JP3518138B2 - Voltage detection circuit - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電圧検出回路に係
り、特に、電源電圧を検出しシステムリセット信号を生
成する電圧検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】マイコンなどは電源電圧が所定のレベル
以上のときに動作するように設計されており、電源電圧
が所定のレベル以下では、誤動作する。このため、電源
電圧が所定レベル以下のときにはリセットかけ、誤動作
しないように構成されている。
【0003】このため、電源電圧を監視し、電源電圧に
応じてシステムリセット信号を生成し、マイコンに供給
する電圧検出回路が提供されている。図5に従来の一例
の回路構成図を示す。従来の電圧検出回路1は、電源電
圧VCCから検出電圧を生成する検出電圧生成回路2及び
検出電圧生成回路2で生成された検出電圧に応じてシス
テムリセット信号を生成する差動アンプ回路3より構成
される。
【0004】検出電圧生成回路2は、ダイオード接続さ
れたPNPトランジスタQ1、電圧検出生成用抵抗R
1,R2,R3、NPNトランジスタQ2,抵抗R4,
R5よりなる定電流源4とを直列に接続してなり、電源
電圧VCCが供給される電源端子TVCC と接地端子TGND
との間に接続される。
【0005】検出電圧生成回路2は電源電圧VCCに応じ
たオフセット電圧ΔVBEを抵抗R2の両端に発生する。
検出電圧生成回路2に発生されたオフセット電圧ΔVBE
は差動アンプ回路3に供給される。差動アンプ回路3は
定電流源5、差動入力用PNPトランジスタQ3,Q
4、カレントミラー回路を構成するNPNトランジスタ
Q6,Q7及び抵抗R6,R7より構成される。
【0006】検出電圧生成回路2で抵抗R2の両端に発
生するオフセット電圧ΔVBEは差動入力用PNPトラン
ジスタQ3,Q4のベースに供給される。差動入力用P
NPトランジスタQ3,Q4はオフセット電圧ΔVBEに
応じてコレクタ電流を制御し、NPNトランジスタQ
5,Q6に供給する。
【0007】ここで、検出電圧VS は、
VS ={(R4/R5)+2}×VBE
+{(R1+R2+R3)/R2}×ΔVBE・・・(1)
通常、IC3=IC5時に切り替わり、
ΔVBE=VBE4 −VBE3
={(kT/q)ln(IC4/IS )}
−{(kT/q)ln(IC3/nIS )}
=(kT/q)ln{n×(IC4/IC3)}・・・(2)
(k;ボルツマン定数、T;絶対温度、q;電子の単位
電荷、IS ;飽和電流、IC3;トランジスタQ3のコレ
クタ電流、IC4;トランジスタQ4のコレクタ電流、
n;トランジスタQ3のトランジスタQ4に対するエミ
ッタ面積比)
ここで、トランジスタQ5,Q6により構成されるカレ
ントミラー回路について、
IC4=IC6+IB6+IB5
ここで、IB6=IB5、IC6=hFE×IB6であるので、
IC4={1+(2/hFE)}×IC6
となる。
【0008】切り替わり時は、
IC3=IC5=IC6より
IC3=IC4/{1+(2/hFE)} ・・・(3)
ここで、式(3)で、hFEが十分に大きければ、
IC3≒IC4
となり、式(2)の
(IC4/IC3)=1
とし、この項を無視することができる。
【0009】また、式(3)で、hFEが小さくなると、
IC3≠IC4
となり、式(2)の(IC4/IC3)の影響が検出電圧V
S に現れてしまう。すなわち、式(1)の検出電圧VS
はトランジスタQ6の電流増幅率hFE依存性を持つこと
になる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来の電圧
検出回路では、半導体製造工程のばらつきによりトラン
ジスタQ6の電流増幅率hFEが極端に小さくなると検出
電圧VS が電流増幅率h FEの影響を受けて変動してしま
い正確な電圧検出が行えなくなる等の問題点があった。
【0011】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、製造工程のばらつきによらず常に正確な検出電圧V
S で電圧の監視が行える電圧検出回路を提供することを
目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、オフセット電
圧の一方がベースに供給された第1のトランジスタと、
オフセット電圧の他方がベースに供給された第2のトラ
ンジスタと、第1のトランジスタのコレクタにコレクタ
が接続され、エミッタが抵抗を介して基底電位に接続さ
れた第3のトランジスタと、第2のトランジスタのコレ
クタ及び第3のトランジスタのベースに各々コレクタ及
びベースが接続され、エミッタが抵抗を介して基底電位
に接続された第4のトランジスタとを有する電圧検出回
路において、第1のトランジスタ及び第2のトランジス
タのエミッタにコレクタが接続され、第3のトランジス
タのベースにエミッタが接続され、第4のトランジスタ
のコレクタにベースが接続された第5のトランジスタ
と、第3のトランジスタのベースと第5のトランジスタ
のエミッタとの接続点と、第4のトランジスタのベース
との間に接続され、第4のトランジスタのベース電位を
低下させる抵抗とを有することを特徴とする。
【0013】本発明によれば、第2のトランジスタのコ
レクタ電流により第3及び第4のトランジスタのベース
電流を制御する第5のトランジスタを設けることによ
り、第2のトランジスタから第3及び第4のトランジス
タのベース電流として供給する電流を第5のトランジス
タの電流増幅率hFEにより1/(hFE+1)とすること
ができるため、電流増幅率hFEの影響を受けにくくな
り、従って、半導体の製造工程によるトランジスタの電
流増幅率hFEの変動による検出電圧変動を低減すること
が可能となる。
【0014】また、本発明によれば、抵抗を第4のトラ
ンジスタのベースに接続することにより第4のトランジ
スタのベース電流を第3のトランジスタのベース電流よ
り小さくしてオフセットを持たせ、第4のトランジスタ
のベース電流分を補正することができるため、さらに、
電流増幅率hFEの依存性を低下させることができ、検出
電圧レベルを低減できる。
【0015】
【発明の実施の形態】図1に本発明の第1実施例の回路
構成図を示す。本実施例は請求項1の実施例に相当す
る。本発明の電圧検出回路11は、検出電圧生成回路1
2、及び、差動アンプ回路13より構成される。
【0016】検出電圧生成回路12は、PNPトランジ
スタQ11、抵抗R11〜R13、定電圧源15より構
成される。PNPトランジスタQ11はベースとコレク
タとが接続されており、いわゆる、ダイオードを構成し
ている。ダイオード接続されたPNPトランジスタQ1
1はエミッタがアノード、コレクタ・ベースがカソード
とされる。
【0017】アノードとなるPNPトランジスタQ11
のエミッタは電源電圧VCCが供給される電源端子TVCC
に接続され、カソードとなるPNPトランジスタQ11
のコレクタ・ベースは抵抗R11の一端に接続される。
抵抗R11の他端は、抵抗R12の一端に接続され、抵
抗R11と抵抗R12との接続点がオフセット電圧ΔV
BEの高レベル側電圧として差動アンプ回路13に供給さ
れる。抵抗R12の他端は、抵抗R13の一端に接続さ
れ、抵抗R12と抵抗R13との接続点がオフセット電
圧ΔVBEの低レベル側電圧として差動アンプ回路13に
供給される。
【0018】抵抗R13の他端は、抵抗R14の一端及
びNPNトランジスタQ12のコレクタに接続される。
抵抗R14の他端は抵抗R15の一端及びNPNトラン
ジスタQ12のベースに接続されている。抵抗R15の
他端及びNPNトランジスタQ12のエミッタは接地端
子TGNDに接続される。抵抗R14,R15及びNPN
トランジスタQ12により定電圧源15を構成し、電源
電圧VCCから電流を引き込み抵抗R11,R12,R1
3に供給する。
【0019】電源電圧VCCに応じて抵抗R12に発生す
る電圧レベルが変化し、差動アンプ回路13がこれを検
出する。差動アンプ回路13は、定電流源14、請求項
中の第1のトランジスタに相当するPNPトランジスタ
Q13、請求項中の第2のトランジスタに相当するPN
PトランジスタQ14、請求項中の第3のトランジスタ
に相当するNPNトランジスタQ15、請求項中の第4
のトランジスタに相当するNPNトランジスタQ16、
請求項中の第5のトランジスタに相当するNPNトラン
ジスタQ17、抵抗R16,R17より構成される。
【0020】PNPトランジスタQ13は、PNPトラ
ンジスタQ14のN倍の電流増幅率を有するように設計
されている。これにより、電流を大きく取れる。定電流
源14は電源端子TVCC と接続されており、電源電圧V
CCから定電流を生成する。定電流源14で生成された定
電流は、PNPトランジスタQ13及びPNPトランジ
スタQ14のエミッタに供給される。
【0021】PNPトランジスタQ13はベースが検出
電圧生成回路12を構成し、オフセット電圧ΔVBEの高
レベル側電圧が発生する抵抗R11と抵抗R12との接
続点に接続され、エミッタがNPNトランジスタQ15
のコレクタに接続される。PNPトランジスタQ14は
ベースが検出電圧生成回路12を構成し、オフセット電
圧ΔVBEの低レベル側電圧が発生する抵抗R12と抵抗
R13との接続点に接続され、エミッタがNPNトラン
ジスタQ16のコレクタ及びNPNトランジスタQ17
のベースに接続される。
【0022】NPNトランジスタQ15及びNPNトラ
ンジスタQ16はベースが互いに接続されており、NP
NトランジスタQ15及びNPNトランジスタQ16の
ベースはNPNトランジスタQ17のエミッタに接続さ
れている。また、NPNトランジスタQ17のコレクタ
は定電流源14から定電流が供給される。
【0023】このように、NPNトランジスタQ15及
びNPNトランジスタQ16のベース電流はNPNトラ
ンジスタQ17を介して制御されることになり、PNP
トランジスタQ14のコレクタ電流IC14 のNPNトラ
ンジスタQ15及びNPNトランジスタQ16のベース
電流への供給分を減少させることができる。
【0024】すなわち、トランジスタQ17により電流
増幅されるため、PNPトランジスタQ14のコレクタ
電流IC14 からNPNトランジスタQ15及びNPNト
ランジスタQ16のベース電流(IB15 +IB16 )は、
(IB15 +IB16 )/(hFE+1)
となる。
【0025】従って、電流増幅率hFE低下による検出電
圧変動を減少させることができる。このため、本実施例
によれば、電流増幅率hFEによらず、検出電圧VS を所
定のレベルに正確に設定できる。本実施例によれば、検
出レベルである検出電圧VS を電流増幅率hFEによらず
一定にできるため、常に正確な検出電圧VS でリセット
をかけることができる。
【0026】図2に本発明の第2実施例の回路構成図を
示す。同図中、図1と同一構成部分には同一符号を付
し、その説明は省略する。本実施例は請求項2の実施例
に相当する。本実施例の電圧検出回路21は、NPNト
ランジスタQ15のベースとNPNトランジスタQ17
のエミッタとの接続点と、NPNトランジスタQ16の
ベースとの間に抵抗R18を設けてなる。抵抗18は請
求項中の抵抗に相当し、NPNトランジスタQ16のベ
ース電流を抑制する。
【0027】本実施例によれば、抵抗R18によりNP
NトランジスタQ16のベース電流が抑制され、NPN
トランジスタQ16にオフセットを持たせることができ
るため、抵抗R18を適当な値に設定することにより、
NPNトランジスタQ16のコレクタ電流IC16 を減少
させ、ベース電流分の補正を行える。
【0028】これにより、電流増幅率hFEの影響をさら
に低減させることができる。図3に本発明の第3実施例
の構成図を示す。同図中、図1と同一構成部分には同一
符号を付し、その説明は省略する。本実施例は請求項1
の実施例に相当する。
【0029】本実施例の電圧検出回路31は図1の電圧
検出回路11の差動アンプ回路13のトランジスタの極
性を反転させたものである。本実施例の差動アンプ回路
32は、定電流源33、請求項中の第1のトランジスタ
に相当するNPNトランジスタQ33、請求項中の第2
のトランジスタに相当するNPNトランジスタQ34、
請求項中の第3のトランジスタに相当するPNPトラン
ジスタQ35、請求項中の第4のトランジスタに相当す
るPNPトランジスタQ36、請求項中の第5のトラン
ジスタに相当するPNPトランジスタQ37、抵抗R3
6,R37より構成される。
【0030】定電流源33は接地端子TGND と接続され
ており、電源電圧VCCから定電流を引き込む。定電流源
33により引き込まれた定電流によりNPNトランジス
タQ33及びNPNトランジスタQ34のエミッタに電
流が供給される。NPNトランジスタQ33はベースが
検出電圧生成回路12を構成し、オフセット電圧ΔVBE
の高レベル側電圧が発生する抵抗R11と抵抗R12と
の接続点に接続され、エミッタがPNPトランジスタQ
35のコレクタに接続される。
【0031】NPNトランジスタQ34はベースが検出
電圧生成回路12を構成し、オフセット電圧ΔVBEの低
レベル側電圧が発生する抵抗R12と抵抗R13との接
続点に接続され、エミッタがPNPトランジスタQ36
のコレクタ及びPNPトランジスタQ37のベースに接
続される。
【0032】PNPトランジスタQ35及びPNPトラ
ンジスタQ36はベースが互いに接続されており、PN
PトランジスタQ35及びPNPトランジスタQ36の
ベースはPNPトランジスタQ37のエミッタに接続さ
れている。また、PNPトランジスタQ37のコレクタ
は定電流源33から定電流が引き込まれる。
【0033】このように、PNPトランジスタQ35及
びPNPトランジスタQ36のベース電流はPNPトラ
ンジスタQ37を介して制御されることになり、NPN
トランジスタQ34のコレクタ電流IC34 のPNPトラ
ンジスタQ35及びPNPトランジスタQ36のベース
電流への供給分を減少させることができる。このため、
本実施例によれば、第1実施例同様に、電流増幅率hFE
によらず、検出電圧VS を所定のレベルに正確に設定で
きる。
【0034】図4に本発明の第4実施例の回路構成図を
示す。同図中、図3と同一構成部分には同一符号を付
し、その説明は省略する。本実施例は請求項2の実施例
に相当する。本実施例の電圧検出回路41は、PNPト
ランジスタQ35のベースとPNPトランジスタQ37
のエミッタとの接続点と、PNPトランジスタQ36の
ベースとの間に抵抗R48を設けてなる。抵抗48は請
求項中の抵抗に相当し、PNPトランジスタQ36のベ
ース電流を抑制する。
【0035】本実施例によれば、第2実施例と同様に抵
抗R48によりPNPトランジスタQ36のベース電流
が抑制され、PNPトランジスタQ36にオフセットを
持たせることができるため、抵抗R48を適当な値に設
定することにより、PNPトランジスタQ36のコレク
タ電流IC36 を減少させ、ベース電流分の補正を行え
る。
【0036】これにより、電流増幅率hFEの影響をさら
に低減させることができる。
【0037】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、第2のト
ランジスタのコレクタ電流により第3及び第4のトラン
ジスタのベース電流を制御する第5のトランジスタを設
けることにより、第2のトランジスタから第3及び第4
のトランジスタのベース電流として供給する電流を第5
のトランジスタの電流増幅率hFEにより1/(hFE+
1)とすることができるため、電流増幅率hFEの影響を
受けにくくなり、検出電圧を安定化させることができる
等の特長を有する。
【0038】また、本発明によれば、抵抗を第4のトラ
ンジスタのベースに接続することにより第4のトランジ
スタのベース電流を第3のトランジスタのベース電流よ
り小さくしてオフセットを持たせ、第4のトランジスタ
のベース電流分を補正することができるため、さらに、
電流増幅率hFEの依存性を低下させることができ、検出
電圧レベルを一定にできる等の特長を有する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
[0001]
The present invention relates to a voltage detection circuit.
In particular, it detects the power supply voltage and generates a system reset signal.
The invention relates to a voltage detection circuit to be formed.
[0002]
2. Description of the Related Art A microcomputer or the like has a power supply voltage at a predetermined level.
It is designed to operate when the above
Below the predetermined level, malfunction occurs. Because of this, the power supply
When the voltage is below the specified level, reset is applied and malfunction occurs.
Not configured.
For this reason, the power supply voltage is monitored and the power supply voltage is monitored.
Generates a system reset signal and supplies it to the microcomputer
A voltage detection circuit is provided. Fig. 5 shows a conventional example
FIG. The conventional voltage detection circuit 1 includes a power supply
Pressure VCCDetection voltage generation circuit 2 for generating a detection voltage from
The system is controlled according to the detection voltage generated by the detection voltage generation circuit 2.
Consisting of a differential amplifier circuit 3 for generating a system reset signal
Is done.
The detection voltage generating circuit 2 is connected to a diode.
PNP transistor Q1 and voltage detection and generation resistor R
1, R2, R3, NPN transistor Q2, resistor R4
R5 and a constant current source 4 connected in series.
Voltage VCCPower supply terminal T to whichVCCAnd ground terminal TGND
Connected between
[0005] The detection voltage generation circuit 2 supplies the power supply voltage VCCAccording to
Offset voltage ΔVBEAt both ends of the resistor R2.
Offset voltage ΔV generated in detection voltage generation circuit 2BE
Is supplied to the differential amplifier circuit 3. The differential amplifier circuit 3
Constant current source 5, differential input PNP transistors Q3, Q
4. NPN transistor constituting a current mirror circuit
Q6 and Q7 and resistors R6 and R7.
[0006] The detection voltage generation circuit 2 generates a voltage at both ends of the resistor R2.
Generated offset voltage ΔVBEIs the PNP transformer for differential input
It is supplied to the bases of the transistors Q3 and Q4. P for differential input
The NP transistors Q3 and Q4 have an offset voltage ΔVBETo
The collector current is controlled accordingly, and the NPN transistor Q
5, Q6.
Here, the detection voltage VSIs
VS= {(R4 / R5) +2} × VBE
+ {(R1 + R2 + R3) / R2} × ΔVBE... (1)
Usually IC3= IC5Sometimes switches,
ΔVBE= VBE4-VBE3
= {(KT / q) ln (IC4/ IS)}
− {(KT / q) ln (IC3/ NIS)}
= (KT / q) ln {n × (IC4/ IC3)} ・ ・ ・ (2)
(K: Boltzmann constant, T: absolute temperature, q: unit of electron
Charge, ISSaturation current, IC3; This is the transistor Q3
Current, IC4A collector current of the transistor Q4;
n: Emi of transistor Q3 with respect to transistor Q4
Area ratio)
Here, the curr constituted by the transistors Q5 and Q6
About the mirror circuit
IC4= IC6+ IB6+ IB5
Where IB6= IB5, IC6= HFE× IB6So
IC4= {1+ (2 / hFE)} × IC6
It becomes.
At the time of switching,
IC3= IC5= IC6Than
IC3= IC4/ {1+ (2 / hFE)} ・ ・ ・ (3)
Here, in Expression (3), hFEIf is large enough,
IC3≒ IC4
And the expression (2)
(IC4/ IC3) = 1
And this term can be ignored.
In the equation (3), hFEBecomes smaller,
IC3≠ IC4
And (I) in equation (2)C4/ IC3) Is the detection voltage V
SWill appear. That is, the detection voltage V of the equation (1)S
Is the current amplification factor h of the transistor Q6.FEHave dependencies
become.
[0010]
However, the conventional voltage
In the detection circuit, the transformer
The current amplification factor h of the transistor Q6FEIs extremely small
Voltage VSIs the current amplification factor h FEFluctuated under the influence of
There is a problem that accurate voltage detection cannot be performed.
The present invention has been made in view of the above points.
Therefore, the detection voltage V is always accurate regardless of the variation in the manufacturing process.
STo provide a voltage detection circuit that can monitor voltage
Aim.
[0012]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides an offset power supply.
A first transistor having one of its voltages supplied to a base;
The other of the offset voltages supplied to the base
And a collector to the collector of the first transistor
Is connected and the emitter isConnected to ground potential through a resistor
WasThe third transistor and the second transistor
And the base of the third transistorCollector and
And baseIs connected and the emitter isBase potential through resistance
Connected toA voltage detection circuit having a fourth transistor
A first transistor and a second transistor
The collector is connected to the emitter of the
The emitter is connected to the base of the
Transistor whose base is connected to the collector of the fifth transistor
And the base of the third transistor and the fifth transistor
And the base of the fourth transistor
And the base potential of the fourth transistor is
Characterized by having a resistance to decrease.
[0013]The present inventionAccording to the second transistor,
The base of the third and fourth transistors depends on the collector current.
By providing a fifth transistor for controlling the current,
From the second transistor to the third and fourth transistors.
The current supplied as the base current of the
1 / (hFE + 1) according to the current amplification factor hFE of the
Makes it less susceptible to the current amplification factor hFE.
Therefore, the power of the transistor due to the semiconductor manufacturing process
The detection voltage fluctuation due to the fluctuation of the current amplification factor hFE
Becomes possible.
[0014]According to the present invention,Connect the resistance to the fourth tiger
The fourth transistor is connected to the base of the transistor.
The base current of the transistor is the base current of the third transistor.
The fourth transistor
Can be corrected for the base current of
The dependency of the current amplification factor hFE can be reduced,
The voltage level can be reduced.
[0015]
FIG. 1 shows a circuit according to a first embodiment of the present invention.
FIG. This embodiment corresponds to the first embodiment.
You. The voltage detection circuit 11 of the present invention includes a detection voltage generation circuit 1
2 and a differential amplifier circuit 13.
The detection voltage generation circuit 12 includes a PNP transistor
A resistor Q11, resistors R11 to R13, and a constant voltage source 15.
Is done. PNP transistor Q11 is connected to base and collector
Are connected to each other, forming a so-called diode.
ing. Diode-connected PNP transistor Q1
1 is the anode for the emitter and the cathode for the collector and base
It is said.
A PNP transistor Q11 serving as an anode
Is the power supply voltage VCCPower supply terminal T to whichVCC
And a PNP transistor Q11 serving as a cathode
Is connected to one end of the resistor R11.
The other end of the resistor R11 is connected to one end of the resistor R12.
The connection point between the anti-R11 and the resistor R12 has an offset voltage ΔV
BESupplied to the differential amplifier circuit 13 as a high level voltage of
It is. The other end of the resistor R12 is connected to one end of the resistor R13.
The connection point between the resistors R12 and R13 is offset
Pressure ΔVBETo the differential amplifier circuit 13 as the low level side voltage of
Supplied.
The other end of the resistor R13 is connected to one end of the resistor R14.
And the collector of the NPN transistor Q12.
The other end of the resistor R14 is connected to one end of the resistor R15 and the NPN transformer.
It is connected to the base of the transistor Q12. Of the resistor R15
The other end and the emitter of the NPN transistor Q12 are grounded.
Child TGNDConnected to. Resistors R14, R15 and NPN
A constant voltage source 15 is constituted by the transistor Q12,
Voltage VCCCurrent from the resistors R11, R12, R1
Supply 3
Power supply voltage VCCOccurs in the resistor R12
Voltage level changes, and the differential amplifier circuit 13 detects this.
Put out. The differential amplifier circuit 13 is a constant current source 14.
PNP transistor corresponding to the first transistor inside
Q13, PN corresponding to the second transistor in the claims
P-transistor Q14, third transistor in claim
The NPN transistor Q15 corresponding to
NPN transistor Q16 corresponding to the transistor of
NPN transistor corresponding to the fifth transistor in claims.
It comprises a resistor Q17 and resistors R16 and R17.
The PNP transistor Q13 is a PNP transistor.
Designed to have N times the current amplification factor of transistor Q14
Have been. Thereby, a large current can be obtained. Constant current
The source 14 is a power terminal TVCCAnd the power supply voltage V
CCTo generate a constant current. The constant generated by the constant current source 14
The current flows through the PNP transistor Q13 and the PNP transistor.
It is supplied to the emitter of the star Q14.
The base of the PNP transistor Q13 is detected.
The voltage generating circuit 12 is constituted, and the offset voltage ΔVBEHigh
The connection between the resistor R11 and the resistor R12 where the level side voltage is generated
Connected to the connection point and the emitter is an NPN transistor Q15
Connected to the collector. PNP transistor Q14
The base forms the detection voltage generation circuit 12, and the offset voltage
Pressure ΔVBER12 and the resistor which generate the low level side voltage of
R13 is connected to the connection point with
The collector of the transistor Q16 and the NPN transistor Q17
Connected to the base.
NPN transistor Q15 and NPN transistor
The base of the transistor Q16 is connected to each other.
N transistor Q15 and NPN transistor Q16
The base is connected to the emitter of NPN transistor Q17.
Have been. The collector of the NPN transistor Q17
Is supplied with a constant current from a constant current source 14.
As described above, the NPN transistor Q15 and the
The base current of the NPN transistor Q16 is
Is controlled via the transistor Q17 and the PNP
Collector current I of transistor Q14C14NPN tiger
Base of transistor Q15 and NPN transistor Q16
The supply to the current can be reduced.
That is, the current is supplied by the transistor Q17.
Because it is amplified, the collector of the PNP transistor Q14
Current IC14From the NPN transistor Q15 and the NPN transistor
The base current (IB15+ IB16)
(IB15+ IB16) / (HFE+1)
It becomes.
Therefore, the current amplification factor hFEDetected power due to drop
Pressure fluctuations can be reduced. Therefore, this embodiment
According to the current amplification factor hFERegardless of the detection voltage VSWhere
Can be set exactly to a certain level. According to this embodiment, the inspection
Output voltage VSIs the current amplification factor hFERegardless of
Since it can be constant, an accurate detection voltage VSReset with
Can be applied.
FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the present invention.
Show. In the figure, the same components as those in FIG.
The description is omitted. This embodiment is an embodiment of claim 2.
Is equivalent to The voltage detection circuit 21 of the present embodiment is
The base of the transistor Q15 and the NPN transistor Q17
Of the NPN transistor Q16
A resistor R18 is provided between the base and the base. Resistance 18
The resistance of the NPN transistor Q16
Source current.
According to this embodiment, NP is set by the resistor R18.
The base current of the N transistor Q16 is suppressed,
Transistor Q16 can have an offset
Therefore, by setting the resistor R18 to an appropriate value,
Collector current I of NPN transistor Q16C16Decrease
Thus, the correction for the base current can be performed.
Thus, the current amplification factor hFEFurther influence of
Can be reduced. FIG. 3 shows a third embodiment of the present invention.
FIG. In the figure, the same components as those in FIG. 1 are the same.
The reference numerals are used, and the description is omitted. This embodiment is the first embodiment.
Corresponds to the embodiment of the present invention.
The voltage detection circuit 31 according to the present embodiment uses the voltage of FIG.
Transistor pole of differential amplifier circuit 13 of detection circuit 11
It is the reverse of the nature. Differential amplifier circuit of the present embodiment
32 is a constant current source 33, the first transistor in claim
, An NPN transistor Q33 corresponding to
NPN transistor Q34 corresponding to the transistor of
A PNP transistor corresponding to the third transistor in the claims.
The transistor Q35 corresponds to a fourth transistor in the claims.
PNP transistor Q36, a fifth transistor in claim
PNP transistor Q37 corresponding to a resistor, resistor R3
6, R37.
The constant current source 33 has a ground terminal TGNDConnected with
And the power supply voltage VCCDraws constant current from Constant current source
NPN transistor by constant current drawn by 33
To the emitters of the transistor Q33 and the NPN transistor Q34.
A stream is provided. The base of the NPN transistor Q33 is
The detection voltage generation circuit 12 is constituted, and the offset voltage ΔVBE
Resistors R11 and R12 that generate a high-level side voltage of
And the emitter is a PNP transistor Q
Connected to 35 collectors.
The base of the NPN transistor Q34 is detected.
The voltage generating circuit 12 is constituted, and the offset voltage ΔVBELow
The connection between the resistor R12 and the resistor R13 where the level side voltage is generated
Connected to the connection point, and the emitter is a PNP transistor Q36.
And the base of the PNP transistor Q37.
Continued.
The PNP transistor Q35 and the PNP transistor
The transistor Q36 has a base connected to each other,
Of the P transistor Q35 and the PNP transistor Q36
The base is connected to the emitter of PNP transistor Q37.
Have been. The collector of the PNP transistor Q37
A constant current is drawn from the constant current source 33.
As described above, the PNP transistor Q35 and the
And the base current of the PNP transistor Q36 is
Is controlled via the transistor Q37.
Collector current I of transistor Q34C34PNP tiger
Base of transistor Q35 and PNP transistor Q36
The supply to the current can be reduced. For this reason,
According to the present embodiment, similarly to the first embodiment, the current amplification factor hFE
Regardless of the detection voltage VSCan be precisely set to a given level
Wear.
FIG. 4 is a circuit diagram of a fourth embodiment of the present invention.
Show. In the figure, the same components as those in FIG.
The description is omitted. This embodiment is an embodiment of claim 2.
Is equivalent to The voltage detection circuit 41 of this embodiment is a PNP transistor.
Base of transistor Q35 and PNP transistor Q37
Of the PNP transistor Q36
A resistor R48 is provided between the base and the base. Resistance 48
The resistance of the PNP transistor Q36
Source current.
According to the present embodiment, similar to the second embodiment, a resistor is provided.
Base current of PNP transistor Q36 due to anti-R48
Is suppressed, and an offset is added to the PNP transistor Q36.
Resistor R48 to an appropriate value.
Setting, the collector of the PNP transistor Q36
Current IC36And corrects the base current.
You.
Thus, the current amplification factor hFEFurther influence of
Can be reduced.
[0037]
As described above, the present inventionClearlyAccording to the second
The third and fourth transistors depend on the collector current of the transistor.
A fifth transistor for controlling the base current of the transistor is provided.
The third and fourth transistors from the second transistor.
The current supplied as the base current of the transistor
1 / (hFE +
1) to reduce the effect of the current amplification factor hFE.
Hardly to detect and stabilize the detection voltage
Features such as
[0038]In addition, the present inventionAccording to the above, the resistance is changed to the fourth transformer.
The fourth transistor is connected to the base of the transistor.
The base current of the transistor is the base current of the third transistor.
The fourth transistor
Can be corrected for the base current of
The dependency of the current amplification factor hFE can be reduced,
It has features such as being able to keep the voltage level constant.
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の第1実施例の回路構成図である。 【図2】本発明の第2実施例の回路構成図である。 【図3】本発明の第3実施例の回路構成図である。 【図4】本発明の第4実施例の回路構成図である。 【図5】従来の一例の回路構成図である。 【符号の説明】 11、21、31、41 電圧検出回路 12 検出電圧生成回路 13、22、32、42 差動アンプ回路 14、33 定電流源 Q13、Q14 PNPトランジスタ Q15、Q16、Q17 NPNトランジスタ R18 抵抗[Brief description of the drawings] FIG. 1 is a circuit configuration diagram of a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a circuit configuration diagram of a second embodiment of the present invention. FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a third embodiment of the present invention. FIG. 4 is a circuit diagram of a fourth embodiment of the present invention. FIG. 5 is a circuit configuration diagram of a conventional example. [Explanation of symbols] 11, 21, 31, 41 Voltage detection circuit 12 Detection voltage generation circuit 13, 22, 32, 42 differential amplifier circuit 14, 33 constant current source Q13, Q14 PNP transistor Q15, Q16, Q17 NPN transistor R18 resistance
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭48−100046(JP,A) 特開 平5−175792(JP,A) 特開 昭50−117348(JP,A) 特開 昭57−11525(JP,A) 特開 昭56−87919(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 19/165 H03K 5/08 H02H 3/06 H02H 3/24 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (56) References JP-A-48-100046 (JP, A) JP-A-5-175792 (JP, A) JP-A-50-117348 (JP, A) JP-A 57-107 11525 (JP, A) JP-A-56-87919 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 19/165 H03K 5/08 H02H 3/06 H02H 3/24
Claims (1)
れた第1のトランジスタと、該オフセット電圧の他方が
ベースに供給された第2のトランジスタと、該第1のト
ランジスタのコレクタにコレクタが接続され、エミッタ
が抵抗を介して基底電位に接続された第3のトランジス
タと、該第2のトランジスタのコレクタ及び該第3のト
ランジスタのベースに各々コレクタ及びベースが接続さ
れ、エミッタが抵抗を介して基底電位に接続された第4
のトランジスタとを有する電圧検出回路において、 前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタの
エミッタにコレクタが接続され、前記第3のトランジス
タのベースにエミッタが接続され、前記第4のトランジ
スタのコレクタにベースが接続された第5のトランジス
タと、 前記第3のトランジスタのベースと前記第5のトランジ
スタのエミッタとの接続点と、前記第4のトランジスタ
のベースとの間に接続され、前記第4のトランジスタの
ベース電位を低下させる抵抗とを有することを特徴とす
る電圧検出回路。(57) [Claim 1] A first transistor whose one of the offset voltages is supplied to a base, a second transistor whose other of the offset voltages is supplied to a base, and the first transistor A third transistor having a collector connected to the collector of the third transistor and an emitter connected to the base potential via a resistor, and a collector and a base connected to the collector of the second transistor and the base of the third transistor, respectively. And a fourth emitter whose emitter is connected to the ground potential via a resistor .
Wherein the collector is connected to the emitters of the first transistor and the second transistor, the emitter is connected to the base of the third transistor, and the collector of the fourth transistor is connected to the collector of the fourth transistor. A fifth transistor having a base connected thereto; a connection point between a base of the third transistor and an emitter of the fifth transistor; and a base connected to the fourth transistor; And a resistor for lowering a base potential of the transistor.
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