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JP3432229B2 - 出力回路 - Google Patents

出力回路

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Publication number
JP3432229B2
JP3432229B2 JP52508797A JP52508797A JP3432229B2 JP 3432229 B2 JP3432229 B2 JP 3432229B2 JP 52508797 A JP52508797 A JP 52508797A JP 52508797 A JP52508797 A JP 52508797A JP 3432229 B2 JP3432229 B2 JP 3432229B2
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JP
Japan
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power supply
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JP52508797A
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English (en)
Inventor
治美 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication of JP3432229B2 publication Critical patent/JP3432229B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は半導体集積回路に関するものであり特にMOS
トランジスタを利用した出力回路に関するものである。
背景技術 従来、半導体集積回路の出力回路には第8図に示すよ
うなものがあった。以下、第8図を用いて従来の出力回
路について説明する。
従来の出力回路は信号入力端子1、イネーブル信号入
力端子2、インバータ3、2入力NAND回路4、2入力NO
R回路5、PMOSトランジスタP1、NMOSトランジスタN1、3
Vの電源電位が与えられた電源端子6、接地電位が与え
られた接地端子7、及び出力端子8から構成されてい
る。
信号入力端子1は2入力NAND回路4、2入力NOR回路
5のそれぞれ一方の入力端子に接続される。イネーブル
信号入力端子2は2入力NAND回路4の他方の入力端子及
びインバータ回路3の入力端子に接続されている。イン
バータ回路3の出力端子は2入力NOR回路5の他方の入
力端子に接続されている。2入力NAND回路4の出力端子
はPMOSトランジスタP1のゲート電極に接続され、2入力
NOR回路5の出力端子はNMOSトランジスタN1のゲート電
極に接続されている。PMOSトランジスタP1は電源端子6
(3V)と出力端子8の間に接続されている。PMOSトラン
ジスタP1の基板であるNウェルは3Vの電源端子6に接続
されている。NMOSトランジスタN1は接地端子7と出力端
子8の間に接続されている。NMOSトランジスタN1の基板
(Pウェル)は接地端子7に接続されている。
つぎにこの回路の動作を説明する。まずイネーブル信
号入力端子2に入力信号として“L"レベル(0V)の信号
が入力された場合、2入力NAND回路4の出力が“H"レベ
ル、2入力NOR回路5の出力が“L"レベルとなる。した
がってPMOSトランジスタP1、NMOSトランジスタN1はオフ
状態となる。この結果出力端子8は信号入力端子1への
入力信号に係わらずフローティングの状態となる。
つぎにイネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が入力された場合、信号入力端子1に
“L"レベルの信号が入力されるとPMOSトランジスタP1は
オフ状態、NMOSトランジスタN1はオン状態となる。その
結果出力端子8は“L"レベルの信号を出力する。一方信
号入力端子1に“H"レベルの信号が入力されるとPMOSト
ランジスタP1はオン状態、NMOSトランジスタN1はオフ状
態となる。その結果出力端子8は“H"レベルの信号を出
力する。
しかしながら第8図の様な従来の出力回路では、出力
端子8に3Vよりも高い電源電圧の外部素子、例えば5Vの
信号が与えられるバスなどを接続した場合、出力端子8
がフローティング状態となっているときに出力端子8に
バスに与えられた5Vの電圧が加わる場合がある。出力端
子8に5Vの電圧が加えられるとPMOSトランジスタP1のド
レイン(Pアクティブ)が5Vとなる。このPMOSトランジ
スタP1の基板(Nウェル)は3Vの電源端子6に接続され
ているため、ドレイン(Pアクティブ)−基板(Nウェ
ル)間のダイオードに順方向の電圧が加わることとな
る。よってこのドレイン−基板間ダイオードに電流が流
れてしまう。このように出力端子8に、5Vの信号が与え
られるバス等の影響により5Vの電圧が印加されると、5V
の信号が与えられるバス→出力端子8→PMOSトランジス
タP1のドレイン→PMOSトランジスタP1の基板→出力回路
の電源端子6という経路で数mAという単位のリーク電流
が流れてしまうという可能性がある。本発明はこのよう
な点を改善することを目的としたものである。
発明の開示 本発明の代表的なものは第1のノードに接続されたゲ
ートと、第1の電位を持つ第1の電源端子に接続された
一方の端子と、第2のノードに接続された他方の端子を
有する第1のMOSトランジスタと、第1のノードに接続
されたゲートと、第2のノードに接続された一方の端子
と、出力端子に接続された他方の端子とを有するフロー
ティング状態のウェル内に形成された第2のMOSトラン
ジスタと、第1の電位を持つ第1の電源端子に接続され
たゲートと、第1のノードに接続された一方の端子と、
出力端子に接続された他方の端子を有するフローティン
グ状態のウェル内に形成された第3のMOSトランジスタ
とを有することを特徴としている。
このことにより出力端子に電源端子の電位(例えば3
V)よりも高い電位(例えば5V)が外部回路などより入
力された場合、フローティング状態のウェルが外部回路
などより入力された高い電位付近まで上昇する。その結
果、このウェル内に形成された第2のトランジスタがオ
フ状態となり第1のトランジスタに対して外部回路など
より入力された高い電位が加わることはない。また第2
のトランジスタの基板であるフローティング状態のウェ
ル自体は電源端子に接続されていないので出力端子から
電源端子へリーク電流が流れてしまうことを防ぐことが
できる。
図面の簡単な説明 第1図は、本発明第1の実施の形態の出力回路を示す
回路図である。
第2図は、本発明第2の実施の形態の出力回路を示す
回路図である。
第3図は、本発明第1の実施の形態における出力端子
8に与えられる電圧とリーク電流の関係を示す図であ
る。
第4図は、本発明第1の実施の形態における信号入力
端子に与えられる電圧と各部の電圧の関係を示す図であ
る。
第5図は、本発明第2の実施の形態における出力端子
8に与えられる電圧とリーク電流の関係を示す図であ
る。
第6図は、本発明第2の実施の形態における信号入力
端子に与えられる電圧と各部の電圧の関係を示す図であ
る。
第7図は、本発明第3の実施の形態の出力回路を示す
回路図である。
第8図は、従来の出力回路を示す図である。
発明を実施するための最良の形態 第1図は本発明第1の実施の形態の出力回路を示す回
路図である。なお第8図と共通する部分には同一の符号
を付してある。以下、第1図を用いて本発明の出力回路
について説明する。
信号入力端子1は2入力NAND回路4、2入力NOR回路
5のそれぞれ一方の入力端子に接続され、イネーブル信
号入力端子2は2入力NAND回路4の他方の入力端子、イ
ンバータ回路3の入力端子に接続されている。インバー
タ回路3の出力端子は2入力NOR回路5の他方の入力端
子に接続されている。2入力NAND回路4の出力端子はPM
OSトランジスタP1のゲート電極、NMOSトランジスタN11
のソースに接続されている。PMOSトランジスタP1のソー
スは電源端子6(3V)に、ドレインはPMOSトランジスタ
P12のソース及びPMOSトランジスタP13のソースに接続さ
れている。NMOSトランジスタN11のゲート電極は電源端
子6(3V)、ドレインはPMOSトランジスタP12及びP13の
ゲート電極及びPMOSトランジスタP14のソースへと接続
されている。PMOSトランジスタP12のドレインはPMOSト
ランジスタP12、P13及びP14の基板であるNウェルB1に
接続されている。このPMOSトランジスタP12、P13及びP1
4の基板であるNウェルB1は電源端子6(3V)には接続
されておらず、ウェル全体がフローティング状態となっ
ている。言い換えればPMOSトランジスタP12、P13、P14
はフローティング状態のNウェルB1内に形成されている
トランジスタである。PMOSトランジスタP13のドレイン
及びPMOSトランジスタP14のドレインは出力端子8に接
続されている。PMOSトランジスタP14のゲート電極は電
源端子6(3V)に接続されている。2入力NOR回路5の
出力端子はNMOSトランジスタN1のゲート電極に接続さ
れ、NMOSトランジスタN1のソースは接地端子7とドレイ
ンはNMOSトランジスタN12のソースと接続されている。N
MOSトランジスタN12のドレインは出力端子8、ゲート電
極は電源端子6(3V)に接続されている。なおPMOSトラ
ンジスタP1の基板は電源端子6に接続されている。
次にこの回路の動作について説明する。
まずイネーブル信号入力端子2に入力信号として“L"
レベル(0V)の信号が入力された場合、2入力NAND回路
4の出力は“H"レベル(3V)となりPMOSトランジスタP1
はオフ状態となる。またインバータ回路3を介して“H"
レベルの信号が2入力NOR回路5に入力されるため2入
力NOR回路5の出力は“L"レベルとなる。従ってNMOSト
ランジスタN1はオフ状態となる。
このようにイネーブル信号入力端子2への入力信号が
“L"レベルの場合、PMOSトランジスタP1、NMOSトランジ
スタN1がともにオフ状態となる。つまり信号入力端子1
への入力信号に係わらず出力端子8はフローティングな
状態となる。
この状態で出力端子8に対して外部の電源端子等より
5Vが印加された場合、(例えば出力端子8が接続されて
いるバスが5Vになった場合など)PMOSトランジスタP1
3、P14のドレイン−基板間のダイオードに順方向の電圧
がバイアスされる。よってドレインのPアクティブから
基板のNウェルB1へと電流が流れ、フローティング状態
であるNウェルB1は5V付近まで電位が上昇する。
NウェルB1が5V付近まで上昇するため、基板電位の方
がPMOSトランジスタP14のゲート電位(3V)よりも高く
なる。従ってPMOSトランジスタP14はチャネルが形成さ
れオン状態になる。PMOSトランジスタP14がオン状態に
なるためPMOSトランジスタP14はソースも出力端子8に
印加された電圧(5V)となる。
このPMOSトランジスタP14のソースに接続されているP
MOSトランジスタP12、P13のゲート電位も5Vとなる。こ
のためPMOSトランジスタP12、P13は基板であるNウェル
B1とゲート電位に差がなくなる。従ってPMOSトランジス
タP12、P13にはチャネルが形成されずオフ状態となる。
PMOSトランジスタP12、P13がオフ状態となることによ
り出力端子8に与えられた5VがPMOSトランジスタP1に伝
わることはない。よってPMOSトランジスタP1の基板を通
してリーク電流が流れてしまうことはない。
またこのPMOSトランジスタP12、P13の基板であるNウ
ェルB1はフローティング状態であり、3Vの電源端子6に
は接続されていない。つまりPMOSトランジスタP12、P13
のドレイン−基板間ダイオードにより電源端子6にリー
ク電流が流れてしまう心配もない。
またPMOSトランジスタP14のソース部分と2入力NAND
回路4の出力の間にはNMOSトランジスタN11が存在す
る。出力端子8がフローティングとなる場合は2入力NA
ND回路4の出力は“H"レベルであるため、NMOSトランジ
スタN11はそのゲート電位とソース電位が同一となるオ
フ状態になる。よって出力端子8に与えられた5VがPMOS
トランジスタN14を介して2入力NAND回路4の出力端子
に与えられてしまうこともない。つまり2入力NAND回路
4の内部に含まれるトランジスタを通してリーク電流が
流れてしまう恐れもなくなる。
第3図の上図は出力端子8に加えられる電圧をOUTと
してOUTを0→5.5Vと変化させた場合のフローティング
状態のNウェルB1の電位変化、PMOSトランジスタP12、P
13のゲート電極に与えられる電位(S13)の変化を表し
たものである。第3図の下図はこの回路の電源端子6
(3V)側からみた電流をIM1としてIM1を示したものであ
る。前述で説明したとおりフローティング状態のNウェ
ルB1は出力端子8に5Vが加えられた場合、5V付近まで上
昇する。またPMOSトランジスタP12、P13のゲート電極に
与えられるS13は5Vとなっている。回路に流れる電流IM1
は8nA程度である。よって従来の数mAというリーク電流
に比べはるかに小さくなっていることが分かる。
つぎにイネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が入力されている場合、信号入力端子
1に入力信号として“L"レベルの信号が入力されると2
入力NAND回路4の出力は“H"レベルとなる。したがって
PMOSトランジスタP1はオフ状態となる。2入力NOR回路
5はどちらの入力端子にも“L"レベルの信号が入力され
るため、出力は“H"レベルとなる。したがってNMOSトラ
ンジスタN1はオン状態となる。その結果出力端子8は
“L"レベルの信号を出力する。
信号入力端子1に入力信号として“H"レベルの信号が
入力されると2入力NAND回路4の出力は“L"レベルとな
りPMOSトランジスタP1はオン状態となる。2入力NOR回
路5の出力は“L"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオ
フ状態となる。またNMOSトランジスタN11もオン状態と
なる。よってPMOSトランジスタP12、P13のゲート電極に
は2入力NAND回路4の出力である“L"レベルの信号が与
えられる。PMOSトランジスタP12、P13にはソース−基板
間のダイオードが存在するの。よって基板のNウェルB1
の電位が3Vよりも低い場合はこのダイオードに順方向の
電圧が加わることになり、このソース−基板間のダイオ
ードに電流が流れる。この電流によりPMOSトランジスタ
P12、P13、P14の基板であるNウェルB1は3V付近まで上
昇している。したがってPMOSトランジスタP12、P13のゲ
ート電位よりも基板電位の方が相対的に高くなる。PMOS
トランジスタP12、P13にはチャネルが形成されがオン状
態となる。PMOSトランジスタP12はオン状態になること
によりフローティング状態のNウェルB1の電位を3Vまで
確実に上昇させPMOSトランジスタP13の動作をより安定
させる効果がある。以上の動作の結果出力端子8は“H"
レベル(3V)の信号を出力する。
第4図はイネーブル信号入力端子2に“H"レベルの信
号が入力されている場合の信号入力端子1に与える電位
をINとしてINを0→3V(L→H)と変化させた場合の出
力端子8の電位OUT、PMOSトランジスタP1のゲート電位S
11、NMOSトランジスタN1のゲート電位S12、PMOSトラン
ジスタP12、P13のゲート電位S13、フローティング状態
のNウェルB1の電位である。図のように信号入力端子1
に与えられる信号INが“L"レベルで出力端子8はOUTと
して“L"レベル、信号INが“H"レベルで出力端子8はOU
Tとして“H"レベルの信号を出力している。
なおこの回路においてNMOSトランジスタN12は出力端
子8に5Vの電圧が印加された場合、その5Vが直接NMOSト
ランジスタN1等にかかってNMOSトランジスタN1等が破壊
されてしまうおそれを防ぐ役割をはたしている。
以上本発明第1の実施の形態による出力回路によれ
ば、各入力端子に与えられる入力信号に対しては従来の
出力回路と同様の出力信号を出力端子8から出力する。
一方出力端子8に電源端子6の電位(3V)よりも高い電
位(5V)が外部回路などより入力された場合、PMOSトラ
ンジスタP12、P13、P14の基板であるフローティング状
態のNウェルB1が5V付近まで上昇することによりPMOSト
ランジスタP12、P13がオフ状態となる。このようにPMOS
トランジスタP12、P13がオフ状態となればPMOSトランジ
スタP1に対して5Vの電位が加わりPMOSトランジスタP1の
ドレイン→基板を通して電源端子6にリーク電流が流れ
てしまうことはない。またPMOSトランジスタP12、P13、
P14の基板であるフローティング状態のNウェルB1自体
は3Vの電源端子6には接続されていないので出力端子8
から電源端子6へリーク電流が流れてしまうことを防ぐ
ことができる。またNMOSトランジスタN11がオフ状態と
なることにより2入力NAND回路4を介してリーク電流が
流れてしまうのを防ぐことができる。
第2図は本発明第2の実施の形態の出力回路を示す回
路図である。なお第1図と共通する部分には同一の符号
を付してある。以下、第2図を用いて本発明第2の実施
の形態の出力回路について説明する。
信号入力端子1は2入力NAND回路4、2入力NOR回路
5のそれぞれ一方の入力端子に接続され、イネーブル信
号入力端子2は2入力NAND回路4の他方の入力端子、イ
ンバータ回路3の入力端子に接続されている。インバー
タ回路3の出力端子は2入力NOR回路5の他方の入力端
子に接続されている。2入力NAND回路4の出力端子はPM
OSトランジスタP1のゲート電極、NMOSトランジスタN11
のソースに接続されている。PMOSトランジスタP1のソー
スは電源端子6(3V)に、ドレインはPMOSトランジスタ
P12のソース及びPMOSトランジスタP13のソースに接続さ
れている。NMOSトランジスタN11のゲート電極は電源端
子6(3V)に、ドレインはPMOSトランジスタP12及びP13
のゲート電極及びPMOSトランジスタP14のソースへと接
続されている。PMOSトランジスタP12のドレインはPMOS
トランジスタP12、P13、P14及びP25の基板であるNウェ
ルB1に接続され、このNウェルは第1の実施の形態と同
様にフローティングの状態である。つまり第2の実施の
形態ではPMOSトランジスタP12、P13、P14及びP25がフロ
ーティング状態のNウェルB1内に形成されている。PMOS
トランジスタP25のソースはこのフローティング状態の
NウェルB1に接続されている。PMOSトランジスタP13、P
14及びP25のドレインは出力端子8に接続されている。P
MOSトランジスタP14及びP25のゲート電極は電源端子6
(3V)に接続されている。2入力NOR回路5の出力端子
はNMOSトランジスタN1のゲート電極に接続され、NMOSト
ランジスタN1のソースは接地端子7とドレインはNMOSト
ランジスタN12のソースと接続されている。NMOSトラン
ジスタN12のドレインは出力端子8、ゲート電極は電源
端子6(3V)に接続されている。なおPMOSトランジスタ
P1の基板は電源端子6に接続されている。
次にこの回路の動作について説明する。
まずイネーブル信号入力端子2に入力信号として“L"
レベル(0V)の信号が入力された場合、2入力NAND回路
4の出力は“H"レベル(3V)となりPMOSトランジスタP1
はオフ状態となる。またインバータ回路3を介して“H"
レベルの信号が2入力NOR回路5に入力されるため2入
力NOR回路5の出力は“L"レベルとなりNMOSトランジス
タN1はオフ状態となる。このようにイネーブル信号入力
端子2への入力信号が“L"レベルの場合、PMOSトランジ
スタP1、NMOSトランジスタN1がともにオフ状態となり出
力端子8は信号入力端子1への入力信号に係わらずフロ
ーティングの状態となる。
この状態で出力端子8に対して外部の電源端子等より
5Vが印加された場合(例えば出力端子8が接続されてい
るバスが5Vになった場合など)、PMOSトランジスタP1
3、P14、P25のドレイン−基板間のダイオードに順方向
の電圧が加わることになり、これらのダイオードに電流
が流れる。この結果、基板であるNウェルB1が5V付近ま
で上昇する。NウェルB1が5V付近まで上昇した結果PMOS
トランジスタP14及びP25はゲート電位が3Vであるため基
板電位の方が相対的に高くなりオン状態になる。PMOSト
ランジスタP14がオン状態になるため出力端子に印加さ
れた5VはPMOSトランジスタP14のソースに現れた、このP
MOSトランジスタP14のソースに接続されているPMOSトラ
ンジスタP12、P13のゲート電極が5Vとなる。またPMOSト
ランジスタP25もオン状態となるためNウェルB1の電位
は第1の実施の形態のように5V付近(5−α)ではなく
5Vとなっており基板のNウェルB1とPMOSトランジスタP1
2、P13のゲート電位が全く同じ電位となる。このためPM
OSトランジスタP12、P13は第1の実施の形態よりも安定
した動作でオフ状態となる。PMOSトランジスタP12、P13
がオフ状態になれば出力端子8に与えられた5VがPMOSト
ランジスタP1に伝わりPMOSトランジスタP1の基板を通し
てリーク電流が流れてしまうことはない。なおこの第2
の実施の形態においてPMOSトランジスタP12、P13、P25
の基板であるNウェルB1は第1の実施の形態同様フロー
ティング状態であるためPMOSトランジスタP12、P13、P2
5のドレイン−基板間ダイオードにより基板NウェルB1
を通して電源端子6にリーク電流が流れてしまう心配も
ない。
またPMOSトランジスタP14のソース部分と2入力NAND
回路4の出力の間にはNMOSトランジスタN11が存在す
る。出力端子8がフローティングとなる場合は2入力NA
ND回路4の出力は“H"レベルであるため、NMOSトランジ
スタN11はそのゲート電位とソース電位が同一となりオ
フ状態になる。よって出力端子8に与えられた5VがPMOS
トランジスタN14を介して2入力NAND回路4の出力端子
に与えられてしまうこともない。つまり2入力NAND回路
4の内部に含まれるトランジスタを通してリーク電流が
流れてしまう恐れもなくなる。
第5の上図は出力端子8に加える電圧をOUTとしてOUT
を0→5.5Vと変化させた場合のフローティング状態のN
ウェルB1の電位変化、PMOSトランジスタP12、P13のゲー
ト電極に与えられる電位(S23)の変化を示した物であ
る。第5図の下図はこの回路の電源端子(3V)側からみ
た電流をIM2としてIM2を示したものである。前述で説明
したとおりフローティング状態のNウェルB1は出力端子
8に5Vが加えられた場合、5Vまで上昇しておりPMOSトラ
ンジスタP12、P13のゲート電極には同じ5Vの電圧が加え
られている。このように基板とゲートに与えられる電位
が完全に一致した結果回路の動作はさらに安定し回路に
流れる電流IM2は3nA程度であり第1の実施の形態に比べ
さらに小さくなっていることが分かる。
つぎにイネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が入力された場合、信号入力端子1に
入力信号として“L"レベルの信号が入力されると2入力
NAND回路4の出力は“H"レベルとなりPMOSトランジスタ
P1はオフ状態となる。2入力NOR回路5はどちらの入力
端子にも“L"レベルの信号が入力されるため、出力は
“H"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオン状態とな
る。その結果出力端子8は“L"レベル(0V)の信号を出
力する。
信号入力端子1に入力信号として“H"レベルの信号が
入力されると2入力NAND回路4の出力は“L"レベルとな
りPMOSトランジスタP1はオン状態となる。2入力NOR回
路5の出力は“L"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオ
フ状態となる。またNMOSトランジスタN11はオン状態で
あるためPMOSトランジスタP12、P13のゲート電極には2
入力NAND回路4の出力である“L"レベルの信号が与えら
れている。PMOSトランジスタP12、P13はソース−基板間
のダイオードによりPMOSトランジスタP12、P13、P14の
基板であるNウェルB1は3V付近まで上昇しているため、
PMOSトランジスタP12、P13は相対的に基板の方が高い電
位となり共にオン状態となる。その結果出力端子8は
“H"レベル(3V)の信号を出力する。
第6図はイネーブル信号入力端子2に“H"レベルの信
号が入力されている場合の信号入力端子1に与える電位
をINとしてINを0→3V(L→H)と変化させた場合の出
力端子8の電位OUT、PMOSトランジスタP1のゲート電位S
21、NMOSトランジスタN1のゲート電位S22、PMOSトラン
ジスタP12、P13のゲート電位S23、フローティング状態
のNウェルB1の電位である。図のように信号入力端子1
に与えられる信号INが“L"レベルで出力端子8はOUTと
して“L"レベル、信号INが“H"レベルで出力端子8はOU
Tとして“H"レベルの信号を出力している。
以上本発明第2の実施の形態による出力回路によれ
ば、各信号入力端子に加えられる入力信号に対しては従
来の出力回路と同様の出力信号を出力端子8に出力す
る。また出力端子8に電源端子6の電位(3V)よりも高
い電位(5V)が外部回路などより入力されてもPMOSトラ
ンジスタP25の働きによりPMOSトランジスタP12、P13等
の基板であるのNウェルB1がPMOSトランジスタP12、P13
のゲート電位と同電位である5Vまで上昇する。このこと
によりPMOSトランジスタP12、P13は第1の実施の形態よ
りさらに安定した動作を行ない出力端子8から電源端子
6へリーク電流が流れてしまうことをより確実に防ぐこ
とができる。またNMOSトランジスタN11によって2入力N
AND回路4を通してリーク電流が流れてしまう恐れもな
くなる。
第7図は本発明第3の実施の形態の出力回路を示す回
路図である。なお第1図、第2図と共通する部分には同
一の符号を付してある。以下、第3図を用いて本発明の
出力回路について説明する。
信号入力端子1は2入力NAND回路4、2入力NOR回路
5のそれぞれ一方の入力端子及びNMOSトランジスタN75
のゲート電極に接続され、イネーブル信号入力端子2は
2入力NAND回路4の他方の入力端子、インバータ回路3
の入力端子及びNMOSトランジスタN76のゲート電極に接
続されている。インバータ回路3の出力端子は2入力NO
R回路5の他方の入力端子に接続されている。2入力NAN
D回路4の出力端子はPMOSトランジスタ6のゲート電
極、NMOSトランジスタN11のソースに接続されている。P
MOSトランジスタP1のソースは電源端子6(3V)に、ド
レインはPMOSトランジスタP12のソース及びPMOSトラン
ジスタP13のソースに接続されている。NMOSトランジス
タN11のドレインはPMOSトランジスタP12及びP13のゲー
ト電極、及びPMOSトランジスタP14のソース、NMOSトラ
ンジスタN74のドレインと接続されている。NMOSトラン
ジスタN74のソースはNMOSトランジスタN75のドレインと
接続されている。NMOSトランジスタN75のソースはNMOS
トランジスタN76のドレインと、NMOSトランジスタN76の
ソースは接地端子7と接続されている。PMOSトランジス
タP12のドレインはPMOSトランジスタP12、P13及びP14の
基板であるフローティング状態のNウェルB1に接続さ
れ、PMOSトランジスタP13のドレイン及びPMOSトランジ
スタP14のドレインは出力端子8に接続されている。PMO
SトランジスタP14のゲート電極は電源端子6(3V)に接
続されている。2入力NOR回路5の出力端子はNMOSトラ
ンジスタN1のゲート電極に接続され、NMOSトランジスタ
N1のソースは接地端子7とドレインはNMOSトランジスタ
N12のソースと接続されている。NMOSトランジスタN12の
ドレインは出力端子8、ゲート電極は電源端子6(3V)
に接続されている。なおPMOSトランジスタP1の基板は電
源端子6に接続されている。
次にこの回路の動作について説明する。
まずイネーブル信号入力端子2に入力信号として“L"
レベルの信号が入力された場合、2入力NAND回路4の出
力は“H"レベルとなりPMOSトランジスタP1はオフ状態と
なる。またインバータ回路3を介して“H"レベルの信号
が2入力NOR回路5に入力されるため2入力NOR回路5の
出力は“L"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオフ状態
となる。このようにイネーブル信号入力端子2への入力
信号が“L"レベルの場合、PMOSトランジスタP1、NMOSト
ランジスタN1がともにオフ状態となり出力端子8は信号
入力端子1への入力信号に係わらずフローティングの状
態となる。
この状態で出力端子8に対して外部の電源端子等より
5Vが印加された場合(例えば出力端子8が接続されてい
るバスが5Vになった場合など)、PMOSトランジスタP1
3、P14のドレイン−基板間のダイオードに順方向の電圧
が加わることになり、このダイオードに電流が流れるこ
とによりPMOSトランジスタP13、P14の基板であるNウェ
ルB1が5V付近まで上昇する。NウェルB1が5V付近まで上
昇した結果、PMOSトランジスタP14のゲート電位は3Vで
あるため基板電位の方が相対的に高くなりPMOSトランジ
スタP14がオン状態になる。PMOSトランジスタP14がオン
状態になるためPMOSトランジスタP14はソースも出力端
子8に印加された電圧(5V)となり、このPMOSトランジ
スタP14のソースに接続されているPMOSトランジスタP1
2、P13のゲート電位も5Vとなる。PMOSトランジスタP1
2、P13のゲート電位が5VとなるとPMOSトランジスタP1
2、P13はオフ状態となる。そのため出力端子8に与えら
れた5VがPMOSトランジスタP1に伝わりP1の基板を通して
リーク電流が流れてしまうことはない。またこのPMOSト
ランジスタP12、P13の基板であるNウェルB1はフローテ
ィング状態であるためPMOSトランジスタP12、P13のドレ
イン−基板間のダイオードにより電源端子6にリーク電
流が流れてしまう心配もない。
またPMOSトランジスタP14のソース部分と2入力NAND
回路4の出力の間にはNMOSトランジスタN11が存在す
る。出力端子8がフローティングとなる場合は2入力NA
ND回路4の出力は“H"レベルであるため、NMOSトランジ
スタN11はそのゲート電位とソース電位が同一となりオ
フ状態になる。よって出力端子8に与えられた5VがPMOS
トランジスタN14を介して2入力NAND回路4の出力端子
に与えられてしまうこともない。つまり2入力NAND回路
4の内部に含まれるトランジスタを通してリーク電流が
流れてしまう恐れもなくなる。
またこの回路構成ではPMOSトランジスタP14のソース
つまり出力端子に5Vが加えられた場合に5Vとなる部分に
NMOSトランジスタN74、N75、N76が接続されている。こ
の場合出力端子8から接地端子7へのリーク電流が考え
られる。しかしイネーブル信号入力端子2に与えられる
信号が“L"レベルの場合、NMOSトランジスタN76は常に
オフ状態となっている。そのため信号入力端子1に与え
られる信号が“H"レベルに変化してNMOSトランジスタN7
5がオン状態になってもイネーブル信号入力端子2に与
えられる信号が“L"レベルであるかぎり出力端子8から
トランジスタP14→N74→N75→N76という順路で接地端子
7にリーク電流が流れてしまうことはありえない。
つぎにイネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が入力された場合、信号入力端子1に
入力信号として“L"レベルの信号が入力されると2入力
NAND回路4の出力は“H"レベルとなりPMOSトランジスタ
P1はオフ状態となる。2入力NOR回路5はどちらの入力
端子にも“L"レベルの信号が入力されるため、出力は
“H"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオン状態とな
る。その結果出力端子8は“L"レベルの信号を出力す
る。
信号入力端子1に入力信号として“H"レベルの信号が
入力されると2入力NAND回路4の出力は“L"レベルとな
りPMOSトランジスタP1はオン状態となる。2入力NOR回
路5の出力は“L"レベルとなりNMOSトランジスタN1はオ
フ状態となる。またNMOSトランジスタN11はオン状態で
あるためPMOSトランジスタP12、P13のゲート電極には2
入力NAND回路4の出力である“L"レベルの信号が与えら
れている。PMOSトランジスタP12、P13のソース−基板間
のダイオードによりPMOSトランジスタP12、P13、P14の
基板であるNウェルは3V付近まで上昇しているため、PM
OSトランジスタP12、P13共にオン状態となる。その結果
出力端子8は“H"レベル(3V)の信号を出力する。
ここでイネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が与えられており、信号入力端子1に
与えられる入力信号が“L"から“H"レベルへと変化する
場合を考えて、NMOSトランジスタN74は常にオン状態、N
MOSトランジスタN75のゲート電位は入力信号INの変化に
応じて“L"→“H"レベルへと変化する。またNMOSトラン
ジスタN76はイネーブル信号入力端子2に与えられてい
る信号が“H"レベルのためオン状態である。NMOSトラン
ジスタN75のゲート電位が“H"レベルへと変化するとNMO
SトランジスタN75はオン状態となりNMOSトランジスタN7
4、N75共にオン状態となるためPMOSトランジスタP13の
ゲートに与えられる電位が2入力NAND回路4、NMOSトラ
ンジスタN11を介さずに“H"→“L"レベルへと変化す
る。つまりネーブル信号入力端子2に入力信号として
“H"レベルの信号が与えられており、信号入力端子1に
与えられる入力信号が“L"から“H"レベルへと変化する
場合、PMOSトランジスタP13のオフ状態→オン状態の動
作が第1、第2の実施の形態よりも高速になる。
以上本発明第3の実施の形態による出力回路によれ
ば、各入力端子に与えられる入力信号に対しては従来の
出力回路と同様の出力信号を出力端子8に出力する。ま
た出力端子8に電源端子6の電位(3V)よりも高い電位
(5V)が外部回路などより入力されてもPMOSトランジス
タP12、P13、P14の基板であるNウェル(B1)が5V付近
まで上昇することによりPMOSトランジスタP12、P13がオ
フ状態となり出力端子8から電源端子6へリーク電流が
流れてしまうことを防ぐことができる。またNMOSトラン
ジスタN11によって2入力NAND回路4を通してリーク電
流が流れてしまう恐れもなくなる。
またイネーブル入力信号端子2に与えられる信号が
“H"レベルで、信号入力端子1に与えられる入力信号が
“L"→“H"レベルへと変化する(つまり出力レベルが
“L"→“H"レベルへと変化する)場合、PMOSトランジス
タP13のゲートに与えられる電位が2入力NAND回路4、N
MOSトランジスタN11を介さずに“H"→“L"レベルへと変
化するのでPMOSトランジスタP13のオフからオン状態へ
の変化がより速くなり出力信号の変化もより高速にな
る。
またこの回路構成ではイネーブル信号端子2に与えら
れる信号が“L"レベルの場合、NMOSトランジスタN76は
常にオフ状態となっている。そのため入力信号端子1に
与えられる信号が“H"レベルに変化してもイネーブル信
号端子2に与えられる信号が“L"レベルであるかぎり出
力端子8から接地端子7にリーク電流が流れてしまうこ
とはあり得ない。
なお本発明の実施の形態は本文中説明したようなトラ
イステートの出力回路に限定されるものではなく、通常
のプッシュプル出力回路に用いても同様の効果を奏する
ものである。また第1図、第2図におけるNMOSトランジ
スタN12及び第7図におけるNMOSトランジスタN12、N74
は出力端子8への5Vの電圧印加により他の端子が破壊さ
れる恐れを防ぐためのもので、他の素子が5Vで破壊され
る恐れがなければ、削除してもリーク電流を抑える効果
は何ら支障はない。
産業上の利用性 このように本発明にかかる発明は半導体装置の出力回
路として、特に5V系−3V系のインターフェース部分等に
用いられる出力回路として用いるのに適している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−65135(JP,A) 特開 平7−202678(JP,A) 特開 平7−297701(JP,A) 特開 平8−8715(JP,A) 特開 平6−216752(JP,A) 特開 平8−237102(JP,A) 特開2001−211064(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 19/00

Claims (16)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1のノードに接続されたゲートと、第1
    の電源端子に接続された一方の端子と、第2のノードに
    接続された他方の端子と、前記第1の電源端子に接続さ
    れた基板端子を有する第1のMOSトランジスタと、 第3のノードに接続されたゲートと、前記第2のノード
    に接続された一方の端子と、出力端子に接続された他方
    の端子と、フローティング状態である第4のノードに接
    続された基板端子を有する第2のMOSトランジスタと、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第3の
    ノードに接続された一方の端子と、前記出力端子に接続
    された他方の端子と、前記第4のノードに接続された基
    板端子を有する第3のMOSトランジスタと、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第1の
    ノードに接続された一方の端子と、前記第3のノードに
    接続された他方の端子とを有する第4のMOSトランジス
    タとを有することを特徴とする出力回路。
  2. 【請求項2】前記第3のノードに接続されたゲートと、
    前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記第4
    のノードに接続された他方の端子と、前記第4のノード
    に接続された基板端子を有する第5のMOSトランジスタ
    を有することを特徴とする請求項1記載の出力回路。
  3. 【請求項3】前記第1の電源端子に接続されたゲート
    と、前記第4のノードに接続された一方の端子と、前記
    出力端子に接続された他方の端子と、前記第4のノード
    に接続された基板端子を有する第5のMOSトランジスタ
    を有することを特徴とする請求項1記載の出力回路。
  4. 【請求項4】前記第3のノードに接続されたゲートと、
    前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記第4
    のノードに接続された他方の端子と、前記第4のノード
    に接続された基板端子を有する第5のMOSトランジスタ
    と、前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第
    4のノードに接続された一方の端子と、前記出力端子に
    接続された他方の端子と、前記第4のノードに接続され
    た基板端子を有する第6のMOSトランジスタとを有する
    ことを特徴とする請求項1記載の出力回路。
  5. 【請求項5】第1の入力信号が与えられる第1の入力信
    号端子と、第2の入力信号が与えられる第2の入力信号
    端子と、第1のノードに接続されたゲートと、第1の電
    位を持つ第1の電源端子に接続された一方の端子と、第
    2のノードに接続された他方の端子と、前記第1の電位
    を持つ第1の電源端子に接続された基板端子を有する第
    1のMOSトランジスタと、 第3のノードに接続されたゲートと、前記第2のノード
    に接続された一方の端子と、出力端子に接続された他方
    の端子と、フローティング状態の第4のノードに接続さ
    れた基板端子を有する第2のMOSトランジスタと、 前記第1の電位を持つ第1の電源端子に接続されたゲー
    トと、前記第3のノードに接続された一方の端子と、前
    記出力端子に接続された他方の端子と、前記第4のノー
    ドに接続された基板端子を有する第3のMOSトランジス
    タと、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第1の
    ノードに接続された一方の端子と、前記第3のノードに
    接続された他方の端子とを有する第4のMOSトランジス
    タと、 前記第1の入力端子に接続されたゲートと、前記第3の
    ノードに接続された一方の端子と、第5のノードに接続
    された他方の端子と、第2の電位を持つ第2の電源端子
    に接続された基板端子とを有する第5のMOSトランジス
    タと、 前記第2の入力端子に接続されたゲートと、前記第5の
    ノードに接続された一方の端子と、前記第2の電位を持
    つ第2の電源端子に接続された他方の端子と、前記第2
    の電位を持つ第2の電源端子に接続された基板端子とを
    有する第6のMOSトランジスタを有することを特徴とす
    る出力回路。
  6. 【請求項6】前記第3のノードに接続されたゲートと、
    第2のノードに接続された一方の端子と、前記第4のノ
    ードに接続された他方の端子と、該第4のノードに接続
    された基板端子を有する第7のMOSトランジスタを有す
    ることを特徴とする請求項5記載の出力回路。
  7. 【請求項7】前記第1の電位を持つ第1の電源端子に接
    続されたゲートと、前記第4のノードに接続された一方
    の端子と、前記出力端子に接続された他方の端子と、前
    記第4のノードに接続された基板端子を有する第7のMO
    Sトランジスタを有することを特徴とする請求項5記載
    の出力回路。
  8. 【請求項8】前記第3のノードに接続されたゲートと、
    前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記第4
    のノードに接続された他方の端子と、前記第4のノード
    に接続された基板端子を有する第7のMOSトランジスタ
    と、前記第1の電位を持つ第1の電源端子に接続された
    ゲートと、前記第4のノードに接続された一方の端子
    と、前記出力端子に接続された他方の端子と、前記第4
    のノードに接続された基板端子を有する第8のMOSトラ
    ンジスタを有することを特徴とする請求項5記載の出力
    回路。
  9. 【請求項9】第1のノードに接続されたゲートと、第1
    の電源端子に接続された一方の端子と、第2のノードに
    接続された他方の端子を有する第1のMOSトランジスタ
    と、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第1の
    ノードに接続された一方の端子と、第3のノードに接続
    された他方の端子とを有する第2のMOSトランジスタと 前記第3のノードに接続されたゲートと、前記第2のノ
    ードに接続された一方の端子と、出力端子に接続された
    他方の端子とを有するフローティング状態のウェル内に
    形成された第3のMOSトランジスタと、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第3の
    ノードに接続された一方の端子と、前記出力端子に接続
    された他方の端子を有する前記フローティング状態のウ
    ェル内に形成された第4のMOSトランジスタとを有する
    ことを特徴とする出力回路。
  10. 【請求項10】前記第3のノードに接続されたゲート
    と、前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記
    フローティング状態のウェルに接続された他方の端子と
    を有する前記フローティング状態のウェル内に形成され
    た第5のMOSトランジスタを有することを特徴とする請
    求項9記載の出力回路。
  11. 【請求項11】前記第1の電源端子に接続されたゲート
    と、前記フローティング状態のウェルに接続された一方
    の端子と、前記出力端子に接続された他方の端子とを有
    する前記フローティング状態のウェル内に形成された第
    5のMOSトランジスタを有することを特徴とする請求項
    9記載の出力回路。
  12. 【請求項12】前記第3のノードに接続されたゲート
    と、前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記
    フローティング状態のウェルに接続された他方の端子と
    を有する前記フローティング状態のウェル内に形成され
    た第5のMOSトランジスタと、前記第1の電源端子に接
    続されたゲートと、前記フローティング状態のウェルに
    接続された一方の端子と、前記出力端子に接続された他
    方の端子とを有する前記フローティング状態のウェル内
    に形成された第6のMOSトランジスタを有することを特
    徴とする請求項9記載の出力回路。
  13. 【請求項13】第1の入力信号が与えられる第1の入力
    信号端子と、第2の入力信号が与えられる第2の入力信
    号端子と、第1のノードに接続されたゲートと、第1の
    電位を持つ第1の電源端子に接続された一方の端子と、
    第2のノードに接続された他方の端子とを有する第1の
    MOSトランジスタと、 前記第1の電源端子に接続されたゲートと、前記第1の
    ノードに接続された一方の端子と、第3のノードに接続
    された他方の端子とを有する第2のMOSトランジスタ
    と、 前記第3のノードに接続されたゲートと、前記第2のノ
    ードに接続された一方の端子と、出力端子に接続された
    他方の端子とを有する前記フローティング状態のウェル
    内に形成された第3のMOSトランジスタと、 前記第1の電位を持つ第1の電源端子に接続されたゲー
    トと、前記第3のノードに接続された一方の端子と、前
    記出力端子に接続された他方の端子とを有する前記フロ
    ーティング状態のウェル内に形成された第4のMOSトラ
    ンジスタと、 前記第1の入力端子に接続されたゲートと、前記第3の
    ノードに接続された一方の端子と、第4のノードに接続
    された他方の端子とを有する第5のMOSトランジスタ
    と、 前記第2の入力端子に接続されたゲートと、前記第4の
    ノードに接続された一方の端子と、前記第2の電位を持
    つ第2の電源端子に接続された他方の端子とを有する第
    6のMOSトランジスタを有することを特徴とする出力回
    路。
  14. 【請求項14】前記第3のノードに接続されたゲート
    と、第2のノードに接続された一方の端子と、前記フロ
    ーティング状態のウェル内に接続された他方の端子とを
    有する前記フローティング状態のウェル内に形成された
    第7のMOSトランジスタを有することを特徴とする請求
    項13記載の出力回路。
  15. 【請求項15】前記第1の電位を持つ第1の電源端子に
    接続されたゲートと、前記フローティング状態のウェル
    に接続された一方の端子と、前記出力端子に接続された
    他方の端子とを有する前記フローティング状態のウェル
    内に形成された第7のMOSトランジスタを有することを
    特徴とする請求項13記載の出力回路。
  16. 【請求項16】前記第3のノードに接続されたゲート
    と、前記第2のノードに接続された一方の端子と、前記
    フローティング状態のウェルに接続された他方の端子と
    を有する前記フローティング状態のウェル内に形成され
    た第7のMOSトランジスタと、前記第1の電位を持つ第
    1の電源端子に接続されたゲートと、前記フローティン
    グ状態のウェルに接続された一方の端子と、前記出力端
    子に接続された他方の端子とを有する前記フローティン
    グ状態のウェル内に形成された第8のMOSトランジスタ
    を有することを特徴とする請求項13記載の出力回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7304511B2 (en) 2004-08-24 2007-12-04 Oki Electric Industry Co., Ltd. Output circuit for interfacing between different power supply voltages

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