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JP3781203B2 - 画像信号補間装置及び画像信号補間方法 - Google Patents

画像信号補間装置及び画像信号補間方法 Download PDF

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JP3781203B2 JP31905494A JP31905494A JP3781203B2 JP 3781203 B2 JP3781203 B2 JP 3781203B2 JP 31905494 A JP31905494 A JP 31905494A JP 31905494 A JP31905494 A JP 31905494A JP 3781203 B2 JP3781203 B2 JP 3781203B2
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Description

【0001】
【目次】
以下の順序で本発明を説明する。
産業上の利用分野
従来の技術(図6〜図8)
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段(図1及び図2)
作用(図1)
実施例
(1)全体構成(図1及び図2)
(2)クラス分類処理(図3及び図4)
(3)予測係数メモリの作成(図5)
(4)実施例の動作(図1)
(5)実施例の効果
(6)他の実施例
発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】
本発明は画像信号補間装置に関し、例えばサブサンプリングにより間引かれた画素を補間することにより画像の解像度を向上させる画像信号補間装置に適用して好適なものである。
【0003】
【従来の技術】
従来、画像信号を記録、伝送する際の帯域圧縮あるいは情報量削減のための方法としてサブサンプリングによつて原画像の画素を所定間隔おきに間引く方法が広く用いられている。その一例としては、MUSE(MUltiple Sub-nyquist Sampling Encoding)方式における多重サブナイキストサンプリングエンコーデイング方式がある。
【0004】
またサブサンプリングの一例としてオフセツトサブサンプリングが広く用いられている。このオフセツトサブサンプリングにおいては、2次元の場合には図6に示すように水平方向(x方向)及び垂直方向(y方向)のサンプリング間隔(Tx、Ty)をそれぞれ原信号における画素間隔(Hx、Hy)の2倍に設定することにより、1画素おきにサブサンプル(×)する。またオフセツトサブサンプリングでは、垂直方向に隣合うサンプリング点(○)を互いにサンプリング間隔の半分(Tx/2)だけオフセツトする。この結果オフセツトサブサンプリング後の画像信号の伝送帯域は、図7に示すように斜め方向の空間周波数に対して水平あるいは垂直方向の空間周波数成分を広帯域化することができ、この結果視覚上画質劣化の目立たない間引き処理を行うことができる。
【0005】
ここでオフセツトサブサンプリングされた画像信号をモニタに表示したりプリントアウトする場合には、図8に示すように各サンプリング点間の画素を隣接画素を用いて補間する必要がある。このような補間処理は、図7に示す斜線領域の周波数成分を通過させると共に、折り返し点Aを含む領域の周波数成分の通過を阻止する空間フイルタとして機能するものであり、この補間処理はサンプリング理論上では後置フイルタとして位置付けられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、オフセツトサブサンプリングは、サブサンプリング前の前置フイルタが正しくかけられている場合には非常に有効な手法であるが、例えばハードウエア上の制約によつて前置フイルタを十分にかけられない場合や伝送帯域の広帯域化をはかるために前置フイルタを十分にかけない場合等には折り返し歪みに基づく画像劣化が発生する問題がある。
【0007】
この折り返し歪みの発生を軽減する一つの方法として、適応型補間方法が提案されている。この方法は、サブサンプリングされた画像信号に対して補間処理を行う際に、補間画素の周辺で相関の強い方向を検出し、当該検出結果に応じて複数の異なつた補間手段を選択的に用いて補間処理を行うものである。
【0008】
ところで、適応型補間方法においては、補間精度が相関の強い方向を検出する際の検出精度と個々の補間手段の能力とに大きく依存する。そのため、個々の補間手段の能力が十分でなく適切な補間ができない場合や、相関の強い方向を誤判定した場合には、本来の信号成分を減少させるばかりでなく、逆に折り返し歪みを増大させてしまう問題点があつた。
【0009】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、折り返し歪みの発生を未然に回避して真値に近い補間画素値を求めることができる簡易な構成の画像信号補間装置を提案しようとするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため本発明は、所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する装置又は方法であって、補間対象画素の近傍画素を用いて、補間対象画素の近傍における平坦度を検出し、この平坦度の大きさが所定の基準以下であった場合には、補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択し、基準を超えていた場合には、補間対象画素から第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択し、選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、補間対象画素をクラス分類し、当該クラスに対応する予測係数を発生し、その予測係数と、補間対象画素の周辺における伝送画像データの画素とを用いて、線形結合に基づく演算により補間対象画素を算出するようにした。
【0011】
また本発明は、所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する装置又は方法であって、補間対象画素の近傍画素を用いて、補間対象画素の近傍における平坦度を検出し、この平坦度の大きさが所定の基準以下であった場合には、補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択し、基準を超えていた場合には、補間対象画素から第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択し、選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、補間対象画素をクラス分類し、当該クラスに対応する代表値を発生し、この代表値を補間対象画素に対応するデータとした。
【0012】
【作用】
クラスに対応した予測係数又は代表値を使って補間対象画素を求めるようにしたことにより、真値に近い補間画素値を得ることができる。加えて、補間対象画素近傍の平坦度を検出し、当該検出結果に応じてクラス分類に用いる周辺画素を選択するようにしたことにより、補間対象画素を少ないクラス数で的確にクラス分類できるようになる。
【0013】
【実施例】
以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
【0014】
(1)全体構成
図1において、1は全体として画像信号補間装置を示し、オフセツトサブサンプリングによつて情報量が削減された入力画像データD1に対してクラス分類による適応補間処理を施すことにより真値に近い補間データD2を生成するようになされている。
【0015】
具体的には、画像信号補間装置1は、補間対象画素の周辺のサンプリング画素(すなわち入力画像データD1に含まれている画素)のレベル分布のパターンに応じて補間対象画素(すなわち間引かれた画素)をクラス分類し、予め各クラス毎に学習により求められている予測係数を読み出し、この予測係数を使つて補間画素値を求める。
これにより画像信号補間装置1においては、補間対象画素を単にその周辺のサンプリング画素を用いた平均補間によつて求める場合と比較して、格段に真値に近い補間画素値を求めることができる。
【0016】
画像信号補間装置1は入力画像データD1をブロツク化回路2に入力し、当該ブロツク化回路2において入力画像データD1を所定の大きさのブロツクに分割する。実際上ブロツク化回路2は、図2に示すように、補間対象画素(×印)を中心としてその周辺の12個の周辺画素a〜lによつて各ブロツクを形成するようになされている。
【0017】
平坦度検出回路3はブロツク化画像データD3を入力し、そのブロツク内の補間対象画素を含む領域での局所的な平坦度を検出する。具体的には、平坦度検出回路3は、補間対象画素(×印)に隣接する4個の周辺画素a〜dを用いて平坦度を検出する。
【0018】
そして周辺画素a〜dの平坦度が小さかった場合には、補間対象画素(×印)のクラスをこの4画素a〜dのみで十分に推定し得ると判断し、続く画素選択回路4にこのことを表わす平坦度検出信号D4を送出する。これに対して、周辺画素a〜dの平坦度が大きかつた場合には、補間対象画素のクラスをこの4画素a〜dのみでは推定し得ないと判断し、続く画素選択回路4にこのことを表わす平坦度検出信号D4を送出する。因に、実施例の平坦度検出回路3では、4画素a〜dの画素値の最大値と最小値の差が20を越えていた場合に平坦度が小さいとし、20以下であつた場合に平坦度が大きいするようになされている。
【0019】
画素選択回路4は平坦度検出信号D4に基づいて、平坦度が小さかつた場合には選択画素データD5としてブロツク内画素a〜lのうち4画素a〜dの画素データのみを適応ダイナミツクレンジ符号化(ADRC(Adaptive Dynamic Range Coding ))回路5に送出する。これに対して画素選択回路4は平坦度が大きかつた場合には選択画素データD5として、4画素a〜dの平均値Mと共に周辺画素e〜lの合計9個の画素データをADRC回路5に送出する。
【0020】
ADRC回路4は画素選択回路4からの選択画素データD5を受け、当該選択画素データD5に対して適応ダイナミツクレンジ符号化処理を施すことにより各画素値をビツト圧縮することによりパターン圧縮データD6を形成する。
【0021】
このように画像信号補間装置1においては、常にブロツク化回路2により切り出された周辺画素a〜l全てを用いてクラス分類するのではなく、局所的な周辺画素a〜dの平坦度に応じてクラス分類に用いる画素数を適応的に選択するようにしたことにより、クラス数を有効に削減することができる。
【0022】
この結果、続くADRC回路5を例えば1ビツトの適応量子化を行うもので構成すると、平坦度が小さいときには補間対象画素の周辺の状態を24 個のパターンで表現し得、平坦度が大きいときには29 個のパターンで表現し得る。従つて周辺の12画素全てを用いたときのパターンが212個であることを考えると、補間対象画素を非常に少ないパターンで表現できることが分かる。
【0023】
これに加えて、ADRC回路5は平坦度検出回路3からの平坦度検出信号D4に基づいてビツト圧縮率を切り換えるようになされている。具体的には、平坦度が小さいことを表わす平坦度検出結果信号D4を受けると4画素a〜dに対して1画素当り8ビツトの各画素値を2ビツトに圧縮する。これに対して平坦度が大きいことを示す平坦度検出信号D4を受けると平均画素値M及び周辺8画素e〜lの合計9画素をそれぞれ1ビツトに圧縮する。
【0024】
従つて周辺画素の状態は、平坦度が小さい場合には44 個のパターンで表され、平坦度が大きい場合には29 個のパターンで表わされる。これによりADRC回路5は、周辺画素の特徴量を残しながら効率の良い圧縮処理を施すことができる。
【0025】
パターン圧縮データD6はクラスコード発生回路6に与えられる。クラスコード発生回路6はパターン圧縮データD6に基づいたクラスコードD6を発生し、これを予測係数メモリ7に与える。予測係数メモリ7はクラスコードD6を読み出しアドレスとして、予めクラス毎に後述する学習によつて求められて記憶されている予測係数D8を出力する。
【0026】
予測演算回路8はブロツク化画像データD3に含まれる各画素値a〜lと予測係数D8とを用いて線形一次結合式に基づく演算を行うことにより、補間対象画素の画素値を算出し、これを補間データD2として出力する。
【0027】
かくして画像信号補間装置1においては、予め学習により求めた予測係数を用いて補間画素を形成するようにしたことにより真値に近い補間画素値を得ることができる。また平坦度に応じてクラス分類に用いる画素を選択すると共にクラス分類の際の圧縮率を変化させるようにしたことによりクラス分類の効率を格段に改善し得る。この結果クラス数が減ることにより、予測係数メモリ7の構成を簡易化し得る。
【0028】
(2)クラス分類処理
次にADRC回路5及びクラスコード発生回路6によるクラス分類処理について説明する。ADRC回路5は画像のもつ局所的特徴としてブロツク内ダイナミツクレンジを定義し、主としてレベル方向の冗長度を適応的に除去する。例えば図3に示すように、1画素当り8ビツトの画素データの持つ0〜 255のダイナミツクレンジの中で、各ブロツク毎に再量子化するために必要なブロツク内ダイナミツクレンジA、Bは大幅に小さくなることが分かる。従つてこの小さなダイナミツクレンジA、B内で再量子化を行えば、必要なビツト数を大幅に低減することができるのである。
【0029】
具体的には、ADRC回路5は先ずブロツク内ダイナミツクレンジをDR、ビツト割当をp、ブロツク内の各画素レベルをx、再量子化コードをQとして、次式
【数1】
Figure 0003781203
により、図4(A)に示すようにブロツク内の最大値MAXと最小値MINとの間を指定されたビツト長で均等に分割して再量子化を行う。因に、図4は3ビツトで再量子化した場合(すなわちp=3の場合)を表わす。
【0030】
次に、図4(A)の最上位の階調レベル(2p −1)に相当するデータレベル内に存在するブロツク内画素の平均値をとり、これを図4(B)に示すように最大値MAX′とする。また図4(A)の最下位の階調レベル0に相当するデータレベル内に存在するブロツク内画素の平均値をとり、これを図4(B)に示すように最小値MIN′とする。
【0031】
次に新しく求めた最大値MAX′及び最小値MIN′によりブロツク内ダイナミツクレンジDR′を新たに定義し直して、再量子化コードをqとして、新しく求めたブロツク内の最大値MAX′及び最小値MIN′に基づいて、次式
【数2】
Figure 0003781203
により図4(B)に示すような再量子化を行う。
このようにADRC回路5は二重の再量子化を行うことにより、ノイズによる悪影響を低減して効率の良い情報量圧縮を行いパターン圧縮データD6を形成する。但し実施例のADRC回路5は3ビツトで再量子化を行うのではなく、上述したように平坦度検出信号D4に応じて1ビツト又は2ビツトで再量子化を行う。
【0032】
クラス分類回路6は、このようにADRC回路5によつてpビツトにデータ圧縮された結果の再量子化データをq1 〜qn として、次式
【数3】
Figure 0003781203
を実行することにより、そのブロツクの属するクラスすなわち補間対象画素のクラスを表わすクラスコードc(D7)を決定する。
【0033】
(3)予測係数メモリの作成
次に予測係数メモリ7に記憶させる予測係数の求め方を、図5に従つて説明する。先ずステツプSP1において予測係数を学習するために、既に知られている画像に対応した学習データを形成する。具体的には、図2におけるサンプリング画素a〜lと、補間対象画素(×印)のサブサンプル以前の画素値を一組の学習データとする。
【0034】
なお、このように学習データを形成する際に、1つの画像のみを用いるのではなく複数の画像を用いることで非常に多数の学習データを形成すれば、より正確な予測係数を得ることができる。
【0035】
ステツプSP2では必要上十分な学習データが形成されたか否か判定する。そして更に学習データが必要であると判定した場合にはステツプSP3に進み、十分な学習データが得られた判定した場合にはステツプSP4に移る。
【0036】
ステツプSP3では学習データをクラス分類する。このとき上述した画像信号補間装置1でしたのと同様のクラス分類を行うようにする。具体的には、先ず学習サンプリングデータの局所的な平坦度を検出し、当該検出結果に応じてクラス分類に用いる画素を選択し、選択した画素をADRC符号化により圧縮した後にクラスコードを形成することにより各学習データをクラス分類する。
【0037】
次にステツプSP5において、クラス分類された学習データに基づき、各クラス毎に正規化方程式を形成する。ステツプSP5での処理を具体的に説明する。ここでは一般化するために学習データとしてn個のサンプリング画素が存在する場合について述べる。先ず各サンプリング画素の画素レベルx1 、……、xn と注目補間画素のサブサンプル以前の画素レベルyの関係を、クラス(c)毎に予測係数w1 、……、wn によるnタツプの線型一次予測式で表現することにより、次式
【数4】
Figure 0003781203
を形成する。
【0038】
この(4)式における予測係数w1 、……、wn を求めれば良い。そこで実際の補間対象画素と補間処理結果の誤差が最小になるような予測係数w1 、……、wn を求める。ここで学習はクラス毎に複数の学習データに対して行うので、学習データ数がmとすると一般的なm>nである場合には予測係数w1 、……、wn は一意に決定できない。そこで誤差ベクトルeの要素を、それぞれの学習データxk1、……、xkn、yk (k=1、2、……、m)における予測誤差をek として、次式
【数5】
Figure 0003781203
のように定義して、次式
【数6】
Figure 0003781203
を最小にする予測係数w1 、……、wn を求める。いわゆる最小二乗法による解法である。
【0039】
ここで(6)式のwi による偏微分係数を求めると、次式
【数7】
Figure 0003781203
となる。(7)式が0になるような各wi を決めればよい。そこで次式
【数8】
Figure 0003781203
及び
【数9】
Figure 0003781203
のように、Xij、Yi を定義すると、上述した(7)式は行列を用いて、次式
【数10】
Figure 0003781203
の正規化方程式に書き換えることができる。
【0040】
ここで(10)式の正規化方程式は未知数がn個の連立方程式であるから、これにより最確値である各未定係数w1 、……、wn を求めることができる。すなわちこの予測係数算出処理手順では、ステツプSP5において各クラス毎に未定係数w1 、……、wn を求めることができるような正規化方程式を形成できるまでステツプSP1−SP2−SP3−SP5−SP1のループを繰り返す。
【0041】
やがてステツプSP5において各クラス毎に(10)式で表わされる正規化方程式が形成され、ステツプSP2において肯定結果が得られると、ステツプSP4に進んで、ここで(10)式の正規化方程式を解いて各クラス毎の予測係数w1 、……、wn を決定する。具体的には、一般に(10)式の左辺の行列は正定値対称なので、コレスキー法により解くことができる。
【0042】
次にステツプSP6において、各クラス毎に決定された予測係数w1 、……、wn を予測係数メモリ7の対応するクラスのアドレスに格納し、続くステツプSP7において当該予測係数算出処理手順を終了する。
【0043】
(4)実施例の動作
以上の構成において、画像信号補間装置1は間引かれた画素を補間対象画素として、当該補間対象画素をその周辺のブロツク化データD3の状態に応じてクラス分類する。このとき画像信号補間装置1はクラス分類の前処理として、補間対象画素近傍の画素a〜dの平坦度を検出し、この平坦度の大きさによつてクラス分類に用いる周辺画素を選択する。この結果画像の特徴量をできるだけ残しながら必要最小限の画素を用いてクラス分類できるようになり、不必要なクラス数の増加を抑制し得、効率の良いクラス分類ができるようになる。
【0044】
次に、画像信号補間装置1は選択された画素を圧縮することによりパターン圧縮データD6を形成し、当該パターン圧縮データD6に基づいてクラスコードD7を形成する。このとき画像信号補間装置1は平坦度の大きさにより圧縮率を変化させる。この結果画像の特徴量を残しながら十分な圧縮処理を施すことができるようになり、ここでも不必要なクラス数の増加を抑制し得る。
【0045】
次に、画像信号補間装置1はクラスコードD7を読み出しアドレスとして、予測係数メモリ7に記憶された予測係数D8を読み出す。そして予測演算回路8によつてこのクラスcに対応した予測係数w1 (c)〜w12(c)とブロツク化データD3に含まれるサンプリング画素a〜lの画素データx1 〜x12とを、次式
【数11】
Figure 0003781203
のように線形一次結合することにより、補間対象画素に対応する補間値y′を算出し、これを補間データD2として出力する。
【0046】
このようにして画像補間装置1においては、原画に含まれる画素データとほとんど変わらない補間データD2を形成することができる。この補間データD2は図示しない合成回路により入力画像データD1と合成された後、例えばテレビジヨン受像装置やビデオテープレコーダ装置等に供給される。
【0047】
(5)実施例の効果
以上の構成によれば、補間対象画素を含む周辺画素の局所的な平坦度を検出し、当該平坦度検出結果に応じて、クラス分類に用いる画素を選択すると共にクラス分類の際の圧縮率を変化させるようにしたことにより、補間対象画素を少ないクラス数で的確にクラス分類できる。これにより真値に近い補間データを形成し得る簡易な構成の画像信号補間装置1を実現できる。
【0048】
(6)他の実施例
なお上述の実施例においては、補間対象画素の近傍4画素a〜dにより平坦度を検出し、平坦度が小さかつた場合にはこの4画素a〜dのみをクラス分類に用い、平坦度が大きかつた場合には4画素a〜dの平均値Mとさらに広い範囲に分布する周辺画素e〜lを用いてクラス分類する場合について述べたが、平坦度検出に用いる画素数及び平坦度検出結果に応じて選択する画素数はこれに限らず、要は補間対象画素の近傍画素を用いて平坦度を検出し、平坦度が大きかつた場合には、平坦度が小さかつた場合に用いた画素よりも多くの画素を用いてクラス分類するようにすれば良い。
【0049】
また上述の実施例においては、平坦度検出結果に応じて、クラス分類に用いる画素数を変えると共にADRC回路5の圧縮率も変化させる場合について述べたが、クラス分類に用いる画素数のみを変えるようにしても良い。また圧縮率を変化させる場合には、上述のように1ビツトと2ビツトで切り換える場合に限らない。
【0050】
また上述の実施例においては、画像選択回路4によつて選択された選択画素データD5をADRC回路5及びクラスコード発生回路6を用いてビツト圧縮することによりクラス分類する場合について述べたが、クラス分類手段はADRC回路5及びクラスコード発生回路6に限らず、例えば離散コサイン変換(DCT)、差分量子化(DPCM)、サブバンド符号化やウエーブレツト変換等の種々の圧縮手段を用いることができる。さらにクラス分類の方法はビツト圧縮によるものに限らず、例えば補間対象画素の周辺画像において相関性の強い方向を検出し、当該検出結果に基づいてクラス分類するようにしても良い。
【0051】
また上述の実施例においては、クラス毎の予測係数を最小二乗法による学習により求めた場合について述べたが、予測係数の求め方はこれに限らず、種々の学習方法を用いることができる。
【0052】
また上述の実施例においては、予測係数メモリ7及び予測演算回路8を設け、予め学習により予測係数メモリ7に記憶された予測係数D8をクラスコードD7に応じて読出し、読出した予測係数D8とブロツク化データD3を線形一次結合することにより補間データを求めるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、予測係数メモリ7及び予測演算回路8に代えて、予め学習により求めたクラス毎の代表値を格納するメモリを設け、クラスに応じた代表値を読み出して、読み出した代表値を補間データとするようにしても良い。
【0053】
この場合、メモリに格納するを求める第1の方法としては、加重平均による学習がある。詳述すれば、補間対象画素に対応する真の画素値をクラス毎に積算し、この積算結果を積算した画素値の個数によつて割るといた処理を様々な画像に対して行うことによりクラス毎の代表値を得るといつた学習である。
【0054】
また代表値を求める第2の方法としては、正規化による学習がある。詳述すれば、補間対象画素を含む複数の画素からなるブロツクを形成し、当該ブロツク内のダイナミツクレンジによつて、補間対象画素に対応する真の画素値からブロツクの基準値を減算した値を正規化し、この正規化された値の累積値を累積度数で割るといつた処理を様々な画像に対して行うことによりクラス毎の代表値を得るといつた学習である。
【0055】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、補間対象画素の近傍画素を用いて、補間対象画素の近傍における平坦度を検出し、この平坦度の大きさが所定の基準以下であった場合には、補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択し、基準を超えていた場合には、補間対象画素から第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択し、選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、補間対象画素をクラス分類する。
そして該クラスに対応する予測係数を発生し、その予測係数と、補間対象画素の周辺における伝送画像データの画素とを用いて、線形結合に基づく演算により補間対象画素を算出する、又は当該クラスに対応する代表値を発生し、この代表値を補間対象画素に対応するデータとするようにした。
【0056】
クラスに対応した予測係数又は代表値を使って補間対象画素を求めるようにしたことにより、真値に近い補間画素値を得ることができる。加えて、補間対象画素近傍の平坦度を検出し、当該検出結果に応じてクラス分類に用いる周辺画素を選択するようにしたことにより、補間対象画素を少ないクラス数で的確にクラス分類できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像信号補間装置の一実施例の構成を示すブロツク図である。
【図2】実施例のクラス分類処理に用いる周辺画素の説明に供する略線図である。
【図3】ADRC回路によるビツト圧縮の説明に供する略線図である。
【図4】ADRC回路によるビツト圧縮の説明に供する略線図である。
【図5】学習による予測係数算出処理手順を示すフローチヤートである。
【図6】オフセツトサブサンプリングの説明に供する略線図である。
【図7】2次元のオフセツトサブサンプリングにより伝送可能な帯域の空間周波数スペクトラムを示す略線図である。
【図8】補間処理の説明に供する略線図である。
【符号の説明】
1……画像信号補間装置、3……平坦度検出回路、4……画素選択回路、5……ADRC回路、6……クラスコード発生回路、7……予測係数メモリ、8……予測演算回路、D1……入力画像データ、D2……補間データ、D3……ブロツク化データ、D4……平坦度検出信号、D5……選択画素データ、D6……パターン圧縮データ、D7……クラスコード、D8……予測係数、a〜l……周辺画素。

Claims (12)

  1. 所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する画像信号補間装置において、
    補間対象画素の近傍画素を用いて、上記補間対象画素の近傍における平坦度を検出する平坦度検出手段と、
    上記平坦度検出手段により検出された平坦度の大きさが所定の基準以下であった場合には、上記補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択すると共に、上記基準を超えていた場合には、上記補間対象画素から上記第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択する画素選択手段と、
    上記画素選択手段により選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類するクラス分類手段と、
    上記クラス分類手段により分類されたクラスに対応する予測係数を発生する予測係数発生手段と、
    上記予測係数と、上記補間対象画素の周辺における上記伝送画像データの画素とを用いて、線形結合に基づく演算により上記補間対象画素を算出する画素算出手段と
    を具えることを特徴とする画像信号補間装置。
  2. 上記画素選択手段は、
    上記第2の範囲内に分布する画素を選択した場合には、当該第2の範囲内に分布する画素のうち上記第1の範囲に対応する画素の平均を平均画素として生成し、
    上記クラス分類手段は、
    上記第2の範囲内に分布する画素のうち上記第1の範囲に対応する画素以外の画素及び上記平均画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類する
    ことを特徴とする請求項1に記載の画像信号補間装置。
  3. 上記クラス分類手段は、
    上記画素選択手段により選択された画素の情報量を減らし、当該減らされた画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類する
    ことを特徴とする請求項1に記載の画像信号補間装置。
  4. 上記クラス分類手段は、
    上記画素選択手段により選択された画素の情報量を適応ダイナミツクレンジ符号化(ADRC)により減らす
    ことを特徴とする請求項3に記載の画像信号補間装置。
  5. 上記予測係数発生手段は、
    予め学習により求められたクラス毎の予測係数を格納するメモリを有し、上記クラス分類手段により分類されたクラスに対応する予測係数を発生する
    ことを特徴とする請求項1に記載の画像信号補間装置。
  6. 所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する画像信号補間装置において、
    補間対象画素の近傍画素を用いて、上記補間対象画素の近傍における平坦度を検出する平坦度検出手段と、
    上記平坦度検出手段により検出された平坦度の大きさが所定の基準以下であつた場合には、上記補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択すると共に、上記基準を超えていた場合には、上記補間対象画素から上記第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択する画素選択手段と、
    上記画素選択手段により選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類するクラス分類手段と、
    上記クラス分類手段により分類されたクラスに対応する代表値を発生する代表値発生手段と
    を具え、
    上記代表値発生手段により発生された代表値を上記補間対象画素に対応するデータとする
    ことを特徴とする画像信号補間装置。
  7. 上記画素選択手段は、
    上記第2の範囲内に分布する画素を選択した場合には、当該第2の範囲内に分布する画素のうち上記第1の範囲に対応する画素の平均を平均画素として生成し、
    上記クラス分類手段は、
    上記第2の範囲内に分布する画素のうち上記第1の範囲に対応する画素以外の画素及び上記平均画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類する
    ことを特徴とする請求項6に記載の画像信号補間装置。
  8. 上記クラス分類手段は、
    上記画素選択手段により選択された画素の情報量を減らし、当該減らされた画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素をクラス分類する
    ことを特徴とする請求項6に記載の画像信号補間装置。
  9. 上記クラス分類手段は、
    上記画素選択手段により選択された画素の情報量を適応ダイナミツクレンジ符号化(ADRC)により減らす
    ことを特徴とする請求項8に記載の画像信号補間装置。
  10. 上記代表値発生手段は、
    予め学習により求められたクラス毎の予測係数を格納するメモリを有し、上記クラス分類手段により分類されたクラスに対応する予測係数を発生する
    ことを特徴とする請求項6に記載の画像信号補間装置。
  11. 所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する画像信号補間方法において、
    補間対象画素の近傍画素を用いて、上記補間対象画素の近傍における平坦度を検出する第1の工程と、
    上記第1の工程で検出された平坦度の大きさが所定の基準以下であつた場合には、上記補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択すると共に、上記基準を超えていた場合には、上記補間対象画素から上記第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択する第2の工程と、
    上記第2の工程で選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素のクラスを分類する第3の工程と、
    上記第3の工程で分類されたクラスに対応する予測係数を発生する第4の工程と、
    上記第4の工程で発生された予測係数と、上記補間対象画素の周辺における上記伝送画像データの画素とを用いて、線形結合に基づく演算により上記補間対象画素を算出する第5の工程と
    を具えることを特徴とする画像信号補間方法。
  12. 所定画素が間引かれた伝送画像データを入力し、当該間引かれた画素を補間する画像信号補間方法において、
    補間対象画素の近傍画素を用いて、上記補間対象画素の近傍における平坦度を検出する第1の工程と、
    上記第1の工程で検出された平坦度の大きさが所定の基準以下であつた場合には、上記補間対象画素から第1の範囲内に分布する画素を選択すると共に、上記基準を超えていた場合には、上記補間対象画素から上記第1の範囲よりも広い第2の範囲内に分布する画素を選択する第2の工程と、
    上記第2の工程で選択された画素のレベル分布のパターンに応じて、上記補間対象画素のクラスを分類する第3の工程と、
    上記第3の工程で分類されたクラスに対応する代表値を発生する第4の工程と
    を具え、
    上記第4の工程で発生された代表値を上記補間対象画素に対応するデータとする
    ことを特徴とする画像信号補間方法。
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