JP3626560B2 - 電子現像型記録媒体の良否判定装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像を電子的に現像する記録媒体を用いたカメラに関し、特に、この記録媒体が劣化しているか否かを判定する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えば特開平5−2280号公報において、記録媒体自体が直接電子的に現像され、かつその現像された可視像が即時に得られる写真材料が提案されている。このような電子的に現像される記録媒体を、この明細書では電子現像型記録媒体、またこの記録媒体を用いたカメラを電子現像型カメラと呼ぶ。
【0003】
電子現像型記録媒体において画像の良好な記録を行うためには、電子現像型記録媒体に対する印加電圧と印加時間が重要なパラメータであり(特開平6−313872号公報)、これらは電子現像型記録媒体の電荷保持媒体と静電情報記録媒体の特性(抵抗値や容量値)に依存する。これらの特性の中で、電子現像型記録媒体の周囲の温度等の使用環境によって大きく影響されるのは静電情報記録媒体の抵抗値であり、この抵抗値を記録動作の前に測定することにより、電子現像型記録媒体に対する印加電圧と印加時間を適正に制御することが可能になる。
【0004】
一方特開平5−165005号公報には、電子現像型記録媒体において液晶表示素子にかかる電界を除去しても液晶表示素子に表示された画像が保持される分散型液晶表示素子が開示されている。また特開平6−130347号公報および特開平7−13132号には静電情報記録媒体と液晶表示素子が一体化された電子現像型記録媒体が開示されている。すなわち、これらの構成では電子現像型記録媒体の印加電圧を除去しても、そのときの画像が保持される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
静電情報記録媒体が例えば吸湿したことによって、その抵抗値が大きく低下すると、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が小さくなり、明部と暗部のコントラストが低下して良好な画像を記録できなくなるという問題が生じる。
【0006】
本発明は、静電情報記録媒体の抵抗値を測定することによって、常に良好な画像を記録することを可能ならしめる良否判定装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る電子現像型記録媒体の良否判定装置は、静電情報記録媒体に結像した画像に対応した可視像が現像されるように構成された電子現像型記録媒体であって、静電情報記録媒体に直列に接続された暗電流測定抵抗と、この暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定する手段とを備えたことを特徴としている。
【0008】
判定手段は、暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体の抵抗値を検出し、この抵抗値に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定してもよい。
【0009】
判定手段は、暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体に流れる暗電流を測定し、この暗電流に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定してもよい。
【0010】
判定手段は、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過した後、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また判定手段は、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過した後、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0011】
判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。
【0012】
判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。また判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0013】
良否判定装置において、暗電流測定抵抗にコンデンサが並列接続されていてもよく、この場合、判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また、この場合、判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0014】
さらに良否判定装置は、静電情報記録媒体に入射する光を遮断する遮光手段を備えていてもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は本発明の一実施形態を適用した電子現像型カメラの外観図である。
【0016】
カメラ本体11を前方から見ると、前面の略中央には撮影レンズ等を備えた撮影光学系12が設けられ、撮影光学系12の右上方にはストロボ13が配設されている。またストロボ13とは反対側にはレリーズスイッチ14が設けられている。ファインダ15はカメラ本体11の上面の中央部に設けられ、カメラ本体11の前面から後面まで延びている。ファインダ15の側方であってカメラ本体11の上面には、モード選択スイッチ16が設けられている。また、このカメラにより得られた画像信号を外部の記録装置等に出力するため、カメラ本体11の側面の下部には出力端子17が配設されている。
【0017】
図2は電子現像型カメラのブロック図である。
システムコントロール回路20はマイクロコンピュータであり、本電子現像型カメラの全体の制御を行う。
【0018】
撮影光学系12には複数のレンズ群の他、絞り12aが設けられている。撮影光学系12の後方には、電子現像型記録媒体30が配設されている。撮影光学系12と電子現像型記録媒体30の間にはクイックリターンミラー21が設けられ、クイックリターンミラー21と電子現像型記録媒体30の間にはシャッタ22が設けられている。クイックリターンミラー21の上方にはファインダ光学系23のピント板23aが配設されている。
【0019】
絞り12a、クイックリターンミラー21およびシャッタ22は、それぞれアイリス駆動回路24、ミラー駆動回路25およびシャッタ駆動回路26によって駆動され、これらの回路24、25、26は露出制御回路27により制御される。露出制御回路27はシステムコントロール回路20から出力される指令信号に従って動作する。すなわち、露出制御時、測光センサ28からの出力信号に基づく露出制御回路27の制御に従って、絞り12aはアイリス駆動回路24により開度を調整される。クイックリターンミラー21は通常、被写体を観察するための位置であるダウン位置(実線により示される傾斜状態)に定められ、撮影光学系12を通過した光をファインダ光学系23に導いているが、撮影動作時、露出制御回路27の制御に従い、ミラー駆動回路25によって上方に回動せしめられアップ位置(破線により示される水平状態)に定められる。シャッタ22は通常閉塞しているが、撮影動作時、露出制御回路27の制御に従って、シャッタ駆動回路26によって所定時間開放され、これにより撮影光学系12を通過した光が電子現像型記録媒体30の受光面に照射される。
【0020】
電子現像型記録媒体30は記録媒体駆動回路41の制御に基づいて電圧(すなわち記録媒体活性化信号)を印加され、この電圧印加の間に露光されることによって電子現像型記録媒体30には、撮影光学系12によって結像された画像が可視像として現像される。なお記録媒体駆動回路41は、システムコントロール回路20から出力される指令信号に従って動作する。
【0021】
電子現像型記録媒体30の近傍には走査機構50が設けられている。走査機構50には、光源装置42とスキャナ光学系43とラインセンサ44がそれぞれ支持されており、これらは走査機構50による走査によって電子現像型記録媒体30に沿って移動する。
【0022】
光源装置42は例えば複数のLED(発光素子)を備え、シャッタ22の前面すなわち電子現像型記録媒体30の前面に沿って移動可能である。ラインセンサ44は、例えば2000画素のCCD1次元センサ等を用いることができ、光源装置42と一体的に、電子現像型記録媒体30の背面に沿って移動可能である。スキャナ光学系43は光源装置42とラインセンサ44の間に設けられている。走査機構50による走査において、スキャナ光学系43は電子現像型記録媒体30とラインセンサ44の間に位置し、したがって電子現像型記録媒体30により現像された画像は、光源装置42によって照明され、スキャナ光学系43の作用によってラインセンサ44の受光面に結像される。
【0023】
光源装置42のオンオフ制御は照明光源駆動回路45により行われ、ラインセンサ44に発生した画像信号の読出動作等の制御はラインセンサ駆動回路47により行われる。走査機構50の移動の制御はスキャナ系駆動回路46により行われる。これらの回路45、46、47はシステムコントロール回路20により制御される。
【0024】
ラインセンサ44から読み出された画像信号は、アンプ61により増幅され、A/D変換器62によってデジタル信号に変換される。デジタルの画像信号は、システムコントロール回路20の制御に従って、画像処理回路63においてシェーディング補正およびガンマ補正等の処理を施された後、メモリ64に一時的に格納される。なおメモリ64は、ラインセンサ44から出力される1水平走査線分だけの記憶容量を有していてもよいが、1フレーム分の記憶容量を有するメモリであってもよい。またメモリ64はE2 PROMを備えており、このE2 PROMにはシェーディング補正等の補正値が格納される。
【0025】
メモリ64から読み出された画像信号は、画像処理回路63からインターフェイス回路65に入力されてフォーマットの変換等の所定の処理を施され、出力端子17を介して外部のコンピュータ(図示せず)等に出力可能である。また画像処理回路63から出力された画像信号は、画像記録装置67において例えばICメモリカード等の記録媒体に記録可能である。インターフェイス回路65と画像記録装置67はシステムコントロール回路20からの指令信号に従って動作する。
【0026】
システムコントロール回路20には、レリーズスイッチ14、モード選択スイッチ16等から成る操作部70が接続されている。これらレリーズスイッチ14およびモード選択スイッチ16の操作に従って、電子現像型記録媒体30への画像信号の記録動作および電子現像型記録媒体30からの画像信号の読出動作が行われる。またシステムコントロール回路20には、この電子現像型カメラの種々の設定状態等を表示するための表示素子68と、ストロボ13の発光制御を行うためのストロボ駆動回路69が接続されている。
【0027】
電子現像型記録媒体30上の画像の読み取り動作以外の時、走査機構50は撮影光学系12と電子現像型記録媒体30の間の光路から外れた位置、例えば電子現像型記録媒体30よりも下方に位置している。電子現像型記録媒体30に記録された画像を読み出す時、スキャン駆動モータが回動し、走査機構50が上昇してラインセンサ44による走査が行われ、ラインセンサ44はその長手方向に直交する方向に走査する。
【0028】
本実施形態では、記録動作時に、電子現像型記録媒体30が劣化しているか否かを判定するため、また電子現像型記録媒体30に対する印加電圧の値と印加時間を決定するために、暗電流測定回路49が設けられている。すなわち記録動作の開始時にシャッタ22を閉塞した状態で、暗電流測定回路49によって、電子現像型記録媒体30に発生する暗電流が測定され、この暗電流に基づいて電子現像型記録媒体30の抵抗値が検出される。この抵抗値に基づいて、電子現像型記録媒体30の劣化状態が判定され、また電子現像型記録媒体30において画像を記録するために最適な印加電圧と印加時間が決定される。この印加電圧と印加時間の決定は、システムコントロール回路20の制御に従って行われる。
【0029】
図3(a)、(b)、(c)は電子現像型記録媒体30の構成例を示す図である。
【0030】
図3(a)の例は特開平5−2280号公報に開示されたものと同じである。電子現像型記録媒体30は静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32を備えており、電源33によって電圧を印加される。静電情報記録媒体31は、基板34、電極層35、無機酸化物層36および光導電層37を積層して成り、光導電層37は電荷発生層37aと電荷輸送層37bを重合させて構成される。電荷保持媒体32は、液晶支持体38と液晶電極層39の間に液晶40を封入して構成される。静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bと電荷保持媒体32の液晶支持体38とは微小間隙Gをもって対向している。
【0031】
電源33は記録媒体駆動回路41によりオンオフ制御され、電源33がオン状態のとき、電極層35と液晶電極層39の間、すなわち静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32に電圧が印加される。この電圧印加状態で静電情報記録媒体31が露光されると、静電情報記録媒体31には、画像に応じた電荷が発生する。この電荷に応じて、液晶40に作用する電界の強さが変化するため、液晶40には、その画像が可視像として表示され、被写体像が現像される。この電荷保持媒体32の液晶表示素子では、現像された可視像は電界を除去しても保持される。この液晶表示素子は、加熱装置(図示せず)を用いて所定の温度に加熱することにより、現像された可視像を消去させることもでき、その場合は繰り返し同一記録媒体を用いることもできる。
【0032】
図3(b)の例は特開平5−165005号公報に開示されたものと同じであり、分離型の電子現像型記録媒体30である。この例では静電情報記録媒体31は、基板34、電極層35および光導電層37を積層して成り、光導電層37は電荷発生層37aと電荷輸送層37bを積層させて構成される。電荷保持媒体32は分散型液晶表示素子であり、この分散型液晶表示素子と静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bとは微小間隙Gをもって対向している。電荷保持媒体32の静電情報記録媒体31とは反対側の面には、電極層81と基板82が積層されている。その他の構成は図3(a)の構成と同じである。
【0033】
図3(c)の例は特開平6−130347号公報および特開平7−13132号公報に開示されたものと同じであり、一体型の電子現像型記録媒体30である。図3(b)の例とは異なる構成だけを説明すると、分散型液晶表示素子である電荷保持媒体32と静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bの間に、絶縁層83が設けられ、また電荷保持媒体32の静電情報記録媒体31とは反対側の面には電極層81が積層されている。すなわち図3(c)の構成では、静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32の間に間隙は設けられていない。
【0034】
図3(a)、(b)、(c)に示す電子現像型記録媒体30は全て、図1に示すスチルビデオカメラにおいて用いることが可能であり、以下の説明では、図3(a)の電子現像型記録媒体30が設けられているスチルビデオカメラを想定する。
【0035】
図4は電子現像型記録媒体30および暗電流測定回路49の第1の構成例を示す図である。
【0036】
暗電流測定回路49は静電情報記録媒体31の電極層35と電荷輸送層37bに接続され、電源49aとスイッチ49bと暗電流測定抵抗49cと電圧検出部49eとを有する。スイッチ49bは電極層35と電源49aの正極との間に直列に接続され、暗電流測定抵抗49cは静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bと電源49aの負極との間に直列に接続されている。電圧検出部49eは暗電流測定抵抗49cに発生する電圧を検出するものであり、暗電流測定抵抗49cに並列に接続されている。静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cは、スイッチ49aが閉成している時、電源49aによって電圧を印加される。この時暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が電圧検出部49eによって検出され、この電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流が測定され、その抵抗値が求められる。
【0037】
図5は電子現像型記録媒体30および暗電流測定回路49の第2の構成例を示す図である。電子現像型記録媒体30の構成は図4と同じであるが、暗電流測定回路49において、コンデンサ49dが暗電流測定抵抗49cに並列に接続されている。この構成においても、スイッチ49aが閉成している時、静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cとコンデンサ49dに電源49aの電圧が印加され、この時暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流が測定され、その抵抗値が求められるが、暗電流測定抵抗49cの電圧の時定数が図4の構成とは異なる。次に、図4および図5に示す暗電流測定回路49の回路特性を、図6〜図8を参照して説明する。
【0038】
図6は図4に示す静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49の等価回路、図7は図5に示す静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49の等価回路である。これらの図に示すように、静電情報記録媒体31は抵抗31aとコンデンサ31bを並列接続してなる回路と等価である。図8は暗電流測定抵抗49cに発生する電圧Vの時間的変化である。
【0039】
図4に示す回路の作用を説明する。
静電情報記録媒体31を遮光した状態すなわちシャッタ22を閉じた状態でスイッチ49bを開放状態から閉成すると、静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49にはステップ状の電圧が印加される。したがって電圧印加の初期では、コンデンサ31bのインピーダンスは小さく、ほとんどの電流はコンデンサ31bを流れるので、静電情報記録媒体31での電圧降下はほとんどなく、図8において二点鎖線K1で示すように、暗電流測定抵抗49cには電源49aの電圧とほぼ同じ値の電圧Eが発生する。時間の経過とともにコンデンサ31bが充電されていくので、電流は抵抗31aを流れるようになり、その電流値は時間の経過とともに減少し、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧は低下する。この電圧が一定値になるまでに、例えば数10msの時間Txを要し、最終的には抵抗31b、49cによって分圧された電圧(=(E/Rs)・R)が抵抗49cに発生する。
【0040】
一方、図5に示す回路によれば、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が一定値になるまでの時間、すなわち整定時間を短縮させることができる。
【0041】
すなわちこの回路では、整定時間をできるだけ短くするために、暗電流測定抵抗49cの抵抗値に応じた容量を有するコンデンサ49dが設けられている。この回路において、スイッチ49bを閉成した直後、電源49aの電圧Eはコンデンサ31b、49dによって分圧されるため、暗電流測定抵抗49cに作用する電圧Vは、
V=(Cs/(Cs+C))×E (t=0+ ) (1)
である。ただし、Csはコンデンサ31bの容量、Cはコンデンサ49dの容量である。スイッチ49bを閉成してから十分に時間が経過すると、電源電圧Eは抵抗31a、49cによって分圧されるようになるため、暗電流測定抵抗49cに作用する電圧Vは、
V=(R/(Rs+R))×E (t=∞) (2)
となる。ただしRsは抵抗31bの抵抗値、Rは抵抗49cの抵抗値である。
【0042】
暗電流測定抵抗49cの電圧変化の時定数を実質的に0にするためには、t=0+ の時の電圧をt=∞の電圧に等しくすればよい。すなわち、(1)式と(2)式が等しいとおくと、
(Cs/(Cs+C))=(R/(Rs+R))
∴Cs ×Rs=C×R (3)
が得られる。(3)式の右辺は、暗電流測定抵抗49cとコンデンサ49dによって定まる時定数であり、(3)式の右辺は静電情報記録媒体31に関する時定数である。
【0043】
すなわち、これらの時定数が等しくなるような容量を有するコンデンサ49dを暗電流測定抵抗49cに並列に接続することにより、スイッチ49bを閉成してから暗電流測定抵抗49cの定常的な電圧を測定できるまでの時間、すなわち静電情報記録媒体31の抵抗値を検出できるまでの時間を最小限にすることができる。なお図6において、符号K2はRC=RsCs−|δ|の場合、符号K3はRC=RsCsの場合、符号K4はRC=RsCs+|δ|の場合をそれぞれ示し、RCとRsCsの間に誤差δが存在しても時間Tsにおいて暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が一定になっている。
【0044】
図9は図4に示す暗電流測定回路49における暗電流の過渡応答を示している。時間0においてスイッチ49bを閉成すると、暗電流測定抵抗49cに流れる暗電流は、最初は閾値Ithよりもかなり大きいが、時間の経過とともに急激に減少する。静電情報記録媒体31が劣化していない場合、実線L1により示すように、暗電流が減少する時間は相対的に長く、暗電流の変化率は時間Tsにおいてほとんど0になる。これに対し、静電情報記録媒体31が劣化すると、実線L2により示すように暗電流が減少する時間は相対的に短く、暗電流の変化率は時間0の直後すなわち時間T’sにおいてほとんど0になり、その後は実質的に変化しない。
【0045】
暗電流が閾値Ithよりも低い場合、静電情報記録媒体31の抵抗値が大きいため、静電情報記録媒体31では、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が相対的に大きく、コントラストの大きい画像が電荷保持媒体32によって記録可能である。したがって、時間Ts 経過後(例えばTm)に測定した暗電流値が閾値Ithより小さければ、静電情報記録媒体31は劣化しておらず、十分に良好な画像を記録できる状態であることがわかる。これに対して暗電流が閾値Ithよりも高い場合、静電情報記録媒体31の抵抗値が小さいため、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が相対的に小さく、コントラストの大きい画像は記録不可能である。したがって、時間Ts経過後(例えばTm)に測定した暗電流値が閾値Ithより大きければ、静電情報記録媒体31は劣化しており、良好な画像の記録は期待できないことかわかる。
【0046】
図10は図5に示す暗電流測定回路49、すなわちコンデンサ49dを有する回路における暗電流の過渡応答を示している。この回路の場合、暗電流測定抵抗49cに流れる暗電流は、スイッチ49cを閉成した時間0において、閾値Ithよりも小さい。静電情報記録媒体31が劣化していない場合の一例を示すと、実線L3により示すように、暗電流は時間0から減少するが比較的短時間の間にその減少は停止し、時間Ts において暗電流の変化率はほとんど0になり、暗電流値は閾値Ith以下で整定する。これに対して静電情報記録媒体31が劣化すると、実線L4により示すように暗電流は急激に増加し、暗電流の変化率は時間Ts よりも後の時間T’sにおいてほとんど0になり、暗電流値は閾値Ith以上で整定する。
【0047】
暗電流が閾値Ithよりも低い場合、上述したように、コントラストの大きい画像が電荷保持媒体32によって記録可能である。したがって静電情報記録媒体31が劣化していない場合、時間Ts が経過して暗電流が整定した状態において、暗電流は閾値Ithよりも小さくなっており、良好な画像を記録できる状態であることがわかる。一方静電情報記録媒体31が劣化している場合、暗電流は時間が経過すると閾値Ithよりも高くなるため、良好な画像の記録は期待できないことがわかる。なお図10において、破線L5は静電情報記録媒体31がある程度劣化しており、使用不可能な状態になった直後の場合を示している。すなわち暗電流の変化率は時間Ts とT’sの中間である時間Tthにおいてほぼ0となり、その後暗電流の大きさは略閾値Ithに等しい。
【0048】
図11〜図12は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作(撮影動作)の第1の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図4および図5に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0049】
ステップ101においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ102において暗電流測定回路49のスイッチ49cが閉成される。ステップ103では所定時間Tmが経過したか否かが判定される。この所定時間Tmは、暗電流測定回路49の整定時間Ts(図8〜図10参照)よりも長い。所定時間Tmが経過するとステップ104へ進み、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。ステップ105では暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放される。
【0050】
ステップ106では、暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ith以上の場合、ステップ107において、電子現像型記録媒体30が劣化している旨の警告が表示素子68(図2参照)に表示され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0051】
これに対し、ステップ106において暗電流値Idが閾値Ithよりも小さいと判定された場合、電子現像型記録媒体30は正常であると見做され、ステップ111以下が実行される。まずステップ111では、暗電流値Idに基づいて、最適な印加電圧Vapと印加時間Tapがシステムコントロール回路20のメモリに予め格納されているテーブルから読取られる。このテーブルは例えば図12に示すようなものであり、暗電流Idの値の範囲に対して、印加電圧Vapと印加時間Tapが定められている。これらの印加電圧Vapと印加時間Tapは、最もコントラストの高い画像が得られるような値を有し、例えば実験によって求められる。ステップ112では、ステップ111において読取られた印加電圧Vapと印加時間Tapが記録媒体駆動回路41のメモリにセットされる。
【0052】
ステップ113では、測光センサ28からの出力信号すなわち測光値が検出され、ステップ114では、この測光値に基づいて露出演算が開始される。ステップ115において露出演算が完了したことが確認されると、この演算結果に従って、ステップ116以下において記録動作が行われる。
【0053】
ステップ111では、絞り12aの開度が全開状態から所定開度まで変化し、またクイックリターンミラー21がダウン状態からアップ状態に変化する。ステップ117においてミラー21のアップ状態への変化と絞り12aの開度調整が完了したことが確認されると、ステップ118においてシャッタ22が開放する。ステップ119ではタイマの値が0にクリアされ、ステップ120ではタイマによる計時がスタートする。
【0054】
ステップ121では記録媒体活性化信号が出力され、電子現像型記録媒体30に、ステップ111において読取られた電圧Vapが印加される。露出演算により求められた露出期間が経過し、ステップ122において露出が完了したことが検出されると、ステップ123において、シャッタ22が閉じる。このシャッタ22の閉塞動作の完了に伴い、ステップ124が実行され、ミラー21がダウン状態に変化するとともに、絞り12aが全開状態まで開放する。ステップ125において、タイマのスタートからステップ111において読取られた印加時間Tapが経過したことが確認されると、ステップ126において記録媒体活性化信号の出力が停止される。
【0055】
すなわち、記録媒体活性化信号はシャッタ22が開放している間出力され、この間、電子現像型記録媒体30に所定の電圧が印加される。そして、この状態で露光されることにより、電子現像型記録媒体30には被写体像が可視像として現像される。この可視像は記録媒体活性化信号の出力が停止しても保持される。
【0056】
ステップ127において、ミラー21と絞り12aが初期状態に復帰したことが確認されると、ステップ128においてミラー21と絞り12aの駆動が停止され、このプログラムは終了する。
【0057】
図14は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作の第2の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図4に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0058】
ステップ201においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ202において暗電流測定回路49のスイッチ49cが閉成される。ステップ203では、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。
【0059】
ステップ204では、暗電流値Idが閾値Ithよりも大きい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ithよりも大きい場合、ステップ205において、スイッチ49bが閉成されてから、すなわち静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cに電源電圧を印加した時から所定時間Tmが経過したか否かが判定される。所定時間Tmが経過している場合、電子現像型記録媒体30は劣化していると見做され、ステップ208においてスイッチ49bが開放された後、ステップ209において劣化している旨の警告が表示素子68に表示され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0060】
ステップ205において所定時間Tmが経過していない場合、ステップ206において暗電流Idが測定され、ステップ207において暗電流値の時間的変化が所定値よりも小さいか否かが判定される。この時間的変化が所定値よりも小さい時、これ以上時間が経過しても暗電流値Idは閾値Ithより小さくならず、電子現像型記録媒体30は劣化していると見做される。すなわちステップ208、209が実行され、このプログラムは終了する。
【0061】
一方、ステップ204において暗電流値Idが閾値Ith以下である場合、電子現像型記録媒体30に対する記録動作を行うべくステップ210へ進む。
【0062】
ステップ210では、スイッチ49bが閉成されてから所定時間Tmが経過したか否かが判定される。所定時間Tmが経過している場合、ステップ213においてスイッチ49bが開放され、ステップ214以下が実行され、記録動作が行われる。ステップ214以下の処理内容は、図11のステップ111以下の処理内容と同様であるので、その説明は省略する。
【0063】
ステップ210においてスイッチ49bが閉成されてから所定時間Tmが経過していないと判定された場合、ステップ211において暗電流Idが測定され、ステップ212において暗電流値の時間的変化が所定値よりも小さいか否かが判定される。この時間的変化が所定値以上である時、まだ暗電流値Idが整定しないので、ステップ210〜212が繰り返し実行される。ステップ212において時間的変化が所定値よりも小さと判定された時、暗電流値Idが整定したと判定され、電子現像型記録媒体30は正常であると見做される。すなわち、ステップ213においてスイッチ49bが開放された後、ステップ214以下が実行される。
【0064】
図15は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作の第3の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図5に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0065】
ステップ301においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ302において暗電流測定回路49のスイッチ49bが閉成される。ステップ303では、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。ステップ304では、暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ith以上の場合、ステップ305において電子現像型記録媒体30が劣化している旨の警告が表示素子68に表示され、またステップ306において暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0066】
一方、ステップ304において暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい場合、ステップ307へ進み、スイッチ49bが閉成されてから、すなわち静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cに電源電圧を印加した時から所定時間Tmが経過したか否かが判定される。この所定時間Tmは、暗電流測定回路49の整定時間Ts(図10参照)よりも長い。所定時間Tmが経過するまでは、ステップ303、304、307が繰り返し実行され、この間に暗電流値Idが閾値Ith以上になると、ステップ305へ進むが、所定時間Tmが経過すると、電子現像型記録媒体30は正常であると見做され、ステップ308以下が実行される。
【0067】
ステップ308では、暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放される。ステップ309以下の処理内容は、図11のステップ111以下の処理内容と同様であるので、その説明は省略する。
【0068】
以上のように本実施形態によれば、静電情報記録媒体31が劣化したことが、暗電流を測定することによって的確に判定されるので、コントラストの小さい不明瞭な画像が記録されることが防止される。特に、図5に示されるように、コンデンサ49dを暗電流測定抵抗49cに並列接続した構成によると、静電情報記録媒体31の抵抗値、すなわち静電情報記録媒体31が劣化しているか否かを、暗電流測定回路49のスイッチ49bを閉成したのと略同時に測定することができるので、コントラストの高い画像を得るための印加電圧と印加時間を瞬時に設定することができる。したがって電子現像型記録媒体30をカメラに装着して直ちに記録動作を行うことができる。
【0069】
なお電子現像型記録媒体30は上述した構成に限定されるものではなく、画像を電子的に現像するものであれば、その構成は限定されない。
【0070】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、静電情報記録媒体の抵抗値を測定することによって、常に良好な画像を記録することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を適用した電子現像型カメラの外観図である。
【図2】図1の電子現像型カメラの回路構成を示すブロック図である。
【図3】電子現像型記録媒体の構成を示す図である。
【図4】電子現像型記録媒体および暗電流測定回路の第1の構成例を示す図である。
【図5】電子現像型記録媒体および暗電流測定回路の第2の構成例を示す図である。
【図6】図4に示す静電情報記録媒体と暗電流測定回路の等価回路を示す図である。
【図7】図5に示す静電情報記録媒体と暗電流測定回路の等価回路を示す図である。
【図8】暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図9】図4に示す暗電流測定回路の暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図10】図5に示す暗電流測定回路の暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図11】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第1の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【図12】図11に示すプログラムの後半部分を示すフローチャートである。
【図13】暗電流と印加電圧および印加時間との関係を示す図である。
【図14】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第2の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【図15】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第3の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【符号の説明】
30 電子現像型記録媒体
31 静電情報記録媒体
49 暗電流測定回路
49c 暗電流測定抵抗
49d コンデンサ
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像を電子的に現像する記録媒体を用いたカメラに関し、特に、この記録媒体が劣化しているか否かを判定する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えば特開平5−2280号公報において、記録媒体自体が直接電子的に現像され、かつその現像された可視像が即時に得られる写真材料が提案されている。このような電子的に現像される記録媒体を、この明細書では電子現像型記録媒体、またこの記録媒体を用いたカメラを電子現像型カメラと呼ぶ。
【0003】
電子現像型記録媒体において画像の良好な記録を行うためには、電子現像型記録媒体に対する印加電圧と印加時間が重要なパラメータであり(特開平6−313872号公報)、これらは電子現像型記録媒体の電荷保持媒体と静電情報記録媒体の特性(抵抗値や容量値)に依存する。これらの特性の中で、電子現像型記録媒体の周囲の温度等の使用環境によって大きく影響されるのは静電情報記録媒体の抵抗値であり、この抵抗値を記録動作の前に測定することにより、電子現像型記録媒体に対する印加電圧と印加時間を適正に制御することが可能になる。
【0004】
一方特開平5−165005号公報には、電子現像型記録媒体において液晶表示素子にかかる電界を除去しても液晶表示素子に表示された画像が保持される分散型液晶表示素子が開示されている。また特開平6−130347号公報および特開平7−13132号には静電情報記録媒体と液晶表示素子が一体化された電子現像型記録媒体が開示されている。すなわち、これらの構成では電子現像型記録媒体の印加電圧を除去しても、そのときの画像が保持される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
静電情報記録媒体が例えば吸湿したことによって、その抵抗値が大きく低下すると、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が小さくなり、明部と暗部のコントラストが低下して良好な画像を記録できなくなるという問題が生じる。
【0006】
本発明は、静電情報記録媒体の抵抗値を測定することによって、常に良好な画像を記録することを可能ならしめる良否判定装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る電子現像型記録媒体の良否判定装置は、静電情報記録媒体に結像した画像に対応した可視像が現像されるように構成された電子現像型記録媒体であって、静電情報記録媒体に直列に接続された暗電流測定抵抗と、この暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定する手段とを備えたことを特徴としている。
【0008】
判定手段は、暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体の抵抗値を検出し、この抵抗値に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定してもよい。
【0009】
判定手段は、暗電流測定抵抗に発生する電圧に基づいて静電情報記録媒体に流れる暗電流を測定し、この暗電流に基づいて静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定してもよい。
【0010】
判定手段は、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過した後、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また判定手段は、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過した後、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0011】
判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。
【0012】
判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。また判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0013】
良否判定装置において、暗電流測定抵抗にコンデンサが並列接続されていてもよく、この場合、判定手段は、暗電流が閾値よりも大きい時、静電情報記録媒体が劣化していると判定してもよい。また、この場合、判定手段は、暗電流が閾値よりも小さい時、静電情報記録媒体と暗電流測定抵抗に電源電圧を印加した時から所定時間が経過したことにより、静電情報記録媒体が正常であると判定してもよい。
【0014】
さらに良否判定装置は、静電情報記録媒体に入射する光を遮断する遮光手段を備えていてもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は本発明の一実施形態を適用した電子現像型カメラの外観図である。
【0016】
カメラ本体11を前方から見ると、前面の略中央には撮影レンズ等を備えた撮影光学系12が設けられ、撮影光学系12の右上方にはストロボ13が配設されている。またストロボ13とは反対側にはレリーズスイッチ14が設けられている。ファインダ15はカメラ本体11の上面の中央部に設けられ、カメラ本体11の前面から後面まで延びている。ファインダ15の側方であってカメラ本体11の上面には、モード選択スイッチ16が設けられている。また、このカメラにより得られた画像信号を外部の記録装置等に出力するため、カメラ本体11の側面の下部には出力端子17が配設されている。
【0017】
図2は電子現像型カメラのブロック図である。
システムコントロール回路20はマイクロコンピュータであり、本電子現像型カメラの全体の制御を行う。
【0018】
撮影光学系12には複数のレンズ群の他、絞り12aが設けられている。撮影光学系12の後方には、電子現像型記録媒体30が配設されている。撮影光学系12と電子現像型記録媒体30の間にはクイックリターンミラー21が設けられ、クイックリターンミラー21と電子現像型記録媒体30の間にはシャッタ22が設けられている。クイックリターンミラー21の上方にはファインダ光学系23のピント板23aが配設されている。
【0019】
絞り12a、クイックリターンミラー21およびシャッタ22は、それぞれアイリス駆動回路24、ミラー駆動回路25およびシャッタ駆動回路26によって駆動され、これらの回路24、25、26は露出制御回路27により制御される。露出制御回路27はシステムコントロール回路20から出力される指令信号に従って動作する。すなわち、露出制御時、測光センサ28からの出力信号に基づく露出制御回路27の制御に従って、絞り12aはアイリス駆動回路24により開度を調整される。クイックリターンミラー21は通常、被写体を観察するための位置であるダウン位置(実線により示される傾斜状態)に定められ、撮影光学系12を通過した光をファインダ光学系23に導いているが、撮影動作時、露出制御回路27の制御に従い、ミラー駆動回路25によって上方に回動せしめられアップ位置(破線により示される水平状態)に定められる。シャッタ22は通常閉塞しているが、撮影動作時、露出制御回路27の制御に従って、シャッタ駆動回路26によって所定時間開放され、これにより撮影光学系12を通過した光が電子現像型記録媒体30の受光面に照射される。
【0020】
電子現像型記録媒体30は記録媒体駆動回路41の制御に基づいて電圧(すなわち記録媒体活性化信号)を印加され、この電圧印加の間に露光されることによって電子現像型記録媒体30には、撮影光学系12によって結像された画像が可視像として現像される。なお記録媒体駆動回路41は、システムコントロール回路20から出力される指令信号に従って動作する。
【0021】
電子現像型記録媒体30の近傍には走査機構50が設けられている。走査機構50には、光源装置42とスキャナ光学系43とラインセンサ44がそれぞれ支持されており、これらは走査機構50による走査によって電子現像型記録媒体30に沿って移動する。
【0022】
光源装置42は例えば複数のLED(発光素子)を備え、シャッタ22の前面すなわち電子現像型記録媒体30の前面に沿って移動可能である。ラインセンサ44は、例えば2000画素のCCD1次元センサ等を用いることができ、光源装置42と一体的に、電子現像型記録媒体30の背面に沿って移動可能である。スキャナ光学系43は光源装置42とラインセンサ44の間に設けられている。走査機構50による走査において、スキャナ光学系43は電子現像型記録媒体30とラインセンサ44の間に位置し、したがって電子現像型記録媒体30により現像された画像は、光源装置42によって照明され、スキャナ光学系43の作用によってラインセンサ44の受光面に結像される。
【0023】
光源装置42のオンオフ制御は照明光源駆動回路45により行われ、ラインセンサ44に発生した画像信号の読出動作等の制御はラインセンサ駆動回路47により行われる。走査機構50の移動の制御はスキャナ系駆動回路46により行われる。これらの回路45、46、47はシステムコントロール回路20により制御される。
【0024】
ラインセンサ44から読み出された画像信号は、アンプ61により増幅され、A/D変換器62によってデジタル信号に変換される。デジタルの画像信号は、システムコントロール回路20の制御に従って、画像処理回路63においてシェーディング補正およびガンマ補正等の処理を施された後、メモリ64に一時的に格納される。なおメモリ64は、ラインセンサ44から出力される1水平走査線分だけの記憶容量を有していてもよいが、1フレーム分の記憶容量を有するメモリであってもよい。またメモリ64はE2 PROMを備えており、このE2 PROMにはシェーディング補正等の補正値が格納される。
【0025】
メモリ64から読み出された画像信号は、画像処理回路63からインターフェイス回路65に入力されてフォーマットの変換等の所定の処理を施され、出力端子17を介して外部のコンピュータ(図示せず)等に出力可能である。また画像処理回路63から出力された画像信号は、画像記録装置67において例えばICメモリカード等の記録媒体に記録可能である。インターフェイス回路65と画像記録装置67はシステムコントロール回路20からの指令信号に従って動作する。
【0026】
システムコントロール回路20には、レリーズスイッチ14、モード選択スイッチ16等から成る操作部70が接続されている。これらレリーズスイッチ14およびモード選択スイッチ16の操作に従って、電子現像型記録媒体30への画像信号の記録動作および電子現像型記録媒体30からの画像信号の読出動作が行われる。またシステムコントロール回路20には、この電子現像型カメラの種々の設定状態等を表示するための表示素子68と、ストロボ13の発光制御を行うためのストロボ駆動回路69が接続されている。
【0027】
電子現像型記録媒体30上の画像の読み取り動作以外の時、走査機構50は撮影光学系12と電子現像型記録媒体30の間の光路から外れた位置、例えば電子現像型記録媒体30よりも下方に位置している。電子現像型記録媒体30に記録された画像を読み出す時、スキャン駆動モータが回動し、走査機構50が上昇してラインセンサ44による走査が行われ、ラインセンサ44はその長手方向に直交する方向に走査する。
【0028】
本実施形態では、記録動作時に、電子現像型記録媒体30が劣化しているか否かを判定するため、また電子現像型記録媒体30に対する印加電圧の値と印加時間を決定するために、暗電流測定回路49が設けられている。すなわち記録動作の開始時にシャッタ22を閉塞した状態で、暗電流測定回路49によって、電子現像型記録媒体30に発生する暗電流が測定され、この暗電流に基づいて電子現像型記録媒体30の抵抗値が検出される。この抵抗値に基づいて、電子現像型記録媒体30の劣化状態が判定され、また電子現像型記録媒体30において画像を記録するために最適な印加電圧と印加時間が決定される。この印加電圧と印加時間の決定は、システムコントロール回路20の制御に従って行われる。
【0029】
図3(a)、(b)、(c)は電子現像型記録媒体30の構成例を示す図である。
【0030】
図3(a)の例は特開平5−2280号公報に開示されたものと同じである。電子現像型記録媒体30は静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32を備えており、電源33によって電圧を印加される。静電情報記録媒体31は、基板34、電極層35、無機酸化物層36および光導電層37を積層して成り、光導電層37は電荷発生層37aと電荷輸送層37bを重合させて構成される。電荷保持媒体32は、液晶支持体38と液晶電極層39の間に液晶40を封入して構成される。静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bと電荷保持媒体32の液晶支持体38とは微小間隙Gをもって対向している。
【0031】
電源33は記録媒体駆動回路41によりオンオフ制御され、電源33がオン状態のとき、電極層35と液晶電極層39の間、すなわち静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32に電圧が印加される。この電圧印加状態で静電情報記録媒体31が露光されると、静電情報記録媒体31には、画像に応じた電荷が発生する。この電荷に応じて、液晶40に作用する電界の強さが変化するため、液晶40には、その画像が可視像として表示され、被写体像が現像される。この電荷保持媒体32の液晶表示素子では、現像された可視像は電界を除去しても保持される。この液晶表示素子は、加熱装置(図示せず)を用いて所定の温度に加熱することにより、現像された可視像を消去させることもでき、その場合は繰り返し同一記録媒体を用いることもできる。
【0032】
図3(b)の例は特開平5−165005号公報に開示されたものと同じであり、分離型の電子現像型記録媒体30である。この例では静電情報記録媒体31は、基板34、電極層35および光導電層37を積層して成り、光導電層37は電荷発生層37aと電荷輸送層37bを積層させて構成される。電荷保持媒体32は分散型液晶表示素子であり、この分散型液晶表示素子と静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bとは微小間隙Gをもって対向している。電荷保持媒体32の静電情報記録媒体31とは反対側の面には、電極層81と基板82が積層されている。その他の構成は図3(a)の構成と同じである。
【0033】
図3(c)の例は特開平6−130347号公報および特開平7−13132号公報に開示されたものと同じであり、一体型の電子現像型記録媒体30である。図3(b)の例とは異なる構成だけを説明すると、分散型液晶表示素子である電荷保持媒体32と静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bの間に、絶縁層83が設けられ、また電荷保持媒体32の静電情報記録媒体31とは反対側の面には電極層81が積層されている。すなわち図3(c)の構成では、静電情報記録媒体31と電荷保持媒体32の間に間隙は設けられていない。
【0034】
図3(a)、(b)、(c)に示す電子現像型記録媒体30は全て、図1に示すスチルビデオカメラにおいて用いることが可能であり、以下の説明では、図3(a)の電子現像型記録媒体30が設けられているスチルビデオカメラを想定する。
【0035】
図4は電子現像型記録媒体30および暗電流測定回路49の第1の構成例を示す図である。
【0036】
暗電流測定回路49は静電情報記録媒体31の電極層35と電荷輸送層37bに接続され、電源49aとスイッチ49bと暗電流測定抵抗49cと電圧検出部49eとを有する。スイッチ49bは電極層35と電源49aの正極との間に直列に接続され、暗電流測定抵抗49cは静電情報記録媒体31の電荷輸送層37bと電源49aの負極との間に直列に接続されている。電圧検出部49eは暗電流測定抵抗49cに発生する電圧を検出するものであり、暗電流測定抵抗49cに並列に接続されている。静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cは、スイッチ49aが閉成している時、電源49aによって電圧を印加される。この時暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が電圧検出部49eによって検出され、この電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流が測定され、その抵抗値が求められる。
【0037】
図5は電子現像型記録媒体30および暗電流測定回路49の第2の構成例を示す図である。電子現像型記録媒体30の構成は図4と同じであるが、暗電流測定回路49において、コンデンサ49dが暗電流測定抵抗49cに並列に接続されている。この構成においても、スイッチ49aが閉成している時、静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cとコンデンサ49dに電源49aの電圧が印加され、この時暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流が測定され、その抵抗値が求められるが、暗電流測定抵抗49cの電圧の時定数が図4の構成とは異なる。次に、図4および図5に示す暗電流測定回路49の回路特性を、図6〜図8を参照して説明する。
【0038】
図6は図4に示す静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49の等価回路、図7は図5に示す静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49の等価回路である。これらの図に示すように、静電情報記録媒体31は抵抗31aとコンデンサ31bを並列接続してなる回路と等価である。図8は暗電流測定抵抗49cに発生する電圧Vの時間的変化である。
【0039】
図4に示す回路の作用を説明する。
静電情報記録媒体31を遮光した状態すなわちシャッタ22を閉じた状態でスイッチ49bを開放状態から閉成すると、静電情報記録媒体31と暗電流測定回路49にはステップ状の電圧が印加される。したがって電圧印加の初期では、コンデンサ31bのインピーダンスは小さく、ほとんどの電流はコンデンサ31bを流れるので、静電情報記録媒体31での電圧降下はほとんどなく、図8において二点鎖線K1で示すように、暗電流測定抵抗49cには電源49aの電圧とほぼ同じ値の電圧Eが発生する。時間の経過とともにコンデンサ31bが充電されていくので、電流は抵抗31aを流れるようになり、その電流値は時間の経過とともに減少し、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧は低下する。この電圧が一定値になるまでに、例えば数10msの時間Txを要し、最終的には抵抗31b、49cによって分圧された電圧(=(E/Rs)・R)が抵抗49cに発生する。
【0040】
一方、図5に示す回路によれば、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が一定値になるまでの時間、すなわち整定時間を短縮させることができる。
【0041】
すなわちこの回路では、整定時間をできるだけ短くするために、暗電流測定抵抗49cの抵抗値に応じた容量を有するコンデンサ49dが設けられている。この回路において、スイッチ49bを閉成した直後、電源49aの電圧Eはコンデンサ31b、49dによって分圧されるため、暗電流測定抵抗49cに作用する電圧Vは、
V=(Cs/(Cs+C))×E (t=0+ ) (1)
である。ただし、Csはコンデンサ31bの容量、Cはコンデンサ49dの容量である。スイッチ49bを閉成してから十分に時間が経過すると、電源電圧Eは抵抗31a、49cによって分圧されるようになるため、暗電流測定抵抗49cに作用する電圧Vは、
V=(R/(Rs+R))×E (t=∞) (2)
となる。ただしRsは抵抗31bの抵抗値、Rは抵抗49cの抵抗値である。
【0042】
暗電流測定抵抗49cの電圧変化の時定数を実質的に0にするためには、t=0+ の時の電圧をt=∞の電圧に等しくすればよい。すなわち、(1)式と(2)式が等しいとおくと、
(Cs/(Cs+C))=(R/(Rs+R))
∴Cs ×Rs=C×R (3)
が得られる。(3)式の右辺は、暗電流測定抵抗49cとコンデンサ49dによって定まる時定数であり、(3)式の右辺は静電情報記録媒体31に関する時定数である。
【0043】
すなわち、これらの時定数が等しくなるような容量を有するコンデンサ49dを暗電流測定抵抗49cに並列に接続することにより、スイッチ49bを閉成してから暗電流測定抵抗49cの定常的な電圧を測定できるまでの時間、すなわち静電情報記録媒体31の抵抗値を検出できるまでの時間を最小限にすることができる。なお図6において、符号K2はRC=RsCs−|δ|の場合、符号K3はRC=RsCsの場合、符号K4はRC=RsCs+|δ|の場合をそれぞれ示し、RCとRsCsの間に誤差δが存在しても時間Tsにおいて暗電流測定抵抗49cに発生する電圧が一定になっている。
【0044】
図9は図4に示す暗電流測定回路49における暗電流の過渡応答を示している。時間0においてスイッチ49bを閉成すると、暗電流測定抵抗49cに流れる暗電流は、最初は閾値Ithよりもかなり大きいが、時間の経過とともに急激に減少する。静電情報記録媒体31が劣化していない場合、実線L1により示すように、暗電流が減少する時間は相対的に長く、暗電流の変化率は時間Tsにおいてほとんど0になる。これに対し、静電情報記録媒体31が劣化すると、実線L2により示すように暗電流が減少する時間は相対的に短く、暗電流の変化率は時間0の直後すなわち時間T’sにおいてほとんど0になり、その後は実質的に変化しない。
【0045】
暗電流が閾値Ithよりも低い場合、静電情報記録媒体31の抵抗値が大きいため、静電情報記録媒体31では、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が相対的に大きく、コントラストの大きい画像が電荷保持媒体32によって記録可能である。したがって、時間Ts 経過後(例えばTm)に測定した暗電流値が閾値Ithより小さければ、静電情報記録媒体31は劣化しておらず、十分に良好な画像を記録できる状態であることがわかる。これに対して暗電流が閾値Ithよりも高い場合、静電情報記録媒体31の抵抗値が小さいため、受光量の大きい部位と小さい部位に発生する電流成分の差が相対的に小さく、コントラストの大きい画像は記録不可能である。したがって、時間Ts経過後(例えばTm)に測定した暗電流値が閾値Ithより大きければ、静電情報記録媒体31は劣化しており、良好な画像の記録は期待できないことかわかる。
【0046】
図10は図5に示す暗電流測定回路49、すなわちコンデンサ49dを有する回路における暗電流の過渡応答を示している。この回路の場合、暗電流測定抵抗49cに流れる暗電流は、スイッチ49cを閉成した時間0において、閾値Ithよりも小さい。静電情報記録媒体31が劣化していない場合の一例を示すと、実線L3により示すように、暗電流は時間0から減少するが比較的短時間の間にその減少は停止し、時間Ts において暗電流の変化率はほとんど0になり、暗電流値は閾値Ith以下で整定する。これに対して静電情報記録媒体31が劣化すると、実線L4により示すように暗電流は急激に増加し、暗電流の変化率は時間Ts よりも後の時間T’sにおいてほとんど0になり、暗電流値は閾値Ith以上で整定する。
【0047】
暗電流が閾値Ithよりも低い場合、上述したように、コントラストの大きい画像が電荷保持媒体32によって記録可能である。したがって静電情報記録媒体31が劣化していない場合、時間Ts が経過して暗電流が整定した状態において、暗電流は閾値Ithよりも小さくなっており、良好な画像を記録できる状態であることがわかる。一方静電情報記録媒体31が劣化している場合、暗電流は時間が経過すると閾値Ithよりも高くなるため、良好な画像の記録は期待できないことがわかる。なお図10において、破線L5は静電情報記録媒体31がある程度劣化しており、使用不可能な状態になった直後の場合を示している。すなわち暗電流の変化率は時間Ts とT’sの中間である時間Tthにおいてほぼ0となり、その後暗電流の大きさは略閾値Ithに等しい。
【0048】
図11〜図12は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作(撮影動作)の第1の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図4および図5に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0049】
ステップ101においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ102において暗電流測定回路49のスイッチ49cが閉成される。ステップ103では所定時間Tmが経過したか否かが判定される。この所定時間Tmは、暗電流測定回路49の整定時間Ts(図8〜図10参照)よりも長い。所定時間Tmが経過するとステップ104へ進み、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。ステップ105では暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放される。
【0050】
ステップ106では、暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ith以上の場合、ステップ107において、電子現像型記録媒体30が劣化している旨の警告が表示素子68(図2参照)に表示され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0051】
これに対し、ステップ106において暗電流値Idが閾値Ithよりも小さいと判定された場合、電子現像型記録媒体30は正常であると見做され、ステップ111以下が実行される。まずステップ111では、暗電流値Idに基づいて、最適な印加電圧Vapと印加時間Tapがシステムコントロール回路20のメモリに予め格納されているテーブルから読取られる。このテーブルは例えば図12に示すようなものであり、暗電流Idの値の範囲に対して、印加電圧Vapと印加時間Tapが定められている。これらの印加電圧Vapと印加時間Tapは、最もコントラストの高い画像が得られるような値を有し、例えば実験によって求められる。ステップ112では、ステップ111において読取られた印加電圧Vapと印加時間Tapが記録媒体駆動回路41のメモリにセットされる。
【0052】
ステップ113では、測光センサ28からの出力信号すなわち測光値が検出され、ステップ114では、この測光値に基づいて露出演算が開始される。ステップ115において露出演算が完了したことが確認されると、この演算結果に従って、ステップ116以下において記録動作が行われる。
【0053】
ステップ111では、絞り12aの開度が全開状態から所定開度まで変化し、またクイックリターンミラー21がダウン状態からアップ状態に変化する。ステップ117においてミラー21のアップ状態への変化と絞り12aの開度調整が完了したことが確認されると、ステップ118においてシャッタ22が開放する。ステップ119ではタイマの値が0にクリアされ、ステップ120ではタイマによる計時がスタートする。
【0054】
ステップ121では記録媒体活性化信号が出力され、電子現像型記録媒体30に、ステップ111において読取られた電圧Vapが印加される。露出演算により求められた露出期間が経過し、ステップ122において露出が完了したことが検出されると、ステップ123において、シャッタ22が閉じる。このシャッタ22の閉塞動作の完了に伴い、ステップ124が実行され、ミラー21がダウン状態に変化するとともに、絞り12aが全開状態まで開放する。ステップ125において、タイマのスタートからステップ111において読取られた印加時間Tapが経過したことが確認されると、ステップ126において記録媒体活性化信号の出力が停止される。
【0055】
すなわち、記録媒体活性化信号はシャッタ22が開放している間出力され、この間、電子現像型記録媒体30に所定の電圧が印加される。そして、この状態で露光されることにより、電子現像型記録媒体30には被写体像が可視像として現像される。この可視像は記録媒体活性化信号の出力が停止しても保持される。
【0056】
ステップ127において、ミラー21と絞り12aが初期状態に復帰したことが確認されると、ステップ128においてミラー21と絞り12aの駆動が停止され、このプログラムは終了する。
【0057】
図14は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作の第2の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図4に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0058】
ステップ201においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ202において暗電流測定回路49のスイッチ49cが閉成される。ステップ203では、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。
【0059】
ステップ204では、暗電流値Idが閾値Ithよりも大きい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ithよりも大きい場合、ステップ205において、スイッチ49bが閉成されてから、すなわち静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cに電源電圧を印加した時から所定時間Tmが経過したか否かが判定される。所定時間Tmが経過している場合、電子現像型記録媒体30は劣化していると見做され、ステップ208においてスイッチ49bが開放された後、ステップ209において劣化している旨の警告が表示素子68に表示され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0060】
ステップ205において所定時間Tmが経過していない場合、ステップ206において暗電流Idが測定され、ステップ207において暗電流値の時間的変化が所定値よりも小さいか否かが判定される。この時間的変化が所定値よりも小さい時、これ以上時間が経過しても暗電流値Idは閾値Ithより小さくならず、電子現像型記録媒体30は劣化していると見做される。すなわちステップ208、209が実行され、このプログラムは終了する。
【0061】
一方、ステップ204において暗電流値Idが閾値Ith以下である場合、電子現像型記録媒体30に対する記録動作を行うべくステップ210へ進む。
【0062】
ステップ210では、スイッチ49bが閉成されてから所定時間Tmが経過したか否かが判定される。所定時間Tmが経過している場合、ステップ213においてスイッチ49bが開放され、ステップ214以下が実行され、記録動作が行われる。ステップ214以下の処理内容は、図11のステップ111以下の処理内容と同様であるので、その説明は省略する。
【0063】
ステップ210においてスイッチ49bが閉成されてから所定時間Tmが経過していないと判定された場合、ステップ211において暗電流Idが測定され、ステップ212において暗電流値の時間的変化が所定値よりも小さいか否かが判定される。この時間的変化が所定値以上である時、まだ暗電流値Idが整定しないので、ステップ210〜212が繰り返し実行される。ステップ212において時間的変化が所定値よりも小さと判定された時、暗電流値Idが整定したと判定され、電子現像型記録媒体30は正常であると見做される。すなわち、ステップ213においてスイッチ49bが開放された後、ステップ214以下が実行される。
【0064】
図15は、電子現像型記録媒体30への画像の記録動作の第3の例のプログラムを示すフローチャートである。この例は、図5に示される暗電流測定回路49に適用できる。
【0065】
ステップ301においてレリーズスイッチ14が押下されたことが確認されると、ステップ302において暗電流測定回路49のスイッチ49bが閉成される。ステップ303では、暗電流測定抵抗49cに発生する電圧に基づいて、静電情報記録媒体31に流れる暗電流値Idが測定される。ステップ304では、暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい否かが判定される。暗電流値Idが閾値Ith以上の場合、ステップ305において電子現像型記録媒体30が劣化している旨の警告が表示素子68に表示され、またステップ306において暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放され、このプログラムは終了する。すなわち、この場合、電子現像型記録媒体30への記録動作は禁止される。
【0066】
一方、ステップ304において暗電流値Idが閾値Ithよりも小さい場合、ステップ307へ進み、スイッチ49bが閉成されてから、すなわち静電情報記録媒体31と暗電流測定抵抗49cに電源電圧を印加した時から所定時間Tmが経過したか否かが判定される。この所定時間Tmは、暗電流測定回路49の整定時間Ts(図10参照)よりも長い。所定時間Tmが経過するまでは、ステップ303、304、307が繰り返し実行され、この間に暗電流値Idが閾値Ith以上になると、ステップ305へ進むが、所定時間Tmが経過すると、電子現像型記録媒体30は正常であると見做され、ステップ308以下が実行される。
【0067】
ステップ308では、暗電流測定回路49のスイッチ49bが開放される。ステップ309以下の処理内容は、図11のステップ111以下の処理内容と同様であるので、その説明は省略する。
【0068】
以上のように本実施形態によれば、静電情報記録媒体31が劣化したことが、暗電流を測定することによって的確に判定されるので、コントラストの小さい不明瞭な画像が記録されることが防止される。特に、図5に示されるように、コンデンサ49dを暗電流測定抵抗49cに並列接続した構成によると、静電情報記録媒体31の抵抗値、すなわち静電情報記録媒体31が劣化しているか否かを、暗電流測定回路49のスイッチ49bを閉成したのと略同時に測定することができるので、コントラストの高い画像を得るための印加電圧と印加時間を瞬時に設定することができる。したがって電子現像型記録媒体30をカメラに装着して直ちに記録動作を行うことができる。
【0069】
なお電子現像型記録媒体30は上述した構成に限定されるものではなく、画像を電子的に現像するものであれば、その構成は限定されない。
【0070】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、静電情報記録媒体の抵抗値を測定することによって、常に良好な画像を記録することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を適用した電子現像型カメラの外観図である。
【図2】図1の電子現像型カメラの回路構成を示すブロック図である。
【図3】電子現像型記録媒体の構成を示す図である。
【図4】電子現像型記録媒体および暗電流測定回路の第1の構成例を示す図である。
【図5】電子現像型記録媒体および暗電流測定回路の第2の構成例を示す図である。
【図6】図4に示す静電情報記録媒体と暗電流測定回路の等価回路を示す図である。
【図7】図5に示す静電情報記録媒体と暗電流測定回路の等価回路を示す図である。
【図8】暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図9】図4に示す暗電流測定回路の暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図10】図5に示す暗電流測定回路の暗電流測定抵抗に発生する電圧の時間的変化を示す図である。
【図11】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第1の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【図12】図11に示すプログラムの後半部分を示すフローチャートである。
【図13】暗電流と印加電圧および印加時間との関係を示す図である。
【図14】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第2の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【図15】電子現像型記録媒体への画像の記録動作の第3の例のプログラムの前半部分を示すフローチャートである。
【符号の説明】
30 電子現像型記録媒体
31 静電情報記録媒体
49 暗電流測定回路
49c 暗電流測定抵抗
49d コンデンサ
Claims (9)
- 静電情報記録媒体に結像した画像に対応した可視像が現像されるように構成された電子現像型記録媒体であって、
前記静電情報記録媒体に入射する光を遮断する遮光手段と、
前記静電情報記録媒体に直列に接続された暗電流測定抵抗と、
前記静電情報記録媒体及び暗電流測定抵抗に電圧を印加したときから所定時間経過したとき、前記暗電流測定抵抗に発生する電圧を測定する電圧測定手段と、
測定された前記暗電流測定抵抗の電圧に基づいて前記静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定する手段とを備え、
前記電圧測定手段は、前記静電情報記録媒体が前記遮光手段により遮光された状態において実行され、前記所定時間は前記電圧測定手段の整定時間よりも長く、かつ使用不可能な状態となった直後の静電情報記録媒体の暗電流の変化率が実質的に0となるのに掛かる時間よりも長いことを特徴とする電子現像型記録媒体の良否判定装置。 - 前記判定手段は、前記電圧に基づいて前記静電情報記録媒体の抵抗値を検出し、この抵抗値に基づいて前記静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記判定手段は、前記電圧に基づいて前記静電情報記録媒体に流れる暗電流を測定し、この暗電流に基づいて前記静電情報記録媒体が劣化しているか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記判定手段は、前記暗電流が閾値よりも大きい時、前記静電情報記録媒体が劣化していると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記判定手段は、前記暗電流が閾値よりも小さい時、前記静電情報記録媒体が正常であると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記所定時間が経過していない場合においても前記電圧測定手段が前記暗電流測定抵抗に発生する電圧を測定可能であって、前記判定手段は、前記電圧に基づく暗電流が閾値よりも大きく前記所定時間が経過していない場合、前記暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、前記静電情報記録媒体が劣化していると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装。
- 前記所定時間が経過していない場合においても前記電圧測定手段が前記暗電流測定抵抗に発生する電圧を測定可能であって、前記判定手段は、前記電圧に基づく暗電流が閾値よりも小さく前記所定時間が経過していない場合、前記暗電流の時間的変化が所定値よりも小さいことにより、前記静電情報記録媒体が正常であると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記暗電流測定抵抗にコンデンサが並列接続され、前記判定手段は、前記暗電流が閾値よりも大きい時、前記静電情報記録媒体が劣化していると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
- 前記暗電流測定抵抗にコンデンサが並列接続され、前記判定手段は、前記暗電流が閾値よりも小さい時、前記所定時間が経過したことにより、前記静電情報記録媒体が正常であると判定することを特徴とする請求項3に記載の電子現像型記録媒体の良否判定装置。
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1996
- 1996-07-19 JP JP20916896A patent/JP3626560B2/ja not_active Expired - Fee Related
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1997
- 1997-02-19 US US08/802,877 patent/US5974275A/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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