[go: up one dir, main page]

JP4030946B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

Substrate processing equipment Download PDF

Info

Publication number
JP4030946B2
JP4030946B2 JP2003335724A JP2003335724A JP4030946B2 JP 4030946 B2 JP4030946 B2 JP 4030946B2 JP 2003335724 A JP2003335724 A JP 2003335724A JP 2003335724 A JP2003335724 A JP 2003335724A JP 4030946 B2 JP4030946 B2 JP 4030946B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
posture
processing apparatus
substrates
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003335724A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004088115A (en
Inventor
一郎 光▲吉▼
修治 長良
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd, Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP2003335724A priority Critical patent/JP4030946B2/en
Publication of JP2004088115A publication Critical patent/JP2004088115A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4030946B2 publication Critical patent/JP4030946B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板(以下「基板」という)に所定の処理を施す基板処理装置であって、基板の姿勢を変換する機構を備える基板処理装置に関する。   The present invention is a substrate processing apparatus for performing predetermined processing on a substrate (hereinafter referred to as “substrate”) such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk. The present invention relates to a substrate processing apparatus including a conversion mechanism.

従来、複数の基板に対する処理を行うため、搬送キャリアに収納された複数の基板を搬入して処理を行った後、基板を搬出する基板処理装置が存在する。このような基板処理装置においては、直線的に配列された各処理部において基板処理が順次行われる。そして、これらの基板処理装置においては、複数の基板はそれぞれが垂直姿勢とされ、さらにお互いが平行に配列されて保持された状態において基板に対する処理が行われる。   2. Description of the Related Art Conventionally, in order to perform processing on a plurality of substrates, there is a substrate processing apparatus that carries out processing after loading a plurality of substrates accommodated in a transport carrier and then unloading the substrates. In such a substrate processing apparatus, substrate processing is sequentially performed in each processing unit arranged linearly. In these substrate processing apparatuses, the substrates are processed in a state where each of the plurality of substrates is in a vertical posture and further arranged and held in parallel with each other.

従来の搬送キャリア内においては、基板処理装置での処理時と同様、複数の基板はそれぞれが垂直姿勢で互いに平行配列された状態において搬送されていたため、搬入時および搬出時には特に姿勢を変換する必要はなかった。   In the conventional carrier, as in the case of processing in the substrate processing apparatus, the plurality of substrates are transported in a state of being arranged in parallel with each other in a vertical posture, so it is particularly necessary to change the posture at the time of carry-in and carry-out. There was no.

しかしながら、近年の基板サイズの増大によって、基板の搬送時においては水平姿勢で搬送することが多くなってきた。これは、垂直姿勢で搬送すると、基板が搬送キャリア内で揺動することによって基板同士が接触・衝突し、汚染物資の発生原因となることがあったためである。   However, due to the recent increase in substrate size, the substrate is often transported in a horizontal posture during transport. This is because if the substrates are transported in a vertical posture, the substrates swing and move in the transport carrier, causing the substrates to contact and collide with each other, resulting in generation of contaminants.

一方、基板処理装置においては、その内部で行われる処理の都合上、垂直姿勢で保持されることが好ましい。そのため、複数の基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換することが必要になる。   On the other hand, in the substrate processing apparatus, it is preferable that the substrate processing apparatus is held in a vertical posture for the convenience of processing performed therein. Therefore, it is necessary to convert the postures of the plurality of substrates between the horizontal posture and the vertical posture.

しかしながら、直線的に配列された複数の処理部の延長上にこのような姿勢変換を行う装置を併置するだけでは、基板処理装置の配列方向の長さが大きくなってしまう。したがって、フットプリントの増大を招くことになり、クリーンルームのスペースの有効利用を図ることができないという問題を有する。   However, the length in the arrangement direction of the substrate processing apparatus is increased only by arranging the apparatus for performing such posture change on the extension of the plurality of processing units arranged linearly. Therefore, the footprint is increased, and there is a problem that the effective use of the clean room space cannot be achieved.

また、上述のような姿勢変換を行う場合において、基板処理前に基板に付着していた汚染物が基板処理が施された基板に付着するという問題も想定される。   Further, in the case of performing the posture change as described above, there is a problem that contaminants attached to the substrate before the substrate processing adhere to the substrate that has been subjected to the substrate processing.

そこで、本発明は前記問題点に鑑み、基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換する姿勢変換機構を備えた基板処理装置であって、コンパクトな基板処理装置を提供することを第1の課題とする。   Accordingly, in view of the above problems, the present invention provides a substrate processing apparatus having a posture conversion mechanism that converts the posture of a substrate between a horizontal posture and a vertical posture, and provides a compact substrate processing device. Let it be 1 issue.

また、本発明は、基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換する姿勢変換機構を備えた基板処理装置であって、基板処理前に基板に付着していた汚染物が基板処理が施された基板に付着することがない基板処理装置を提供することを第2の課題とする。   The present invention is also a substrate processing apparatus having a posture changing mechanism for changing the posture of a substrate between a horizontal posture and a vertical posture, and contaminants attached to the substrate before the substrate processing are processed by the substrate processing. It is a second object to provide a substrate processing apparatus that does not adhere to a given substrate.

記課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、基板に対して所定の処理を行う基板処理装置であって、複数の処理部の直線的配列として構成され、基板に一連の処理を順次に行うための処理部列と、基板を水平姿勢で待機させる基板待機部と、基板を垂直姿勢の状態で前記処理部列に沿って搬送する搬送手段と、前記搬送手段と前記基板待機部との間で前記基板を受け渡す受渡し部と、を備え、前記基板待機部は、複数の基板を収納するキャリアを載置するキャリア載置部を有し、前記受渡し部は、基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換する姿勢変換手段と、水平姿勢の複数の基板を前記キャリアと前記姿勢変換手段との間で搬送する水平移載ロボットと、垂直姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で搬送する移載手段とを有し、前記姿勢変換手段は、基板処理前の基板を保持する第1の複数の保持溝と基板処理後の基板を保持する第2の複数の保持溝とが設けられた一対の保持機構を有し、前記第1または第2の複数の保持溝を選択的に用いて基板の姿勢を変換することを特徴とする。 To solve the above Symbol challenges, the invention according to claim 1, a substrate processing apparatus that performs predetermined processing on a substrate, is configured as a linear array of a plurality of processing units, a series on the substrate A processing unit row for sequentially performing processing, a substrate standby unit for waiting the substrate in a horizontal posture, a transport unit for transporting the substrate along the processing unit row in a vertical posture, the transport unit, and the substrate A delivery unit that delivers the substrate to and from the standby unit, and the substrate standby unit includes a carrier placement unit that places a carrier that houses a plurality of substrates, and the delivery unit is configured to Posture changing means for changing the posture between a horizontal posture and a vertical posture, a horizontal transfer robot for transferring a plurality of substrates in a horizontal posture between the carrier and the posture changing means, and a plurality of substrates in a vertical posture Is carried between the posture changing means and the conveying means. And a transfer means for said posture changing means is provided with a second plurality of holding grooves for holding the first plurality of retaining grooves and the substrate after the substrate by keeping the substrate before the substrate processing It has a pair of holding mechanism, the first or second plurality of retaining grooves by selectively using and converting the posture of the substrate.

請求項2に記載の発明は、基板に対して所定の処理を行う基板処理装置であって、複数の処理部の直線的配列として構成され、基板に一連の処理を順次に行うための処理部列と、基板を水平姿勢で待機させる基板待機部と、基板を垂直姿勢の状態で前記処理部列に沿って搬送する搬送手段と、前記搬送手段と前記基板待機部との間で前記基板を受け渡す受渡し部と、を備え、前記基板待機部は、複数の基板を収納するキャリアを載置するキャリア載置部を有し、前記受渡し部は、基板の姿勢を変換する姿勢変換手段と、水平姿勢の複数の基板を前記キャリアと前記姿勢変換手段との間で搬送する水平移載ロボットと、垂直姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で搬送する移載手段とを有し、前記姿勢変換手段は、前記水平移載ロボットと前記移載手段との間に位置し、前記水平移載ロボットと前記移載手段との間で前記複数の基板の受け渡しをするとともに、前記複数の基板を水平姿勢と垂直姿勢との間で姿勢変換するものであり、かつ、基板処理前の基板を保持する第1の複数の保持溝と基板処理後の基板を保持する第2の複数の保持溝とが設けられた一対の保持機構を有し、前記第1または第2の複数の保持溝を選択的に用いて基板の姿勢を変換することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項2の発明に係る基板処理装置であって、前記複数の処理部の前記直線的配列の方向を第1の方向とするとき、前記キャリアと前記水平移載ロボットとの間の基板の受け渡しが前記第1の方向と略並行な方向において行われ、水平移載ロボットと前記姿勢変換手段との間、前記姿勢変換手段と前記移載手段との間、および前記移載手段と前記搬送手段との間における一連の基板の受け渡しが前記第1の方向と略直交する第2の方向において行われる、ことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記水平移載ロボットと前記姿勢変換手段との間の前記複数の基板の移載を一括して行うことを特徴とする。
The invention according to claim 2 is a substrate processing apparatus that performs a predetermined process on a substrate, and is configured as a linear array of a plurality of processing units, and a processing unit for sequentially performing a series of processes on a substrate A substrate, a substrate standby unit that waits the substrate in a horizontal posture, a transport unit that transports the substrate along the processing unit row in a vertical posture, and the substrate between the transport unit and the substrate standby unit. A transfer unit, and the substrate standby unit includes a carrier mounting unit that mounts a carrier that stores a plurality of substrates, and the transfer unit converts the posture of the substrate, and A horizontal transfer robot for transferring a plurality of substrates in a horizontal posture between the carrier and the posture changing means, and a transfer means for transferring a plurality of substrates in a vertical posture between the posture changing means and the transfer means. And the posture changing means includes the water It is located between the transfer robot and the transfer means, transfers the plurality of substrates between the horizontal transfer robot and the transfer means, and sets the plurality of substrates to a horizontal posture and a vertical posture. A pair of first plurality of holding grooves for holding the substrate before substrate processing and a plurality of second holding grooves for holding the substrate after substrate processing are provided. A holding mechanism is provided, and the posture of the substrate is converted by selectively using the first or second plurality of holding grooves .
A third aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the second aspect of the present invention, wherein when the direction of the linear arrangement of the plurality of processing units is a first direction, the carrier and the horizontal transfer are performed. The substrate is transferred to and from the loading robot in a direction substantially parallel to the first direction, between the horizontal transfer robot and the posture changing means, between the posture changing means and the transferring means, The transfer of the series of substrates between the transfer means and the transport means is performed in a second direction substantially orthogonal to the first direction.
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the substrate processing apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the plurality of substrates are transferred between the horizontal transfer robot and the posture changing means. It is characterized by carrying out loading collectively.

請求項に記載の発明は、請求項1から請求項4のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記水平移載ロボットは、水平姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段との間で搬送する際に、前記姿勢変換手段に対して水平方向に移動することを特徴とする。 A fifth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects , wherein the horizontal transfer robot transmits a plurality of horizontal postures to the posture changing means. It is characterized by moving in the horizontal direction with respect to the posture changing means when transporting between the two.

請求項に記載の発明は、請求項1から請求項5のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記移載手段は、前記姿勢変換手段に対して水平方向及び上下方向に移動可能であることを特徴とする。 A sixth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to any one of the first to fifth aspects of the present invention, wherein the transfer means moves in a horizontal direction and a vertical direction with respect to the posture changing means. It is possible.

請求項に記載の発明は、請求項1から請求項5のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記移載手段は、前記姿勢変換手段に対して水平方向及び上下方向に移動可能であるとともに、鉛直軸まわりに回転可能であることを特徴とする。 A seventh aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to any one of the first to fifth aspects , wherein the transfer means moves in a horizontal direction and a vertical direction with respect to the posture changing means. It is possible to rotate around a vertical axis.

請求項に記載の発明は、請求項から請求項のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記移載手段は、前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で、水平方向に移動可能であることを特徴とする。 The invention according to an eighth aspect is the substrate processing apparatus according to any one of the first to seventh aspects, wherein the transfer means is arranged between the posture changing means and the transport means. It is possible to move in the direction.

請求項に記載の発明は、請求項から請求項のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記移載手段の溝の間隔は、前記姿勢変換手段の前記保持機構の保持溝の間隔の半分であることを特徴とする。 A ninth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to any one of the first to eighth aspects of the present invention, wherein the groove interval of the transfer means is determined by the holding mechanism of the posture changing means. It is characterized by being half of the interval between the grooves.

求項10に記載の発明は、請求項1から請求項のいずれかの発明に係る基板処理装置であって、前記受渡し部が、前記処理部列における列方向の側方に配置されていることを特徴とする。 The invention described in Motomeko 10 is a substrate processing apparatus according to any one of the claims 1 to 9, wherein the delivery portion is disposed on the side of the column direction in the processing unit sequence It is characterized by being.

請求項1ないし請求項10に記載の発明によれば、一対の保持機構には、基板処理前の基板を保持する第1の複数の保持溝と基板処理後の基板を保持する第2の複数の保持溝とが設けられ、前記第1または第2の複数の保持溝を選択的に用いて基板の姿勢を変換することができるようになっているので、基板処理前後において基板を保持する保持溝を切り換えることによって、基板処理前に基板に付着していた汚染物が基板処理が施された基板に付着することを防止できる。 According to the invention described in claims 1 to 10, the pair of holding mechanisms, the second plurality of holding a first plurality of retention grooves and the substrate after the substrate by keeping the substrate before the substrate treatment And holding the substrate before and after the substrate processing since the posture of the substrate can be changed by selectively using the first or second plurality of holding grooves. By switching the grooves, it is possible to prevent contaminants attached to the substrate before the substrate processing from attaching to the substrate that has been subjected to the substrate processing.

また特に、請求項10に記載の発明によれば、複数の処理部の直線的配列として構成される処理部列の側方に、基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換する姿勢変換手段を有する受渡し部が配置されている。したがって、基板処理装置をコンパクトにすることができ、クリーンルーム内のスペースを有効に利用することができる。 In particular, according to the tenth aspect of the present invention, the posture of converting the posture of the substrate between the horizontal posture and the vertical posture on the side of the processing unit row configured as a linear arrangement of a plurality of processing units. A delivery unit having conversion means is arranged. Therefore, the substrate processing apparatus can be made compact, and the space in the clean room can be used effectively.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<A.第1実施形態>
<装置の概要>
図1、図2、および図3は、本実施形態の基板処理装置1を示す図であり、これらの図を参照して装置の概要を説明する。図1は、本実施形態の基板処理装置1の構成を示す平面図であり、図2は基板処理装置1の一部の構成を示す斜視図である。また、図3は、矢印AP(図2参照)の方向から見た基板処理装置1の内部構成を示す側面図である。
<A. First Embodiment>
<Outline of device>
1, 2, and 3 are views showing a substrate processing apparatus 1 of the present embodiment, and an outline of the apparatus will be described with reference to these drawings. FIG. 1 is a plan view showing a configuration of the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment, and FIG. 2 is a perspective view showing a partial configuration of the substrate processing apparatus 1. FIG. 3 is a side view showing the internal configuration of the substrate processing apparatus 1 as seen from the direction of the arrow AP (see FIG. 2).

これらの図に示すように、基板処理装置1は、キャリア載置部100、水平移載ロボット200、姿勢変換機構300、プッシャ400、搬送機構500、および基板処理部600を備える。   As shown in these drawings, the substrate processing apparatus 1 includes a carrier mounting unit 100, a horizontal transfer robot 200, a posture changing mechanism 300, a pusher 400, a transport mechanism 500, and a substrate processing unit 600.

キャリア載置部100には、複数の基板Wを収納するキャリアCが載置され、基板処理装置1の外部との間で、キャリアCに収納された基板Wの搬入および搬出を行う。なお、このときこれら複数の基板WはキャリアC内において、水平姿勢において保持されている。   A carrier C that stores a plurality of substrates W is mounted on the carrier mounting unit 100, and the substrate W stored in the carrier C is carried into and out of the substrate processing apparatus 1. At this time, the plurality of substrates W are held in a horizontal position in the carrier C.

水平移載ロボット200は多関節型の搬送ロボットであり、基台210内部に連通する昇降軸220と、基台210上方において昇降軸220上端にその一端が連結された第1アーム230と、第1アーム230他端にその一端が連結された第2アーム240と、第2アーム240の他端に連結された基板支持ハンド250とを備えており、各部はそれぞれ図示しない内部の駆動機構により以下のように駆動される。   The horizontal transfer robot 200 is an articulated transfer robot, and includes a lift shaft 220 communicating with the inside of the base 210, a first arm 230 having one end connected to the upper end of the lift shaft 220 above the base 210, Each arm 230 includes a second arm 240 having one end connected to the other end of the arm 230, and a substrate support hand 250 connected to the other end of the second arm 240. It is driven like this.

図2に示すように昇降軸220は鉛直方向(Z方向)に昇降自在となっており、さらに、第1アーム230は昇降軸220との連結部分における回動軸A1の周りのほぼ水平面内において任意の角度で回動(旋回)可能となっている。同様に、第2アーム240は第1アーム230との連結部分における回動軸A2の周り、基板支持ハンド250は第2アーム240との連結部分における回動軸A3の周りのほぼ水平面内において、それぞれ任意の角度で回動(旋回)可能となっている。そして、このような機構により水平移載ロボット200は、基板支持ハンド250で基板Wを保持しつつ所定範囲の3次元空間内で移動自在となっており、キャリア載置部100に載置されたキャリアCと姿勢変換機構300との間で基板Wを搬送する。   As shown in FIG. 2, the elevating shaft 220 is movable up and down in the vertical direction (Z direction), and the first arm 230 is substantially in a horizontal plane around the rotation axis A <b> 1 at the connecting portion with the elevating shaft 220. It can be rotated (turned) at any angle. Similarly, the second arm 240 is around the rotation axis A2 at the connection portion with the first arm 230, and the substrate support hand 250 is substantially in the horizontal plane around the rotation axis A3 at the connection portion with the second arm 240. Each can be rotated (turned) at an arbitrary angle. By such a mechanism, the horizontal transfer robot 200 is movable in a three-dimensional space within a predetermined range while holding the substrate W by the substrate support hand 250, and is placed on the carrier platform 100. The substrate W is transported between the carrier C and the posture changing mechanism 300.

姿勢変換機構300は、支持台305、ベース310、回動台320、基板を保持するための一対の第1保持機構330および一対の第2保持機構340、第1整列装置350、第2整列装置360を有している。回動台320は、軸A30を中心にして矢印AR30(図3参照)が示す方向に回転することが可能であり、図3中において実線で示す姿勢P1と二点鎖線で示す姿勢P2をとることが可能である。また第1保持機構330および第2保持機構340は回動台320と連動して回転する。したがって回動台320を回転させることにより、姿勢変換機構300は、第1保持機構330および第2保持機構340に保持された複数の基板Wの姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換することができる。   The posture changing mechanism 300 includes a support base 305, a base 310, a rotating base 320, a pair of first holding mechanisms 330 and a pair of second holding mechanisms 340 for holding a substrate, a first alignment device 350, and a second alignment device. 360. The turntable 320 can rotate about the axis A30 in the direction indicated by the arrow AR30 (see FIG. 3), and takes a posture P1 indicated by a solid line and a posture P2 indicated by a two-dot chain line in FIG. It is possible. Further, the first holding mechanism 330 and the second holding mechanism 340 rotate in conjunction with the turntable 320. Therefore, by rotating the turntable 320, the posture conversion mechanism 300 converts the postures of the plurality of substrates W held by the first holding mechanism 330 and the second holding mechanism 340 between a horizontal posture and a vertical posture. be able to.

プッシャ400は、ベース410、Y方向可動部420、Z方向可動部430、ホルダ440を有する。Y方向可動部420は、ベース410に設けられる図示しないモータ、ボールねじ、レールなどによって駆動され、ベース410に対して矢印AR42のように水平方向(Y方向)に所定の範囲を直線運動する。Z方向可動部430は、Y方向可動部420に設けられる図示しないモータ、ボールねじ、レールによって駆動され、Y方向可動部420に対して矢印AR40のように鉛直方向(Z方向)に所定の範囲を直線運動する。また、ホルダ440は、Z方向可動部430の上部に設けられ、垂直姿勢を有する基板を保持することができ、Z方向可動部430の上下移動により、姿勢P3、P4をとり得る。このような機構を用いることによって、プッシャ400は、垂直姿勢を有する複数の基板Wを姿勢変換機構300と搬送機構500との間で搬送することができる。またプッシャ400は、その上下移動によって、姿勢変換機構300および搬送機構500のそれぞれとの間で、垂直姿勢を有する複数の基板Wの受け渡しを行うことが可能である。   The pusher 400 includes a base 410, a Y direction movable part 420, a Z direction movable part 430, and a holder 440. The Y-direction movable unit 420 is driven by a motor, a ball screw, a rail, or the like (not shown) provided on the base 410 and linearly moves in a predetermined range in the horizontal direction (Y direction) with respect to the base 410 as indicated by an arrow AR42. The Z direction movable portion 430 is driven by a motor, a ball screw, and a rail (not shown) provided in the Y direction movable portion 420, and is in a predetermined range in the vertical direction (Z direction) with respect to the Y direction movable portion 420 as indicated by an arrow AR40. Make a linear motion. Moreover, the holder 440 is provided on the upper part of the Z direction movable part 430, can hold a substrate having a vertical attitude, and can take the attitudes P3 and P4 by the vertical movement of the Z direction movable part 430. By using such a mechanism, the pusher 400 can transport a plurality of substrates W having a vertical posture between the posture changing mechanism 300 and the transport mechanism 500. Further, the pusher 400 can transfer a plurality of substrates W having a vertical posture to and from the posture changing mechanism 300 and the transport mechanism 500 by moving up and down.

搬送機構500は、水平移動及び昇降移動が可能な搬送ロボット510を備える。また、搬送機構500は、垂直姿勢を有する複数の基板Wを挟持するための一対の挟持機構520を備えている。挟持機構520のそれぞれは、支持部522、524を有しており、支持部522、524のそれぞれは、複数の基板を支持するための複数の溝GVを有している。また挟持機構520は、図2の矢印ARの向きに回動することによって、基板Wを支持したり、基板Wの支持を解除したりすることができる。このような構成を有する搬送機構500は、プッシャ400との間で基板の授受を行う。また処理部に設けられているリフタ550およびリフタ560のそれぞれとの間での基板の授受を行うこともできる。搬送機構500は、洗浄処理前、洗浄処理中及び洗浄処理後の基板を一箇所から別の箇所に搬送したり移載したりする。   The transport mechanism 500 includes a transport robot 510 that can move horizontally and move up and down. Further, the transport mechanism 500 includes a pair of clamping mechanisms 520 for clamping a plurality of substrates W having a vertical posture. Each of the clamping mechanisms 520 has support parts 522 and 524, and each of the support parts 522 and 524 has a plurality of grooves GV for supporting a plurality of substrates. The pinching mechanism 520 can support the substrate W or release the support of the substrate W by rotating in the direction of the arrow AR in FIG. The transport mechanism 500 having such a configuration exchanges substrates with the pusher 400. In addition, the substrate can be exchanged with each of the lifter 550 and the lifter 560 provided in the processing unit. The transport mechanism 500 transports or transfers the substrate before the cleaning process, during the cleaning process, and after the cleaning process from one place to another.

基板処理部600は、一対の挟持機構520を洗浄するための洗浄槽612a、612bを有する搬送機構水洗処理部610と、薬液を収容する薬液槽CBを有する薬液処理部620、640と、純水を収容する水洗槽WBを有する水洗処理部630、650と、乾燥処理部660とを備える。なお、搬送機構水洗処理部610は、厳密には基板を処理するものではないが、便宜上、基板処理に付随する処理を行うものとして基板処理部600の1つとして扱う。   The substrate processing unit 600 includes a transport mechanism water washing processing unit 610 having cleaning tanks 612a and 612b for cleaning the pair of clamping mechanisms 520, a chemical processing unit 620 and 640 having a chemical tank CB for storing chemicals, and pure water. The water-washing processing units 630 and 650 having the water-washing tank WB for storing the water and the drying processing unit 660 are provided. Although the transport mechanism rinsing processing unit 610 does not strictly process the substrate, it is handled as one of the substrate processing units 600 for performing processing associated with the substrate processing for convenience.

またこれらの複数の処理部はX方向に直線的に配列されており、この直線的配列の側方には前述の搬送機構500が設けられている。搬送機構500は、直線的配列方向に移動することが可能であり、前述のような各処理部の相互間において基板の搬送を行う。   The plurality of processing units are linearly arranged in the X direction, and the above-described transport mechanism 500 is provided on the side of the linear array. The transport mechanism 500 can move in a linear arrangement direction, and transports a substrate between the processing units as described above.

さらに薬液処理部620及び水洗処理部630の後方側には、リフタ550が配置されている。リフタ550は、上下動(Z方向)および横行(X方向)が可能であり、搬送機構500から受け取った基板を薬液処理部620の薬液槽CBに浸漬したり、水洗処理部630の水洗槽WBに浸漬したりする。また、同様に、薬液処理部640及び水洗処理部650の後方側には、リフタ560が配置されている。リフタ560は、上下動(Z方向)および横行(X方向)が可能であり、搬送機構500から受け取った基板を薬液処理部640の薬液槽CBに浸漬したり、水洗処理部650の水洗槽WBに浸漬したりする。このような機構によって、これらの処理部において薬液処理および水洗処理が行われ得る。   Further, a lifter 550 is disposed on the rear side of the chemical solution processing unit 620 and the water washing processing unit 630. The lifter 550 can move up and down (Z direction) and traverse (X direction), so that the substrate received from the transport mechanism 500 is immersed in the chemical bath CB of the chemical treatment section 620, or the water washing tank WB of the washing section 630. Or soak in. Similarly, a lifter 560 is disposed on the rear side of the chemical solution processing unit 640 and the water washing processing unit 650. The lifter 560 can move up and down (Z direction) and traverse (X direction), so that the substrate received from the transport mechanism 500 is immersed in the chemical bath CB of the chemical treatment section 640, or the washing tank WB of the water treatment section 650. Or soak in. With such a mechanism, chemical treatment and water washing treatment can be performed in these treatment units.

また、上記の各処理の制御および各駆動機構などの制御は、制御部CLによって行われる。   The control of each process and the control of each drive mechanism are performed by the controller CL.

<基板処理の一例>
次に、このような基板処理装置1による処理手順の一例を説明する。
<Example of substrate processing>
Next, an example of a processing procedure performed by the substrate processing apparatus 1 will be described.

基板処理装置1において処理を行う複数の基板Wは、キャリアC内において水平に収納された状態で、キャリア載置部100に搬入されて載置される。水平移載ロボット200は、キャリア内に収納されている複数の基板を同時に取り出し、姿勢P1(図3参照)の姿勢変換機構300に受け渡す。次に、姿勢変換機構300は、水平の軸A30まわりに回動台320を90度回転して姿勢P2(図3参照)となり、水平姿勢で受け取った複数の基板Wを垂直姿勢に変換する。   A plurality of substrates W to be processed in the substrate processing apparatus 1 are loaded into and placed on the carrier placement unit 100 in a state of being horizontally stored in the carrier C. The horizontal transfer robot 200 simultaneously takes out a plurality of substrates stored in the carrier and transfers them to the posture changing mechanism 300 in the posture P1 (see FIG. 3). Next, the posture conversion mechanism 300 rotates the turntable 320 about the horizontal axis A30 by 90 degrees to become a posture P2 (see FIG. 3), and converts the plurality of substrates W received in the horizontal posture into a vertical posture.

位置P3(図3参照)に待機していたプッシャ400は、位置P4の方向へ上昇し、この上昇時に垂直姿勢の基板を受け取る。さらにプッシャ400は、Y方向を正の向きに移動して、Z方向可動部430の一部を洗浄槽612a、612bの間の空隙部614に進入させることによって、複数の基板を搬送機構水洗処理部610の上方へと搬送する。そして搬送機構500は、挟持機構520を用いることによって、垂直姿勢を有する複数の基板をプッシャ400から受け取って把持する。   The pusher 400 that has been waiting at the position P3 (see FIG. 3) rises in the direction of the position P4, and receives the substrate in the vertical posture at the time of the ascent. Further, the pusher 400 moves the Y direction in the positive direction and causes a part of the Z direction movable portion 430 to enter the gap portion 614 between the cleaning tanks 612a and 612b, thereby transferring the plurality of substrates to the transport mechanism water washing process. It conveys above the part 610. The transport mechanism 500 uses the clamping mechanism 520 to receive and hold a plurality of substrates having a vertical posture from the pusher 400.

さらに、薬液処理部620、水洗処理部630、薬液処理部640、水洗処理部650、乾燥処理部660の順序で所定の処理を基板に対して行う場合を想定して説明を続ける。   Further, the description will be continued on the assumption that a predetermined process is performed on the substrate in the order of the chemical processing unit 620, the water processing unit 630, the chemical processing unit 640, the water processing unit 650, and the drying processing unit 660.

搬送ロボット510は、X方向を正の向きに移動して、薬液処理部620の上方に複数の基板を搬送し、リフタ550に複数の基板を移載する。基板を受け取ったリフタ550は下降して、基板を薬液槽CBに浸漬する。そして、基板に対して所定の薬液処理が行われる。   The transfer robot 510 moves the X direction in the positive direction, transfers a plurality of substrates above the chemical solution processing unit 620, and transfers the plurality of substrates to the lifter 550. The lifter 550 that has received the substrate descends and immerses the substrate in the chemical bath CB. Then, a predetermined chemical process is performed on the substrate.

一方、搬送ロボット510は、移載終了後、X方向を負の向きに搬送機構水洗処理部610にまで移動する。さらに搬送ロボット510は、下降(Z方向の負の向きに移動)することによって、一対の挟持機構520のそれぞれを洗浄槽612a、612bに浸漬して洗浄する。挟持機構520は、薬液処理部620上方において薬液雰囲気によって汚染されることがあるなどのため、洗浄することが好ましいからである。   On the other hand, after the transfer is completed, the transfer robot 510 moves to the transfer mechanism water washing processing unit 610 in the negative X direction. Further, the transport robot 510 descends (moves in the negative direction of the Z direction) to immerse and clean the pair of clamping mechanisms 520 in the cleaning tanks 612a and 612b, respectively. This is because the clamping mechanism 520 is preferably cleaned because it may be contaminated by the chemical atmosphere above the chemical treatment section 620.

また薬液処理部620において基板に対して所定の薬液処理が行われた後、リフタ550は上昇し、さらに水洗処理部630へとX方向を負の向きに移動する。水洗処理部630において純水による水洗処理を行うため、リフタ550は下降して、水洗槽WBに基板を浸漬する。   In addition, after a predetermined chemical processing is performed on the substrate in the chemical processing unit 620, the lifter 550 is lifted and further moved to the water washing processing unit 630 in the negative X direction. In order to perform a rinsing process with pure water in the rinsing unit 630, the lifter 550 descends and immerses the substrate in the rinsing tank WB.

搬送ロボット510は、前述の挟持機構520の洗浄処理を終えた後、水洗処理部630へと移動する。基板に対する次の処理を薬液処理部640において行うために、基板をリフタ550から受け取るためである。搬送ロボット510は、リフタ550から基板を受け取ったのち、薬液処理部640の位置にまでX方向を負の向きに移動する。そして、薬液処理部640の位置において待機するリフタ560に対して、基板を受け渡す。基板を受け取ったリフタ560は下降して、薬液処理部640の薬液槽CBに基板を浸漬して所定の薬液処理を行う。   The transfer robot 510 moves to the water washing processing unit 630 after finishing the washing process of the holding mechanism 520 described above. This is because the substrate is received from the lifter 550 so that the chemical processing unit 640 performs the next processing on the substrate. After receiving the substrate from the lifter 550, the transfer robot 510 moves the X direction in the negative direction to the position of the chemical processing unit 640. Then, the substrate is delivered to the lifter 560 that stands by at the position of the chemical processing unit 640. The lifter 560 that has received the substrate descends and immerses the substrate in the chemical bath CB of the chemical processing unit 640 to perform a predetermined chemical processing.

そして、上記と同様にして、薬液処理部640および水洗処理部650における基板に対する所定の処理と、搬送機構水洗処理部610における挟持機構520に対する洗浄処理とが行われる。   Then, in the same manner as described above, a predetermined process for the substrate in the chemical solution processing unit 640 and the water washing processing unit 650 and a cleaning process for the clamping mechanism 520 in the transport mechanism water washing processing unit 610 are performed.

搬送ロボット510は、水洗処理部650において、リフタ560から基板を受け取り、乾燥処理部660に移動して乾燥処理を行う。乾燥処理が終了した後、搬送機構500は、基板を搬送機構水洗処理部610の上方へと搬送する。   The transfer robot 510 receives the substrate from the lifter 560 in the water washing processing unit 650, moves to the drying processing unit 660, and performs a drying process. After the drying process is completed, the transport mechanism 500 transports the substrate to above the transport mechanism washing unit 610.

以上のようにして、基板処理部600における処理が行われる。   As described above, the processing in the substrate processing unit 600 is performed.

基板処理部600において所定の一連の処理が施された複数の基板Wは、搬送機構水洗処理部610の上方において搬送機構500からプッシャ400へと受け渡された後、姿勢変換機構300に移載される。姿勢変換機構300は、垂直姿勢から水平姿勢へと基板の姿勢を変換する。さらに水平移載ロボット200は、水平姿勢で保持される複数の基板を、キャリア載置部100に載置されるキャリアCの内部に収納する。そして、これらの複数の基板は、キャリアCと共に基板処理装置1の外部に搬出される。   The plurality of substrates W that have been subjected to a predetermined series of processing in the substrate processing unit 600 are transferred from the transport mechanism 500 to the pusher 400 above the transport mechanism water washing processing unit 610 and then transferred to the posture changing mechanism 300. Is done. The posture conversion mechanism 300 converts the posture of the substrate from a vertical posture to a horizontal posture. Further, the horizontal transfer robot 200 stores a plurality of substrates held in a horizontal posture inside the carrier C mounted on the carrier mounting unit 100. Then, the plurality of substrates are carried out of the substrate processing apparatus 1 together with the carrier C.

<姿勢変換機構>
次に、姿勢変換機構300の構造および姿勢変換機構300を利用した姿勢変換に関して詳細な説明を進めていく。
<Attitude change mechanism>
Next, a detailed description will be given regarding the structure of the posture conversion mechanism 300 and the posture conversion using the posture conversion mechanism 300.

まず、姿勢変換機構300の構造について詳細に説明する。   First, the structure of the posture changing mechanism 300 will be described in detail.

図4および図5は、姿勢変換機構300の構造を示す図である。図4は、YZ平面に平行な面における概略断面図であり、図5は、XZ平面に平行な面における概略断面図である。   4 and 5 are diagrams showing the structure of the posture changing mechanism 300. FIG. 4 is a schematic sectional view in a plane parallel to the YZ plane, and FIG. 5 is a schematic sectional view in a plane parallel to the XZ plane.

図4および図5に示すように、姿勢変換機構300は、支持台305(図2参照)、ベース310、回動台320、基板を保持するための一対の第1保持機構330および一対の第2保持機構340、第1整列装置350、第2整列装置360を有している。   As shown in FIGS. 4 and 5, the posture changing mechanism 300 includes a support base 305 (see FIG. 2), a base 310, a rotating base 320, a pair of first holding mechanisms 330 for holding a substrate, and a pair of first holding mechanisms. 2 holding mechanism 340, first alignment device 350, and second alignment device 360.

ベース310には、モータM30が固定されており、モータM30の回転軸はリンク機構315によって回動台320と連結されている。したがって、回動台320は、モータM30の回転駆動によって、軸A30を中心にして、矢印AR30が示す方向に回転することが可能である。   A motor M30 is fixed to the base 310, and the rotation shaft of the motor M30 is connected to the turntable 320 by a link mechanism 315. Therefore, the turntable 320 can be rotated about the axis A30 in the direction indicated by the arrow AR30 by the rotational drive of the motor M30.

ここで、以降の説明のため仮想基準面F(図4参照)を導入する。仮想基準面Fは、軸A30を含み、かつ、回動台320の回動に伴って回転する平面であって、回動台320が姿勢P1(図3参照)の状態にあるときにXY平面に対して平行な平面であるとする。よって、回動台320の回転によって回動台320が姿勢P2(図3参照)を有する場合には、仮想基準面FはXY平面に対して垂直になる。   Here, a virtual reference plane F (see FIG. 4) is introduced for the following explanation. The virtual reference plane F is a plane that includes the axis A30 and rotates with the rotation of the rotary table 320, and is an XY plane when the rotary table 320 is in the posture P1 (see FIG. 3). It is assumed that the plane is parallel to. Therefore, when the turntable 320 has the posture P2 (see FIG. 3) due to the rotation of the turntable 320, the virtual reference plane F is perpendicular to the XY plane.

<第1保持機構>
回動台320は、基板を保持するための一対の第1保持機構330を有している。第1保持機構330は、3つの自由度を有し、仮想基準面Fに対して垂直および水平方向の直線運動と、仮想基準面Fに垂直な軸まわりの回転運動とを行うことができる。以下では、これらの各運動を実現する機構について説明する。
<First holding mechanism>
The turntable 320 has a pair of first holding mechanisms 330 for holding the substrate. The first holding mechanism 330 has three degrees of freedom, and can perform a linear motion in the vertical and horizontal directions with respect to the virtual reference plane F and a rotational motion about an axis perpendicular to the virtual reference plane F. Below, the mechanism which implement | achieves each of these exercise | movement is demonstrated.

図5は、これらの駆動機構の概略を示す図である。まず、図5を参照しながら、仮想基準面Fに対して垂直方向の直線運動を達成する駆動機構について説明する。回動台320(図4参照)の上側には固定台322が固定されており、固定台322の一部には、リニアブッシュ322aが備えられている。また昇降ベース324は、このリニアブッシュ322aを貫通する部分を有しており、矢印AR31の方向、つまり仮想基準面Fに対して垂直な方向に固定台322に対して移動する。   FIG. 5 is a diagram showing an outline of these drive mechanisms. First, a drive mechanism that achieves a linear motion in a direction perpendicular to the virtual reference plane F will be described with reference to FIG. A fixed base 322 is fixed on the upper side of the rotating base 320 (see FIG. 4), and a linear bush 322a is provided on a part of the fixed base 322. The elevating base 324 has a portion penetrating the linear bush 322a and moves relative to the fixed base 322 in the direction of the arrow AR31, that is, in the direction perpendicular to the virtual reference plane F.

固定台322と昇降ベース324との間の相対運動は、シリンダM31の水平方向の直線運動を昇降方向の直線運動に変換することにより行われる。ここで図4を参照する。シリンダM31は、固定台322に固定されており、シリンダM31の可動部の水平方向の直線運動は、横行スライダ部323の矢印AR31a(図4参照)で示す方向の直線運動として伝達される。また横行スライダ部323はその上面にテーパ部323aを有している。   The relative movement between the fixed base 322 and the lifting base 324 is performed by converting the linear movement in the horizontal direction of the cylinder M31 into the linear movement in the lifting direction. Reference is now made to FIG. The cylinder M31 is fixed to the fixed base 322, and the horizontal linear motion of the movable portion of the cylinder M31 is transmitted as the linear motion in the direction indicated by the arrow AR31a (see FIG. 4) of the traversing slider portion 323. The traversing slider portion 323 has a tapered portion 323a on the upper surface thereof.

一方、昇降ベース324は、ローラ324aを有している。ローラ324aは、軸受部324bを介して、昇降ベース324に軸A31まわりに回動可能であるように取り付けられている。このローラ324aは、横行スライダ部323の上面に配置されており、テーパ部323a上を転がることができる。   On the other hand, the elevating base 324 has a roller 324a. The roller 324a is attached to the lifting base 324 via the bearing portion 324b so as to be rotatable around the axis A31. The roller 324a is disposed on the upper surface of the traversing slider portion 323, and can roll on the tapered portion 323a.

上記の横行スライダ部323は、固定台322の上側に設けられたレール部322bを走行することによって直線運動(矢印AR31a)し、この直線運動に応じてローラ324aがテーパ部323aの上を転がることによって、ローラ324aはテーパ部323aの傾きに応じた昇降運動を行う。このローラ324aの昇降運動に応じて、昇降ベース324は矢印AR31で示される方向(鉛直方向)に直線運動を行うことになる。なお、昇降ベース324は、バネなどの付勢手段S(図5参照)によって、固定台322に近づく方向に付勢されている。これは、回動台320がどのような姿勢をとる場合にあっても、ローラ324aが横行スライダ部323から離れることがないようにするためである。したがって、回動台320が姿勢P1(図3参照)以外の姿勢をとる場合にあっても、昇降ベース324は横行スライダ部323のテーパ部323aの傾きに応じた相対運動を行う。   The traversing slider portion 323 moves linearly (arrow AR31a) by running on a rail portion 322b provided on the upper side of the fixed base 322, and the roller 324a rolls on the tapered portion 323a in accordance with the linear motion. Thus, the roller 324a moves up and down according to the inclination of the tapered portion 323a. In accordance with the up-and-down movement of the roller 324a, the up-and-down base 324 performs a linear movement in the direction (vertical direction) indicated by the arrow AR31. The elevating base 324 is biased in a direction approaching the fixed base 322 by a biasing means S (see FIG. 5) such as a spring. This is to prevent the roller 324a from moving away from the traversing slider portion 323 regardless of the posture of the turntable 320. Therefore, even when the turntable 320 takes a posture other than the posture P1 (see FIG. 3), the elevating base 324 performs a relative motion according to the inclination of the tapered portion 323a of the traversing slider portion 323.

次に、第1保持機構330が仮想基準面Fに対して水平方向に行う直線運動について説明する。この水平方向の直線運動は、昇降ベース324と横行ベース326との間の相対移動により実現される。   Next, the linear motion that the first holding mechanism 330 performs in the horizontal direction with respect to the virtual reference plane F will be described. This horizontal linear motion is realized by relative movement between the elevating base 324 and the traversing base 326.

昇降ベース324上には、直線状のレール324cが備えられている。横行ベース326はガイド326aを有し、そのガイド326aはこのレール324c上を矢印AR32で示す方向に滑動することができる。また昇降ベース324は、横行駆動用のシリンダM32を備えている。シリンダM32の直線運動は、矢印AR32で示す方向の横行ベース326の直線運動へと伝達される。このようにして、横行ベース326は、昇降ベース324に対して矢印AR32で示す方向に直線状に駆動される。   On the elevating base 324, a linear rail 324c is provided. The transverse base 326 has a guide 326a, and the guide 326a can slide on the rail 324c in the direction indicated by the arrow AR32. The elevating base 324 is provided with a traverse driving cylinder M32. The linear motion of the cylinder M32 is transmitted to the linear motion of the traversing base 326 in the direction indicated by the arrow AR32. In this way, the traversing base 326 is driven linearly in the direction indicated by the arrow AR32 with respect to the lifting base 324.

横行ベース326は、モータM33を備えている。またモータM33の回転軸は第1保持機構330に接続されている。よって第1保持機構330は、このモータM33の回転駆動によって、矢印AR33で示すような回転運動を行うことができる。このようにして、第1保持機構330は、仮想基準面Fに垂直な軸まわりに回転運動を行うことができる。   The traversing base 326 includes a motor M33. The rotating shaft of the motor M33 is connected to the first holding mechanism 330. Therefore, the first holding mechanism 330 can perform a rotational movement as indicated by an arrow AR33 by the rotational drive of the motor M33. In this way, the first holding mechanism 330 can perform a rotational motion around an axis perpendicular to the virtual reference plane F.

また一対の第1保持機構330のそれぞれは、その表面に複数の基板を保持するための複数の保持溝332を有している。これらの複数の保持溝332は、Z方向に配列されている。図6は、複数の保持溝332のそれぞれに基板Wが水平姿勢で載置されている状態において、その一部を拡大した断面図である。このように、一対の第1保持機構330は、一対の保持溝332によって、水平姿勢を有する複数の基板を保持することができる。なお、これらの保持溝332は、フッ素樹脂製、とりわけテフロン(商標)製であることが好ましい。   Each of the pair of first holding mechanisms 330 has a plurality of holding grooves 332 for holding a plurality of substrates on the surface thereof. The plurality of holding grooves 332 are arranged in the Z direction. FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a part of the plurality of holding grooves 332 in a state where the substrate W is placed in a horizontal posture. As described above, the pair of first holding mechanisms 330 can hold a plurality of substrates having a horizontal posture by the pair of holding grooves 332. These holding grooves 332 are preferably made of a fluororesin, particularly Teflon (trademark).

さらにこれらの複数の保持溝332は、第1保持機構330の片面に複数の保持溝332aの配列を有し、その反対側の面に複数の保持溝332bの配列を有する。第1保持機構330は、上記の回転機構によって回転可能であるので、基板を保持する保持溝332aおよび332bを切り換えることができる。たとえば、基板処理部600における基板処理前の基板を一対の保持溝332aによって保持し、基板処理後の基板を一対の保持溝332bによって保持することができる。このように基板処理前後において基板を保持する保持溝を切り換えるようにすれば、基板処理前に基板に付着していた汚染物が基板処理が施された基板に付着することがない。   Further, the plurality of holding grooves 332 have an arrangement of a plurality of holding grooves 332 a on one side of the first holding mechanism 330 and an arrangement of a plurality of holding grooves 332 b on the opposite surface. Since the first holding mechanism 330 can be rotated by the rotation mechanism described above, the holding grooves 332a and 332b that hold the substrate can be switched. For example, the substrate before substrate processing in the substrate processing unit 600 can be held by the pair of holding grooves 332a, and the substrate after substrate processing can be held by the pair of holding grooves 332b. By switching the holding groove for holding the substrate before and after the substrate processing in this way, contaminants attached to the substrate before the substrate processing do not adhere to the substrate that has been subjected to the substrate processing.

<第2保持機構>
また回動台320は、基板を保持するための一対の第2保持機構340を有している。第2保持機構340は、モータM34によって回転駆動される。
<Second holding mechanism>
The turntable 320 also has a pair of second holding mechanisms 340 for holding the substrate. The second holding mechanism 340 is rotationally driven by the motor M34.

一対の第2保持機構340のそれぞれは、その表面に複数の基板を保持するための複数の保持溝342を有している。これらの複数の保持溝342は、Z方向に配列されている。図7は、複数の保持溝342のそれぞれに基板Wが垂直姿勢で載置されている状態において、その一部を拡大した断面図である。保持溝342のそれぞれはV字型の形状を有している。一対の第2保持機構340は、このような形状を有する保持溝342によって、垂直姿勢を有する複数の基板を保持することができる。なお、これらの保持溝342は、フッ素樹脂製、とりわけテフロン(商標)製であることが好ましい。   Each of the pair of second holding mechanisms 340 has a plurality of holding grooves 342 for holding a plurality of substrates on the surface thereof. The plurality of holding grooves 342 are arranged in the Z direction. FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of a part of the plurality of holding grooves 342 in a state where the substrate W is placed in a vertical posture. Each of the holding grooves 342 has a V shape. The pair of second holding mechanisms 340 can hold a plurality of substrates having a vertical posture by the holding grooves 342 having such a shape. These holding grooves 342 are preferably made of fluororesin, particularly Teflon (trademark).

また、第1保持機構330と同様に、第2保持機構340は、第2保持機構340の片面に複数の保持溝の配列を有し、その反対側の面に複数の保持溝の配列を有する。第2保持機構340は、モータM34によって回転可能であるので、基板を保持する保持溝を切り換えることができる。たとえば、基板処理部600における基板処理前の基板を片面の一対の保持溝によって保持し、基板処理後の基板を反対側の面の一対の保持溝によって保持することができる。このように基板処理前後において基板を保持する保持溝を切り換えることによれば、基板処理前に基板に付着していた汚染物が基板処理が施された基板に付着することがない。   Similarly to the first holding mechanism 330, the second holding mechanism 340 has an array of a plurality of holding grooves on one surface of the second holding mechanism 340 and an array of a plurality of holding grooves on the opposite surface. . Since the second holding mechanism 340 can be rotated by the motor M34, the holding groove for holding the substrate can be switched. For example, the substrate before substrate processing in the substrate processing unit 600 can be held by a pair of holding grooves on one side, and the substrate after substrate processing can be held by a pair of holding grooves on the opposite side. As described above, by switching the holding groove for holding the substrate before and after the substrate processing, the contaminants attached to the substrate before the substrate processing do not adhere to the substrate that has been subjected to the substrate processing.

<第1および第2整列装置>
さらに、回動台320は、第1整列装置350および第2整列装置360を有する。これらは、それぞれ、シリンダM35およびシリンダM36によって、X軸方向に横行駆動される。
<First and second alignment devices>
Further, the turntable 320 includes a first alignment device 350 and a second alignment device 360. These are respectively driven transversely in the X-axis direction by a cylinder M35 and a cylinder M36.

<姿勢変換動作〜水平姿勢から垂直姿勢への変換動作>
姿勢変換機構300は、以上のような構造を有する。このような構造を有する姿勢変換機構300は、第1保持機構330および第2保持機構340に保持された複数の基板Wの姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換することができる。以下では、この姿勢変換動作について説明する。
<Attitude conversion operation-Conversion operation from horizontal posture to vertical posture>
The posture changing mechanism 300 has the above structure. The posture changing mechanism 300 having such a structure can convert the postures of the plurality of substrates W held by the first holding mechanism 330 and the second holding mechanism 340 between a horizontal posture and a vertical posture. Below, this attitude | position conversion operation | movement is demonstrated.

まず、水平姿勢を垂直姿勢に変換する動作について説明する。   First, an operation for converting a horizontal posture into a vertical posture will be described.

図8から図17は、姿勢変換機構300が、複数の基板Wを水平姿勢から垂直姿勢へと変換する動作を説明するための姿勢変換機構300の概略側面図である。また図18から図20は、それぞれ図8から図10に対応する状態を示す平面図である。   FIGS. 8 to 17 are schematic side views of the posture changing mechanism 300 for explaining the operation of the posture changing mechanism 300 for converting the plurality of substrates W from the horizontal posture to the vertical posture. 18 to 20 are plan views showing states corresponding to FIGS. 8 to 10, respectively.

まず図8および図18に示すように、水平移載ロボット200は、キャリアCから同時に取り出した複数の基板Wを、姿勢変換機構300の−Y方向から姿勢変換機構300に接近させる。さらに水平移載ロボット200(図2参照)は、これらの基板を矢印AF1が示す向きに移動する。この際、複数の基板Wは、Z方向位置に関して、第1保持機構330の複数の保持溝332の相互間の間隙を通過して所定の位置にまで移動する。したがって、基板Wと第1保持機構330とは接触しない。   First, as shown in FIGS. 8 and 18, the horizontal transfer robot 200 moves the plurality of substrates W taken out simultaneously from the carrier C to the posture changing mechanism 300 from the −Y direction of the posture changing mechanism 300. Further, the horizontal transfer robot 200 (see FIG. 2) moves these substrates in the direction indicated by the arrow AF1. At this time, the plurality of substrates W pass through the gaps between the plurality of holding grooves 332 of the first holding mechanism 330 and move to a predetermined position with respect to the position in the Z direction. Therefore, the substrate W and the first holding mechanism 330 are not in contact with each other.

そして水平移載ロボット200は、複数の基板Wを矢印AF2の向きに下降させて、第1保持機構330の複数の保持溝332の上に載置する。これによって、複数の基板Wのそれぞれは、一対の第1保持機構330の、対応する一対の保持溝332によって保持される。上記のような動作によって、複数の基板Wは図9および図19に示す状態を有することになる。ただし、この状態においては、まだ複数の基板Wは第2保持機構340と接触していない。なお、水平移載ロボット200は、複数の基板Wを載置した後、その後の姿勢変換動作と干渉しない位置に退避する。   Then, the horizontal transfer robot 200 lowers the plurality of substrates W in the direction of the arrow AF2 and places the substrates W on the plurality of holding grooves 332 of the first holding mechanism 330. Accordingly, each of the plurality of substrates W is held by the corresponding pair of holding grooves 332 of the pair of first holding mechanisms 330. Through the above operation, the plurality of substrates W have the states shown in FIGS. However, in this state, the plurality of substrates W are not yet in contact with the second holding mechanism 340. The horizontal transfer robot 200 evacuates to a position where it does not interfere with the subsequent posture change operation after placing the plurality of substrates W.

次に、第1保持機構330自体が回動台320に対して矢印AF3で示す向きに移動する。したがって、第1保持機構330によって保持されている複数の基板Wも、矢印AF3で示す向きに水平移動する。そしてこれら複数の基板Wは、第2保持機構340に接触する位置にまで移動し(図20参照)、複数の基板Wのそれぞれは第2保持機構340のV字型の保持溝342のそれぞれに接触する。図10および図20は、移動後の状態を示す図である。また図21は、基板Wが保持溝342に接触している状態を示す。したがって、複数の基板Wは、第1保持機構330の保持溝322および第2保持機構340の保持溝342によって、保持されている状態となる。   Next, the first holding mechanism 330 itself moves in the direction indicated by the arrow AF3 with respect to the turntable 320. Accordingly, the plurality of substrates W held by the first holding mechanism 330 also move horizontally in the direction indicated by the arrow AF3. The plurality of substrates W move to a position where they contact the second holding mechanism 340 (see FIG. 20), and each of the plurality of substrates W is placed in each of the V-shaped holding grooves 342 of the second holding mechanism 340. Contact. 10 and 20 are diagrams showing the state after movement. FIG. 21 shows a state where the substrate W is in contact with the holding groove 342. Accordingly, the plurality of substrates W are held by the holding grooves 322 of the first holding mechanism 330 and the holding grooves 342 of the second holding mechanism 340.

そして、回動台320が矢印AF4の向きに90度回転する。したがって、第1保持機構330および第2保持機構340によって保持されている複数の基板Wは、矢印AF4の向きに90度回転し、図11に示す状態になる。この状態においては、複数の基板Wは主に一対の第2保持機構340によって保持されている。また基板Wは、回転開始時から第2保持機構340によって支持されているため、回転中においても第1保持機構330との間に相対移動を生じない。したがって、基板Wと第1保持機構330との擦れに起因するパーティクルは発生しない。   Then, the turntable 320 rotates 90 degrees in the direction of the arrow AF4. Accordingly, the plurality of substrates W held by the first holding mechanism 330 and the second holding mechanism 340 are rotated by 90 degrees in the direction of the arrow AF4 to be in the state shown in FIG. In this state, the plurality of substrates W are mainly held by the pair of second holding mechanisms 340. In addition, since the substrate W is supported by the second holding mechanism 340 from the start of rotation, the substrate W does not move relative to the first holding mechanism 330 even during rotation. Therefore, particles caused by rubbing between the substrate W and the first holding mechanism 330 are not generated.

さらに第1保持機構330は、矢印AF5に示す向きに移動する。その移動距離は基板配列の間隔D(図22参照)よりも少ない距離であり、移動後の第1保持機構330は複数の基板Wと接触しない状態になる。図22は、第1保持機構330の保持溝332と基板Wとの関係を示す図である。図22において、移動後の第1保持機構330の保持溝332が実線で表されており、基板Wと接触していないことが表されている。なお、図中において移動前の第1保持機構330の保持溝342の位置が破線で示されている。また図12は、第1保持機構330が矢印AF5の向きに移動した後の状態を示す図である。図12において、複数の基板Wは第2保持機構340の保持溝342によって保持されており(図7参照)、第1保持機構330とは接触していない。   Further, the first holding mechanism 330 moves in the direction indicated by the arrow AF5. The movement distance is less than the distance D (see FIG. 22) of the substrate arrangement, and the first holding mechanism 330 after the movement is not in contact with the plurality of substrates W. FIG. 22 is a diagram illustrating the relationship between the holding groove 332 of the first holding mechanism 330 and the substrate W. In FIG. 22, the holding groove 332 of the first holding mechanism 330 after the movement is indicated by a solid line, which indicates that it is not in contact with the substrate W. In the drawing, the position of the holding groove 342 of the first holding mechanism 330 before the movement is indicated by a broken line. FIG. 12 is a diagram illustrating a state after the first holding mechanism 330 has moved in the direction of the arrow AF5. In FIG. 12, the plurality of substrates W are held by the holding grooves 342 of the second holding mechanism 340 (see FIG. 7) and are not in contact with the first holding mechanism 330.

ここでプッシャ400は、一対の第1保持機構330および第2保持機構340の間を矢印AF6の向きに上昇する。図23は、この上昇動作をYZ平面に平行な面において表す図である。プッシャ400は矢印AF6の向きに上昇し、基板Wをホルダ440によって保持して基板Wを押し上げる。これにより基板Wと第2保持機構340との接触は解除され、ホルダ440によって基板Wは保持されることになる。プッシャ400は、一対の第2保持機構340の間、および一対の第1保持機構330の間をさらに上昇し、図13の状態となる。このようにして第2保持機構340に保持されていた基板Wは、プッシャ400へと受け渡されるのである。このプッシャ400の上昇時において、複数の基板Wと第1保持機構330とは接触していないため、接触や擦れなどに起因するパーティクルが発生しない。   Here, the pusher 400 ascends between the pair of first holding mechanism 330 and second holding mechanism 340 in the direction of arrow AF6. FIG. 23 is a diagram illustrating this ascending operation on a plane parallel to the YZ plane. The pusher 400 moves up in the direction of the arrow AF6, holds the substrate W by the holder 440, and pushes up the substrate W. Thereby, the contact between the substrate W and the second holding mechanism 340 is released, and the substrate W is held by the holder 440. The pusher 400 further moves up between the pair of second holding mechanisms 340 and between the pair of first holding mechanisms 330, and enters the state of FIG. Thus, the substrate W held by the second holding mechanism 340 is delivered to the pusher 400. When the pusher 400 is raised, the plurality of substrates W and the first holding mechanism 330 are not in contact with each other, so that particles due to contact or rubbing are not generated.

姿勢変換機構300の回動台320は、プッシャ400に複数の基板Wを受け渡した後、矢印AF7の向きに90度回転し、図14の状態となる。その後、第1保持機構330は、矢印AF8および矢印AF9の向きに移動し、図15の状態となる。一方、プッシャ400は、図13および図14に示す位置から、図15に示す位置へと矢印AF10(図14参照)の向きに下降する。このようにして、姿勢変換機構300によって、複数の基板Wが水平姿勢から垂直姿勢へと変換されてプッシャ400へと受け渡される。なお、姿勢変換機構300の図15における状態は、図8における状態とほぼ同じである。   After the plurality of substrates W are transferred to the pusher 400, the turntable 320 of the posture changing mechanism 300 rotates 90 degrees in the direction of the arrow AF7, and the state shown in FIG. 14 is obtained. Thereafter, the first holding mechanism 330 moves in the directions of the arrows AF8 and AF9, and enters the state shown in FIG. On the other hand, pusher 400 descends from the position shown in FIGS. 13 and 14 to the position shown in FIG. 15 in the direction of arrow AF10 (see FIG. 14). In this way, the plurality of substrates W are converted from the horizontal posture to the vertical posture by the posture changing mechanism 300 and delivered to the pusher 400. The state in FIG. 15 of the posture conversion mechanism 300 is almost the same as the state in FIG.

以上のようにして、複数の基板Wの配列を垂直姿勢において保持することができるが、複数の基板Wの配列の間にさらに別の複数の基板Wの配列を挿入して、同容積に倍の数の基板Wを収容することもできる。この動作について以下でさらに説明する。   As described above, the arrangement of the plurality of substrates W can be held in a vertical posture. However, another arrangement of a plurality of substrates W is inserted between the arrangements of the plurality of substrates W to double the same volume. The number of substrates W can be accommodated. This operation will be further described below.

姿勢変換済みの複数の基板W(以下、「第1基板群」と称する)とは別の複数の基板W(以下、「第2基板群」と称する)を水平移載ロボット200によって姿勢変換機構300に載置し、上記の図8から図11までに示す動作と同様の動作を繰り返す。これによって、図16に示す状態にまで、第2基板群の姿勢を変換する。なお、図16は、上記説明における図12に対応する図である。   A plurality of substrates W (hereinafter referred to as “second substrate group”) different from the plurality of substrates W whose posture has been changed (hereinafter referred to as “first substrate group”) are moved by the horizontal transfer robot 200 by an attitude changing mechanism. The operation similar to the operation shown in FIGS. 8 to 11 is repeated. Thus, the posture of the second substrate group is converted to the state shown in FIG. FIG. 16 corresponds to FIG. 12 in the above description.

次に、プッシャ400は矢印AF16に示す向きに上昇して、ホルダ440に保持されている第1基板群の基板Wのそれぞれを、第2保持機構340に保持されている第2基板群の基板Wの相互間に挿入する。そのためプッシャ400のホルダ440は、D/2の間隔で配列されている溝G(図24参照)を有するものであることが好ましい。図24は、ホルダ440の溝Gの構造を示す断面図である。ここで、間隔Dは第1基板群における基板相互間の間隔を表すものとする。このようなプッシャ400の上昇によって、第1基板群と第2基板群とが干渉しないようにして、溝Gのうち第1基板群の基板を保持する溝G1に対してY方向にD/2ずれて位置する溝G2によって第2基板群を保持するため、プッシャ400のY方向の位置は、D/2だけあらかじめずれていることが好ましい。   Next, the pusher 400 moves upward in the direction indicated by the arrow AF16, and each of the substrates W of the first substrate group held by the holder 440 is transferred to the substrate of the second substrate group held by the second holding mechanism 340. Insert between W. Therefore, it is preferable that the holder 440 of the pusher 400 has grooves G (see FIG. 24) arranged at intervals of D / 2. FIG. 24 is a cross-sectional view showing the structure of the groove G of the holder 440. Here, the interval D represents the interval between the substrates in the first substrate group. Such a rise of the pusher 400 prevents the first substrate group and the second substrate group from interfering with each other, and D / 2 in the Y direction with respect to the groove G1 holding the substrate of the first substrate group in the groove G. In order to hold the second substrate group by the groove G2 that is displaced, the position of the pusher 400 in the Y direction is preferably displaced in advance by D / 2.

このずれを発生させるために、図15に示すように、たとえばプッシャ400は矢印AF10Bの向きにD/2の距離だけ移動することができる。この場合、基板Wにおいてデバイスが作成される面(以下、「主面」と称する)について、第1基板群および第2基板群の全ての主面が同一の向きに揃えられる。あるいは、矢印AF10Cの方向に軸ACを中心として180度回転することもできる。なお、この場合には第1基板群および第2基板群の基板の主面がお互いに逆向きになる。これらの動作のうち何れを選択するかは、その後の基板処理の内容等によって変更することができる。なお、これらの動作は、図14における矢印AF10で示す向きの下降動作と同時に行うことも可能である。   In order to generate this shift, as shown in FIG. 15, for example, the pusher 400 can move by a distance of D / 2 in the direction of the arrow AF10B. In this case, all the main surfaces of the first substrate group and the second substrate group are aligned in the same direction with respect to the surface on which the device is formed on the substrate W (hereinafter referred to as “main surface”). Alternatively, it can be rotated 180 degrees around the axis AC in the direction of the arrow AF10C. In this case, the main surfaces of the substrates of the first substrate group and the second substrate group are opposite to each other. Which of these operations is selected can be changed according to the contents of the subsequent substrate processing. Note that these operations can be performed simultaneously with the descending operation in the direction indicated by the arrow AF10 in FIG.

上記の動作によって、第1基板群の基板が保持されている溝G1が存在していた位置に、第2基板群の基板を保持するための溝G2を位置させることができる。このようにY方向にD/2だけずれた位置に第1基板群の基板が配置されたホルダ440を、図16において矢印AF16で示す向きに上昇することができる。したがって、姿勢変換機構300の第2保持機構340によって保持されている第2基板群の基板は、プッシャ400の上昇に際して、ホルダ440の溝G2の位置に保持されてプッシャ400に受け渡される。またホルダ440に保持されている第1基板群の基板Wのそれぞれは、第2基板群の基板Wの相互間に挿入され、第1基板群と第2基板群との間には接触が生じない。   By the above operation, the groove G2 for holding the substrate of the second substrate group can be positioned at the position where the groove G1 holding the substrate of the first substrate group was present. Thus, the holder 440 in which the substrates of the first substrate group are arranged at a position shifted by D / 2 in the Y direction can be raised in the direction indicated by the arrow AF16 in FIG. Therefore, the substrates of the second substrate group held by the second holding mechanism 340 of the posture changing mechanism 300 are held at the position of the groove G2 of the holder 440 and transferred to the pusher 400 when the pusher 400 is raised. Each of the substrates W of the first substrate group held by the holder 440 is inserted between the substrates W of the second substrate group, and contact occurs between the first substrate group and the second substrate group. Absent.

さらに上昇を続けたプッシャ400は、図17に示すように、第1基板群および第2基板群の基板を溝Gにおいて保持している。その後、回動台320が矢印AF17の向きに90度回転することなどによって、姿勢変換機構300は図8に示す状態へと戻る。   The pusher 400 that has continued to rise further holds the substrates of the first substrate group and the second substrate group in the groove G, as shown in FIG. Thereafter, the posture changing mechanism 300 returns to the state shown in FIG. 8 when the turntable 320 rotates 90 degrees in the direction of the arrow AF17.

以上のようにして、プッシャ400に倍密度で基板Wを収容することができる。   As described above, the substrate W can be accommodated in the pusher 400 at double density.

<姿勢変換動作〜垂直姿勢から水平姿勢への変換動作>
上記において、姿勢変換機構300の姿勢変換動作のうち、水平姿勢から垂直姿勢へと変換する動作(以下、「順変換動作」とも称する)について説明した。
<Posture conversion operation-Conversion operation from vertical posture to horizontal posture>
In the above, the operation of converting the horizontal posture into the vertical posture (hereinafter also referred to as “forward conversion operation”) among the posture conversion operations of the posture conversion mechanism 300 has been described.

以下では、逆に、垂直姿勢を水平姿勢に変換する動作(以下、「逆変換動作」とも称する)について説明する。この逆変換動作については、基本的に、水平姿勢から垂直姿勢への変換の動作の逆動作を行えばよい。したがって、上記において図8から図17を中心にして説明した動作を順次逆に進めることになる。このような動作によって、プッシャ400に保持された第1基板群および第2基板群のそれぞれを姿勢変換機構300によって垂直姿勢から水平姿勢へと変換することができる。   In the following, an operation for converting a vertical posture into a horizontal posture (hereinafter also referred to as “inverse conversion operation”) will be described. As for this reverse conversion operation, basically, the reverse operation of the conversion operation from the horizontal posture to the vertical posture may be performed. Therefore, the operations described above with reference to FIGS. 8 to 17 are sequentially reversed. By such an operation, each of the first substrate group and the second substrate group held by the pusher 400 can be converted from the vertical posture to the horizontal posture by the posture changing mechanism 300.

またこの逆変換動作においては、順変換動作の逆動作に加えて、さらに第1整列装置350および第2整列装置360を用いて基板を整列させるための動作を追加することができる。図25および図26は、姿勢変換機構300の概略側面図であり、図27および図28は、それぞれ図25および図26に対応する状態を示す平面図である。これらの図を用いて、プッシャ400から受け取った複数の基板Wを垂直姿勢から水平姿勢へと変換するにあたって、基板を整列させるための第1整列装置350および第2整列装置360の動作を説明する。   In this reverse conversion operation, in addition to the reverse operation of the forward conversion operation, an operation for aligning the substrates using the first alignment device 350 and the second alignment device 360 can be added. 25 and 26 are schematic side views of the posture changing mechanism 300, and FIGS. 27 and 28 are plan views showing states corresponding to FIGS. 25 and 26, respectively. The operations of the first alignment device 350 and the second alignment device 360 for aligning the substrates when converting the plurality of substrates W received from the pusher 400 from the vertical posture to the horizontal posture will be described with reference to these drawings. .

プッシャ400に垂直に保持されていた複数の基板は、姿勢変換機構300に対して受け渡され、回動台320の回転によって水平姿勢に保持される。図25はこのような状態を表す図である。なお、この状態は順変換動作の説明における図10に対応する。したがって、順変換動作の逆動作によって、図9の状態に移行する。図26は、図9に対応する状態を示す図であり、第1保持機構330が矢印AF3(図9参照)の逆向きの矢印AF23(図25参照)で示す向きに移動した状態が示されている。   The plurality of substrates held vertically by the pusher 400 are transferred to the posture changing mechanism 300 and held in a horizontal posture by the rotation of the turntable 320. FIG. 25 is a diagram showing such a state. This state corresponds to FIG. 10 in the description of the forward conversion operation. Therefore, the state of FIG. 9 is shifted by the reverse operation of the forward conversion operation. FIG. 26 is a diagram illustrating a state corresponding to FIG. 9, and illustrates a state in which the first holding mechanism 330 has moved in the direction indicated by the arrow AF23 (see FIG. 25) opposite to the arrow AF3 (see FIG. 9). ing.

この動作に伴って、第1保持機構330に載置される基板も矢印AF23の向きに移動する。しかしながら、垂直姿勢において第2保持機構340の保持溝342に保持されていた基板の中には、保持溝342に嵌合して、はずれにくくなっているものが存在することがある。このような場合において、複数の基板を第1保持機構330に対して所定の位置に整列させるために第1整列装置350を用いることができる。   Along with this operation, the substrate placed on the first holding mechanism 330 also moves in the direction of the arrow AF23. However, some of the substrates held in the holding groove 342 of the second holding mechanism 340 in the vertical posture may be fitted into the holding groove 342 and difficult to come off. In such a case, the first aligning device 350 can be used to align the plurality of substrates with the first holding mechanism 330 at a predetermined position.

第1整列装置350は、図25および図27の状態において第1整列装置350を矢印AF23Bの方向に移動する。これによって、第1整列装置350は第2保持機構340に保持されている複数の基板Wの端部と接触し、複数の基板Wを第2保持機構340から離す方向の力が加わる。したがって、複数の基板Wは、矢印AF23Bの方向に押し出され、複数の基板Wは第1整列装置350によって整列される。そして、第1保持機構330が矢印AF23の向きに移動することによって、このように整列された複数の基板Wを第1保持機構330の動作に伴って移動することができる。   First alignment device 350 moves first alignment device 350 in the direction of arrow AF23B in the state of FIGS. As a result, the first alignment device 350 comes into contact with the end portions of the plurality of substrates W held by the second holding mechanism 340, and a force in a direction to separate the plurality of substrates W from the second holding mechanism 340 is applied. Accordingly, the plurality of substrates W are pushed out in the direction of the arrow AF23B, and the plurality of substrates W are aligned by the first alignment device 350. Then, by moving the first holding mechanism 330 in the direction of the arrow AF23, the plurality of substrates W thus aligned can be moved in accordance with the operation of the first holding mechanism 330.

また第1保持機構330のこの移動に先立って、図28に示すように第2整列装置360を矢印AF23Cの向きに所定の位置にまで移動させておくことができる。このような位置に存在する第2整列装置360によって、矢印AF23の向きに移動する複数の基板Wは整列され得る。   Prior to this movement of the first holding mechanism 330, the second alignment device 360 can be moved to a predetermined position in the direction of the arrow AF23C as shown in FIG. The plurality of substrates W moving in the direction of the arrow AF23 can be aligned by the second alignment device 360 existing at such a position.

以上のように第1整列装置350および第2整列装置360を用いることによって、複数の基板を所定の位置に整列させることができる。またその他の動作については順変換動作と逆の動作を行うことによって、逆変換動作を遂行することができ、垂直姿勢の基板を水平姿勢に変換することができる。   As described above, by using the first alignment device 350 and the second alignment device 360, a plurality of substrates can be aligned at predetermined positions. As for other operations, the reverse conversion operation can be performed by performing the reverse operation to the forward conversion operation, and the substrate in the vertical posture can be converted into the horizontal posture.

<受け渡し機構の配置位置について>
基板処理装置1は、上記のような姿勢変換機構300、水平移載ロボット200、プッシャ400などの受け渡し機構を有し、水平姿勢と垂直姿勢との間での姿勢変換を行って基板を処理することができる。
<About the position of the delivery mechanism>
The substrate processing apparatus 1 has a delivery mechanism such as the attitude changing mechanism 300, the horizontal transfer robot 200, and the pusher 400 as described above, and processes the substrate by changing the attitude between the horizontal attitude and the vertical attitude. be able to.

ところで、直線的に配列された複数の処理部の延長上に従来の姿勢変換を行う装置を併設するだけでは、基板処理装置の配列方向の長さが大きくなってしまう。これでは、フットプリントの増大を招くことになり、クリーンルームのスペースの有効利用を図ることができない。   By the way, the length of the substrate processing apparatus in the arrangement direction becomes large simply by providing a conventional apparatus for performing posture change on the extension of the plurality of processing units arranged linearly. This leads to an increase in footprint, and the effective use of the clean room space cannot be achieved.

それに対して、基板処理装置1は、水平移載ロボット200、姿勢変換機構300、プッシャ400などの受け渡し機構を直線的に配列された複数の処理部を有する基板処理部の列方向の側方に配置されている。したがって、直線配列方向(X方向)の長さの増大を抑えることができる。また、受け渡し機構が配置される側方部分は、従来有効に利用されていなかったスペースであったため、側方に配置することによる直線配列方向と垂直な方向への長さの増大も抑制することができる。したがって、フットプリントの増大を抑えられ、クリーンルームのスペースの有効利用を図ることができる。   On the other hand, the substrate processing apparatus 1 has a horizontal transfer robot 200, a posture changing mechanism 300, a pusher 400 and other delivery mechanisms on the side in the column direction of the substrate processing unit having a plurality of processing units arranged linearly. Has been placed. Therefore, an increase in length in the linear array direction (X direction) can be suppressed. In addition, since the side portion where the delivery mechanism is arranged is a space that has not been effectively used in the past, the increase in the length in the direction perpendicular to the linear arrangement direction due to the side arrangement is also suppressed. Can do. Therefore, an increase in footprint can be suppressed, and effective use of the clean room space can be achieved.

<B.第2実施形態>
図29は、第2実施形態の基板処理装置1Bの構成を示す平面図である。第1実施形態の基板処理装置1と同様に、基板処理装置1Bは、キャリア載置部100、水平移載ロボット200、姿勢変換機構300、プッシャ400、搬送機構500などの受け渡し機構を備える。また、基板処理装置1Bは、キャリア載置部100B、水平移載ロボット200B、姿勢変換機構300B、プッシャ400B、搬送機構500Bを有するさらに別の受け渡し機構を備える。
<B. Second Embodiment>
FIG. 29 is a plan view showing the configuration of the substrate processing apparatus 1B of the second embodiment. Similar to the substrate processing apparatus 1 of the first embodiment, the substrate processing apparatus 1B includes delivery mechanisms such as the carrier mounting unit 100, the horizontal transfer robot 200, the posture changing mechanism 300, the pusher 400, and the transport mechanism 500. The substrate processing apparatus 1B further includes another delivery mechanism having a carrier placement unit 100B, a horizontal transfer robot 200B, a posture changing mechanism 300B, a pusher 400B, and a transport mechanism 500B.

さらに基板処理装置1Bは、基板処理部600Bを備える。基板処理部600Bは、搬送機構水洗処理部610と、薬液を収容する薬液槽CBを有する薬液処理部620B、640Bと、純水を収容する水洗槽WBを有する水洗処理部630B、650Bと、乾燥処理部660Bとを備える。   Further, the substrate processing apparatus 1B includes a substrate processing unit 600B. The substrate processing unit 600B includes a transport mechanism rinsing unit 610, a chemical solution processing unit 620B and 640B having a chemical solution tank CB for storing a chemical solution, a rinsing process unit 630B and 650B having a rinsing tank WB for storing pure water, and drying. And a processing unit 660B.

これらの複数の処理部は直線的に配列されており、この直線的配列の側方には前述の搬送機構500および搬送機構500Bが設けられており、各処理部の相互間における基板の搬送を行う。搬送機構500は搬送機構水洗処理部610と薬液処理部640Bとの間を移動することができ、搬送機構500Bは、水洗処理部650Bと乾燥処理部660Bとの間を移動することができる。   The plurality of processing units are linearly arranged, and the transport mechanism 500 and the transport mechanism 500B described above are provided on the side of the linear array, and the substrate is transported between the processing units. Do. The transport mechanism 500 can move between the transport mechanism water washing processing unit 610 and the chemical solution processing unit 640B, and the transport mechanism 500B can move between the water washing processing unit 650B and the drying processing unit 660B.

さらにリフタ550Bおよびリフタ560Bが配置されているが、これらの構造および動作などについては、基板処理装置1におけるリフタ550およびリフタ560と同様である。   Further, a lifter 550B and a lifter 560B are arranged. The structure and operation thereof are the same as those of the lifter 550 and the lifter 560 in the substrate processing apparatus 1.

この基板処理装置1においては、処理対象となる複数の基板の搬入および搬出は何れもキャリア載置部100において行われる。しかしながら、この基板処理装置1Bにおいては、搬入および搬出はそれぞれ異なるキャリア載置部100および100Bにおいて行われ、この点において大きく相違する。つまり、キャリア載置部100において搬入されたキャリアCに収容された複数の基板は、所定の処理が施された後、キャリア載置部100Bに載置されたキャリアCに収容されて搬出される。したがって、処理の流れが一方向に限定されることになる。   In the substrate processing apparatus 1, loading and unloading of a plurality of substrates to be processed are both performed by the carrier mounting unit 100. However, in this substrate processing apparatus 1B, carrying-in and carrying-out are performed in different carrier mounting parts 100 and 100B, respectively. That is, the plurality of substrates accommodated in the carrier C loaded in the carrier platform 100 are subjected to a predetermined process, and then are accommodated in the carrier C placed on the carrier platform 100B and carried out. . Therefore, the flow of processing is limited to one direction.

搬送機構500は薬液処理部620Bおよび640Bとの間で基板の搬送を行うため、薬液雰囲気等によって汚染された挟持機構を洗浄するための搬送機構水洗処理部610を設けることが好ましい。一方、搬送機構500Bは、水洗処理部650Bと乾燥処理部660Bとの間で移動するだけであり、搬送機構500Bに対して特に搬送機構水洗処理部を設ける必要があまりない。このような場合、搬送機構500Bは、搬送機構水洗処理部以外の処理部の上方において、受け渡し機構との間で複数の基板を受け渡すことも可能である。図29は、乾燥処理部660Bの上方において基板の受け渡しを行う場合を例示している。   Since the transport mechanism 500 transports the substrate between the chemical solution processing units 620B and 640B, it is preferable to provide a transport mechanism water washing processing unit 610 for cleaning the holding mechanism contaminated by the chemical solution atmosphere or the like. On the other hand, the transport mechanism 500B only moves between the water washing processing unit 650B and the drying processing unit 660B, and it is not necessary to provide a transport mechanism water washing processing unit for the transport mechanism 500B. In such a case, the transport mechanism 500B can also deliver a plurality of substrates to and from the delivery mechanism above the processing unit other than the transport mechanism water washing processing unit. FIG. 29 illustrates a case where the substrate is transferred above the drying processing unit 660B.

またこの場合、プッシャ400Bは、プッシャ400のように搬送機構水洗処理部の空隙部に進入することができない。このような場合、プッシャ400Bの構造は、プッシャ400とは異なるものでなければならない。例えば、プッシャ400Bの構造を次のようなものとすることができる。   In this case, the pusher 400 </ b> B cannot enter the gap portion of the transport mechanism water washing processing portion like the pusher 400. In such a case, the structure of the pusher 400B must be different from the pusher 400. For example, the structure of the pusher 400B can be as follows.

図30は、プッシャ400Bの構造を示す図である。図30に示すように、プッシャ400Bは、ベース410B、Z方向可動部430B、Y方向伸縮機構420B、ホルダ440Bを有する。Y方向伸縮機構420Bは、Y方向可動部422B、424B、426Bなどを有しており、ホルダ440のY方向位置を変更することができる。これらの機構によって、プッシャ400のように搬送機構水洗処理部610の空隙部614に進入することなく、プッシャ400Bは複数の基板Wを搬送機構500Bとの間で受け渡すことが可能になる。   FIG. 30 shows the structure of the pusher 400B. As shown in FIG. 30, the pusher 400B includes a base 410B, a Z-direction movable portion 430B, a Y-direction expansion / contraction mechanism 420B, and a holder 440B. The Y direction expansion / contraction mechanism 420B includes Y direction movable portions 422B, 424B, 426B, and the like, and can change the Y direction position of the holder 440. With these mechanisms, the pusher 400B can transfer a plurality of substrates W to and from the transport mechanism 500B without entering the gap 614 of the transport mechanism water washing processing unit 610 like the pusher 400.

あるいは、プッシャ400のZ方向可動部430の形状を工夫することなどによっても、プッシャと搬送装置との間で基板を受け渡すことができる。   Alternatively, the substrate can be transferred between the pusher and the transfer device by devising the shape of the Z direction movable portion 430 of the pusher 400.

<C.その他の変形例>
上記実施形態において、プッシャ400と搬送機構500との間での基板が搬送機構水洗処理部610の上方で受け渡されるに際して、図31に示すように、各基板面は矢印AY1の向きと略垂直であった。なお、図31は、搬送機構水洗処理部610の上方におけるプッシャ400と搬送機構500との間での基板の受け渡しを説明するための平面図である。
<C. Other variations>
In the above embodiment, when the substrate between the pusher 400 and the transport mechanism 500 is transferred above the transport mechanism washing unit 610, each substrate surface is substantially perpendicular to the direction of the arrow AY1, as shown in FIG. Met. FIG. 31 is a plan view for explaining the delivery of the substrate between the pusher 400 and the transport mechanism 500 above the transport mechanism washing unit 610.

しかしながら、プッシャ400が移動する際に、複数の基板が揺動することによって基板同士が接触しパーティクルが発生することが考えられる。このような場合には、次のように動作させることが好ましい。   However, when the pusher 400 moves, it is conceivable that the plurality of substrates swing and the substrates come into contact with each other to generate particles. In such a case, it is preferable to operate as follows.

図32は、プッシャ400の動作を説明するための平面図である。プッシャ400は、図31に示す状態から鉛直軸まわりに矢印AR1で示す向きに90度回転することによって図32に示す状態になる。このように基板Wの面と矢印AY1の向きとが平行な状態において、プッシャ400は矢印AY1の向きに移動する。そして、搬送機構水洗処理部610の上方において、矢印AR1の逆向きに回転し、搬送機構500に対して複数の基板を受け渡す。   FIG. 32 is a plan view for explaining the operation of the pusher 400. The pusher 400 changes from the state shown in FIG. 31 to the state shown in FIG. 32 by rotating 90 degrees around the vertical axis in the direction indicated by the arrow AR1. Thus, in a state where the surface of the substrate W and the direction of the arrow AY1 are parallel, the pusher 400 moves in the direction of the arrow AY1. Then, above the transport mechanism rinsing processing unit 610, it rotates in the direction opposite to the arrow AR <b> 1 and delivers a plurality of substrates to the transport mechanism 500.

この場合、基板Wの面とプッシャ400の進行方向(矢印AY1の方向)が平行であるので、プッシャ400の移動時においても、基板Wは矢印AY1方向の揺動をほとんど生じない。したがって、配列された基板同士の接触が生じにくいためパーティクルの発生を防止できる。   In this case, since the surface of the substrate W and the traveling direction of the pusher 400 (the direction of the arrow AY1) are parallel, the substrate W hardly swings in the direction of the arrow AY1 even when the pusher 400 moves. Accordingly, the generation of particles can be prevented since the contact between the arranged substrates hardly occurs.

さらに基板の大型化に伴い、基板の面方向の長さD1(図32参照)に比べて配列方向の長さD2は小さいことが多くなっている。図33および図34は、そのような場合において、それぞれ図31および図32に対応する正面図である。図33において直径D1を有する複数の基板をY方向に一対の挟持機構520の間に進入させる場合においては、挟持機構520の相互間の間隔は少し大きめに採る必要があるため、一対の挟持機構520がX方向に占める長さはD3である。一方、図34に示されるように、90度回転させた複数の基板の配列を一対の挟持機構520の間に進入させる場合においては、一対の挟持機構520がX方向に占める長さはD4となり、長さD3に比べて小さい値となる。   Furthermore, with the increase in size of the substrate, the length D2 in the arrangement direction is often smaller than the length D1 in the surface direction of the substrate (see FIG. 32). 33 and 34 are front views corresponding to FIGS. 31 and 32, respectively, in such a case. In FIG. 33, when a plurality of substrates having a diameter D1 are allowed to enter between the pair of sandwiching mechanisms 520 in the Y direction, the spacing between the sandwiching mechanisms 520 needs to be slightly larger. The length that 520 occupies in the X direction is D3. On the other hand, as shown in FIG. 34, when an array of a plurality of substrates rotated 90 degrees is inserted between the pair of clamping mechanisms 520, the length occupied by the pair of clamping mechanisms 520 in the X direction is D4. The value is smaller than the length D3.

したがって、上記のように90度回転させて搬送機構500の一対の挟持機構520の間に複数の基板Wを進入させて受け渡すと、挟持機構520のX方向に占める長さが小さくて済む。よってそれに応じてX方向の基板処理装置の長さも小さくて済み、装置全体としてコンパクトになるなどの利点も存在する。   Therefore, when the plurality of substrates W are moved between the pair of holding mechanisms 520 of the transport mechanism 500 after being rotated by 90 degrees as described above, the length of the holding mechanism 520 in the X direction can be reduced. Accordingly, the length of the substrate processing apparatus in the X direction can be reduced accordingly, and there is an advantage that the entire apparatus becomes compact.

本発明の第1実施形態に係る基板処理装置1の構成を示す平面図である。1 is a plan view showing a configuration of a substrate processing apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention. 基板処理装置1の一部の構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a partial configuration of a substrate processing apparatus 1. 基板処理装置1の内部構成を示す側面図である。1 is a side view showing an internal configuration of a substrate processing apparatus 1. FIG. 姿勢変換機構300の構造を示す縦断面図である。4 is a longitudinal sectional view showing the structure of the posture changing mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の構造を示す別の縦断面図である。4 is another longitudinal sectional view showing the structure of the posture changing mechanism 300. FIG. 第1保持機構330の保持溝332を示す拡大図である。5 is an enlarged view showing a holding groove 332 of the first holding mechanism 330. FIG. 第2保持機構340の保持溝342を示す拡大図である。FIG. 10 is an enlarged view showing a holding groove 342 of the second holding mechanism 340. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 図8の状態に対応する、姿勢変換機構300の概略平面図である。FIG. 9 is a schematic plan view of a posture conversion mechanism 300 corresponding to the state of FIG. 8. 図9の状態に対応する、姿勢変換機構300の概略平面図である。FIG. 10 is a schematic plan view of the posture changing mechanism 300 corresponding to the state of FIG. 9. 図10の状態に対応する、姿勢変換機構300の概略平面図である。It is a schematic plan view of the attitude | position conversion mechanism 300 corresponding to the state of FIG. 第2保持機構340の保持溝342を示す拡大図である。FIG. 10 is an enlarged view showing a holding groove 342 of the second holding mechanism 340. 第1保持機構330の保持溝332と第2保持機構340の保持溝342に保持されている基板Wとの関係を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a holding groove 332 of a first holding mechanism 330 and a substrate W held in a holding groove 342 of a second holding mechanism 340. 第2保持機構340の保持溝342に保持されている基板Wとプッシャ400との関係を示す図である。FIG. 10 is a view showing the relationship between the substrate W held in the holding groove 342 of the second holding mechanism 340 and the pusher 400. プッシャ400のホルダ440の一部を示す拡大断面図である。5 is an enlarged cross-sectional view showing a part of a holder 440 of the pusher 400. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 姿勢変換機構300の概略側面図である。3 is a schematic side view of a posture conversion mechanism 300. FIG. 図25の状態に対応する、姿勢変換機構300の概略平面図である。FIG. 26 is a schematic plan view of the posture changing mechanism 300 corresponding to the state of FIG. 25. 図26の状態に対応する、姿勢変換機構300の概略平面図である。It is a schematic plan view of the attitude | position conversion mechanism 300 corresponding to the state of FIG. 第2実施形態に係る基板処理装置1Bの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the substrate processing apparatus 1B which concerns on 2nd Embodiment. プッシャ400Bの構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the pusher 400B. プッシャ400および搬送機構水洗処理部610を示す平面図である。It is a top view which shows the pusher 400 and the conveyance mechanism water washing process part 610. FIG. プッシャ400および搬送機構水洗処理部610を示す平面図である。It is a top view which shows the pusher 400 and the conveyance mechanism water washing process part 610. FIG. 図31の状態に対応する、挟持機構520と基板との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the clamping mechanism 520 and a board | substrate corresponding to the state of FIG. 図32の状態に対応する、挟持機構520と基板との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the clamping mechanism 520 and a board | substrate corresponding to the state of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1、1B 基板処理装置
100、100B キャリア載置部
200、200B 水平移載ロボット
300、300B 姿勢変換機構
400、400B プッシャ
500、500B 搬送機構
510 搬送ロボット
520 挟持機構
550、560 リフタ
600 基板処理部
610 搬送機構水洗処理部
612a、612b 洗浄槽
614 空隙部
620、620B 薬液処理部
630、630B 水洗処理部
640、640B 薬液処理部
650、650B 水洗処理部
660、660B 乾燥処理部
CB 薬液槽
WB 水洗槽
CL 制御部
C キャリア
W 基板
S 付勢手段
1, 1B Substrate Processing Device 100, 100B Carrier Placement Unit 200, 200B Horizontal Transfer Robot 300, 300B Posture Change Mechanism 400, 400B Pusher 500, 500B Transport Mechanism 510 Transport Robot 520 Nipping Mechanism 550, 560 Lifter 600 Substrate Processing Unit 610 Transport mechanism rinsing unit 612a, 612b Cleaning tank 614 Gap 620, 620B Chemical solution processing unit 630, 630B Water washing processing unit 640, 640B Chemical solution processing unit 650, 650B Water washing processing unit 660, 660B Drying processing unit CB Chemical solution tank WB Water washing tank CL Control unit C carrier W substrate S biasing means

Claims (10)

基板に対して所定の処理を行う基板処理装置であって、
複数の処理部の直線的配列として構成され、基板に一連の処理を順次に行うための処理部列と、
基板を水平姿勢で待機させる基板待機部と、
基板を垂直姿勢の状態で前記処理部列に沿って搬送する搬送手段と、
前記搬送手段と前記基板待機部との間で前記基板を受け渡す受渡し部と、
を備え、
前記基板待機部は、複数の基板を収納するキャリアを載置するキャリア載置部を有し、
前記受渡し部は、基板の姿勢を水平姿勢と垂直姿勢との間で変換する姿勢変換手段と、水平姿勢の複数の基板を前記キャリアと前記姿勢変換手段との間で搬送する水平移載ロボットと、垂直姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で搬送する移載手段とを有し、
前記姿勢変換手段は、基板処理前の基板を保持する第1の複数の保持溝と基板処理後の基板を保持する第2の複数の保持溝とが設けられた一対の保持機構を有し、前記第1または第2の複数の保持溝を選択的に用いて基板の姿勢を変換することを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus for performing predetermined processing on a substrate,
It is configured as a linear array of a plurality of processing units, and a processing unit sequence for sequentially performing a series of processing on the substrate,
A board standby part for waiting the board in a horizontal position;
Transport means for transporting the substrate along the processing section row in a vertical posture;
A delivery unit that delivers the substrate between the transport means and the substrate standby unit;
With
The substrate standby unit has a carrier mounting unit for mounting a carrier for storing a plurality of substrates,
The delivery unit includes a posture conversion unit that converts a substrate posture between a horizontal posture and a vertical posture, and a horizontal transfer robot that transports a plurality of substrates in a horizontal posture between the carrier and the posture conversion unit; A transfer means for transferring a plurality of substrates in a vertical posture between the posture changing means and the transfer means ;
The posture changing means may have a pair of holding mechanism and a second plurality of retaining grooves are provided for holding a first plurality of retention grooves and the substrate after the substrate by keeping the substrate before the substrate treatment, A substrate processing apparatus for converting a posture of a substrate by selectively using the first or second plurality of holding grooves .
基板に対して所定の処理を行う基板処理装置であって、
複数の処理部の直線的配列として構成され、基板に一連の処理を順次に行うための処理部列と、
基板を水平姿勢で待機させる基板待機部と、
基板を垂直姿勢の状態で前記処理部列に沿って搬送する搬送手段と、
前記搬送手段と前記基板待機部との間で前記基板を受け渡す受渡し部と、
を備え、
前記基板待機部は、複数の基板を収納するキャリアを載置するキャリア載置部を有し、
前記受渡し部は、基板の姿勢を変換する姿勢変換手段と、水平姿勢の複数の基板を前記キャリアと前記姿勢変換手段との間で搬送する水平移載ロボットと、垂直姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で搬送する移載手段とを有し、
前記姿勢変換手段は、前記水平移載ロボットと前記移載手段との間に位置し、前記水平移載ロボットと前記移載手段との間で前記複数の基板の受け渡しをするとともに、前記複数の基板を水平姿勢と垂直姿勢との間で姿勢変換するものであり、かつ、基板処理前の基板を保持する第1の複数の保持溝と基板処理後の基板を保持する第2の複数の保持溝とが設けられた一対の保持機構を有し、前記第1または第2の複数の保持溝を選択的に用いて基板の姿勢を変換することを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus for performing predetermined processing on a substrate,
It is configured as a linear array of a plurality of processing units, and a processing unit sequence for sequentially performing a series of processing on the substrate,
A board standby part for waiting the board in a horizontal position;
Transport means for transporting the substrate along the processing section row in a vertical posture;
A delivery unit that delivers the substrate between the transport means and the substrate standby unit;
With
The substrate standby unit has a carrier mounting unit for mounting a carrier for storing a plurality of substrates,
The delivery unit includes a posture changing means for changing the posture of a substrate, a horizontal transfer robot for transferring a plurality of substrates in a horizontal posture between the carrier and the posture changing means, and a plurality of substrates in a vertical posture. A transfer means for transferring between the posture changing means and the transfer means;
The posture changing means is located between the horizontal transfer robot and the transfer means, and transfers the plurality of substrates between the horizontal transfer robot and the transfer means, and The first plurality of holding grooves for holding the substrate before the substrate processing and the second plurality of holdings for holding the substrate after the substrate processing are for changing the posture between the horizontal posture and the vertical posture. A substrate processing apparatus, comprising: a pair of holding mechanisms provided with grooves, wherein the substrate posture is changed by selectively using the first or second plurality of holding grooves.
請求項2に記載の基板処理装置であって、
前記複数の処理部の前記直線的配列の方向を第1の方向とするとき、
前記キャリアと前記水平移載ロボットとの間の基板の受け渡しが前記第1の方向と略並行な方向において行われ、
水平移載ロボットと前記姿勢変換手段との間、前記姿勢変換手段と前記移載手段との間、および前記移載手段と前記搬送手段との間における一連の基板の受け渡しが前記第1の方向と略直交する第2の方向において行われる、
ことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 2,
When the direction of the linear array of the plurality of processing units is a first direction,
Transfer of the substrate between the carrier and the horizontal transfer robot is performed in a direction substantially parallel to the first direction,
A series of substrate transfers between the horizontal transfer robot and the posture changing means, between the posture changing means and the transfer means, and between the transfer means and the transfer means is the first direction. In a second direction substantially orthogonal to
A substrate processing apparatus.
請求項1から請求項3のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記水平移載ロボットと前記姿勢変換手段との間の前記複数の基板の移載を一括して行うことを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3,
A substrate processing apparatus for transferring a plurality of substrates between the horizontal transfer robot and the posture changing means in a lump .
請求項1から請求項4のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記水平移載ロボットは、水平姿勢の複数の基板を前記姿勢変換手段との間で搬送する際に、前記姿勢変換手段に対して水平方向に移動することを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein
The substrate transfer apparatus, wherein the horizontal transfer robot moves in a horizontal direction with respect to the posture changing means when transporting a plurality of substrates in a horizontal posture to and from the posture changing means .
請求項1から請求項5のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記移載手段は、前記姿勢変換手段に対して水平方向及び上下方向に移動可能であることを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 5 ,
It said transfer means is a substrate processing apparatus, characterized the movable der Turkey in the horizontal direction and the vertical direction with respect to the posture changing means.
請求項から請求項のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記移載手段は、前記姿勢変換手段に対して水平方向及び上下方向に移動可能であるとともに、鉛直軸まわりに回転可能であることを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 5 ,
The substrate processing apparatus, wherein the transfer means is movable in a horizontal direction and a vertical direction with respect to the posture changing means and is rotatable about a vertical axis .
請求項から請求項7のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記移載手段は、前記姿勢変換手段と前記搬送手段との間で、水平方向に移動可能であることを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 7,
The substrate processing apparatus , wherein the transfer means is movable in a horizontal direction between the posture changing means and the transport means .
請求項1から請求項8のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記移載手段の溝の間隔は、前記姿勢変換手段の前記保持機構の保持溝の間隔の半分であることを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 8,
The substrate processing apparatus , wherein the interval of the grooves of the transfer means is half of the interval of the holding grooves of the holding mechanism of the posture changing means .
請求項1から請求項9のいずれかに記載の基板処理装置であって、A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein
前記受渡し部が、前記処理部列における列方向の側方に配置されていることを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus, wherein the delivery unit is disposed laterally in the column direction in the processing unit column.
JP2003335724A 2003-09-26 2003-09-26 Substrate processing equipment Expired - Fee Related JP4030946B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003335724A JP4030946B2 (en) 2003-09-26 2003-09-26 Substrate processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003335724A JP4030946B2 (en) 2003-09-26 2003-09-26 Substrate processing equipment

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33193197A Division JP3548403B2 (en) 1997-12-02 1997-12-02 Substrate processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004088115A JP2004088115A (en) 2004-03-18
JP4030946B2 true JP4030946B2 (en) 2008-01-09

Family

ID=32064563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003335724A Expired - Fee Related JP4030946B2 (en) 2003-09-26 2003-09-26 Substrate processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4030946B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101181560B1 (en) 2008-09-12 2012-09-10 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 Substrate processing apparatus and substrate conveying apparatus for use in the same
JP6045869B2 (en) * 2012-10-01 2016-12-14 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP6546458B2 (en) * 2015-06-22 2019-07-17 株式会社ジー・プリンテック Card attitude conversion device and card preparation system provided with the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004088115A (en) 2004-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100963361B1 (en) Substrate Processing Equipment
JP4744426B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP4999487B2 (en) Substrate processing equipment
JP5004612B2 (en) Substrate processing equipment
KR970000698B1 (en) Transfering apparatus of semiconductor substrate
KR100298800B1 (en) Substrate Processing Device, Substrate Transfer Device, Substrate Posture Change Device and Substrate Processing Method
KR102430367B1 (en) Substrate inverting device, substrate processing apparatus, and substrate catch-and-hold device
JP3938436B2 (en) Substrate transfer apparatus and substrate processing apparatus using the same
JP3577204B2 (en) Substrate attitude converter
JP3974985B2 (en) Substrate transfer device
JP4030946B2 (en) Substrate processing equipment
JP3548403B2 (en) Substrate processing equipment
JP4869097B2 (en) Substrate processing equipment
JP3766177B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate cleaning apparatus
JP5385965B2 (en) Substrate processing equipment
JP3615042B2 (en) Substrate transfer device
JP3437730B2 (en) Substrate processing equipment
JPH11274270A (en) Substrate transferring device and substrate treating device
JPH11251393A (en) Device and method for carrying substrate
JP2024044508A (en) Substrate processing device
JP2004111979A (en) Substrate processing device
JP2022159601A (en) SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD
KR20220047346A (en) coating and developing device
JP2004104140A (en) Method and apparatus for processing substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070424

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071016

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111026

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111026

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121026

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121026

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131026

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees