[go: up one dir, main page]

JP3929807B2 - Optical waveguide module - Google Patents

Optical waveguide module Download PDF

Info

Publication number
JP3929807B2
JP3929807B2 JP2002095248A JP2002095248A JP3929807B2 JP 3929807 B2 JP3929807 B2 JP 3929807B2 JP 2002095248 A JP2002095248 A JP 2002095248A JP 2002095248 A JP2002095248 A JP 2002095248A JP 3929807 B2 JP3929807 B2 JP 3929807B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
waveguide
substrate
temperature controller
back surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002095248A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003294959A (en
Inventor
誠 柴田
雄一 鈴木
和明 青木
克利 高樋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Electronics Corp
Original Assignee
NTT Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NTT Electronics Corp filed Critical NTT Electronics Corp
Priority to JP2002095248A priority Critical patent/JP3929807B2/en
Publication of JP2003294959A publication Critical patent/JP2003294959A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3929807B2 publication Critical patent/JP3929807B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、環境温度に敏感な干渉計を有する導波路型光回路に関するものであり、さらに詳しくは温度調節器を備えた光導波路モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】
光通信に用いられる導波路型光回路は、環境温度の変化に敏感である。導波路型光回路としては、シリコンや石英などの基板上にコア、クラッド構造の光導波路を形成する平面型光導波路回路(PLC:Plainer Lightwave Circuit)が代表例である。PLCの一種である、干渉計を有するアレイ導波路型光合分波回路(AWG:Arrayed Waveguide Grating)やマッハツェンダ型干渉光回路(MZ:Mach-Zehnder Interferometer)などは、環境温度の変化によって光路長や屈折率が変動するため、波長特性が温度依存性を持つこととなる。
【0003】
構成要素として干渉計を有する導波路型光回路は、上記のように周辺温度、環境温度に敏感であり、これらの導波路型光回路の温度が設定温度から数度異なると、波長特性が変動することが多い。導波路型光回路の干渉計は、光を分割、合流する部分とその間にあって、分割された光のそれぞれに光路長差を付与する光遅延部分から構成される。AWGにおける分割、合流部分はスラブ導波路であり、光遅延部分はアレイ導波路である。MZにおける分割、合流部分は方向性結合器であり、光遅延部分はアーム導波路である。
【0004】
導波路型光回路の温度制御方法としては、ヒータやペルチェ素子に代表される温度調節器がある。ヒータを利用する温度調節器は、ヒータと温度センサから構成され、温度センサからの情報により、ヒータを用いて室温より高い温度、例えば80℃に一定に保つようヒータで加熱するものである。ペルチェ素子を利用する温度調節器は、ペルチェ素子と温度センサから構成され、温度センサからの情報により、ペルチェ素子で加熱又は冷却して一定の温度に保持するものである。いずれも、導波路型光回路を形成した基板の裏面に配設された温度調節器で、導波路型光回路の温度を制御する。光導波路モジュールは、導波路型光回路に温度調節器を備えたものである。
【0005】
ヒータやペルチェ素子で加熱又は冷却すると、場所によっては温度分布が生じる。大型のヒータやペルチェ素子、又は複数のヒータやペルチェ素子を使用すると、温度分布差を小さくできるが、温度調節器の大型化や消費電力の上昇を招くこととなる。また、温度センサは導波路型光回路全体の温度を測定しているわけではなく、温度センサ周辺の温度を測定しているに過ぎず、ヒータやペルチェ素子の部分と温度センサとの間で制御誤差を生じる。
【0006】
従来の光導波路モジュールの基板上の温度分布をサーモビューワ(日本電子データム社製、JTG-7200)で観察し、等温線で表示した結果を図1に示す。図1は、基板の上にPLCの一種であるAWGを構成したものである。図1において、11は等温線、12はPLC基板、13はアレイ導波路、14はスラブ導波路、15は入出力導波路である。図1では等温線間隔は1℃である。図1から分かるように、AWG内に複数の等温線が存在しており、AWG全体が均一の温度となっているわけではない。AWGは干渉計を有する導波路型光回路であり、その波長特性は温度に非常に敏感なため、特にアレイ導波路部13の温度が設計通りの温度でない場合には波長特性が変動する欠点があった。図1では、アレイ導波路13とスラブ導波路14は6℃の温度範囲内に配置されている。
【0007】
従来のMZの基板上の温度分布をサーモビューワ(日本電子データム社製、JTG-7200)で観察し、等温線で表示した結果を図2に示す。図2は、基板の上にPLCの一種であるMZを構成したものである。図2において、11は等温線、12はPLC基板、31と32はアーム導波路、33は方向性結合器である。図2では等温線間隔は1℃である。図2から分かるように、MZ内に複数の等温線が存在しており、MZ全体が均一の温度となっているわけではない。MZはAWGと同様に、干渉計を有する導波路型光回路であり、その波長特性は温度に非常に敏感なため、特にアーム導波路31とアーム導波路32の温度が設計通りの温度でない場合には波長特性が変動する欠点があった。図2では、アーム導波路31、32と方向性結合器33は5℃の温度範囲内に配置されている。
【0008】
図1又は図2で説明したように、温度調節器を備えたAWGやMZは全体が均一の温度ではなく、裏面に配置しているヒータやペルチェ素子からの距離の差により、場所によっては設計温度と異なる温度となっていた。このため、図1におけるアレイ導波路13やスラブ導波路14、図2におけるアーム導波路31、32や方向性結合器33のように導波路型光回路の干渉計が等温線を横切るような配置となっていた。この結果、AWGやMZ等のPLCの波長特性が変動する問題が発生していた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、このような問題を解決するために、導波路型光回路の干渉計又は干渉計の一部が等温線を横切らないような配置とすることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために、本発明では、導波路型光回路の干渉計又は干渉計の一部を温度調節器によって形成される等温線に沿って配置することにより解決する。
第一発明は、基板上に構成された干渉計を含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記干渉計の相当部位の裏面付近に配設され、前記干渉計が前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュールである。
【0011】
第二発明は、基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記アレイ導波路の相当部位の裏面付近に配設され、前記アレイ導波路が前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュールである。
【0012】
第三発明は、基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記導波路型光回路の相当部位の裏面付近に配設され、前記アレイ導波路と前記2つのスラブ導波路とが前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュールである。
【0013】
第四発明は、基板上に構成された2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する2本のアーム導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記導波路型光回路の裏面付近に配設され、前記2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する前記2本のアーム導波路とが前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュールである。
【0014】
第五発明は、上記第一発明から第四発明の光導波路モジュールにおいて、等温線に沿って配置される導波路型光回路が、2.4℃以内、好ましくは2.1℃以内、より好ましくは1.5℃以内の温度帯域幅に配置されたことを特徴とする光導波路モジュールである。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の実施の形態について、添付の図面を参照して説明する。
(実施の形態1)
本発明の導波路型光回路であるAWGの配置を図3に示す。図3において、11は等温線、12はPLC基板、13はアレイ導波路、14はスラブ導波路、15は入出力導波路である。図3では、等温線間隔は0.5℃である。本実施の形態では、このAWGを構成したPLC基板の裏面にヒータを直接接触させている。PLC基板にヒータを直接接触させている様子を図4に示す。図4において、12はPLC基板、20はアルミニウム製の均熱板、21は温度調節器である。均熱板20は、熱伝導率のよいアルミニウムによって、PLC基板全体をある程度均一に加熱するために設けてある。温度調節器21は、ヒータがPLC基板に直接接触できるような構造となっている。
【0016】
図3において、等温線11はサーモビューワ(日本電子データム社製、JTG-7200)によって、実際に測定した温度分布である。PLC基板12の中央部が一番温度の高い部分で、中央の等温線が69.0℃である。外周に向けて0.5℃間隔の温度分布となっている。図3に示すように、均熱板を設けてもPLC基板12全体の温度を均一にすることは困難である。
【0017】
本実施の形態では、アレイ導波路13が半円弧状となっていることを利用し、ヒータの加熱中心をアレイ導波路13の真下からずらせて配置したため、図3に示すように、アレイ導波路13を68.5℃と67.5℃の2本の等温線に沿うように配置することができた。このような、配置とすることにより、アレイ導波路13の周辺温度を68.0±0.5℃の温度範囲で実現することができた。
【0018】
さらに、スラブ導波路14は、アレイ導波路13が延長されるような略長方形となっていることを利用し、図3に示すように、アレイ導波路13のみならず、スラブ導波路14も含めて、68.5℃と67.5℃の2本の等温線に沿わせて配置することができた。このような配置とすることにより、アレイ導波路13とスラブ導波路14との周辺温度を設計温度である68.0±0.5℃の温度範囲で実現することができた。
【0019】
従来は、温度センサが設置された部分だけが設計値温度で、導波路型光回路の他の部分の温度は設計値温度と異なっていた。本実施の形態では、導波路型光回路を等温線に沿って配置することにより、導波路型光回路を設計温度の範囲に収めることができ、波長特性の変動が生じることはなかった。
【0020】
また、AWGにおいてはスラブ導波路の温度分布や温度設定値の設計値とのズレは、主にスラブ導波路の実効屈折率が設計値から変動することになる。この結果、中心ポートから離れた出力ポートにおいて分波波長が設計値からの誤差となる。中心ポートから離れて端ポートに近づく程、この傾向が強くなる。従って、AWGのスラブ導波路をも等温線に沿わせる図3の構成は、中心ポートから離れた周辺ポートでの波長精度が向上する効果がある。
【0021】
図3においては、等温線の間隔を0.5℃で表示している。導波路型光回路の設計温度の許容値は、仕様により種々あるが、その多くは±1.2℃である。そのため、導波路型光回路の干渉計が2.4℃の等温線の幅を越えて配置される場合には、設計温度の許容範囲を越えてしまうため、波長特性の変動が生じることとなる。従って、導波路型光回路の干渉計は等温線の間隔が2.4℃以内の幅に配置される必要がある。
【0022】
ヒータを使用した温度調節器では、ヒータにより加熱し、熱が均熱板で放熱できるようにする。ペルチェ素子を使用した温度調節器では、ペルチェ素子により加熱若しくは冷却し、熱が均熱板から放熱、若しくは均熱板で吸熱できるようにする。図4で説明した均熱板と温度調節器の配置を図5に示す。温度調節器は、ヒータ又はペルチェ素子を熱源としている。図5(a)は均熱板と温度調節器の平面図、図5(b)は正面図である。図5(a)、(b)において、20は均熱板、21は温度調節器、22は温度センサである。均熱板は図5の形状だけでなく、図6のような形状でもよい。図6(a)は均熱板と温度調節器の平面図、図6(b)は正面図である。図6(a)、(b)において、20は均熱板、21は温度調節器、22は温度センサである。
【0023】
また、温度調節器の配置構造を図7に示す。図7(a)、(b)において、12はPLC基板,20は均熱板、21は温度調節器である。図7(a)の構造では温度調節器21がPLC基板に直接接触する。このため、図7(a)の構造では、温度制御の時定数を短くすることができ、環境温度の急変にも追随させることができる。図7(b)の構造では、温度調節器21は均熱板20を介して接触する。このため、図7(b)の構造では、比較的温度分布の勾配が緩やかになり、大型のPLC基板の温度制御も可能になる。
【0024】
(実施の形態2)
AWGにおいて、アレイ導波路だけを等温線に沿うように配置しても、光導波回路の波長特性の向上に効果がある。図8は、アレイ導波路だけを等温線に沿うように配置した図である。図8において、11は等温線、12はPLC基板、13はアレイ導波路、14はスラブ導波路、15は入出力導波路である。図8に示すように、AWGはその種類によっては、スラブ導波路14がアレイ導波路13に比べて大きい回路もある。その場合は、アレイ導波路13と2本のスラブ導波路14の全てを等温線に沿って配置することは困難なことがある。そこで、本実施の形態のように、アレイ導波路13だけを等温線に沿うように温度調節器と導波路型光回路を配置しても、波長特性の変動を防ぐ効果がある。
【0025】
AWGの干渉計は、光を分割合流するスラブ導波路と、分割された光のそれぞれに光路長差を付与するアレイ導波路から成っている。このうち、アレイ導波路は特に温度に敏感であり、その隣接導波路間の光路長差(導波路長×実効屈折率)の温度分布差によって、干渉波長の波長変動を生じさせる。従って、干渉計の形状によって干渉計全体を等温線内に配置できない場合には、アレイ導波路部分を等温線内に配置することが有効である。
【0026】
(実施の形態3)
AWGでは、PLC基板を設計温度に設定したとき、中心の出力ポートから特定の波長(設計中心波長)が出力されるように設計されている。しかし、温度調節器で設計温度に設定しても、実際の動作では、アレイ導波路部分の温度分布によって、中心の出力ポートからの出力光の波長は設計中心波長との波長誤差(中心波長誤差)が生じる。
【0027】
アレイ導波路の温度分布の差(Δ℃)と、中心波長誤差(pm)を測定した結果を図9に示す。温度分布の測定は、実施の形態1と同じく、サーモビューワ(日本電子データム社製、JTG-7200)によって実際に温度を測定し、そのときの波長誤差を測定した。図9から分かるように、実質上の中心波長誤差の許容範囲が±10pm、即ち20pm以内であるためには、アレイ導波路の温度分布差は2.4℃以内である必要がある。好ましくは、中心波長誤差の許容範囲が15pm以内となる温度分布差2.1℃以内、さらに好ましくは、中心波長誤差の許容範囲が10pm以内である温度分布差1.5℃以内である必要がある。
【0028】
(実施の形態4)
装置の小型化を図るために、同一基板上に2つのAWGを形成することがある。2つのAWGを同一基板上に形成した例を図10に示す。11は等温線、12はPLC基板、13はアレイ導波路、15は入出力導波路、16はスラブ導波路である。このような配置は、AWGの一つを合波器とし、他の一つを分波器とする送受一体型の光合分波器を構成するような場合に特に有効である。この場合は2つのAWGを同時に動作させることになる。2つのAWGは同時に動作させるため、同一の温度で動作するように設計する。
本実施の形態では、2つの対向する半円弧上のアレイ導波路13をそれぞれ、等温線に沿うように配置し、AWGの中心波長誤差を小さくすることができた。
【0029】
(実施の形態5)
本発明をMZにも適用することができる。図11は本発明を適用したMZ干渉計である。図11において、11は等温線、12はPLC基板、31、32はアーム導波路、33は方向性結合器である。実施の形態1と同様に、PLC基板の裏面には温度調節器が配置してあり、本実施の形態ではペルチェ素子がPLC基板12に直接接触するように設置してある。前記温度調節器によって形成される等温線をサーモビューワで把握し、2つの方向性結合器33と該2つの方向性結合器33を接続する2本のアーム導波路31、32とを前記温度調節器によって形成される等温線11に沿うように、配置した。図11から分かるように、MZでは、2本のアーム導波路31と32の長さが非対称であるため、2本のアーム導波路31と32との間に、裏面のペルチェ素子の加熱又は冷却の中心を位置させた。
【0030】
その結果、図2で説明したように、従来のMZではアーム導波路を等温線が横切っており、温度センサを用いて設計通りの温度に制御することは困難であったが、本発明の等温線を利用した配置構造を取ることにより、アーム導波路と方向性結合器を簡単に設計温度内に設定できるようになり、波長特性の誤差がなくなった。
【0031】
MZでは、2本のアーム導波路31、32を等温線11に沿って配置するだけでも、ある程度の波長特性の変動を防止できる。しかし、方向性結合器33を2本のアーム導波路31、32と異なる等温線に配置すると、方向性結合器33の温度分布差や設定温度からの変動によって、分岐比が50%からずれ、方向性結合器のクロス側出力とスルー側出力の振幅が不均衡となる。従って、MZの方向性結合器も等温線に沿って配置することにより、波長精度とともに振幅精度の優れたMZを得ることができる。
【0032】
本発明は、前述したAWG又はMZに限定されず、干渉計を有し、その光路長差の絶対量を温度で制御するような光導波路モジュールに広く適用することができる。導波路型光回路の他の例としては導波路に屈折率変化を形成する導波路グレーティング等がある。前述のAWGやMZでは、干渉計部分が広い領域に形成されるため、温度分布の影響を受けやすく、従って干渉計部分を一定温度範囲内とする本発明の効果は特に大きい。
【0033】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、導波路型光回路の干渉計又は干渉計の一部を等温線に沿って配置することにより、導波路型光回路を設計温度以内に保持することができるようになった。この結果、AWGやMZ等のPLCの波長特性の変動を抑圧することが可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の配置によるAWGの構造を説明する図である。
【図2】従来の配置によるMZの構造を説明する図である。
【図3】本発明による等温線に沿って配置したAWGの配置構造を説明する図である。
【図4】本発明に適用する温度調節器と均熱板の構造を説明する図である。
【図5】本発明に適用する均熱板と温度調節器の配置を説明する図である。
【図6】本発明に適用する均熱板と温度調節器の配置を説明する図である。
【図7】本発明に適用する均熱板と温度調節器の他の配置を説明する図である。
【図8】本発明による等温線に沿ってアレイ導波路を配置したAWGの配置構造を説明する図である。
【図9】アレイ導波路の温度分布の差(Δ℃)と、中心波長変動(pm)を測定した結果を説明する図である。
【図10】本発明による等温線に沿って配置したAWGの配置構造を説明する図である。
【図11】本発明による等温線に沿って配置したMZの配置構造を説明する図である。
【符号の説明】
11:等温線
12:平面型光導波路回路(PLC:Plainer Lightwave Circuit)基板
13:アレイ導波路
14:スラブ導波路
15:入出力導波路
16:スラブ導波路
20:均熱板
21:温度調節器
22:温度センサ
31、32:アーム導波路
33:方向性結合器
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a waveguide type optical circuit having an interferometer sensitive to environmental temperature, and more particularly to an optical waveguide module provided with a temperature controller.
[0002]
[Prior art]
Waveguide-type optical circuits used for optical communication are sensitive to changes in environmental temperature. A typical example of the waveguide type optical circuit is a planar lightwave circuit (PLC) in which an optical waveguide having a core and cladding structure is formed on a substrate such as silicon or quartz. A type of PLC, such as an arrayed waveguide optical multiplexing / demultiplexing circuit (AWG) or a Mach-Zehnder interferometer (MZ), which has an interferometer, changes the optical path length depending on changes in environmental temperature. Since the refractive index fluctuates, the wavelength characteristic has temperature dependence.
[0003]
Waveguide-type optical circuits having interferometers as components are sensitive to ambient temperature and environmental temperature as described above, and the wavelength characteristics fluctuate when the temperature of these waveguide-type optical circuits differs from the set temperature by several degrees. Often to do. An interferometer of a waveguide type optical circuit is composed of a part that divides and joins light and an optical delay part that is between them and gives a difference in optical path length to each of the divided lights. The division and merging portion in the AWG is a slab waveguide, and the optical delay portion is an arrayed waveguide. The division and confluence portion in the MZ is a directional coupler, and the optical delay portion is an arm waveguide.
[0004]
As a temperature control method of the waveguide type optical circuit, there is a temperature controller represented by a heater or a Peltier element. A temperature controller using a heater is composed of a heater and a temperature sensor, and is heated by the heater so as to be kept constant at a temperature higher than room temperature, for example, 80 ° C., using the heater based on information from the temperature sensor. A temperature controller using a Peltier element is composed of a Peltier element and a temperature sensor, and is heated or cooled by the Peltier element and held at a constant temperature based on information from the temperature sensor. In either case, the temperature of the waveguide optical circuit is controlled by a temperature controller disposed on the back surface of the substrate on which the waveguide optical circuit is formed. The optical waveguide module is a waveguide type optical circuit provided with a temperature controller.
[0005]
When heated or cooled with a heater or Peltier element, a temperature distribution occurs depending on the location. When a large heater or Peltier element, or a plurality of heaters or Peltier elements are used, the temperature distribution difference can be reduced, but the temperature controller is increased in size and power consumption is increased. The temperature sensor does not measure the temperature of the entire waveguide optical circuit, but only measures the temperature around the temperature sensor, and controls between the heater and Peltier element and the temperature sensor. An error is generated.
[0006]
The temperature distribution on the substrate of the conventional optical waveguide module was observed with a thermoviewer (JTG-7200, manufactured by JEOL Datum Co., Ltd.), and the result displayed with an isotherm is shown in FIG. FIG. 1 shows an AWG that is a kind of PLC formed on a substrate. In FIG. 1, 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 13 is an arrayed waveguide, 14 is a slab waveguide, and 15 is an input / output waveguide. In FIG. 1, the isotherm interval is 1 ° C. As can be seen from FIG. 1, there are a plurality of isotherms in the AWG, and the entire AWG is not at a uniform temperature. The AWG is a waveguide type optical circuit having an interferometer, and its wavelength characteristic is very sensitive to temperature. Therefore, there is a disadvantage that the wavelength characteristic fluctuates especially when the temperature of the arrayed waveguide part 13 is not the designed temperature. there were. In FIG. 1, the arrayed waveguide 13 and the slab waveguide 14 are disposed within a temperature range of 6 ° C.
[0007]
The temperature distribution on a conventional MZ substrate is observed with a thermoviewer (JTG-7200, manufactured by JEOL Datum Co., Ltd.), and the result of the isotherm display is shown in FIG. FIG. 2 shows an MZ, which is a kind of PLC, formed on a substrate. In FIG. 2, 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 31 and 32 are arm waveguides, and 33 is a directional coupler. In FIG. 2, the isotherm interval is 1 ° C. As can be seen from FIG. 2, there are a plurality of isotherms in the MZ, and the entire MZ is not at a uniform temperature. MZ is a waveguide type optical circuit having an interferometer, like AWG, and its wavelength characteristics are very sensitive to temperature. Therefore, especially when the temperatures of arm waveguide 31 and arm waveguide 32 are not as designed. Has the disadvantage that the wavelength characteristics fluctuate. In FIG. 2, the arm waveguides 31 and 32 and the directional coupler 33 are disposed within a temperature range of 5 ° C.
[0008]
As explained in Fig. 1 or 2, AWG and MZ equipped with a temperature controller are not uniform in temperature as a whole, and are designed depending on the location due to the difference in distance from the heater and Peltier element placed on the back side. The temperature was different from the temperature. Therefore, an arrangement in which the interferometer of the waveguide type optical circuit crosses the isothermal line such as the arrayed waveguide 13 and the slab waveguide 14 in FIG. 1, the arm waveguides 31 and 32 and the directional coupler 33 in FIG. It was. As a result, there has been a problem that the wavelength characteristics of PLCs such as AWG and MZ fluctuate.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
In order to solve such a problem, an object of the present invention is to provide an arrangement in which an interferometer of a waveguide type optical circuit or a part of the interferometer does not cross an isotherm.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above-described object, the present invention solves the problem by arranging an interferometer or a part of the interferometer of the waveguide type optical circuit along an isotherm formed by a temperature controller.
According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical waveguide module comprising: a waveguide type optical circuit including an interferometer configured on a substrate; and a temperature controller for adjusting a temperature disposed on a back surface of the substrate. Is disposed in the vicinity of the back surface of a corresponding portion of the interferometer, and the interferometer is disposed along an isothermal line formed by the temperature controller.
[0011]
The second invention is a light guide having a waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide and two slab waveguides formed on a substrate, and a temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate. In the waveguide module, the temperature controller is disposed near a back surface of a corresponding portion of the array waveguide, and the array waveguide is disposed along an isotherm formed by the temperature controller. It is an optical waveguide module.
[0012]
A third invention is an optical waveguide having a waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide and two slab waveguides formed on a substrate, and a temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate. In the waveguide module, the temperature controller is disposed in the vicinity of the back surface of a corresponding portion of the waveguide optical circuit, and the arrayed waveguide and the two slab waveguides are isotherms formed by the temperature controller. It is an optical waveguide module characterized by being arranged along.
[0013]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a waveguide type optical circuit including two directional couplers configured on a substrate and two arm waveguides connecting the two directional couplers, and a back surface of the substrate. An optical waveguide module having a temperature controller for adjusting a temperature, wherein the temperature controller is disposed in the vicinity of the back surface of the waveguide optical circuit, and the two directional couplers and the two directional characteristics are provided. In the optical waveguide module, the two arm waveguides connecting the coupler are arranged along an isotherm formed by the temperature controller.
[0014]
According to a fifth invention, in the optical waveguide module according to the first to fourth inventions, the waveguide type optical circuit disposed along the isothermal line is within 2.4 ° C., preferably within 2.1 ° C., more preferably Is an optical waveguide module characterized by being arranged in a temperature bandwidth within 1.5 ° C.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
(Embodiment 1)
FIG. 3 shows the arrangement of an AWG that is a waveguide type optical circuit of the present invention. In FIG. 3, 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 13 is an arrayed waveguide, 14 is a slab waveguide, and 15 is an input / output waveguide. In FIG. 3, the isotherm interval is 0.5 ° C. In the present embodiment, the heater is brought into direct contact with the back surface of the PLC substrate constituting the AWG. FIG. 4 shows a state where the heater is in direct contact with the PLC substrate. In FIG. 4, 12 is a PLC substrate, 20 is a soaking plate made of aluminum, and 21 is a temperature controller. The soaking plate 20 is provided in order to heat the entire PLC substrate uniformly to some extent with aluminum having good thermal conductivity. The temperature controller 21 has a structure in which the heater can directly contact the PLC substrate.
[0016]
In FIG. 3, an isotherm 11 is a temperature distribution actually measured by a thermo viewer (manufactured by JEOL Datum, JTG-7200). The central portion of the PLC substrate 12 is the hottest portion, and the central isotherm is 69.0 ° C. The temperature distribution is at intervals of 0.5 ° C. toward the outer periphery. As shown in FIG. 3, it is difficult to make the temperature of the entire PLC substrate 12 uniform even if a soaking plate is provided.
[0017]
In this embodiment, since the arrayed waveguide 13 is formed in a semicircular arc shape, the heating center of the heater is shifted from directly below the arrayed waveguide 13, so that as shown in FIG. 13 could be placed along two isotherms at 68.5 ° C. and 67.5 ° C. With such an arrangement, the ambient temperature of the arrayed waveguide 13 could be realized in a temperature range of 68.0 ± 0.5 ° C.
[0018]
Further, the slab waveguide 14 is formed in a substantially rectangular shape so that the array waveguide 13 is extended. As shown in FIG. 3, not only the array waveguide 13 but also the slab waveguide 14 is included. Thus, they could be arranged along two isotherms of 68.5 ° C. and 67.5 ° C. By adopting such an arrangement, the ambient temperature between the arrayed waveguide 13 and the slab waveguide 14 could be realized in a temperature range of 68.0 ± 0.5 ° C. which is the design temperature.
[0019]
Conventionally, only the part where the temperature sensor is installed is the design value temperature, and the temperature of the other part of the waveguide type optical circuit is different from the design value temperature. In the present embodiment, the waveguide type optical circuit can be kept within the design temperature range by arranging the waveguide type optical circuit along the isotherm, and the wavelength characteristic does not vary.
[0020]
Further, in the AWG, the deviation of the temperature distribution of the slab waveguide and the design value of the temperature set value mainly changes the effective refractive index of the slab waveguide from the design value. As a result, the demultiplexed wavelength becomes an error from the design value at the output port away from the center port. This tendency becomes stronger as the distance from the center port approaches the end port. Therefore, the configuration of FIG. 3 in which the AWG slab waveguide is also along the isotherm has an effect of improving the wavelength accuracy at the peripheral port far from the central port.
[0021]
In FIG. 3, the interval between the isotherms is displayed at 0.5 ° C. There are various allowable values of the design temperature of the waveguide type optical circuit depending on the specification, but most of them are ± 1.2 ° C. For this reason, when the interferometer of the waveguide type optical circuit is disposed beyond the width of the 2.4 ° C. isotherm, the allowable range of the design temperature is exceeded, resulting in fluctuations in wavelength characteristics. . Therefore, the interferometer of the waveguide type optical circuit needs to be arranged so that the interval between the isotherms is within 2.4 ° C.
[0022]
A temperature controller using a heater is heated by the heater so that the heat can be dissipated by the soaking plate. In a temperature controller using a Peltier element, heating or cooling is performed by the Peltier element so that heat can be radiated from the heat equalizing plate or absorbed by the heat equalizing plate. FIG. 5 shows the arrangement of the heat equalizing plate and the temperature controller described in FIG. The temperature controller uses a heater or a Peltier element as a heat source. Fig.5 (a) is a top view of a soaking | uniform-heating board and a temperature regulator, FIG.5 (b) is a front view. 5 (a) and 5 (b), 20 is a soaking plate, 21 is a temperature controller, and 22 is a temperature sensor. The soaking plate may have the shape shown in FIG. 6 as well as the shape shown in FIG. 6A is a plan view of the heat equalizing plate and the temperature controller, and FIG. 6B is a front view. 6 (a) and 6 (b), 20 is a soaking plate, 21 is a temperature regulator, and 22 is a temperature sensor.
[0023]
Moreover, the arrangement structure of the temperature controller is shown in FIG. 7A and 7B, 12 is a PLC substrate, 20 is a heat equalizing plate, and 21 is a temperature controller. In the structure of FIG. 7A, the temperature controller 21 is in direct contact with the PLC substrate. For this reason, in the structure of FIG. 7A, the time constant of the temperature control can be shortened, and the sudden change of the environmental temperature can be followed. In the structure of FIG. 7B, the temperature controller 21 is in contact via the soaking plate 20. For this reason, in the structure of FIG. 7B, the gradient of the temperature distribution becomes relatively gentle, and the temperature control of the large-sized PLC substrate is also possible.
[0024]
(Embodiment 2)
In the AWG, even if only the arrayed waveguide is disposed along the isotherm, it is effective in improving the wavelength characteristics of the optical waveguide circuit. FIG. 8 is a diagram in which only the arrayed waveguide is arranged along the isotherm. In FIG. 8, 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 13 is an arrayed waveguide, 14 is a slab waveguide, and 15 is an input / output waveguide. As shown in FIG. 8, depending on the type of AWG, there is a circuit in which the slab waveguide 14 is larger than the arrayed waveguide 13. In that case, it may be difficult to arrange all of the arrayed waveguide 13 and the two slab waveguides 14 along the isotherm. Therefore, even if the temperature controller and the waveguide type optical circuit are arranged so that only the arrayed waveguide 13 is along the isotherm as in the present embodiment, there is an effect of preventing fluctuations in wavelength characteristics.
[0025]
The AWG interferometer includes a slab waveguide that splits light and an arrayed waveguide that gives an optical path length difference to each of the divided lights. Among these, the arrayed waveguide is particularly sensitive to temperature, and the wavelength variation of the interference wavelength is caused by the temperature distribution difference of the optical path length between the adjacent waveguides (waveguide length × effective refractive index). Therefore, when the entire interferometer cannot be placed in the isotherm due to the shape of the interferometer, it is effective to place the arrayed waveguide portion in the isotherm.
[0026]
(Embodiment 3)
The AWG is designed so that a specific wavelength (design center wavelength) is output from the center output port when the PLC substrate is set to the design temperature. However, even if the temperature is set to the design temperature with the temperature controller, the wavelength of the output light from the center output port is different from the design center wavelength due to the temperature distribution of the arrayed waveguide part in the actual operation. ) Occurs.
[0027]
FIG. 9 shows the results of measuring the temperature distribution difference (Δ ° C.) and the center wavelength error (pm) of the arrayed waveguide. As in the first embodiment, the temperature distribution was measured by actually measuring the temperature with a thermoviewer (JTG-7200, manufactured by JEOL Datum Co., Ltd.) and measuring the wavelength error at that time. As can be seen from FIG. 9, in order for the allowable range of the substantial center wavelength error to be within ± 10 pm, that is, within 20 pm, the temperature distribution difference of the arrayed waveguide needs to be within 2.4 ° C. Preferably, the temperature distribution difference is within 2.1 ° C. so that the allowable range of the central wavelength error is within 15 pm, and more preferably, the temperature distribution difference is within 1.5 ° C. where the allowable range of the central wavelength error is within 10 pm. is there.
[0028]
(Embodiment 4)
In order to reduce the size of the apparatus, two AWGs may be formed on the same substrate. An example in which two AWGs are formed on the same substrate is shown in FIG. 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 13 is an arrayed waveguide, 15 is an input / output waveguide, and 16 is a slab waveguide. Such an arrangement is particularly effective in the case of configuring a transmission / reception integrated optical multiplexer / demultiplexer in which one of the AWGs is a multiplexer and the other is a duplexer. In this case, two AWGs are operated simultaneously. Since the two AWGs are operated simultaneously, they are designed to operate at the same temperature.
In the present embodiment, the arrayed waveguides 13 on the two opposing semicircular arcs are respectively arranged along the isotherm, and the central wavelength error of the AWG can be reduced.
[0029]
(Embodiment 5)
The present invention can also be applied to MZ. FIG. 11 shows an MZ interferometer to which the present invention is applied. In FIG. 11, 11 is an isotherm, 12 is a PLC substrate, 31 and 32 are arm waveguides, and 33 is a directional coupler. As in the first embodiment, a temperature controller is disposed on the back surface of the PLC substrate, and in this embodiment, the Peltier element is installed so as to be in direct contact with the PLC substrate 12. An isotherm formed by the temperature adjuster is grasped by a thermoviewer, and the two directional couplers 33 and the two arm waveguides 31 and 32 connecting the two directional couplers 33 are adjusted in temperature. It was arranged along the isotherm 11 formed by the vessel. As can be seen from FIG. 11, in the MZ, the lengths of the two arm waveguides 31 and 32 are asymmetrical, so that the Peltier element on the back surface is heated or cooled between the two arm waveguides 31 and 32. The center of was located.
[0030]
As a result, as described in FIG. 2, in the conventional MZ, the isotherm crosses the arm waveguide, and it is difficult to control the temperature as designed using the temperature sensor. By adopting an arrangement structure using lines, the arm waveguide and the directional coupler can be easily set within the design temperature, and the wavelength characteristic error is eliminated.
[0031]
In MZ, even if the two arm waveguides 31 and 32 are arranged along the isotherm 11, fluctuations in wavelength characteristics to some extent can be prevented. However, if the directional coupler 33 is arranged on an isotherm different from the two arm waveguides 31 and 32, the branching ratio is deviated from 50% due to the temperature distribution difference of the directional coupler 33 and the variation from the set temperature. The amplitude of the cross side output and the through side output of the directional coupler is unbalanced. Therefore, by arranging the MZ directional coupler along the isotherm, it is possible to obtain an MZ having excellent wavelength accuracy as well as wavelength accuracy.
[0032]
The present invention is not limited to the AWG or MZ described above, and can be widely applied to an optical waveguide module having an interferometer and controlling the absolute amount of the optical path length difference with temperature. Other examples of the waveguide type optical circuit include a waveguide grating that forms a refractive index change in the waveguide. In the above-mentioned AWG and MZ, the interferometer portion is formed in a wide region, so that it is easily affected by the temperature distribution. Therefore, the effect of the present invention in which the interferometer portion is within a certain temperature range is particularly great.
[0033]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the waveguide type optical circuit is kept within the design temperature by arranging the interferometer of the waveguide type optical circuit or a part of the interferometer along the isotherm. Can now. As a result, fluctuations in the wavelength characteristics of PLCs such as AWG and MZ can be suppressed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating a structure of an AWG according to a conventional arrangement.
FIG. 2 is a diagram illustrating the structure of an MZ according to a conventional arrangement.
FIG. 3 is a diagram for explaining an arrangement structure of AWGs arranged along an isotherm according to the present invention.
FIG. 4 is a diagram illustrating the structure of a temperature controller and a soaking plate applied to the present invention.
FIG. 5 is a diagram for explaining the arrangement of a soaking plate and a temperature controller applied to the present invention.
FIG. 6 is a view for explaining the arrangement of a soaking plate and a temperature controller applied to the present invention.
FIG. 7 is a diagram for explaining another arrangement of a heat equalizing plate and a temperature controller applied to the present invention.
FIG. 8 is a diagram illustrating an AWG arrangement structure in which an arrayed waveguide is arranged along an isotherm according to the present invention.
FIG. 9 is a diagram for explaining the results of measuring the temperature distribution difference (Δ ° C.) and the center wavelength variation (pm) of the arrayed waveguide;
FIG. 10 is a diagram for explaining an arrangement structure of AWGs arranged along an isotherm according to the present invention.
FIG. 11 is a diagram for explaining an arrangement structure of MZs arranged along an isotherm according to the present invention.
[Explanation of symbols]
11: isotherm 12: planar lightwave circuit (PLC) substrate 13: array waveguide 14: slab waveguide 15: input / output waveguide 16: slab waveguide 20: heat equalizing plate 21: temperature controller 22: Temperature sensor 31, 32: Arm waveguide 33: Directional coupler

Claims (10)

基板上に構成された干渉計を含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記干渉計の相当部位の裏面付近に配設され、前記干渉計の光路長差を付与する光遅延部分全体が前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。An optical waveguide module comprising: a waveguide type optical circuit including an interferometer configured on a substrate; and a temperature adjuster for adjusting a temperature disposed on a back surface of the substrate. An optical waveguide module, wherein the entire optical delay portion disposed near the back surface of a corresponding portion and providing an optical path length difference of the interferometer is disposed along an isothermal line formed by the temperature controller. 基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記アレイ導波路の相当部位の裏面付近に配設され、前記アレイ導波路が前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。  An optical waveguide module comprising: a waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide configured on a substrate and two slab waveguides; and a temperature controller that adjusts a temperature disposed on a back surface of the substrate. An optical waveguide module, wherein a temperature controller is disposed near a back surface of a corresponding portion of the arrayed waveguide, and the arrayed waveguide is disposed along an isothermal line formed by the temperature controller. 基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記導波路型光回路の相当部位の裏面付近に配設され、前記アレイ導波路と前記2つのスラブ導波路とが前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。  An optical waveguide module comprising: a waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide configured on a substrate and two slab waveguides; and a temperature controller that adjusts a temperature disposed on a back surface of the substrate. A temperature controller is disposed near the back surface of a corresponding portion of the waveguide type optical circuit, and the arrayed waveguide and the two slab waveguides are disposed along an isothermal line formed by the temperature controller. An optical waveguide module characterized by that. 基板上に構成された2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する2本のアーム導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記導波路型光回路の裏面付近に配設され、前記2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する前記2本のアーム導波路とが前記温度調節器によって形成される等温線上に配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。A waveguide-type optical circuit including two directional couplers formed on a substrate and two arm waveguides connecting the two directional couplers; and a temperature disposed on a back surface of the substrate. An optical waveguide module having a temperature controller to be adjusted, wherein the temperature controller is disposed near a back surface of the waveguide optical circuit, and connects the two directional couplers and the two directional couplers. The optical waveguide module, wherein the two arm waveguides are arranged on a substantially isotherm formed by the temperature controller. 基板上に構成された2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する2本のアーム導波路とを含む導波路型光回路と、前記基板の裏面に配設された温度を調節する温度調節器とを有する光導波路モジュールにおいて、前記温度調節器が前記導波路型光回路の裏面付近に配設され、前記2つの方向性結合器を接続する前記2本のアーム導波路が前記温度調節器によって形成される等温線に沿って配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。A waveguide-type optical circuit including two directional couplers formed on a substrate and two arm waveguides connecting the two directional couplers; and a temperature disposed on a back surface of the substrate. An optical waveguide module having a temperature controller to be adjusted, wherein the temperature controller is disposed near a back surface of the waveguide optical circuit, and the two arm waveguides connecting the two directional couplers are provided. An optical waveguide module arranged along an isotherm formed by the temperature controller. 基板上に構成された干渉計を含む導波路型光回路と、
前記基板の裏面に配設された温度を調節する1つの温度調節器と
を有する光導波路モジュールにおいて、
前記温度調節器が前記干渉計の相当部位の裏面付近に配設され、前記温度調節器によって形成される基板表面の温度分布の最高温度点又は最低温度点を囲むように、且つ前記温度調節器によって形成される等温線に沿うように、前記干渉計の光路長差を付与する光遅延部分全体が配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。
A waveguide-type optical circuit including an interferometer configured on a substrate;
In the optical waveguide module having one temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate,
The temperature controller is disposed near the back surface of a corresponding portion of the interferometer, and surrounds the highest temperature point or the lowest temperature point of the temperature distribution on the substrate surface formed by the temperature controller, and the temperature controller. An optical waveguide module in which an entire optical delay portion for providing a difference in optical path length of the interferometer is disposed along an isothermal line formed by the above.
基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、
前記基板の裏面に配設された温度を調節する1つの温度調節器と
を有する光導波路モジュールにおいて、
前記温度調節器が前記アレイ導波路の相当部位の裏面付近に配設され、前記温度調節器によって形成される基板表面の温度分布の最高温度点又は最低温度点を囲むように、且つ前記温度調節器によって形成される等温線に沿うように、前記アレイ導波路が配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。
A waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide and two slab waveguides configured on a substrate;
In the optical waveguide module having one temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate,
The temperature adjuster is disposed near the back surface of a corresponding portion of the arrayed waveguide, and surrounds the highest temperature point or the lowest temperature point of the temperature distribution on the substrate surface formed by the temperature adjuster, and the temperature adjustment. An optical waveguide module, wherein the arrayed waveguide is disposed along an isotherm formed by a vessel.
基板上に構成されたアレイ導波路と2つのスラブ導波路とを含む導波路型光回路と、
前記基板の裏面に配設された温度を調節する1つの温度調節器と
を有する光導波路モジュールにおいて、
前記温度調節器が前記導波路型光回路の相当部位の裏面付近に配設され、前記温度調節器によって形成される基板表面の温度分布の最高温度点又は最低温度点を囲むように、且つ前記温度調節器によって形成される等温線に沿うように、前記アレイ導波路と前記2つのスラブ導波路とが配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。
A waveguide-type optical circuit including an arrayed waveguide and two slab waveguides configured on a substrate;
In the optical waveguide module having one temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate,
The temperature controller is disposed near the back surface of a corresponding portion of the waveguide optical circuit, and surrounds the highest temperature point or the lowest temperature point of the temperature distribution on the substrate surface formed by the temperature controller, and An optical waveguide module, wherein the arrayed waveguide and the two slab waveguides are arranged along an isotherm formed by a temperature controller.
基板上に構成された2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する2本のアーム導波路とを含む導波路型光回路と、
前記基板の裏面に配設された温度を調節する1つの温度調節器と
を有する光導波路モジュールにおいて、
前記温度調節器が前記導波路型光回路の裏面付近に配設され、前記温度調節器によって形成される基板表面の温度分布の最高温度点又は最低温度点を前記2本のアーム導波路で囲むように、且つ前記温度調節器によって形成される等温線に沿うように、前記2つの方向性結合器と該2つの方向性結合器を接続する前記2本のアーム導波路とが配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。
A waveguide-type optical circuit including two directional couplers formed on a substrate and two arm waveguides connecting the two directional couplers;
In the optical waveguide module having one temperature controller for adjusting the temperature disposed on the back surface of the substrate,
The temperature controller is disposed near the back surface of the waveguide type optical circuit, and the maximum temperature point or the minimum temperature point of the temperature distribution on the substrate surface formed by the temperature controller is surrounded by the two arm waveguides. The two directional couplers and the two arm waveguides connecting the two directional couplers are arranged so as to be along the isotherm formed by the temperature controller. An optical waveguide module.
請求項1乃至に記載の光導波路モジュールにおいて、等温線に沿って配置される導波路型光回路が、2.4℃以内、好ましくは2.1℃以内、より好ましくは1.5℃以内の温度帯域幅に配置されたことを特徴とする光導波路モジュール。In the optical waveguide module according to claim 1 to 9, a waveguide type optical circuit which is arranged along the isotherm, 2.4 ° C. within, preferably within 2.1 ° C., more preferably within 1.5 ° C. An optical waveguide module arranged in a temperature bandwidth of
JP2002095248A 2002-03-29 2002-03-29 Optical waveguide module Expired - Lifetime JP3929807B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002095248A JP3929807B2 (en) 2002-03-29 2002-03-29 Optical waveguide module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002095248A JP3929807B2 (en) 2002-03-29 2002-03-29 Optical waveguide module

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003294959A JP2003294959A (en) 2003-10-15
JP3929807B2 true JP3929807B2 (en) 2007-06-13

Family

ID=29238827

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002095248A Expired - Lifetime JP3929807B2 (en) 2002-03-29 2002-03-29 Optical waveguide module

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3929807B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003294959A (en) 2003-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100890882B1 (en) Variable light controlling device and variable light controlling method
US7973265B2 (en) Coupled optical waveguide resonators with heaters for thermo-optic control of wavelength and compound filter shape
US7133587B2 (en) Dispersion compensator, method for manufacturing the same, and method for compensating wavelength dispersion
Yamada et al. Crosstalk reduction in a 10-GHz spacing arrayed-waveguide grating by phase-error compensation
US7088887B2 (en) Isothermal thin film heater
WO2009104664A1 (en) Waveguide type optical device
JP2006515435A (en) Optical element for heating
JP3929807B2 (en) Optical waveguide module
US6529647B2 (en) Optical device with optical waveguides and manufacturing method therefor
JP2003029219A (en) Planar waveguide type variable optical attenuator
US8098999B2 (en) Multiple channel power monitor
KR100416993B1 (en) Optical element integrated heat transferring device for plc
US20030048989A1 (en) Planar lightwave circuit and method for compensating center wavelength of optical transmission of planar lightwave circuit
KR100416967B1 (en) Planer lightwave circuit module with heat transfer device
JP3331180B2 (en) Temperature-independent planar optical device
JP2004286830A (en) Waveguide type optical variable attenuator
EP4325285A1 (en) A variable optical attenuator
JP3857930B2 (en) Optical waveguide module
JP4667565B2 (en) AWG module and method for adjusting optical characteristics thereof
JP4467773B2 (en) Optical waveguide circuit
Doerr et al. 40-wavelength planar channel-dropping filter with improved crosstalk
KR100424464B1 (en) Heat transfer device for planer lightwaveguide module
JP2001042271A (en) Array waveguide diffraction grating
JP2004101949A (en) Waveguide type optical device
JP2003215365A (en) Optical waveguide module

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040607

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050401

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060926

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070307

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3929807

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100316

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100316

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110316

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130316

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140316

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term