することにより、アルミニウムからなる回路パターン又は放熱用アルミニウム板と、Al/SiC複合材からなる放熱部品とを、同時に窒化アルミニウム基板の表裏面に接合することができる。この場合、Al−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金或いはAl−Mg−Si系合金の接合材は、窒化アルミニウム基板とアルミニウム回路パターン、或いはアルミニウム回路形成用のアルミニウム板との間に積層介在させるが、あらかじめアルミニウム板と接合用合金をクラッドしておくと一層使用しやすく、好ましい。
【0035】
放熱部品に用いているAl/SiC複合材のAlを主成分とする金属の融点が低い場合、例えばSi含有量が12重量%になると融点が580℃を下回り、アルミニウムまたはアルミニウム合金板、窒化アルミニウム板並びに放熱部品を同時に接合するための条件は、前記温度を下回る必要がある。Al−Mg−Cu系合金のCu量を10重量%程度に増やせば可能であるが、Al−Mg−Ge系合金ではGeを10重量%まで増やすと520℃でも接合することができ、一層好適である。あるいは、窒化アルミニウム基板より回路基板をあらかじめ製造し、それをAl/SiC複合材からなる放熱部品にAl−Mg−Ge系合金を用いて接合してもよい。
【0036】
本発明の基板一体型構造体は、Mgを含有する液相温度が500〜630℃のAl合金を接合材に用いることによって、その生産性を著しく高めることができる。その理由の一つは、接合が真空炉に限定されないことである。真空炉は元来高価なうえ、連続化が難しく、またバッチ炉では容積効率が悪い。大型炉にすると温度分布が生じ易く、高収率での生産は望めない。これに対し、従来のAl−Si系やAl−Ge系合金の接合材のかわりに、Al−Mg−Cu系合金やAl−Mg−Ge系合金を始めとする、Mgを含有する液相温度が500〜630℃のAl合金をを用いると、真空下でなくとも、N2、H2、不活性ガス及びこれらの混合ガスの低酸素雰囲気下で接合することができるので、炉構造が簡単になり、連続化も容易となる。更に、連続化によって、温度分布等の製品のバラツキ要因を低減させることができ、歩留まりよく、品質の安定した製品を製造することができるという効果を達することができる。
【0037】
また、本発明の基板一体型構造体を製造する際、放熱部品同士と窒化アルミニウム基板同士が隣り合うように積層して加熱することが好ましい。この理由は、放熱部品は回路基板よりも一般に熱膨張係数が大きいので、接合後の冷却によって回路基板側が凸形となりやすく、そのような変形を軽減させるためである。これは、Alが塑性変形の容易な材料である点を利用したものである。この場合において、放熱部品や窒化アルミニウム基板表面に存在するアルミニウム材同士の接着を避けるため、必要に応じてスペーサー材を介在させても良い。
【0038】
尚、本発明の基板一体型構造体の、アルミニウムまたはアルミニウム合金と窒化アルミニウム板との接合界面には、20nm以下の厚さのAl−Mg−O層が接合界面の一部もしくは全面に存在する。ここで、Al−Mg−O層は、Al、Mgと酸素を主成分とするアモルファス層である。Mgを含まない、もしくは少量しか含まないろう材を用いて接合した場合は、AlまたはAl合金と窒化アルミニウムの接合界面には、Al−O層が部分もしくは全面に存在し、この場合には信頼性の高い接合界面を得ることはできない。従って、このAl−Mg−O層が界面の接合に有用な働きをしていると予想される。
【0039】
更に、本発明の基板一体型構造体は、200℃以上、好ましくは300〜350℃程度の温度範囲で焼鈍することによって、窒化アルミニウム基板に残留しがちな熱応力を緩和することができる。
【0040】
【実施例】
以下、実施例と比較例に基づき、本発明を更に詳細に説明する。
【0041】
〔実施例1〜4、比較例1〜3〕
(1)窒化アルミニウム基板
市販の窒化アルミニウム粉にY2O3を表1に示す割合で混合し、有機バインダーと有機溶剤を加えて混練した後、ロール成形機によってシート状に成形した。これを裁断して離型材(BN粉)を塗布し、積層して1Paの減圧下、450℃で脱脂し、更に大気中で脱炭素した。各試料はN2雰囲気下で表1に示す焼成条件で焼結して、40mm×40mm×0.635mmの窒化アルミニウム基板を製造した。得られた窒化アルミニウム基板について、X線回折により助剤相の生成を調べるとともに、レーザーフラッシュ法により熱伝導率を求めた。それらの結果を表1に示す。
【0042】
【表1】
【0043】
(2)ヒートシンク及びAl回路
50mm×50mm×3mmのAl/SiC複合体(特願平9−288219号に準じて製造したもの)、又は50mm×50mm×10mmのAlブロックを用いた。また、Al回路は市販のAl材(純度≧99.99%)から、回路パターンを打ち抜いて用いた。
【0044】
(3)一体型構造体の作製
表2に示される接合材と、前記の窒化アルミニウム基板、放熱部品及びAl回路とを、図1のように積層した。これを炉外から油圧式の一軸加圧装置でカーボン製の押し棒を介して窒化アルミニウム基板面と垂直方向に加圧しながら加熱を行い、接合した。接合条件は、表3に示すとおりであり、4×10-3Paの真空中(バッチ炉)又はN2ガス中(連続炉)で行った。なお、比較例1では、窒化アルミニウム基板の表裏面にAl板(厚み0.4mm)を接合した後、共晶半田で放熱部品に接合した。
【0045】
【表2】
【0046】
【表3】
【0047】
(4)基板一体型構造体の評価
得られた回路基板一体型構造体について、その接合状態を超音波探傷装置(SAT)で観察し、直径1mm以上の未接合部又は1%以上の未接合面積部が確認できたものを接合不良とした。次に、各試料は、−40℃、30分→室温、10分→125℃、30分→室温、10分を1サイクルとして3000サイクルのヒートサイクルテストを行った後、外観観察して異常の有無を確認し、再びSATで接合状態を調べた。それらの結果を表4に示す。
【0048】
【表4】
【0049】
実施例、比較例から明らかなように、本発明の基板一体型造体では、いずれも良好な接合状態を示した。特に、実施例1、2、4では、簡易的な連続炉を用いたにも拘わらず、接合不良のない基板一体型構造体が得られている。これに対して、比較例1〜3では、ヒートサイクル後には不良品が多発している。
【0050】
【発明の効果】
本発明によれば、軽量にして放熱性に優れた高信頼性の基板一体型構造体が提供され、前記基板上に回路形成するのみで、軽量で放熱性に優れた回路基板が放熱部品に一体化された構造体を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例、比較例の基板一体型構造体を得るときの積層方法を説明する図。
【符号の説明】
1 カーボン製スペーサー
2 Al
3 接合材
4 窒化アルミニウム基板
5 接合材
6 放熱部品
Claims (2)
- 少なくとも一面にアルミニウムまたはアルミニウム合金板が接合された窒化アルミニウム基板と、炭化珪素質多孔体にAlを主成分とする金属を含浸してなる放熱部品とからなる基板一体型構造体の製造方法であって、前記窒化アルミニウム基板の表面のX線回折ピーク強度比が、2≦(Y 2 O 3 ・Al 2 O 3 /AlN)×100≦17、かつ(2Y 2 O 3 ・Al 2 O 3 /AlN)×100≦2であり、前記放熱部品が、炭化珪素を40〜70体積%で残部がSiを4〜14重量%含むアルミニウム合金からなり、熱伝導率が160W/mK以上であるアルミニウム−炭化珪素複合体で、かつ、前記放熱部品の主面に前記Alを主成分とする金属層が厚さ10μm以上設けられていることを特徴とし、前記アルミニウムまたはアルミニウム合金板と前記放熱部品とが、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が500〜630℃であるAl合金を介して、N 2 、H 2 、不活性ガス及びこれらの混合ガスの低酸素雰囲気下で接合されることを特徴とする接合処理の連続化が可能な基板一体型構造体の製造方法。
- 放熱部品同士と窒化アルミニウム基板同士が隣り合うように積層して加熱することを特徴とする請求項1項記載の基板一体型構造体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21179499A JP4104253B2 (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | 基板一体型構造体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21179499A JP4104253B2 (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | 基板一体型構造体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001044345A JP2001044345A (ja) | 2001-02-16 |
JP4104253B2 true JP4104253B2 (ja) | 2008-06-18 |
Family
ID=16611727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21179499A Expired - Fee Related JP4104253B2 (ja) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | 基板一体型構造体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4104253B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4674999B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2011-04-20 | 電気化学工業株式会社 | 一体型セラミックス回路基板製造方法 |
JP2002334959A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Denki Kagaku Kogyo Kk | モジュール構造体 |
JP4543275B2 (ja) * | 2004-03-08 | 2010-09-15 | Dowaメタルテック株式会社 | アルミニウム−セラミックス接合基板およびその製造方法 |
JP6102271B2 (ja) * | 2013-01-17 | 2017-03-29 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6024477B2 (ja) * | 2013-01-25 | 2016-11-16 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6020256B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2016-11-02 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6287216B2 (ja) * | 2014-01-08 | 2018-03-07 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP5949817B2 (ja) * | 2014-03-20 | 2016-07-13 | 三菱マテリアル株式会社 | パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6656657B2 (ja) | 2015-11-06 | 2020-03-04 | 三菱マテリアル株式会社 | セラミックス/アルミニウム接合体、パワーモジュール用基板、及び、パワーモジュール |
JP6531644B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2019-06-19 | 三菱マテリアル株式会社 | 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、接合体及びヒートシンク付パワーモジュール用基板 |
JP6572810B2 (ja) * | 2016-03-15 | 2019-09-11 | 三菱マテリアル株式会社 | 接合体の製造方法、及び、パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6680144B2 (ja) * | 2016-08-24 | 2020-04-15 | 三菱マテリアル株式会社 | セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6658400B2 (ja) * | 2016-08-24 | 2020-03-04 | 三菱マテリアル株式会社 | セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6973158B2 (ja) * | 2018-02-19 | 2021-11-24 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
JP6973218B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2021-11-24 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法 |
-
1999
- 1999-07-27 JP JP21179499A patent/JP4104253B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001044345A (ja) | 2001-02-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041201 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051114 |
|
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061024 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20061212 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20070112 |
|
A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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