JP3642746B2 - Ceramic heater - Google Patents
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 61
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 36
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 36
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 36
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 6
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 8
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N Magnesium oxide Chemical compound [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 2
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- Resistance Heating (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Surface Heating Bodies (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば半導体の製造プロセス等においてウエハーやガラス基板等のワークを加熱するために使用されるセラミックスヒータに関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体の製造プロセスにおいて、CVD(Chemical Vapor Deposition)やPVD(Plasma Vapor Deposition)、エッチング等の処理を行うために、ウエハーを加熱するセラミックスヒータが使われている。また、ガラス基板に薄膜を形成するための成膜装置においても、セラミックスヒータが使われている。
【0003】
従来のセラミックスヒータは、例えば特許第3011528号公報に記載されているように、セラミックスからなるヒータプレートと、ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線などを含んでいる。ヒータプレートは、窒化けい素や窒化アルミニウムなどの焼結体によって構成されている。タングステン等の高融点金属からなる金属箔ヒータ線は、ヒータプレートの内部に同心円状あるいは渦巻き状に埋設されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
従来のセラミックスヒータ、特に厚さ50μm以下の金属箔ヒータ線が、焼結セラミックスに埋設されている。セラミックスヒータは、以下に述べる問題が発生する可能性があった。
【0005】
[問題点1] ヒータ線が薄く断面積が小さいため、下記面積比(S1/S2)がかなり小さくなる。ここでS1はヒータ線の総表面積、S2はヒータプレートのワーク載置面の面積である。この場合、ヒータプレートの径方向にヒータ線が存在しない領域が多く存在することから、図4に2点鎖線L1で示すように、ヒータプレートの中心から外周に向かって、径方向の温度変化が大きくなる。すなわち均熱性に劣る。
【0006】
特に半導体製造プロセスにおいてウエハーを加熱するヒータプレートは、温度分布を均一に保つ必要があるため、ヒータプレートの温度むらは大きな問題である。さらに、ヒータプレートに温度むらが生じると、温度分布が均一な場合に比べて大きな熱応力がヒータプレートに作用し、ヒータプレートが破損する原因となる。
【0007】
[問題点2] ヒータ線をセラミックス原料粉に埋設し焼結する過程で、ヒータ線の表面層がセラミックス原料中の炭素と反応し、炭化することによって粒界割れが発生することがある。ここでヒータ線の厚さが薄いと、図7あるいは図8に示すように、ヒータ線1とセラミックス2との間の反応層3から、粒界割れ4がヒータ線1の内部に進行してしまう。図7に示すヒータ線1の厚さは25μm、図8に示すヒータ線1の厚さは50μmである。図7と図8は、いずれもSEM写真(走査電子顕微鏡写真)をもとにして描いた断面図である。
【0008】
ヒータ線に前記粒界割れが生じると、セラミックス原料粉を焼結する過程で、ヒータ線の電気抵抗が正常値よりも高くなる原因となる。ヒータ線の電気抵抗値が大きくなると、電流が十分に流れることができず、セラミックスヒータの温度特性に悪影響を与える。
【0009】
[問題点3] 従来のヒータ線は薄く断面積が小さいため、ヒータ線の負荷密度(Q/S1)が高い。ここでQはヒータ線の発熱量、S1はヒータ線の総表面積である。負荷密度が高いと、使用時(電流が流れたとき)にヒータ線が断線する可能性がある。また、ヒータ線が薄いために、ヒータ線の厚みのばらつきが、発熱量の大きな変動を引き起こし、均熱性に悪影響を与える。しかも、ヒータ線をセラミックス原料中に埋設する際に十分注意しないと、埋設の際、あるいは焼結時にヒータ線が切れるおそれがある。
【0010】
従って本発明の目的は、均熱性に優れかつ発熱量が安定しているセラミックスヒータを提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明のセラミックスヒータは、焼結したセラミックスからなるヒータプレートと、厚さが100μmから175μmのモリブデン金属箔またはタングステン金属箔からなり、該金属箔の全周が前記焼結したセラミックスによって覆われるよう前記ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線とを具備している。前記ヒータプレートは、例えば窒化アルミニウム(AlN)からなる。この発明の金属箔ヒータ線は厚さが100μm以上であるため、従来の金属箔ヒータ線(厚さ50μm以下)と比較して、同一発熱量であれば長いヒータ線を用いることができる。このヒータ線は、例えば、同一平面上にジグザグ形状に形成される。
【0012】
この発明において、ヒータプレートの均熱性をさらに高めるために、前記金属箔ヒータ線が、前記ヒータプレートの中心寄りの位置において該ヒータプレートの周方向に第1のピッチでジグザグ形状に形成された内側部分と、前記ヒータプレートの外周寄りの位置において該ヒータプレートの周方向に第2のピッチでジグザグ形状に形成された外側部分とを有し、前記第2のピッチを前記第1のピッチよりも小さくしている。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の一実施形態について、図1から図6を参照して説明する。
図1と図2に示すように、セラミックスヒータ10は、窒化アルミニウム等のセラミックス11からなる略円形のヒータプレート12と、ヒータプレート12に埋設された金属箔ヒータ線13とを備えている。ヒータプレート12はセラミックス原料粉を所定の形状に焼結したものである。なお、図1においてはヒータプレート12の輪郭のみが示されている。
【0014】
このセラミックスヒータ10は、例えば半導体製造装置あるいはガラス基板の成膜装置などに使用される。ヒータプレート12の上面は半導体ウエハー等のワークを乗せる平坦なワーク載置面14となっている。ヒータプレート12の直径は例えば250mm前後である。ヒータプレート12の厚さは、例えば15mm〜30mmである。ただしこれらの寸法は加熱すべきワークの寸法等の仕様に応じて適宜設定されるため、上記の値に制約されることはない。ヒータプレート12の材料として、窒化アルミニウム以外に、例えばアルミナやマグネシア等を用いてもよい。
【0015】
図2に模式的に示すように、ヒータプレート12に金属箔ヒータ線13が埋設されている。金属箔ヒータ線13の厚さTは、後述する理由により、100μmから175μmの範囲としている。このヒータ線13は、高融点金属(例えばモリブデンあるいはタングステン)からなり、エッチング等の製造方法によって、同一平面上にジグザグ形状に形成されている。ヒータ線13の幅Wは、例えば2〜3mm前後である。
【0016】
この明細書で言うジグザグ形状とは、図3に模式的に示したように、第1の方向Xに延びる部分X1と、この部分X1の端から第2の方向Yに延びる部分Y1と、この部分Y1の端から再び第1の方向Xに延びる部分X2と、この部分X2の端から第1の方向Yとは逆方向に延びる第4の部分Y2とが、順次連なる形状である。第1の方向Xと第2の方向Yとのなす角度は90度以外でもよい。各部分X1,Y1,X2,Y2は、湾曲していてもよい。
【0017】
このヒータ線13は、ヒータプレート12の中心12a寄りの位置に形成された内側部分13aと、ヒータプレート12の外周12b寄りの位置に形成された外側部分13bとを有している。内側部分13aは、ヒータプレート12の周方向に、第1のピッチP1でジグザグ形状に形成されている。外側部分13bは、ヒータプレート12の周方向に、第2のピッチP2でジグザグ形状に形成されている。
【0018】
内側部分13aと外側部分13bとの間に中間部分13cが形成されている。中間部分13cのピッチP3は、内側部分13aのピッチP1よりも小さく、外側部分13bのピッチP2よりも大きい。これら内側部分13aと外側部分13bと中間部分13cは、互いに電気的に直列に接続されている。
【0019】
ヒータ線13の両端に金属端子15,16が設けられている。金属端子15,16は、ヒータプレート12に、ろう付け等によって固定されている。金属端子15,16に電圧を印加し、ヒータ線13に電流を流すことによって、ヒータ線13が発熱する。ヒータ線13が発熱することにより、ヒータプレート12が加熱され、ワーク載置面14上のワークが加熱される。
【0020】
ヒータプレート12の外周12b寄りの部分は、中心12a寄りの部分よりも放熱しやすい。しかしこの実施形態では、外側部分13bのピッチP2を内側部分13aのピッチP1よりも大きくすることにより、ヒータプレート12の径方向の温度分布を、より均等なものにすることができる。
【0021】
前記金属箔ヒータ線13の厚さは100μm以上であり、従来の金属箔ヒータ線と比較して断面積が数倍以上ある。例えばヒータ線13の厚さが100μmの場合、厚さが25μmの従来のヒータ線と同じ電気抵抗値にするためには、ヒータ線13の長さが4倍以上必要である。
【0022】
ヒータ線13が長くなるということは、それだけ前記面積比(S1/S2)が大きく、ヒータプレート12の径方向にヒータ線13が存在しない領域が減ることになる。この実施形態のセラミックスヒータ10は、図4に実線L2で示すように、従来のヒータ線を用いたセラミックスヒータの温度分布L1と比較して、ヒータプレート12の径方向の温度変化が小さくなる。すなわち均熱性に優れている。
【0023】
ヒータプレート12を構成しているセラミックス11を焼結する過程で、ヒータ線13の表面層がセラミックス原料中の炭素と反応し、炭化することによって粒界割れが生じることがある。しかしこの実施形態のセラミックスヒータ10はヒータ線13が100μm以上と厚いため、ヒータ線13の内部にまで粒界割れが進行することを回避できる。
【0024】
図5と図6は、セラミックスヒータ10のSEM写真(走査電子顕微鏡写真)をもとにして描いた断面図である。図5に示すヒータ線13の厚さは100μmである。図6に示すヒータ線13の厚さは150μmである。図5と図6のいずれの場合も、ヒータ線13はモリブデン、セラミックス11は窒化アルミニウムである。
【0025】
図5あるいは図6に示されるように、ヒータ線13の表面層20に生じる粒界割れはヒータ線13の表面層20にとどまっている。ヒータ線13の内部に見られる微小欠陥21は粒界割れとは無関係であり、ヒータ線13の性能に悪影響を与えるほどではない。
【0026】
このように、ヒータ線13の厚さを100μm以上にすることにより、粒界割れがヒータ線13の断面全体に及ぶことが回避された。このため、セラミックス原料粉の焼結過程でヒータ線13の電気抵抗が正常値よりも高くなってしまうことを防止でき、セラミックスヒータ10の温度特性が向上する。
【0027】
次の表1と表2は、ヒータ線の厚さを25μmから200μmまで種々に変えた場合に、ヒータ線の割れの有無と、ヒータプレート(セラミックス)の割れの有無を調べた結果をそれぞれ示している。表1と表2中の×は割れが見られた場合を示し、○は割れが見られなかった場合を示している。
【0028】
【表1】
【0029】
【表2】
【0030】
表1に示されるように、ヒータ線の厚さが25μmと50μの場合は、ヒータ線が割れることがあった。ヒータ線の厚さが100μm以上になると、ヒータ線が割れることはなかった。表2に示されるように、ヒータ線の厚さが200μmを越えると、ヒータ線に通電したとき(発熱時)に、セラミックスが割れてしまった。セラミックスが割れた理由は、ヒータ線が厚くなるほど、ヒータ線とセラミックスとの熱膨張差の影響が大きくなるためと考えられる。
【0031】
前記実施形態のセラミックスヒータ10は、ヒータ線13が100μm以上と厚く、断面積が大きいため、従来のヒータ線よりも負荷密度が低く、使用時にヒータ線13が断線する可能性が抑制された。また、ヒータ線13が厚いため、ヒータ線13の厚さのばらつきによって発熱量が大きく変動することも回避でき、均熱性をさらに高めることができた。
【0032】
しかも前記ヒータ線13は厚く剛性が大きいため、セラミックス原料粉に埋設する際に取扱いが容易であり、ヒータ線13を所定の位置に埋設することが容易となる。このため、ヒータ線13を埋設する際にヒータ線13が切れたり、セラミックス11の焼結時にヒータ線13が切れる危険性を抑制できる。
【0033】
これらの理由により、本発明では、金属箔ヒータ線の厚さを100μm〜175μmの範囲に限定する。
【0034】
なお、この発明を実施するに当たって、ヒータプレートや金属箔ヒータ線の形状や材質、ヒータ線のパターンなど、発明の構成要素を本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜に変形して実施できることは言うまでもない。
【0035】
【発明の効果】
請求項1に記載した発明によれば、焼結したセラミックスからなるヒータプレートと、厚さが100μmから175μmのモリブデンまたはタングステンの箔からなり、該箔の全周が前記焼結したセラミックスによって覆われるよう前記ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線とを具備したことにより、従来の金属箔ヒータ線を用いたセラミックスヒータと比較して、十分長い金属箔ヒータ線をヒータプレートに埋設することができる。このためヒータプレートの均熱性が向上する。本発明によれば、セラミックスの焼結時にヒータ線の表面層に生じることのある粒界割れがヒータ線の断面全体に及ぶことを回避できる。このためヒータ線が割れることによる発熱量のばらつきを抑制することができる。
【0036】
請求項2に記載した発明によれば、窒化アルミニウムからなるヒータプレートにおいて、ヒータプレートの均熱性が向上するとともに、ヒータ線が割れることによる発熱量のばらつきを抑制することができる。
請求項3に記載した発明によれば、長い金属箔ヒータ線をヒータプレート内の同一平面上にレイアウトすることが可能となり、均熱性をさらに向上させることができる。
請求項4に記載した発明によれば、ヒータプレートの径方向の温度分布をさらに均一にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のセラミックスヒータの金属箔ヒータ線を示す平面図。
【図2】図1中のF2−F2線に沿うセラミックスヒータの一部の断面図。
【図3】ヒータ線の一部を模式的に示す平面図。
【図4】図1に示されたセラミックスヒータと従来のセラミックスヒータの径方向の温度分布をそれぞれ示す図。
【図5】厚さ100μmの金属箔ヒータ線を用いたセラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
【図6】厚さ150μmの金属箔ヒータ線を用いたセラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
【図7】厚さ25μmの金属箔ヒータ線を用いた従来のセラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
【図8】厚さ50μmの金属箔ヒータ線を用いた従来のセラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
【符号の説明】
10…セラミックスヒータ
11…セラミックス
12…ヒータプレート
13…金属箔ヒータ線
13a…内側部分
13b…外側部分[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a ceramic heater used for heating a workpiece such as a wafer or a glass substrate in a semiconductor manufacturing process, for example.
[0002]
[Prior art]
In a semiconductor manufacturing process, a ceramic heater for heating a wafer is used to perform processes such as CVD (Chemical Vapor Deposition), PVD (Plasma Vapor Deposition), and etching. Ceramic heaters are also used in film forming apparatuses for forming a thin film on a glass substrate.
[0003]
A conventional ceramic heater includes, for example, a heater plate made of ceramic and a metal foil heater wire embedded in the heater plate, as described in Japanese Patent No. 3011528. The heater plate is made of a sintered body such as silicon nitride or aluminum nitride. A metal foil heater wire made of a refractory metal such as tungsten is buried concentrically or spirally in the heater plate.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Conventional ceramic heaters, particularly metal foil heater wires with a thickness of 50 μm or less are embedded in the sintered ceramics. The ceramic heater may have the following problems.
[0005]
[Problem 1] Since the heater wire is thin and the cross-sectional area is small, the following area ratio (S1 / S2) becomes considerably small. Here, S1 is the total surface area of the heater wire, and S2 is the area of the work placement surface of the heater plate. In this case, since there are many regions where no heater wire exists in the radial direction of the heater plate, as shown by a two-dot chain line L1 in FIG. 4, the temperature change in the radial direction from the center of the heater plate toward the outer periphery. growing. That is, it is inferior in soaking | uniform-heating property.
[0006]
In particular, a heater plate that heats a wafer in a semiconductor manufacturing process needs to maintain a uniform temperature distribution, and thus the temperature unevenness of the heater plate is a serious problem. Further, when the temperature unevenness occurs in the heater plate, a larger thermal stress acts on the heater plate than in the case where the temperature distribution is uniform, causing the heater plate to be damaged.
[0007]
[Problem 2] In the process of embedding and sintering the heater wire in the ceramic raw material powder, the surface layer of the heater wire may react with carbon in the ceramic raw material and carbonize to cause grain boundary cracking. Here, when the heater wire is thin, the
[0008]
When the grain boundary cracks occur in the heater wire, the electrical resistance of the heater wire becomes higher than the normal value in the process of sintering the ceramic raw material powder. When the electrical resistance value of the heater wire is increased, the current cannot sufficiently flow, which adversely affects the temperature characteristics of the ceramic heater.
[0009]
[Problem 3] Since the conventional heater wire is thin and has a small cross-sectional area, the load density (Q / S1) of the heater wire is high. Here, Q is the heating value of the heater wire, and S1 is the total surface area of the heater wire. If the load density is high, the heater wire may be disconnected during use (when current flows). In addition, since the heater wire is thin, variations in the thickness of the heater wire cause a large fluctuation in the amount of heat generation, which adversely affects the thermal uniformity. In addition, if the heater wire is not sufficiently taken care of when embedded in the ceramic raw material, the heater wire may be broken during embedding or sintering.
[0010]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a ceramic heater having excellent heat uniformity and a stable calorific value.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The ceramic heater of the present invention comprises a heater plate made of sintered ceramic and a molybdenum metal foil or tungsten metal foil having a thickness of 100 μm to 175 μm, and the entire circumference of the metal foil is covered with the sintered ceramic. A metal foil heater wire embedded in the heater plate. The heater plate is made of, for example, aluminum nitride (AlN). Since the metal foil heater wire of the present invention has a thickness of 100 μm or more, a longer heater wire can be used as long as it has the same calorific value as compared with a conventional metal foil heater wire (thickness of 50 μm or less). For example, the heater wire is formed in a zigzag shape on the same plane.
[0012]
In this invention, in order to further improve the thermal uniformity of the heater plate, the metal foil heater wire is formed in a zigzag shape at a first pitch in the circumferential direction of the heater plate at a position near the center of the heater plate. And an outer portion formed in a zigzag shape at a second pitch in the circumferential direction of the heater plate at a position near the outer periphery of the heater plate, and the second pitch is more than the first pitch. It is small.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
As shown in FIGS. 1 and 2, the ceramic heater 10 includes a substantially
[0014]
The ceramic heater 10 is used in, for example, a semiconductor manufacturing apparatus or a glass substrate deposition apparatus. The upper surface of the
[0015]
As schematically shown in FIG. 2, a metal
[0016]
The zigzag shape referred to in this specification includes, as schematically shown in FIG. 3, a portion X1 extending in the first direction X, a portion Y1 extending in the second direction Y from the end of the portion X1, A portion X2 extending again in the first direction X from the end of the portion Y1 and a fourth portion Y2 extending in the direction opposite to the first direction Y from the end of the portion X2 are successively connected. The angle formed by the first direction X and the second direction Y may be other than 90 degrees. Each portion X1, Y1, X2, Y2 may be curved.
[0017]
The
[0018]
An intermediate portion 13c is formed between the inner portion 13a and the
[0019]
[0020]
The portion near the
[0021]
The thickness of the metal
[0022]
The
[0023]
In the process of sintering the ceramic 11 constituting the
[0024]
5 and 6 are cross-sectional views drawn on the basis of an SEM photograph (scanning electron micrograph) of the ceramic heater 10. FIG. The thickness of the
[0025]
As shown in FIG. 5 or FIG. 6, the grain boundary cracks generated in the
[0026]
Thus, by setting the thickness of the
[0027]
The following Tables 1 and 2 show the results of examining the presence or absence of cracks in the heater wires and the presence or absence of cracks in the heater plate (ceramics) when the thickness of the heater wires is varied from 25 μm to 200 μm. ing. In Tables 1 and 2, “X” indicates a case where a crack was observed, and “◯” indicates a case where no crack was observed.
[0028]
[Table 1]
[0029]
[Table 2]
[0030]
As shown in Table 1, when the thickness of the heater wire was 25 μm and 50 μm, the heater wire was sometimes broken. When the thickness of the heater wire was 100 μm or more, the heater wire was not broken. As shown in Table 2, when the thickness of the heater wire exceeded 200 μm, the ceramic was broken when the heater wire was energized (during heat generation). The reason for the cracking of the ceramic is considered to be that the thicker the heater wire, the greater the influence of the difference in thermal expansion between the heater wire and the ceramic.
[0031]
In the ceramic heater 10 of the above embodiment, the
[0032]
Moreover, since the
[0033]
For these reasons, the present invention limits the thickness of the metal foil heater wire to a range of 100 μm to 175 μm.
[0034]
In carrying out this invention, it goes without saying that the constituent elements of the invention, such as the shape and material of the heater plate and metal foil heater wire, and the heater wire pattern, can be appropriately modified without departing from the spirit of the invention. Yes.
[0035]
【The invention's effect】
According to the first aspect of the present invention, the heater plate made of sintered ceramics and the molybdenum or tungsten foil having a thickness of 100 μm to 175 μm are covered with the sintered ceramics. By providing a metal foil heater wire embedded in the heater plate , a sufficiently long metal foil heater wire can be embedded in the heater plate as compared with a ceramic heater using a conventional metal foil heater wire. . For this reason, the thermal uniformity of the heater plate is improved. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can avoid that the grain boundary crack which may arise in the surface layer of a heater wire at the time of sintering of ceramics reaches the whole cross section of a heater wire. For this reason, it is possible to suppress variation in the amount of heat generated due to breakage of the heater wire.
[0036]
According to the second aspect of the present invention, in the heater plate made of aluminum nitride, the heat uniformity of the heater plate can be improved, and variation in the amount of heat generated by the heater wire being broken can be suppressed.
According to the third aspect of the present invention, long metal foil heater wires can be laid out on the same plane in the heater plate, and the thermal uniformity can be further improved.
According to the invention described in
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a metal foil heater wire of a ceramic heater according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of the ceramic heater taken along line F2-F2 in FIG.
FIG. 3 is a plan view schematically showing a part of a heater wire.
4 is a graph showing temperature distributions in the radial direction of the ceramic heater shown in FIG. 1 and a conventional ceramic heater, respectively.
FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view of a part of a ceramic heater using a metal foil heater wire having a thickness of 100 μm.
FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a part of a ceramic heater using a metal foil heater wire having a thickness of 150 μm.
FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view showing a part of a conventional ceramic heater using a metal foil heater wire having a thickness of 25 μm.
FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view of a part of a conventional ceramic heater using a metal foil heater wire having a thickness of 50 μm.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Ceramic heater 11 ...
Claims (5)
厚さが100μmから175μmのモリブデン金属箔またはタングステン金属箔からなり、該金属箔の全周が前記焼結したセラミックスによって覆われるよう前記ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線と、
を具備したことを特徴とするセラミックスヒータ。A heater plate made of sintered ceramics;
A metal foil heater wire embedded in the heater plate such that the metal foil is made of molybdenum metal foil or tungsten metal foil having a thickness of 100 μm to 175 μm, and the entire circumference of the metal foil is covered with the sintered ceramics;
A ceramic heater comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001188285A JP3642746B2 (en) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | Ceramic heater |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001188285A JP3642746B2 (en) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | Ceramic heater |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003007432A JP2003007432A (en) | 2003-01-10 |
JP3642746B2 true JP3642746B2 (en) | 2005-04-27 |
Family
ID=19027415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001188285A Expired - Lifetime JP3642746B2 (en) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | Ceramic heater |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3642746B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110656319A (en) * | 2019-11-06 | 2020-01-07 | 錼创显示科技股份有限公司 | Heating device and chemical vapor deposition system |
US11542604B2 (en) | 2019-11-06 | 2023-01-03 | PlayNitride Display Co., Ltd. | Heating apparatus and chemical vapor deposition system |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5183058B2 (en) * | 2006-07-20 | 2013-04-17 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Substrate processing with rapid temperature gradient control |
US9275887B2 (en) | 2006-07-20 | 2016-03-01 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing with rapid temperature gradient control |
KR101343030B1 (en) | 2007-07-05 | 2013-12-18 | 삼성전자 주식회사 | Semiconductor heating system |
KR101070605B1 (en) | 2010-10-08 | 2011-10-06 | (주)보부하이테크 | Ceramic Heater for Semiconductor Wafer and Manufacturing Method Thereof |
US9208392B2 (en) * | 2011-09-20 | 2015-12-08 | Qualcomm Incorporated | Methods and apparatus for progressive pattern matching in a mobile environment |
US9089007B2 (en) * | 2012-04-27 | 2015-07-21 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for substrate support with multi-zone heating |
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US9888528B2 (en) * | 2014-12-31 | 2018-02-06 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with multiple heating zones |
JP6490004B2 (en) * | 2015-12-28 | 2019-03-27 | 日本特殊陶業株式会社 | Electrode built-in substrate |
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JP7280707B2 (en) * | 2019-02-12 | 2023-05-24 | 日本特殊陶業株式会社 | Retaining device and method for manufacturing the retaining device |
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-
2001
- 2001-06-21 JP JP2001188285A patent/JP3642746B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003007432A (en) | 2003-01-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
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A521 | Written amendment |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090204 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100204 Year of fee payment: 5 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100204 Year of fee payment: 5 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110204 Year of fee payment: 6 |
|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120204 Year of fee payment: 7 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120204 Year of fee payment: 7 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130204 Year of fee payment: 8 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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EXPY | Cancellation because of completion of term |