JP3483571B2 - テストガス−漏れ検出器 - Google Patents
テストガス−漏れ検出器Info
- Publication number
- JP3483571B2 JP3483571B2 JP52391996A JP52391996A JP3483571B2 JP 3483571 B2 JP3483571 B2 JP 3483571B2 JP 52391996 A JP52391996 A JP 52391996A JP 52391996 A JP52391996 A JP 52391996A JP 3483571 B2 JP3483571 B2 JP 3483571B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum pump
- detector
- valve
- inlet
- leak detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
トガス−漏れ検出器に関するものである。
和国特許第3124205号明細書により公知である。この形
式の漏れ検出器の場合、漏れ検出を2段階で実施でき
る。入口区域の圧力がまだ比較的高い間は、中間接続部
へ通じる導管途中の弁は、閉じたままである。補助真空
ポンプによって吸込まれた混合ガスは、第2の摩擦真空
ポンプ段の補助真空側へ到達する。試験体内の比較的大
きい漏れの結果、この混合ガスに既にテストガス(例え
ばヘリウム)が含まれている場合、このテストガスは、
逆流で双方の摩擦真空ポンプ段を経て検出器へ達し、記
録される。試験体に大きな漏れがない場合は、漏れ検出
器の入口区域が十分に低圧であれば、中間接続部へ通じ
る導管途中の弁が開弁でき、それによって、漏れ検出が
高感度で実施できる。
オイルシールされたポンプなので、オイル蒸気が、漏れ
検出器の入口区域に接続された試験体またはテスト排気
鐘内へ達する危険がある。
トガス−漏れ検出器を、オイルなしの漏れ検出ができる
ように構成することにある。
ム真空ポンプとして構成することで解決した。ダイアフ
ラム真空ポンプは、完全にオイルなしの真空を作り出す
ことができる。オイル蒸気が補助真空ポンプから漏れ検
出器の入口区域へ達する危険は、もはや存在しない。
ルである補助真空圧だけで作動できる。補助真空ポンプ
であるダイアフラム真空ポンプを有する摩擦真空ポンプ
の作動は、したがって、ダイアフラム真空ポンプを、そ
の最終圧近くで作動させることが前提となる。しかし、
圧力が最終圧に接近するにつれて、ダイアフラム真空ポ
ンプの吸込み能は、ゼロに向かう。既述の形式の漏れ検
出器の応動時間は、補助真空ポンプの吸込み能に決定的
に依存しているので、応動時間は、補助真空ポンプとし
てダイアフラム真空ポンプを用いる場合、極めて長くな
る。
プとしてダイアフラム真空ポンプを備えた、既述の形式
の漏れ検出器の応動時間を短縮することにある。
との間の接続導管のコンダクタンスを調節可能にするこ
とで解決した。接続導管のコンダクタンスは、出来るだ
け高く調整しておかねばならない。しかし、質量分析計
−検出器に運転圧力を維持するために必要な、2つの摩
擦真空ポンプ間の圧力を超えてはならない。これによっ
て、漏れ検出器の入口を、絞られた接続導管を介して極
めて早期に中間接続部と接続することができる。この接
続は、その時点に漏れ検出器の入口区域での圧力が、双
方の摩擦真空ポンプ段間の最大許容圧を超えていても可
能である。この措置の重要な利点は、既に極めて早い時
点に、第2の摩擦真空ポンプ段の、ダイアフラム真空ポ
ンプよりはるかに高い吸込み能を利用できる点である。
この結果、応動時間を著しく短縮出来る。
2について説明する。
を示した図である。
図である。
検出器の入口が符号2で、質量分析計として構成された
テストガス検出器が符号3で、2段式摩擦真空ポンプが
符号4で、ターボ分子ポンプとして構成された第1の摩
擦真空ポンプ段が符号5で、中間接続部が符号6で、ね
じ山段として構成された第2の摩擦真空ポンプ段が符号
7で、補助真空ポンプとして用いられるダイアフラム真
空ポンプが符号8で、それぞれ示してある。第2の摩擦
真空ポンプの出口側は、ダイアフラム真空ポンプ8の入
口側と接続され、しかも弁12を有する導管11を介して接
続されている。漏れ検出器1の入口2は、弁14を有する
接続導管13を介して、ダイアフラム真空ポンプ8の入口
側と接続されている。加えて、漏れ検出器1の入口2
と、中間接続部とは、弁16を有する導管15を介して接続
できる。
監視のためには、圧力測定器17が配置されている。この
圧力測定器は、信号を調整器(ブロック18)へ送る。調
整器は弁16と接続されている。
1の入口2に接続する。12,16が閉じて、試験体が、導
管13を介して前排気される。十分に低圧(約5ミリバー
ル)にされてから、漏れ検出が、弁12の開弁と共に開始
される。試験体内に比較的大きな漏れが存在する場合、
テストガスは、摩擦真空ポンプの補助真空側に達し、そ
こから逆流して検出器3へ達する。これで、漏れ検出が
完了する。
導管13を介して継続する。従来式の漏れ検出器の場合、
入口区域の圧力が中間接続部の圧力に合致するまで、排
気する必要があった。そうして初めて、高感度の漏れ検
出段階を開始するための弁16を開くことができた。図示
の実施例の場合は、補助真空ポンプが、ダイアフラムポ
ンプであるため、吸込み能が減少する。この結果、高感
度の漏れ検出が開始されるまでに、極めて長い時間がが
かる。漏れ検出器の応動時間−入口2へのテストガスの
流入と、検出器3での記録との間の時間−も、弁16が閉
じている場合、極めて長くかかる。
6への入口2の接続を、既に入口圧力が中間接続部のと
ころでの所要圧力より高い時点に、開くことが出来る。
接続導管内のコンダクタンスは、弁16が、そのつど必要
となる圧力差を維持するように調整される。入口2での
圧力が減少するにつれて、弁16のコンダクタンスが増大
する。入口圧力が中間接続部6の圧力に合致すると、弁
16が全開する。
に依存して行われるか、または、実施例で実現されてい
るように、圧力測定器17で測定した補助真空圧に依存し
て行われる。圧力測定器17は、その信号を調整器18へ送
り、調整器18は、弁16のコンダクタンスを、所望の圧力
状態に応じて調整する。
整可能な弁棒21は、Oリング23を有する弁体22を含んで
いる。Oリング23が弁座24に密着すると、弁16が閉じら
れる。弁体22は、円錐体25を備え、円錐体25は、弁棒21
の位置に応じて、多少の差はあれ円錐体25に対応して円
錐形に形成された弁開口26内へ突入する。それによっ
て、円錐体25と弁開口26との間の自由環状間隙の大きさ
は、変更可能である。
他のコンダクタンス制限手段を有する2つ以上の弁を使
用することも可能である。それによって、入口圧力に応
じて、順次に1つの弁から、そのつど、より大きいコン
ダクタンスを有する他の弁へ接続される。
Claims (6)
- 【請求項1】テストガス−漏れ検出器(1)であって、
入口(2)と、質量分析計として構成された検出器
(3)と、逆流で作動する第1の摩擦真空ポンプ段
(5)と、第2の摩擦真空ポンプ段(7)と、第1及び
第2の摩擦真空ポンプ段間の中間接続部(6)と、補助
真空ポンプ(8)と、漏れ検出器入口(2)・補助真空
ポンプ入口側(9)間の遮断可能な第1の接続導管(1
3)と、漏れ検出器入口(2)及び中間接続部(6)間
の遮断可能な第2の接続導管(15)とを備えている形式
のものにおいて、 補助真空ポンプ(8)がダイアフラムポンプであり、接
続導管(15)の途中に、接続導管(15)のコンダクタン
スを調整可能な弁(16)が配置されていることを特徴と
する、テストガス−漏れ検出器。 - 【請求項2】接続導管(15)のコンダクタンスを、漏れ
検出器(1)の入口(2)と、中間接続部(6)との間
で調整可能である、請求項1記載の漏れ検出器。 - 【請求項3】弁(16)が弁棒(21)を有し、弁棒(21)
が円錐体(25)を保持しており、円錐体(25)に対応す
る円錐形に構成された弁開口(26)が、円錐体(25)に
配属されている、請求項1記載の漏れ検出器。 - 【請求項4】コンダクタンスを調整するため、複数の弁
が備えられている、請求項2記載の漏れ検出器。 - 【請求項5】請求項2から4のいずれか1項記載の漏れ
検出器を操作する方法において、 続導管(15)または弁(16)のコンダクタンスを、補助
真空圧(補助真空ポンプ8の入口側の)または中間接続
部(6)のところの圧力によって調整すること特徴とす
る、漏れ検出器を操作する方法。 - 【請求項6】コンダクタンスを調整することによって、
双方の摩擦真空ポンプ段(5,7)間に維持される圧力
が、一方では、出来るだけ高くされ、他方では、検出器
(3)内に運転真空が維持される、請求項5記載の方
法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19504278A DE19504278A1 (de) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | Testgas-Lecksuchgerät |
DE19504278.6 | 1995-02-09 | ||
PCT/EP1995/005079 WO1996024828A1 (de) | 1995-02-09 | 1995-12-21 | Testgas-lecksuchgerät |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10513561A JPH10513561A (ja) | 1998-12-22 |
JP3483571B2 true JP3483571B2 (ja) | 2004-01-06 |
Family
ID=7753554
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52391996A Expired - Fee Related JP3483571B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-12-21 | テストガス−漏れ検出器 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5900537A (ja) |
EP (1) | EP0805962B1 (ja) |
JP (1) | JP3483571B2 (ja) |
KR (1) | KR100392540B1 (ja) |
CN (1) | CN1119642C (ja) |
DE (2) | DE19504278A1 (ja) |
WO (1) | WO1996024828A1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19638506A1 (de) * | 1996-09-20 | 1998-03-26 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zur Untersuchung einer Mehrzahl ähnlicher Prüflinge auf Lecks sowie für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Lecksucher |
FR2761776B1 (fr) * | 1997-04-03 | 1999-07-23 | Alsthom Cge Alcatel | Detecteur de fuite a gaz traceur |
DE19735250A1 (de) | 1997-08-14 | 1999-02-18 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Heliumlecksuchers und für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Heliumlecksucher |
JP3038432B2 (ja) * | 1998-07-21 | 2000-05-08 | セイコー精機株式会社 | 真空ポンプ及び真空装置 |
FR2787192B1 (fr) * | 1998-12-10 | 2001-01-05 | Cit Alcatel | Vitesse variable sur le pompage primaire d'un detecteur de fuites par gaz traceur |
DE10156205A1 (de) * | 2001-11-15 | 2003-06-05 | Inficon Gmbh | Testgaslecksuchgerät |
DE10302987A1 (de) * | 2003-01-25 | 2004-08-05 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät mit einem Einlass |
DE10319633A1 (de) * | 2003-05-02 | 2004-11-18 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
DE10324596A1 (de) * | 2003-05-30 | 2004-12-16 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
US20070028669A1 (en) * | 2003-09-26 | 2007-02-08 | Brewster Barrie D | Detection of contaminants within fluid pumped by a vacuum pump |
DE102005009713A1 (de) * | 2005-03-03 | 2006-09-07 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät mit Schnüffelsonde |
US7472581B2 (en) * | 2005-03-16 | 2009-01-06 | Tokyo Electron Limited | Vacuum apparatus |
DE102005043494A1 (de) * | 2005-09-13 | 2007-03-15 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät mit Schnüffelsonde |
US7459677B2 (en) * | 2006-02-15 | 2008-12-02 | Varian, Inc. | Mass spectrometer for trace gas leak detection with suppression of undesired ions |
CN100592078C (zh) * | 2006-10-23 | 2010-02-24 | 福建赛特新材料有限公司 | 用于真空绝热板的阻隔薄膜漏率检测方法 |
KR200457714Y1 (ko) | 2008-05-26 | 2012-01-02 | 주식회사인스타 | 가스압력 측정 및 누설 시험기 |
CN101710017B (zh) * | 2009-12-17 | 2011-02-16 | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 | 一种真空系统检漏的方法 |
JP5948349B2 (ja) * | 2011-02-03 | 2016-07-06 | オーリコン レイボルド バキューム ゲーエムベーハー | 漏れ検出デバイス |
DE102011107334B4 (de) * | 2011-07-14 | 2023-03-16 | Leybold Gmbh | Lecksucheinrichtung sowie Verfahren zum Überprüfen von Gegenständen auf Dichtigkeit mittels einer Lecksucheinrichtung |
DE102013218506A1 (de) * | 2013-09-16 | 2015-03-19 | Inficon Gmbh | Schnüffellecksucher mit mehrstufiger Membranpumpe |
DE102015222213A1 (de) * | 2015-11-11 | 2017-05-11 | Inficon Gmbh | Druckmessung am Prüfgaseinlass |
CN105784289A (zh) * | 2016-04-12 | 2016-07-20 | 上海理工大学 | 判断冻干机内硅油泄漏和一次升华干燥结束点的方法 |
DE102016210701A1 (de) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | Inficon Gmbh | Massenspektrometrischer Lecksucher mit Turbomolekularpumpe und Boosterpumpe auf gemeinsamer Welle |
FR3070489B1 (fr) * | 2017-08-29 | 2020-10-23 | Pfeiffer Vacuum | Detecteur de fuites et procede de detection de fuites pour le controle de l'etancheite d'objets a tester |
FR3072774B1 (fr) * | 2017-10-19 | 2019-11-15 | Pfeiffer Vacuum | Detecteur de fuites pour le controle de l'etancheite d'un objet a tester |
CN112557606B (zh) * | 2021-02-28 | 2021-06-04 | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 | 一种专用于气体探测器性能参数测定的辅助装置 |
DE102023104027A1 (de) * | 2023-02-17 | 2024-08-22 | Inficon Gmbh | Turbomolekularpumpe mit variabler Seiteneinlassposition zur Gegenstromlecksuche |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3699779A (en) * | 1971-06-01 | 1972-10-24 | Ralph C Schlichtig | Thermally powered diaphragm pump system for heat transfer |
FR2475728A1 (fr) * | 1980-02-11 | 1981-08-14 | Cit Alcatel | Detecteur de fuites a helium |
DE3124205A1 (de) * | 1981-06-19 | 1982-12-30 | Balzers Hochvakuum Gmbh, 6200 Wiesbaden | Lecksuchanordnung |
EP0283543B1 (de) * | 1987-03-27 | 1991-12-11 | Leybold Aktiengesellschaft | Lecksuchgerät und Betriebsverfahren dazu |
US4893497A (en) * | 1988-09-12 | 1990-01-16 | Philip Danielson | Leak detection system |
FR2681688B1 (fr) * | 1991-09-24 | 1993-11-19 | Alcatel Cit | Installation de detection de fuites de gaz utilisant la technique de reniflage. |
FR2681689B1 (fr) * | 1991-09-25 | 1993-11-12 | Alcatel Cit | Detecteur de fuite a gaz traceur. |
DE4140366A1 (de) * | 1991-12-07 | 1993-06-09 | Leybold Ag, 6450 Hanau, De | Lecksucher fuer vakuumanlagen sowie verfahren zur durchfuehrung der lecksuche an vakuumanlagen |
DE4410656A1 (de) * | 1994-03-26 | 1995-09-28 | Balzers Pfeiffer Gmbh | Reibungspumpe |
-
1995
- 1995-02-09 DE DE19504278A patent/DE19504278A1/de not_active Ceased
- 1995-12-21 KR KR1019970705414A patent/KR100392540B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-12-21 WO PCT/EP1995/005079 patent/WO1996024828A1/de active IP Right Grant
- 1995-12-21 US US08/875,370 patent/US5900537A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-21 JP JP52391996A patent/JP3483571B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-21 EP EP95943181A patent/EP0805962B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-21 DE DE59510816T patent/DE59510816D1/de not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-02-08 CN CN96101379A patent/CN1119642C/zh not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19980702019A (ko) | 1998-07-15 |
US5900537A (en) | 1999-05-04 |
CN1119642C (zh) | 2003-08-27 |
JPH10513561A (ja) | 1998-12-22 |
WO1996024828A1 (de) | 1996-08-15 |
EP0805962A1 (de) | 1997-11-12 |
DE19504278A1 (de) | 1996-08-14 |
KR100392540B1 (ko) | 2003-10-22 |
DE59510816D1 (de) | 2003-12-04 |
EP0805962B1 (de) | 2003-10-29 |
CN1146553A (zh) | 1997-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3483571B2 (ja) | テストガス−漏れ検出器 | |
JP2541615B2 (ja) | 漏洩検査器及びこれの運転法 | |
JP6883036B2 (ja) | 試験ガス入口における圧力測定 | |
JPH0478936B2 (ja) | ||
JP2655315B2 (ja) | 複合分子ポンプを使用した漏洩探知装置 | |
JPH07501622A (ja) | 真空装置のための漏えい検出装置並びに真空装置の漏えい検出を実施する方法 | |
JP4095771B2 (ja) | ヘリウム漏洩検出器の動作方法及びこの方法を実施するのに適したヘリウム漏洩検出器 | |
US3968675A (en) | Method and apparatus for preparing a mass spectrometer leak detector system for operation | |
JPH0467141B2 (ja) | ||
JP3391027B2 (ja) | サーチガス漏洩検出器 | |
JPH10510050A (ja) | 真空ポンプを有する漏れ検出器及び漏れ検出器を運転する方法 | |
US7082813B2 (en) | Test gas leakage detector | |
JP4555824B2 (ja) | 漏れ検出装置 | |
JP3544989B2 (ja) | 前真空ポンプを有する漏れ検出装置 | |
US5107697A (en) | Tracer gas leak detection system | |
JP3737132B2 (ja) | 多数の類似の被検体の漏洩を検査する方法 | |
US5932797A (en) | Sensitive hydrogen leak detector | |
JPH11153508A (ja) | 真空装置用ヘリウムリークディテクター装置 | |
JP2024524848A (ja) | 漏れ検出装置 | |
US6282946B1 (en) | Leak detector | |
EP1942327B1 (fr) | Dispositif et procédé de détection rapide de fuites | |
JP4130968B2 (ja) | 漏洩検知装置 | |
JPS59119234A (ja) | リ−クテスト装置 | |
JPH11241971A (ja) | リークテスト装置 | |
CN117501083A (zh) | 泄漏检测器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071017 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081017 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091017 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091017 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101017 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111017 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121017 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131017 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |