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JP3629692B2 - ポジ型レジスト組成物 - Google Patents

ポジ型レジスト組成物 Download PDF

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JP3629692B2
JP3629692B2 JP30932596A JP30932596A JP3629692B2 JP 3629692 B2 JP3629692 B2 JP 3629692B2 JP 30932596 A JP30932596 A JP 30932596A JP 30932596 A JP30932596 A JP 30932596A JP 3629692 B2 JP3629692 B2 JP 3629692B2
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将宏 秋山
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、アルカリ可溶性樹脂を含有するポジ型レジスト組成物に関する。さらに詳しくは、g線、i線等の紫外線、KrFエキシマレーザー等の遠紫外線、特に紫外線、遠紫外線に感応する高集積回路作製用レジストとして好適なポジ型レジスト組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】
ポジ型レジストは、集積回路の製造において多く用いられているが、近年における集積回路の高集積化に伴って、解像度、感度、焦点深度(フォーカス許容性)、現像性等の諸特性に優れたレジスト組成物が望まれている。例えば、解像度を向上させるためには、キノンジアジド系感光剤の添加量を増やすことが考えられる。しかしながら、キノンジアジド系感光剤の添加量を増やすと、感度の低下や現像残り(スカム)の発生といった問題を生じる。特に、微細パターンの形成には高解像度で良好なパターン形状を有するとともに、広い焦点深度と現像残りが生じにくく、良好な抜け性が要求される。また、高感度であることも必要とされる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、新規なポジ型レジスト組成物を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記従来技術の欠点を克服し、解像性、感度、焦点深度、パターン形状および現像性の諸特性に優れたポジ型レジスト組成物を提供することにある。
本発明のさらに他の目的および利点は、以下の説明から明らかになろう。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、本発明の上記目的および利点は、第1に、(A)アルカリ可溶性樹脂および(B)下記式(1)〜(7)のそれぞれで表わされる、多価フェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルよりなる群から選ばれる少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステル、を含有し、かつ該少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステルは、全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分が5重量%以下であることを特徴とするポジ型レジスト組成物によって達成される。
【0005】
ここでいう、2種のキノンジアジドスルホン酸エステルとは、少なくともその原料となるフェノール化合物が異なることを意味するものである。キノンジアジドスルホン酸エステルは、一般にフェノール化合物をキノンジアジドスルホン酸クロライドと縮合反応して得られるが、本発明ではそれぞれのキノンジアジドスルホン酸エステルに含まれている、フェノール化合物の全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分が5重量%以下であることが必要であり、好ましくは3重量%以下である。
【0006】
キノンジアジドスルホン酸エステル
本発明に用いられるキノンジアジドスルホン酸エステル(以下、「特定キノンジアジド化合物」という)は、全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分が5重量%以下であるが、好ましくはキノンジアジドスルホン酸エステルは分子内に少なくとも1つのフェノール性水酸基を有するキノンジアジドスルホン酸エステルである。特定キノンジアジド化合物は、下記式(1)
【0007】
【化1】
Figure 0003629692
【0008】
ここで、R〜Rは、各々独立して、炭素数1〜4のアルキル基を表し、Rは水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは水素原子、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基であり、少なくとも1つのDは1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基であり、そしてaは1または2である、
で表される化合物、下記式(2)
【0009】
【化2】
Figure 0003629692
【0010】
ここで、R〜Rは、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、bおよびcは0〜2の整数である、但し、b+c≧1である、
で表される化合物、下記式(3)
【0011】
【化3】
Figure 0003629692
【0012】
ここで、R10〜R13は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、dおよびeは0〜2の整数である、但し、d+e≧1である、
で表される化合物、下記式(4)
【0013】
【化4】
Figure 0003629692
【0014】
ここで、R14〜R17は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、fおよびgは0〜2の整数である、但し、f+g≧1である、
で表される化合物、下記式(5)
【0015】
【化5】
Figure 0003629692
【0016】
ここで、R18〜R21は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、R22は炭素数1〜4のアルキル基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、hおよびiは0〜2の整数である、但し、h+i≧1である、
で表される化合物、下記式(6)
【0017】
【化6】
Figure 0003629692
【0018】
ここで、R23〜R26は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、R27は水素原子または炭素数1〜4のアルキル基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、jは1〜3の整数である、
で表される化合物、または下記式(7)
【0019】
【化7】
Figure 0003629692
【0020】
ここで、R28〜R31は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Xは−CH−、−C(CH−、
【0021】
【化8】
Figure 0003629692
【0022】
を表し、Dは前記と同じ意味を有し、k、l、mおよびnは0〜2の整数である、但し、k+l≧1である、
で表される化合物である。
【0023】
本発明において、かかるキノンジアジドスルホン酸エステルは、少なくとも2種を組合せて使用される。
少なくとも2種の組合せとしては、例えば式(1)と式(3)で表される化合物の組合せ、式(2)と式(4)で表される化合物の組合せ、式(4)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(2)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(3)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(4)と式(5)で表される化合物の組合せ、式(5)と式(6)で表される化合物の組合せおよび式(4)と式(6)で表される化合物の組合せを含む組合せを好ましいものとして挙げることができる。
上記式(1)〜(7)で表される化合物の具体例としては、例えば下記式
【0024】
【化9】
Figure 0003629692
【0025】
【化10】
Figure 0003629692
【0026】
【化11】
Figure 0003629692
【0027】
【化12】
Figure 0003629692
【0028】
で表される化合物を挙げることができる。
特定キノンジアジド化合物は、例えば上記式で表される化合物のDが水素原子であるフェノール化合物と1,2−ナフトキノンジアジドスルホニルハライドとを、例えばトリエチルアミン等の塩基性触媒の存在下で反応させることにより得られる。
【0029】
特定キノンジアジド化合物を得る際に、全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分を5重量%以下とする方法としては、例えば(i)原料であるフェノール化合物を、フェノール性水酸基の立体障害および/または電子的環境を考慮し、選択する方法、(ii)1,2−ナフトキノンジアジドスルホニルクロライドの特定キノンジアジド前駆体に対する使用量を調整する方法等が挙げられる。
なお、本発明における特定キノンジアジドスルホン酸エステルは、前記化合物に限定されるものではない。
本発明の組成物においては、特定キノンジアジドスルホン酸エステルは、2種以上合計して、樹脂(A)100重量部当り、10〜50重量部、特に20〜40重量部の割合で使用することが好ましい。
【0030】
アルカリ可溶性樹脂
本発明において用いられるアルカリ可溶性樹脂(以下、「樹脂(A)」という)としては、例えばノボラック樹脂、ポリビニルフェノールまたはその誘導体等を挙げることができる。
樹脂(A)は、前記例示に代表される樹脂を単独でまたは2種以上組合せて用いることができる。
好ましい樹脂(A)としては、ノボラック樹脂を挙げることができる。このようなノボラック樹脂は、下記式(8)
【0031】
【化13】
Figure 0003629692
【0032】
ここで、xは0〜3の整数である、
で示されるフェノール類とモノアルデヒド化合物やビスアルデヒド化合物で示されるアルデヒド類とを重縮合することによって得られる。
【0033】
上記フェノール類としては、例えばフェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−トリメチルフェノール、3,4,5−トリメチルフェノール等を好ましいものとして挙げることができる。特に、フェノール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノールおよび2,3,5−トリメチルフェノールが好ましい。これらのフェノール類は、単独でまたは2種以上組合せて用いられる。
フェノール類を2種以上組合せて用いる場合は、例えばm−クレゾール/p−クレゾール/2,5−キシレノール=20〜95/5〜80/0〜75(重量比)、m−クレゾール/2,3−キシレノール/3,4−キシレノール=20〜95/5〜80/0〜75(重量比)、またはm−クレゾール、2,3,5−トリメチルフェノール/2,3−キシレノール=20〜95/5〜80/0〜75(重量比)の組合せが特に好ましい。
【0034】
また、前記フェノール類と重縮合させるモノアルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒド、トリオキサン、パラホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピルアルデヒド、フェニルアセトアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズアルデヒド、o−メチルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベンズアルデヒド、フルフラール等を挙げることができる。また、ビスアルデヒド類としては、グリオキサール、グルタルアルデヒド、テレフタルアルデヒド、イソフタルアルデヒド等を挙げることができる。これらのうち、ホルムアルデヒドを特に好適に用いることができる。
【0035】
なお、前記ホルムアルデヒドとしては、例えばホルマリン、トリオキサン、パラホルムアルデヒド等のホルムアルデヒド類、メチルヘミホルマール、エチルヘミホルマール、プロピルヘミホルマール、ブチルヘミホルマール、フェニルヘミホルマール等のヘミホルマール類またはo−ヒドロキシベンズアルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズアルデヒド等のベンズアルデヒド等をその原料として使用することができる。これらのうち、ホルマリン、ブチルヘミホルマールおよびo−ヒドロキシベンズアルデヒドが特に好適に用いられる。
これらのアルデヒド類も単独でまたは2種以上を組合せて用いることができる。このアルデヒド類の使用量は、フェノール類1モルに対し、0.7〜3モルが好ましく、より好ましくは0.6〜1.5モルである。
【0036】
フェノール類とアルデヒド類との重縮合の反応には、通常、酸性触媒が使用される。この酸性触媒としては、例えば塩酸、硝酸、硫酸、ギ酸、シュウ酸、酢酸、p−トルエンスルホン酸等を挙げることができる。これらの酸性触媒の使用量は、通常、フェノール類1モルに対し、1×10−5〜5×10−1モルである。
重縮合の反応においては、通常、反応媒質として水が使用されるが、反応初期から不均一系になる場合は、反応媒質として親水性溶媒または親油性溶媒が用いられる。親水性溶媒としては、例えばメタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のアルコール類;テトラヒドロフラン、ジオキサン等の環状エーテル類が挙げられる。親油性溶媒としては、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン等のケトン類が挙げられる。これらの反応媒質の使用量は、通常、反応原料100重量部当り、20〜1,000重量部である。
【0037】
重縮合の反応温度は、原料の反応性に応じて適宜調整することができるが、通常10〜200℃である。
重縮合の反応方法としては、フェノール類、アルデヒド類、酸性触媒等を一括して仕込む方法および酸性触媒の存在下にフェノール類、アルデヒド類等を反応の進行とともに加えていく方法等を適宜採用することができる。
重縮合の反応終了後、系内に存在する未反応原料、酸性触媒、反応媒質等を除去するために、一般的には、反応温度を130〜230℃に上昇させ、減圧下で揮発分を除去し、ノボラック樹脂を回収する。
【0038】
また本発明において使用するノボラック樹脂のポリスチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」という。)は、本発明の組成物を基材へ塗布する際の作業性、レジストとして使用する際の現像性、感度および耐熱性の点から、2,000〜20,000であることが好ましく、3,000〜15,000であることが特に好ましい。
なお、特にMwの高いノボラック樹脂を得るためには、前記の方法等により得られたノボラック樹脂を、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、3−メトキシプロピオン酸メチル、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン、ジオキサン、メタノール、酢酸エチル等の良溶媒に溶解した後、水、n−ヘキサン、n−ヘプタン等の貧溶媒を混合し、次いで、析出する樹脂溶液層を分離し、高分子量のノボラック樹脂を回収すればよい。
【0039】
本発明において、前記樹脂(A)のアルカリ溶解性を促進する目的で、低分子量のフェノール化合物(以下、「溶解促進剤」という)を添加することができる。この溶解促進剤としては、ベンゼン環数が2〜5のフェノール化合物が好適であり、かかる溶解促進剤としては、下記式(10−1)〜(10−9)で表される化合物を挙げることができる。
【0040】
【化14】
Figure 0003629692
【0041】
【化15】
Figure 0003629692
【0042】
[式(10−1)〜(10−9)中、a、bおよびcは、それぞれ0〜3の数であり(但し、全部が0であることはない)、x、yおよびzはそれぞれ0〜3の数であり、そしてa+x≦5、b+y≦5およびc+z≦5(但し、式(10−3)および(10−4)についてはb+y≦4である)である。]
これらの溶解促進剤のうち、上記式(10−2)、(10−6)、(10−7)および(10−9)が好ましく、上記式(10−9)が特に好ましい。
かかる溶解促進剤の配合量は、通常、樹脂(A)100重量部当り、通常50重量部以下、好ましくは5〜50重量部、さらに好ましくは5〜30重量部である。
【0043】
その他のキノンジアジド化合物
本発明において、2種以上の特定キノンジアジド化合物と併用して、特定キノンジアジド化合物以外の1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エステル等の1,2−キノンジアジド化合物(以下、「その他のキノンジアジド化合物」という)を配合することができる。その他のキノンジアジド化合物としては、例えば2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,2’,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、1,3,5−トリス(4−ヒドロキシ−α,α−ジメチルベンジル)ベンゼン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−{1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル}フェニル]エタン、2−(3,4−ジヒドロキシフェニル)−2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,4,4−トリメチル−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−7−ヒドロキシクロマン等のフェノール化合物の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステルにおいて、分子内の全てのフェノール性水酸基がキノンジアジドスルホン酸エステル化された化合物が挙げられる。
前記フェノール化合物は、フェノール性水酸基に対する立体障もなく、全てのフェノール性水酸基がキノンジアジドスルホン酸エステル化されやすい。
その他の1,2−キノンジアジド化合物の配合量は、樹脂(A)100重量部に対して30重量部以下の割合で使用することが好ましい。
【0044】
各種配合剤
本発明の組成物には、必要に応じ、界面活性剤等の各種配合剤を配合することができる。
前記界面活性剤は、組成物の塗布性や現像性を改良するために配合されるものである。このような界面活性剤としては、例えばメガファックスF171、F172、F173、RS−8、RS−9(商品名、大日本インキ化学工業社製)、フロラードFC430、FC431(商品名、住友スリーエム社製)、アサヒガードAG710、サーフロンS−382、SC−101、SC−102、SC−103、SC−104、SC−105、SC−106(商品名、旭硝子社製)、KP341(商品名、信越化学工業社製)、ポリフローNo.75、No.95(商品名、共栄社油脂化学工業社製)、NBX−7、NBX−14、NBX−15(商品名、ネオス社製)等を挙げることができる。
これらの界面活性剤の配合量は、各種配合剤を除いた組成物の固形分100重量部当り、好ましくは界面活性剤の有効成分が2重量部以下である。
さらに本発明の組成物には、接着性を改善するために、接着助剤を配合することもできる。さらに必要に応じて保存安定剤、消泡剤等も配合することができる。
【0045】
溶剤
本発明の組成物は、樹脂(A)および特定キノンジアジド化合物並びに必要に応じ用いられる溶解促進剤、その他のキノンジアジド化合物、各種配合剤等を、例えば固形分濃度が20〜40重量%となるように溶剤に溶解し、孔径0.2μm程度のフィルターでろ過することによって調製される。
前記溶剤としては、例えばエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノン、2−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル等を挙げることができる。さらに、これらの溶剤にN−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、エチレングリコールモノフェニルエーテルアセテート等の高沸点溶剤を添加することもできる。これらの溶剤は、単独であるいは2種以上を組合せて使用される。
【0046】
レジスト被膜の形成
溶液として調製された本発明の組成物は、これを回転塗布、流延塗布、ロール塗布等によって、例えばシリコンウエハーまたはアルミニウム等が被覆されたウエハー等の基板に塗布される。次いでこれをプレベークすることによりレジスト被膜を形成し、所望のレジストパターンを形成するようにレジスト被膜に放射線を照射(以下、「露光」という。)し、現像液で現像することによりパターンの形成が行われる。
この際用いられる放射線としては、g線、i線等の紫外線が好ましいが、エキシマレーザー等の遠紫外線を用いることもできる。
また本発明の組成物は、レジスト被膜を形成し、プレベークおよび露光を行った後、70〜140℃で加熱する操作(以下、「露光後ベーク」という)を行い、次いで現像することによって、本発明の効果をさらに向上させることもできる。
【0047】
前記レジスト被膜に対し使用する現像液としては、例えば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、硅酸ナトリウム、アンモニア水、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリン等のアルカリ性化合物を、例えば1〜10重量%の濃度に溶解してなるアルカリ性水溶液が使用される。
また、前記現像液には、水溶性有機溶媒、例えばメタノール、エタノール等のアルコール類や界面活性剤を適量添加して使用することもできる。
なお、このようなアルカリ性水溶液からなる現像液を使用した場合は、一般的には、現像後、水で洗浄する。
【0048】
【実施例】
以下、実施例により本発明を詳細に説明する。
<測定、評価>
実施例中のMwの測定、高速液体クロマトグラフィーによるキノンジアジド化合物の測定およびレジストの評価は、以下の方法により行った。
Mw:
東ソー社製GPCカラム(G2000HXL:2本、G3000HXL:1本、G4000HXL:1本)を用い、流量:1.0ml/分、溶出溶媒:テトラヒドロフラン、カラム温度:40℃の分析条件で、単分散ポリスチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグラフ法により測定した。
【0049】
高速液体クロマトグラフィー:
ガスクロ工業社製HPLCカラム(Inertsil ODS5)を用い、液量1.0ml/分、溶離液:アセトニトリル/0.1%リン酸水溶液(溶量比80/20)の分析条件で、サンプル20mgをアセトニトリル10mlに溶解した試料3μlを分析した。検出は280mmの波長で試料の吸光強度を測定した。
エステル置換割合の異なる化合物の混合割合は、溶離時間と吸光強度のグラフを作成し、それぞれの化合物に相当するピークの面積比から求めた。また、各ピークに相当する化合物の化学構造は13C−NMRにより同定した。
感度:
0.35μmのライン・アンド・スペースパターンを1対1に解像するときの露光量(以下、「実効感度」という)を感度とした。
【0050】
解像度:
実効感度で、パターンの膜減りなしで解像している最小寸法を解像度とした。
フォーカス許容性:
実効感度において、0.35μmのライン・アンド・スペースパターンが膜減りなく分離する焦点の幅を走査型電子顕微鏡で測定した。
パターン形状:
走査型電子顕微鏡を用い、実効感度における0.35μmのレジストパターンの断面を観測した。
現像性:
実効感度におけるベストフォーカスでの0.35μmのライン・アンド・スペースの線間の現像残りの有無を調べた。
【0051】
<樹脂(A)の合成>
合成例1
オートクレーブに、m−クレゾール64.9g、2,3−キシレノール36.7g、3,4−キシレノール12.2g、37重量%ホルムアルデヒド水溶液66.5g、シュウ酸2水和物6.3g、水71.9gおよび ジオキサン384gを仕込み、オートクレーブを油浴に浸し、内温を130℃に保持して攪拌しながら8時間縮合を行い、反応後、室温まで冷却し、内容物をビーカーに取り出した。このビーカー中で2層に分離した後、下層を取り出し、濃縮し、脱水し、乾燥してノボラック樹脂を回収した。この樹脂を樹脂(A1)という。樹脂(A1)のMwは8,300であった。
【0052】
合成例2
オートクレーブに、m−クレゾール64.9g、2,3−キシレノール36.7g、2,3,5−トリメチルフェノール13.6g、37重量%ホルムアルデヒド水溶液64.9g、シュウ酸2水和物6.3g、水88.7gおよびジオキサン388.8gを仕込み、合成例1と同様の操作を行い、ノボラック樹脂を合成した。この樹脂を、樹脂(A2)という。樹脂(A2)のMwは7,800であった。
【0053】
<特定キノンジアジド化合物の合成>
合成例3
下記式(a)
【0054】
【化16】
Figure 0003629692
【0055】
で表される化合物15.0g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド13.4g(反応モル比1:1)をジオキサン170gに溶解し、20〜30℃でトリエチルアミン5.6gを滴下し、同温度で2時間反応させた。その後、析出したトリエチルアミン塩酸塩をろ過により取り除き、ろ液を大量の希塩酸水溶液中に注ぎ込んで反応生成物を析出させ、次いで析出物をろ過し、水洗し、真空乾燥器中、40℃で一昼夜乾燥してキノンジアジド化合物(A)を得た。キノンジアジド化合物(A)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、モノエステル体が99.4%であった。
【0056】
合成例4
下記式(b)
【0057】
【化17】
Figure 0003629692
【0058】
で表される化合物18.9g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド26.8g(反応モル比1:2)をジオキサン274gおよびトリエチルアミン11.1gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(B)を得た。キノンジアジド化合物(B)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が99.1%、モノエステル体が0.6%であった。
【0059】
合成例5
下記式(c)
【0060】
【化18】
Figure 0003629692
【0061】
で表される化合物18.9g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド21.5g(反応モル比1:1.6)をジオキサン242gおよびトリエチルアミン8.9gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(C)を得た。キノンジアジド化合物(C)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が70%、モノエステル体が28%であった。
【0062】
合成例6
下記式(d)
【0063】
【化19】
Figure 0003629692
【0064】
で表される化合物19.6g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド21.5g(反応モル比1:1.6)をジオキサン247gおよびトリエチルアミン8.9gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(D)を得た。キノンジアジド化合物(D)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が71%、モノエステル体が26%であった。
【0065】
合成例7
下記式(e)
【0066】
【化20】
Figure 0003629692
【0067】
で表される化合物18.9g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド26.8g(反応モル比1:2)をジオキサン274gおよびトリエチルアミン11.1gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(E)を得た。キノンジアジド化合物(E)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が99.3%、モノエステル体が0.3%であった。
【0068】
合成例8
下記式(f)
【0069】
【化21】
Figure 0003629692
【0070】
で表される化合物20.2g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド13.4g(反応モル比1:1)をジオキサン202gおよびトリエチルアミン5.6gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(F)を得た。キノンジアジド化合物(F)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、モノエステル体が99.3%であった。
【0071】
合成例9
下記式(g)
【0072】
【化22】
Figure 0003629692
【0073】
で表される化合物32.9g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド21.5g(反応モル比1:1.6)をジオキサン326gおよびトリエチルアミン8.9gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(G)を得た。キノンジアジド化合物(G)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が75%、モノエステル体が23%であった。
【0074】
<その他のキノンジアジド化合物の合成>
合成例10
下記式(h)
【0075】
【化23】
Figure 0003629692
【0076】
で表される化合物17.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド26.9g(反応モル比1:2)をジオキサン233gおよびトリエチルアミン11.1gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(H)を得た。キノンジアジド化合物(H)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、ジエステル体が100%、モノエステル体が0%であった。
【0077】
合成例11
下記式(i)
【0078】
【化24】
Figure 0003629692
【0079】
で表される化合物14.6g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド33.6g(反応モル比1:2.5)をジオキサン289gおよびトリエチルアミン13.9gを使用した他は、合成例3と同様にしてキノンジアジド化合物(I)を得た。キノンジアジド化合物(I)を高速液体クロマトグラフィーにより測定した結果、トリエステル体が51%、ジエステル体が40%、モノエステル体が8%であった。
【0080】
実施例1〜6および比較例1〜3
表1に示す組成割合で(但し、部は重量部である)、樹脂(A)、溶解促進剤、特定キノンジアジド化合物、その他のキノンジアジド化合物を2−ヒドロキシプロピオン酸エチル270部、3−エトキシプロピオン酸エチル120部に混合して、均一溶液とした後、孔径0.2μmのメンブランフィルターでろ過し、組成物の溶液を調整した。
得られた溶液を、シリコン酸化膜を有するシリコンウエハー上にスピンナーを用いて塗布した後、ホットプレート上で90℃にて2分間プレベークして厚さ1.1μmのレジスト被膜を形成した。次いで、レチクルを介して、(株)ニコン社製NSR−2005i9C縮小投影露光機(レンズ開口数=0.57)で波長365nm(i線)を用いて露光し、2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液により現像し、超純水でリンスし、乾燥し、レジストパターンの形成を行った。得られたレジストパターンを調べ、各実施例の組成物のレジストパターンとしての特性を評価した。結果を表1に示す。
【0081】
【表1】
Figure 0003629692
【0082】
表1において、溶解促進剤および溶剤の種類は、次のとおりである。
<溶解促進剤>
α:1,1−ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)アセトン
β:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン
【0083】
本願の好ましい態様として以下のものが挙げられる。
1.(A)アルカリ可溶性樹脂および
(B)少なくとも2種のフェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルを含有し、該少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステルにおいて、それぞれのキノンジアジドスルホン酸エステルに含まれている、フェノール化合物の全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分が5重量%以下であることを特徴とするポジ型レジスト組成物。
2.(A)アルカリ可溶性樹脂および
(B)多価フェノール化合物のキノンジアジド酸エステルよりなる群から選ばれる少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステル、但し該キノンジアジドスルホン酸エステルは分子内に少なくとも1つのフェノール性水酸基を有する、を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
3.少なくとも2種の組合せが、式(1)と式(3)で表される化合物の組合せ、式(2)と式(4)で表される化合物の組合せ、式(4)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(2)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(3)と式(7)で表される化合物の組合せ、式(4)と式(5)で表される化合物の組合せ、式(5)と式(6)で表される化合物の組合せおよび式(4)と式(6)で表される化合物の組合せからなる群から選ばれる少なくとも1つの組合せであることを特徴とするポジ型レジスト組成物。
【0084】
【発明の効果】
本発明のポジ型レジスト組成物は、高感度、高解像度で焦点深度が広く現像残りがなく、良好なパターン形状を備えた性能を有する。そのため、高集積度の集積回路作製用レジストとして好適に使用できる。

Claims (5)

  1. (A)アルカリ可溶性樹脂および(B)下記式(1)
    Figure 0003629692
    ここで、R 1 〜R 3 は、各々独立して、炭素数1〜4のアルキル基を表し、R 4 は水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは水素原子、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基であり、少なくとも1つのDは1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基であり、そしてaは1または2である、
    で表される化合物、下記式(2)
    Figure 0003629692
    ここで、R 5 〜R 9 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、bおよびcは0〜2の整数である、但し、b+c≧1である、
    で表される化合物、下記式(3)
    Figure 0003629692
    ここで、R 10 〜R 13 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、dおよびeは0〜2の整数である、但し、d+e≧1である、
    で表される化合物、下記式(4)
    Figure 0003629692
    ここで、R 14 〜R 17 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、fおよびgは0〜2の整数である、但し、f+g≧1である、
    で表される化合物、下記式(5)
    Figure 0003629692
    ここで、R 18 〜R 21 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、R 22 は炭素数1〜4のアルキル基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、hおよびiは0〜2の整数である、但し、h+i≧1である、
    で表される化合物、下記式(6)
    Figure 0003629692
    ここで、R 23 〜R 26 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水酸基を表し、R 27 は水素原子または炭素数1〜4のアルキル基を表し、Dは前記と同じ意味を有し、jは1〜3の整数である、
    で表される化合物および下記式(7)
    Figure 0003629692
    ここで、R 28 〜R 31 は、各々独立して、水素原子、アルキル基、アルコキシル基または水 酸基を表し、Xは−CH 2 −、−C(CH 3 2 −、
    Figure 0003629692
    を表し、Dは前記と同じ意味を有し、k、l、mおよびnは0〜2の整数である、但し、k+l≧1である、
    で表される化合物りなる群から選ばれる少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステル、を含有し、かつ該少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステルは、全てのフェノール性水酸基がエステル化されている成分が5重量%以下であることを特徴とするポジ型レジスト組成物。
  2. 少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステルの組合せが、上記式(1)で表わされる化合物と上記式(3)で表わされる化合物の組合せ、上記式(2)で表わされる化合物と上記式(4)で表わされる化合物の組合せ、上記式(4)で表わされる化合物と上記式(7)で表わされる化合物の組合せ、上記式(2)で表わされる化合物と上記式(7)で表わされる化合物の組合せ、上記式(3)で表わされる化合物と上記式(7)で表わされる化合物の組合せ、上記式(4)で表わされる化合物と上記式(5)で表わされる化合物の組合せ、上記式(5)で表わされる化合物と上記式(6)で表わされる化合物の組合せまたは上記式(4)で表わされる化合物と上記式(6)で表わされる化合物の組合せである請求項1のポジ型レジスト組成物。
  3. 少なくとも2種のキノンジアジドスルホン酸エステルの組合せが、上記式(4)で表わされる化合物と上記式(7)で表わされる化合物の組合せ、上記式(3)で表わされる化合物と上記式(7)で表わされる化合物の組合せまたは上記式(4)で表わされる化合物と上記式(6)で表わされる化合物の組合せである請求項1に記載のポジ型レジスト組成物。
  4. 低分子量フェノール化合物をさらに含有する請求項1〜3のいずれかに記載のポジ型レジスト組成物。
  5. 低分子量フェノール化合物が下記式
    Figure 0003629692
    上記式中、a、bおよびcは、それぞれ0〜3の数であり(但し、全部が0であることはない)、x、y、およびzはそれぞれ0〜3の数であり、そしてa+x≦5、b+y≦5およびc+z≦5である、
    のそれぞれで表わされる請求項4に記載のポジ型レジスト組成物。
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