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JP3885536B2 - 熱電装置 - Google Patents

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JP3885536B2
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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザダイオード等の発熱性の素子又は一定の温度に保持する必要がある素子の温度制御を行う熱電モジュールを備えた熱電装置に関し、特に、外部からの入熱による消費電力の増加の抑制を図った熱電装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザダイオード(LD)は熱電モジュール(TEC;Thermo-Electric Cooler)上に搭載され、この熱電モジュールにより温度制御される。このような熱電装置においては、通常、熱電モジュール上に熱伝導性が優れた例えばCu−W合金からなる支持体を設け、この支持体上に絶縁層を介してLDを設け、更にこのLDからのレーザ照射方向の後方にフォトダイオードを設け、LDの後方に出てくるレーザ光をフォトダイオードによりモニタリングし、このレーザ光の検出結果に基づいて、LDからのレーザ光が一定の光量になるように、LDを電流制御するようになっている。また、LDは波長多重通信に使用されるものもあり、この場合は、LDの温度を変化させることによりLDからのレーザ光の波長を変更するようになっている。従って、LDから出射されるレーザ光の波長を所望の波長に制御するために、サーミスタによりLDの温度がモニタリングされ、熱電モジュールによりLDの温度を制御する。
【0003】
この場合に、LDから出射されるレーザ光の波長を大きく振るためには、LDの温度差を大きくする必要がある。そこで、従来、熱電モジュールを2段構造又はそれ以上の多段構造にすることにより、大きな温度差を得るようにした熱電装置が提案されている。
【0004】
図9は従来の2段構造の熱電モジュールを示す断面図である。パッケージ110のうち底面上に2段熱電モジュール114が搭載されており、この熱電モジュール114上にCu−W合金からなる支持体108及びその上に設けられた絶縁層109を介してLD111が接合されている。このLD111から出射されたレーザ光は、パッケージ110の底面上に立設された側壁に設けられたカップリング(図示せず)に入射し、このカップリングに接続された光ファイバ(図示せず)を経て外部に出力される。
【0005】
熱電モジュール114は、絶縁基板101上に複数個の熱電素子103が配列されて接合され、熱電素子103上に絶縁基板102が接合されて、下段の熱電モジュール114aが形成されており、絶縁基板102上に複数の熱電素子106が配列されて接合され、熱電素子106上に絶縁基板105が接合されて、上段の熱電モジュール114bが形成されている。LD111等が搭載された支持体108は絶縁基板105上に接合されている。各熱電モジュール114a、114bにおいては、複数個の熱電素子103、106が絶縁基板101、102及び105に設けられた複数個の電極(図示せず)により直列に接続されている。また、パッケージ110の側壁には、表面にAuメッキ層が形成された接続基板107が固定されており、そのAuメッキ層に外部から給電用のリード線が接続されると共に、そのメッキ層から支持体108上のLD111にAuワイヤ112が接続されている。
【0006】
また、支持体108上には、サーミスタ及びフォトダイオード(PD:Photo Diode)等のデバイスも搭載されており、サーミスタにはその温度情報を取り出す目的で他のAuワイヤが接続され、PDにはその光量情報を取り出す目的で更に他のAuワイヤが接続されている。そして、これらのAuワイヤは、LD111に接続されたAuワイヤ112と同様に、パッケージ110の側壁に固定された他の接続基板を介して外部のリード線に接続されている。
【0007】
1段の熱電モジュールでは、この熱電モジュールにより得られる温度差は最大でも45℃しかないが、2段構造の熱電モジュール114においては、全体として55℃以上の温度差を得ることができる。このため、支持体108を冷却することにより、LD111を広範囲の温度に制御することができ、LD111から得られる波長特性を向上させることができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、パッケージ110の外部の温度が95℃となっている環境下で、LD111の温度を25℃に制御しようとすると、これらの間には70℃の温度差があり、給電用のAuワイヤ112をはじめ、各種用途のワイヤを介して外部の熱が容易に支持体108等まで伝達されるという問題点がある。つまり、このような入熱があると、熱電モジュール114は、LD111自体の発熱だけでなく、この入熱分をも冷却する必要があるため、その消費電力が増大してしまう。
【0009】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、外部との温度差が大きい場合でも熱電モジュールの消費電力の増加を抑制することができる熱電装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る熱電装置は、複数段に積み重ねられた熱電モジュールと、最上段の熱電モジュールにより冷却又は加熱を受ける対象物と、この対象物と外部のリード線とを接続する接続部材と、前記最上段の熱電モジュール以外のいずれかの段の熱電モジュールの上側の絶縁基板上に接合されると共に、前記接続部材が接続されて前記接続部材の熱を前記絶縁基板まで伝達する伝熱性部材と、を有することを特徴とする。
【0011】
本発明においては、伝熱性部材により対象物に接続されるワイヤ等の接続部材に下段の熱電モジュールの上側の絶縁基板の温度が伝達されるため、外部から接続部材を介してパッケージ内に熱が伝達してきても、対象物までは到達しない。この結果、熱電モジュールの熱負荷が軽減され、消費電力が低下する。なお、対象物には、それ自体が発熱するLD、サーミスタ及びPD等のデバイスのみならず、これらのデバイスと熱電モジュールとの間に介在する支持体等も含まれ、デバイス及び支持体の両方が冷却又は加熱を受ける対象物となっていてもよい。また、接続部材は伝熱性部材から熱電モジュール上のデバイスに直接接続されている必要はなく、例えば支持体上の絶縁層上に電極層を設け、この電極層を介してデバイスに接続されていてもよいし、また、別の電気伝導部材を介して接続されていてもよい。
【0012】
なお、前記絶縁基板の表面に前記伝熱性部材の接合用の金属層のパターンが形成されていてもよい。また、前記伝熱性部材の表面に前記接続部材が接続される金属層のパターンが形成されていてもよい。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例に係る熱電装置について、添付の図面を参照して具体的に説明する。図1は本発明の第1の実施例に係る熱電装置を示す図であって、(a)は斜視図、(b)は上面図である。
【0014】
第1の実施例においては、長方形状の2枚の絶縁基板1及び2間に複数個の熱電素子3が挟み込まれている。なお、各絶縁基板1及び2と熱電素子3との間には、Cu等からなる電極(図示せず)が介在している。熱電素子3は電極を介して互いに直列に接続されており、その両端に位置するものにリード線4が接続されている。リード線4は、各熱電モジュールへの給電のため、例えば最下段の熱電モジュールに対して複数接続されていてもよい。また、上段の熱電モジュールへの給電のために基板2にスルーホールが設けられ、下段の熱電モジュールから給電されてもよい。また、絶縁基板1及び2よりも小さい絶縁基板5と絶縁基板2との間に複数個の熱電素子6が挟み込まれて2段構成となっている。絶縁基板5は、例えば平面視で絶縁基板1及び2の中央部に位置している。なお、各絶縁基板2及び5と熱電素子6との間には、Cu等からなる電極(図示せず)が介在し、熱電素子6は、この電極を介して互いに直列に接続され、リード線4から給電される。
【0015】
更に、絶縁基板5及び熱電素子6を間に挟むようにして2個の中継台(伝熱性部材)7が絶縁基板2上に接合されている。中継台7は、例えばCu、Cu−W若しくはCu−Zn等のCu合金、Al若しくはAl合金等の金属製であるか、又は少なくとも上面に電気伝導層が形成されたAl若しくはAlN等のセラミックス製であるが、これらに限定されるものではない。また、中継台7の上面及び下面には、Niメッキ層及びAuメッキ層がこの順で形成されていることが好ましい。上面にこのようなメッキ層が積層されていると、Auワイヤ等のボンディング又はワイヤのはんだ付けを行いやすくなり、下面にこのようなメッキ層が積層されていると、絶縁基板2へのはんだ付け又はろう付けを行いやすくなる。
【0016】
このように構成された第1の実施例においては、絶縁基板5上に例えばCu−W合金からなる支持体15が接合され、外部のリード線(図示せず)に接続された接続部材としてのAuワイヤ12が1本ずつ各中継台7に接続され、各中継台7と支持体15上に絶縁層(図示せず)を介して搭載されたLD、サーミスタ又はPD等のデバイス11とがAuワイヤ13により接続される。従って、パッケージの外部と内部との間に、例えば70℃もの温度差があっても、外部からのワイヤを介しての入熱は、絶縁基板2により冷却される中継台7によって緩和されてから、支持体15上のデバイス11まで到達するため、デバイス11への入熱が少ない。従って、従来のように直接支持体上のデバイスまで到達する構造と比較すると、支持体15上のデバイス11の外部からの入熱による温度上昇が低減され、支持体15及びデバイス11を冷却するための消費電力が減少する。なお、中継台7を冷却するためにも下段の熱電モジュールにおいて電力が消費されるが、下段の熱電モジュールの方が支持体15を冷却する上段の熱電モジュールよりも冷却能力が大きく、支持体15及びデバイス11の冷却のための消費電力の減少量の方が大きいため、熱電モジュールの全体的な消費電力は減少する。
【0017】
なお、中継台7の高さは特に限定されるものではなく、図2(a)に示すように、その上面が絶縁基板5の表面よりも低くてもよく、図2(b)に示すように、その上面が絶縁基板5の表面と同等の高さにあってもよく、図2(c)に示すように、その上面が絶縁基板5の表面よりも高くてもよい。また、図2(d)に示すように、一部に段差を設けてもよい。また、接続部材としては、Auワイヤの他に、Cuワイヤ又はAlワイヤ等を使用することができる。更に、導電性を備えた金属の板状材、導電性プラスチック材、又は表面に導電層が形成された絶縁性プラスチック材若しくはセラミック材等を接続部材として使用してもよい。
【0018】
また、中継台7の平面形状、その配設位置及びその数も特に限定されるものではなく、図3(a)に示すように、平面視で長方形状の1個の中継台7がリード線4が延びる方向において絶縁基板5と並ぶようにして配設されていてもよく、図3(b)に示すように、平面視で正方形状の1個の中継台7がリード線4が延びる方向において絶縁基板5と並ぶようにして配設されていてもよい。また、図3(c)に示すように、平面視で長方形状の1個の中継台7がリード線4が延びる方向に対して垂直な方向において絶縁基板5と並ぶようにして配設されていてもよく、図3(d)に示すように、平面視で正方形状の1個の中継台7がリード線4が延びる方向に対して垂直な方向において絶縁基板5と並ぶようにして配設されていてもよい。更に、図3(e)に示すように、平面視で「コ」の字型の1個の中継台7が絶縁基板7を取り囲むようにして配設されていてもよく、図3(f)に示すように、平面視で正方形状の2個の中継台7が絶縁基板5を挟むようにして配設され、更に同様の形状の1個の中継台7がリード線4が延びる方向において絶縁基板5と並ぶようにして配設されていてもよい。
【0019】
次に、本発明の第2の実施例について説明する。図4は本発明の第2の実施例に係る熱電装置を示す上面図である。
【0020】
第2の実施例においては、絶縁基板5よりも小さい絶縁基板8と絶縁基板5との間に複数個の熱電素子(図示せず)が挟み込まれて3段構成となっている。絶縁基板8は、例えば平面視で絶縁基板5の中央部に位置している。なお、各絶縁基板5及び8とこれらの間の熱電素子との間には、Cu等からなる電極(図示せず)が介在し、熱電素子は、この電極を介して互いに直列に接続され、リード線4から給電される。また、本実施例においては、中継台7は絶縁基板8を間に挟むようにして絶縁基板5上に接合されている。
【0021】
このように構成された第2の実施例においては、絶縁基板8上にLD、PD又はサーミスタ等のデバイス11が搭載された支持体15が接合され、Auワイヤ12が1本ずつ各中継台7に接続され、各中継台7と支持体15上のデバイス11とがAuワイヤ13により接続される。従って、第1の実施例と同様に、外部からLD等のデバイス及び支持体15まで到達する入熱が減少して熱電モジュールの全体的な消費電力が減少する。
【0022】
次に、本発明の第3の実施例について説明する。図5は本発明の第3の実施例に係る熱電装置を示す平面図である。
【0023】
第3の実施例においては、絶縁基板1が絶縁基板2よりも大きく形成され、平面視で絶縁基板2からはみ出した領域に、2個のポスト電極9が設けられている。これらのポスト電極9は、絶縁基板1上に形成された導電層(図示せず)を介して、第1の実施例においてリード線4が接続された熱電素子3に接続されており、本実施例では、リード線4は設けられていない。
【0024】
このように構成された第3の実施例においては、ポスト電極9に熱電モジュールへの給電用のAuワイヤ14が接続される。第1の実施例のようにリード線4を使用する場合には、手作業によりリード線を電極にはんだ付けする必要があるが、本実施例によれば、Auワイヤ14をポスト電極9に機械的にワイヤボンディングすることができる。従って、その作業を極めて容易に行うことができる。
【0025】
なお、第2及び第3の実施例においても、第1の実施例と同様に、中継台7の高さ、形状、配設位置及び数等は特に限定されるものではない。
【0026】
また、中継台7を接合する絶縁基板には、中継台7を接合する位置に予めメタライズ層を形成しておくことが好ましい。図6は第1の実施例における絶縁基板2の表面に形成されたメタライズ層のパターンを示す上面図である。絶縁基板2の表面には、予め中継台7専用のメタライズ層のパターン7aを形成しておくことが好ましい。また、熱電素子6(図6に図示せず)が接続される電極用のパターン6a、及び熱電素子6への給電用のパターン4aを形成してもよい。
【0027】
そして、中継台7を絶縁基板2に接合する場合には、中継台7をパターン7a上にはんだ付け又はろう付けすればよい。このように、専用のパターン7a予め形成しておくことにより、接合時に中継台7の位置ずれが生じにくくなると共に、他の領域にはんだが流れ出して短絡が生じることが防止される。
【0028】
なお、本発明において熱電モジュールにより冷却される支持体上のデバイスで、温度制御される素子は、LDに限定されるものではなく、フォトダイオード、サーミスタ又は電荷転送デバイス(CCD:Charge Coupled Device)等であってもよい。また、熱電モジュールにより対象物を加熱するようにしてもよい。更に、中継台は必ずしも上から2段目の熱電モジュールの上側の絶縁基板に接合されている必要はなく、それよりも下位の熱電モジュールの上側の絶縁基板に接合されていてもよい。
【0029】
また、支持体15上には、図7(a)に示すように、複数のデバイス11が搭載されていてもよい。この場合には、例えば、図7(b)に示すように、絶縁体からなる基部7b及びその表面に形成されたデバイス11の数と少なくとも同数の金属層からなるパターン7cが形成されている中継台7を構成してもよく、また、デバイス11の数に合わせて複数の中継台を設置してもよい。更に、ワイヤは中継台からデバイスに直接接続されていなくてもよく、例えば支持体上の絶縁層の表面に電極を形成し、この電極を介してデバイスに接続されていてもよいし、又は別の電気伝導部材を介して接続されていてもよい。
【0030】
【実施例】
以下、本発明の実施例について、その特許請求の範囲から外れる比較例と比較して具体的に説明する。
【0031】
初めに、図8に示すような大きさの部材からなる2段構成の熱電モジュールを用意した。この熱電モジュールのペルチェ素子3及び6の数は、p型素子とn型素子とを1対とすると、下段の熱電モジュールでは47対、上段の熱電モジュールでは18対とした。各素子は、平面形状が一辺の長さが0.65mmの正方形で、その高さが1mmである角柱とした。これを比較例とした。
【0032】
一方、上述の構成の比較例に対し、図1のような中継台を絶縁基板上に接合したものを用意し、これを実施例とした。
【0033】
そして、夫々をパッケージの内部に収容してその底部に接合し、更に上段の熱電モジュール上にCu−W部材を支持体として接合し、その上にLD及びサーミスタを接合した。ワイヤはLD用のもの及びサーミスタ用のものを夫々用意した。図1の中継台においては、図7のように、中継台の表面にLD用の電極パッド及びサーミスタ用の電極パッドを夫々形成した。
【0034】
続いて、パッケージの外部の温度を95℃とし、LDに通電した状態でLDの温度変化を測定するサーミスタが示す温度が25℃となるように熱電モジュールによる温度制御を行い、実施例及び比較例の消費電力を測定した。この結果、比較例の消費電力を100とすると、実施例の消費電力は95まで抑えることができた。
【0035】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明によれば、伝熱性部材により対象物に接続されるワイヤに下段の熱電モジュールの上側の絶縁基板の温度が伝達されるため、外部からワイヤを介してパッケージ内に熱が伝達してきても、対象物に到達する前に熱量を小さくすることができる。この結果、熱電モジュールの熱負荷を軽減して、消費電力を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例に係る熱電装置を示す図であって、(a)は斜視図、(b)は上面図である。
【図2】 中継台7の高さのバリエーションを示す断面図である。
【図3】 中継台7の形状、配設位置及び数のバリエーションを示す上面図である。
【図4】 本発明の第2の実施例に係る熱電装置を示す平面図である。
【図5】 本発明の第3の実施例に係る熱電装置を示す平面図である。
【図6】 第1の実施例における絶縁基板2の表面に形成されたメタライズ層のパターンを示す上面図である。
【図7】 複数のデバイスが搭載される例を示す図であって、(a)は熱電装置全体の斜視図、(b)は中継台7を示す斜視図である。
【図8】 消費電力の測定に使用した熱電装置の熱電モジュールの寸法を示す斜視図である。
【図9】 従来の2段構造の熱電モジュールを示す断面図である。
【符号の説明】
1、2、5、8;絶縁基板、 3、6;熱電素子、 4;リード線、 7;中継台、 9;ポスト電極、 4a、6a、7a;パターン、 11;レーザダイオード(LD)、 12、13、14;Auワイヤ

Claims (3)

  1. 複数段に積み重ねられた熱電モジュールと、最上段の熱電モジュールにより冷却又は加熱を受ける対象物と、この対象物と外部のリード線とを接続する接続部材と、前記最上段の熱電モジュール以外のいずれかの段の熱電モジュールの上側の絶縁基板上に接合されると共に、前記接続部材が接続されて前記接続部材の熱を前記絶縁基板まで伝達する伝熱性部材と、を有することを特徴とする熱電装置。
  2. 前記絶縁基板の表面に前記伝熱性部材の接合用の金属層のパターンが形成されていることを特徴とする請求項1に記載の熱電装置。
  3. 前記伝熱性部材の表面に前記接続部材が接続される金属層のパターンが形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の熱電装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4813829B2 (ja) * 2005-06-27 2011-11-09 リコー光学株式会社 放熱装置、および放熱方法
JP2008211025A (ja) * 2007-02-27 2008-09-11 Yamaha Corp 電子モジュール
JP5282753B2 (ja) * 2010-03-29 2013-09-04 ブラザー工業株式会社 圧電アクチュエータ、光スキャナ、光走査型画像表示装置、画像形成装置
JP6412042B2 (ja) 2016-03-29 2018-10-24 ファナック株式会社 レーザ発振器
JP6940750B2 (ja) * 2017-04-28 2021-09-29 日亜化学工業株式会社 レーザ装置
JP6597817B2 (ja) * 2018-03-08 2019-10-30 セイコーエプソン株式会社 発光素子モジュール、量子干渉装置、原子発振器、電子機器および移動体
JP6822609B1 (ja) * 2019-10-24 2021-01-27 三菱電機株式会社 熱電変換素子モジュールおよび熱電変換素子モジュールの製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106024732A (zh) * 2016-05-31 2016-10-12 科大国盾量子技术股份有限公司 一种用于温控的装置及其制作方法

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