JP3772702B2 - Manufacturing method of surface acoustic wave device - Google Patents
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- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 title claims description 206
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 23
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 150
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 150
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 97
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 65
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 claims description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 14
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 8
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 8
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 40
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 29
- 238000000016 photochemical curing Methods 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 19
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 18
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 14
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 14
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 8
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 6
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 4
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 229910018182 Al—Cu Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は通信機器などに用いられる弾性表面波装置の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、通信機器を小型化するために弾性表面波装置も小型化が要望されている。この要望を満足するために、弾性表面波素子をバンプなどによりパッケージにフリップチップ実装し、封止部材により封止する構造が知られている。
【0003】
この構造はパッケージで封止することにより耐候性を確保することができるが、構造全体が弾性表面波素子の形状に比べかなり大きくなり、小型化には不向きと言われている。
【0004】
一方この問題を解決する手段として特開平11−150440号公報に記載された方法が知られている。すなわち、図6に示すように、櫛形電極63を有する弾性表面波素子62の素子側パッド65aをバンプ64を介して基板61の基板側パッド65bに接続し、弾性表面波素子62の機能面上に空間部を保った状態で弾性表面波素子62の機能面と基板61が形成する空間部の外周を封止樹脂66で覆い、封止樹脂66及び弾性表面波素子62の側面及び裏面に防水樹脂67を塗布することにより封止する方法が用いられていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のように弾性表面波素子62を樹脂封止した構造では、高さ方向にある程度低背化できるが、基板61が弾性表面波素子62より大きく、弾性表面波素子62の周囲を樹脂封止するため構造全体が弾性表面波素子62の形状より必ず大きくなり、さらに小型化することが困難であるという課題を有していた。
【0006】
本発明は上記従来の課題を解決するものであり、弾性表面波素子の形状に近い小型のCSP(Chip Size Package)型の弾性表面波装置の製造方法を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。
【0008】
本発明の請求項1に記載の発明は、圧電基板の表面に櫛形電極及び反射器電極とパッド電極からなる機能面を有する弾性表面波素子と、パッド電極及び導電パターンが形成された配線基板からなる弾性表面波装置の製造方法において、弾性表面波素子に櫛形電極、反射器電極及びパッド電極を腐食する成分を含まない樹脂を塗布する工程と、弾性表面波素子の機能面上に塗布された樹脂に開口を設ける工程と、弾性表面波素子のパッド電極上に塗布された樹脂に第1の貫通穴を設ける工程と、配線基板に櫛形電極、反射器電極及びパッド電極を腐食する成分を含まない樹脂を塗布する工程と、配線基板のパッド電極上に塗布された樹脂に第2の貫通穴を設ける工程と、第1及び第2の貫通穴に弾性表面波素子と配線基板を電気的に接続する部材を配設する工程と、弾性表面波素子のパッド電極と配線基板のパッド電極とを対向させ位置合わせした後本接着する工程とを含むという方法を有しており、これにより弾性表面波装置を小型化したCSPを得ることができるという作用効果が得られる。
【0009】
本発明の請求項2に記載の発明は、弾性表面波素子の機能面上に塗布された樹脂に開口を設ける工程はフォトリソグラフィー法により行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子の機能面に影響を与えることなく容易に振動空間を形成することができるため、損失が小さい弾性表面波装置を簡単に製造することができるという作用効果が得られる。
【0010】
本発明の請求項3に記載の発明は、第1の貫通穴はフォトリソグラフィー法により形成したという方法を有しており、これにより弾性表面波素子に影響を与えることなく容易に貫通穴を形成することができるため、導通を確保すると共に耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0011】
本発明の請求項4に記載の発明は、第2の貫通穴はフォトリソグラフィー法又はレーザー加工法により形成したという方法を有しており、これにより弾性表面波素子に影響を与えることなく容易に貫通穴を形成することができるため、導通を確保すると共に耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0012】
本発明の請求項5に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら加熱することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0013】
本発明の請求項6に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら光照射することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0014】
本発明の請求項7に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら光照射すると共に加熱することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0015】
本発明の請求項8に記載の発明は、ウエハ状の圧電基板の表面に複数の櫛形電極及び複数の反射器電極と複数のパッド電極からなる機能面を有する複数の弾性表面波素子集合体と、複数のパッド電極及び複数の導電パターンが形成された配線基板集合体からなる複数の弾性表面波装置の製造方法において、ウエハ状の圧電基板に櫛形電極、反射器電極及びパッド電極を腐食する成分を含まない樹脂を塗布する工程と、複数の弾性表面波素子集合体の機能面上に塗布された樹脂に複数の開口を設ける工程と、複数の弾性表面波素子集合体の複数のパッド電極上に塗布された樹脂に第1の貫通穴を複数個設ける工程と、配線基板集合体に櫛形電極、反射器電極及びパッド電極を腐食する成分を含まない樹脂を塗布する工程と、配線基板集合体のパッド電極上に塗布された樹脂に第2の貫通穴を複数個設ける工程と、複数の第1及び第2の貫通穴に、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を電気的に接続する部材を複数個配設する工程と、ウエハ状の圧電基板に形成された複数の弾性表面波素子集合体の複数のパッド電極と配線基板集合体の複数のパッド電極とを対向させ位置合わせした後本接着する工程と、本接着したウエハ状の圧電基板と配線基板集合体を切断し個片に分割する工程とを含むという方法を有しており、これにより弾性表面波装置を小型化し、低背化したCSPをウエハ状態で一度に大量に得ることができるという作用効果が得られる。
【0016】
本発明の請求項9に記載の発明は、弾性表面波素子の機能面上に塗布された樹脂に開口を設ける工程はフォトリソグラフィー法により行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子の機能面に影響を与えることなく容易に振動空間を形成することができるため、損失が小さい弾性表面波装置を簡単に製造することができるという作用効果が得られる。
【0017】
本発明の請求項10に記載の発明は、第1の貫通穴はフォトリソグラフィー法により形成したという方法を有しており、これにより弾性表面波素子に影響を与えることなく容易に貫通穴を形成することができるため、導通を確保すると共に耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0018】
本発明の請求項11に記載の発明は、第2の貫通穴はフォトリソグラフィー法又はレーザー加工法により形成したという方法を有しており、これにより弾性表面波素子に影響を与えることなく容易に貫通穴を形成することができるため、導通を確保すると共に耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0019】
本発明の請求項12に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら加熱することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0020】
本発明の請求項13に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら光照射することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0021】
本発明の請求項14に記載の発明は、樹脂を本接着する工程は加圧しながら光照射すると共に加熱することにより行うという方法を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板を強固に接着することができるため、耐久性、耐候性に優れた弾性表面波装置を得ることができるという作用効果が得られる。
【0022】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
以下に本発明の実施の形態1を用いて、本発明について説明する。
【0023】
図1は本発明の実施の形態1における弾性表面波装置の断面図である。
【0024】
図1において、1は圧電基板、2は櫛形電極、3は反射器電極、4は弾性表面波素子に設けた第1のパッド電極、5は弾性表面波素子、6a,6bは熱硬化性及び光硬化性を有し櫛形電極2、反射器電極3、パッド電極4を腐食する成分を含まない樹脂、7は樹脂基板、8は樹脂基板7に設けたスルーホール、9a,9bは樹脂基板7に設けた第2及び第3のパッド電極、10はスルーホール8の表面に設けた金属層、11は樹脂基板7に設けた緻密な層、12は導電性樹脂、13は第1の樹脂、14は第2の樹脂、15は第1の貫通穴、16は第2の貫通穴である。
【0025】
なお、図1は構成を模式的に示したものであり、それぞれの厚みや寸法の相対的な関係を示したものではない。
【0026】
本発明は、熱硬化性及び光硬化性を有し櫛形電極2、反射器電極3、パッド電極4を腐食する成分を含まない樹脂6a,6bにより振動空間を形成すると共に、弾性表面波素子と配線基板を接着、封止することにより小型のCSPタイプの弾性表面波装置が構成できることに着眼したものである。
【0027】
以下に具体的な製造工程について説明する。
【0028】
LiTaO3などからなるウエハ状の圧電基板1上にAlなどからなる金属を例えばスパッタリング法などにより所定膜厚の金属膜を形成し、金属膜上にレジストを塗布し、フォトリソグラフィー法により露光し、現像し、金属膜をエッチングすることにより所望の櫛形電極2、反射器電極3、第1のパッド電極4を形成し弾性表面波素子集合体を得る。
【0029】
一方、ガラスエポキシ樹脂などからなる樹脂基板7の所定の位置に例えばレーザー加工などによりスルーホール8を形成する。
【0030】
次に、樹脂基板7の全面にCuメッキなどにより金属層を形成し、さらにその上にレジストを塗布し、フォトリソグラフィー法により露光、現像、エッチングすることにより、スルーホール8の内表面にCuメッキなどからなる金属層10及びCuメッキなどからなる緻密な層11など所望の電極パターンを有する樹脂基板7を形成する。
【0031】
さらにスルーホール8の中にエポキシ樹脂などの第1の樹脂13を配設してスルーホール8の穴に埋め込み、金属層10及び第1の樹脂13上にCuなどからなる第2及び第3のパッド電極9a,9bを形成する。
【0032】
その後、樹脂基板7の第2のパッド電極9aを設けた面の全面にレジストなどからなる第2の樹脂14をスピンコートなどにより塗布、硬化し、その後第2のパッド電極9a及び緻密な層11が表面に現れるまで研磨などの方法により第2の樹脂14を除去し、配線基板集合体を得る。
【0033】
ここで第2の樹脂14を設けたのは、樹脂基板7のスルーホール8に金属層10や第2のパッド電極9a、緻密な層11を設けると樹脂基板7より一定厚みの段差が形成される。
【0034】
この段差が比較的小さい場合は熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6bにより吸収することができるが、段差がある程度大きくなると吸収しきれなくなり、場合によっては空洞ができたりして封止性能に支障をきたすことが起こる。
【0035】
従って、予め第2の樹脂14を設けることにより、この段差をなくし表面を平坦にすることにより封止性能を高めるとともに、接着強度を高めることができる。なお、必要に応じてCuなどからなる第2及び第3のパッド電極9a,9b上にAuなどからなる耐酸化性を有する金属層を設けてもかまわない。
【0036】
このようにして得られた弾性表面波素子集合体の全面に熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を例えばスピンコートなどにより塗布し、乾燥させた後弾性表面波素子5の櫛形電極2及び反射器電極3などの機能面部分をフォトリソグラフィー法により露光し、現像し、機能面部分にある熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を除去、洗浄し、機能面部分に振動空間を形成すると共に、第1のパッド電極4上の熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6aに第1の貫通穴15を形成する。
【0037】
一方、配線基板集合体の第2のパッド電極9a及び緻密な層11を設けた面に、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を例えばスピンコートなどの方法により塗布し、乾燥させた後、フォトリソグラフィー法により露光、現像し、弾性表面波素子5の機能面部分にある熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を除去、洗浄し、機能面部分に振動空間を形成すると共に、第2のパッド電極9a上の熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6bに第2の貫通穴16を形成する。
【0038】
次に、第1及び第2の貫通穴15,16にAgなどの導電性樹脂12からなる電気的接続部材を例えば印刷塗布し、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を対向させ、弾性表面波素子集合体に設けた第1の貫通穴15と配線基板集合体に設けた第2の貫通穴16の位置を調整して重ね合わせ、約1MPaの圧力で押圧して弾性表面波素子集合体と配線基板集合体の間隔を所定の間隔としながら、160℃で30分熱処理した後200℃で30分加熱硬化し、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を本接着する。
【0039】
このようにしてウエハ状態で弾性表面波装置集合体を形成することができる。その後、所定の寸法に例えばダイシング装置などを用いて切断することにより個片の弾性表面波装置に分割する。
【0040】
これにより、導電性樹脂12により弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を電気的に接続し、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bにより弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を接着する構成で、弾性表面波素子5と配線基板の形状が略同一形状の小型でCSPタイプの弾性表面波装置が得られる。
【0041】
ここで、樹脂としては熱硬化性及び光硬化性の両方の機能を有する樹脂6a,6bを用いたが、樹脂の光硬化性を利用して振動空間及び貫通穴を形成することにより弾性表面波素子5の櫛形電極2、反射器電極3及び第1のパッド電極4に影響を与えることなく加工が可能であるためであり、これにより弾性表面波素子5の特性に影響を与えることなく容易に高精度の小型の弾性表面波装置を形成することができる。
【0042】
また、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bの合計の厚みは少なくとも弾性表面波素子5の振動空間を確保できる厚みが必要であり、少なくとも5μm以上の厚みが必要である。この熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bの合計の厚みにより弾性表面波素子5と樹脂基板7との接続間隔が決まる構成になっている。
【0043】
なお、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bは弾性表面波素子5側と樹脂基板7側の両方に形成したが、片側にのみ形成してもかまわない。その場合、振動空間を精度良く形成するためには、弾性表面波素子5側に熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を配設するのが望ましい。
【0044】
また、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bの成分として櫛形電極2、反射器電極3及び第1のパッド電極4を腐食する成分を含まないものとしたが、これは熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6b中に櫛形電極2、反射器電極3及び第1のパッド電極4の材質を腐食する成分が含まれていると電極が損傷を受け、弾性表面波素子5の初期特性が劣化したり耐候性能が劣化するためである。本発明においては、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6b中に櫛形電極2、反射器電極3及び第1のパッド電極4を腐食する成分としては、CaCO3、Ca化合物、MgCO3、Mg化合物、Na2CO3、Na化合物、K2CO3、K化合物、ハロゲン系化合物などが悪影響を与えることを見出した。
【0045】
これらの物質は水などに溶解するとアルカリ性を示し、弾性表面波素子5に用いられるAl、Al合金、Tiなどの金属を腐食するため、直接樹脂と金属が接触している場合はもとより、同一空間に共存するだけでも初期特性を劣化させたり耐候性能を劣化させたりする。
【0046】
従って、弾性表面波素子5の接合及び封止に用いる熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6b中にはCaCO3、Ca化合物、MgCO3、Mg化合物、Na2CO3、Na化合物、K2CO3、K化合物、ハロゲン系化合物などを含まないことが重要である。なお、CaCO3、Ca化合物、MgCO3、Mg化合物、Na2CO3、Na化合物、K2CO3、K化合物、ハロゲン系化合物以外でも弾性表面波素子5に用いられる金属を腐食する成分を含まないことが必要である。
【0047】
また、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bを本接着するための熱処理条件としては、第1段階として160℃程度の温度で接着、硬化させた後、第2段階としてさらに高温例えば200℃などの温度で熱処理し、樹脂を安定化させることが望ましく、2段階の熱処理が効果的である。
【0048】
第1のパッド電極4上の熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6aに貫通穴を開ける方法としてはフォトリソグラフィー法を用いたが、これは弾性表面波素子5に損傷を与えないためであり、それ以外の方法例えばレーザーなどを用いて貫通穴を開けると、加工時に発生する熱により圧電基板1から電荷が発生し、静電気放電などが発生し不良の原因になるため好ましくない。
【0049】
配線基板の材質としては樹脂基板7を用いたが、樹脂基板7は長期間使用すると樹脂基板7中に存在する気孔などを通して水分やガスが透過し、弾性表面波素子5の特性に悪影響を与えることがある。そのため、これを避けるために樹脂基板7の振動空間に対向する表面に例えば金属などからなる緻密な層11を設けることにより樹脂基板7に存在する気孔などを通して水分やガスが透過するのを遮断できるため、周囲の影響を受けにくくなり、長期間にわたって耐候性を向上させることができる。
【0050】
また、緻密な層11により樹脂基板7からの水分やガスの透過を効率よく抑制するためには、緻密な層11と熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6bが接触しているか又は緻密な層11上の一部を熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6bが覆う構成になっていることが望ましい。
【0051】
なお、配線基板の材質としては樹脂基板以外にセラミック基板、ガラス基板などを用いてもかまわない。また、セラミック基板やガラス基板などを用いた場合は基板自体が緻密であるため、緻密な層を設けなくてもかまわない。
【0052】
また、樹脂基板7のスルーホール8上にスルーホール8の穴を塞ぐように第2及び第3のパッド電極9a,9bを設けたのは、スルーホール8の穴を塞ぐことによりこの穴を通して水分やガスが透過することを抑制できるためであり、さらにスルーホール8上に第2及び第3のパッド電極9a,9bを設けることによりスルーホール8上に平坦な金属層が形成でき、電気的接続部材との接合性及び封止性を良くすることができるため、これにより周囲の影響を受けにくくし、長期間にわたって耐候性を向上させることができると共に、弾性表面波素子5と樹脂基板7の接続信頼性を向上させることができる。
【0053】
なお、スルーホール8及び緻密な層11に設ける金属層は電気的に導通が取れ緻密な層が形成できるものであればCu以外の金属であってもかまわない。
【0054】
また、スルーホール8及び緻密な層11に設ける金属層は同一の金属でも異種の金属でもかまわないが、同一の金属であれば同時に形成することができ工程を簡略化することができる。
【0055】
なお、電気的接続部材としては導電性樹脂12を用いたが、これ以外に例えば弾性表面波素子5の第1のパッド電極4上にAuなどからなるバンプを設け、樹脂基板7の第2のパッド電極9aに導電性樹脂を塗布などにより配設し、バンプと導電性樹脂を接合させることにより電気的に接続してもよい。その場合バンプは樹脂基板7の第2のパッド電極9aに直接接触していても、していなくてもかまわない。
【0056】
以上に示したように、本実施の形態1においては、樹脂としては熱硬化性及び光硬化性の両方の機能を有する樹脂6a,6bを用いて弾性表面波素子5と樹脂基板7を接着、封止すると共に導電性樹脂12により電気的に接続し、ウエハ状態の弾性表面波装置集合体を切断することにより、弾性表面波素子5と配線基板の形状が略同一形状の小型のCSP型弾性表面波装置を容易に得ることができるという作用効果が得られる。
【0057】
(実施の形態2)
以下に本発明の実施の形態2を用いて、本発明について説明する。
【0058】
図2は本実施の形態2における弾性表面波装置の断面図である。
【0059】
図2において、実施の形態1の図1で説明したものと同一のものについては同一番号を付し、詳細な説明は省略する。
【0060】
なお、図2は構成を模式的に示したものであり、それぞれの厚みや寸法の相対的な関係を示したものではない。
【0061】
本実施の形態2と実施の形態1との相違する点は、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を接続する電気的接続部材の構成及び種類、配線基板の材質、及び熱硬化性及び光硬化性の両方の機能を有する樹脂の構成、本接着する工法であり、その他については実施の形態1と同様の操作を行った。
【0062】
すなわち実施の形態1においては、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体をAgなどの導電性樹脂12などからなる電気的接続部材で接続する構成になっているが、実施の形態2においては弾性表面波素子集合体に設けた第1のパッド電極4上にAuなどの金属からなるバンプ21を設け、バンプ21と導電性樹脂22からなる電気的接続部材により弾性表面波素子集合体と配線基板集合体とを電気的に接続し、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25により弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を接着する構成にしたものである。
【0063】
具体的には、配線基板にはガラス基板23を用い、ガラス基板23には予めサンドブラストなどによりスルーホール24を設けておく。
【0064】
弾性表面波素子5上にのみ熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25を塗布し、フォトリソグラフィー法などにより露光、現像することにより振動空間及び第3の貫通穴26を形成する。
【0065】
次に、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を対向させ、弾性表面波素子集合体のバンプ21と配線基板集合体のスルーホール24の位置を調整して重ね合わせ、ガラス基板23に設けたスルーホール24を通してAgなどからなる導電性樹脂22を印刷塗布し、バンプ21と接触、硬化させる。
【0066】
その後、押圧して弾性表面波素子集合体と配線基板集合体の間隔を所定の間隔としながら、紫外線などの光を照射することにより熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25を硬化し、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を本接着したものである。
【0067】
弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を接続する電気的接続部材の構成及び種類、配線基板の材質及び熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂を本接着する工法を変えたこと以外は実施の形態1と同様にして弾性表面波装置を作製した。
【0068】
電気的接続部材としてバンプ21と導電性樹脂22を用いたのは、バンプ21を弾性表面波素子5の第1のパッド電極4に設けることにより第1のパッド電極4とバンプ21の電気的接続を確実にすると共に、第1のパッド電極4よりもバンプ21の方が接続面積を大きくすることができるため、接触抵抗を小さくし、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体の電気的接続の信頼性を高めることができるためである。また、配線基板としてガラス基板23を用いたのは、ガラス基板23は緻密であり周囲からの水分やガスの侵入をほとんどなくすことができるためであり、ガラス基板23を用いた場合は弾性表面波素子5の機能面に対向する部分に緻密な層を設けなくてもかまわない。
【0069】
さらに、ガラス基板23に設けたスルーホール24を通して導電性樹脂22を塗布することにより、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体の電気的接続を確保すると共に、ガラス基板23に設けたスルーホール24の封止を同時に行うことができ、耐候性能をも高めることができる。
【0070】
なお、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を対向させ、弾性表面波素子集合体のバンプ21と配線基板集合体のスルーホール24の位置を調整して重ね合わせるためには、ガラス基板23のように透光性のある材質であればガラス基板23を通してバンプ21の位置が確認し易いため、より簡単に位置合わせをすることができるという利点がある。
【0071】
熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25を硬化する方法として弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を押圧しながら光照射することにより本接着したのは、弾性表面波素子集合体は焦電性を有するため熱を加えると電荷が発生し、静電気放電などを引き起こし弾性表面波素子5の特性が不良になる場合があるが、光照射により樹脂を硬化させた場合は電荷の発生がほとんどなく、静電気放電による不良の発生をなくすことができるためであり、短時間で効率よく硬化、封止を行うことができる。
【0072】
また、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25を弾性表面波素子5側にのみ設けたのは樹脂塗布、振動空間の形成、貫通穴の形成が少なくてすみ、工程が簡略化できるためである。
【0073】
また、ガラス基板23などの透光性を有する配線基板を用いた場合には、ガラス基板23を通して光照射することにより弾性表面波装置の内部にまで光を有効に照射することができるため、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂25の硬化を促進することができるという利点がある。このような効果はガラス基板以外に透光性を有する基板例えば透光性アルミナ基板などでも同様の効果を得ることができる。
【0074】
以上本実施の形態2においては、バンプ21と導電性樹脂22を用いて電気的接続を確保すると共に、配線基板としてガラス基板23を用い、押圧しながら光照射することにより、電気的接続を確保するとともに封止を同時に行うことができるため、実施の形態1と比較すると工程を簡略化できると共に電気的接続信頼性及び耐候性能をさらに高めることができるという作用効果が得られる。
【0075】
(実施の形態3)
以下に本発明の実施の形態3を用いて、本発明について説明する。
【0076】
図3は本実施の形態3における弾性表面波装置の断面図である。
【0077】
図3において、実施の形態1の図1で説明したものと同一のものについては同一番号を付し、詳細な説明は省略する。
【0078】
なお、図3は構成を模式的に示したものであり、それぞれの厚みや寸法の相対的な関係を示したものではない。
【0079】
本実施の形態3と実施の形態1及び実施の形態2との相違する点は、弾性表面波素子の電極表面の一部又は全面に保護膜を設けたこと、弾性表面波素子と配線基板を接続する電気的接続部材の構成及び種類、配線基板の材質、及び樹脂を本接着する工法であり、その他については実施の形態1と同様の操作を行った。
【0080】
すなわち実施の形態1においては、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体をAgなどの導電性樹脂12などからなる電気的接続部材で接続する構成になっているが、実施の形態3においては、弾性表面波素子5の櫛形電極2、反射器電極3、第1のパッド電極4上の一部又は全面に保護膜31を形成し、弾性表面波素子集合体に設けた第1のパッド電極4に対向する低温共焼成基板33(以下LTCC基板という:Low Temperature Cofired Ceramic)の所定の位置にAgなどからなる第4及び第5のパッド電極36a,36b、スルーホール34、Agなどからなる導電性樹脂35を設け、熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bで弾性表面波素子5とLTCC基板33を接着、封止し、弾性表面波素子5とLTCC基板33を導電性樹脂32により電気的に接続する構成にしたものである。
【0081】
具体的には、圧電基板1上にAl−Cuなどの金属により櫛形電極2、反射器電極3、第1のパッド電極4を形成した後、陽極酸化法などにより櫛形電極2、反射器電極3、第1のパッド電極4の電極表面の一部又は全体にAl−Cuなどの金属酸化物からなる保護膜31を形成する。
【0082】
なお、保護膜31を形成しない部分は予めレジストなどを塗布した後保護膜31を形成し、その後レジストを剥離する。
【0083】
一方、LTCC基板グリーンシートの所定位置に打ち抜きなどの方法でスルーホール34を形成し、そのスルーホール34にAgなどからなる導電性樹脂35を塗布、埋め込み、スルーホール34の上下両面にAgなどからなる第4及び第5のパッド電極36a,36bを形成し同時焼成することによりLTCC基板33を得る。
【0084】
次に、弾性表面波素子集合体とLTCC基板集合体を対向させ、弾性表面波素子集合体の第1のパッド電極4とLTCC基板集合体の第4のパッド電極36aの位置を調整して重ね合わせ、押圧して弾性表面波素子集合体とLTCC基板集合体の間隔を所定の間隔としながら、紫外線などの光を照射すると共に160℃に加熱することにより熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bを硬化し、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体を本接着した。
【0085】
弾性表面波素子5の電極表面の一部又は全面に保護膜31を形成したこと、配線基板の材質、及び樹脂を本接着する工法を変えたこと以外は実施の形態1と同様にして弾性表面波装置を作製した。
【0086】
弾性表面波素子5の櫛形電極2、反射器電極3、第1のパッド電極4の電極表面の一部又は全面に保護膜31を形成したのは、電極上に抵抗の高い保護膜31を形成することにより弾性表面波素子5の表面に導電性の異物が付着しても弾性表面波素子5がショートしたり特性が劣化したりするのを防ぐためである。
【0087】
保護膜31の形成方法としては、陽極酸化法により金属の酸化物を形成する方法及びSiO2や窒化ケイ素などの膜を電極上に形成する方法などがあり、どちらを用いてもかまわないが、陽極酸化法では電極面上だけに保護膜が形成されるのに対し、SiO2や窒化ケイ素などの膜を形成する方法では電極面及び圧電基板上にも保護膜が形成されるため、弾性表面波素子の損失などの特性が劣化するため、どちらかといえば陽極酸化法を用いるのが望ましい。
【0088】
配線基板としてLTCC基板33を用いたのは、多様な配線を容易に形成することができ、外部付加回路をLTCC基板33内部に内蔵し複合モジュールを作製することが可能であり、また多様な端子構造を実現することができるためである。
【0089】
熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bを接着、硬化させる方法としては押圧しながら光を照射すると共に加熱する方法を用いたが、樹脂の性質を考慮するとこの方法が最も確実に接着、硬化させられるためである。
【0090】
以上本実施の形態3においては、弾性表面波素子5の櫛形電極2、反射器電極3、パッド電極4上の一部又は全面に保護膜31を形成し、LTCC基板33と弾性表面波素子5を押圧しながら紫外線などの光を照射すると共に加熱することにより熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂6a,6bを硬化し、LTCC基板33と弾性表面波素子5を接着、封止し、導電性樹脂によりLTCC基板33と弾性表面波素子5を電気的に接続する構成であり、実施の形態1と比較すると弾性表面波素子5のショート及び特性劣化を低減することができるという作用効果が得られる。
【0091】
(実施の形態4)
以下に本発明の実施の形態4を用いて、本発明について説明する。
【0092】
図4は本実施の形態4における弾性表面波装置の断面図である。
【0093】
図4において、実施の形態1の図1で説明したものと同一のものについては同一番号を付し、詳細な説明は省略する。
【0094】
なお、図4は構成を模式的に示したものであり、それぞれの厚みや寸法の相対的な関係を示したものではない。
【0095】
本実施の形態4と実施の形態1、実施の形態2、実施の形態3との相違する点は、弾性表面波装置の端面に外部電極を設けたことであり、その他については実施の形態1と同様の操作を行った。
【0096】
すなわち実施の形態1においては、弾性表面波素子集合体と配線基板集合体をAgなどの導電性樹脂12などからなる電気的接続部材で接続する構成になっているが、実施の形態4においては、弾性表面波素子5に設けた第6のパッド電極41の一部又は全面を弾性表面波素子5の終端部まで引き延ばし、端面に形成した金属膜などからなる外部電極42と接続した構成にしたものである。
【0097】
このような構成にすることにより外部電極面積を大きくすることができるため、弾性表面波装置を回路基板に実装した場合の固着力を大きくすることができ、例えば落下試験などでの弾性表面波装置の剥離強度を大きくすることができるという利点がある。
【0098】
なお、図4において設けた外部電極42は弾性表面波素子5の外部表面には形成しなかったが、これは弾性表面波素子5に電極を形成すると歪みが発生したり、電極形成時に熱処理を行うと電荷が発生し静電気放電などにより櫛形電極2などが損傷を受け不良の原因になりやすいためであるが、必要があれば設けてもかまわない。
【0099】
また、外部電極42は例えば下層電極としてNi−Crなど金属膜をスパッタリングなどの方法で形成し、その上にNi又はSnなどの金属膜をメッキなどの方法により形成したが、できるだけ熱処理を行わない方法であればその他の方法を用いてもかまわない。
【0100】
以上本実施の形態4においては、弾性表面波素子5に設けた第6のパッド電極41の一部又は全面を弾性表面波素子5の終端部まで引き延ばし、端面に形成した金属膜などからなる外部電極42と接続した構成であり、実施の形態1と比較すると多様な外部端子構成が可能で落下試験などでの剥離強度を大きくすることができるという作用効果が得られる。
【0101】
(実施の形態5)
以下に本発明の実施の形態5を用いて、本発明について説明する。
【0102】
図5は本実施の形態5における弾性表面波装置を用いた複合モジュールの構成図である。
【0103】
図5において、51は第1のCSP型弾性表面波装置、52は送受信を切り換えるための第1の切り換え回路、53は第1のローパスフィルムなどからなる高調波除去回路、54は第2のCSP型弾性表面波装置、55は送受信を切り換えるための第2の切り換え回路、56は第2のローパスフィルタなどからなる高調波除去回路、57は分波回路、58はアンテナ、59は複合モジュールである。
【0104】
本実施の形態5は、第1のCSP型弾性表面波装置51及び第2のCSP型弾性表面波装置54に本実施の形態1で作製したCSP型弾性表面波装置を用い、2つの周波数に対応できるDual型複合モジュールであり、アンテナを除く部分を1パッケージに複合化したモジュールから成り立っている。
【0105】
第1のCSP型弾性表面波装置51及び第2のCSP型弾性表面波装置54は互いに周波数通過帯域の異なるCSP型弾性表面波装置である。
【0106】
その動作は、受信の場合、アンテナ58より入力された信号を分波回路57で目的とする2つの周波数のどちらかに分け、さらに第1の切り換え回路52又は第2の切り換え回路55により受信回路に切り換え、第1のCSP型弾性表面波装置51又は第2のCSP型弾性表面波装置54を用いて目的とする周波数のみを取り出す。
【0107】
一方送信の場合は、目的とする信号を第1のローパスフィルタ53又は第2のローパスフィルタ56からなる高調波除去回路により不要な高周波成分を除去し、第1の切り換え回路52又は第2の切り換え回路55を送信側に切り換え、分波回路57を通ってアンテナ58から送信される仕組みになっている。
【0108】
ここで、第1の切り換え回路52、第1のローパスフィルタ53などからなる高調波除去回路、第2の切り換え回路55、第2のローパスフィルタ56などからなる高調波除去回路、分波回路57はLTCC基板に内蔵または部品を実装して形成し、単品部品の第1のCSP型弾性表面波装置51及び第2のCSP型弾性表面波装置54をLTCC基板に実装し、これらをまとめて1パッケージに封止することにより小型の複合モジュール59とすることができる。
【0109】
また、第1及び第2の切り換え回路52,55は目的によりダイオードなどからなるスイッチ回路又は位相回路などを用いることができる。
【0110】
このように複数の回路をまとめて1パッケージにすることにより、回路を小型化することができるとともに、単品部品を接続した場合に比べ接続による損失を低減できるため、低損失で高減衰の特性を実現することができる。
【0111】
また、第1のCSP型弾性表面波装置51及び第2のCSP型弾性表面波装置54はそれぞれ小型のCSP構造であり、それぞれ既にパッケージ化され性能が確保されているため複合モジュールにおいても小型で安定した性能が得られる。
【0112】
なお、複合モジュールで一体化する回路としては、切り換え回路と弾性表面波装置のみを一体化した場合、切り換え回路と弾性表面波装置と高調波除去回路を一体化した場合、切り換え回路と弾性表面波装置と高調波除去回路と分波回路を一体化した場合などが可能であり、必要に応じて一体化する範囲を変えてもよいし、さらに他の回路との整合回路例えばインピーダンス整合用のストリップ線路などを付加して一体化してもかまわない。
【0113】
以上本実施の形態5においては、性能が確保されたCSP型弾性表面波装置と複数の回路をまとめて1パッケージにすることにより、全体の回路を小型化することができるとともに、単品部品を接続した場合に比べ接続による損失を低減できるため、単品部品を組み合わせた場合に比べ小型で低損失で高減衰の複合モジュールを実現することができるという作用効果が得られる。
【0114】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、熱硬化性及び光硬化性の両方の機能を有する樹脂を用いて弾性表面波素子と配線基板を接着し、同時に切断するという構成を有しており、これにより弾性表面波素子と配線基板の形状が略同一形状の小型のCSP型弾性表面波装置を容易に得ることができるという作用効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1における弾性表面波装置の断面図
【図2】 本発明の実施の形態2における弾性表面波装置の断面図
【図3】 本発明の実施の形態3における弾性表面波装置の断面図
【図4】 本発明の実施の形態4における弾性表面波装置の断面図
【図5】 本発明の実施の形態5における複合モジュールの構成図
【図6】 従来の弾性表面波装置の断面図
【符号の説明】
1 圧電基板
2 櫛形電極
3 反射器電極
4 第1のパッド電極
5 弾性表面波素子
6a 熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂
6b 熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂
7 樹脂基板
8 スルーホール
9a 第2のパッド電極
9b 第3のパッド電極
10 金属層
11 緻密な層
12 導電性樹脂
13 第1の樹脂
14 第2の樹脂
15 第1の貫通穴
16 第2の貫通穴
21 バンプ
22 導電性樹脂
23 ガラス基板
24 スルーホール
25 熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂
26 第3の貫通穴
31 保護膜
32 導電性樹脂
33 LTCC基板
34 スルーホール
35 導電性樹脂
36a 第4のパッド電極
36b 第5のパッド電極
41 第6のパッド電極
42 外部電極
43 熱硬化性及び光硬化性を有する樹脂
51 第1の弾性表面波装置
52 第1の切り換え回路
53 第1の高調波除去フィルタ
54 第2の弾性表面波装置
55 第2の切り換え回路
56 第2の高調波除去フィルタ
57 分波回路
58 アンテナ
59 複合モジュール[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention is used for communication equipment and the like. Manufacturing method of surface acoustic wave device It is about.
[0002]
[Prior art]
In recent years, surface acoustic wave devices are also required to be downsized in order to reduce the size of communication equipment. In order to satisfy this demand, a structure is known in which a surface acoustic wave element is flip-chip mounted on a package with bumps or the like and sealed with a sealing member.
[0003]
Although this structure can ensure weather resistance by sealing with a package, the entire structure is considerably larger than the shape of the surface acoustic wave element, and is said to be unsuitable for miniaturization.
[0004]
On the other hand, as a means for solving this problem, a method described in JP-A-11-150440 is known. That is, as shown in FIG. 6, the element-
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional structure in which the surface
[0006]
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and is a small CSP (Chip Size Package) type close to the shape of a surface acoustic wave element. Manufacturing method of surface acoustic wave device Is intended to provide.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention has the following configuration.
[0008]
According to a first aspect of the present invention, there is provided a surface acoustic wave device having a functional surface including a comb electrode, a reflector electrode, and a pad electrode on a surface of a piezoelectric substrate, and a wiring substrate having a pad electrode and a conductive pattern formed thereon. In the surface acoustic wave device manufacturing method, the surface acoustic wave element is coated on the functional surface of the surface acoustic wave element with a step of applying a resin that does not contain components that corrode the comb electrode, the reflector electrode, and the pad electrode. Including a step of providing an opening in the resin, a step of providing a first through hole in the resin applied on the pad electrode of the surface acoustic wave element, and a component that corrodes the comb electrode, the reflector electrode, and the pad electrode on the wiring board. A step of applying a non-resin, a step of providing a second through hole in the resin applied on the pad electrode of the wiring board, and electrically connecting the surface acoustic wave element and the wiring board to the first and second through holes. Connected part And a step of bonding the pad electrode of the surface acoustic wave element and the pad electrode of the wiring board so as to face each other and aligning them, thereby providing a surface acoustic wave device. The effect that a downsized CSP can be obtained is obtained.
[0009]
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method in which the step of providing an opening in the resin coated on the functional surface of the surface acoustic wave device is performed by a photolithography method, whereby the surface acoustic wave device is provided. Since the vibration space can be easily formed without affecting the functional surface, a surface acoustic wave device with a small loss can be easily manufactured.
[0010]
The invention according to
[0011]
The invention according to
[0012]
The invention according to
[0013]
The invention according to claim 6 of the present invention has a method in which the step of permanently bonding the resin is performed by irradiating light while applying pressure, whereby the surface acoustic wave element and the wiring board are firmly bonded. Therefore, the effect that a surface acoustic wave device excellent in durability and weather resistance can be obtained can be obtained.
[0014]
The invention according to claim 7 of the present invention has a method in which the step of permanently adhering the resin is performed by irradiating light while heating and heating, thereby strengthening the surface acoustic wave element and the wiring board. Therefore, it is possible to obtain a surface acoustic wave device excellent in durability and weather resistance.
[0015]
Claims of the
[0016]
Claims of the invention 9 In the invention described in (1), the step of providing an opening in the resin coated on the functional surface of the surface acoustic wave element is performed by a photolithography method, thereby affecting the functional surface of the surface acoustic wave element. Since the vibration space can be easily formed without giving, an effect that a surface acoustic wave device with a small loss can be easily manufactured can be obtained.
[0017]
Claims of the
[0018]
Claims of the invention 11 The invention described in 1 has a method in which the second through hole is formed by a photolithography method or a laser processing method, whereby the through hole can be easily formed without affecting the surface acoustic wave element. Therefore, the effect of obtaining a surface acoustic wave device that secures conduction and is excellent in weather resistance can be obtained.
[0019]
Claims of the invention 12 The invention described in the above has a method in which the step of performing the main bonding of the resin is performed by heating while applying pressure, whereby the surface acoustic wave element and the wiring board can be firmly bonded. The effect of obtaining a surface acoustic wave device having excellent weather resistance can be obtained.
[0020]
Claims of the
[0021]
Claims of the
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(Embodiment 1)
The present invention will be described below using Embodiment 1 of the present invention.
[0023]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a surface acoustic wave device according to Embodiment 1 of the present invention.
[0024]
In FIG. 1, 1 is a piezoelectric substrate, 2 is a comb electrode, 3 is a reflector electrode, 4 is a first pad electrode provided on the surface acoustic wave element, 5 is a surface acoustic wave element, and 6a and 6b are thermosetting and Resin that does not contain components that corrode the
[0025]
FIG. 1 schematically shows the configuration, and does not show the relative relationship between the thicknesses and dimensions.
[0026]
The present invention forms a vibration space with the
[0027]
A specific manufacturing process will be described below.
[0028]
LiTaO Three A metal film made of Al or the like is formed on a wafer-like piezoelectric substrate 1 made of, for example, a sputtering method or the like, a resist is coated on the metal film, exposed by a photolithography method, and developed. The desired comb-shaped
[0029]
On the other hand, a through
[0030]
Next, a metal layer is formed on the entire surface of the resin substrate 7 by Cu plating or the like, and a resist is applied on the metal layer. Then, exposure, development, and etching are performed by a photolithography method so that the inner surface of the through
[0031]
Further, a
[0032]
Thereafter, a
[0033]
Here, the
[0034]
If this level difference is relatively small, it can be absorbed by the thermosetting and photo-curing
[0035]
Therefore, by providing the
[0036]
The surface acoustic wave element assembly thus obtained is coated on the entire surface with a thermosetting and photocurable resin by spin coating, for example, and dried, and then the comb-shaped
[0037]
On the other hand, after applying and drying a resin having a thermosetting property and a photocurable property on the surface of the wiring board assembly provided with the second pad electrode 9a and the dense layer 11 by a method such as spin coating, Exposure and development are performed by photolithography, and the resin having thermosetting and photocuring properties in the functional surface portion of the surface
[0038]
Next, an electrical connection member made of a conductive resin 12 such as Ag is applied to the first and second through
[0039]
Thus, the surface acoustic wave device assembly can be formed in a wafer state. Then, it cut | disconnects into the surface acoustic wave apparatus of a piece by cut | disconnecting to a predetermined dimension using a dicing apparatus etc., for example.
[0040]
Thus, the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are electrically connected by the conductive resin 12, and the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are formed by the thermosetting and
[0041]
Here, as the resin,
[0042]
Further, the total thickness of the thermosetting and
[0043]
The thermosetting and
[0044]
Moreover, although the component which corrodes the comb-shaped
[0045]
These substances exhibit alkalinity when dissolved in water or the like, and corrode metals such as Al, Al alloy, Ti used for the surface
[0046]
Accordingly, the thermosetting and
[0047]
The heat treatment conditions for the main bonding of the thermosetting and
[0048]
The photolithography method is used as a method of making a through hole in the thermosetting and
[0049]
The resin substrate 7 is used as the material of the wiring substrate. However, when the resin substrate 7 is used for a long period of time, moisture and gas are transmitted through pores and the like existing in the resin substrate 7, thereby adversely affecting the characteristics of the surface
[0050]
Further, in order to efficiently suppress the permeation of moisture and gas from the resin substrate 7 by the dense layer 11, the dense layer 11 and the
[0051]
In addition to the resin substrate, a ceramic substrate, a glass substrate, or the like may be used as the material for the wiring substrate. Further, when a ceramic substrate, a glass substrate, or the like is used, the substrate itself is dense, and thus it is not necessary to provide a dense layer.
[0052]
Also, the second and third pad electrodes 9a and 9b are provided on the through
[0053]
The metal layer provided in the through
[0054]
Further, the metal layer provided in the through
[0055]
In addition, although the conductive resin 12 was used as the electrical connection member, a bump made of Au or the like is provided on the
[0056]
As described above, in the first embodiment, the surface
[0057]
(Embodiment 2)
The present invention will be described below using
[0058]
FIG. 2 is a sectional view of the surface acoustic wave device according to the second embodiment.
[0059]
2, the same components as those described in FIG. 1 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0060]
FIG. 2 schematically shows the configuration, and does not show the relative relationship between the thicknesses and dimensions.
[0061]
The differences between the second embodiment and the first embodiment are the configuration and type of the electrical connection member that connects the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly, the material of the wiring board, and the thermosetting property. The structure of the resin having both photo-curing functions and the method of the main bonding are the same, and the other operations are the same as in the first embodiment.
[0062]
That is, in the first embodiment, the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are connected by an electrical connection member made of a conductive resin 12 such as Ag, but in the second embodiment, A
[0063]
Specifically, a
[0064]
A
[0065]
Next, the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are made to face each other, the positions of the
[0066]
Thereafter, the
[0067]
Implemented except changing the construction and type of the electrical connection member that connects the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly, the material of the wiring board, and the method of permanently bonding the resin having thermosetting and photocuring properties. A surface acoustic wave device was fabricated in the same manner as in Embodiment 1.
[0068]
The
[0069]
Further, by applying the conductive resin 22 through the through
[0070]
In order to make the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly face each other, and adjust the positions of the
[0071]
As a method for curing the
[0072]
Further, the reason why the
[0073]
In addition, when a wiring substrate having translucency such as the
[0074]
As described above, in the second embodiment, the electrical connection is ensured by using the
[0075]
(Embodiment 3)
Hereinafter, the present invention will be described using
[0076]
FIG. 3 is a sectional view of the surface acoustic wave device according to the third embodiment.
[0077]
3, the same components as those described in FIG. 1 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0078]
FIG. 3 schematically shows the configuration, and does not show the relative relationship between the thicknesses and dimensions.
[0079]
The difference between the third embodiment and the first and second embodiments is that a protective film is provided on a part or the entire surface of the electrode of the surface acoustic wave element, and the surface acoustic wave element and the wiring board are provided. The construction and type of the electrical connection member to be connected, the material of the wiring board, and the method of permanently bonding the resin, and the other operations were the same as in the first embodiment.
[0080]
That is, in the first embodiment, the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are connected by an electrical connection member made of a conductive resin 12 such as Ag, but in the third embodiment, The first pad electrode provided on the surface acoustic wave element assembly by forming a
[0081]
Specifically, the
[0082]
Note that a portion where the
[0083]
On the other hand, a through
[0084]
Next, the surface acoustic wave element assembly and the LTCC substrate assembly are made to face each other, and the positions of the
[0085]
The elastic surface is the same as in the first embodiment except that the
[0086]
The
[0087]
As a method of forming the
[0088]
The use of the
[0089]
As a method for bonding and curing the thermosetting and
[0090]
As described above, in the third embodiment, the
[0091]
(Embodiment 4)
Hereinafter, the present invention will be described using
[0092]
FIG. 4 is a cross-sectional view of the surface acoustic wave device according to the fourth embodiment.
[0093]
4, the same components as those described in FIG. 1 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0094]
Note that FIG. 4 schematically shows the configuration, and does not show the relative relationship between the thicknesses and dimensions.
[0095]
The difference between the fourth embodiment, the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment is that an external electrode is provided on the end face of the surface acoustic wave device, and the others are the first embodiment. The same operation was performed.
[0096]
That is, in the first embodiment, the surface acoustic wave element assembly and the wiring board assembly are connected by an electrical connection member made of a conductive resin 12 such as Ag, but in the fourth embodiment, The part or the entire surface of the
[0097]
Since the external electrode area can be increased by adopting such a configuration, the adhesion force when the surface acoustic wave device is mounted on the circuit board can be increased. For example, the surface acoustic wave device in a drop test or the like There is an advantage that the peel strength of the film can be increased.
[0098]
Note that the
[0099]
The
[0100]
As described above, in the fourth embodiment, a part or the entire surface of the
[0101]
(Embodiment 5)
Hereinafter, the present invention will be described using
[0102]
FIG. 5 is a configuration diagram of a composite module using the surface acoustic wave device according to the fifth embodiment.
[0103]
In FIG. 5, 51 is a first CSP type surface acoustic wave device, 52 is a first switching circuit for switching between transmission and reception, 53 is a harmonic elimination circuit made of a first low-pass film, and 54 is a second CSP. Type surface acoustic wave device, 55 is a second switching circuit for switching between transmission and reception, 56 is a harmonic elimination circuit comprising a second low-pass filter, 57 is a demultiplexing circuit, 58 is an antenna, and 59 is a composite module .
[0104]
In the fifth embodiment, the CSP type surface acoustic wave device manufactured in the first embodiment is used for the first CSP type surface
[0105]
The first CSP type surface
[0106]
In the case of reception, the signal input from the
[0107]
On the other hand, in the case of transmission, an unnecessary high-frequency component is removed from the target signal by a harmonic removal circuit composed of the first low-
[0108]
Here, the harmonic switching circuit including the
[0109]
The first and
[0110]
By combining a plurality of circuits into one package in this way, the circuit can be reduced in size and the loss due to connection can be reduced compared to the case where a single component is connected. Can be realized.
[0111]
The first CSP type surface
[0112]
As a circuit integrated with the composite module, when only the switching circuit and the surface acoustic wave device are integrated, when the switching circuit, the surface acoustic wave device, and the harmonic elimination circuit are integrated, the switching circuit and the surface acoustic wave device are integrated. It is possible to integrate the device, the harmonic elimination circuit, and the demultiplexing circuit, etc., and the range of integration may be changed as necessary, and a matching circuit with another circuit, for example, an impedance matching strip It may be integrated by adding tracks.
[0113]
As described above, in the fifth embodiment, the entire circuit can be reduced in size by connecting a plurality of circuits together with a CSP type surface acoustic wave device that ensures performance, and a single component can be connected. Since the loss due to the connection can be reduced as compared with the case where it is made, it is possible to realize a composite module that is small, has a low loss, and is highly attenuated as compared with a case where a single component is combined.
[0114]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the surface acoustic wave element and the wiring board are bonded using a resin having both thermosetting and photocurable functions, and simultaneously cut. As a result, there can be obtained an effect that a small CSP type surface acoustic wave device in which the surface acoustic wave element and the wiring board have substantially the same shape can be easily obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a surface acoustic wave device according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of a surface acoustic wave device according to
FIG. 3 is a sectional view of a surface acoustic wave device according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a sectional view of a surface acoustic wave device according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a configuration diagram of a composite module according to
FIG. 6 is a sectional view of a conventional surface acoustic wave device.
[Explanation of symbols]
1 Piezoelectric substrate
2 Comb electrode
3 Reflector electrodes
4 First pad electrode
5 Surface acoustic wave device
6a Resin having thermosetting and photocuring properties
6b Resin having thermosetting and photocuring properties
7 Resin substrate
8 Through hole
9a Second pad electrode
9b Third pad electrode
10 Metal layer
11 Dense layer
12 Conductive resin
13 First resin
14 Second resin
15 First through hole
16 Second through hole
21 Bump
22 Conductive resin
23 Glass substrate
24 through hole
25 Thermosetting and photocuring resins
26 Third through hole
31 Protective film
32 conductive resin
33 LTCC substrate
34 Through hole
35 Conductive resin
36a Fourth pad electrode
36b Fifth pad electrode
41 Sixth pad electrode
42 External electrode
43 resin having thermosetting and photocuring properties
51 First surface acoustic wave device
52 First switching circuit
53 First harmonic elimination filter
54 Second surface acoustic wave device
55 Second switching circuit
56 Second harmonic elimination filter
57 branching circuit
58 Antenna
59 Compound module
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001221102A JP3772702B2 (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of surface acoustic wave device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001221102A JP3772702B2 (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of surface acoustic wave device |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003037471A JP2003037471A (en) | 2003-02-07 |
JP2003037471A5 JP2003037471A5 (en) | 2005-07-14 |
JP3772702B2 true JP3772702B2 (en) | 2006-05-10 |
Family
ID=19054820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001221102A Expired - Fee Related JP3772702B2 (en) | 2001-07-23 | 2001-07-23 | Manufacturing method of surface acoustic wave device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3772702B2 (en) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004129224A (en) | 2002-07-31 | 2004-04-22 | Murata Mfg Co Ltd | Piezoelectric component and method of manufacturing the same |
JP2004129223A (en) | 2002-07-31 | 2004-04-22 | Murata Mfg Co Ltd | Piezoelectric component and manufacturing method thereof |
JP2004304622A (en) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Fujitsu Media Device Kk | Surface acoustic wave device and method of manufacturing the same |
JP2006108261A (en) * | 2004-10-01 | 2006-04-20 | Sony Corp | Function element package and its manufacturing method |
CN101107776B (en) | 2005-06-16 | 2010-05-19 | 株式会社村田制作所 | Piezoelectric device and manufacturing method thereof |
JP4670872B2 (en) * | 2006-01-18 | 2011-04-13 | 株式会社村田製作所 | Surface acoustic wave device |
JP4873980B2 (en) * | 2006-04-04 | 2012-02-08 | パナソニック株式会社 | Airtight package |
JP5168819B2 (en) * | 2006-06-02 | 2013-03-27 | 日産自動車株式会社 | Semiconductor package and manufacturing method thereof |
JP4886485B2 (en) | 2006-11-28 | 2012-02-29 | 太陽誘電株式会社 | Elastic wave device and manufacturing method thereof |
EP2159916B1 (en) | 2007-02-28 | 2018-07-11 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Branching filter and its manufacturing method |
US20080308922A1 (en) * | 2007-06-14 | 2008-12-18 | Yiwen Zhang | Method for packaging semiconductors at a wafer level |
JP4091969B1 (en) * | 2007-07-12 | 2008-05-28 | 住友ベークライト株式会社 | Light receiving device and method for manufacturing light receiving device |
JP4910953B2 (en) * | 2007-09-10 | 2012-04-04 | パナソニック株式会社 | Electronic component package structure |
US8436514B2 (en) | 2007-10-30 | 2013-05-07 | Kyocera Corporation | Acoustic wave device comprising an inter-digital transducer electrode |
EP2226935A4 (en) | 2007-12-11 | 2013-08-21 | Murata Manufacturing Co | SURFACE ACOUSTIC WAVE DEVICE AND DUPLEXER |
EP2230764B1 (en) | 2007-12-14 | 2016-11-02 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Surface wave device and method of manufacturing the same |
JP5104432B2 (en) * | 2008-03-17 | 2012-12-19 | パナソニック株式会社 | Surface acoustic wave device |
JP5104518B2 (en) * | 2008-04-22 | 2012-12-19 | パナソニック株式会社 | Surface acoustic wave device and manufacturing method thereof |
US8552622B2 (en) | 2008-06-27 | 2013-10-08 | Kyocera Corporation | Acoustic wave device |
JP4893705B2 (en) * | 2008-07-30 | 2012-03-07 | 株式会社デンソー | Electronic equipment |
JP2010245704A (en) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Substrate for surface acoustic wave device and surface acoustic wave device |
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WO2013014869A1 (en) | 2011-07-25 | 2013-01-31 | 株式会社村田製作所 | Electronic component, manufacturing method for same, as well as compound module provided with electronic component and manufacturing method for same |
DE102012112058B4 (en) | 2012-12-11 | 2020-02-27 | Snaptrack, Inc. | MEMS component and method for encapsulating MEMS components |
JP6068220B2 (en) * | 2013-03-26 | 2017-01-25 | 京セラ株式会社 | Manufacturing method of electronic parts |
JP2013138511A (en) * | 2013-03-27 | 2013-07-11 | Taiyo Yuden Co Ltd | Elastic wave device |
US10164602B2 (en) * | 2015-09-14 | 2018-12-25 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Acoustic wave device and method of manufacturing the same |
JP6994102B2 (en) | 2018-03-02 | 2022-01-14 | 京セラ株式会社 | Composite substrate and piezoelectric element |
CN111884613B (en) * | 2020-06-19 | 2021-03-23 | 珠海越亚半导体股份有限公司 | Manufacturing method of embedded packaging structure with air resonant cavity |
-
2001
- 2001-07-23 JP JP2001221102A patent/JP3772702B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003037471A (en) | 2003-02-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040728 |
|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100224 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110224 Year of fee payment: 5 |
|
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