JP3858605B2 - 光ディスク記録装置及び光ディスク記録媒体 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録装置に関し、特に、書き換え可能型光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録型光ディスクには、ＣＤ−Ｒ等の追記型（Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ）と、ＣＤ−ＲＷ等の書き換え可能型（Ｅｒａｓａｂｌｅ）とがある。このうち、書き換え可能型光ディスクの上書き記録（オーバーライト）には、図５に示すように、レーザパワーが記録パワーＰｗと記録冷却パワーＰｃと消去パワーＰｅの３値で変化するレーザビームが使用される。この場合、記録パワーＰｗは記録膜（相変化膜）を融点まで上昇させるパワーを与え、記録冷却パワーＰｃは記録膜を融点からアモルファスを形成する温度まで急冷するための低パワーを与え、消去パワーＰｅは記録膜をガラス転移点以上の温度に上昇させるパワーを与えている。
【０００３】
光ディスク記録時のレーザビームの最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏは、光ディスクの種類、記録装置、記録速度それぞれによって異なる。従って、実際に記録を行う際の光ディスクの種類、記録装置、記録速度の組み合わせにて最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏを設定するために、情報の記録に先立ってＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる記録パワーキャリブレーション動作を行っている。
【０００４】
従来の書き換え可能型の光ディスク記録装置におけるＯＰＣ動作について説明する。光ディスクの記録面上には、図６に示すように、各種データを記憶するためのデータエリア、レーザビームの最適記録パワーを設定するためのテスト記録領域であるＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）が設けられている。ＰＣＡはディスクの最内周に設けられており、テストエリアとカウントエリアとから成り、テストエリアは１００個のパーティションから構成されている。また、それぞれのパーティションは１５個のフレームで構成されている。１回のＯＰＣ動作ではパーティションの１つが使用され、パーティションを構成する１５個のフレームに対して１５段階のレーザパワーでテスト信号を記録する。このテスト信号は、基準時間幅Ｔ（Ｔは標準速度［１倍速］にて周波数４．３２ＭＨｚの１周期で約２３０ｎｓｅｃ）の３倍〜１１倍の時間幅を有するパルス列からなるＥＦＭ変調された信号であり、フレームには９通りの長さのピットが記録される。
【０００５】
これらフレームに対してレーザビームを照射し、光ディスクからの反射光を検出することにより、テスト信号を再生すると共に、それぞれの再生ＲＦ（高周波）信号の振幅の大きさを示す指標としての変調度ｍを測定する。変調度ｍの測定にはＡＣ結合前段階の再生ＲＦ信号が用いられる。
【０００６】
ｍ＝Ｉ１１／Ｉｔｏｐ …（１）
ここで、図７に示すように、Ｉ１１は１１Ｔのピット及びランド（ピットとピットの間の部分）による再生ＲＦ信号振幅、Ｉ３は３Ｔのピット及びランドによる再生ＲＦ信号振幅、Ｉｔｏｐはランド部分のミラー反射レベルである。変調度ｍは記録パワーＰｗに応じて変化する。なお、記録パワーが低い時は、再生ＲＦ信号の振幅が小さいので変調度ｍは小さく、記録パワーＰｗが大きくなるにつれて、再生ＲＦ信号の振幅が大きくなるので変調度ｍは大きくなる。
【０００７】
変調度ｍにより最適記録パワーＰｗｏを決定する場合、変調度ｍの特性から求められる次のパラメータγを用いる。
【０００８】
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）×（Ｐｗ／ｍ） …（２）
すなわち、パラメータγは変調度ｍの特性を微分したものである。光ディスクにはＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ Ｔｉｍｅ Ｉｎ Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報としてパラメータγの目標値γｔａｒｇｅｔが予め記録されている。そこで、図８に示すように、変調度ｍの特性から上式によりパラメータγの特性を求め、目標値γｔａｒｇｅｔが得られる記録パワー値Ｐｔａｒｇｅｔを求める。
【０００９】
また、光ディスクにはＡＴＩＰ情報として、Ｐｔａｒｇｅｔから最適記録パワーＰｗｏを求める係数ρが予め記録されているので、この係数ρを用いて次式により最適記録パワーＰｗｏを求めることができる。
【００１０】
Ｐｗｏ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔ …（３）
そして、これを信号記録時の記録パワーとして設定し使用している。また、最適消去パワーＰｅｏについては、光ディスクにＡＴＩＰ情報として、固定値の係数ε（消去／記録パワー比）を用いて、最適記録パワーＰｗｏから設定する。
【００１１】
Ｐｅｏ＝ε×Ｐｗｏ …（４）
そして、記録冷却パワーＰｃは一定パワーとする。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
従来のように、ＯＰＣによって最適記録パワーＰｗｏを決定し、この最適記録パワーＰｗｏに対して固定値の係数εを乗算して最適消去パワーＰｅｏを求め、記録冷却パワーＰｃを一定パワーとする方法は、パラメータが少なく設定が容易であるものの、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせにより記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが大きくなった場合は消去パワーも大きくなり、記録パワーと消去パワーの合計が大きくなるため、光ディスクの繰り返し記録耐久性が悪化するという問題があった。逆に、記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが小さくなった場合は消去パワーも小さくなり、消去特性が悪化するという問題があった。なお、繰り返し記録耐久性は光ディスクの同じ場所に何回記録できるかで表され、記録後の再生においてジッタ値と変調度ｍが所定の規格を満足する記録回数である。
【００１３】
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合にも光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、複数の記録速度で書き換え可能型の光ディスクの記録を行うことが可能な光ディスク記録装置において、
テスト記録時に記録速度に対応する記録パワーの可変情報に基づいて記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記テスト記録領域を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適記録パワー算出手段と、
前記最適記録パワーに応じて前記最適記録パワーが大きくなるほど段階的に小さな値となる係数と前記最適記録パワーとから最適消去パワーを求める最適消去パワー算出手段とを有し、
前記最適記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光ディスクの記録を行うことにより、
光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図を示す。同図中、光ディスク２０はスピンドルモータにより駆動され軸２２を中心として回転する。ＣＰＵ２４は上位装置から供給される書き込み／読み出し命令に基づいてサーボ回路２６に命令を供給する。
【００１７】
サーボ回路２６は上記スピンドルモータのＣＬＶ（線速度一定）サーボを行うと共に、光ピックアップ２８のスレッドモータの回転制御を行って光ディスク２０の所望のブロックに移動させ、かつ、光ピックアップ２８のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行う。
【００１８】
光ピックアップ２８から照射されたレーザビームは、光ディスク２０の記録面上で反射され、反射ビームが光ピックアップ２８で検出される。光ピックアップ２８で得られた再生ＲＦ信号は再生回路３０に供給され、ここで増幅された再生ＲＦ信号はサーボ回路２６に供給されると共に、再生回路３０内でＥＦＭ復調を受けた後、ＡＴＩＰ信号が分離されてＡＴＩＰデコーダ３２に供給される。また、同期が取られた復調信号は、デコーダ３４に供給されてＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）デコード、エラー訂正の後、再生データとして出力される。ＡＴＩＰデコーダ３２はＩＤナンバや各種パラメータ等のＡＴＩＰ情報をデコードしてＣＰＵ２４及びサーボ回路２６に供給する。
【００１９】
また、再生回路３０の出力する再生信号は変調度測定回路３８に供給される。変調度測定回路３８はＡＣ結合前段階の再生ＲＦ信号の変調度ｍを測定する。この変調度ｍはＡ／Ｄコンバータ４０でディジタル化されてＣＰＵ２４に供給される。
【００２０】
ＣＰＵ２４は上記変調度ｍに基づいて記録パワー制御信号を生成し、この記録パワー制御信号はＤ／Ａコンバータ４２でアナログ化されて記録パワー制御電圧として記録回路４４に供給する。エンコーダ４６はＣＰＵ２４の制御に基づいて、入力される記録信号をＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）エンコードを行って記録回路４４に供給する。
【００２１】
記録回路４４は、記録時にエンコーダ４６から供給される信号をＥＦＭ変調し、この変調信号を記録パワー制御電圧に応じた記録パワーに制御して光ピックアップ２８内のレーザダイオード（ＬＤ）に供給して駆動する。これによりレーザビームが光ディスク２０に照射されて信号記録が行われる。
【００２２】
なお、ＣＰＵ２４の内蔵するＲＡＭ２４ａには過去ＯＰＣ（記録パワーキャリブレーション）の履歴、つまり、過去に測定された最適記録パワーが記憶されている。このＯＰＣ履歴はある一定時間保持される。
【００２３】
更にＣＰＵ２４の内蔵するＲＯＭ２４ｂには、光ディスクの種類（ＩＤナンバ）毎に、記録速度（１，２，４，６，８，１２，１６倍速等）に応じたＯＰＣのスタートパワーとステップパワーが設定されたテーブルと、光ディスクの種類及び記録速度に応じた係数Ｋのテーブルと、光ディスクの種類毎に最適記録パワーＰｗｏに応じた係数εのテーブル等が設定されている。また、動作モード指示部５０からの指示入力はＣＰＵ２４に供給される。
【００２４】
図２は、ＣＰＵ２４が実行するＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートを示す。同図中、ステップＳ４０で記録速度を記録コマンドの指定する値に設定し、ステップＳ４２で光ディスク２０からＡＴＩＰ情報として記録されているＩＤナンバを取得し、光ディスクの種類を判別する。次に、ステップＳ４４で該当する光ディスクの種類の記録速度に応じてＲＯＭ２４ｂからＯＰＣのスタートパワーとステップパワーのテーブルを選択し、ステップＳ４６で記録パワーＰｗを上記選択したテーブルに設定されているスタートパワーからステップパワー単位で１５段階変化させて光ディスク２０のテスト記録領域にテスト信号を記録する。
【００２５】
次に、ステップＳ４８で上記のテスト記録部分を再生し、ステップＳ５０で１５段階の記録パワーＰｗ毎に変調度ｍを測定する。そして、ステップＳ５２で図３に実線で示す特性を得る。そして、ステップＳ５４で、図３に実線で示す特性から変調度ｍが最大となる変調度ｍｍａｘを求める。次に、ステップＳ５６でＲＯＭ２４ｂから光ディスクの種類及び記録速度に応じて読み出した係数Ｋを上記最大変調度ｍｍａｘに乗算して目標変調度ｍｋを求める。ここで、係数Ｋは１未満の実数であり、例えば０．８程度の値である。
【００２６】
次に、ステップＳ５８で、図３に実線で示す特性から目標変調度ｍｋに対応する最適記録パワーＰｗｏを求める。そして、ステップＳ６０でこの最適記録パワーＰｗｏを実際の記録パワーとして設定し、ＣＰＵ２４のＲＡＭ２４ａに記憶する。
ここで、図３に示すように、記録パワーが低い時は再生ＲＦ信号の振幅が小さいので変調度ｍは小さく、記録パワーＰｗが大きくなるにつれて再生ＲＦ信号の振幅が大きくなるので変調度ｍは大きくなる。最大変調度ｍｍａｘは変調度の飽和ポイントにあるために、ドライブ装置やディスクの違いによるばらつきが小さい。また、この最大変調度ｍｍａｘに係数Ｋを乗算して目標変調度ｍｋを求めているため、ドライブ装置やディスクの違いによる変調度の誤差が最大変調度ｍｍａｘによって正規化され、ドライブ装置やディスクの違いによる変調度の誤差を吸収することができ、最適記録パワーＰｗｏを精度良く決定することが可能となる。
【００２７】
次のステップＳ６２では、光ディスクの種類とステップＳ６０で設定した最適記録パワーＰｗｏとに応じた係数εをＲＯＭ２４ｂのテーブルから読み出し、この係数εを最適記録パワーＰｗｏに乗算して最適消去パワーＰｅｏとして設定し、ＣＰＵ２４のＲＡＭ２４ａに記憶する。なお、記録冷却パワーＰｃは一定パワーとする。そして、ＯＰＣ動作を終了し、この後、記録動作を開始する。
【００２８】
ここで、図４に示すように、ある光ディスクの種類に対して最適記録パワーＰｗｏが２０．００から２７．００まで設定される場合、最適記録パワーＰｗｏが２０．００から２３．００未満の範囲は係数εが０．３７とされ、最適記録パワーＰｗｏが２３．００から２５．００未満の範囲は係数εが０．３４とされ、最適記録パワーＰｗｏが２５．００から２７．００の範囲は係数εが０．３１とされる。この結果、最適記録パワーＰｗｏに対して最適消去パワーＰｅｏは右端の欄に記載のようになる。
【００２９】
このように、最適記録パワーＰｗｏの値が大きくなるほど係数εは小さな値となり、最適記録パワーＰｗｏと係数εから最適消去パワーＰｅｏを求めているため、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせにより記録パワーがばらつく影響で記録パワーが大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができる。なお、消去パワーは記録膜をガラス転移点以上の温度に上昇させる所定値以上であれば、それ以上大きなパワーとしても消去特性はあまり変化せず、所定値近傍で有効な消去特性を得ることができる。
【００３０】
ところで、本発明の光ディスク記録媒体では、ＡＴＩＰ情報として図４に示すテーブルと同様に、最適記録パワーから最適消去パワーを求めるための係数εが最適記録パワーに応じて記録されている。この場合、本発明の光ディスク記録装置では、光ディスク記録媒体から上記最適記録パワーと係数εのテーブルを読み取ってＲＡＭ２４ａに記憶しておき、ＯＰＣ動作を行って最適記録パワーＰｗｏを求めたのち、この最適記録パワーＰｗｏでＲＡＭ２４ａのテーブルを参照して最適な係数εを得て、この最適な係数εと最適記録パワーＰｗｏを用いて最適消去パワーを求める。なお、本発明の光ディスク記録媒体では、前記テーブルを記録装置毎に記録しておいてもよい。
【００３１】
なお、上記実施例では、目標変調度ｍｋから最適記録パワーＰｗｏを求めているが、従来と同様にパラメータγの特性から記録パワー値Ｐｔａｒｇｅｔを求め、係数ρを用いて最適記録パワーＰｗｏを求める構成であってもよく、上記実施例に限定されない。また、図４に示すテーブルは、記録速度毎に設定してもよい。
【００３２】
なお、ステップＳ４０〜Ｓ６０が請求項記載の最適記録パワー算出手段に対応し、ステップＳ６２が最適消去パワー算出手段に対応する。
【００３３】
【発明の効果】
上述の如く、本願発明の光ディスク記録装置によれば、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図である。
【図２】本発明装置のＣＰＵ２４が実行するＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートである。
【図３】本発明における記録パワーと変調度の特性を示す図である。
【図４】本発明における最適記録パワーに対する係数εと最適消去パワーを示す図である。
【図５】上書き記録時のレーザパワーの波形を示す図である。
【図６】光ディスクのテスト記録領域を説明するための図である。
【図７】変調度ｍを説明するための図である。
【図８】テスト記録における記録パワーと変調度との関係を示す図である。
【符号の説明】
２０ 光ディスク
２２ 軸
２４ ＣＰＵ
２４ａ ＲＡＭ
２４ｂ ＲＯＭ
２６ サーボ回路
２８ 光ピックアップ
３０ 再生回路
３２ ＡＴＩＰデコーダ
３４ デコーダ
３８ 変調度測定回路
４０ Ａ／Ｄコンバータ
４２ Ｄ／Ａコンバータ
４４ 記録回路
４６ エンコーダ
５０ 動作モード指示部
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク記録装置に関し、特に、書き換え可能型光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録型光ディスクには、ＣＤ−Ｒ等の追記型（Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ）と、ＣＤ−ＲＷ等の書き換え可能型（Ｅｒａｓａｂｌｅ）とがある。このうち、書き換え可能型光ディスクの上書き記録（オーバーライト）には、図５に示すように、レーザパワーが記録パワーＰｗと記録冷却パワーＰｃと消去パワーＰｅの３値で変化するレーザビームが使用される。この場合、記録パワーＰｗは記録膜（相変化膜）を融点まで上昇させるパワーを与え、記録冷却パワーＰｃは記録膜を融点からアモルファスを形成する温度まで急冷するための低パワーを与え、消去パワーＰｅは記録膜をガラス転移点以上の温度に上昇させるパワーを与えている。
【０００３】
光ディスク記録時のレーザビームの最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏは、光ディスクの種類、記録装置、記録速度それぞれによって異なる。従って、実際に記録を行う際の光ディスクの種類、記録装置、記録速度の組み合わせにて最適記録パワーＰｗｏと最適消去パワーＰｅｏを設定するために、情報の記録に先立ってＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれる記録パワーキャリブレーション動作を行っている。
【０００４】
従来の書き換え可能型の光ディスク記録装置におけるＯＰＣ動作について説明する。光ディスクの記録面上には、図６に示すように、各種データを記憶するためのデータエリア、レーザビームの最適記録パワーを設定するためのテスト記録領域であるＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ）が設けられている。ＰＣＡはディスクの最内周に設けられており、テストエリアとカウントエリアとから成り、テストエリアは１００個のパーティションから構成されている。また、それぞれのパーティションは１５個のフレームで構成されている。１回のＯＰＣ動作ではパーティションの１つが使用され、パーティションを構成する１５個のフレームに対して１５段階のレーザパワーでテスト信号を記録する。このテスト信号は、基準時間幅Ｔ（Ｔは標準速度［１倍速］にて周波数４．３２ＭＨｚの１周期で約２３０ｎｓｅｃ）の３倍〜１１倍の時間幅を有するパルス列からなるＥＦＭ変調された信号であり、フレームには９通りの長さのピットが記録される。
【０００５】
これらフレームに対してレーザビームを照射し、光ディスクからの反射光を検出することにより、テスト信号を再生すると共に、それぞれの再生ＲＦ（高周波）信号の振幅の大きさを示す指標としての変調度ｍを測定する。変調度ｍの測定にはＡＣ結合前段階の再生ＲＦ信号が用いられる。
【０００６】
ｍ＝Ｉ１１／Ｉｔｏｐ …（１）
ここで、図７に示すように、Ｉ１１は１１Ｔのピット及びランド（ピットとピットの間の部分）による再生ＲＦ信号振幅、Ｉ３は３Ｔのピット及びランドによる再生ＲＦ信号振幅、Ｉｔｏｐはランド部分のミラー反射レベルである。変調度ｍは記録パワーＰｗに応じて変化する。なお、記録パワーが低い時は、再生ＲＦ信号の振幅が小さいので変調度ｍは小さく、記録パワーＰｗが大きくなるにつれて、再生ＲＦ信号の振幅が大きくなるので変調度ｍは大きくなる。
【０００７】
変調度ｍにより最適記録パワーＰｗｏを決定する場合、変調度ｍの特性から求められる次のパラメータγを用いる。
【０００８】
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）×（Ｐｗ／ｍ） …（２）
すなわち、パラメータγは変調度ｍの特性を微分したものである。光ディスクにはＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ Ｔｉｍｅ Ｉｎ Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報としてパラメータγの目標値γｔａｒｇｅｔが予め記録されている。そこで、図８に示すように、変調度ｍの特性から上式によりパラメータγの特性を求め、目標値γｔａｒｇｅｔが得られる記録パワー値Ｐｔａｒｇｅｔを求める。
【０００９】
また、光ディスクにはＡＴＩＰ情報として、Ｐｔａｒｇｅｔから最適記録パワーＰｗｏを求める係数ρが予め記録されているので、この係数ρを用いて次式により最適記録パワーＰｗｏを求めることができる。
【００１０】
Ｐｗｏ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔ …（３）
そして、これを信号記録時の記録パワーとして設定し使用している。また、最適消去パワーＰｅｏについては、光ディスクにＡＴＩＰ情報として、固定値の係数ε（消去／記録パワー比）を用いて、最適記録パワーＰｗｏから設定する。
【００１１】
Ｐｅｏ＝ε×Ｐｗｏ …（４）
そして、記録冷却パワーＰｃは一定パワーとする。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
従来のように、ＯＰＣによって最適記録パワーＰｗｏを決定し、この最適記録パワーＰｗｏに対して固定値の係数εを乗算して最適消去パワーＰｅｏを求め、記録冷却パワーＰｃを一定パワーとする方法は、パラメータが少なく設定が容易であるものの、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせにより記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが大きくなった場合は消去パワーも大きくなり、記録パワーと消去パワーの合計が大きくなるため、光ディスクの繰り返し記録耐久性が悪化するという問題があった。逆に、記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが小さくなった場合は消去パワーも小さくなり、消去特性が悪化するという問題があった。なお、繰り返し記録耐久性は光ディスクの同じ場所に何回記録できるかで表され、記録後の再生においてジッタ値と変調度ｍが所定の規格を満足する記録回数である。
【００１３】
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合にも光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、複数の記録速度で書き換え可能型の光ディスクの記録を行うことが可能な光ディスク記録装置において、
テスト記録時に記録速度に対応する記録パワーの可変情報に基づいて記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記テスト記録領域を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適記録パワー算出手段と、
前記最適記録パワーに応じて前記最適記録パワーが大きくなるほど段階的に小さな値となる係数と前記最適記録パワーとから最適消去パワーを求める最適消去パワー算出手段とを有し、
前記最適記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光ディスクの記録を行うことにより、
光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図を示す。同図中、光ディスク２０はスピンドルモータにより駆動され軸２２を中心として回転する。ＣＰＵ２４は上位装置から供給される書き込み／読み出し命令に基づいてサーボ回路２６に命令を供給する。
【００１７】
サーボ回路２６は上記スピンドルモータのＣＬＶ（線速度一定）サーボを行うと共に、光ピックアップ２８のスレッドモータの回転制御を行って光ディスク２０の所望のブロックに移動させ、かつ、光ピックアップ２８のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行う。
【００１８】
光ピックアップ２８から照射されたレーザビームは、光ディスク２０の記録面上で反射され、反射ビームが光ピックアップ２８で検出される。光ピックアップ２８で得られた再生ＲＦ信号は再生回路３０に供給され、ここで増幅された再生ＲＦ信号はサーボ回路２６に供給されると共に、再生回路３０内でＥＦＭ復調を受けた後、ＡＴＩＰ信号が分離されてＡＴＩＰデコーダ３２に供給される。また、同期が取られた復調信号は、デコーダ３４に供給されてＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）デコード、エラー訂正の後、再生データとして出力される。ＡＴＩＰデコーダ３２はＩＤナンバや各種パラメータ等のＡＴＩＰ情報をデコードしてＣＰＵ２４及びサーボ回路２６に供給する。
【００１９】
また、再生回路３０の出力する再生信号は変調度測定回路３８に供給される。変調度測定回路３８はＡＣ結合前段階の再生ＲＦ信号の変調度ｍを測定する。この変調度ｍはＡ／Ｄコンバータ４０でディジタル化されてＣＰＵ２４に供給される。
【００２０】
ＣＰＵ２４は上記変調度ｍに基づいて記録パワー制御信号を生成し、この記録パワー制御信号はＤ／Ａコンバータ４２でアナログ化されて記録パワー制御電圧として記録回路４４に供給する。エンコーダ４６はＣＰＵ２４の制御に基づいて、入力される記録信号をＣＩＲＣ（クロスインターリーブリードソロモン符号）エンコードを行って記録回路４４に供給する。
【００２１】
記録回路４４は、記録時にエンコーダ４６から供給される信号をＥＦＭ変調し、この変調信号を記録パワー制御電圧に応じた記録パワーに制御して光ピックアップ２８内のレーザダイオード（ＬＤ）に供給して駆動する。これによりレーザビームが光ディスク２０に照射されて信号記録が行われる。
【００２２】
なお、ＣＰＵ２４の内蔵するＲＡＭ２４ａには過去ＯＰＣ（記録パワーキャリブレーション）の履歴、つまり、過去に測定された最適記録パワーが記憶されている。このＯＰＣ履歴はある一定時間保持される。
【００２３】
更にＣＰＵ２４の内蔵するＲＯＭ２４ｂには、光ディスクの種類（ＩＤナンバ）毎に、記録速度（１，２，４，６，８，１２，１６倍速等）に応じたＯＰＣのスタートパワーとステップパワーが設定されたテーブルと、光ディスクの種類及び記録速度に応じた係数Ｋのテーブルと、光ディスクの種類毎に最適記録パワーＰｗｏに応じた係数εのテーブル等が設定されている。また、動作モード指示部５０からの指示入力はＣＰＵ２４に供給される。
【００２４】
図２は、ＣＰＵ２４が実行するＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートを示す。同図中、ステップＳ４０で記録速度を記録コマンドの指定する値に設定し、ステップＳ４２で光ディスク２０からＡＴＩＰ情報として記録されているＩＤナンバを取得し、光ディスクの種類を判別する。次に、ステップＳ４４で該当する光ディスクの種類の記録速度に応じてＲＯＭ２４ｂからＯＰＣのスタートパワーとステップパワーのテーブルを選択し、ステップＳ４６で記録パワーＰｗを上記選択したテーブルに設定されているスタートパワーからステップパワー単位で１５段階変化させて光ディスク２０のテスト記録領域にテスト信号を記録する。
【００２５】
次に、ステップＳ４８で上記のテスト記録部分を再生し、ステップＳ５０で１５段階の記録パワーＰｗ毎に変調度ｍを測定する。そして、ステップＳ５２で図３に実線で示す特性を得る。そして、ステップＳ５４で、図３に実線で示す特性から変調度ｍが最大となる変調度ｍｍａｘを求める。次に、ステップＳ５６でＲＯＭ２４ｂから光ディスクの種類及び記録速度に応じて読み出した係数Ｋを上記最大変調度ｍｍａｘに乗算して目標変調度ｍｋを求める。ここで、係数Ｋは１未満の実数であり、例えば０．８程度の値である。
【００２６】
次に、ステップＳ５８で、図３に実線で示す特性から目標変調度ｍｋに対応する最適記録パワーＰｗｏを求める。そして、ステップＳ６０でこの最適記録パワーＰｗｏを実際の記録パワーとして設定し、ＣＰＵ２４のＲＡＭ２４ａに記憶する。
ここで、図３に示すように、記録パワーが低い時は再生ＲＦ信号の振幅が小さいので変調度ｍは小さく、記録パワーＰｗが大きくなるにつれて再生ＲＦ信号の振幅が大きくなるので変調度ｍは大きくなる。最大変調度ｍｍａｘは変調度の飽和ポイントにあるために、ドライブ装置やディスクの違いによるばらつきが小さい。また、この最大変調度ｍｍａｘに係数Ｋを乗算して目標変調度ｍｋを求めているため、ドライブ装置やディスクの違いによる変調度の誤差が最大変調度ｍｍａｘによって正規化され、ドライブ装置やディスクの違いによる変調度の誤差を吸収することができ、最適記録パワーＰｗｏを精度良く決定することが可能となる。
【００２７】
次のステップＳ６２では、光ディスクの種類とステップＳ６０で設定した最適記録パワーＰｗｏとに応じた係数εをＲＯＭ２４ｂのテーブルから読み出し、この係数εを最適記録パワーＰｗｏに乗算して最適消去パワーＰｅｏとして設定し、ＣＰＵ２４のＲＡＭ２４ａに記憶する。なお、記録冷却パワーＰｃは一定パワーとする。そして、ＯＰＣ動作を終了し、この後、記録動作を開始する。
【００２８】
ここで、図４に示すように、ある光ディスクの種類に対して最適記録パワーＰｗｏが２０．００から２７．００まで設定される場合、最適記録パワーＰｗｏが２０．００から２３．００未満の範囲は係数εが０．３７とされ、最適記録パワーＰｗｏが２３．００から２５．００未満の範囲は係数εが０．３４とされ、最適記録パワーＰｗｏが２５．００から２７．００の範囲は係数εが０．３１とされる。この結果、最適記録パワーＰｗｏに対して最適消去パワーＰｅｏは右端の欄に記載のようになる。
【００２９】
このように、最適記録パワーＰｗｏの値が大きくなるほど係数εは小さな値となり、最適記録パワーＰｗｏと係数εから最適消去パワーＰｅｏを求めているため、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせにより記録パワーがばらつく影響で記録パワーが大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができる。なお、消去パワーは記録膜をガラス転移点以上の温度に上昇させる所定値以上であれば、それ以上大きなパワーとしても消去特性はあまり変化せず、所定値近傍で有効な消去特性を得ることができる。
【００３０】
ところで、本発明の光ディスク記録媒体では、ＡＴＩＰ情報として図４に示すテーブルと同様に、最適記録パワーから最適消去パワーを求めるための係数εが最適記録パワーに応じて記録されている。この場合、本発明の光ディスク記録装置では、光ディスク記録媒体から上記最適記録パワーと係数εのテーブルを読み取ってＲＡＭ２４ａに記憶しておき、ＯＰＣ動作を行って最適記録パワーＰｗｏを求めたのち、この最適記録パワーＰｗｏでＲＡＭ２４ａのテーブルを参照して最適な係数εを得て、この最適な係数εと最適記録パワーＰｗｏを用いて最適消去パワーを求める。なお、本発明の光ディスク記録媒体では、前記テーブルを記録装置毎に記録しておいてもよい。
【００３１】
なお、上記実施例では、目標変調度ｍｋから最適記録パワーＰｗｏを求めているが、従来と同様にパラメータγの特性から記録パワー値Ｐｔａｒｇｅｔを求め、係数ρを用いて最適記録パワーＰｗｏを求める構成であってもよく、上記実施例に限定されない。また、図４に示すテーブルは、記録速度毎に設定してもよい。
【００３２】
なお、ステップＳ４０〜Ｓ６０が請求項記載の最適記録パワー算出手段に対応し、ステップＳ６２が最適消去パワー算出手段に対応する。
【００３３】
【発明の効果】
上述の如く、本願発明の光ディスク記録装置によれば、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク記録装置の一実施例のブロック構成図である。
【図２】本発明装置のＣＰＵ２４が実行するＯＰＣ動作の一実施例のフローチャートである。
【図３】本発明における記録パワーと変調度の特性を示す図である。
【図４】本発明における最適記録パワーに対する係数εと最適消去パワーを示す図である。
【図５】上書き記録時のレーザパワーの波形を示す図である。
【図６】光ディスクのテスト記録領域を説明するための図である。
【図７】変調度ｍを説明するための図である。
【図８】テスト記録における記録パワーと変調度との関係を示す図である。
【符号の説明】
２０ 光ディスク
２２ 軸
２４ ＣＰＵ
２４ａ ＲＡＭ
２４ｂ ＲＯＭ
２６ サーボ回路
２８ 光ピックアップ
３０ 再生回路
３２ ＡＴＩＰデコーダ
３４ デコーダ
３８ 変調度測定回路
４０ Ａ／Ｄコンバータ
４２ Ｄ／Ａコンバータ
４４ 記録回路
４６ エンコーダ
５０ 動作モード指示部
Claims (2)
- 複数の記録速度で書き換え可能型の光ディスクの記録を行うことが可能な光ディスク記録装置において、
テスト記録時に記録速度に対応する記録パワーの可変情報に基づいて記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記テスト記録領域を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適記録パワー算出手段と、
前記最適記録パワーに応じて前記最適記録パワーが大きくなるほど段階的に小さな値となる係数と前記最適記録パワーとから最適消去パワーを求める最適消去パワー算出手段とを有し、
前記最適記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光ディスクの記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。 - 複数の記録速度で書き換え可能型の光ディスクの記録を行うことが可能な光ディスク記録装置において、
前記複数の記録速度に対応する記録パワーの可変情報が予め記録されたテーブルと最適記録パワーに応じて前記最適記録パワーが大きくなるほど段階的に小さな値となる係数が書き換え可能型の光ディスクの種類毎に予め記録されたテーブルを含む記憶部と、
装着された書き換え可能型の光ディスクの種類を判別する判別手段と、
テスト記録時に記録速度に対応する前記記録パワーの可変情報を前記記憶部のテーブルから読み出し、読み出された該可変情報を用いて前記記録パワーを可変して前記光ディスクのテスト記録領域に記録を行い、前記テスト記録領域を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適記録パワー算出手段と、
前記判別手段によって判別された前記光ディスクの種類と前記最適記録パワー算出手段によって求められた最適記録パワーとに対応する係数を前記記憶部のテーブルから読み出し、読み出された係数と前記最適記録パワー算出手段によって求められた最適記録パワーとから最適消去パワーを求める最適消去パワー算出手段とを有し、
前記最適記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光ディスクの記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
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