JP3603238B2 - 時分割光多重化装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光変調信号を時分割多重化する時分割光多重化装置に関する。
各種の情報量の増加に伴って大容量通信システムが要望されている。その為の光通信システムに於いては、光強度変調を行うビットレートを大きくする方向に向かっているが、周辺の電子回路部品の高速動作化を図ることが困難となってきている。そこで、光領域で多重化する方式等が提案されている。このような光領域で時分割多重化する場合の安定化が要望されている。
【0002】
【従来の技術】
光領域で時分割多重化する方式としては既に各種の方式が提案されている。例えば、図8は従来例の概要説明図であり、半導体レーザ等の光源84から一定レベルの光信号aを第1の光変調器81に入力し、クロック信号bによって変調して、クロック信号bに同期し、且つ互いに信号として位相差が180度の光信号c,dを出力し、第2,第3の光変調器82,83に於いてベースバンド信号e,fによって光信号c,dをオン,オフ変調し、それぞれの光変調信号g,hを光合波器85により合波して、時分割多重光信号iを出力する。
【0003】
図9は従来例の動作説明図であり、(a)〜(i)は、図8の各部のa〜iの信号波形の一例を示す。即ち、光源84からの光信号は、(a)に示すように、光レベルが一定のものである。又クロック信号bは、(b)に示すように、デュティ50%であり、第1の光変調器81により、(c),(d)に示すように、クロック信号bに同期し、且つ信号としての位相差が180度の光信号c,dが第2,第3の光変調器82,83に入力される。
【0004】
又(e),(f)に示すようなベースバンド信号e,fが第2,第3の光変調器82,83に加えられて、光信号c,dがオン,オフ変調され、(g),(h)に示すような二つのRZ信号が生成される。それらが光合波器85により合波されて、異なるタイムスロットによる光変調信号g,hが時分割多重化され、(i)に示す時分割多重時分割多重光信号iが出力される。
【0005】
又第2,第3の光変調器82,83は、例えば、マッハツェンダ型変調器を用いることができるものであり、又第1の光変調器81は、同様に、マッハツェンダ型変調器の構成を基本とするが、その出力側に光方向性結合器や分岐導波路を設け、クロック信号bに同期して、互いに180度の信号位相差の光信号c,dを出力する構成とする。
【0006】
又は、図10に示すように、第1の光変調器81として、第2,第3の光変調器82,83と同様な1出力のマッハツェンダ型変調器81Aを用い、その出力光を光分岐器86により分岐し、その分岐した一方の光路長に信号半周期分の差を与える遅延線路87を接続する構成とすることもできる。
【0007】
前述の第2,第3の光変調器82,83からの光変調信号g,hが、例えば、図11の(a),(b)に示すように、180度の信号位相差の波形の場合、これらを合波すると、図11の(c)に示す時分割多重光信号となる。この時の(a),(b)の光変調信号の光位相が180度の位相差を有する場合、相互に重なる部分は打ち消し合うから、合波した時分割多重光信号は、図11の(d)の91で示す波形となる。又反対に、図11の(a),(b)の光変調信号の光位相が、同相の場合、相互に重なる部分は加算されることになり、従って、図11の(e)の92で示す波形となる。
【0008】
図12は光変調信号の測定波形図を示し、(a)は10Gb/sのRZ光信号の測定波形を示し、(b)は、(a)の波形の光信号を、相互に光信号としての位相が180度相違するようにして合波することにより、10Gb/sのRZ光信号を20Gb/sの光多重信号とした場合の測定波形を示し、その時に、各光信号の相互に重なる部分の光位相が180度の位相差を有する場合、互いに弱め合う状態となることを示しており、図11の(d)はこの状態を線図として示している。
【0009】
又図12の(c)は、(b)の場合と反対に、各光信号の相互に重なる部分の光位相が同位相の場合の測定波形を示し、その重なる部分が互いに相和される状態を示している。なお、図8の(e)はこの状態を線図として示している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
光領域で時分割多重化を行う場合に、各系統の光信号の光位相が180度の位相差を有する場合は、図11の(d)又は図12の(b)に示すように、各光パルスの裾の部分が弱め合うことにより、パルス状の波形となり、又アイパターンは図12の(b)に示すように、比較的大きく開くことになる。又反対に各系統の光信号の光位相が同相の場合、図11の(c)又は図12の(c)に示すように、各光パルスの裾の部分が強め合うことにより、相互干渉が大きい信号波形となる。その際、図12の(c)に示すように、アイパターンは平均レベルに対して小さくなる。又各系統の光信号の光位相が180度〜0度の間の場合、図11の(d),(e)の間、又は図12の(b),(c)の間の干渉の状態の信号波形となる。
【0011】
又図8又は図10に於いて、第2,第3の光変調器82,83からの光変調信号g,hの光位相を、前述のように、180度又は0度に初期設定しても、温度変化等により光変調器82,83の特性が変動し、光合波器85に入力される光変調信号g,hの光位相が変化し、初期設定状態からずれることになる。又第2,第3の光変調器82,83に入力される光信号c,dについても、第1の光変調器81の特性変化により、初期設定の光位相状態からずれることがあり、それによって、光変調信号g,hの光位相が初期設定状態からずれることになる。
本発明は、光領域で時分割多重化する光信号の光位相を初期設定状態に自動的に維持させることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明の時分割光多重化装置は、図1を参照して説明すると、(1)複数のタイムスロットの異なる光変調信号を時分割多重化する光多重化部1と、この光多重化部1に加える光変調信号の少なくとも一つの光波の位相を制御する光位相制御部2と、この光位相制御部2に入力される光位相制御信号を低周波信号により変調する為の低周波発振器3と、この低周波発振器3からの低周波信号と、光多重化部1により多重化された光信号に含まれる低周波信号成分との位相比較を行って、光位相制御部の光位相制御量を制御する光位相検出制御部4とを備えている。又5,6は光変調器、7は光分岐部を示す。光位相検出制御部4は、例えば、光多重信号中の周波数f0 の低周波信号成分が零となるように、光位相制御部2を制御する。
【0013】
又(2)光位相制御部2は、誘電体導波路上に電極を形成し、この電極に光位相検出制御部4からの制御電圧を印加して、電界強度によって屈折率を変化させ、誘電体導波波路を伝搬する光変調信号の光位相を制御する構成を備えている。
【0014】
又(3)光位相制御部2は、温度により屈折率が変化する材料からなる導波路上に発熱電極を形成し、この発熱電極に光位相検出制御部4からの制御電圧を印加して、導波路を伝搬する光変調信号の光位相を制御する構成を備えている。
【0015】
又(4)光位相制御部2は、光変調信号の空間伝搬経路長を変化させる電気機械変換素子を設け、この電気機械変換素子を光位相検出制御部4からの制御電圧により制御して、光変調信号の光位相を制御する構成を備えている。
【0016】
又(5)光位相制御部2は、光位相検出制御部4からの光位相を制御する制御電圧と、低周波発振器3からの低周波信号とを重畳して印加する構成を備え、光位相制御部2を伝搬する光変調信号の光位相を低周波信号により変調し、その平均値位相を初期設定状態に維持させることができる。
【0017】
又(6)光多重化部1により時分割多重化された隣接ビットに対応する隣接光変調信号の光位相をほぼ180度ずれるように、光位相制御部2を制御する構成とすることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】
図2は本発明の第1の実施の形態の説明図であり、11は光源、12は第1の光変調器、13は低周波発振器、14,15は第2,第3の光変調器、16は光位相制御部、17は光合波器、18は光分岐器、19は光検出器、20は光位相検出制御回路、21はバンドパスフィルタ、22は光強度検出部、23は低周波信号重畳部である。
【0019】
第1,第2,第3の光変調器12,14,15は、図6に示す第1,第2,第3の光変調器81,82,83と同様な構成を有するものであり、又第2,第3の光変調器14,15は、図1の光変調器5,6に対応する。又光合波器17は、図1の光多重化部1に対応し、光位相制御部16は、図1の光位相制御部2に対応し、光位相検出制御回路20とバンドパスフィルタ21と光強度検出部22と光検出器19とは、図1の光位相検出制御部4に対応する。又光分岐器は、図1の光分岐部7に対応し、低周波発振器13は、図1の低周波発振器3に対応する。この低周波発振器13は、クロック信号に比較して充分に低速の低周波信号を発生するものである。
【0020】
又半導体レーザ等による光源11と、クロック信号により信号位相差が180度となるように光信号を出力する光変調器12と、ベースバンド信号により光信号を変調する光変調器14,15と、光変調信号を合波することにより時分割多重化を行う光合波器17とは、図6に示す従来例の構成及び作用と同様であるから、重複する説明は省略する。
【0021】
又光位相制御部16は、光位相を電界強度,熱,空間伝搬経路長等によって制御する構成を有し、この実施の形態では、光変調器15と光合波器17との間に接続した場合を示すが、光変調器14と光合波器17との間に接続することも可能であり、又両方の光変調器14,15と光合波器17との間にそれぞれ光位相制御部16を接続することも可能である。又光位相検出制御回路20からの光位相制御信号を低周波信号重畳部23により低周波発振器13からの低周波信号を重畳して、光位相制御部16を制御する場合を示している。
【0022】
又図11の(d)又は図12の(b)に示すように、各系統の光変調信号の光位相が180度の位相差を有して、光パルスの裾の重なり合う部分が弱め合う場合、時分割多重化された光信号の光強度は最小の状態となる。このような状態となるように、光位相制御部16に光位相検出制御回路20からバイアス電圧を印加して、光変調器15からの光変調信号の光位相を制御する場合、そのバイアス電圧と光強度との関係は、図3の(A)に示すものとなる。
【0023】
即ち、光分岐器18により光合波器17からの時分割多重光信号の一部を分岐し、光検出器19により電気信号に変換し、光強度検出部22により光強度を検出し、バイアス電圧をBV0 に設定した時に光強度が最小となるとすると、その状態に於けるバイアス電圧BV0 に、低周波発振器13から周波数f0 の低周波信号24を重畳すると、バイアス電圧はBV1 〜BV2 の間を変化するから、出力光信号(時分割多重光信号)の光強度は右側に示すように変化し、その周波数成分は2f0 となり、f0 の成分は含まないことになる。
【0024】
又図3の(B)は、(A)の初期状態からバイアス電圧がずれた場合を示し、このバイアス電圧に重畳された低周波信号が25に示す場合、出力光信号は右側の27に示す光強度となり、又バイアス電圧に重畳された低周波信号が26に示す場合、出力光信号は右側の28に示す光強度となる。又バイアス電圧が変化しない時でも、光変調器等の特性変化等によって、各系統の光変調信号の光位相が初期状態から変化すれば、バイアス電圧と光強度との関係が変化することになり、バイアス電圧が変化した場合と同様になる。このように、初期状態からずれた場合の27,28に示す出力光信号は、周波数f0 の成分を含むものとなる。
【0025】
そこで、光強度検出部22により時分割多重光信号の光強度を検出し、中心周波数f0 のバンドパスフィルタ21により周波数f0 の成分を抽出し、光位相検出制御回路20は、この周波数f0 の成分が零となるように、即ち、光位相制御部16に加えるバイアス電圧を、図3の(B)の27に示す場合は上昇し、又28に示す場合は低下するように制御して、光合波器17に入力する各系統の光変調信号の光位相を180度の位相差とし、光パルスの裾の重なる部分を弱め合う初期設定状態を自動的に維持することができる。
【0026】
又バイアス電圧のずれ方向に対応して、出力光信号は、27又は28に示すように、周波数f0 の成分の位相が相違するから、この位相によってバイアス電圧の制御方向を識別することができる。例えば、出力光信号が27に示す場合、バイアス電圧を上昇するように制御し、出力光信号が28に示す場合、バイアス電圧を下降するように制御し、周波数f0 の成分が含まれなくなるように、バイアス電圧を制御することにより、隣接する光変調信号の裾を弱め合う初期設定状態を維持することができる。
【0027】
図4は位相制御部の説明図であり、(A)は、光変調器15(図2参照)に接続した光ファイバ31と、光合波器17に接続した光ファイバ32との間に、レンズ33,34と、反射鏡35とを配置し、この反射鏡35を矢印方向に、電気機械変換素子36により移動して、光路長を制御することにより、光位相を制御する場合を示す。
【0028】
従って、光位相検出制御回路20からのバイアス電圧に、低周波発振器13からの周波数f0 の低周波信号を重畳して電気機械変換素子36に印加すると、矢印で示すように振動する。その場合、バイアス電圧に対応した変位位置を中心に、低周波信号の周波数f0 の周期で振動して、光変調信号の光位相が制御されることになる。
【0029】
又図4の(B)は、(A)の反射鏡35の代わりにプリズム又はコーナーキューブ37を設け、電気機械変換素子38により矢印方向に、バイアス電圧に重畳された低周波信号に従って振動させる場合を示す。又光ファイバ31,32を直線状に配置し、何れか一方の光ファイバを他方の光ファイバに対して移動させることにより、光路長を制御して、光変調信号の光位相を制御する構成とするも可能である。なお、電気機械変換素子36,38としては、電歪素子,磁歪素子,ボイスコイルモータ等の各種の構成を適用することができる。
【0030】
又図4の(C)は、熱によって光位相を制御する構成の場合の要部断面を示し、41は基板、42,44は絶縁層、43は導波路、45は発熱電極を示し、基板41は、金属や半導体等の熱伝導性に優れた材料により構成する。又絶縁層42,44は、例えば、SiO2 等により構成し、蒸着やスパッタ等により形成することができる。
【0031】
又導波路43は、温度によって屈折率が変化する材料を用いるもので、例えば、SiO2 にTiをドープして構成することができる。この導波路43上に絶縁層44を介して発熱電極45を形成する。この発熱電極45は、例えば、Ti,Ta,Ni−Cr等の電気抵抗が大きい材料により構成する。
【0032】
光変調器15と光合波器17との間に、前述の導波路43を光学的に接続し、位相検出制御回路20からのバイアス電圧と、低周波発振器13からの低周波信号とを重畳して発熱電極45に印加する。それによって、発熱電極45の温度は、バイアス電圧に対応した中心温度から低周波信号に従って変化し、その発熱電極45の熱が絶縁層44を介して導波路43に伝搬して導波路43の温度を変化させ、その導波路43の屈折率変化に従って光変調信号の光位相を制御することができる。
【0033】
又光位相制御部16は、光変調器12,14,15等と同様に、電界によって屈折率等が変化する誘電体導波路により構成することができる。例えば、基板としてLiNbO3 を用い、Tiを拡散して導波路を形成し、その上に電極を成形し、その電極にバイアス電圧と低周波信号とを重畳して印加して、導波路を伝搬する光変調信号の光位相を制御する構成とすることができる。又前述のように、バイアス電圧に低周波信号を重畳する場合とは別に、低周波信号により光変調信号の光位相を変調する光位相制御部分と、バイアス電圧により光変調信号の光位相を調整する光位相制御部分とに分離することも可能である。
【0034】
図5は本発明の第2の実施の形態の説明図であり、図2と同一符号は同一部分を示し、16a,16bは第1,第2の光位相制御部であり、前述のように、光位相制御部16を第1,第2の光位相制御部16a,16bにより構成した場合を示す。そして、低周波発振器13からの低周波信号により第1の光位相制御部16aを制御し、光位相検出制御回路20からの光位相制御信号により第2の光位相制御部16bを制御して、光変調器15による光変調信号に対して、第1の光位相制御部16aにより低周波信号を重畳し、第2の光位相制御部16bにより光位相を制御する。又他の構成及び動作は図2に示す実施の形態と同様であり、重複した説明は省略する。
【0035】
図6は本発明の第3の実施の形態の説明図であり、51は光源、52は光分岐器、53は低周波発振器、54,55は光変調器、56は光位相制御部、57は光スイッチ、58は光分岐器、59は光検出器、60は光位相検出制御回路、61はバンドパスフィルタ、62は光強度検出部、63は低周波信号重畳部である。
【0036】
この実施の形態は、半導体レーザ等の光源51からの光レベル一定の光信号を光分岐器52により分岐して光変調器54,55に入力し、それぞれベースバンド信号により強度変調し、光スイッチ57に於いてクロック信号に従って光変調器54側の光変調信号と、光変調器55側の光変調信号とを切替えて出力し、時分割多重光信号とするものである。
【0037】
その場合に、光位相制御部56により光変調器55からの光変調信号の光位相を、光変調器54からの光変調信号の光位相に対して180度の位相差が生じるように制御する。この制御状態を自動的に維持する為に、低周波発振器53からの周波数f0 の低周波信号を、低周波信号重畳部63に於いて、光位相検出制御回路60からの光位相制御信号としてのバイアス電圧に対して重畳して光位相制御部56に加え、光分岐器58により一部分岐した時分割多重光信号を光検出器59により電気信号に変換し、光強度検出部62により光強度を検出し、中心周波数f0 のバンドバスフィルタ61を介して光位相検出制御回路60に加え、光位相検出制御回路60は、周波数f0 成分が零となるように、光位相制御部56に印加するバイアス電圧を制御する。
【0038】
この場合の光位相制御部56は、前述の実施の形態に於ける光位相制御部16と同様に各種の構成を適用することができる。又光スイッチ57は、電気光学効果素子等を用いた高速動作の構成とし、例えば、ベースバンド信号を10Gb/sとした時に、クロック信号を10Gb/sとして、2系統の光変調信号を時分割多重化することができる。又光源51からの光信号を光分岐器52により分岐する代わりに、光変調器54,55対応にそれぞれ半導体レーザ等の光源を設けることもできる。その場合、各光源の光位相が相違することになるが、光位相制御部56を含むフィードバックループにより、前述の場合と同様に制御することができる。
【0039】
前述の第1,第2の実施の形態に於いては、2系統の光変調信号を180度の光位相差となるように、即ち、低周波信号の周波数f0 成分が零となるように制御して、光変調信号の裾の重なる部分を弱め合うにし、時分割多重化された各光変調信号間の干渉を抑圧した波形とする場合を示すが、図11の(e)又は図12の(c)に示すように、各光変調信号の裾の重なる部分を強め合うように制御することもできる。
【0040】
この場合は、時分割多重光信号の光強度が最大となるように、各光変調信号の光位相を制御することになり、光位相検出制御回路20,60に於いて、光強度の変化の周波数f0 成分が零となるように、光位相制御部16,56にバイアス電圧を印加する制御構成とする。その際、前述の実施の形態の制御論理を反転することにより、即ち、図3の(B)に於ける出力光信号の周波数f0 成分が27に示す時のバイアス電圧を低下し、28に示す時はバイアス電圧を上昇するように制御すると、光強度最大の時に、安定で周波数f0 成分が零になり、各光変調信号の裾の重なり部分を強め合うように制御することができる。
【0041】
図7は本発明の第4の実施の形態の説明図であり、図6と同一符号は同一部分を示し、56a,56bは光位相制御部56を構成する第1,第2の光位相制御部である。そして、第1の光位相制御部56aを低周波発振器53の出力信号により制御し、第2の光位相制御部56bを光位相検出制御回路60からの光位相制御信号により制御する場合を示す。
【0042】
この第1の光位相制御部56aにより光変調器55からの光変調信号に低周波信号を重畳し、第2の光位相制御部56bにより光変調信号の光位相を制御することになる。又他の構成及び動作は図6に示す実施の形態と同様であり、重複した説明は省略する。
【0043】
本発明は、前述の各実施の形態にのみ限定されるものではなく、種々付加変更することができるものであり、例えば、2系統以上の偶数系統の光変調信号を時分割多重化する場合も、隣接するタイムスロットの光変調信号の光位相を180度とすることにより、各光変調信号の裾の重なる部分を弱め合うように制御することができ、一つの系統に対して他の全系統の光変調信号を光位相制御部によって光位相を制御し、初期設定状態を自動的に維持することができる。又各光変調信号の裾の重なり部分を強め合うように制御する場合は、任意数の系統の光変調信号の時分割多重化に適用することができる。
【0044】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、光領域で時分割多重処理を行う時分割光多重化装置に於いて、光位相制御部2,16,56を設け、周波数f0 の低周波信号により位相変調し、時分割多重光信号の光強度の変化を検出して、周波数f0 成分を抽出し、その周波数f0 成分に対応して、光位相制御部2,16,56に印加するバイアス電圧を制御することにより、初期設定状態を自動的に維持することができる。
【0045】
従って、複数系統の光変調信号を時分割多重化する場合の各光変調信号の光位相を自動的に制御して、光伝送路の特性等に対応した時分割多重光信号とすることができるから、安定な時分割多重光伝送システムを構築できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態の説明図である。
【図3】低周波重畳による動作説明図である。
【図4】位相制御部の説明図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態の説明図である。
【図6】本発明の第3の実施の形態の説明図である。
【図7】本発明の第4の実施の形態の説明図である。
【図8】従来例の概要説明図である。
【図9】従来例の動作説明図である。
【図10】他の従来例の概要説明図である。
【図11】光変調信号の干渉の説明図である。
【図12】光変調信号の測定波形図である。
【符号の説明】
1 光多重化部
2 光位相制御部
3 低周波発振器
4 光位相検出制御部
5,6 光変調器
7 光分岐部
Claims (6)
- 複数の光変調信号を時分割多重化する時分割光多重化装置に於いて、
複数のタイムスロットの異なる光変調信号を時分割多重化する光多重化部と、
該光多重化部に加える光変調信号の少なくとも一つの光波の位相を調節する光位相制御部と、
該光位相制御部に入力される光位相制御信号を低周波信号により変調する為の低周波発振器と、
該低周波発振器からの低周波信号と、前記光多重化部により多重化された光信号に含まれる低周波信号成分との位相比較を行って前記光位相制御部の光位相制御量を制御する光位相検出制御部と
を備えたことを特徴とする時分割光多重化装置。 - 前記光位相制御部は、誘電体導波路上に電極を形成し、該電極に前記光位相検出制御部からの制御電圧を印加して、電界強度によって前記誘電体導波路を伝搬する前記光変調信号の光位相を制御する構成を備えていることを特徴とする請求項1記載の時分割光多重化装置。
- 前記光位相制御部は、温度により屈折率が変化する材料からなる導波路上に発熱電極を形成し、該発熱電極に前記光位相検出制御部からの制御電圧を印加して、前記導波路を伝搬する前記光変調信号の光位相を制御する構成を備えていることを特徴とする請求項1記載の時分割光多重化装置。
- 前記光位相制御部は、前記光変調信号の空間伝搬経路長を変化させる電気機械変換素子を設け、該電気機械変換素子を前記光位相検出制御部からの制御電圧により制御して、前記光変調信号の光位相を制御する構成を備えたことを特徴とする請求項1記載の時分割光多重化装置。
- 前記光位相制御部は、前記光位相検出制御部からの光位相を制御する制御電圧と、前記低周波発振器からの低周波信号とを重畳して印加する構成を備えたことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項記載の時分割光多重化装置。
- 前記多重化部により時分割多重化された隣接ビットに対応する隣接光変調信号の光位相をほぼ180度ずれるように、前記光位相制御部を制御する構成としたことを特徴とする請求項1記載の時分割光多重化装置。
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