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JP3858710B2 - レーザ発振器およびその制御方法 - Google Patents

レーザ発振器およびその制御方法 Download PDF

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JP3858710B2
JP3858710B2 JP2002022994A JP2002022994A JP3858710B2 JP 3858710 B2 JP3858710 B2 JP 3858710B2 JP 2002022994 A JP2002022994 A JP 2002022994A JP 2002022994 A JP2002022994 A JP 2002022994A JP 3858710 B2 JP3858710 B2 JP 3858710B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ発振器の故障を検出する異常判定手段に関するものであり、レーザ光の増幅部分の異常であるか電源関係の異常であるかを確実に判断でき、故障個所の特定を容易にするものである。
【0002】
【従来の技術】
図11は、レーザ発振器の概略構成を示した構成図である。
図において、1は電源装置10により直流の電流を流すことにより発光するレーザダイオード、2はレーザ媒質、3は全反射ミラー、4は部分反射ミラー、5はレーザ光を拡大する拡大レンズ、6はレーザ光を平行化する平行化レンズ、7は光ファイバ入射レンズ、8は光ファイバ、9は加工ヘッド、10は電源装置である。
レーザダイオード1に直流の電流を流すことにより発光させ、レーザ媒体2を励起し、全反射ミラー3と部分反射ミラー4間で共振を起すことによって、レーザ光が得られる。
このようにして得られたレーザ光を、拡大レンズ5、平行化レンズ6を用いて拡大、平行化し、光ファイバ入射レンズ7により光ファイバ8の端面に集光する。そして、この集光されたレーザ光は、光ファイバ8内部を通過し、加工ヘッド9を通して、所定の位置にレーザ光が導光される。
なお、レーザ出力の調整は、レーザダイオード1に通電する電流を可変することにより行うことができ、一般的には、レーザダイオード1に通電する電源装置10に所望するレーザ出力、電流指令を外部より与え、この電源装置10により、レーザダイオード1に通電する電流を制御する。
【0003】
図12は、電源装置10の内部の具体例を表した構成図である。
まず、電源装置10の基本動作について説明する。
電源装置10において、入力電源は整流ユニット16により、直流に変換し、コンデンサ17に充電される。
ここで、トランジスタ13がオンすることにより、リアクトル14を介して、レーザダイオード1に電流が流れ始める。
トランジスタ13がオンしている間は、レーザダイオード1に流れる電流が増加していくため、電流が所望の電流値より大きくなると、トランジスタ13をオフして電流を減少させる。
逆に、電流が所望の電流より小さくなるとトランジスタ13をオンして電流を増加させる。
このオン、オフを繰り返すことにより、電流を所望の電流値に制御する。
このオン、オフのタイミングの制御には、図13に示される如く、電流値に上限値、下限値を設けてその上下限値の範囲で、オン、オフを制御するヒステリシスコンパレータ制御やある一定期間中のオン時間を制御するPWM制御等がある。
【0004】
次に、制御に関して、図12を用いて、詳細に説明する。
電流制御装置18は、所望の電流値(電流指令値)及び電流センサ12を介して適切なゲイン調整20を行った現在流れている電流値を取り込む。
そして、この2種の取り込んだデータを、ヒステリシスコンパレータ制御の場合は、比較器21に取り込み、あらかじめ設定されているオンする電流値、オフする電流値と比較し、トランジスタ13をオンするか、オフするかを決定する。
一方、図には示していないが、PWM制御の場合は、この2種の取り込んだデータの差分量をマイコン等で演算し、一定期間中のオン時間を制御する。
【0005】
このように求められたトランジスタ13のオン、オフ指令は、トランジスタ13を駆動する回路(制御系のロジック信号にもとづいて、トランジスタ13を実際にオン、オフするために必要な電流や電圧を供給するための回路)に送られ、トランジスタ13がオン、オフすることになる。
これら動作により、所望の電流値を電流制御装置18に取り込み、その電流値になるように制御している。
【0006】
次に、所望のレーザ出力値になるようにする場合の制御について説明する。
電流制御装置18は、所望のレーザ出力指令値及びレーザ出力モニタ用センサ11を介したレーザ出力モニタ値(現在のレーザ出力)を取り込む。
そして、この取り込んだデータの差分量を演算し、現在の電流指令値を制御する。
この制御された電流指令値にもとづき、外部より所望の電流値を与えた場合と同様にトランジスタ13のオン、オフを制御する。
なお、スイッチ19は、電流指令を有効にするか、レーザ出力指令を有効にするかの切換スイッチである。
【0007】
上述のように制御される固体レーザ発振器は、金属等の溶接や切断に使用される。
このとき、所望のレーザ出力を維持できない場合、溶接不良や切断不良が発生してしまうため、所望のレーザ出力を維持できない場合には、外部に異常として報知する手段が必要となってくる。
この所望のレーザ出力が得られない場合に、異常として外部へ報知する手段の例としては、所望のレーザ出力が最低200W必要であるとき、レーザ出力のモニタ値が、200Wに達すると、オンする回路25を付加しておき、オン信号を発振器制御装置26に入力するとともに、オン信号を待つ時間を規定し、その規定時間内に、この信号がオンしないときに異常を報知するように構成した例がある。
また、溶接等で、溶け込みすぎるのを嫌い、レーザ出力の上限値を規定する場合は、たとえば最大300Wと上限値を設定し、この出力を超えたときにオンする回路24を付加しておき、このオン信号を、同様に異常を報知するように構成する例がある。
【0008】
また、レーザダイオード1には、流すことのできる最大電流が規定されているため、この規定された電流値以上の電流が流れたときは、異常として外部に報知することが必要である。
たとえば、50A以上流れるとレーザダイオード1が破損する場合は、電流センサ11からの電流モニタ値が、50Aより大きい場合にオンする回路23を付加しておきそのオン信号を発振器制御装置26に入力し、異常を報知するように構成する。
このオン信号に基づき、発振器制御装置26は適切な処理(電源遮断等)を行い、レーザダイオード1を保護する。
ここでは、レーザダイオード1の保護する例をあげたが、当然、他の素子(トランジスタ13、リアクトル14等)に流し得る電流値がレーザダイオード1に流し得る電流値より低い場合は、その素子に合わせて、電流値の規定を変更することが必要である。
【0009】
このようにして、固体レーザ発振器では、レーザ出力の異常を外部に報知する手段を有するため、溶接や切断の不良を事前に防いでいる。
また、電流が規定値以上に流れた場合には、異常を外部に報知する手段により、各素子の保護を行っている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の固体レーザ発振器では、レーザ出力の上限値を越えたという異常と、電流の規定値を越えたという異常が同時に発生したときは、レーザダイオード1に電流が、流れすぎたと判断し、電源関係の異常によりレーザ出力の上限値を超えたと判断できる。
なお、ここでいう電源関係の異常とは、図1におけるレーザダイオイード1を除いた光の増幅部分の異常(PRミラー、TRミラーの損傷等)以外をあらわしており、電源に使用している素子等の故障がある。
【0011】
一方、レーザ出力の上限値を超えたという異常のみの通知(電流の規定値を越えたという異常が発生しなかった場合)では、電源関係の異常の有無を判断することができない。
一例として、図12において、出力の制限値を下限200W、上限300Wとし、規定の最大電流値を50Aとし、電流を20A流すと、レーザ出力が250W得られ、40A流すと350W得られるレーザ発振器とし、所望の電流指令値を20Aとした場合について説明する。
電流センサ11からの電流モニタ値が、ゲイン調整20に異常があり、実際の電流値の0.5倍の値を比較器21に戻した場合、本来は、20Aの電流がレーザダイオード1に流れるように制御されるが、実際は、(1/0.5)倍の40Aの電流がレーザダイオード1に流れるように制御されるため、レーザ出力は、350W出力されることになる。
このため、従来では出力の上限を超えたレーザ出力の異常と判断される。
なお、この際に、実際のレーザダイオード1に流れている電流は40Aであり、規定の最大電流値以下であることから電流の規定値を越えたという異常は発生しない。
通常、レーザ出力の上限値を超えた異常といえば、光の増幅部分であると考えられるが、この場合には、光の増幅部分の異常ではなく、電流制御装置18のゲイン調整20の異常であり、電源関係の異常であるとしなけばならないが、それを確実に検出することができなかった。
【0012】
また、レーザダイオード1への配線が断線していた場合は、レーザダイオード1に電流が流れることはなく、当然レーザ出力は出ない。
このため、レーザ出力は制限値の下限より低くなり、レーザ出力の異常が発生する。
なお、この際に、レーザダイオード1には、電流が流れていないため、電流の規定値を超えたという異常は発生しない。
この場合も同様に、光の増幅部分の異常ではなく、断線という電源関係の異常であると判断しなけばならないが、レーザ出力の異常のみでは、その特定をすることができなかった。
【0013】
これは、電源の異常検出が、電源本体の保護(レーザダイオード1や、トランジスタ13等の素子の保護)を目的として、設定されているため、溶接不良や切断不良の原因になりうる電源の異常が、レーザ出力の異常として検出するようになっているためである。
【0014】
つまり、従来のレーザ発振器では、レーザ出力の異常により、溶接不良や切断不良の発生をなくすことはできるが、光の増幅部分の異常か電源関係の異常か判断することはできず、異常の個所の特定が困難であり、異常発生時の処置に時間を要していた。
本発明では、上述した問題点を解決すべくなされたものであり、溶接不良や切断不良の発生をなくすと同時に、故障個所の特定を容易にする装置を提供するものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るレーザ発振器は、入力されるレーザ出力指令値或いは電流指令値に応じて、レーザ媒質への励起を制御して所望のレーザ出力を得るレーザ発振器において、上記レーザ出力指令値或いは電流指令値より基準となるレーザ出力波形及び電流波形を生成する基準波形生成手段と、レーザ媒質の励起のための電流値を電流モニタ値として取り込み、上記基準波形生成手段で生成した上記電流波形と比較する第1の比較手段と、励起され出力されるレーザ出力値をレーザ出力モニタ値として取り込み、上記基準波形生成手段で生成した上記レーザ出力波形と比較する第2の比較手段と、を備え、異常を検出するものである。
【0016】
また、レーザ媒質を励起するためのレーザダイオードに流れる電流を制御する主回路素子のオン・オフ信号を取り込み、レーザ出力指令値或いは電流指令値より基準波形生成手段にて生成された主回路素子のオン・オフ信号と比較する第3の比較手段と、を備えたものである。
【0017】
さらに、比較手段において比較をする際に、基準波形に対して所定の許容範囲を設定するものである。
【0018】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1におけるレーザ発振器の構成を示す構成図である。
まず、電源装置10の基本動作について説明する。
電源装置10において、入力電源は整流ユニット16により、直流に変換し、コンデンサ17に充電される。
ここで、トランジスタ13がオンすることにより、リアクトル14を介して、レーザダイオード1に電流が流れ始める。
トランジスタ13がオンしている間は、レーザダイオード1に流れる電流が増加していくため、電流が所望の電流値より大きくなると、トランジスタ13をオフして電流を減少させる。
逆に、電流が所望の電流より小さくなるとトランジスタ13をオンして電流を増加させる。
このオン、オフを繰り返すことにより、電流を所望の電流値に制御する。
このオン、オフのタイミングの制御には、従来技術で説明した例えば図13に示される如く、電流値に上限値、下限値を設けてその上下限値の範囲で、オン、オフを制御するヒステリシスコンパレータ制御やある一定期間中のオン時間を制御するPWM制御等がある。
【0019】
次に、制御に関して、図1を用いて、詳細に説明する。
電流制御装置18は、所望の電流値(電流指令値)及び電流センサ12を介して適切なゲイン調整20を行った現在流れている電流値を取り込む。
そして、この2種の取り込んだデータを、ヒステリシスコンパレータ制御の場合は、比較器20に取り込み、あらかじめ設定されているオンする電流値、オフする電流値と比較し、トランジスタ13をオンするか、オフするかを判定する。
一方、図には示していないが、PWM制御の場合は、この2種の取り込んだデータの差分量をマイコン等で演算し、一定期間中のオン時間を増減する。
【0020】
次に、本実施の形態の特徴である異常判定装置22の動作について説明する。従来の異常判定装置では、予め設定された電流制限値、レーザ出力上限値、レーザ出力下限値と取り込んだ電流モニタ値及び、レーザ出力モニタ用値とを比較することにより異常判定を行っていたが、本実施の形態では、電流指令値、レーザ出力指令値を取り込む構成とし、取り込んだ電流モニタ値及び、レーザ出力モニタ用値とを比較するようにしている。
【0021】
図2は、異常判定装置における異常判定の処理フローを示したフローチャートであり、該フローチャートを用いて異常判定の概略動作について説明する。
まず、ステップS1にて、電流指令値、レーザ出力指令値を入力する。なお、電流指令値、レーザ出力指令値は、どちらか一方が入力される。
ステップS2では、そのどちらか一方の指令値から、その指令値に対応する基準となる電流及びレーザ出力の波形を生成する(以下、その指令値に対応する基準となる電流及びレーザ出力の波形を、それぞれ電流基準波形、レーザ出力基準波形と称す)。
ステップS3では、それぞれの基準波形から、電流センサ12を介して検出された電流モニタ値である実際の電流、及びレーザ出力モニタ用センサ11を介して入力されたレーザ出力モニタ値であるレーザ出力が異なっていても許容できる範囲を設定する。
ステップS4では、第1の比較手段である比較部28にて、その許容できる範囲と電流モニタ値を比較し、許容できる範囲から外れた場合、ステップS5にて異常と判定しエラーの信号を発振器制御装置26に出力する。
ステップS6では、第2の比較手段である比較部29にて、その許容できる範囲とレーザ出力モニタ値を比較し、許容できる範囲から外れた場合、ステップS7にて異常と判定しエラーの信号を発振器制御装置26に出力する。
上述したステップS1〜7の動作を繰り返して行い、固体レーザ発振器を監視する。
【0022】
次に、電流指令値または、レーザ出力指令値から電流基準波形及びレーザ出力基準波形の生成についての具体例を述べる。
まず、電流指令から電流基準波形を生成する例について述べる。
電流基準波形は、図1において、トランジスタ13がオンしているとき、リアクトル14と負荷であるレーザダイオード1の特性によって決まる立上り波形となる。
ここで、レーザダイオード1の特性は、図3のように、抵抗Rと直流電圧源Vで近似することができるので、図4に示すように電流は、ほぼ直線的に増加する。このときの立ち上がりの電流の傾きは、リアクトル14のインダクタンス値をL1、レーザダイオード1を近似した抵抗値をR1とすると、ほぼ傾きは(R1/L1)の値によって決まる定数αとして求められる。
この定数αは、リアクトル14とレーザダイオード1の特性が変わらないときは、常に決まった値となることから、リアクトル14とレーザダイオード1の特性が変わらない限り、電流の立上り波形は、定数αを用いて表すことができ、電流I=傾きα×時間tと数式で表すことができる。
【0023】
また、定数αが電流指令値によらず一定であるので、所望の電流値に到達する時間が電流指令値によって異なる。
電流指令値をI1とすると、I1までの到達時間は、(I1/α)で表される。
【0024】
したがって、電流は下記のような関数で表すことができる。
0≦t≦(I1/α)のとき
I=α×t・・・・・・・・式1
(I1/α)≦tのとき
I=I1・・・・・・・・・式2
となる。
電流が関数で表されるのでこれを電流基準波形とすることができる。
【0025】
なお、レーザダイオード1を抵抗と電圧源という近似で表すと、比較的単純な関数で表すことができるが、レーザダイオード1の特性によっては単純に抵抗と電圧源で表すことができない場合がある。
このときは、実際に電流波形を測定し、近似曲線の関数を求め、その関数を電流基準波形とする必要がある。
【0026】
その他の方法は、図5のように、実際の電流波形を階段近似する方法がある。時間t1からt2までの間の電流値はIa、次の時間t2からt3の間の電流値はIbと階段状に近似する方法である。
この近似の極端な例が、図5bの如く、時間0から所望の電流値になる時間txまで、電流値は0とし、時間tx以後の電流値は所望の電流値I1であるとした場合である。
【0027】
以上のように、電流指令から電流基準波形を生成することができる。
【0028】
次に、電流指令からレーザ出力基準波形を生成する場合について説明する。
この場合は、電流値とレーザ出力の関係の関数を、上述した電流基準波形の関数に代入すれば、求めることができる。
レーザ出力は、閾値電流(レーザが発振するために最低必要な電流)を超えると電流の増加に比例してレーザ出力が増えるため、電流Iとレーザ出力Pの関係は、
P=β×(I−γ)・・・・・式3
とあらわすことができる。ここで、βは比例定数、γは閾値電流である。
【0029】
電流基準波形が、式1,2の関数で表されているとすると、レーザ出力は、下記のような関数で表すことができる。
0≦t≦(I1/α)のとき
P=β×(α×tーγ)・・・式4
(I1/α)≦tのとき
P=β×(I1−γ)・・・・式5
となる。
レーザ出力が関数で表されるので、これをレーザ出力基準波形とすることができる。
【0030】
なお、電流値とレーザ出力の関係が式3のように単純に表すことのできない場合は、実際にレーザ出力波形を測定し、近似曲線の関数を求め、その関数を、レーザ出力基準波形とする必要がある。
その他、電流指令値から電流基準波形を求める例で、階段近似する場合も例示したが、レーザ出力基準波形を求める場合も同様に、階段近似することも可能である。
【0031】
次に、レーザ出力指令から電流基準波形を生成する場合について説明する。
レーザ出力モニタ値がレーザ出力指令値になるまで電流は増加しつづける。
そして、レーザ出力指令値になると、電流は一定値になる。
この波形は、レーザ出力指令値P1になる電流値をIp1とすると電流指令値から電流基準波形を求めた場合の、電流指令値I1をIp1と置き換えることによって得ることができる。
【0032】
例えば、電流指令値、実際の電流及びレーザ出力が式1,2,3で表されているとすると、式3より、レーザ出力指令値P1になる電流値Ip1は
Ip1=(P1/β)+γ・・式6
となる。
したがって、式1,2から
0≦t≦(((P1/β)+γ)/α)のとき
I=α×t・・・・・・・・・式7
(((P1/β)+γ)/α)≦tのとき
I=(P1/β)+γ・・・・式8
となる。
このように、電流が関数で表されるので、これを電流基準波形とすることができる。
【0033】
なお、電流指令値から電流基準波形やレーザ出力基準波形を求める例でも説明したが、実際に電流波形を測定し、近似曲線の関数を求め、その関数を、電流基準波形としたり、階段近似を行い、電流基準波形とすることも可能である。
【0034】
次に、レーザ出力指令からレーザ出力基準波形を生成する例について述べる。
電流指令からレーザ出力基準波形を生成する例でも述べたように、電流値とレーザ出力の関係の関数を、電流基準波形の関数に代入すれば、求めることができる。
例えば、電流基準波形が、式7,8となっているときは、式3より、
0≦t≦(((P1/β)+γ)/α)のとき
P=β×(α×t−γ)・・・式9
(((P1/β)+γ)/α)≦tのとき
P=P1・・・・・・・・・・式10
となる。
このように、レーザ出力が関数で表されるのでこれをレーザ出力基準波形とすることができる。
当然、実際にレーザ出力波形を測定し、近似曲線の関数を求め、その関数を、レーザ出力基準波形としたり、階段近似を行い、レーザ出力基準波形とすることも可能である。
【0035】
以上の例は、電流及びレーザ出力の立上りと一定の値をとる場合についての例を述べたが、立下りの場合も同様に基準波形を生成できる。
また、電流指令、レーザ出力指令がないとき、言い換えれば、電流値0A、またはレーザ出力0Wを指示しているときは、当然、電流値0A、レーザ出力0Wという基準波形を生成することができる。
【0036】
次に、上述のように求められた電流基準波形、レーザ出力基準波形に対して、実際の電流モニタ値やレーザ出力モニタ値が異なっていても許容できる範囲を設定する必要がある。
これは、負荷であるレーザダイオード1やリアクトル14の特性にばらつきが存在するため、それぞれの基準波形とは、異なる場合があるためである。
【0037】
この許容範囲を決定するためには、
1 リアクトルやレーザダイオードの特性のばらつきによる電流の傾きのばらつき
2 電流センサのオフセットずれ(実際には0Aであるのに1A流れているかのようにセンサの信号を出力する)による電流値の平行シフト
3 トランジスタのオンオフ制御による電流の最大電流値と最小電流値のばらつき(図13におけるとトランジスタオン電流値とオフ電流値との差)
等を考慮する必要がある。
【0038】
上記のような項目を検討し、許容範囲を決定するが、この具体的数値については、電源により異なるため、ここでは、詳細には述べないが、許容範囲の設定方法の例について説明する。
電流基準波形、レーザ出力基準波形ともに同様の考え方をするので、ここでは、電流基準波形を例にとって説明する。
【0039】
許容範囲を設定した後に、正常か異常かの判定を行うが、その判定は、ある時間での基準波形からどのくらいモニタ値がずれているかを測定し、正常か異常かの判定の判定を行う。
または、ある基準電流に達する時間が基準値とどのくらい異なるかを測定し、正常か異常かの判定の判定を行う。という2通りの方法が考えられ、それぞれにより許容範囲の設定が異なる。
そのため、ある時間のモニタ値が基準値とどのくらい異なるかを測定する場合、図6aのように、ある時間で許容しうるモニタ値の大小を設定するように設定しなければならない。
一方、ある基準電流に達する時間が基準の時間値とどのくらい異なるかを測定する場合、図6bのようにある基準電流に対して到達時間の幅を設定しなければならない。
この場合、一定電流に到達した後は、ある時間のモニタ値が基準値とどのくらい異なるかという判定に変更する必要がある。
【0040】
これらの許容範囲は、常に一定値でなくてもよく、電流指令値、レーザ出力指令値に関連付けて変化させても良いし、経過時間により、変化させても良い。
【0041】
許容範囲設定後、その許容できる範囲と電流モニタ値及びレーザ出力モニタ値を比較する。
この比較は、前述したように、ある時間のモニタ値が基準値とどのくらい異なるかを測定する、あるいは、ある基準電流に達する時間が基準の時間値とどのくらい異なるかを測定する等の比較を行い、基準範囲から外れた場合、異常と判定しエラーの信号を発振器制御装置26に出力する。
この比較するタイミングは、常時監視でも良いが、マイコンを使用した制御等では、一定周期ごとに、基準範囲から異なっているかを監視しても良い。
また、切断や溶接では、レーザ出力が一定になってから加工を行うことがほとんどであるため、電流やレーザ出力が一定になる時間までは、比較を行わず、電流やレーザ出力が一定になってから比較を開始するようにしてもよい。
【0042】
本実施の形態では、このような動作を行うことにより、基準となる波形からモニタ値が外れたことを検出し、溶接不良や切断不良の発生をなくすとともに、確実に、レーザ出力の異常発生時に、光の増幅部分の異常であるか電源関係の異常であるかを判断でき、故障個所の特定を容易にすることができる。
【0043】
従来技術で説明した場合と同じ場合、つまり、出力の制限値を下限200W、上限300Wとし、規定の最大電流値を50Aとし、電流を20A流すと、レーザ出力が250W得られ、40A流すと350W得られるとし、所望の電流指令値を20Aとする場合において説明する。
電流センサ11からの電流モニタ値が、ゲイン調整アンプ20に異常があり、実際の電流値の0.5倍の値を比較器21に戻した場合、本来は、20Aの電流がレーザダイオード1に流れるように制御されるが、実際は、(1/0.5)倍の40Aの電流がレーザダイオード1に流れることになり、レーザ出力は、300W出力されることになる。
このため、レーザ出力の異常と判断される。
従来例では、電源の異常は発生しないが、本発明では、基準となる波形から例えば3A以上異なる場合異常と判断するように設定すれば、実際の電流は、40Aであるので、基準となる波形である20Aと3A以上異なり、電源の異常を発見することができる。
つまり、光の増幅部分の異常ではなく、電流制御装置18のゲイン調整アンプ20の異常であり、正しく、電源関係の異常であると判断できる。
【0044】
一方、レーザダイオード1への電線が断線しているとき、レーザ出力は制限値の下限より低くなり、レーザ出力の異常が発生するとともに、電流も流れていないため、基準となる波形と異なり電源の異常も発生する。
これにより、発生したレーザ出力異常は、電源の異常により発生したと判断できる。
【0045】
レーザ出力異常が発生したとき、電源の異常が発生していない場合を考えてみると、従来技術では、実際に流れている電流の波形を基準となる波形と比較していないため、レーザダイオード1に電流が正しく流れている(基準となる波形通りに流れている)かどうかは判断できず、電源関係に異常がないとは断定できない。
しかしながら、本発明では、実際に流れている電流の波形を基準となる波形と比較しているため、レーザダイオード1に電流が正しく流れている(基準となる波形通りに流れている)ことは、明らかであり、光の増幅部分の異常であり、電源関係に異常がないと判断できる。
また、レーザ出力の異常を監視しているので、切断不良や溶接不良は発生しない。
【0046】
以上のように、本発明では、電流センサ12を介して検出された電流モニタ値とレーザ出力モニタ用センサ11を介して入力されたレーザ出力モニタ値と、外部からの電流指令値またはレーザ出力指令値から求められた電流およびレーザ出力の基準となる波形との比較を実施し、異なる場合に、個別に異常を報知することを特徴としていることから、切断不良や溶接不良の発生をなくすとともに、確実に、レーザ出力の異常発生時に、光の増幅部分の異常であるか電源関係の異常であるかを判断でき、故障個所の特定を容易にすることができる。
【0047】
実施の形態2.
本実施の形態2は、基準波形の設定方法が実施の形態1と異なる場合であり、その波形の設定方法は、図7に示されるものである。
実施の形態1では、電流指令値やレーザ出力指令値に基づき異なる基準波形を生成していたが、本実施の形態2では、電流指令値やレーザ出力指令値の代表値に基づき基準波形を生成する。
代表値のとりかたは、電流指令やレーザ出力指令の最大値でも良いし、中心値でもよい。
これを基準波形とし、電源を構成している素子のばらつき等に加えて、電流指令やレーザ出力指令が異なる場合の電流モニタ値やレーザ出力値の変化も考慮し、許容できる範囲を設定する。
また、別の基準波形の取り方としては、電流指令最小値及び最大値の指令に基づき基準波形を設定し、それに所定の許容できる範囲を設定しても同様である。こうすることにより、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
【0048】
実施の形態3.
本実施の形態は、実施の形態1に、さらに、トランジスタ13のオンオフ信号を異常判定装置22の第3の比較手段に相当する比較部30に入力する構造になっている。(図8)
トランジスタ13のオンオフ信号は、トランジスタ13のゲートドライブ素子の電圧変化を測定すると、トランジスタのオンオフ信号として使用する。
または、トランジスタのコレクタ電圧とコンデンサの−電極間の電位差を測定(図8のa部)し、コンデンサの+電位と同電位のときは、トランジスタがオンしていると判断し、逆に、コンデンサの−電位と同電位の場合、トランジスタがオフしていると判断することができるため、この電圧変化をトランジスタのオンオフ信号として使用してもよい。
本実施の形態では、このようにして、トランジスタのオンオフ信号をモニタすることができる。
【0049】
このトランジスタのオンオフ信号も、電流指令値やレーザ出力指令値から、基準となるトランジスタオンオフ基準波形を生成する。
トランジスタオンオフ基準波形の生成方法の例として、図9のようなヒステリシスコンパレータ制御のようにある電流値にてトランジスタのオンオフが規定されている場合について述べる。
このとき、電流の増加時の傾きは、(R1/L1)の値によって決まる定数α1、減少時の傾きも、(R1/L1)の値によって決まる定数α2となる。
トランジスタのオンする電流値をIon、オフする電流値をIoffとすると、トランジスタがオンしている時間Tonとオフしている時間Toffは、
Ton=(Ion−Ioff)/α1・・式11
Toff=(Ioff−Ion)/α2・式12
となる。
【0050】
これは、一定の電流値になった後の関係であり、一定の電流になるまでは、トランジスタはオンした状態のままである。
このオン時間Ton1は、電流指令値をI1とすると
Ton1=I1/α1・・・・・・・・・式13
となる。
また、一定の電流値から0Aになるまでの時間Toff1は
Toff1=I1/α2・・・・・・・・式14
となる。
【0051】
これらの式で与えられるトランジスタのオンオフの時間を基準波形とすることができる。
当然、トランジスタのオンオフ波形を実際に測定し、その波形を基準波形としてもよい。
その基準波形より、図10のように、基準波形のオンからモニタ値のオフまでの間隔(図10のB)を測定し、基準波形のオフの時間との許容範囲内(図10のD)内に入っているかを判定する。
または、モニタ値のオンからモニタ値のオフの間隔(図10のC)を測定し、基準波形のオンからオフまでの間隔(図15のA)と比較し、許容範囲に入っているかを判定する。
ここでは、1周期のうちのオンからオフまでの間隔で例を示したが、オンからオンの間隔、1周期以上の間隔等で判定して良い。
以上のような判定結果に基づき、発振器制御装置26にエラー信号を出力する。
【0052】
このような構成にすることにより、トランジスタのオンオフ信号が正常に動作しているかを確認することができるため、電流波形が異常のときに、制御信号(トランジスタのオンオフ信号等)が異常であるのか、制御信号は正常であるのに電流の波形を決めるリアクトルやレーザダイオードの特性が異常であるのかを判断することができる。
つまり、レーザ出力の異常発生時に、光の増幅部分の異常であるか電源関係の異常であるかを判断できるうえに、電源異常に関しても、さらに詳細に故障個所の特定が可能となる。
【0053】
【発明の効果】
本発明によれば、基準となる波形からモニタ値が外れたことを検出することにより、確実に、レーザ出力の異常発生時に、光の増幅部分の異常であるか電源関係の異常であるかといった異常原因を判断でき、故障個所の特定を容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態1におけるレーザ発振器の概略構成を示した構成図である。
【図2】 異常判定の処理フローチャートを示したフローチャートである。
【図3】 レーザダイオードの等価回路を示す説明図である。
【図4】 電流波形を示す図である。
【図5】 電流波形の近似を示す図である。
【図6】 異常判定のシーケンス
【図7】 実施の形態2における許容範囲の設定を示す図である。
【図8】 実施の形態3におけるレーザ発振器の概略構成を示した構成図である。
【図9】 トランジスタのオンオフ波形判定を示す図である。
【図10】 トランジスタのオンオフ波形生成を示す図である。
【図11】 従来のレーザ発振器の概略構成を示した構成図である。
【図12】 電源装置10の内部の具体例を表した構成図である。
【図13】 ヒステリシスコンパレータ制御、PWM制御の説明図である。
【符号の説明】
1 レーザダイオード、2 レーザ媒体、3 全反射ミラー、4 部分反射ミラー、5 拡大レンズ、6 平行化レンズ、7 光ファイバ入射レンズ、8 光ファイバ、9 加工ヘッド、10 電源装置、11 レーザ出力モニタ用センサ、12 電流センサ、13 トランジスタ、14 リアクトル、15 還流ダイオード、16 整流ユニット、17 コンデンサ、18 電流制御装置、19 スイッチ、20 ゲイン調整アンプ、21 比較器、22 異常判定装置、23電流制限値比較器、24 レーザ出力上限値比較器、25 レーザ出力下限値比較器、26 発振器制御装置、27 基準波形生成部、28 レーザ出力波形比較部、29 電流波形比較部、30 トランジスタオンオフ信号比較部。

Claims (5)

  1. 入力されるレーザ出力指令値或いは電流指令値に応じて、レーザ媒質への励起を制御して所望のレーザ出力を得るレーザ発振器において、上記レーザ出力指令値或いは電流指令値より基準となるレーザ出力波形及び電流波形を生成する基準波形生成手段と、レーザ媒質の励起のための電流値を電流モニタ値として取り込み、上記基準波形生成手段で生成した上記電流波形と比較する第1の比較手段と、励起され出力されるレーザ出力値をレーザ出力モニタ値として取り込み、上記基準波形生成手段で生成した上記レーザ出力波形と比較する第2の比較手段と、を備え、異常を検出することを特徴とするレーザ発振器。
  2. レーザ媒質を励起するためのレーザダイオードに流れる電流を制御する主回路素子のオン・オフ信号を取り込み、レーザ出力指令値或いは電流指令値より基準波形生成手段にて生成された主回路素子のオン・オフ信号と比較する第3の比較手段と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載のレーザ発振器。
  3. 比較手段において比較をする際に、基準波形に対して所定の許容範囲を設定することを特徴とする請求項1または2に記載のレーザ発振器。
  4. 入力されるレーザ出力指令値或いは電流指令値に応じて、レーザ媒質への励起を制御して所望のレーザ出力を得るレーザ発振器において、
    上記レーザ出力指令値或いは電流指令値より基準となるレーザ出力波形及び電流波形を生成する基準波形生成手段と、
    レーザ媒質の励起のための電流値を電流モニタ値として取り込む電流測定手段と、
    励起され出力されるレーザ出力値をレーザ出力モニタ値として取り込むレーザ出力測定手段と、
    上記基準波形生成手段で生成した上記電流波形と上記電流モニタ値とを比較し比較結果に基づきエラーを出力する第1の比較手段と、
    上記基準波形生成手段で生成した上記レーザ出力波形と上記レーザ出力モニタ値とを比較し比較結果に基づきエラーを出力する第2の比較手段と、
    を備えたことを特徴とするレーザ発振器。
  5. レーザ出力指令値または電流指令値によりレーザの出力を制御するレーザ発振器制御方法において、
    上記レーザ出力指令値からレーザ出力基準波形を生成する工程と、
    上記電流指令値から電流基準波形を生成する工程と、
    上記レーザ出力基準波形および上記電流基準波形に許容範囲を設定する工程と、
    レーザ媒質の励起のための電流値を電流モニタ値として取り込む工程と、
    励起され出力されるレーザ出力値をレーザ出力モニタ値として取り込む工程と、
    上記電流モニタ値が上記電流基準波形の許容範囲から外れていないかを検出する第1の検出工程と、
    上記第1の検出工程にて許容範囲から外れていた場合エラーを出力する第1のエラー出力工程と、
    上記レーザ出力モニタ値が上記レーザ出力基準波形の許容範囲から外れていないかを検出する第2の検出工程と、
    上記第2の検出工程にて許容範囲から外れていた場合エラーを出力する第2のエラー出力工程と、
    を備えたことを特徴とするレーザ発振器の制御方法。
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