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JP3557694B2 - 出力回路 - Google Patents

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JP3557694B2
JP3557694B2 JP04700895A JP4700895A JP3557694B2 JP 3557694 B2 JP3557694 B2 JP 3557694B2 JP 04700895 A JP04700895 A JP 04700895A JP 4700895 A JP4700895 A JP 4700895A JP 3557694 B2 JP3557694 B2 JP 3557694B2
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mos transistor
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昇一 吉崎
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Panasonic Holdings Corp
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Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、比較的低い電源電圧で動作する出力回路について、この出力回路が、出力回路内の電源電圧(以下「オンチップ電源電圧」という)より高い電圧で動作する他の半導体集積回路と接続された場合のインターフェースに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、LSIの微細化に伴い、半導体デバイス自身、特にゲート酸化膜が5V以上の電圧に耐えられず、オンチップ電源電圧が3Vやそれ以下の低い電圧になってきている。しかし、オンチップ電源電圧が3Vであっても接続する外部のLSIが5V動作品である場合は、この外部のLSIと直接に接続される出力回路が5Vの影響を受ける。このため出力回路をオンチップ電源電圧(3V)より高い電圧(5V)に耐えうるように設計する必要がある。
【0003】
以下、図面を用いて従来の出力回路について説明する。この出力回路は、ハイレベル、ロウレベル、ハイインピーダンスのいずれかの電位状態を出力する回路であって、特に、各トランジスタのゲート酸化膜に5V以上の電圧がかからないような工夫がされている。
【0004】
図2(a)は従来の出力回路の構成、また図2(b)はその内部節点の過渡的電圧変動状態の模式である。
【0005】
図2(a)において、OUTはオンチップ電源電圧より高い電圧で動作する外部LSIの信号線が接続される出力パッド部である。INおよびnENは出力パッド部OUTの電位状態を制御する出力制御端子であって、INはオンチップ回路からの入力端子、nENはイネーブル端子である。VDDはオンチップ電源であり、その電圧はたとえば3V、VDD1はオンチップ電源より高い電圧の電源であり、その電圧はたとえば5Vである。また、NP、NP1、NNは内部節点である。
【0006】
101は出力制御端子INおよびnENの電位に応じてプルアップ制御信号を生成する信号生成回路である。102はNANDゲート、103はNORゲートであって、これらで信号生成回路101を構成している。
【0007】
105,106,107はP型MOSトランジスタであって、いずれの基板もVDD1に接続されている。104,108,109はN型MOSトランジスタであって、いずれの基板も接地されている。
【0008】
110はトランスファーゲートであって、N型MOSトランジスタ104とP型MOSトランジスタ105で構成している。
【0009】
また図2(b)において、V(IN)、V(NP)、V(NP1)、V(NN)、V(OUT)はそれぞれ、入力端子IN、節点NP、節点NP1、節点NN、出力パッド部OUTの過渡的電圧変動を示す。
【0010】
以上のように構成された出力回路について、以下その動作について説明する。なお、以下の説明ではディジタル信号のハイレベルを“H”とし、ロウレベルを“L”とする。
【0011】
出力パッドOUTから“H”を出力する場合は、イネーブル端子nENを“L”にし、入力端子INを“H”にする。第2の電源電圧VDD1は5Vとする。すると、NANDゲート102の出力は“L”、NORゲート103の出力も“L”となる。N型MOSトランジスタ104はオン状態であるので、P型MOSトランジスタ107のゲート電位は“L”となり、P型MOSトランジスタ107はオンとなる。一方、N型MOSトランジスタ109は、NORゲート103の出力が“L”のため、オフになり、出力パッド部OUTは“H”となる。このとき、P型MOSトランジスタ105は、ゲート電位が“H”であるので、オフになる。
【0012】
次に、出力パッドOUTから“L”を出力する場合は、イネーブル端子nENを“L”にし、入力端子INを“L”にする。すると、NANDゲート102の出力、すなわち節点NPは“H”、NORゲート103の出力、すなわち節点NNも“H”となる。N型MOSトランジスタ109はオン状態となり、N型MOSトランジスタ108もオン状態であるので、これら直列接続されたオン状態のN型MOSトランジスタは出力パッド部OUTの電位を下げ始める。出力パッド部OUTの電位降下により、P型MOSトランジスタ105はオン状態となる。一方、“H”状態の節点NPとオン状態のN型MOSトランジスタ104およびP型MOSトランジスタ105によってP型MOSトランジスタ107のゲート電位は“H”になり、オフ状態となる。したがって、出力パッド部OUTは“L”となる。
【0013】
なお、P型MOSトランジスタ105はゲート電位が0V、基板電位が5Vであり、ゲート酸化膜に5Vがかかってしまうようにも思えるが、節点NPが“H”であるのでチャネル電位がオンチップ電源電圧(3V)となっており、P型MOSトランジスタ105のゲート酸化膜に5Vがかかることはない。
【0014】
次に、ハイインピーダンス状態とする場合は、イネーブル端子nENを“H”にする。すると、NANDゲート102の出力は“H”、NORゲート103の出力は“L”となりN型MOSトランジスタ109はオフ状態となる。出力パッド部OUTがオンチップ電源電圧より高い5Vとなった場合は、P型MOSトランジスタ106はオン状態となり、P型MOSトランジスタ107のゲート電位は5Vとなる。P型MOSトランジスタ105はオフ状態、N型MOSトランジスタ104のゲート電位は5Vより低いオンチップ電源電圧であるので、P型MOSトランジスタ107のゲートの5V電位がNANDゲート102まで伝搬しリーク電流が発生することはない。また、P型MOSトランジスタ107はゲート電位および基板電位が5Vのオフ状態であるので出力パッド部OUTからP型MOSトランジスタ107を通してオンチップ電源へリーク電流が発生することもない。さらに、N型MOSトランジスタ108のドレイン電位は5Vとなるが、ゲート電位はオンチップ電源電圧(3V)であるのでゲート酸化膜に5Vがかかることはない。また、N型MOSトランジスタ108のソース電位Vdは、オンチップ電源電圧をV(VDD)、N型MOSトランジスタの基板バイアス効果を考慮した閾値電圧をVtn’とすると、
Vd=V(VDD)−Vtn’
となり、N型MOSトランジスタ109のゲート酸化膜にも5Vがかかることはない。
【0015】
また、ハイインピーダンス状態で出力パッド部OUTが0Vとなった場合は、P型MOSトランジスタ105がオン状態、P型MOSトランジスタ106がオフ状態となり、P型MOSトランジスタ107はゲート電位が“H”でオフ状態となる。
【0016】
このように従来の出力回路では各トランジスタのゲート酸化膜に5Vの電圧が印加することを防ぎ、またリーク電流の発生も防ぐための構成が採られていた。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような構成では、出力パッド部OUTを“H”から“L”にしようとするとき、一時的にオンチップ電源からグランドへ貫通電流が発生するという問題を有している。
【0018】
つまり、出力パッド部OUTを“H”から“L”にしようとするとき、NANDゲート102の出力、すなわち節点NPは“L”から“H”に変化するが、P型MOSトランジスタ105はゲート電位が“H”のためオフ状態である。したがって、P型MOSトランジスタ107のゲート電位V(NP1)は、
V(NP1)=V(VDD)−Vtn’
となる。P型MOSトランジスタの閾値電圧をVtpとすると、P型MOSトランジスタ107がオフ状態となるのはゲート電位V(NP1)が、
V(NP1)≧V(VDD)−|Vtp|
のときである。しかし、N型MOSトランジスタ104のソース電位はオンチップ電源電圧V(VDD)近くになっているため、基板バイアス効果により閾値が大きくなるので、
Vtn’≧|Vtp|
となる。したがって、
V(NP1)=V(VDD)−Vtn’≦V(VDD)−|Vtp|
となり得るので、P型MOSトランジスタ107はオフ状態ではなくなるおそれがある。このためP型MOSトランジスタ107、N型MOSトランジスタ108,109はすべてオン状態となり、オンチップ電源からグランドへ貫通電流が発生する。
【0019】
この貫通電流は、P型MOSトランジスタ107がオフ状態となるまで続く。つまり、貫通電流が発生している状態でのP型MOSトランジスタ107は、ゲート−ソース間電圧が小さいのでオン抵抗が大きく、そのため出力パッド部OUTの電位V(OUT)は徐々に降下してく。P型MOSトランジスタの基板バイアス効果を考慮した閾値電圧をVtp’とすると、出力パッド部OUTの電位V(OUT)が
V(OUT)≦V(VDD)−|Vtp’|
になると、P型MOSトランジスタ105がオン状態となり、P型MOSトランジスタ107のゲート電位V(NP1)が、
V(NP1)≧V(VDD)−|Vtp|
となり、P型MOSトランジスタ107がオフ状態となって、前記貫通電流がなくなり、出力パッド部OUTの電位もグランド電位となる。
【0020】
この貫通電流が生じる状態を各節点の電位で表したのが図2(b)である。同図に示すように出力制御端子INの電位V(IN)が“H”から“L”に変化して、節点NPの電位V(NP)が“L”から“H”に変化しても、P型MOSトランジスタ105をすぐにオン状態にできないので、節点NP1の電位V(NP1)が“H”レベルになるには一定時間を要してしまう。すなわち、P型MOSトランジスタ107を完全にオフ状態にするタイミングが遅れてしまう。この遅れた時間にP型MOSトランジスタ107とN型MOSトランジスタ109が同時にオン状態になってしまい、貫通電流が発生することになる。
【0021】
オンチップ電源VDDからグランドへ貫通電流が発生すると、オンチップ電源の瞬間的な電位ドロップによる誤動作、消費電力の増大を招くという問題点を有している。また、出力パッド部OUTの電位がすぐに降下しないため、遅延時間が増大するという問題点も有している。
【0022】
本発明では、上記従来の問題点を解決するもので、オンチップ電源からグランドへの貫通電流が少ない出力回路を提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するために、本発明の出力回路は、信号生成回路と、出力パッド部に供給するP型MOSトランジスタとの間の第1のトランスファーゲートのP型MOSトランジスタのゲートは、第2のトランスファーゲートを介して出力パッド部に接続し、前記第2のトランスファーゲートのP型MOSトランジスタのゲートはオンチップ電源電圧とし、前記第2のトランスファーゲートのN型MOSトランジスタのゲートは出力制御端子に接続し、さらに前記第1のトランスファーゲートのP型MOSトランジスタのゲートは、カスケード接続された第1および第2のN型MOSトランジスタによりプルダウンし、前記カスケード接続された第1のN型MOSトランジスタのゲートはオンチップ電源電圧とし、前記カスケード接続された第2のN型MOSトランジスタのゲートは、出力制御端子に接続した構成である。
【0024】
【作用】
上記の構成によって、出力パッド部OUTを“H”から“L”にしようとするときでも、第1のトランスファーゲートのP型MOSトランジスタは、ゲートがカスケード接続されたN型MOSトランジスタによりプルダウンされているのでオン状態となる。このため、出力パッド部に供給するP型MOSトランジスタは、ゲート電位がオンチップ電源電圧V(VDD)でオフ状態となるため、オンチップ電源からグランドへの貫通電流の発生を防止することができる。
【0025】
【実施例】
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明する。
【0026】
図1(a)および(b)は、それぞれ本発明の第1の実施例における出力回路の構成、並びにその内部節点の過渡的電圧変動状態の模式である。
【0027】
図1(a)において、OUTはオンチップ電源電圧より高い電圧を有する外部信号線が接続されうる出力パッド部である。INおよびEN、nENは出力パッド部OUTを制御する出力制御端子であって、INはオンチップ回路からの入力端子、EN、nENはイネーブル端子である。なお、nENはENの反転信号である。VDDはオンチップ電源であり本実施例では3V、VDD1はオンチップ電源より高い電圧の電源であり本実施例では5Vである。また、NP、NP1、NNは内部節点を示す。
【0028】
また、101は出力制御端子INおよびnENの電位に応じてプルアップ制御信号を生成する信号生成回路である。102はNANDゲート、103はNORゲートであって、これらで信号生成回路101を構成している。
【0029】
さらに、105,106,107,204はP型MOSトランジスタであって、いずれも基板は第2の電源電圧VDD1に接続されている。
【0030】
さらに、104,108,109,201,202,203はN型MOSトランジスタであり、いずれも基板は接地電位に接続されている。またN型MOSトランジスタ108と同109、ならびにN型MOSトランジスタ201と同202とはそれぞれカスケード接続している。
【0031】
これらのトランジスタのうち、第1のP型MOSトランジスタ107は、信号生成回路101の出力する信号を制御端子に受けて電源電圧VDDを出力パッド部OUTに供給する役割であり、また第1のN型MOSトランジスタ109は、信号生成回路101の出力する信号を制御端子に受けて出力パッド部OUTの電位を引き下げる役割である。なお第1のN型MOSトランジスタ109には、制御端子をオンチップ電源電圧VDDに接続したN型MOSトランジスタ108がカスケード接続されている。
【0032】
また、110は第1のトランスファーゲートであって、第2のN型MOSトランジスタ104と第2のP型MOSトランジスタ105で構成している。この第1のトランスファーゲート110は、NANDゲート102の出力と第1のP型MOSトランジスタ107の制御端子との間の導通/非導通を制御している。また、第2のN型MOSトランジスタ104の制御端子(ゲート端子)はオンチップ電源電圧VDDに接続している。さらに第2のP型MOSトランジスタ105の制御端子は、第2のトランスファーゲート210を介して出力パッド部OUTに接続していると同時に、N型MOSトランジスタ201および第4のN型MOSトランジスタ202を介して接地電位にも接続している。本実施例において、従来と特に異なる構成は、この第2のP型MOSトランジスタ105の制御端子を出力パッド部OUTに直接接続せずに第2のトランスファーゲート210を介している点と、またN型MOSトランジスタ201および第4のN型MOSトランジスタ202を介して接地電位に接続している点である。
【0033】
第2のトランスファーゲート210は、第3のN型MOSトランジスタ203と第3のP型MOSトランジスタ204で構成している。この第2のトランスファーゲート210は、出力パッド部OUTと第2のP型MOSトランジスタ105の制御端子との間の導通/非導通を制御している。第3のN型MOSトランジスタ203の制御端子は出力制御端子nENに接続しており、第3のP型MOSトランジスタ204の制御端子はオンチップ電源電圧VDDに接続している。
【0034】
また、第4のN型MOSトランジスタ202の制御端子は出力制御端子nENの反転信号を出力する端子ENに接続している。また第4のN型MOSトランジスタ202にカスケード接続されているN型MOSトランジスタ201の制御端子はオンチップ電源電圧VDDに接続している。
【0035】
また、出力パッド部OUTと第1のP型MOSトランジスタ107の制御端子とは、制御端子がオンチップ電源電圧VDDに接続された第4のP型MOSトランジスタを介して互いに接続されている。
【0036】
図1(b)において、V(IN)、V(NP)、V(NP1)、V(NN)、V(OUT)はそれぞれ入力端子IN、節点NP、節点NP1、節点NN、出力パッド部OUTの過渡的電圧変動である。
【0037】
以上のように構成された出力回路について、以下その動作について説明する。
出力パッド部OUTから“H”を出力する場合は、イネーブル端子ENを“H”に、nENを“L”にし、入力端子INを“H”にする。第2の電源電圧は5Vとする。すると、NANDゲート102の出力は“L”、NORゲート103の出力も“L”となる。一方、第2のトランスファーゲート210はオフ状態で、さらにN型MOSトランジスタ201,202はオン状態なので、P型MOSトランジスタ105はゲートがプルダウンされオン状態となる。N型MOSトランジスタ104もオン状態なので、P型MOSトランジスタ107のゲート電位は“L”となり、P型MOSトランジスタ107はオン状態となる。一方、N型MOSトランジスタ109はオフとなり、出力パッド部OUTは“H”となる。
【0038】
次に、“L”を出力する場合は、イネーブル端子ENを“H”に、nENを“L”にし、入力端子INを“L”にする。すると、NANDゲート102の出力、すなわち節点NPは“H”、NORゲート103の出力、すなわち節点NNも“H”となる。“H”を出力する場合と同様に、第2のトランスファーゲート210はオフ状態で、さらにN型MOSトランジスタ201,202はオン状態なので、P型MOSトランジスタ105はオン状態である。N型MOSトランジスタ104もオン状態なので、P型MOSトランジスタ107のゲート電位、すなわち節点NP1は“H”となり、P型MOSトランジスタ107はオフ状態となる。一方、N型MOSトランジスタ109はオン状態であり、N型MOSトランジスタ108もオン状態であるので、出力パッド部OUTは“L”となる。
【0039】
以上のように、“L”を出力する場合は、従来例では、出力パッド部OUTの電位V(OUT)が、
V(OUT)≦V(VDD)−|Vtp’|
となって初めて、P型MOSトランジスタ105がオン状態になっていたのに対し、本実施例ではトランスファーゲート210を設けているので、出力パッド部OUTの電位とP型MOSトランジスタ105の制御端子の電位を断ち切ることができる。したがって、N型MOSトランジスタ202がオン状態になれば、“H”レベルになっている出力パッド部OUTの電位V(OUT)に依存せずに、P型MOSトランジスタ105の制御端子を“L”レベルに引き下げることができ、P型MOSトランジスタ105をオン状態にすることができる。この結果、“H”レベル状態の節点NPとP型MOSトランジスタ107の制御端子を確実に導通することができる。つまりP型MOSトランジスタ107を確実にオフ状態にすることができる。このためP型MOSトランジスタ107が、N型MOSトランジスタ108,109と同時にオン状態となることはないので、オンチップ電源からグランドへ貫通電流が発生することはない。
【0040】
なお、P型MOSトランジスタ105はゲート電位が0V、基板電位が5Vであるが、オン状態であり、チャネル電位がオンチップ電源電圧(3V)となるので、ゲート酸化膜に5Vがかかる心配はなく、この点は従来例と同様である。
【0041】
このときの各節点の電位変化の様子を図に表したのが図1(b)である。同図に示すように出力制御端子INの電位V(IN)が“H”から“L”に変化して、節点NPの電位V(NP)が“L”から“H”に変化すると、P型MOSトランジスタ105はすぐにオン状態になるので、節点NP1の電位V(NP1)もすぐに“H”レベルになる。すなわち、P型MOSトランジスタ107が遅れなく完全にオフ状態になる。このため、P型MOSトランジスタ107とN型MOSトランジスタ109が同時にオン状態になることもなく、貫通電流は発生しない。
【0042】
次に、出力パッド部OUTをハイインピーダンス状態とする場合は、イネーブル端子ENを“L”に、nENを“H”にする。すると、NANDゲート102の出力は“H”、NORゲート103の出力は“L”となりN型MOSトランジスタ109はオフ状態となる。また、N型MOSトランジスタ202はオフ状態、N型MOSトランジスタ203はオン状態となる。
【0043】
このとき、出力パッド部OUTに接続されている外部回路の電位が0Vのような十分に低い電位であれば、まず、P型MOSトランジスタ106がオフ状態になる。また、N型MOSトランジスタ203がオン状態であるのでP型MOSトランジスタ105の制御端子には出力パッド部OUTの電位0Vが供給されて、P型MOSトランジスタ105はオン状態となる。このため、P型MOSトランジスタ107のゲート電位は節点NPの電位が伝えられて“H”になる。すなわち、P型MOSトランジスタ107もN型MOSトランジスタ109と同様にオフ状態になり、出力パッド部OUTはハイインピーダンス状態になる。
【0044】
また、出力パッド部OUTに接続されている外部回路の電位がオンチップ電源電圧より高い5Vとなった場合は、P型MOSトランジスタ106はオン状態となり、P型MOSトランジスタ107のゲート電位は5Vとなる。これによって、P型MOSトランジスタ107をオフ状態にして、出力パッド部OUTをハイインピーダンス状態にすることができる。なお、このときP型MOSトランジスタ204もオン状態となり、N型MOSトランジスタ202はオフ状態であるので、P型MOSトランジスタ105のゲート電位は5Vとなる。このため、P型MOSトランジスタ105はオフ状態であり、N型MOSトランジスタ104もゲート電位は5Vより低いオンチップ電源電圧(3V)でありオフ状態になるため、P型MOSトランジスタ107のゲート電位の5VがNANDゲート102まで伝搬しリーク電流が発生することはない。すなわち、この構成によれば、出力パッド部OUTをハイインピーダンス状態にしたときに、外部回路がオンチップ電源電圧より高い5Vで動作する場合でも、トランスファーゲートやトランジスタの働きにより、内部回路を的確に保護することができる。
【0045】
また、このときP型MOSトランジスタ107はゲート電位および基板電位が5Vのオフ状態であるので出力パッド部OUTの電位が5Vであっても、P型MOSトランジスタ107を通してオンチップ電源へリーク電流が発生することもない。
【0046】
さらに、N型MOSトランジスタ108のドレイン電位は5Vとなるが、ゲート電位はオンチップ電源電圧(3V)であるのでゲート酸化膜に5Vがかかる心配はない。また、N型MOSトランジスタ108のソース電位Vdは、オンチップ電源電圧をV(VDD)、N型MOSトランジスタの基板バイアス効果を考慮した閾値電圧をVtn’とすると、
Vd=V(VDD)−Vtn’
となり、N型MOSトランジスタ109のゲート酸化膜にも5Vがかかることはない。
【0047】
同様に、N型MOSトランジスタ201のドレイン電位は5Vとなるが、ゲート電位はオンチップ電源電圧であるのでゲート酸化膜に5Vがかかることはない。また、N型MOSトランジスタ201のソース電位は、V(VDD)−Vtn’となり、N型MOSトランジスタ202のゲート酸化膜にも5Vがかかることはない。
【0048】
また、ハイインピーダンス状態で出力パッド部OUTが0Vとなった場合は、P型MOSトランジスタ105がオン状態、P型MOSトランジスタ107はゲート電位が“H”でオフ状態となる。
【0049】
なお、第1のトランスファーゲート110は、クロックドインバータ構成としてもよい。
【0050】
なお、以上の実施例ではN型MOSトランジスタ201と202や、N型MOSトランジスタ108と109をカスケード接続として構成したが、これはN型MOSトランジスタ109や202のゲート酸化膜を保護するためであり、本発明の目的である貫通電流の発生防止とは直接関係がない。したがって、これらのN型MOSトランジスタはカスケード接続になっていれば、より好ましいが、必ずしもこの構成に限られるものではなく、接地電位に引き下げるためのプルダウン手段として機能していればよい。
【0051】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の出力回路によれば、出力パッド部の電位に依存せずにP型MOSトランジスタがオフ状態になるので、P型MOSトランジスタが、N型MOSトランジスタと同時にオン状態となることはなく、オンチップ電源からグランドへ貫通電流が発生することはない。したがって、オンチップ電源の瞬間的な電位ドロップによる誤動作や消費電力の増大や、また出力パッド部の電位がすぐに降下しないための遅延時間の増大を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の第1の実施例における出力回路の構成を示す図
(b)はその内部節点の過渡的電圧変動状態を示す図
【図2】(a)は従来の出力回路の構成を示す図
(b)はその内部節点の過渡的電圧変動状態を示す図
【符号の説明】
101 プルアップ制御信号を生成する信号生成回路
102 NANDゲート
103 NORゲート
104 N型MOSトランジスタ
105〜107 P型MOSトランジスタ
108,109 N型MOSトランジスタ
110 第1のトランスファーゲート
201〜203 N型MOSトランジスタ
204 P型MOSトランジスタ
210 第2のトランスファーゲート
OUT 出力パッド部
IN オンチップ回路からの入力端子
nEN イネーブル端子
VDD オンチップ電源
VDD1 オンチップ電源より高い電圧の電源
NP、NP1、NN 内部節点
V(IN) 入力端子INの過渡的電圧変動
V(NP) 節点NPの過渡的電圧変動
V(NP1) 節点NP1の過渡的電圧変動
V(NN) 節点NNの過渡的電圧変動
V(OUT) 出力パッド部OUTの過渡的電圧変動

Claims (1)

  1. 外部信号線が接続される出力パッド部と、制御信号を供給するための出力制御端子と、前記出力制御端子の電位に応じて制御信号を生成する信号生成回路と、前記信号生成回路の制御信号を受けて電源電圧を前記出力パッド部に供給する第1のP型MOSトランジスタと、前記信号生成回路の制御信号を受けて前記出力パッド部の電位を引き下げる第1のN型MOSトランジスタを有し、前記第1のP型MOSトランジスタと前記第1のN型MOSトランジスタのオンオフ動作に応じて前記出力パッド部の電位状態をハイレベル、ロウレベルおよびハイインピーダンスのいずれかの状態にする出力回路であって、前記信号生成回路は、第2のP型MOSトランジスタと第2のN型MOSトランジスタで構成した第1のトランスファーゲートを介して前記第1のP型MOSトランジスタの制御端子に接続し、前記第2のN型MOSトランジスタの制御端子はオンチップ電源電圧とし、前記第2のP型MOSトランジスタの制御端子は、第3のP型MOSトランジスタと第3のN型MOSトランジスタで構成した第2のトランスファーゲートを介して前記出力パッド部に接続し、前記第3のP型MOSトランジスタの制御端子はオンチップ電源電圧とし、前記第3のN型MOSトランジスタの制御端子は前記出力制御端子に接続し、また前記第2のP型MOSトランジスタの制御端子を、電位を引き下げるための第4のN型MOSトランジスタにも接続し、前記第4のN型MOSトランジスタの制御端子は前記出力制御端子に接続し、さらに前記第1のP型MOSトランジスタの制御端子は、制御端子をオンチップ電源電圧とした第4のP型MOSトランジスタを介して前記出力パッド部にも接続し、前記第1から第4のP型MOSトランジスタの基板電位をオンチップ電源電圧より高い電圧とし、また前記第1から第4のN型MOSトランジスタの基板電位を接地電位としたことを特徴とする出力回路。
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