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JP3666636B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

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JP3666636B2
JP3666636B2 JP24795499A JP24795499A JP3666636B2 JP 3666636 B2 JP3666636 B2 JP 3666636B2 JP 24795499 A JP24795499 A JP 24795499A JP 24795499 A JP24795499 A JP 24795499A JP 3666636 B2 JP3666636 B2 JP 3666636B2
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昌樹 平山
忠弘 大見
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing apparatus, a substrate transfer member and a method for processing a substrate, which can significantly reduce the volume of a carry-in/carry-out chamber, to improve the production unit time by reduction of suction time and can omit complex air-conditioning adjustments. SOLUTION: A transfer mechanism for transferring a substrate 2 from a carry-in/carry-out chamber 5 to a robot chamber 4 is provided on a side of the chamber 4, the substrate 2 is provided between the chambers 5 and 4, so as to sequentially lowered to a prescribed position through a take-out port 31 which is openable by a gate valve 32 and be taken out one by one by the transfer mechanism from a nearly fixed horizontal position and be sent to the robot chamber 4.

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、半導体装置、液晶表示装置、イメージセンサー等、基板(ウエハ)上に薄膜形成やパターン形成等の各種処理工程を実施することによって製造される電子部品の製造工程において適用されるものであり、特に、数百mm径や数百mm角以上の大型基板を用いてクリーンルーム内での処理を行う場合に適した基板の処理装置、基板の搬送体、並びに電子部品の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、半導体装置、液晶表示装置、イメージセンサー等の電子部品は、基板(ウエハ)上に薄膜形成やパターン形成等の各種処理工程を実施することによって製造される。このような各種電子部品の製造工程においては、部品を一括して効率良く製造できるように、同一の基板上に多数個の製品を同時に製造したり、あるいは、大型の表示装置などを製造するために、大型の基板が用いられる。
【0003】
上述のような電子部品の製造工程では、被処理体である基板に対して、CVD法やスパッタ法による薄膜形成工程、熱拡散法による不純物濃度領域の形成工程、各種薄膜のパターン形成工程等、通常多くの処理工程を有し、これら各種工程において処理装置が多数使用されている。そして、同一基板で多数個の製品を同時に製造する場合には更なる取れ数の増加を図ったり、大型の表示装置などを製造する場合にはさらなる部品の大型化を目指すため、各種生産技術や処理装置が、益々大きな基板サイズでも製造できるように年々あるいは日々、開発され、実用化されている。
【0004】
また、これらの電子部品ではμmオーダーの微細パターンが数万個以上形成されており、しかも、先の基板の大型化と同様に更なる高精細化も追求されている。このため、パターン形成工程中において、目視できないような異物やガスが浮遊している場合、これらの異物およびガスがパターン形成中の化学反応の欠陥原因となる。したがって、従来の製造設備においては、通常、処理装置、検査装置、搬送装置などからなる工程全体を、例えばクラス1や10などの清浄度を有すクリーンルームの中に納め、更に各種の空調管理をすることによって、工程中の異物やガスを排除している。
【0005】
しかしながら、クリーンルームの設備は、その清浄度が増すにつれて極端に建設コストが増す。また、特に大型基板を扱う大工場を新規に立ち上げる場合等では、クリーンルームの設備に関するトラブルが頻繁に発生しがちであり、要所での清浄度の管理や維持が難しいため、建設コスト以外にランニングコストも増す。さらに、工程内の作業者に対しては、防塵服などの防塵策の管理が増すため、作業者自身の作業環境も悪化することとなる。
【0006】
これらの問題を改善する策としては、例えば、特開平6−196545号公報、特開平7−161797号公報、特開平7−297257号公報などに記載の処理装置がある。これら公報はいずれも、基板を多数納めたカセットと着脱可能なカバー部とを一式とするポット(またはポッド、カセット収容容器)を、各種処理装置間においてクリーンな基板搬送を行うために使用する。これにより、ライン全体の高清浄度スペースを低減することができ、設備コストの改善が図れる。
【0007】
ここで、特開平7−161797号公報において開示されている処理装置の構造を説明する。
【0008】
上記処理装置は、図12および図13に示すように、プロセスチューブ101、ロードロック室102、搬出入室103、カセット収容容器用ポート104、および保持体収容室105によって主要部が構成されている。上記プロセスチューブ101は、被処理体であるウエハWに所定の処理を施す処理室である。上記ロードロック室102は、上記プロセスチューブ101に対して、多数枚(例えば100枚)のウエハWを収納した保持体としてのウエハボート106を挿脱するための室であり、そのための移送機構107を備えている。上記搬出入室103は、上記ロードロック室102に対してウエハWを搬出入するための室であり、その内部にカセット収容容器用ポート104が形成されている。また、上記保持体収容室105は、ロードロック室102と搬出入室103との間に配置されるウエハボート106を収容するための室である。
【0009】
上記搬出入室103はHEPA(High Efficiency Particulate Air) フィルタ108を介して導入される清浄気体により大気雰囲気下に置かれている。この搬出入室103内には、上記カセット収容容器用ポート104が配設されており、該カセット収容容器用ポート104には、複数枚(例えば25枚)のウエハWを収納するウエハキャリア(カセット)Cが内部に納められたカセット収容容器109が設置される。
【0010】
ここで、図14に示すように、カセット収容容器109は1つのカセットCを収容し得る程度の大きさであり、下部が開口された容器本体110と、この開口部を密閉可能に閉塞する容器底部111とにより構成されている。また、上記カセット収容容器109は内部にカセットCを収容した状態で、大気圧に対して陽圧になされた高い清浄度の清浄空気或いは不活性ガスが充填されているか、もしくは真空引きされている。このカセット収容容器109としては、例えば市販のSMIF−POD(商標)が用いられる。
【0011】
一方、上記カセット収容容器用ポート104は、搬出入室103の側壁をこの内部へ凹部状にへこませるようにして成形されており、容器本体110を実際に載置するポート載置台112には、容器本体110のフランジ部110Aの内径よりも大きく、且つその外径よりも小さくなされたカセット挿通孔113が形成されている。この挿通孔113には、周縁部をその外方へ下向き傾斜させてテーパ状に形成することによりポート載置台112より下方向に着脱可能とした容器底部載置台114が設けられる。
【0012】
また、この容器底部載置台114は、図12にも示すように、ボールネジ部115によって垂直方向(上下方向)へ移動可能になされた垂直移動アーム116の先端にボールネジ部115から大きく突出するように取り付けられている。上記ボールネジ部115は、容器底部載置台114のほぼ側方に配置されており、容器本体110を上方に残して容器底部111とこの上面に載置されているカセットCとのみを沈み込ませて搬出入室103内に取り込むようになっている。
【0013】
そして図15に示すように、上記ボールネジ部115には、上記容器底部載置台114の下方に位置させて水平方向へ起倒して屈曲可能になされた多関節アームよりなる水平移動アーム117が設けられており、その先端には常に水平状態になるように遊嵌状態で首振り可能になされたアーム補助部材117Aが設けられ、その両端には開閉可能になされた爪部118が設けられている。水平移動アーム117を屈曲させた状態でこの爪部118を開閉作動することにより沈み込んだ上記カセットCの側壁を把持し得るようになっている。また図12に示すように、カセット収容容器用ポート104の入口には、この部分を開閉して作業エリアとの連通・遮断を行うためのシャッタ機構119が設けられている。
【0014】
また、搬出入室103内には、カセット収容容器用ポート104の直ぐ後側位置にキャリアトランスファ120がエレベータ121を介して昇降可能に設置されている。このキャリアトランスファ120の後側にトランスファステージ122が設置されると共に、このトランスファステージ122の上方にキャリアストックステージ123が設けられている。このキャリアストックステージ123は、上記カセット収容容器用ポート104からキャリアトランスファ120により搬送されてくるウエハキャリアCをそれぞれ横向きで、例えば2列4段に保管できる複数の棚にて形成されている。
【0015】
また、搬出入室103の保持体収容室105側にはウエハトランスファ124が移載用エレベータ125によって昇降可能に支持されて設置されている。このウエハトランスファ124は、昇降しながら、トランスファステージ122上のウエハキャリアC内のウエハWを1枚ずつ取り出して、保持体収容室105内に収容されたウエハボート106に収納保持させたり、その逆にウエハボート106からウエハWをトランスファステージ122上のウエハキャリアC内に戻す働きをなすように構成されている。
【0016】
更に、上記キャリアストックステージ123に並設させて内部HEPAフィルタ126が設けられており、この上方から導入した清浄度の高い清浄空気を水平方向及び下方向へ順次屈曲させて上記ポート用HEPAフィルタ127を通過させた後、カセット収容容器用ポート104を通ってその下方へ流し、室内へ循環させてワンスルーで排気するようになっている。
【0017】
また、特開平6−196545号公報に記載の装置は、図16(a)および(b)に示すように、処理装置128が搬出入室129を備えている。上記装置においては、複数のウエハ130を収納するウエハカセット131をボックスドア132上に載置し、ボックス(ボックストップまたはポッド)133内に収容したコンテナ134が用いられる。ここでは、特開平7−161797と異なり搬出入室129内には、ウエハ130を収納したウエハーカセット131と、これを載置したボックスドア132とのみが持ち込まれる。
【0018】
ただし、上記特開平6−196545号公報に記載の装置の場合も、特開平7−161797号公報の装置と同様に、搬出入室129内において、ウエハカセット131の昇降部の側部に配置される昇降機構135、処理室内へ搬入されるウエハカセット131を載置する処理前ステージ136、ウエハカセット131ごと該処理前ステージ136へ搬送するマニプレータアーム137などの搬送機構が配置されている。
【0019】
また、特開平7−297257号公報に記載の装置は、カセット収容容器に収められた状態のカセットCが容器保管ステージに複数個保管され、該カセットCは保持体収容室内に搬入される時点でカセット収容容器から取り出される。すなわち、カセットCを搬出入室においてカセット収容容器から取り出して、キャリアストックステージに保管する特開平7−161797号公報に記載の装置と異なり、その分、高清浄度を要する空間の小スペース化が図れる。
【0020】
また、カセット内のおける基板の支持については、例えば上記基板を液晶表示装置に使用する場合では、全面の支持を行うと基板における傷発生と発塵などの問題が生じるため、基板底面の対向する2辺においてその端部の10数mm程度を受ける形状のものが多い。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】
前述したように、半導体装置、液晶表示装置などの各種電子部品の製造工程においては、製造基板の大型化が進展しており、しかも、工程数や処理装置数が多いため、大規模な工場施設が必要になってきている。このような施設においては、建設や保守、維持費などを抑え、装置のメーカーから工場までのトラックなどの搬送を容易にし、製造や工程管理などの作業性を図るためには、各処理や移載装置あるいは付帯設備などの小型化を図る必要がある。
【0022】
ところが、特開平7−161797号公報あるいは特開平7−297257号公報に記載の従来装置では、特に、ロードロック室等に対して安定した清浄度の下で基板を受け渡すための予備室として搬出入室が設けられており、該搬出入室のスペースは、カセット収容容器の外周容積の数十倍以上(図面面内方向に20倍以上、図面奥行き方向に2〜3倍以上)といった極めて大きなスペースが必要となる。これは、特に以下の▲1▼〜▲5▼の課題に起因するものである。
▲1▼ 搬出入室内に複数のカセットおよびカセット収容容器を納めている。
▲2▼ カセットおよびカセット収容容器の移載・昇降機構が、搬出入室内に納められている。
▲3▼ カセットまたはカセット収容容器の昇降機構を、搬出入室内においてカセットまたはカセット収容容器の側部に形成している。このような稼動・摺動部を搬出入室に設けると、発塵などにより製品の品質や歩留りが低下し易くなるといった問題が生じる。また、特に液晶表示装置では数百mm角以上の大型基板を用いる場合が多く、この場合、カセットなどを含めた重量が大きくなるため図12に示すような片持ち構造で摺動部を設けると、大きなモーメントに耐えるよう、垂直移動アーム116、水平移動アーム117、ボールネジ115やその軸受けが一回り大きくなったり、寿命が短くなるなどの問題がある。また、軸受けが搬出入室内にあると、メンテナンスの作業時間も増し、装置の稼働率が下がる虞もある。
▲4▼ 例えば、特開平7−161797号公報に記載の装置のように、搬出入室内の清浄度を安定化するため、複数台(上記公報では3台)のHEPAを配置し、その流量や位置を調整するような複雑な空調調整が必要となる。これにより、搬出入室内においてもHEPAの配置スペースが必要となる。
▲5▼ 特に液晶表示装置では数百mm角以上の大型の基板が用いられ、その厚みも0.5〜1.1mmと薄いものなので、従来のように、前述の2辺支持構造では10〜数十mm程度の反りが発生する。このため、基板受渡し時などの干渉や割れを防止するため、基板間の間隔を大きく取る必要があるが、カセットやカセット収容容器が大きくなり、重量も増すため、▲1▼項〜▲3▼項の課題を相乗的に大きくする。
【0023】
このように、搬出入室の容積が大きくなると、該搬出入室の真空引き時間が増大して生産のタクトが落ちたり、特開平7−161797号公報に示すような複数台のHEPAを用いてこれを調整するような複雑な空調調整が必要となるといった問題が生じる。したがって、生産のタクトを落とさないよう真空引き時間などを低減し、上述のような複雑な空調調整を不要にしつつ清浄度を安定化させるためにも、ロードロック室等に基板を受け渡すための予備室、すなわち搬出入室の容積をなるべく小さくする必要がある。
【0024】
また、特開平6−196545号公報記載の装置では、前述の▲1▼項の問題は低減されるが、▲2▼項〜▲5▼項の問題は同様に存在するものであり、図16のように、カセット寸法に比べて、同図の面内方向においてカセットの10倍前後のスペースを必要とする。
【0025】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、搬出入室の容積を大幅に低減し、真空引き時間の低減による生産タクトの向上、且つ複雑な空調調整の省略を図ることができる基板の処理装置、基板の搬送体、並びに基板の処理方法を提供することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】
本発明の基板の処理装置は、上記の課題を解決するために、複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基板の処理装置において、上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記隣接室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する移送機構が備えられていることを特徴としている。
【0027】
あるいは、本発明の基板の処理装置は、上記の課題を解決するために、複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基板の処理装置において、上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記搬出入室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する押出式の移送機構が備えられており、上記移送機構の駆動部は前記搬出入室内空間と密閉遮断されて搬出入室の外部に配置されていることを特徴としている。
【0028】
上記の構成によれば、上記搬出入室内では、複数のカセットおよび搬送体を保管するような構成は無く、搬出入室から隣接室への基板の移送も、隣接室側に配置された移送機構によって、あるいは、駆動部が搬出入室の外部に配置された押出式の移送機構によって行われる。尚、上記押出式の移送機構では、基板の移送時においては、移送される基板の配置スペース内において往復運動されるのみであり、搬出入出内にその駆動スペースを設ける必要は特にない。また、上記押出式の移送機構の駆動部を前記搬出入室内空間と密閉遮断するためには、例えばベローズシール等を用いるのが好適である。
【0029】
したがって、搬出入室においては、搬送体からカセットを取り出すために、カセットの高さに相当する1ストローク分の空間があれば良く、容積のほぼ2倍程度と装置を格段に小さくすることができる。尚、上記隣接室とは、基板が搬出入室から処理室へ直接移送される場合には該処理室が隣接室に相当し、基板が搬出入室から別室(例えば、搬送(ロボット)室、ロードロック室等)を介して処理室へ移送される場合には該別室が隣接室に相当する。
【0030】
このように、上記搬出入室の小型化を図ることにより、半導体装置、液晶表示装置などの各種電子部品の清浄気体密封容器内基板搬送式製造工程において、大型基板が用いられたり、工程数や処理装置数が多い場合であっても、各処理装置を格段に小型化(従来の数分の1以下に)でき、工場施設も最小限にできる。これにより、工場の建設や保守、維持費などが抑えられる。また、処理装置が小型になることにより、該処理装置のメーカーから処理工場までの装置自体を搬送する時のトラックなどによる搬送が容易になり、製造や工程管理などの作業性を向上できる。
【0031】
また、上記搬送体が取り入れられた搬出入室においては、上記ガス導入/排気手段により室内が清浄気体に置換されるか、あるいは真空引きされる。この時、搬出入室と隣接室との間の開閉手段が閉じられ、該搬出入室は密閉状態とされる。そして、搬出入室のガス置換または真空引きされた後、上記開閉手段が開放され、カセット内の基板が移送機構によって搬出入室から隣接室へ移送される。
【0032】
ここで、上述のように搬出入室が小型化された構成では、搬出入室の真空引き時間などが低減されるため、製造タクトを抑えることができると共に、特開平7−161797号公報のように3台のHEPAを調整するような複雑な空調調整を行うことなく、清浄度を安定化させることができ、製品の品質や歩留まりを向上できる。
【0033】
さらに、上記処理装置は、上記搬出入室と上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動させ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送機構によって基板を1枚ずつ搬出入室と隣接室との間で移送することを特徴としている。
【0034】
従来、搬出入室と上記隣接室との間での基板受け渡し、すなわち、複数の基板を収容したカセットから基板を抜き出す際には、カセット内で上下方向に積載される基板の位置に合わせて移送機構の昇降を行うことがあるが、上記構成によれば、昇降機構によってカセット自体が上記所定位置まで順次移動され、ほぼ一定の水平位置から上記移送機構によって基板が1枚ずつ移送される。
【0035】
これにより、上記移送機構においては、従来のような昇降機能が不必要となり、該移送機構を簡素化することができる。上記移送機構の簡素化は、これを収容する隣接室等の小型化、ひいては処理装置の小型化に繋がる。
【0036】
また、ほぼ一定の水平位置から基板を1枚ずつ移送する方法では、搬出入室と隣接室との間における出入口は、少なくとも1枚の基板を搬出できる大きさを有しておれば良く、該出入口を小さくできるため、これを開閉する開閉手段の構成を簡略化できる。これにより、装置の小型化、出入口開閉時間の短縮、シール部の長寿命化を図ることができる。
【0037】
さらに、上記処理装置は、上記ガス導入/排気手段が、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後、該搬出入室内を真空引きし、上記移送手段が搬出入室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行うことを特徴としている。
【0038】
成膜などの多くの処理装置では、隣接室等と処理室との間の基板受け渡しは真空雰囲気下で行われるものであるため、上述のように、上記ガス導入/排気手段により搬出入室内を真空引きし、搬出入室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行う構成とすれば、上記隣接室は、常に真空状態に維持すればよいこととなる。これにより、上記隣接室においては、ガスの導入等が不要となり、雰囲気の維持が容易となる。また、隣接室の真空引き時間などが低減されるため、製造タクトを抑えることができる。
【0039】
さらに、上記処理装置では、上記ガス導入排気手段は、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後で、かつ、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出される前の段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換し、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出された後の段階で、該搬出入室内を真空引きすることを特徴としている。
【0040】
上記搬出入室内において搬送体からカセットを取り出す際には、搬出入室内の清浄度を高い状態とする必要がある。このためには、搬出入室内を清浄気体に置換する、あるいは真空引きする等の方法が考えられるが、搬送体内には清浄気体が密封されているため、搬出入室に上記搬送体が搬入された段階で該搬出入室を真空引きすると、搬送体の内外で圧力差が生じる。したがって、この場合には、上記搬送体がこの圧力差に耐え得るだけの強度を持つ必要が生じ、このことは搬送体の重量化およびコストアップを招く。また、直接真空引きを行なうと、真空系のフィルターに負担がかかったり、清浄時間が増す場合がある。
【0041】
これに対し、上記構成によれば、上記搬送体からカセットが取り出される前の段階では搬出入室内は清浄気体雰囲気であり、該搬送体からカセットが取り出された後の段階で該搬出入室内が真空引きされるため、上述のような搬送体の内外での圧力差は生じない。したがって、上記搬送体において必要以上の強度を持たせる必要はなく、搬送体の軽量化およびコストダウンに繋がる。また、清浄時間を短くできる。
【0042】
さらに、上記処理装置は、前記昇降機構の昇降部(例えば、昇降用シャフト)は、前記基板または前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、前記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入室の外部に設けられ、前記搬出入室内の前記昇降部はベローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断されていることを特徴としている。
【0043】
このように、上記昇降機構の駆動部等を搬出入室の外部し、かつ、昇降部をカセットの重心直下付近に配置することで、保守作業が容易となると共に、ネジ部や軸部などの設計強度も低減できるため、昇降機構の小型化が図れる。また、搬出入室内の昇降部をベローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断することで、摺動部などの発塵などによる、製品の品質や歩留りの低下を無くすことができる。
【0044】
さらに、基板の搬送体の側部には昇降機構が存在しないため、搬送体の搬入経路を小さくでき、移送装置の機構なども簡素にできる。このため、搬出入室の設計の自由度も高く、例えば基板の搬送体の側部に確認のための内圧計や、押出し式の基板搬入機構(移送機構)を容易に取付けたり、基板の覗き窓を取り付け、基板の異常等を容易に目視確認ができる。
【0045】
本発明の基板の搬送体は、複数の基板を搭載したカセットを、容器本体および底板によって形成される密閉空間内に、清浄度の高いドライガスと共に密封し、上記基板に対して各種処理工程を実施することによって製造される電子部品の製造工程中の処理装置間を搬送する基板の搬送体において、上記カセットは、搭載される各基板を載置支持するために、基板1枚当たりに対して、基板面内に4箇所から6箇所が突出して形成されている基板支持部を有し、前記基板支持部の先端近傍には、前記基板に当接して基板を支持する樹脂から成るピン部が形成されていることを特徴としている。
【0046】
基板の2点支持を行う場合、2次元理想解では基板の最大たわみは支持間距離の3乗に比例し、基板の厚みの3乗に反比例するので、基板が大きく、あるいは薄くなるほど極端に基板の反り量が増す。このため、上記基板支持部を基板面内方向に突出させ、支持点の距離を小さくすることにより基板の反りが減り、基板の受け渡し時などの異常振動やわずかな位置ずれ等による干渉で発生する基板のかけや割れなどの不良を低減できる。また、基板の反りが減少することにより、カセット内の基板間隔も小さくして、基板搬送体の小型化も図れる。さらに、基板の搬送体の軽量小型化は、処理装置における搬出入室の小型化にも繋がる。
【0047】
また、カセット内での基板支持において、エッジ2辺近傍の線支持や広範な面(例えば、ほぼ全面)支持は、基板との接触部が増し、異物付着や傷つきなどの確率が増すため好ましくない、また、広範な面の支持部を設けるとカセット全体の重量が増し、基板の受け取りなどが困難となり好ましくなく、したがって上記基板支持部は4〜6点程度の凸状突出部とすることが好ましい。特に液晶などの大型の四角形状の基板においては、反り低減とカセットの軽量化とをバランス良く両立させるためには、突出部は6箇所程度が好ましい(2次元理想解では、反りを約1/8程度に低減できる。)。
【0048】
また、上記基板支持部は、剛性を確保でき、比較的軽量で、定期的などに洗浄が容易なアルミニウムが好ましく、基板との当接部は、基板に傷をつけることなく、当接する部材も摩耗やかけが少なく、酸性洗浄材などに対する耐薬品性の高いテフロンなどの樹脂が好ましい。
【0049】
さらに、上記搬送体は、前記基板支持部が、基板面内においてなめらかな曲線外縁を持つ山形形状であることを特徴としている。
【0050】
基板支持部の軽量化と剛性を確保するためには、片持ち支持構造の基板支持部において応力が均一になるような断面形状を有することが好ましいが、これを基板間隔を最小にし、かつ、板材など加工と組み立てが容易となるように、均一な厚みを有する板材で実現するために、上記基板支持部は山形(波型)形状であることが好ましい。また、上記基板支持部において、角部などをなくし、基板との接触時の傷つけや発塵を防止するため、なめらかな曲線外縁とすることが好ましい。
【0051】
本発明の電子部品の製造方法は、上述の基板の搬送体を用いて、複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら、上述の基板の処理装置間で搬送し、基板上に上記各処理装置によって処理工程を施すことにより電子部品を製造することを特徴としている。
【0052】
これにより、上述の基板の搬送体、基板の処理装置と同様に、処理装置における搬出入室の小型化が図れる。
【0053】
また、上記電子部品の製造方法では、前記基板の搬送体内に前記基板を収容したカセットを保持しながら搬送する際、該基板の搬送体の内圧を陽圧とすることを特徴としている。
【0054】
搬送体の内部は、基本的には清浄な気体であれば真空圧でも良いが、搬送体の内圧がその周囲の圧力(大気圧)よりも小さい場合には、Oリングなどの破損や寿命などにより、搬送体の内と外での気密が破れた場合に、外部の清浄でない空気が入り込む虞があるため、基板の搬送体の内圧を陽圧とすることが好ましい。また、基板取り出し時の大気圧開放や底板開放など一連の作業性と時間短縮のためにも、大気圧よりわずかに陽圧にすることが好ましい。
【0055】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の一形態について図1ないし図11に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0056】
本実施の形態に係る基板の処理装置の概略構成を図1および図2に示す。上記処理装置1は、被処理体である基板に対して単一あるいは連続処理を行うものであり、その処理内容としては、スパッタリング、CVDなどの薄膜形成、検査、レジスト塗布、露光、パターニングなどのパターン形成、加熱、乾燥、洗浄、イオン注入などの何れであってもよい。
【0057】
上記処理装置1は、図1に示すように、被処理体である基板2に所定の処理を施す処理室3と、該処理室3に対して上記基板2を挿脱する移送機構7(図2参照)を有するロボット室4と、このロボット室4に対してカセット8内に収容されている複数の基板2を搬出入する搬出入室5とを備えており、ロボット室4が搬出入室5の隣接室となっている。
【0058】
また、上記処理室3、ロボット室4、および搬出入室5は、1台の処理装置1に対して1つずつである必要はなく、例えば図2に示すように、複数の処理室3および搬出入室5に対してロボット室4を共有する構成であっても良い。また、処理室3において基板2の処理を行う前に、該基板2を予め昇温させるための昇温室6が設けられていても良い。上記処理室3、ロボット室4、搬出入室5、および昇温室6は、それぞれ個別に真空排気することが可能である。さらに、処理室3と搬出入室5とが連接して設けられており、搬出入室5から処理室3へ直接基板を移送する構成であってもよく、この場合は、処理室3が搬出入室5の隣接室となる。
【0059】
上記搬出入室5には、カセット8を収容した基板の搬送体としてのカセット収容容器10が搬入される。上記カセット収容容器10は、図3に示すように、内部に収容されるカセット8、底板11、ポッド蓋(容器本体)12からなり、底板11上に載置されるカセット8をポッド蓋12によって覆っている構成である。上記底板11とポッド蓋12との間には、該カセット収容容器10の内部空間を密閉するために、Oリング13が設けられている。上記カセット収容容器10の中には、清浄度の高い不活性ガスを大気圧よりもやや陽圧状態で充填している。また、上記カセット8、底板11、ポッド蓋12は、該カセット収容容器10を軽量化するために、材質として例えばアルミニウムが用いられる。
【0060】
尚、上記カセット収容容器10の内部は、基本的には清浄な気体であれば真空圧でも良いが、カセット収容容器10の内圧がその周囲の圧力(大気圧)よりも小さい場合には、Oリング13などの破損や寿命などにより、カセット収容容器10の内と外での気密が破れた場合に、外部の清浄でない空気が入り込む虞がある。このため、カセット収容容器10の内圧を陽圧とすることが好ましい。また、基板2の取り出し時の大気圧開放や底板11の開放など一連の作業性と時間短縮のためにも、カセット収容容器10の内圧を大気圧よりわずかに陽圧にすることが好ましい。
【0061】
上記カセット8には、図4に示すように、収容される基板2を受けるために、厚み約3mmでなめらかな山形などの形状をした基板支持部14が、例えばアルミニウムを材質として設けられている。該基板支持部14は、これによって支持される基板2の面内方向に4〜6箇所(同図では6箇所)突出して設けられており、上記突出部の先端近傍に上記基板2に当接して支持するピン(ピン部)15が例えばテフロン樹脂を材質として形成されている。例えば、基板2のサイズが、厚み1.1mm、幅550mm、長さ650mmである場合、該基板2の幅方向に対して、図5に示すように、基板2の両端部から約150mm内側の位置をピン15で受け、更に、基板2の端部はローラ16で押さえることにより、基板2の反りをおおよそ10mm以下に抑えることができる。これにより、上記カセット8においては、各基板2の上下間隔を30mm程度とし、この間隙でカセット8内に20枚の基板2を収容している。
【0062】
すなわち、基板2の2点支持を行う場合、2次元理想解では基板の最大たわみは支持間距離の3乗に比例し、基板の厚みの3乗に反比例するので、基板2が大きく、あるいは薄くなるほど極端に反り量が増す。このため、上記基板支持部14を基板面内方向に突出させ、支持点の距離を小さくすることにより基板2の反りが減り、基板2の受け渡し時などの異常振動やわずかな位置ずれ等による干渉で発生する基板のかけや割れなどの不良を低減できる。また、基板2の反りが減少することにより、カセット8内の基板間隔も小さくして、カセット収容容器10の小型化も図れる。さらに、カセット収容容器10の軽量小型化は、処理装置1における搬出入室5の小型化にも繋がるといった利点がある。
【0063】
また、カセット8内での基板支持において、エッジ2辺近傍の線支持や広範な面(例えば、ほぼ全面)支持は、基板2との接触部が増し、異物付着や傷つきなどの確率が増すうえ、カセット8の全体重量が増し、基板2の受け取りなどが困難となるため好ましくない。したがって、上記基板支持部14は4〜6点程度の凸状突出部とすることが好ましい。特に液晶などの大型の四角形状の基板においては、反り低減とカセットの軽量化とをバランス良く両立させるためには、基板支持部14は6箇所程度が好ましい(2次元理想解では、反りを約1/8程度に低減できる。)。
【0064】
さらに、上記基板支持部14は、剛性を確保でき、比較的軽量で、定期的などに洗浄が容易なアルミニウムが好ましく、基板2との当接部となるピン15は、基板2に傷をつけることなく、当接するピン15自体にも摩耗やかけが少なく、酸性洗浄材などに対する耐薬品性の高いテフロンなどの樹脂が好ましい。
【0065】
また、上記基板支持部14を山形形状とする理由は以下の通りである。すなわち、基板支持部14の軽量化と剛性を確保するためには、片持ち支持構造の基板支持部14において応力が均一になるような断面形状を有することが好ましいが、これを基板間隔を最小にし、かつ、板材など加工と組み立てが容易となるように、均一な厚みを有する板材で実現するためには、上記基板支持部14は山形(波型)形状であることが好ましい。また、上記基板支持部14において、角部などをなくし、基板2との接触時の傷つけや発塵を防止するため、なめらかな曲線外縁とすることが好ましい。
【0066】
上記処理装置1は、図1に示すように、搬出入室5内に搬入されたカセット収容容器10において、複数の基板2を収納したカセット8を昇降させるための昇降機構17を有する。上記昇降機構17の昇降部(シャフト)18は上記基板2または上記カセット8のほぼ重心真下近くに設けられ、上記昇降機構17のガイド部(摺動部)19や図示しない駆動部は上記搬出入室5の外部に設けられている。そして、上記搬出入室5内において上記昇降部18はベローズ20で囲まれ、上記搬出入室5と遮断されている。
【0067】
このように、上記昇降機構17のガイド部19や駆動部を搬出入室5の外部に配置することで、昇降機構全体を搬出入室内に配置する従来の構成と比べて上記搬出入室5の容積を大幅に低減できる。より具体的には、上記カセット8の外周容積の約2倍程度で、大きくとも約3倍以下となるように搬出入室5の小型化を図ることができる。また、搬出入室5内の昇降部18をベローズ20で前記搬出入室5内の空間と密閉遮断することで、ガイド部19の発塵などによる、製品の品質や歩留りの低下を無くすことができる。
【0068】
尚、上記昇降機構17では、該昇降機構17の昇降部18を基板2またはカセット8のほぼ真下に設けているが、これは、簡易な構成の昇降機構17によってカセット8の昇降を行わせるためである。すなわち、昇降機構をカセット8の側方に配置し片持ち構造によって該カセット8を保持しようとすると、カセット8の重量による大きなモーメントに耐えられるように、シャフトや軸受け等を大型化する必要があるが、昇降部をカセット8の重心下に配置すると、シャフトに対してモーメントが作用しないため該昇降機構を小型化できる。
【0069】
さらに、カセット収容容器10の側部には昇降機構17が存在しないため、カセット収容容器10の搬入経路を小さくでき、移送装置の機構なども簡素にできる。このため、搬出入室5の設計の自由度も高く、例えばカセット収容容器10の側部に確認のための内圧計や、基板2の覗き窓や、押出し式の基板搬入機構を容易に取付けたり、目視確認をすることもできる。
【0070】
尚、上記押出し式の基板搬入機構とは、図2に示すようなロボットアーム式の移送機構7ではなく、図6に示すような移送機構40を示す。上記移送機構40は、駆動源であるピストンシリンダ41と、これによって往復駆動されるアーム42によって構成されるものであり、カセット8内の基板2をアーム42によってロボット室4側に押し出すことによって基板の移送を行なう。このため、上記移送機構40はロボット室4側ではなく、搬出入室5側部の隣接室(移送機構に図2に示すようなロボットアーム式の移送機構7を用いていないため、ロボット室とはならない)の反対側に配置されるものとなるが、上記移送機構40は移送される基板2のカセット8内での配置スペース内において往復運動されるのみであり、搬出入室5内にその駆動スペースを設ける必要は特にない。したがって、上記移送機構40を搬出入室5側に配置しても、該搬出入室5のスペース増加を招くことは無い。また、上記移送機構40の駆動源であるピストンシリンダ41は搬出入室5の外部に配置され、搬出入室5内の空間とはベローズ43によって密閉遮断される。これにより、搬出入室5のスペース増加を防ぐと共に、ピストンの摺動部の発塵などによる製品の品質や歩留りの低下を無くすことができる。さらに、上記移送機構40を用いた構成では、搬出入室5とロボット室4との間の基板移送経路において、基板支持ローラ44を設けることが好ましい。
【0071】
但し、本発明においては、上記昇降部をカセット8の重心下に配置する構成に限定されるものではなく、図7に示すように、カセット8の側方に配置される昇降機構21を用いてもよい。この場合は、単なる片持ち構造とすると該昇降機構21の大型化が避けられないため、カセット8を保持するステージ22の下にガイドロット23を設けることが好ましい。
【0072】
続いて、本実施の形態に係る処理装置1において、搬出入室5からロボット室4への基板2の受渡し方法を、図8(a)ないし図8(c)を用いて説明する。
【0073】
まず、図8(a)に示すように、カセット収容容器10を搬入するために、処理装置1の搬出入室5の搬入扉24を開放する。そして、複数の基板2が搭載されたカセット8を収容してなるカセット収容容器10を昇降機構17の上面に形成されているステージ25上に載置する。この時、上記カセット収容容器10は、ポッド蓋12と底板11とによって形成される空間内において上記カセット8を清浄度の高いドライエアと共に密封した状態で収容している。また、上記搬出入室5の内部は大気雰囲気となっている。
【0074】
次に、図8(b)に示すように、搬入扉24を閉めて、搬出入室5の下部にあるガス導入/排気管26より、大気圧より僅かに陽圧の清浄なN2 などの不活性ガスをカセット収容容器10の下方において充填し、搬出入室5内の大気と置換させる。その後、上記昇降機構17を駆動させステージ25を降下させることにより、該ステージ25上に載置されているカセット収容容器10の底板11とカセット8とを僅かに下降させる。尚、この時、カセット収容容器10のポッド蓋12の底部27は、搬出入室5内の側壁突出部28とOリング29などを介して当接している(図1参照)。これにより、上記当接部分が真空シールとして作用するため、上記ポッド蓋12の外部と内部とが遮断され、該ポッド蓋12の上部および側部の大気がカセット収容容器10に入り込まない。したがって、清浄度の低い大気に露出したポッド蓋12の上面からポッド蓋12の内面や下面に異物等が回り込むことを低減し、真空引き等の時間短縮が可能となる。尚、図2に示す処理装置1においても、搬出入室5には、カセット収容容器10ごとカセット8が搬入されたのち、上記と同様の手順でカセット8が該カセット収容容器10内から取り出されるが、同図においては、カセット収容容器10の図示を省略している。
【0075】
その後、図8(c)に示すように、ガス導入/排気手段としてのガス導入/排気管26およびガス排出管30により搬出入室5の上部および下部領域、すなわち上記ポッド蓋12の外部および内部領域を同時に真空引き排気する。尚、この時、ポッド蓋12の底部27と搬出入室5内の側壁突出部28とのシールが完全であれば、内部領域のみの真空引きでも十分であるが、内部領域と外部領域とを同時に真空引きすることにより、シールの消耗等によって工程中にステージ25が大気にさらされ、灰塵が搬出入室5の内部領域に侵入することが低減される。そして、搬出入室5とロボット室4との間における基板の取り出し口である基板移送口31を開閉するゲートバルブ(開閉手段)32を開いた後、ロボット室4側に配置された移送機構7であるロボットによりカセット8に収容された基板2を1枚ずつロボット室4へ移送する。一枚の基板2が移送される毎に、上記昇降機構17はカセット8を順次下降させ、次段の基板2が上記基板移送口27の横に来るようにする。また、処理が完了した基板2は、逆にカセット8に戻される。
【0076】
搬出入室5とロボット室4との間での基板2の受け渡しでは、複数の基板2を収容したカセット8から各基板2を抜き出す動作が含まれる。この時、従来では、上記カセット内で上下方向に積載される基板の位置に合わせて移送機構の昇降を行う必要があった。これに対し、本実施の形態に係る処理装置1では、昇降機構17によってカセット8自体が所定位置(すなわち、取り出される基板2が取り出し口31に対向する位置)まで順次下降され、ほぼ一定の水平位置から移送機構7によって基板2が1枚ずつ移送されるため、上記移送機構7において、従来のような昇降機能が不必要となり、該移送機構7を簡素化することができる。上記移送機構7の簡素化は、これを収容するロボット室4の小型化、ひいては処理装置1の小型化に繋がる。
【0077】
また、上述のように、ほぼ一定の水平位置から基板2を1枚ずつ移送する方法では、搬出入室5とロボット室4との間における基板移送口31は、少なくとも1枚の基板2を搬出できる大きさを有しておれば良く、基板移送口31を小さくできるため、ゲートバルブ32の構成を簡略化できる。
【0078】
尚、上記図8(b)に示す工程において、搬出入室5内の大気を不活性ガスと置換させる理由は以下の通りである。すなわち、上記搬出入室5内においてカセット収容容器10からカセット8を取り出す際には、搬出入室5内の清浄度を高い状態とするために、搬出入室5内を清浄気体に置換するか、あるいは真空引きする必要がある。しかしながら、上記カセット収容容器10の内部には、上述したように、清浄度の高い不活性ガスが陽圧状態で充填されているため、搬出入室5に上記カセット収容容器10が搬入された段階で該搬出入室5を真空引きすると、カセット収容容器10の内外で圧力差が生じる。したがって、この場合には、上記カセット収容容器10がこの圧力差に耐え得るだけの強度を持つ必要が生じ、このことはカセット収容容器10の重量化およびコストアップを招く。
【0079】
これに対し、上記カセット収容容器10からカセット8が取り出される前の段階において、搬出入室5内を清浄な不活性ガスと置換するのみであれば、上述のようなカセット収容容器10の内外での圧力差は生じず、上記問題を回避できる。また、真空系のフィルターの負担を低減して寿命を延ばすこと等により、メンテナンスにかかる時間を低減できる等のメリットがある。
【0080】
また、上記図8(c)に示す工程において、カセット収容容器10からカセット8を取り出された後、搬出入室5内を真空引き理由は以下の通りである。すなわち、上述のように搬出入室5内を真空引きすることにより、搬出入室5とロボット室4との間での基板2の受け渡しは真空雰囲気下で行われる。また、通常、ロボット室4と処理室3との間での基板2の受け渡しは真空雰囲気下で行われるため、搬出入室5とロボット室4との間での基板2の受け渡しをも真空雰囲気下に行うことにより、上記ロボット室4は、常に真空状態に維持すればよいこととなる。
【0081】
この場合、上記ロボット室4においては、ガスの導入等が不要となりガスの排気手段のみ設ければ良いため、ロボット室4の雰囲気維持のための構成が簡素化できる。また、ロボット室4において、ガス導入状態から真空状態へ移行するための真空引き時間などが不要となるため、製造タクトを抑えることができる。
【0082】
上記移送機構7は、図9に示すように、ロボットアーム33の先端に基板2を載置搬送するハンド34が形成されているものである。上記ハンド34は略U字形状をしており、上記基板2を搬送する時には2本のアーム部に該基板2を載置して搬送する。この時、上記ハンド34における上記アーム部は、カセット8において基板2を周縁部で支持する場合よりも、該基板2の内側を支持するため発生する反りは格段に減少する。すなわち、カセット8における基板2の周縁部支持は、図10(a)に示すように、2つの支点が端部近くを支えるため、自重による曲げモーメントは支点間に集中し、基板2の撓み量(反り)が増大する。これに対して、移送機構7のハンド34によって基板2を支持する場合は、図10(b)に示すように、支点が基板2の中央よりに位置するため、支点間において生じる曲げモーメントと、支点外側において生じる曲げモーメントとが互いに逆方向となり基板2の反りを打ち消し合うため反りが発生しにくい。また、図9に示すように、上記移送機構7のハンド34の基板載置面に吸着パッド35を設け、基板2を吸着させることによって基板2の反りをより低減させることも可能である。すなわち、この場合は、図10(c)に示すように、基板載置面において基板2を吸着することにより該基板2の基板載置面との接面が水平に保たれるため、基板2の反りがより減少する。
【0083】
さらに、カセット8において基板2を収容する場合は、図4において説明したように、基板2の端部がローラ16で押さえられていることにより、基板2を抜き差しする際に該ローラ16が障害となることもあり得る。したがって、図11に示すように、移送機構7のハンド34に段差部36を設けることにより、より安定した搬送が可能となる。すなわち、基板2を移送機構7のハンド34に載置するだけでは、基板2の搬送方向に対して障害があるとハンド34と基板2との間で滑りが生じて搬送が不安定になる虞があるが、該基板2を上記ハンド34の段差部36に引っかけて搬送すれば、上述のような滑りが生じない。また、図8に示すような吸着パッド35によって基板2をハンド34に吸着させながら搬送しても同様の効果が得られるが、特に基板2をカセット8に挿入する時は、ローラ16の抵抗が大きくなるため、段差部36による搬送を行う方がより滑りが生じ難く安定した搬送が行える。さらに、ハンド34による基板2の移送時と、カセット8内における基板2の収容時とでは、該基板2の反り状態が異なるため、搬送途中の基板2の形状をカセット8内に基板2が収容される形状に修正するためのガイド部を設けることが好ましい。
【0084】
尚、以上の説明では、搬出入室5において1つのカセット収容容器10を搬入する構成を示したが、上記搬出入室5内にn個のカセット収容容器10を横置きなどにして、上記搬出入室の容積がカセット収容容器10の1つあたりの容積の(2n+α)倍となるようにして(最小2n強であり、αはゲートバルブ数や移載スペースの取り方による)、基板2の1枚当りにかかる真空引き等の基板取り込み時間を低減しても良い。
【0085】
【発明の効果】
本発明の基板の処理装置は、以上のように、上記搬出入室と上記隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記隣接室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する移送機構が備えられている構成である。
【0086】
あるいは、本発明の基板の処理装置は、以上のように、上記搬出入室と上記隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、上記搬出入室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する押出式の移送機構が備えられており、上記移送機構の駆動部は前記搬出入室内空間と密閉遮断されて搬出入室の外部に配置されている構成である。
【0087】
それゆえ、上記搬出入室内では、搬出入室から隣接室への基板の移送が隣接室側に配置された移送機構、または、駆動部が搬出入室の外部に配置された押出式の移送機構によって行われ、搬出入室においては、搬送体からカセットを取り出すためにカセットの高さに相当する1ストローク分の空間があれば良く、上記カセットの容積のほぼ2倍程度と装置を格段に小さくすることができる。このように、上記搬出入室の小型を図ることにより、各処理装置を格段に小型化(従来の数分の1以下に)でき、工場施設も最小限にできる。これにより、工場の建設や保守、維持費などが抑えられると共に、製造や工程管理などの作業性を向上できるという効果を奏する。
【0088】
また、上述のように搬出入室が小型化された構成では、搬出入室の真空引き時間などが低減されるため、製造タクトを抑えることができると共に、複雑な空調調整を行うことなく清浄度を安定化させることができ、製品の品質や歩留まりを向上できるという効果を併せて奏する。
【0089】
さらに、上記処理装置は、上記搬出入室と上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動させ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送機構によって基板を1枚ずつ取り出して隣接室へ移送する構成である。
【0090】
これにより、上記移送機構においては、従来のようなカセット内で上下方向に積載される基板の位置に合わせて移送機構の昇降を行う昇降機能が不必要となり、該移送機構を簡素化することができる。上記移送機構の簡素化により、これを収容する隣接室の小型化、ひいては処理装置の小型化を図ることができるという効果を奏する。
【0091】
また、このようなほぼ一定の水平位置から基板を1枚ずつ移送する方法では、搬出入室と隣接室との間における取り出し口を小さくできるため、これを開閉する開閉手段の構成をも簡略化できるという効果を併せて奏する。
【0092】
さらに、上記処理装置は、上記ガス導入/排気手段が、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後、該搬出入室内を真空引きし、上記移送手段が搬出入室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行う構成である。
【0093】
通常、隣接室と処理室との間の基板受け渡しは真空雰囲気下で行われるものであるため、搬出入室と隣接室との間での基板受け渡しをも真空雰囲気下で行う構成とすれば、上記隣接室は、常に真空状態に維持すればよいこととなる。これにより、上記隣接室においては、雰囲気の維持が容易となると共に、隣接室の真空引き時間などが低減されるため、製造タクトを抑えることができるという効果を奏する。
【0094】
さらに、上記処理装置では、上記ガス導入排気手段は、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後で、かつ、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出される前の段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換し、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出された後の段階で、該搬出入室内を真空引きする構成である。
【0095】
上記搬送体からカセットが取り出される前の段階では搬出入室内は清浄気体雰囲気であり、該搬送体からカセットが取り出された後の段階で該搬出入室内が真空引きされるため、真空引きによる搬送体の内外での圧力差は生じない。したがって、上記搬送体において必要以上の強度を持たせる必要はなく、搬送体の軽量化およびコストダウンを図ることができるという効果を奏する。
【0096】
さらに、上記処理装置では、前記昇降機構の昇降部(例えば、昇降用シャフト)は、前記基板または前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、前記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入室の外部に設けられ、前記搬出入室内の前記昇降部はベローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断されている構成である。
【0097】
このように、上記昇降機構の駆動部等を搬出入室の外部し、かつ、昇降部をカセットの重心直下付近に配置することで、保守作業が容易となり、昇降機構の小型化が図れると共に、搬出入室内の昇降部をベローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断することで、摺動部などの発塵などによる、製品の品質や歩留りの低下を無くすことができるという効果を奏する。
【0098】
本発明の基板の搬送体は、上記カセットは、搭載される各基板を載置支持するために、基板1枚当たりに対して、基板面内に4箇所から6箇所が突出して形成されている基板支持部を有し、前記基板支持部の先端近傍には、前記基板に当接して基板を支持する樹脂から成るピン部が形成されている構成である。
【0099】
このように、上記基板支持部を基板面内方向に突出させ、支持点の距離を小さくすることにより基板の反りが減り、カセット内の基板間隔も小さくして、基板搬送体の小型化も図れるという効果を奏する。さらに、基板の搬送体の軽量小型化は、処理装置における搬出入室の小型化にも繋がる。
【0100】
また、上記基板支持部は4〜6点程度(突出部は特に6箇所程度が好ましい)の凸状突出部とすることで、反り低減とカセットの軽量化とをバランス良く両立させることができる。
【0101】
また、基板との当接部は、テフロンなどの樹脂を用いると、基板に傷をつけることなく、当接する部材も摩耗やかけが少なく、酸性洗浄材などに対する耐薬品性の高いという利点が得られる。
【0102】
さらに、上記搬送体は、前記基板支持部が、基板面内においてなめらかな曲線外縁を持つ山形形状である構成である。
【0103】
基板間隔を最小にし、かつ、板材など加工と組み立てが容易となるように、均一な厚みを有する板材を用い、基板支持部の軽量化と剛性を確保するために片持ち支持構造の基板支持部において応力が均一になるような断面形状を得ることができるという効果を奏する。また、上記基板支持部において、なめらかな曲線外縁とすることで、角部などをなくし、基板との接触時の傷つけや発塵を防止することができる。
【0104】
本発明の電子部品の製造方法は、上述の基板の搬送体を用いて、複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら、上述の基板の処理装置間で搬送し、基板上に上記各処理装置によって処理工程を施すことにより電子部品を製造する構成である。
【0105】
これにより、上述の基板の搬送体、基板の処理装置と同様に、処理装置における搬出入室の小型化が図れるという効果を奏する。
【0106】
また、上記電子部品の製造方法では、前記基板の搬送体内に前記基板を収容したカセットを保持しながら搬送する際、該基板の搬送体の内圧を陽圧とする構成である。
【0107】
これにより、Oリングなどの破損や寿命などにより、搬送体の内と外での気密が破れた場合に、外部の清浄でない空気が入り込むことを防止できる。また、基板取り出し時の大気圧開放や底板開放などの一連の作業性の向上や、時間短縮が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示すものであり、処理装置の概略構成を示す断面図である。
【図2】本発明の一実施形態を示すものであり、処理装置の概略構成を示す平面図である。
【図3】上記処理装置間での基板の搬送に使用されるカセット収容容器の概略構成を示す断面図である。
【図4】上記カセット収容容器内のカセットにおける、基板支持部の形状を示す平面図である。
【図5】上記基板支持部による基板の支持状態を示す説明図である。
【図6】図1の処理装置とは異なる処理装置の概略構成を示すものであり、押出式の移送機構を用いた処理装置の断面図である。
【図7】図1の処理装置とは異なる、搬出入室の構成を示す断面図である。
【図8】図8(a)ないし図8(c)は、図1の処理装置の搬出入室内における、カセット収容容器からカセットを取り出す時の動作を示す説明図である。
【図9】上記処理装置において、搬出入室とロボット室との間での基板の移送を行う移送機構の基板載置部分を示す斜視図である。
【図10】図10(a)ないし図10(c)は、基板を支持する支点位置と、基板の反り状態との関係を模式的に示す説明図である。
【図11】図9に示す移送機構において、基板載置部であるハンド形状を示す断面図である。
【図12】従来の処理装置の概略構成を示す断面図である。
【図13】上記処理装置の概略平面図である。
【図14】上記処理装置のカセット収容容器用ポートを示す断面図である。
【図15】上記処理装置のカセット水平移動機構を示す斜視図である。
【図16】図12とは別の従来の処理装置の概略構成を示す図であり、図16(a)は斜視図、図16(b)は横断面図である。
【符号の説明】
1 処理装置(基板の処理装置)
2 基板
3 処理室
4 ロボット室
5 搬出入室
7 移送機構
8 カセット
10 カセット収容容器(基板の搬送体)
11 底板
12 ポッド蓋(容器本体)
14 基板支持部
15 ピン(ピン部)
17 昇降機構
18 昇降部
19 ガイド部
20 ベローズ
26 ガス導入/排気管(ガス導入/排気手段)
30 ガス排気管(ガス導入/排気手段)
31 基板移送口(取り出し口)
32 ゲートバルブ(開閉手段)
40 移送機構(押出式の移送機構)
41 ピストンシリンダ(移送機構の駆動部)
43 ベローズ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention is applied to a manufacturing process of an electronic component manufactured by performing various processing steps such as thin film formation and pattern formation on a substrate (wafer) such as a semiconductor device, a liquid crystal display device, and an image sensor. In particular, the present invention relates to a substrate processing apparatus, a substrate transport body, and a method of manufacturing an electronic component suitable for processing in a clean room using a large substrate having a diameter of several hundred mm or a few hundred mm square. Is.
[0002]
[Prior art]
In general, electronic components such as a semiconductor device, a liquid crystal display device, and an image sensor are manufactured by performing various processing steps such as thin film formation and pattern formation on a substrate (wafer). In such a manufacturing process of various electronic components, in order to manufacture components in a batch efficiently, many products are manufactured simultaneously on the same substrate, or a large display device is manufactured. In addition, a large substrate is used.
[0003]
In the electronic component manufacturing process as described above, a thin film forming process by a CVD method or a sputtering method, an impurity concentration region forming process by a thermal diffusion method, a pattern forming process of various thin films, etc. Usually, it has many processing steps, and many processing devices are used in these various steps. When manufacturing many products on the same substrate at the same time, the number of products can be increased further. When manufacturing large display devices, etc. Processing devices have been developed and put into practical use year by year or on a daily basis so that even larger substrate sizes can be produced.
[0004]
In addition, tens of thousands of fine patterns on the order of μm are formed in these electronic components, and further higher definition is being pursued in the same manner as the enlargement of the previous substrate. For this reason, when foreign matter and gas which cannot be visually observed are floating during the pattern formation process, these foreign matter and gas cause defects in chemical reaction during pattern formation. Therefore, in conventional manufacturing facilities, the entire process consisting of processing equipment, inspection equipment, transport equipment, etc. is usually placed in a clean room having a cleanliness of class 1 or 10, for example, and various air conditioning management is performed. By doing so, foreign matters and gases in the process are eliminated.
[0005]
However, the construction cost of clean room facilities increases extremely as the cleanliness increases. Also, especially when starting up a new large factory that handles large substrates, troubles related to clean room facilities tend to occur frequently, and it is difficult to manage and maintain cleanliness at key points. Running costs also increase. Furthermore, since the management of dust-proof measures such as dust-proof clothing is increased for the workers in the process, the work environment of the workers themselves is also deteriorated.
[0006]
As measures for improving these problems, for example, there are processing apparatuses described in JP-A-6-196545, JP-A-7-161797, JP-A-7-297257, and the like. In each of these publications, a pot (or a pod or a cassette housing container) including a cassette containing a large number of substrates and a detachable cover portion is used to carry a clean substrate between various processing apparatuses. Thereby, the high cleanliness space of the whole line can be reduced, and the equipment cost can be improved.
[0007]
Here, the structure of the processing apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 7-161797 will be described.
[0008]
As shown in FIGS. 12 and 13, the processing apparatus includes a process tube 101, a load lock chamber 102, a loading / unloading chamber 103, a cassette container port 104, and a holder housing chamber 105. The process tube 101 is a processing chamber that performs a predetermined process on the wafer W that is an object to be processed. The load lock chamber 102 is a chamber for inserting / removing a wafer boat 106 as a holding body containing a large number (for example, 100) of wafers W with respect to the process tube 101, and a transfer mechanism 107 therefor. It has. The loading / unloading chamber 103 is a chamber for loading / unloading the wafer W into / from the load lock chamber 102, and a cassette container port 104 is formed therein. The holder housing chamber 105 is a chamber for housing a wafer boat 106 disposed between the load lock chamber 102 and the carry-in / out chamber 103.
[0009]
The carry-in / out chamber 103 is placed in an air atmosphere by a clean gas introduced through a HEPA (High Efficiency Particulate Air) filter 108. The cassette housing container port 104 is disposed in the loading / unloading chamber 103. The cassette housing container port 104 has a wafer carrier (cassette) for storing a plurality of (for example, 25) wafers W. A cassette container 109 in which C is stored is installed.
[0010]
Here, as shown in FIG. 14, the cassette housing container 109 is of a size that can accommodate one cassette C, and a container body 110 having an opening at the bottom, and a container that closes the opening so as to be hermetically sealed. The bottom part 111 is comprised. The cassette container 109 is filled with high-purity clean air or inert gas that is positive with respect to atmospheric pressure, or is evacuated, with the cassette C housed therein. . For example, a commercially available SMIF-POD (trademark) is used as the cassette housing container 109.
[0011]
On the other hand, the cassette container port 104 is formed such that the side wall of the carry-in / out chamber 103 is recessed into the interior thereof, and the port mounting table 112 on which the container body 110 is actually mounted includes: A cassette insertion hole 113 which is larger than the inner diameter of the flange portion 110A of the container body 110 and smaller than the outer diameter is formed. The insertion hole 113 is provided with a container bottom mounting table 114 that is detachable downwardly from the port mounting table 112 by forming a peripheral edge portion in a downwardly inclined manner so as to be tapered.
[0012]
Further, as shown in FIG. 12, the container bottom portion mounting table 114 protrudes greatly from the ball screw portion 115 to the tip of the vertical moving arm 116 that is movable in the vertical direction (vertical direction) by the ball screw portion 115. It is attached. The ball screw portion 115 is disposed substantially on the side of the container bottom mounting table 114, and only the container bottom 111 and the cassette C placed on the upper surface are submerged, leaving the container main body 110 upward. It is taken into the carry-in / out chamber 103.
[0013]
As shown in FIG. 15, the ball screw portion 115 is provided with a horizontal movement arm 117 composed of an articulated arm which is positioned below the container bottom mounting table 114 and can be bent in the horizontal direction. An arm auxiliary member 117A that can be swung in a loosely fitted state so as to be always in a horizontal state is provided at the tip, and a claw portion 118 that can be opened and closed is provided at both ends. By opening and closing the claw portion 118 with the horizontal movement arm 117 bent, the sinked side wall of the cassette C can be gripped. As shown in FIG. 12, a shutter mechanism 119 is provided at the entrance of the cassette container port 104 to open / close this portion to communicate / block with the work area.
[0014]
Further, a carrier transfer 120 is installed in the carry-in / out chamber 103 at a position immediately behind the cassette housing container port 104 so as to be lifted and lowered via an elevator 121. A transfer stage 122 is installed on the rear side of the carrier transfer 120, and a carrier stock stage 123 is installed above the transfer stage 122. The carrier stock stage 123 is formed of a plurality of shelves that can store the wafer carriers C transferred from the cassette container port 104 by the carrier transfer 120 in the horizontal direction, for example, in two rows and four stages.
[0015]
Further, a wafer transfer 124 is installed on the side of the holding body accommodating chamber 105 of the carry-in / out chamber 103 so as to be movable up and down by a transfer elevator 125. The wafer transfer 124 lifts and lowers the wafer W in the wafer carrier C on the transfer stage 122 one by one, and stores and holds it in the wafer boat 106 accommodated in the holder accommodating chamber 105, or vice versa. In addition, the wafer boat 106 is configured to return the wafer W into the wafer carrier C on the transfer stage 122.
[0016]
Further, an internal HEPA filter 126 is provided in parallel with the carrier stock stage 123, and clean air having high cleanliness introduced from above is bent sequentially in the horizontal direction and the downward direction so that the port HEPA filter 127 is provided. Is passed through the cassette accommodating container port 104, circulated into the room, and exhausted in a one-through manner.
[0017]
In the apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-196545, the processing apparatus 128 includes a carry-in / out chamber 129 as shown in FIGS. In the above apparatus, a container 134 is used in which a wafer cassette 131 for storing a plurality of wafers 130 is placed on a box door 132 and stored in a box (box top or pod) 133. Here, unlike JP-A-7-161797, only the wafer cassette 131 containing the wafer 130 and the box door 132 on which it is placed are brought into the carry-in / out chamber 129.
[0018]
However, in the case of the apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-196545, as in the apparatus disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 7-161797, the apparatus is disposed in the loading / unloading chamber 129 at the side of the raising / lowering portion of the wafer cassette 131. Conveying mechanisms such as an elevating mechanism 135, a pre-processing stage 136 on which the wafer cassette 131 carried into the processing chamber is placed, and a manipulator arm 137 for transporting the wafer cassette 131 to the pre-processing stage 136 are arranged.
[0019]
Further, in the apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-297257, a plurality of cassettes C stored in a cassette storage container are stored in a container storage stage, and the cassette C is loaded into a holding body storage chamber. It is taken out from the cassette container. That is, unlike the apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-161797, in which the cassette C is taken out from the cassette container in the loading / unloading chamber and stored on the carrier stock stage, the space requiring high cleanliness can be reduced accordingly. .
[0020]
As for the support of the substrate in the cassette, for example, when the substrate is used in a liquid crystal display device, if the entire surface is supported, problems such as generation of scratches and dust generation on the substrate occur. In many cases, the shape on the two sides receives about a few tens of millimeters at the end.
[0021]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the manufacturing process of various electronic components such as semiconductor devices and liquid crystal display devices, the manufacturing substrate has been increased in size, and the number of processes and processing devices is large, so a large factory facility. Is becoming necessary. In such facilities, in order to reduce construction, maintenance, maintenance costs, etc., to facilitate the transportation of trucks from equipment manufacturers to factories, and to improve workability such as manufacturing and process management, each process and transfer It is necessary to reduce the size of the mounting device or incidental equipment.
[0022]
However, in the conventional apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-161797 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-297257, it is carried out as a spare chamber for delivering a substrate under a cleanliness degree stable with respect to a load lock chamber or the like. An entrance room is provided, and the space of the carry-in / out room is extremely large such as several tens of times or more the outer peripheral volume of the cassette container (20 times or more in the in-plane direction of the drawing and 2 to 3 times or more in the depth direction of the drawing). Necessary. This is caused by the following problems (1) to (5).
(1) A plurality of cassettes and cassette storage containers are stored in the carry-in / out chamber.
{Circle around (2)} A transfer mechanism for raising and lowering the cassette and the cassette housing container is housed in the carry-in / out chamber.
(3) A lifting mechanism for the cassette or the cassette housing container is formed on the side of the cassette or the cassette housing container in the loading / unloading chamber. When such an operation / sliding part is provided in the carry-in / out chamber, there arises a problem that the quality and yield of the product are easily lowered due to dust generation. In particular, in a liquid crystal display device, a large substrate of several hundred mm square or more is often used. In this case, since the weight including a cassette and the like increases, if a sliding portion is provided with a cantilever structure as shown in FIG. In order to withstand a large moment, the vertical moving arm 116, the horizontal moving arm 117, the ball screw 115 and their bearings have a problem that their size is increased by one time or the life is shortened. Further, if the bearing is in the carry-in / out chamber, the maintenance work time increases, and the operating rate of the apparatus may decrease.
(4) For example, as in the apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 7-161797, in order to stabilize the cleanliness in the carry-in / out chamber, a plurality of (three in the above publication) HEPAs are arranged and their flow rate and A complicated air conditioning adjustment is necessary to adjust the position. Thereby, the arrangement space of HEPA is also required in the carry-in / out chamber.
(5) In particular, a liquid crystal display device uses a large substrate of several hundred mm square or more, and its thickness is as thin as 0.5 to 1.1 mm. Warpage of about several tens of mm occurs. For this reason, in order to prevent interference and cracking at the time of delivery of the substrate, it is necessary to increase the interval between the substrates. However, since the cassette and the cassette housing container become larger and the weight increases, the items (1) to (3) Increase the issues in the section synergistically.
[0023]
As described above, when the volume of the carry-in / out chamber increases, the vacuuming time of the carry-in / out chamber increases and production tact drops, or this is performed using a plurality of HEPAs as disclosed in JP-A-7-161797. There arises a problem that complicated air conditioning adjustment is required. Therefore, in order to reduce the evacuation time so as not to drop the production tact, and to stabilize the cleanliness while eliminating the need for complicated air conditioning adjustment as described above, it is also necessary to deliver the substrate to the load lock chamber etc. It is necessary to make the volume of the spare room, that is, the carry-in / out room as small as possible.
[0024]
In the apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-196545, the problem of item (1) is reduced, but the problems of items (2) to (5) are also present. As described above, a space about 10 times that of the cassette is required in the in-plane direction of FIG.
[0025]
The present invention has been made to solve the above problems, and its purpose is to greatly reduce the volume of the loading / unloading chamber, improve the production tact by reducing the evacuation time, and omit complicated air conditioning adjustment. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus, a substrate transport body, and a substrate processing method.
[0026]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problems, the substrate processing apparatus of the present invention has a transport body that can be transported while holding a cassette containing a plurality of substrates in a clean atmosphere. In the substrate processing apparatus for transferring the substrate in the transported body taken into the processing chamber directly or through a separate chamber to the processing chamber and performing predetermined processing on the substrate in the processing chamber, the loading / unloading chamber and the processing A chamber or a separate chamber is provided between the adjacent chamber adjacent to the carry-in / out chamber, and an entrance / exit for transfer at the time of taking out or taking in the substrate is provided, and the entrance / exit can be opened / closed by an opening / closing means. The carry-in / out chamber has a gas introduction / exhaust hand that allows the indoor atmosphere to be changed by exhausting a room or introducing a gas into the room while the entrance is closed by the opening / closing means. And an elevating mechanism that raises and lowers a cassette that accommodates the substrate from the carried carrier, and the adjacent chamber is provided with a transfer mechanism that transfers the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber. It is characterized by having.
[0027]
Alternatively, in order to solve the above problems, the substrate processing apparatus of the present invention provides a transport body that can be transported while holding a cassette containing a plurality of substrates in a clean atmosphere, through a loading / unloading chamber. In the substrate processing apparatus for transferring the substrate in the transfer body taken into the apparatus to the processing chamber directly or via a separate chamber and performing a predetermined process on the substrate in the processing chamber, the loading / unloading chamber; Between the processing chamber or another chamber and an adjacent chamber adjacent to the carry-in / out chamber, an entrance / exit for transfer when taking out or taking in the substrate is provided, and the entrance / exit can be opened and closed by an opening / closing means. In the carry-in / out chamber, the gas inlet is configured so that the indoor atmosphere can be changed by exhausting the room or introducing the gas into the room with the opening / closing means closed by the opening / closing means. / Exhaust means and an elevating mechanism for raising and lowering a cassette that accommodates the substrate from the carried carrier, and an extruding type for transferring the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber in the carry-in / out chamber. The drive mechanism of the transfer mechanism is hermetically cut off from the carry-in / out chamber space and arranged outside the carry-in / out chamber.
[0028]
According to the above configuration, there is no configuration for storing a plurality of cassettes and transport bodies in the carry-in / out chamber, and the transfer of the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber is also performed by the transfer mechanism arranged on the adjacent chamber side. Alternatively, it is performed by an extrusion-type transfer mechanism in which the drive unit is arranged outside the carry-in / out chamber. In the above-described extrusion type transfer mechanism, when the substrate is transferred, it is merely reciprocated within the arrangement space of the substrate to be transferred, and it is not particularly necessary to provide the drive space in the carry-in / out. Further, in order to hermetically block the drive unit of the above-described push-type transfer mechanism from the carry-in / out indoor space, it is preferable to use, for example, a bellows seal.
[0029]
Therefore, in the carry-in / out chamber, in order to take out the cassette from the transport body, it is sufficient if there is a space for one stroke corresponding to the height of the cassette, and the apparatus can be remarkably reduced to about twice the volume. The adjacent chamber refers to the processing chamber corresponding to the adjacent chamber when the substrate is directly transferred from the loading / unloading chamber to the processing chamber, and the substrate is separated from the loading / unloading chamber (for example, a transfer (robot) chamber, a load lock). In the case of being transferred to the processing chamber via a chamber or the like, the separate chamber corresponds to the adjacent chamber.
[0030]
In this way, by reducing the size of the carry-in / out chamber, large substrates are used in the clean gas-sealed container transport manufacturing process for various electronic components such as semiconductor devices and liquid crystal display devices, and the number of processes and processes are used. Even when the number of apparatuses is large, each processing apparatus can be remarkably reduced in size (less than a fraction of the conventional one), and the factory facilities can be minimized. As a result, factory construction, maintenance and maintenance costs can be reduced. Further, the downsizing of the processing apparatus facilitates transport by a truck or the like when transporting the apparatus itself from the manufacturer of the processing apparatus to the processing factory, thereby improving workability such as manufacturing and process management.
[0031]
In the carry-in / out chamber into which the carrier is taken, the chamber is replaced with clean gas or evacuated by the gas introduction / exhaust means. At this time, the opening / closing means between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber is closed, and the carry-in / out chamber is sealed. Then, after the carry-in / out chamber is replaced with gas or evacuated, the opening / closing means is opened, and the substrate in the cassette is transferred from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber by the transfer mechanism.
[0032]
Here, in the configuration in which the carry-in / out chamber is miniaturized as described above, the evacuation time of the carry-in / out chamber is reduced, so that the manufacturing tact can be suppressed and 3 as in JP-A-7-161797. Cleanliness can be stabilized without complicated air conditioning adjustment such as adjusting the HEPA of the stand, and the quality and yield of the product can be improved.
[0033]
Further, when the substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the processing apparatus sequentially transfers the cassette in the transport body by the lifting mechanism to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance / exit. It is characterized in that the substrate is transferred one by one between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber by the above-mentioned transfer mechanism from a substantially constant horizontal position at the entrance / exit.
[0034]
Conventionally, when a substrate is transferred between a carry-in / out chamber and the adjacent chamber, that is, when a substrate is extracted from a cassette containing a plurality of substrates, a transfer mechanism is set in accordance with the position of the substrate stacked vertically in the cassette. However, according to the above configuration, the cassette itself is sequentially moved to the predetermined position by the lifting mechanism, and the substrates are transferred one by one from the substantially fixed horizontal position by the transport mechanism.
[0035]
Thereby, in the said transfer mechanism, the raising / lowering function like the past becomes unnecessary, and this transfer mechanism can be simplified. The simplification of the transfer mechanism leads to downsizing of an adjacent chamber or the like that accommodates the transfer mechanism, and thus downsizing of the processing apparatus.
[0036]
Further, in the method of transferring substrates one by one from a substantially constant horizontal position, the entrance / exit between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber only needs to be large enough to carry out at least one substrate. Therefore, the configuration of the opening / closing means for opening and closing the opening / closing means can be simplified. As a result, it is possible to reduce the size of the apparatus, shorten the opening / closing time of the entrance / exit, and extend the life of the seal portion.
[0037]
Further, in the processing apparatus, the gas introduction / exhaust means evacuates the carry-in / out chamber after the carrier is carried into the carry-in / out chamber, and the transfer means moves between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber. The substrate delivery is performed in a vacuum atmosphere.
[0038]
In many processing apparatuses such as film formation, the transfer of the substrate between the adjacent chamber and the processing chamber is performed in a vacuum atmosphere, and as described above, the inside / outside chamber is moved by the gas introduction / exhaust means. If the substrate is delivered under a vacuum atmosphere by evacuating and transferring the substrate between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the adjacent chamber may be always maintained in a vacuum state. Thereby, in the said adjacent chamber, introduction of gas etc. become unnecessary and maintenance of atmosphere becomes easy. In addition, since the time for evacuating the adjacent chamber is reduced, manufacturing tact can be suppressed.
[0039]
Further, in the processing apparatus, the gas introduction / exhaust means is configured to carry out the loading / unloading step after the carrier is carried into the carrying-in / out chamber and before the cassette for storing the substrate is taken out from the carrier. The chamber is replaced with clean gas, and the carry-in / out chamber is evacuated at a stage after the cassette for storing the substrate is taken out of the carrier.
[0040]
When taking out the cassette from the carrier in the carry-in / out chamber, the cleanliness in the carry-in / out chamber needs to be high. For this purpose, a method such as replacing the carry-in / out chamber with clean gas or evacuating is conceivable, but since the clean gas is sealed in the carrier, the carrier is carried into the carry-in / out chamber. When the loading / unloading chamber is evacuated in a stage, a pressure difference is generated between the inside and outside of the carrier. Accordingly, in this case, it is necessary for the transport body to have a strength sufficient to withstand this pressure difference, which leads to an increase in weight and cost of the transport body. In addition, if vacuuming is performed directly, a burden may be applied to the vacuum filter, and the cleaning time may increase.
[0041]
On the other hand, according to the above configuration, the carry-in / out chamber is in a clean gas atmosphere before the cassette is taken out from the transport body, and the carry-in / out chamber is inside the stage after the cassette is taken out from the transport body. Since vacuuming is performed, there is no pressure difference between the inside and outside of the carrier as described above. Therefore, it is not necessary for the transport body to have an unnecessarily strong strength, which leads to weight reduction and cost reduction of the transport body. Moreover, the cleaning time can be shortened.
[0042]
Further, in the processing apparatus, an elevating part (for example, an elevating shaft) of the elevating mechanism is provided at a position almost directly below the center of gravity of the substrate or the cassette, and the driving unit and the guide receiving part of the elevating mechanism are It is provided outside the carry-in / out chamber, and the elevating part in the carry-in / out chamber is hermetically shut off from the carry-in / out chamber space by a bellows.
[0043]
As described above, the drive unit of the lifting mechanism is arranged outside the loading / unloading chamber, and the lifting unit is disposed near the center of gravity of the cassette, so that maintenance work is facilitated and the design of the screw part, the shaft part, etc. Since the strength can also be reduced, the lifting mechanism can be downsized. In addition, since the lifting part in the carry-in / out chamber is hermetically cut off from the carry-in / out room space with a bellows, it is possible to eliminate a decrease in product quality and yield due to dust generation in the sliding part.
[0044]
Furthermore, since there is no lifting mechanism at the side of the substrate transport body, the transport path of the transport body can be reduced, and the mechanism of the transfer device can be simplified. For this reason, the design flexibility of the loading / unloading chamber is high. For example, an internal pressure gauge for confirmation or an extrusion-type substrate loading mechanism (transfer mechanism) can be easily attached to the side portion of the substrate transport body, Can be attached, and visual check of substrate abnormalities can be made easily.
[0045]
The substrate carrier of the present invention seals a cassette carrying a plurality of substrates in a sealed space formed by a container body and a bottom plate together with a highly clean dry gas, and performs various processing steps on the substrate. In the substrate transport body that transports between the processing apparatuses during the manufacturing process of the electronic component manufactured by the implementation, the cassette is placed on the basis of one substrate to place and support each mounted substrate. A substrate supporting portion formed so as to protrude from four to six locations in the substrate surface, and a pin portion made of a resin that contacts the substrate and supports the substrate is provided near the tip of the substrate supporting portion. It is characterized by being formed.
[0046]
When supporting a substrate at two points, the maximum deflection of the substrate is proportional to the cube of the distance between the supports and inversely proportional to the cube of the thickness of the substrate in a two-dimensional ideal solution. The amount of warpage increases. For this reason, the substrate support part protrudes in the in-plane direction of the substrate and the distance between the support points is reduced to reduce the warpage of the substrate, which occurs due to interference caused by abnormal vibration or a slight misalignment during the delivery of the substrate. It is possible to reduce defects such as substrate cracking and cracking. In addition, since the warpage of the substrate is reduced, the interval between the substrates in the cassette can be reduced, and the substrate carrier can be downsized. Furthermore, the reduction in weight and size of the substrate transport body also leads to a reduction in the size of the carry-in / out chamber in the processing apparatus.
[0047]
Further, in the substrate support in the cassette, the line support near the two edges and the wide surface (for example, almost the entire surface) support are not preferable because the contact portion with the substrate increases, and the probability of foreign matter adhesion or damage increases. In addition, providing a support portion having a wide range increases the weight of the entire cassette and makes it difficult to receive the substrate. Therefore, the substrate support portion is preferably a convex protrusion having about 4 to 6 points. . In particular, in a large rectangular substrate such as a liquid crystal, about 6 protrusions are preferable in order to achieve a good balance between warpage reduction and cassette weight reduction (in a two-dimensional ideal solution, warping is about 1 / It can be reduced to about 8.)
[0048]
In addition, the substrate support portion is preferably made of aluminum that can ensure rigidity, is relatively lightweight, and can be easily cleaned regularly, and the contact portion with the substrate is also a member that does not damage the substrate. Resins such as Teflon, which are less worn and worn and have high chemical resistance to acidic cleaning materials, are preferred.
[0049]
Further, the carrier is characterized in that the substrate support portion has a mountain shape having a smooth curved outer edge within the substrate surface.
[0050]
In order to ensure weight reduction and rigidity of the substrate support portion, it is preferable to have a cross-sectional shape in which the stress is uniform in the substrate support portion of the cantilever support structure, but this minimizes the substrate interval, and In order to realize a plate material having a uniform thickness so as to facilitate processing and assembly such as a plate material, it is preferable that the substrate support portion has a chevron shape. Further, it is preferable that the substrate support portion has a smooth curved outer edge in order to eliminate corners and the like and prevent damage and dust generation when contacting the substrate.
[0051]
The method of manufacturing an electronic component according to the present invention uses the above-described substrate transport body to transport between the above-described substrate processing apparatuses while holding a cassette containing a plurality of substrates in a highly clean atmosphere. An electronic component is manufactured by performing a processing step on the substrate by the above processing devices.
[0052]
Accordingly, the carry-in / out chamber in the processing apparatus can be reduced in size as in the case of the substrate transport body and the substrate processing apparatus described above.
[0053]
The electronic component manufacturing method is characterized in that when the cassette containing the substrate is held in the substrate transport body, the internal pressure of the substrate transport body is positive.
[0054]
The inside of the transport body may basically be a vacuum pressure as long as it is a clean gas. However, if the internal pressure of the transport body is smaller than the surrounding pressure (atmospheric pressure), the O-ring or the like may be damaged Therefore, when the airtightness inside and outside the transport body is broken, there is a possibility that outside unclean air may enter, so it is preferable to set the internal pressure of the transport body of the substrate to a positive pressure. Further, for a series of workability and time reduction such as release of the atmospheric pressure and opening of the bottom plate at the time of taking out the substrate, it is preferable to make the pressure slightly higher than the atmospheric pressure.
[0055]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 11 as follows.
[0056]
A schematic configuration of a substrate processing apparatus according to the present embodiment is shown in FIGS. The processing apparatus 1 performs single or continuous processing on a substrate as an object to be processed. The processing content includes thin film formation such as sputtering and CVD, inspection, resist coating, exposure, and patterning. Any of pattern formation, heating, drying, washing, ion implantation and the like may be used.
[0057]
As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 includes a processing chamber 3 that performs a predetermined process on a substrate 2 that is an object to be processed, and a transfer mechanism 7 that inserts and removes the substrate 2 from the processing chamber 3 (see FIG. 1). 2) and a loading / unloading chamber 5 for loading / unloading a plurality of substrates 2 accommodated in the cassette 8 with respect to the robot chamber 4. Adjacent room.
[0058]
Further, the processing chamber 3, the robot chamber 4, and the carry-in / out chamber 5 do not have to be provided one by one for one processing apparatus 1. For example, as shown in FIG. The configuration may be such that the robot room 4 is shared with the entrance room 5. In addition, a temperature raising chamber 6 for raising the temperature of the substrate 2 in advance may be provided before the substrate 2 is processed in the processing chamber 3. The processing chamber 3, the robot chamber 4, the loading / unloading chamber 5, and the temperature raising chamber 6 can be individually evacuated. Further, the processing chamber 3 and the carry-in / out chamber 5 are connected to each other, and the substrate may be directly transferred from the carry-in / out chamber 5 to the processing chamber 3. In this case, the processing chamber 3 is loaded into the carry-in / out chamber 5. Adjacent room.
[0059]
In the carry-in / out chamber 5, a cassette housing container 10 is carried in as a substrate carrier for housing the cassette 8. As shown in FIG. 3, the cassette housing container 10 includes a cassette 8 housed therein, a bottom plate 11, and a pod lid (container body) 12. The cassette 8 placed on the bottom plate 11 is placed by the pod lid 12. It is a covering structure. An O-ring 13 is provided between the bottom plate 11 and the pod lid 12 in order to seal the internal space of the cassette housing container 10. The cassette housing container 10 is filled with an inert gas having a high degree of cleanliness at a slightly higher pressure than atmospheric pressure. The cassette 8, the bottom plate 11, and the pod lid 12 are made of, for example, aluminum in order to reduce the weight of the cassette housing container 10.
[0060]
The inside of the cassette housing container 10 may basically be a vacuum pressure as long as it is a clean gas, but when the internal pressure of the cassette housing container 10 is smaller than the surrounding pressure (atmospheric pressure), O When the airtightness inside and outside the cassette housing container 10 is broken due to damage or the life of the ring 13 or the like, there is a possibility that unclean air outside may enter. For this reason, it is preferable that the internal pressure of the cassette container 10 is a positive pressure. Further, in order to reduce a series of workability and time, such as opening the atmospheric pressure when the substrate 2 is taken out and opening the bottom plate 11, it is preferable that the internal pressure of the cassette housing container 10 is slightly positive from the atmospheric pressure.
[0061]
As shown in FIG. 4, the cassette 8 is provided with a substrate support portion 14 having a thickness of about 3 mm and a smooth mountain shape, for example, made of aluminum, for receiving the substrate 2 to be accommodated. . The substrate support portion 14 is provided so as to protrude in the in-plane direction of the substrate 2 supported thereby (6 locations in the figure), and is in contact with the substrate 2 in the vicinity of the tip of the protrusion. The pin (pin part) 15 to be supported is formed of, for example, Teflon resin. For example, when the size of the substrate 2 is 1.1 mm in thickness, 550 mm in width, and 650 mm in length, as shown in FIG. By receiving the position with the pin 15 and further pressing the end of the substrate 2 with the roller 16, the warpage of the substrate 2 can be suppressed to about 10 mm or less. Thus, in the cassette 8, the vertical interval between the substrates 2 is set to about 30 mm, and 20 substrates 2 are accommodated in the cassette 8 with this gap.
[0062]
That is, when two-point support of the substrate 2 is performed, in the two-dimensional ideal solution, the maximum deflection of the substrate is proportional to the cube of the distance between the supports and inversely proportional to the cube of the thickness of the substrate, so that the substrate 2 is large or thin. The amount of warpage increases extremely. For this reason, the warp of the substrate 2 is reduced by projecting the substrate support portion 14 in the in-plane direction of the substrate and reducing the distance between the support points, and interference due to abnormal vibration or a slight misalignment during the delivery of the substrate 2 or the like. Defects such as substrate cracks and cracks that occur in the process can be reduced. Further, since the warpage of the substrate 2 is reduced, the interval between the substrates in the cassette 8 can be reduced, and the cassette container 10 can be downsized. Furthermore, the lighter and smaller size of the cassette container 10 has the advantage that it leads to a smaller size of the carry-in / out chamber 5 in the processing apparatus 1.
[0063]
Further, in the substrate support in the cassette 8, the line support in the vicinity of the two edges and the wide surface (for example, almost the entire surface) support increase the contact portion with the substrate 2 and increase the probability of foreign matter adhesion or damage. The overall weight of the cassette 8 increases, and it becomes difficult to receive the substrate 2 or the like. Therefore, it is preferable that the substrate support portion 14 is a convex protrusion having about 4 to 6 points. In particular, in the case of a large rectangular substrate such as a liquid crystal, the number of substrate support portions 14 is preferably about six in order to achieve both a reduction in warpage and a reduction in weight of the cassette in a balanced manner. It can be reduced to about 1/8.)
[0064]
Further, the substrate support portion 14 is preferably made of aluminum that can ensure rigidity, is relatively lightweight, and can be easily cleaned regularly, and the pin 15 serving as a contact portion with the substrate 2 damages the substrate 2. In addition, a resin such as Teflon, which is less worn and applied to the abutting pin 15 itself and has high chemical resistance against an acidic cleaning material or the like, is preferable.
[0065]
The reason why the substrate support portion 14 is formed in a chevron shape is as follows. That is, in order to ensure the weight reduction and rigidity of the substrate support portion 14, it is preferable to have a cross-sectional shape in which the stress is uniform in the substrate support portion 14 of the cantilever support structure. In addition, in order to realize a plate material having a uniform thickness so that processing and assembly such as a plate material can be easily performed, it is preferable that the substrate support portion 14 has a chevron shape. Moreover, in the said board | substrate support part 14, in order to eliminate a corner | angular part etc. and to prevent the damage and dust generation at the time of the contact with the board | substrate 2, it is preferable to set it as a smooth curve outer edge.
[0066]
As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 has an elevating mechanism 17 for elevating and lowering a cassette 8 storing a plurality of substrates 2 in a cassette receiving container 10 carried into a carry-in / out chamber 5. An elevating part (shaft) 18 of the elevating mechanism 17 is provided almost directly below the center of gravity of the substrate 2 or the cassette 8, and a guide part (sliding part) 19 of the elevating mechanism 17 and a driving part (not shown) are the carry-in / out chamber. 5 is provided outside. In the carry-in / out chamber 5, the elevating part 18 is surrounded by a bellows 20 and is isolated from the carry-in / out chamber 5.
[0067]
Thus, the volume of the loading / unloading chamber 5 can be increased by arranging the guide portion 19 and the driving unit of the lifting mechanism 17 outside the loading / unloading chamber 5 as compared with the conventional configuration in which the entire lifting mechanism is disposed in the loading / unloading chamber 5. It can be greatly reduced. More specifically, the carry-in / out chamber 5 can be downsized so that it is about twice the outer peripheral volume of the cassette 8 and at most about three times or less. Further, the elevating part 18 in the carry-in / out chamber 5 is hermetically cut off from the space in the carry-in / out room 5 by the bellows 20, so that the product quality and the yield can be eliminated due to dust generation of the guide part 19.
[0068]
In the lifting mechanism 17, the lifting portion 18 of the lifting mechanism 17 is provided almost directly below the substrate 2 or the cassette 8. This is because the cassette 8 is lifted and lowered by the lifting mechanism 17 having a simple configuration. It is. That is, when the lifting mechanism is disposed on the side of the cassette 8 and the cassette 8 is held by the cantilever structure, it is necessary to increase the size of the shaft, the bearing and the like so as to withstand a large moment due to the weight of the cassette 8. However, if the elevating part is disposed below the center of gravity of the cassette 8, the moment does not act on the shaft, so that the elevating mechanism can be miniaturized.
[0069]
Further, since the lifting mechanism 17 does not exist at the side of the cassette container 10, the carry-in route of the cassette container 10 can be reduced, and the mechanism of the transfer device can be simplified. For this reason, the degree of freedom of design of the carry-in / out chamber 5 is also high. For example, an internal pressure gauge for confirmation, a viewing window of the substrate 2 and an extrusion-type substrate carry-in mechanism can be easily attached to the side portion of the cassette container 10, Visual confirmation is also possible.
[0070]
The push-out type substrate carrying-in mechanism is not a robot arm type transfer mechanism 7 as shown in FIG. 2, but a transfer mechanism 40 as shown in FIG. The transfer mechanism 40 is constituted by a piston cylinder 41 as a driving source and an arm 42 that is driven to reciprocate by the piston cylinder 41. The substrate 2 in the cassette 8 is pushed by the arm 42 toward the robot chamber 4 side. Transport. For this reason, the transfer mechanism 40 is not the robot chamber 4 side, but an adjacent chamber on the side of the carry-in / out chamber 5 (the robot arm does not use the robot arm type transfer mechanism 7 as shown in FIG. However, the transfer mechanism 40 is only reciprocated in the arrangement space in the cassette 8 of the substrate 2 to be transferred, and the drive space in the loading / unloading chamber 5 is disposed. There is no need to provide. Therefore, even if the transfer mechanism 40 is disposed on the carry-in / out chamber 5 side, the space in the carry-in / out chamber 5 is not increased. The piston cylinder 41 as a drive source of the transfer mechanism 40 is disposed outside the carry-in / out chamber 5 and is sealed off from the space in the carry-in / out chamber 5 by a bellows 43. As a result, an increase in the space of the carry-in / out chamber 5 can be prevented, and a decrease in product quality and yield due to dust generation at the sliding portion of the piston can be eliminated. Further, in the configuration using the transfer mechanism 40, it is preferable to provide the substrate support roller 44 in the substrate transfer path between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4.
[0071]
However, in this invention, it is not limited to the structure which arrange | positions the said raising / lowering part under the gravity center of the cassette 8, As shown in FIG. 7, the raising / lowering mechanism 21 arrange | positioned at the side of the cassette 8 is used. Also good. In this case, since the size of the lifting mechanism 21 cannot be avoided if a simple cantilever structure is used, it is preferable to provide a guide lot 23 under the stage 22 that holds the cassette 8.
[0072]
Next, in the processing apparatus 1 according to the present embodiment, a method for delivering the substrate 2 from the loading / unloading chamber 5 to the robot chamber 4 will be described with reference to FIGS. 8 (a) to 8 (c).
[0073]
First, as shown in FIG. 8A, the loading door 24 of the loading / unloading chamber 5 of the processing apparatus 1 is opened in order to load the cassette container 10. Then, the cassette housing container 10 containing the cassette 8 on which the plurality of substrates 2 are mounted is placed on the stage 25 formed on the upper surface of the lifting mechanism 17. At this time, the cassette accommodating container 10 accommodates the cassette 8 in a space formed by the pod lid 12 and the bottom plate 11 in a sealed state with dry air having a high cleanliness. The inside of the carry-in / out chamber 5 is an air atmosphere.
[0074]
Next, as shown in FIG. 8 (b), the carry-in door 24 is closed, and a clean N slightly positive pressure from the gas introduction / exhaust pipe 26 at the lower part of the carry-in / out chamber 5. 2 An inert gas such as is filled below the cassette housing container 10 to replace the atmosphere in the carry-in / out chamber 5. Thereafter, by driving the lifting mechanism 17 and lowering the stage 25, the bottom plate 11 and the cassette 8 of the cassette container 10 placed on the stage 25 are slightly lowered. At this time, the bottom 27 of the pod lid 12 of the cassette container 10 is in contact with the side wall protrusion 28 in the carry-in / out chamber 5 via an O-ring 29 (see FIG. 1). As a result, the abutting portion acts as a vacuum seal, so that the outside and the inside of the pod lid 12 are blocked, and the atmosphere at the top and sides of the pod lid 12 does not enter the cassette housing container 10. Therefore, it is possible to reduce the time for evacuation and the like by reducing foreign matters from entering the inner surface and the lower surface of the pod lid 12 from the upper surface of the pod lid 12 exposed to the low clean air. In the processing apparatus 1 shown in FIG. 2, the cassette 8 is taken out from the cassette housing container 10 in the same procedure as described above after the cassette 8 is loaded into the loading / unloading chamber 5 together with the cassette housing container 10. In the same figure, illustration of the cassette housing container 10 is omitted.
[0075]
Thereafter, as shown in FIG. 8C, the upper and lower regions of the loading / unloading chamber 5 by the gas introduction / exhaust pipe 26 and the gas exhaust pipe 30 as the gas introduction / exhaust means, that is, the outer and inner areas of the pod lid 12. Are evacuated and exhausted simultaneously. At this time, if the seal between the bottom 27 of the pod lid 12 and the side wall protruding portion 28 in the carry-in / out chamber 5 is perfect, it is sufficient to evacuate only the inner region, but the inner region and the outer region are simultaneously removed. By evacuating, the stage 25 is exposed to the atmosphere during the process due to the exhaustion of the seal and the like, and the intrusion of ash dust into the internal area of the carry-in / out chamber 5 is reduced. Then, after opening a gate valve (opening / closing means) 32 for opening and closing a substrate transfer port 31 which is a substrate take-out port between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4, the transfer mechanism 7 disposed on the robot chamber 4 side is used. The substrate 2 accommodated in the cassette 8 is transferred to the robot chamber 4 one by one by a certain robot. Each time a single substrate 2 is transferred, the elevating mechanism 17 lowers the cassette 8 sequentially so that the next-stage substrate 2 comes to the side of the substrate transfer port 27. The substrate 2 that has been processed is returned to the cassette 8.
[0076]
The delivery of the substrate 2 between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4 includes an operation of extracting each substrate 2 from the cassette 8 containing a plurality of substrates 2. At this time, conventionally, it has been necessary to raise and lower the transfer mechanism in accordance with the position of the substrate stacked vertically in the cassette. On the other hand, in the processing apparatus 1 according to the present embodiment, the cassette 8 itself is sequentially lowered to a predetermined position (that is, a position where the substrate 2 to be taken out opposes the take-out port 31) by the elevating mechanism 17, and the substantially constant horizontal Since the substrate 2 is transferred one by one from the position by the transfer mechanism 7, the transfer mechanism 7 does not require a conventional lifting function, and the transfer mechanism 7 can be simplified. The simplification of the transfer mechanism 7 leads to a reduction in the size of the robot chamber 4 that accommodates the transfer mechanism 7 and, in turn, a reduction in the size of the processing apparatus 1.
[0077]
Further, as described above, in the method of transferring the substrates 2 one by one from a substantially constant horizontal position, the substrate transfer port 31 between the carry-in / out chamber 5 and the robot chamber 4 can carry out at least one substrate 2. Since the substrate transfer port 31 can be made small as long as it has a size, the configuration of the gate valve 32 can be simplified.
[0078]
In the process shown in FIG. 8B, the reason why the atmosphere in the carry-in / out chamber 5 is replaced with an inert gas is as follows. That is, when the cassette 8 is taken out from the cassette storage container 10 in the carry-in / out chamber 5, the inside of the carry-in / out chamber 5 is replaced with a clean gas or a vacuum in order to increase the cleanliness in the carry-in / out chamber 5. It is necessary to pull. However, since the inside of the cassette housing container 10 is filled with an inert gas having a high cleanliness in a positive pressure state as described above, at the stage when the cassette housing container 10 is carried into the carry-in / out chamber 5. When the carry-in / out chamber 5 is evacuated, a pressure difference is generated inside and outside the cassette housing container 10. Therefore, in this case, the cassette housing container 10 needs to have a strength that can withstand this pressure difference, which leads to an increase in weight and cost of the cassette housing container 10.
[0079]
On the other hand, if only the inside of the carry-in / out chamber 5 is replaced with a clean inert gas at the stage before the cassette 8 is taken out from the cassette container 10, the inside and outside of the cassette container 10 as described above can be used. The pressure difference does not occur and the above problem can be avoided. In addition, there is a merit that the time required for maintenance can be reduced by reducing the burden on the vacuum filter and extending the service life.
[0080]
Further, in the process shown in FIG. 8C, the reason for evacuating the inside of the carry-in / out chamber 5 after the cassette 8 is taken out from the cassette container 10 is as follows. That is, by evacuating the inside of the loading / unloading chamber 5 as described above, the transfer of the substrate 2 between the loading / unloading chamber 5 and the robot chamber 4 is performed in a vacuum atmosphere. Further, since the transfer of the substrate 2 between the robot chamber 4 and the processing chamber 3 is normally performed in a vacuum atmosphere, the transfer of the substrate 2 between the loading / unloading chamber 5 and the robot chamber 4 is also performed in a vacuum atmosphere. By doing so, the robot chamber 4 is always maintained in a vacuum state.
[0081]
In this case, in the robot chamber 4, it is not necessary to introduce gas or the like, and only the gas exhaust means need be provided. Therefore, the configuration for maintaining the atmosphere of the robot chamber 4 can be simplified. Further, in the robot chamber 4, evacuation time or the like for shifting from the gas introduction state to the vacuum state becomes unnecessary, so that the manufacturing tact can be suppressed.
[0082]
As shown in FIG. 9, the transfer mechanism 7 is formed with a hand 34 for placing and transporting the substrate 2 at the tip of the robot arm 33. The hand 34 is substantially U-shaped, and when the substrate 2 is transported, the substrate 2 is placed on the two arm portions and transported. At this time, the arm portion of the hand 34 is remarkably reduced in warpage due to supporting the inside of the substrate 2 than in the case where the cassette 2 supports the substrate 2 at the peripheral edge. That is, as shown in FIG. 10A, the support of the peripheral portion of the substrate 2 in the cassette 8 is such that the two fulcrums support near the ends, so that the bending moment due to its own weight is concentrated between the fulcrums and the amount of bending of the substrate 2 (Warpage) increases. On the other hand, when the substrate 2 is supported by the hand 34 of the transfer mechanism 7, as shown in FIG. 10B, since the fulcrum is located from the center of the substrate 2, the bending moment generated between the fulcrums, Since the bending moment generated outside the fulcrum is opposite to each other and the warpage of the substrate 2 is canceled out, the warpage hardly occurs. Further, as shown in FIG. 9, it is possible to further reduce the warpage of the substrate 2 by providing a suction pad 35 on the surface of the substrate 34 of the hand 34 of the transfer mechanism 7 and sucking the substrate 2. That is, in this case, as shown in FIG. 10C, the substrate 2 is attracted to the substrate mounting surface, so that the contact surface of the substrate 2 with the substrate mounting surface is kept horizontal. The warpage of the is further reduced.
[0083]
Furthermore, when the substrate 2 is accommodated in the cassette 8, as described in FIG. 4, the end of the substrate 2 is pressed by the roller 16, so that the roller 16 becomes an obstacle when the substrate 2 is inserted and removed. It can be. Therefore, as shown in FIG. 11, by providing the step portion 36 in the hand 34 of the transfer mechanism 7, more stable conveyance is possible. That is, if the substrate 2 is simply placed on the hand 34 of the transfer mechanism 7, if there is an obstacle in the transport direction of the substrate 2, slippage may occur between the hand 34 and the substrate 2, and transport may become unstable. However, if the substrate 2 is caught on the stepped portion 36 of the hand 34 and conveyed, the above-described slip does not occur. Further, the same effect can be obtained even when the substrate 2 is conveyed while being attracted to the hand 34 by the suction pad 35 as shown in FIG. 8, but the resistance of the roller 16 is reduced particularly when the substrate 2 is inserted into the cassette 8. Therefore, the transfer by the stepped portion 36 is less likely to slip and can be stably transferred. Furthermore, since the warping state of the substrate 2 is different between the transfer of the substrate 2 by the hand 34 and the accommodation of the substrate 2 in the cassette 8, the substrate 2 is accommodated in the cassette 8 in the shape of the substrate 2 being transferred. It is preferable to provide a guide for correcting the shape.
[0084]
In the above description, the configuration in which one cassette container 10 is carried in the carry-in / out chamber 5 has been described. However, the n cassette-containing containers 10 are placed horizontally in the carry-in / out chamber 5 and the like. Per volume of the substrate 2 so that the volume is (2n + α) times the volume per cassette storage container 10 (minimum of 2n, α depends on the number of gate valves and transfer space). Substrate uptake time such as evacuation may be reduced.
[0085]
【The invention's effect】
In the substrate processing apparatus of the present invention, as described above, an inlet / outlet is provided between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber for transferring when the substrate is taken out or taken in, and the inlet / outlet is opened and closed by an opening / closing means. And a gas introduction / exhaust means capable of changing the indoor atmosphere by exhausting a room gas or introducing a gas into the room with the opening / closing means closed by the opening / closing means, And a lifting mechanism that lifts and lowers a cassette that accommodates the substrate from the transported body, and the adjacent chamber includes a transfer mechanism that transports the substrate from the loading / unloading chamber to the adjacent chamber. It is a configuration.
[0086]
Alternatively, in the substrate processing apparatus of the present invention, as described above, an entrance / exit is provided between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber for transferring when the substrate is taken out or taken in, and the entrance / exit is open / close means. The gas introduction / exhaust means that can be opened and closed by the gas inlet / outlet chamber and the indoor atmosphere can be changed by introducing gas into the room or by introducing the gas into the room in a state where the inlet / outlet is closed by the opening / closing means. And an elevating mechanism that raises and lowers a cassette that accommodates a substrate from the carried carrier, and the carry-in / out chamber has an extrusion-type transfer mechanism that transfers the substrate from the carry-in / out chamber to an adjacent chamber. And the drive unit of the transfer mechanism is hermetically cut off from the carry-in / out chamber space and arranged outside the carry-in / out chamber.
[0087]
Therefore, in the carry-in / out chamber, the transfer of the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber is performed by a transfer mechanism arranged on the adjacent chamber side or an extrusion-type transfer mechanism in which the drive unit is arranged outside the carry-in / out chamber. In the loading / unloading chamber, it is sufficient to have a space for one stroke corresponding to the height of the cassette in order to take out the cassette from the transport body, and the apparatus can be remarkably reduced to about twice the volume of the cassette. it can. In this way, by reducing the size of the carry-in / out chamber, each processing apparatus can be remarkably reduced in size (less than a fraction of the conventional one), and factory facilities can be minimized. As a result, the construction, maintenance and maintenance costs of the factory can be suppressed, and workability such as manufacturing and process management can be improved.
[0088]
Further, in the configuration in which the carry-in / out chamber is downsized as described above, the vacuuming time of the carry-in / out chamber is reduced, so that the manufacturing tact can be suppressed and the cleanliness can be stabilized without complicated air conditioning adjustment. It is possible to improve the quality and yield of the product.
[0089]
Further, when the substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the processing apparatus sequentially transfers the cassette in the transport body by the lifting mechanism to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance / exit. In this configuration, the substrates are moved one by one from the substantially fixed horizontal position at the entrance / exit to the adjacent chambers by the transfer mechanism.
[0090]
As a result, the transfer mechanism does not require a lifting / lowering function for lifting / lowering the transfer mechanism in accordance with the position of the substrate stacked in the vertical direction in a conventional cassette, and the transfer mechanism can be simplified. it can. Due to the simplification of the transfer mechanism, there is an effect that it is possible to reduce the size of the adjacent chamber that accommodates the transfer mechanism, and hence the size of the processing apparatus.
[0091]
Further, in such a method of transferring substrates one by one from a substantially constant horizontal position, the take-out port between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber can be made small, so that the configuration of the opening / closing means for opening and closing the substrate can be simplified. Also has the effect of.
[0092]
Further, in the processing apparatus, the gas introduction / exhaust means evacuates the carry-in / out chamber after the carrier is carried into the carry-in / out chamber, and the transfer means moves between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber. The substrate is transferred in a vacuum atmosphere.
[0093]
Usually, since the substrate transfer between the adjacent chamber and the processing chamber is performed in a vacuum atmosphere, the substrate transfer between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber is also performed in a vacuum atmosphere. The adjacent chambers may be always maintained in a vacuum state. Thereby, in the adjacent chamber, it is easy to maintain the atmosphere, and the time for evacuation of the adjacent chamber is reduced, so that the manufacturing tact can be suppressed.
[0094]
Further, in the processing apparatus, the gas introduction / exhaust means is configured to carry out the loading / unloading step after the carrier is carried into the carrying-in / out chamber and before the cassette for storing the substrate is taken out from the carrier. The chamber is replaced with clean gas, and the inside of the carry-in / out chamber is evacuated at a stage after the cassette for storing the substrate is taken out from the carrier.
[0095]
In the stage before the cassette is taken out from the carrier, the carry-in / out chamber is a clean gas atmosphere, and in the stage after the cassette is taken out from the carrier, the carry-in / out chamber is evacuated. There is no pressure difference inside and outside the body. Therefore, it is not necessary to give the transport body strength more than necessary, and the transport body can be reduced in weight and cost.
[0096]
Further, in the above processing apparatus, the elevating unit (for example, the elevating shaft) of the elevating mechanism is provided at a position almost directly below the center of gravity of the substrate or the cassette, and the driving unit and the guide receiving unit of the elevating mechanism are Provided outside the carry-in / out chamber, the elevating part in the carry-in / out chamber is configured to be hermetically sealed from the carry-in / out chamber space by a bellows.
[0097]
As described above, by arranging the drive unit of the lifting mechanism outside the loading / unloading chamber and placing the lifting unit near the center of gravity of the cassette, maintenance work is facilitated, the lifting mechanism can be downsized, and By sealing and closing the elevating part in the entrance room from the carry-in / out interior space with a bellows, there is an effect that it is possible to eliminate a decrease in product quality and yield due to dust generation of the sliding part and the like.
[0098]
In the substrate transport body of the present invention, the cassette is formed so that four to six portions protrude from the substrate surface with respect to each substrate to mount and support each substrate to be mounted. A substrate support portion is provided, and a pin portion made of a resin that contacts the substrate and supports the substrate is formed in the vicinity of the tip of the substrate support portion.
[0099]
As described above, by projecting the substrate support portion in the in-plane direction of the substrate and reducing the distance between the support points, the warpage of the substrate is reduced, the substrate interval in the cassette is also reduced, and the substrate transport body can be reduced in size. There is an effect. Furthermore, the reduction in weight and size of the substrate transport body also leads to a reduction in the size of the carry-in / out chamber in the processing apparatus.
[0100]
Moreover, the said board | substrate support part can make the curvature reduction and weight reduction of a cassette balance in balance by making it the convex protrusion part of about 4-6 points | pieces (a protrusion part has especially preferable about six places).
[0101]
In addition, when a resin such as Teflon is used for the contact portion with the substrate, there is an advantage that the member to be contacted is less worn or worn without damaging the substrate and has high chemical resistance against acidic cleaning materials. It is done.
[0102]
Further, the transport body has a configuration in which the substrate support portion has a chevron shape having a smooth curved outer edge in the substrate surface.
[0103]
A substrate support part with a cantilever support structure using a plate material having a uniform thickness so as to facilitate the processing and assembly of the board material, etc., in order to minimize the board interval and to ensure the weight and rigidity of the substrate support part. It is possible to obtain a cross-sectional shape with uniform stress. In addition, by providing a smooth curved outer edge in the substrate support portion, corner portions and the like can be eliminated, and damage and dust generation during contact with the substrate can be prevented.
[0104]
The method of manufacturing an electronic component according to the present invention uses the above-described substrate transport body to transport between the above-described substrate processing apparatuses while holding a cassette containing a plurality of substrates in a highly clean atmosphere. The electronic component is manufactured by performing the processing steps on the substrate by the above processing apparatuses.
[0105]
This brings about an effect that the carry-in / out chamber in the processing apparatus can be miniaturized in the same manner as the substrate transport body and the substrate processing apparatus described above.
[0106]
In the electronic component manufacturing method, the internal pressure of the substrate transport body is set to a positive pressure when transporting while holding the cassette containing the substrate in the substrate transport body.
[0107]
Thereby, when the airtightness inside and outside of the transport body is broken due to breakage or life of the O-ring or the like, it is possible to prevent the outside clean air from entering. In addition, a series of workability improvements such as release of the atmospheric pressure and release of the bottom plate when the substrate is taken out can be achieved, and the time can be shortened.
[Brief description of the drawings]
1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2, showing an embodiment of the present invention, is a plan view showing a schematic configuration of a processing apparatus.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a cassette container used for transporting a substrate between the processing apparatuses.
FIG. 4 is a plan view showing a shape of a substrate support portion in a cassette in the cassette housing container.
FIG. 5 is an explanatory view showing a support state of a substrate by the substrate support portion.
6 shows a schematic configuration of a processing apparatus different from the processing apparatus of FIG. 1, and is a cross-sectional view of a processing apparatus using an extrusion-type transfer mechanism.
7 is a cross-sectional view showing a structure of a carry-in / out chamber different from the processing apparatus of FIG.
8 (a) to 8 (c) are explanatory views showing an operation when the cassette is taken out from the cassette storage container in the carry-in / out chamber of the processing apparatus of FIG.
FIG. 9 is a perspective view showing a substrate placement portion of a transfer mechanism for transferring a substrate between a carry-in / out chamber and a robot chamber in the processing apparatus.
FIGS. 10A to 10C are explanatory views schematically showing a relationship between a fulcrum position for supporting a substrate and a warped state of the substrate.
11 is a cross-sectional view showing a hand shape as a substrate mounting portion in the transfer mechanism shown in FIG.
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a conventional processing apparatus.
FIG. 13 is a schematic plan view of the processing apparatus.
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a cassette container port of the processing apparatus.
FIG. 15 is a perspective view showing a cassette horizontal movement mechanism of the processing apparatus.
16A and 16B are diagrams showing a schematic configuration of a conventional processing apparatus different from FIG. 12, in which FIG. 16A is a perspective view, and FIG. 16B is a cross-sectional view.
[Explanation of symbols]
1. Processing equipment (substrate processing equipment)
2 Substrate
3 treatment room
4 Robot room
5 carry-in / out room
7 Transfer mechanism
8 cassettes
10 Cassette container (substrate carrier)
11 Bottom plate
12 Pod lid (container body)
14 Substrate support
15 pin (pin part)
17 Lifting mechanism
18 Lifting part
19 Guide section
20 Bellows
26 Gas introduction / exhaust pipe (gas introduction / exhaust means)
30 Gas exhaust pipe (gas introduction / exhaust means)
31 Substrate transfer port (extraction port)
32 Gate valve (opening / closing means)
40 Transfer mechanism (extrusion type transfer mechanism)
41 Piston cylinder (driving mechanism drive)
43 Bellows

Claims (6)

複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基板の処理装置において、
上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、
上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れまたは取り出しする昇降機構とが備えられ、
上記隣接室には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する移送機構が備えられ、
上記搬出入室と上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動させ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送機構によって基板を1枚ずつ搬出入室と隣接室との間で移送するようになっており、
上記搬送体は、容器状の蓋部と、この蓋部に対して着脱可能であり、上記カセットが載置される底板とにより内部を密閉可能であり、上記搬出入室の側壁部内面には側壁突出部が形成され、この側壁突出部上には上記搬出入室に内部空間が密閉された状態にて取り込まれた搬送体の上記蓋部が載置され、この蓋部と上記側壁突出部との当接部分が真空シールとなって、上記搬出入室における上記蓋部上の領域である第1室と上記蓋部下の領域である第2室とが遮断され、前記ガス導入/排気手段が第1室と第2室とに設けられていることを特徴とする基板の処理装置。
A transport body that can be transported while holding a cassette containing a plurality of substrates in a clean atmosphere is taken into the apparatus through the carry-in / out chamber, and the captured substrate in the transport body is directly or via a separate chamber. In a substrate processing apparatus that transfers to a processing chamber and performs predetermined processing on the substrate in the processing chamber,
Between the carry-in / out chamber and the processing chamber or a separate chamber adjacent to the carry-in / out chamber, an entrance / exit for transferring the substrate when it is taken out or taken in is provided. It can be opened and closed,
In the carry-in / out chamber, the gas introduction / exhaust means that can change the indoor atmosphere by gas exhaust in the room or gas introduction into the room with the opening / closing means closed by the opening / closing means, and the carried-in transport A lifting mechanism that lifts and lowers a cassette that accommodates a substrate from the body and takes in or out,
The adjacent chamber is provided with a transfer mechanism for transferring the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber,
When the substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the cassette in the transport body is sequentially moved to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance / exit by the elevating mechanism. The substrate is transferred one by one between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber by the transfer mechanism from a certain horizontal position ,
The carrier is detachable from the container-like lid and the bottom plate, and the inside can be hermetically sealed by the bottom plate on which the cassette is placed. A protruding portion is formed, and the lid portion of the transport body taken in a state in which the internal space is sealed in the carry-in / out chamber is placed on the side wall protruding portion, and the lid portion and the side wall protruding portion are The contact portion becomes a vacuum seal, the first chamber, which is the region above the lid portion in the carry-in / out chamber, and the second chamber, which is the region below the lid portion, are blocked, and the gas introduction / exhaust means is the first. chamber and the substrate processing apparatus is characterized that you have provided a second chamber.
複数枚の基板を収容したカセットを清浄度の高い雰囲気中に保持しながら搬送可能とする搬送体を、搬出入室を通じて装置内に取り込み、取り込まれた上記搬送体内の基板を直接または別室を介して処理室へ移送し、当該処理室で基板に対して所定の処理を施す基板の処理装置において、
上記搬出入室と、上記処理室または別室であって、上記搬出入室に隣接する隣接室との間には、基板の取り出しまたは取り入れ時の移送のための出入口が設けられ、該出入口は開閉手段によって開閉可能であると共に、
上記搬出入室には、上記開閉手段によって上記出入口が閉じられている状態で、室内のガス排気または室内へのガス導入によって室内雰囲気を変更可能とするガス導入/排気手段と、搬入された上記搬送体から、基板を収容するカセットを昇降させて取り入れする昇降機構とが備えられ、
上記搬出入室の、前記隣接室と反対側の位置には、上記基板を搬出入室から隣接室へ移送する、ピストンシリンダとこのピストンシリンダによって往復駆動されるアームからなる押出式の移送機構が備えられており、上記移送機構のピストンシリンダからなる駆動部は前記搬出入室内空間と密閉遮断されて搬出入室の外部に配置され、
上記搬出入室と上記隣接室との間での基板受け渡しの際には、上記昇降機構によって上記搬送体内のカセットを、取り出される基板が上記出入口に対向する所定位置まで順次移動させ、該出入口におけるほぼ一定の水平位置から上記移送機構によって基板を1枚ずつ搬出入室と隣接室との間で移送するようになっており、
上記搬送体は、容器状の蓋部と、この蓋部に対して着脱可能であり、上記カセットが載置される底板とにより内部を密閉可能であり、上記搬出入室の側壁部内面には側壁突出部が形成され、この側壁突出部上には上記搬出入室に内部空間が密閉された状態にて取り込まれた搬送体の上記蓋部が載置され、この蓋部と上記側壁突出部との当接部分が真空シールとなって、上記搬出入室における上記蓋部上の領域である第1室と上記蓋部下の領域で ある第2室とが遮断され、前記ガス導入/排気手段が第1室と第2室とに設けられていることを特徴とする基板の処理装置。
A transport body that can be transported while holding a cassette containing a plurality of substrates in a clean atmosphere is taken into the apparatus through the carry-in / out chamber, and the captured substrate in the transport body is directly or via a separate chamber. In a substrate processing apparatus that transfers to a processing chamber and performs predetermined processing on the substrate in the processing chamber,
Between the carry-in / out chamber and the processing chamber or a separate chamber adjacent to the carry-in / out chamber, an entrance / exit for transferring the substrate when it is taken out or taken in is provided. It can be opened and closed,
In the carry-in / out chamber, the gas introduction / exhaust means that can change the indoor atmosphere by gas exhaust in the room or gas introduction into the room with the opening / closing means closed by the opening / closing means, and the carried-in transport An elevating mechanism that raises and lowers a cassette that accommodates a substrate from the body,
An extrusion-type transfer mechanism comprising a piston cylinder and an arm reciprocally driven by the piston cylinder is provided at a position opposite to the adjacent chamber in the carry-in / out chamber, to transfer the substrate from the carry-in / out chamber to the adjacent chamber. A drive unit composed of a piston cylinder of the transfer mechanism is hermetically cut off from the carry-in / out chamber space and disposed outside the carry-in / out chamber,
When the substrate is transferred between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber, the cassette in the transport body is sequentially moved to a predetermined position where the substrate to be taken out faces the entrance / exit by the elevating mechanism. The substrate is transferred one by one between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber by the transfer mechanism from a certain horizontal position ,
The carrier is detachable from the container-like lid and the bottom plate, and the inside can be hermetically sealed by the bottom plate on which the cassette is placed. A protruding portion is formed, and the lid portion of the transport body taken in a state in which the internal space is sealed in the carry-in / out chamber is placed on the side wall protruding portion, and the lid portion and the side wall protruding portion are The contact portion becomes a vacuum seal, the first chamber, which is the region above the lid portion in the carry-in / out chamber, and the second chamber, which is the region below the lid portion , are blocked, and the gas introduction / exhaust means is the first. A substrate processing apparatus provided in the chamber and the second chamber .
上記ガス導入/排気手段は、上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後、該搬出入室内を真空引きし、上記移送手段は搬出入室と隣接室との間での基板受け渡しを真空雰囲気下で行うことを特徴とする請求項1または2に記載の基板の処理装置。The gas introduction / exhaust means evacuates the carry-in / out chamber after the carrier is carried into the carry-in / out chamber, and the transfer means transfers the substrate between the carry-in / out chamber and the adjacent chamber in a vacuum atmosphere. The substrate processing apparatus according to claim 1 , wherein the substrate processing apparatus is used. 上記ガス導入排気手段は、
上記搬出入室に上記搬送体が搬入された後で、かつ、該搬送体から基板を収容するカセットが取り出される前の段階で、該搬出入室内を清浄気体に置換し、
該搬送体から基板を収容するカセットが取り出された後の段階で、該搬出入室内を真空引きすることを特徴とする請求項3に記載の基板の処理装置。
The gas introduction and exhaust means is
After the carrier is carried into the carry-in / out chamber, and before the cassette that accommodates the substrate is taken out from the carrier, the carry-in / out chamber is replaced with clean gas,
4. The substrate processing apparatus according to claim 3 , wherein the inside of the loading / unloading chamber is evacuated at a stage after the cassette for storing the substrate is taken out from the carrier.
前記昇降機構の昇降部は、前記基板または前記カセットのほぼ重心直下となる位置に設けられ、前記昇降機構の駆動部およびガイド受け部は前記搬出入室の外部に設けられ、
前記搬出入室内の前記昇降部はベローズで前記搬出入室内空間と密閉遮断されていることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の基板の処理装置。
The elevating part of the elevating mechanism is provided at a position almost directly below the center of gravity of the substrate or the cassette, and the driving part and guide receiving part of the elevating mechanism are provided outside the carry-in / out chamber,
5. The substrate processing apparatus according to claim 1 , wherein the elevating unit in the carry-in / out chamber is hermetically sealed from the carry-in / out chamber space by a bellows. 6.
上記隣接室に隣接して上記搬出入室が複数設けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板の処理装置。  The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the carry-in / out chambers are provided adjacent to the adjacent chamber.
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US7547897B2 (en) * 2006-05-26 2009-06-16 Cree, Inc. High-temperature ion implantation apparatus and methods of fabricating semiconductor devices using high-temperature ion implantation
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