JP4009468B2 - Liquid crystal display - Google Patents
Liquid crystal display Download PDFInfo
- Publication number
- JP4009468B2 JP4009468B2 JP2002036953A JP2002036953A JP4009468B2 JP 4009468 B2 JP4009468 B2 JP 4009468B2 JP 2002036953 A JP2002036953 A JP 2002036953A JP 2002036953 A JP2002036953 A JP 2002036953A JP 4009468 B2 JP4009468 B2 JP 4009468B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- display device
- hole
- tape carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims description 80
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 101710117064 Trimethylamine corrinoid protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に関し、特に、Tape Carrier Package(以下、TCPと略記する)を有する液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、液晶表示装置は、リードを形成したテープ状の絶縁フィルムで、半導体チップを搭載し、リードと接続したパッケージであるTCPとして、ベースフィルム上に銅箔で配線を行い、インナーリード上に駆動用ICをギャグボンディングで実装した構造を有することが、周知である。
【0003】
このような従来の液晶表示装置は、例えば、特開平9−127542号公報(引用文献1)に開示されている。図3は、引用文献1に記載の第1の従来の液晶表示装置の平面図であり、図4は、引用文献1に記載の第1の従来の液晶表示装置の断面図である。
【0004】
図3および図4を参照すると、第1の従来の液晶表示装置は、ベースフィルム51上ににスリット55を設け、入力側電極部7bの露出した部分で、駆動用IC58の電気信号を測定する構成である。
【0005】
また、図2(a)は、第2の従来の液晶表示装置の断面図であり、図2(b)は、第2の従来の液晶表示装置の平面図である。
【0006】
図2(a)および図2(b)を参照すると、この第2の従来の液晶表示装置は、液晶セル9に駆動用のドライバーIC4を圧接技術を用いて、電気的接続をとっている。液晶駆動用のドライバーIC4は、テープキャリアパッケージ(以下TCPと称す)の形態が多い。
【0007】
従来のTCPは、テープキャリア1にIC端子2を形成した後、IC端子2面側に保護用のレジスト3を塗布する。IC4を実装し、封止樹脂5にて固定するものであった。完成したTCP1を、液晶セル9の液晶セル端子6及び、接続基板7の接続基板端子8に圧接技術を用いて、電気的接続をとる。
【0008】
TCPの構造としては、テープキャリア1にIC入出力リードを形成したものに、ICチップ4を実装、樹脂封止を施したものである。液晶セル9、及びTCPへの電気信号入力用回路基板7(以下、接続基板と称す)への接続は、圧接技術を用いて、テープキャリア1のIC端子面を圧接するものであった。
【0009】
この技術を適用して、TCP実装後に発生するTCP不良の解析などTCPの特性を測定する。このとき、テープキャリア1表側が表面に見え、IC端子2は実装面側にある。直接TCPの入力、出力の電気信号が測定できないが、液晶セル9側に露出している液晶セル端子6又は、接続基板7側に露出している接続基板端子8を用いて間接的に測定を行う。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来の液晶表示装置は、次のような問題点がある。すなわち、第1の従来の液晶表示装置は、スリット5をベースフィルム1に設けた場合、スリット5部分の機械的強度が低下し、プリント基板11へのTCP実装時に入力側電極部7bの断線に至る可能性がある。又、スリット5が表面に露出しているため、耐湿性の低下による入力側電極7Bの腐食や、入力側電極7Bへの導電性屑付着などによるショート不良の多発などの可能性もある。
【0011】
その結果、従来のこの技術では、TCPの実装後に発見される不良の故障解析などTCPの特性測定を行なう際に、テープキャリア面が表面になるため、TCPからの直接的な信号の確認が出来ないのが現状であった。
【0012】
また、第2の従来の液晶表示装置の技術だと、TCP実装後に発生するTCP不良の解析などTCPの特性を測定しようとする際にテープキャリア1表側が表面に見え、IC端子2は実装面側にあるため、直接TCPの入力、出力の電気信号が測定できない。
【0013】
そのため、液晶セル9側に露出している液晶セル端子6又は、接続基板7側に露出している接続基板端子8を用いて間接的に測定を行なっていたが、測定器測定プローブによって両端子へのコンタクト不良による測定誤差、測定ミスを生じさせたり、両端子を破壊させるなどの恐れがあった。又、現在液晶セルの狭額縁化が進む中、液晶セル9側の液晶セル端子6の露出面積が少なくなりTCP出力信号が測定できない場合も生じてきた。
【0014】
したがって、本発明の主な目的は、上記問題を解決した液晶表示装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶表示装置は、圧接技術にてテープキャリアに接続された液晶駆動用ドライバーICを具備する液晶表示装置であって、前記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーICのIC端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定する液晶表示装置において、前記スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具備し、前記絶縁膜は、前記テープキャリアの電気信号確認の際、前記スルーホールとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成される。
【0016】
また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの前記テープキャリアの裏面から前記テープキャリアの表面に向かう貫通部分が、金属を充填するメッキ手段で形成される構成である。
【0017】
また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブを接触して、電気信号の入出力を測定する構成であり、また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブが接触できる分の面積を確保した構成であり、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の厚みを確保した構成である。
【0018】
本発明の液晶表示装置の前記絶縁膜は、シリコン樹脂であり、前記スルーホールの位置を、千鳥配置とした構成である。また、前記スルーホールの位置を、斜め配列とした構成である。
【0019】
【発明の実施の形態】
図面を参照しながら、本発明の実施の形態の液晶表示装置について、詳細に説明する。
【0020】
本発明の液晶表示装置は、TCPのテープキャリアにスルーホールを設け、テープキャリア上に形成されたIC端子とスルーホールを電気的に接続し、TCPの実装後でもテープキャリア表面からこのスルーホール部を介しIC端子部の電気信号が読み取れることを特徴としたものである。
【0021】
図1(a)に、本発明の実施の形態の液晶表示装置の断面図を示す。また、図1(b)に本発明の実施の形態の液晶表示装置の平面図を示す。
【0022】
図1(a)および図1(b)を参照すると、本発明の実施の形態の液晶表示装置は、テープキャリア11に、あらかじめIC端子12の位置に対応するスルーホール20の穴をあけておく。このテープキャリア11に、IC端子12を形成した後、IC端子12面側に保護用のレジスト13を塗布する。
【0023】
さらに、IC14を実装し、封止樹脂15にて固定する。スルーホール20の部分にメッキ技術等を用い、金属21を充填しテープキャリア11表面にスルーホール20を形成する。
【0024】
この際、スルーホール20に充填した金属21はIC端子12と電気的に導通させるものとする。スルーホール20の部分は、実装後のTCP故障解析など特性測定の際、IC入出力の電気信号を測定するために用いるもので、スルーホール20の表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の面積、厚みを確保する。
【0025】
スルーホール20上には金属21同士のショートや、金属21自体の腐食等の不具合を防止するための、透明度のある絶縁膜22を塗布しておく。絶縁膜22は、TCPの電気信号確認の際、スルーホール20との導通をとるため、破壊しやすいように極力薄く、柔らかい膜(シリコン樹脂など)が望ましい。以上の構造のTCPを液晶セル端子16及び接続基板端子18に圧接技術を用いて電気的接続をとるものとする。
【0026】
次に、本発明の実施の形態の液晶表示装置のTCPの入出力の電気信号を測定する方法を説明する。
【0027】
本発明の実施の形態の液晶表示装置の液晶セル19に実装してしまったTCPの入出力の電気信号を測定する際は、絶縁膜22より透過して見えるスルーホール20を介して、電気信号を測定する。測定の際は、測定器のプローブにて、薄く、かつ、柔らかい絶縁膜22を破壊し、スルーホール20へ直接接触し、電気信号を測定するものとする。
【0028】
次に、本発明の図1(a)および図1(b)の実施の形態の液晶表示装置では、スルーホール間の寸法については制限していないが、高密度実装技術が進展していく中、その寸法も問題となってくる。
【0029】
したがって、本発明の他の実施の形態の液晶表示装置は、TCPのIC端子12の幅が高密度端子となった場合には、スルーホールの位置を、「千鳥配置」または「斜め配列」などのように、その位置をずらす構成とする。
【0030】
このように、スルーホール20の位置をを分散させることで、テープキャリア11の機械的強度の維持も図ることができ、スルーホール20より露出した金属21を絶縁膜22で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防止も図ることができる。
【0031】
【発明の効果】
以上説明した通り、従来は、スルーホールの無いTCPでは、TCPを液晶セル9に実装してしまってからのTCPの電気信号の入出力測定の際、IC端子2が実装面側にあり直接的に測定できず、液晶セル端子6や、接続基板端子8に測定用プローブを接触させTCPの入出力信号を間接的に測定していた。この方法では測定中の測定プローブの接触不良による測定誤差、測定ミスを発生させたり、液晶セル端子6の部分の破壊を生じさせていた。
【0032】
さらには、液晶セル端子16露出部の寸法が液晶表示装置の狭額縁化の流れにより益々狭くなっており、液晶セル端子6を利用しての測定には測定用プローブの接触端子の先端寸法を小さいものを選択する必要があったがそれにも限界がある。又、液晶セル端子6や接続基板端子8を用いてのTCP電気信号の測定では、液晶セル端子6とIC端子2の間、接続基板端子8とIC端子2の間のショートやオープンなどの不具合は間接的測定のため、測定誤差が大きいという問題があった。
【0033】
本発明では、テープキャリア11にスルーホール20を設け、IC端子12と、スルーホール内に充填された金属21を導通させ、テープキャリア11の表面に露出させることで、この部分を用いTCPの電気信号を直接的に測定することが可能となった。
【0034】
更には、間接的な測定方法で生じる、測定用プローブの接触不良による測定誤差、測定ミス、液晶セル端子16の破壊も無くなり、さらに液晶セル端子16が露出していなくても、TCPの出力信号が測定できる効果がある。
【0035】
又、スルーホール20の位置を分散させることで、テープキャリア11の機械的強度の維持も図ることができ、スルーホール20より露出した金属21を絶縁膜22で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防止も図ることができる効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の液晶表示装置の平面図および断面図である。
【図2】第2の従来の液晶表示装置の平面図および断面図である。
【図3】第1の従来の液晶表示装置の平面図である。
【図4】第1の従来の液晶表示装置の断面図である。
【符号の説明】
1 テープキャリア
2 IC端子
3 レジスト
4 IC
5 封止樹脂
6 液晶セル端子
7 接続基板
8 接続基板端子
9 液晶セル
11 テープキャリア
12 IC端子
13 レジスト
14 IC
15 封止樹脂
16 液晶セル端子
17 接続基板
18 接続基板端子
19 液晶セル
20 スルーホール
21 金属
22 絶縁膜[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device having a tape carrier package (hereinafter abbreviated as TCP).
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a liquid crystal display device is a tape-like insulating film with leads formed on it. A semiconductor chip is mounted on the base film as a TCP connected to the leads. It is well known to have a structure in which an IC is mounted by gag bonding.
[0003]
Such a conventional liquid crystal display device is disclosed, for example, in JP-A-9-127542 (Cited Document 1). FIG. 3 is a plan view of a first conventional liquid crystal display device described in the cited
[0004]
3 and 4, in the first conventional liquid crystal display device, a slit 55 is provided on the base film 51, and an electric signal of the driving IC 58 is measured at an exposed portion of the input side electrode portion 7b. It is a configuration.
[0005]
2A is a sectional view of a second conventional liquid crystal display device, and FIG. 2B is a plan view of the second conventional liquid crystal display device.
[0006]
Referring to FIGS. 2A and 2B, the second conventional liquid crystal display device is electrically connected to a liquid crystal cell 9 by using a
[0007]
In the conventional TCP, an
[0008]
The TCP structure is such that an IC input / output lead is formed on a
[0009]
By applying this technique, TCP characteristics such as analysis of TCP defects occurring after TCP mounting are measured. At this time, the front side of the
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
However, this conventional liquid crystal display device has the following problems. That is, in the first conventional liquid crystal display device, when the slit 5 is provided in the
[0011]
As a result, with this conventional technology, when measuring TCP characteristics such as failure analysis of defects found after TCP mounting, the tape carrier surface becomes the surface, so it is possible to directly check the signal from TCP. There was no current situation.
[0012]
Further, according to the second conventional liquid crystal display device technique, the front side of the
[0013]
For this reason, the liquid
[0014]
Accordingly, a main object of the present invention is to provide a liquid crystal display device that solves the above problems.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
The liquid crystal display device of the present invention is a liquid crystal display device comprising a liquid crystal driving driver IC connected to a tape carrier by pressure welding technology, and an electric signal input / output unit on the surface of the tape carrier and the tape carrier. In a liquid crystal display device in which a through hole electrically connected to an IC terminal of the driver IC for driving the liquid crystal is provided on the back surface and measuring input / output of an electric signal from the surface of the tape carrier , the metal is disposed on the through hole. In order to prevent short-circuit between each other and corrosion of the metal itself, a transparent insulating film is provided, and the insulating film is electrically connected to the through hole when the electrical signal of the tape carrier is confirmed. It is composed of a film that is easy to do.
[0016]
In the liquid crystal display device of the present invention, a through portion of the through hole from the back surface of the tape carrier toward the surface of the tape carrier is formed by a plating means that fills with metal.
[0017]
Further, the surface probe of the through hole of the liquid crystal display device of the present invention is in contact with the measurement probe to measure the input / output of an electric signal, and the liquid crystal display device of the present invention is configured as described above. The surface exposed portion of the through hole is configured to have an area that can be contacted by the measurement probe, and the surface exposed portion of the through hole of the liquid crystal display device of the present invention can be contacted by the measurement probe. It is the structure which secured the thickness of.
[0018]
In the liquid crystal display device of the present invention, the insulating film is made of silicon resin, and the positions of the through holes are staggered. Further, the positions of the through holes are arranged obliquely.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
A liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0020]
In the liquid crystal display device of the present invention, a through hole is provided in a TCP tape carrier, and an IC terminal formed on the tape carrier is electrically connected to the through hole. The electric signal of the IC terminal portion can be read through the terminal.
[0021]
FIG. 1A is a sectional view of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. FIG. 1B is a plan view of the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention.
[0022]
Referring to FIGS. 1A and 1B, in the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention, a hole of a through
[0023]
Further, the IC 14 is mounted and fixed with the sealing resin 15. The through
[0024]
At this time, the metal 21 filled in the through
[0025]
On the through
[0026]
Next, a method for measuring the input / output electrical signals of the TCP of the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention will be described.
[0027]
When measuring the electrical signal of the input / output of TCP that has been mounted on the liquid crystal cell 19 of the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention, the electrical signal is transmitted through the through
[0028]
Next, in the liquid crystal display device according to the embodiment of FIGS. 1A and 1B of the present invention, the dimension between through holes is not limited, but high-density mounting technology is advancing. The dimensions are also a problem.
[0029]
Therefore, in the liquid crystal display device according to another embodiment of the present invention, when the width of the
[0030]
Thus, by dispersing the positions of the through
[0031]
【The invention's effect】
As described above, in the conventional TCP having no through hole, when the input / output measurement of the TCP electrical signal is performed after the TCP is mounted on the liquid crystal cell 9, the
[0032]
Furthermore, the dimension of the exposed portion of the liquid crystal cell terminal 16 is becoming narrower due to the trend toward narrowing the frame of the liquid crystal display device, and the tip dimension of the contact terminal of the measurement probe is used for measurement using the liquid
[0033]
In the present invention, the through
[0034]
Further, the measurement error, measurement error, and destruction of the liquid crystal cell terminal 16 caused by the contact failure of the measurement probe, which are caused by an indirect measurement method, are eliminated, and even if the liquid crystal cell terminal 16 is not exposed, the output signal of the TCP There is an effect that can be measured.
[0035]
Further, by dispersing the positions of the through
[Brief description of the drawings]
1A and 1B are a plan view and a cross-sectional view of a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a plan view and a sectional view of a second conventional liquid crystal display device.
FIG. 3 is a plan view of a first conventional liquid crystal display device.
FIG. 4 is a cross-sectional view of a first conventional liquid crystal display device.
[Explanation of symbols]
1
5 Sealing
15 Sealing resin 16 Liquid crystal cell terminal 17 Connection substrate 18 Connection substrate terminal 19
Claims (8)
前記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーICのIC端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定する液晶表示装置において、
前記スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具備し、
前記絶縁膜は、前記テープキャリアの電気信号確認の際、前記スルーホールとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成されることを特徴とする液晶表示装置。A liquid crystal display device comprising a liquid crystal driving driver IC connected to a tape carrier by pressure welding technology,
An electrical signal input / output unit is provided on the surface of the tape carrier, and a through hole is provided on the back surface of the tape carrier to be electrically connected to the IC terminal of the driver IC for driving the liquid crystal. In a liquid crystal display device that measures output ,
On the through hole, in order to prevent short-circuit between the metals and corrosion of the metal itself, comprising a transparent insulating film,
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the insulating film is made of a film that is easily broken because it is electrically connected to the through hole when an electrical signal of the tape carrier is confirmed .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002036953A JP4009468B2 (en) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | Liquid crystal display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002036953A JP4009468B2 (en) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | Liquid crystal display |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003241216A JP2003241216A (en) | 2003-08-27 |
JP4009468B2 true JP4009468B2 (en) | 2007-11-14 |
Family
ID=27778688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002036953A Expired - Fee Related JP4009468B2 (en) | 2002-02-14 | 2002-02-14 | Liquid crystal display |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4009468B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100385082B1 (en) | 2000-07-27 | 2003-05-22 | 삼성전자주식회사 | a liquid crystal display and a manufacturing method thereof |
CN102645586B (en) * | 2011-06-09 | 2014-07-09 | 北京京东方光电科技有限公司 | Glass base plate, through hole resistance measuring method and metal wire resistance measuring method |
-
2002
- 2002-02-14 JP JP2002036953A patent/JP4009468B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003241216A (en) | 2003-08-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0856889B1 (en) | Semiconductor device mount structure and semiconductor device mounting method | |
JP3270807B2 (en) | Tape carrier package | |
JP5535707B2 (en) | Display device and display device connection status inspection method | |
KR100737590B1 (en) | Tab Tape for Tape Carrier Packages | |
JP4864126B2 (en) | TCP type semiconductor device | |
JPH0682802A (en) | Liquid crystal display | |
JP4009468B2 (en) | Liquid crystal display | |
KR20140131762A (en) | Substrate of electronic device, electronic device including the same and measuring method of resistance at contact portion | |
CN112771657B (en) | Flexible printed circuit board, joined body, pressure sensor, and mass flow rate control device | |
KR101063187B1 (en) | Film Type Probe Unit | |
JPH04312938A (en) | Film carrier tape | |
JP2022118411A (en) | Semiconductor device and inspection method | |
JP2001284394A (en) | Semiconductor element | |
KR19980048605A (en) | LCD Display Module | |
JP4308371B2 (en) | Contact probe and probe device | |
JPH04274412A (en) | Wiring board | |
JPH11185850A (en) | Connection structure of circuit substrate and judging method for connection state of circuit substrate | |
JPH09113538A (en) | Bump probe device | |
JPH06152192A (en) | Mounting method for semiconductor chip | |
JP2007311624A (en) | Semiconductor integrated circuit package and its manufacturing method | |
JP2002228686A (en) | Contact probe having breakage prevention function and probe device | |
JPH0982714A (en) | I/o terminal of semiconductor integrated circuit | |
JP2004170824A (en) | Connection structure and connection method of flexible printed wiring board | |
JPH07106375A (en) | Tab tape of semiconductor device | |
JPS58197757A (en) | Lead frame |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050117 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20050310 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Effective date: 20070124 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070419 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20070604 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20070612 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070724 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070814 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070903 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |