JP4002577B2 - 粒子の光学的検出および分析 - Google Patents
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Description
相互作用を監視する能力が限定される。このような方法はDE 4307042(930305)に開示され、ここでは、単層または多層の受容体分子がエバネッセント導波路センサ装置上に堆積し、このエバネッセント導波路センサ装置は、溶液中のさまざまな化学種および生化学種を検知しかつ定量化することができる。類似の方法が、SE 884075(881110)の優先権を主張するWO 9005295に開示され、ここでは、楔形のプリズムを用いることにより、光学センサ素子の下側から異なる角度で反射する光を撮像しかつ分析して、溶液中における特定の種を定量化することが可能となる。同様に、US 228233(940415)の優先権を主張するEP677735は光学的空洞共振器を記載し、ここでは、光が、溶液成分と接触する内部全反射(TIR)空洞から反射し、その溶液成分がTIR空銅内のエバネッセント場と相互作用することにより、溶液中の種を定量化することが可能となる。これらの技術は、検知素子の表面の下側から反射される光の分析に依拠することによって特徴付けられる。
8049は、生物学的分子またはウイルスなどのサブミクロンの構造の単一の粒子を検出するための方法および装置を記載し、これは、金属の薄膜でコーティングされ表面プラズモン共鳴角度で入射する光学ビームで照らされる光学的に透明の基板を利用し、金属膜と接触するよう配置されるサンプル内に含まれるサブミクロンの粒子が、従来の光検出システムによって遠視野で検出され得る光を散乱させる。この装置はフローサイトメトリまたは光学顕微鏡の構成で構成されてもよい。
子との相互作用によって生成される蛍光波長とを測定することにより、0.2μmほどの小さな粒子を定量化することができ、それらのサイズおよび吸収差または蛍光特性に関するさまざまな光学パラメータを決定することができる。
この発明は、ウイルス粒子を例とするサブミクロンの微粒子の少量の懸濁液が光学素子の表面上に配置される場合の予想外の発見に少なくとも部分的に基づいており、この光学素子は、たとえば、光学的に透明の(典型的にはガラスまたはシリカ)の基板を含み、その表面の一部分は金属の薄い(たとえば10’s nm)膜でコーティングされており、その金属はたとえば、少なくとも部分的に光学的に不透明なクロム、銀または金であり、このため、光学的に透明な基板のさらなる隣接領域が金属膜によって覆われないままにされ、非金属でコーティングされたその領域は、その上に、またはそれに極めて近接して入射するようにされる光のビームによって照らされるが、光のビームは、金属膜でコーティングされた領域に近い(が、典型的には一致しない)(たとえば5ミリ以内、好ましくは1mm以内、より好ましくは0.5mm以内の)点で、そして、光学ビームが隣接する金属膜に実質的に平行でそのわずかに上方にあるサンプルを通って屈折により伝搬されるような角度で照らされ、金属膜の上方にあるサンプルを通過するビームの経路内の個々のサブミクロンの粒子が、十分な量の光を散乱させることにより、従来の顕微鏡の対物レンズ/レンズの組合せを介して、目で、または遠視野における像平面において非放射性の金属被覆面の平面に対して標準の角度もしくは高角度で配置される好適な光検出器、たとえば光子増倍管、ソリッドステートのフォトダイオード、CCDカメラもしくは他の感光装置によって、個々に識別可能となることが判明した。こうして個々に検出することのできる粒子の寸法は、それらが上述のような従来の光透過性、暗視野位相コントラスト、エバネッセント場または表面プラズモン共鳴の顕微鏡技術によって検出され得なかったような寸法である。
たとえば乳濁液中の極細な小滴)であり得る。液体のサンプルは、通常、但し必ずしもそうである必要はないが、水溶液であるだろう。
されるべきである。
計的に正確に推定するために、測定量内に含まれる粒子を過度に少なくするように希釈され、量が増加した粒子含有媒体は検出領域の上を流れるようにされ得、これにより、正確に検出および分析することのできる粒子の数が増え得る。このようなより大量の粒子の計数および分析のために、この発明の方法が、フローサイトメータとして公知の機器を例とする光学的粒子測定および分析システムにおいて用いられてもよく、この場合、粒子の懸濁液は、流体力学的なシースとして公知であり高速で移動する実質的に粒子のない流体の流れへと、ノズルを介して、粒子を運ぶサンプルを導入することにより光学測定領域を通過するようにされ、このため、粒子を運ぶサンプルは、粒子が個々に光学測定領域を通過する程度にまで希釈され、粒子を運ぶサンプルの流れる方向が、光学測定領域と最適に整列するよう精密に調整され得る。1つの種類のフローサイトメータは、JOOS(jet-on-an-open-surface)構成として公知であるものを用い、この場合、サンプルを運ぶ流体力学的なシースの流れが、平坦で光学的に透明な表面の上に流れ、このため、サンプルの流れの部分が、問合せ光学ビームの胴部のくびれた部分においてより正確に配置されるようにノズルの位置および流れの速度を調整することによって精密に調整され得る。この発明に従うと、この明細書中に記載される金属被覆された光学面を用いることにより、有利には、上述の金属膜の存在によって与えられる可視性を高めることで、光学的に検出可能なより小さな粒子をこのようなシステムにおいて視覚化することが可能となる。
されるような蛍光ラベルとして作用するよう設計された超サブミクロンの粒子は、検出および分析に同様に適している。溶液中の他の粒子または流体相中の懸濁する他の粒子は、この発明に従って個々に検出され得、計数され得、かつ特徴付けられ得るが、粒子のない流体中の有機的または無機的な汚染粒子、気体中の煙または他の燃焼生成物の粒子、油中の汚染物質、極微な乳濁液(水中の油または油中の水)の小滴、リポソームおよびベシクル、ミセル、マイコプラズマなどの下位の微視的な細胞、自然由来もしくは産業由来のコロイドまたはいずれかの懸濁液、コロイド液もしくは調合剤を含み、この場合、光が散乱する中央部が存在するが、小さすぎるので従来の光学器械類では分析できない。当然、この発明のプロセスにより、上に入射してくる放射を分散させるかまたは修正することができ、かつ好適な検出器によってバックグラウンドから識別することのできるいずれかの粒子を個々に検出しかつ分析することが可能となることが理解されるだろう。
与のいずれかのサンプル中の微粒子に対してSPR装置の表面を同時に分析することが可能となる。
図1を参照すると、この発明に従った装置は機器要素100を含み、この機器要素100は、典型的にはガラスもしくはシリカのプリズムまたは平坦部である光学的に透明な基板1を有し、その部分上に金属の薄膜2が堆積され、この金属の薄膜2は、たとえば、任意の好適なスパッタリング、気相、電気化学的手段または他の析出手段によって堆積される、典型的には30〜80nmの深さの金、銀、アルミニウムまたはクロムである。光学基板は金属膜2によって部分的にしかコーティングされず、その表面のうちの一部分3はコーティングされないままである。好適な視準、強度、偏光および波長または波長領域の光ビーム4は、光学素子上に入射するようにレンズ5によって焦点を合わせられ、このため、ビームは、金属膜2で覆われていないが金属被覆された領域に隣接する領域3における光学素子の表面に当り、当該ビームは、粒子7の懸濁液を含む液体のサンプル6が光学素子100の表面上に配置される場合、当該ビームが、金属膜に対して実質的に平行でありそのわずかに上方にあるサンプルを通って屈折によって伝搬させられる角度で当る。ビーム内に存在するこれらの粒子7は、個々に作用して光を散乱させ、この光は、好適に整列し集束したレンズ配置8、たとえば顕微鏡の対物レンズによって遠視野で検出することができ、これは、その後、目で観察されるか、または感光装置および好適な信号処理または画像分析器械類を用いて分析されるべき液浸レンズおよび関連するレンズであり得る。代替的には、粒子は、たとえばフローセルの構造における好適な光学的に透明な平面の窓を介して、または顕微鏡のカバーガラスもしくは同等物を介して見ることができるかもしれない。
である粒子または選択された蛍光ラベルを用いることによって具体的にラベル付けされている粒子で全体的または部分的に構成される場合、それらの粒子は、ビーム4によって照らされる金属コーティングされた基板2の領域に極めて近接して入ってくると蛍光発光するが、画像が好適な蛍光フィルタアセンブリ9によって最初にフィルタされる場合にレンズアセンブリ8を介して具体的に観察され得る。
Claims (29)
- サブミクロンの粒子の光学的検出および/または分析のための方法であって、
i. 光学ビームのうち少なくとも一部分が、金属膜の表面の上方で、しかし実質的にはこれに平行に近接して伝搬させられるように、集束された光学ビームが、基板の上で、または基板に極めて近接して、基板のうち金属膜でコーティングされた領域に隣接するかまたはその付近にあるが、それとは一致しない点に入射するように、その基板のうちの1つの表面のうち少なくとも一部分が光学的に不透明な金属を含む膜でコーティングされている基板を、好適な源からの集束ビームの放射で照らすステップと、
ii. 粒子が、金属膜の上方で、しかしこれに近接して伝搬する光学ビームによって照らされる領域に入るように、サブミクロンの寸法の粒子または粒子の個体群を含むサンプルを基板の表面上に配置するステップと、
iii. 金属膜の平面に対して標準の角度または高角度で遠視野に位置する好適なレンズおよび検出器の配置により、光学ビームとの粒子の相互作用によって粒子により個々に散乱させられるか、または粒子から出るようにされる光学放射を検出するステップとを含む、方法。 - 基板が、全体的または実質的に光学的に透明な材料を含むか、または全体的または実質的に光学的に透明な材料から形成され、そのうちの1つの表面の一部分が、全体的または実質的に光学的に不透明な金属の膜でコーティングされ、表面の隣接部分がコーティングされないままである、請求項1に記載の方法。
- 集束ビームの放射は、基板上において、金属膜でコーティングされた領域に隣接するかまたはその付近にある表面のうちコーティングされていない部分上におけるある一点に入射する、請求項2に記載の方法。
- 集束された光学ビームは基板のうちの1つの表面上に入射し、基板を通過中に屈折させられ、前記表面のうち金属膜でコーティングされた部分に隣接するかまたはその付近にある反対側の表面にわずかな角度で出てくる、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
- 前記粒子は、それらの数の密度、粒度、粒度分布、形状または運動の点において分析される、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記粒子は、それらが発するか、または照明放射とのそれら粒子の相互作用のために発するようにされる強度および/または蛍光の波長または他の非散乱の放射の点において分析される、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記粒子は、それらの偏光または位相変調特性の点において分析される、請求項1から6のいずれかに記載の方法。
- 前記粒子は、光学ビームによって個々に照らされる体積に入るようにされる、請求項1から7のいずれかに記載の方法。
- 複数の粒子は光学ビームに同時に存在し、複数の粒子の各々からの光学信号は、前記粒子を個々に特徴付けることができるように区別され得る、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
- サンプル中の粒子が蛍光分子でラベル付けされることにより、これらの粒子を他の粒子および/またはバックグラウンドのノイズから識別することが可能となる、請求項1から9のいずれかに記載の方法。
- サンプルと接触すべき基板の表面のうち少なくとも一部分は、1つ以上の分子種で誘導される、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 1つ以上の分子種は、特にサンプルにおける粒子に結合する、請求項11に記載の方法。
- 1つ以上の分子種は、それらの分子の構造特徴の機能として、特定の分子タイプを結合する抗体などの生物学的捕捉分子を含む、請求項11または12に記載の方法。
- 動的なブラウン運動またはサンプル中の粒子間の相互作用に関連付けられる挙動は、数変動分光法、蛍光相関分光法などの好適な分析技術によって、または特定の信号源の追跡運動のための画像分析方法によって検出および分析され得る、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
- 検出可能な粒子は、より大きな超高分子構造の一部である、請求項1から14のいずれかに記載の方法。
- 前記超高分子構造は、細胞もしくは細胞成分、バイオフィルム、ポリマー層または他の構造である、請求項15に記載の方法。
- 請求項1から16のいずれかに記載の方法を実行するための装置であって、その1つの表面のうち少なくとも一部分が光学的に不透明な金属を含む膜でコーティングされている基板と、光学ビームが金属膜の表面の上方で、しかし実質的にはこれに平行に近接して伝搬させられるように、光学ビームが基板の上で、または基板に極めて近接して、基板のうち金属膜でコーティングされた領域に隣接するかまたはその付近にあるが、それとは一致しない点に入射するように、好適な源からの集束ビームの放射で前記基板を照らすための手段と、金属膜の平面に対して標準の角度または高角度で遠視野に位置する好適な検出器の配置により、光学ビームとの粒子の相互作用によって、粒子により個々に散乱させられるかまたは粒子から出るようにされる光学放射を検出する手段とを含む、装置。
- 源はレーザである、請求項17に記載の装置。
- 基板が、粒子検出以外の目的で設計されかつ構築されたより大きなアセンブリの一部である、請求項17または18のいずれかに記載の装置。
- 従来の顕微鏡構成に組込むための、請求項17、18または19のいずれかに記載の装置。
- フローサイトメータ機器構成に組込むための、請求項17、18または19のいずれかに記載の装置。
- 光ファイバの形で構成される、請求項17、18または19のいずれかに記載の装置。
- オンラインアプリケーションのために用いられるよう設計された形に構成される、請求項17、18または19のいずれかに記載の装置。
- 基板は、全体的または実質的に光学的に透明な材料を含むか、または全体的または実質的に光学的に透明な材料から形成され、そのうちの1つの表面の一部分が、全体的または実質的に光学的に不透明な金属の膜でコーティングされ、表面の隣接部分がコーティングされないままである、請求項17から23のいずれかに記載の装置。
- 集束ビームの放射は、基板上において、金属膜でコーティングされた領域に隣接するかまたはその付近にある表面のうちコーティングされていない部分上におけるある一点に入射する、請求項24に記載の装置。
- 集束された光学ビームは基板のうちの1つの表面上に入射し、基板を通過中に屈折させられ、前記表面のうち金属膜でコーティングされた部分に近接するかまたはその付近にある反対側の表面にわずかな角度で出てくる、請求項17から25のいずれかに記載の装置。
- 実質的に上記に説明され、添付の図面に関連している、装置。
- 実質的に上記に説明され、添付の図面に関連している、方法。
- 請求項17から26のいずれかに記載の装置を含む、顕微鏡またはフローサイトメータ。
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