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JP3379905B2 - Electro-optic sampling oscilloscope - Google Patents

Electro-optic sampling oscilloscope

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JP3379905B2
JP3379905B2 JP14803298A JP14803298A JP3379905B2 JP 3379905 B2 JP3379905 B2 JP 3379905B2 JP 14803298 A JP14803298 A JP 14803298A JP 14803298 A JP14803298 A JP 14803298A JP 3379905 B2 JP3379905 B2 JP 3379905B2
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JP
Japan
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circuit
lower limit
trigger
upper limit
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JP14803298A
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伸成 竹内
幸樹 柳沢
潤 菊池
暢一 伴城
善雄 遠藤
満 品川
忠夫 永妻
順三 山田
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定信号によっ
て発生する電界を電気光学結晶に結合させ、トリガ回路
によって分周したトリガ信号に同期して生成されるタイ
ミング信号に基づいて光パルスを発生させて電気光学結
晶に入射し、入射した光パルスの偏光状態により、被測
定信号の波形を観測する電気光学サンプリングオシロス
コープに係わり、特に外部から入力されたトリガ信号を
目的の周期のパルス列に変換するトリガ回路に特徴を有
する電気光学サンプリングオシロスコープに関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric field generated by a signal under measurement, which is coupled to an electro-optic crystal and generates an optical pulse based on a timing signal generated in synchronization with a trigger signal divided by a trigger circuit. Incident on the electro-optic crystal, and is related to the electro-optic sampling oscilloscope that observes the waveform of the signal under measurement depending on the polarization state of the incident optical pulse, and especially converts the trigger signal input from the outside into a pulse train of the target period. The present invention relates to an electro-optical sampling oscilloscope having a trigger circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】被測定信号によって発生する電界を電気
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観
測することができる。ここでレーザ光をパルス状にし、
被測定信号をサンプリングすると非常に高い時間分解能
で測定することができる。この現象を利用した電気光学
プローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコ
ープである。この電気光学サンプリングオシロスコープ
(以下「EOSオシロスコープ」と略記する)は、電気
式プローブを用いた従来のサンプリングオシロスコープ
と比較し、 1)信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易 2)電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高入力インピーダンスを実現で
き、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことがない 3)光パルスを利用することからGHzオーダーまでの
広帯域測定が可能 といった特徴があり注目を集めている。
2. Description of the Related Art It is possible to observe the waveform of a signal under measurement by coupling an electric field generated by the signal under measurement with an electro-optic crystal, injecting laser light into the electro-optic crystal, and observing the polarization state of the laser light. Here, pulse the laser light,
When the signal under measurement is sampled, it can be measured with very high time resolution. An electro-optic sampling oscilloscope uses an electro-optic probe that takes advantage of this phenomenon. This electro-optical sampling oscilloscope (hereinafter abbreviated as “EOS oscilloscope”) is compared with a conventional sampling oscilloscope using an electric probe, and 1) does not require a ground line when measuring a signal, so Easy 2) Since the metal pin at the tip of the electro-optic probe is insulated from the circuit system, a high input impedance can be realized, and as a result, the state of the measured point is hardly disturbed 3) Since an optical pulse is used It has attracted attention because it has a feature that it can measure wideband up to GHz order.

【0003】次に、EOSオシロスコープの構成を図4
を用いて説明する。EOSオシロスコープは、EOSオ
シロスコープの本体1および電気光学プローブ2により
構成される。図4において、EOSオシロスコープの本
体1は、タイミング発生回路3、トリガ回路4、光パル
ス発生回路5、A/D変換器6、処理回路7、設定部8
から構成される。
Next, the configuration of the EOS oscilloscope is shown in FIG.
Will be explained. The EOS oscilloscope includes an EOS oscilloscope body 1 and an electro-optic probe 2. In FIG. 4, the main body 1 of the EOS oscilloscope includes a timing generation circuit 3, a trigger circuit 4, an optical pulse generation circuit 5, an A / D converter 6, a processing circuit 7, and a setting unit 8.
Composed of.

【0004】ここでトリガ回路4は、外部から入力され
た未知の周期のトリガ信号Strを目的の周期に分周し
たトリガダウン信号Stdを生成する。また、タイミン
グ発生回路3は、光パルス発生タイミングおよびA/D
変換器6におけるA/D変換のタイミング信号となるタ
イミング信号を生成する。なお、このタイミング信号
は、希望サンプルレート、トリガ回路4からのトリガダ
ウン信号Std、内部クロックからのクロック信号を入
力信号として生成される。ここで、希望サンプルレート
とは、設定部8で設定された測定信号の時間方向の拡大
率であるx軸スケールにもとづいて処理回路7で決定さ
れるサンプルレートのことを言う。また、トリガ信号S
trの分周は、希望サンプルレートの周期よりトリガ信
号の周期が短い時に、トリガ信号Strを希望サンプル
レートの周期に近い周期に分周した(以下、トリガ信号
Strを分周することを”トリガダウン”と称する)ト
リガダウン信号Stdによって、タイミング信号を生成
する。光パルス発生回路5は、タイミング発生回路3か
らの信号をもとに、光パルスを発生し、電気光学プロー
ブ2に供給される。そして、偏光変化を受けた光パルス
は、電気光学プローブ2内の偏光検出光学系(図示せ
ず)により偏光検出等が行われ、その信号がEOSオシ
ロスコープの本体1に入力される。この信号は、A/D
変換器6により信号の増幅およびA/D変換が行われ
る。そして、A/D変換された信号は、処理回路7によ
り測定対象となった信号の表示等のための処理がなされ
る。
Here, the trigger circuit 4 generates a trigger down signal Std by dividing the trigger signal Str having an unknown period input from the outside into a target period. Further, the timing generation circuit 3 is configured to detect the optical pulse generation timing and A / D.
A timing signal that is a timing signal for A / D conversion in the converter 6 is generated. The timing signal is generated with the desired sample rate, the trigger down signal Std from the trigger circuit 4, and the clock signal from the internal clock as input signals. Here, the desired sample rate means the sample rate determined by the processing circuit 7 based on the x-axis scale which is the enlargement factor of the measurement signal in the time direction set by the setting unit 8. In addition, the trigger signal S
The frequency division of tr is performed by dividing the trigger signal Str into a cycle close to the cycle of the desired sample rate when the cycle of the trigger signal is shorter than the cycle of the desired sample rate. A timing signal is generated by a trigger down signal Std (referred to as “down”). The optical pulse generation circuit 5 generates an optical pulse based on the signal from the timing generation circuit 3 and supplies it to the electro-optic probe 2. Then, the optical pulse subjected to the polarization change is subjected to polarization detection and the like by a polarization detection optical system (not shown) in the electro-optic probe 2, and the signal is input to the main body 1 of the EOS oscilloscope. This signal is A / D
The converter 6 performs signal amplification and A / D conversion. Then, the A / D converted signal is processed by the processing circuit 7 for displaying the signal to be measured and the like.

【0005】図5は、図4におけるトリガ回路4をより
詳細に示した図である。図5において、符号41は、ト
リガ信号Strに対してマスクをして分周したトリガダ
ウン信号Stdを出力するゲート回路であり、符号42
は、ゲート回路41のマスク幅を決定するタイマ回路で
ある。符号43は、ゲート回路41の出力パルスのパル
ス幅を必要なパルス幅に整形して出力するパルス幅整形
回路である。
FIG. 5 is a diagram showing the trigger circuit 4 in FIG. 4 in more detail. In FIG. 5, reference numeral 41 is a gate circuit for outputting a trigger down signal Std obtained by masking and dividing the frequency of the trigger signal Str.
Is a timer circuit that determines the mask width of the gate circuit 41. Reference numeral 43 is a pulse width shaping circuit which shapes the pulse width of the output pulse of the gate circuit 41 into a required pulse width and outputs the pulse width.

【0006】次に、図5に示した従来技術の動作を図6
を参照して説明する。トリガ信号Strは、外部から入
力された未知の一定周期のパルス列である(図6(a)
参照)。ここでは、外部から入力されたトリガ信号St
rの周期が30[nS]であったとして説明する。ま
た、希望サンプルレートの周期を250[nS]である
とする。まず、タイマ回路42は、トリガ信号Strを
トリガとして、希望サンプルレートの周期(250[n
S])と同じパルス幅の信号を反転して出力する(図6
(b)参照)。この信号は、トリガ信号Strをマスク
するための信号であり、トリガ信号Strの立ち上がり
とほぼ同時立ち下がり、250[nS]後に立ち上が
り、この立ち上がり直後のトリガ信号Strの立ち上が
りによって立ち下がるという動作を繰り返す。
Next, the operation of the prior art shown in FIG. 5 is shown in FIG.
Will be described with reference to. The trigger signal Str is a pulse train with an unknown constant period input from the outside (FIG. 6A).
reference). Here, the trigger signal St input from the outside is used.
It is assumed that the cycle of r is 30 [nS]. Further, it is assumed that the cycle of the desired sample rate is 250 [nS]. First, the timer circuit 42 uses the trigger signal Str as a trigger to set a period (250 [n
S]) and the signal having the same pulse width is inverted and output (FIG. 6).
(See (b)). This signal is a signal for masking the trigger signal Str, and falls almost simultaneously with the rising of the trigger signal Str, rises after 250 [nS], and falls with the rising of the trigger signal Str immediately after this rising. .

【0007】ゲート回路41は、トリガ信号Strと反
転されたマスク信号の論理積を出力する(図6(c)参
照)。パルス幅整形回路43は、ゲート回路41の出力
のパルス幅を必要な幅に整形して出力する(図6(d)
参照)。この信号が、トリガダウン信号Stdとなる。
この動作によって、トリガ信号Strの立ち上がりから
250[nS]の間にあるパルスはマスクされて出力さ
れないため、トリガ信号Strの周期が30[nS]で
あったのに対して、トリガダウン信号Stdの周期は、
270[nS]となる。このようにして、トリガ回路4
により希望サンプルレートに近い周期にトリガダウンす
ることができる。
The gate circuit 41 outputs a logical product of the trigger signal Str and the inverted mask signal (see FIG. 6 (c)). The pulse width shaping circuit 43 shapes the pulse width of the output of the gate circuit 41 into a required width and outputs it (FIG. 6 (d)).
reference). This signal becomes the trigger down signal Std.
By this operation, the pulse within 250 [nS] from the rising edge of the trigger signal Str is masked and is not output. Therefore, the cycle of the trigger signal Str is 30 [nS], whereas the pulse of the trigger down signal Std is The cycle is
It becomes 270 [nS]. In this way, the trigger circuit 4
Can trigger down to a cycle close to the desired sample rate.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、トリガ
信号strの周期が240[nS](図6(e)参照)
であった場合は、250[nS]のパルス幅の信号を反
転したタイマ回路42の出力(図6(f)参照)によっ
てトリガ信号strを切り出すと、ゲート回路41の出
力は、その周期が480[nS](図6(g)参照)と
なり、この場合のトリガダウン信号Stdの周期は48
0[nS](図6(h)参照)となる。
However, the cycle of the trigger signal str is 240 [nS] (see FIG. 6 (e)).
In this case, when the trigger signal str is cut out by the output of the timer circuit 42 (see FIG. 6 (f)) which is the inverted pulse width signal of 250 [nS], the output of the gate circuit 41 has a cycle of 480. [NS] (see FIG. 6G), and the cycle of the trigger down signal Std in this case is 48
It becomes 0 [nS] (see FIG. 6 (h)).

【0009】これは、図4、5に示すEOSオシロスコ
ープにあっては、未知の周期のトリガ信号Strの立ち
上がりから希望サンプルレートの周期と同じパルス幅の
パルスでマスクをしていたために、必ず希望サンプルレ
ートより長い周期で分周されるためである。したがっ
て、入力されるトリガ信号Strの周期と希望サンプル
レートの周期の設定によっては、希望サンプルレートの
周期に近い周期とならない場合がある。トリガ信号St
rをトリガダウンしたトリガダウン信号Stdの周期
は、希望サンプルレートの周期に近い周期が望ましい
が、前述した従来技術による分周は、希望サンプルレー
トの周期が250[nS]なのに対して、トリガダウン
信号Stdの周期は480[nS]となり、2倍近い周
期に分周されてしまうという問題がある。
In the EOS oscilloscopes shown in FIGS. 4 and 5, this is always desired since the masking is performed with the pulse having the same pulse width as the period of the desired sample rate from the rising of the trigger signal Str of the unknown period. This is because the frequency is divided in a cycle longer than the sample rate. Therefore, depending on the settings of the cycle of the input trigger signal Str and the cycle of the desired sample rate, the cycle may not be close to the cycle of the desired sample rate. Trigger signal St
The period of the trigger down signal Std obtained by triggering r down is preferably close to the period of the desired sample rate. However, in the frequency division according to the related art described above, the period of the desired sample rate is 250 [nS], but the trigger down signal is The cycle of the signal Std becomes 480 [nS], and there is a problem that the frequency is divided into a cycle that is almost double.

【0010】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、希望サンプルレートの周期に近い周期のトリガ
ダウン信号を精度よく発生することができる電気光学サ
ンプリングオシロスコープを提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an electro-optical sampling oscilloscope capable of accurately generating a trigger down signal having a cycle close to the cycle of a desired sample rate. .

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうち請求項1に記載の発明は、外部から入
力されるトリガ信号を、トリガ回路によって希望サンプ
ルレートに近い周期に分周したトリガダウン信号を出力
し、このトリガダウン信号に同期して生成されるタイミ
ング信号に基づいて光パルスを発生して、被測定信号の
測定を行う電気光学サンプリングオシロスコープにおい
て、前記トリガ回路は、前記希望サンプルレートの上限
値及び下限値を定め、この上限値と下限値の範囲内の前
記トリガ信号のパルスを抽出して、抽出したパルスの周
期に基づいてマスク幅を求めるマスク幅決定回路と、前
記マスク幅決定回路によって定められたマスク幅によっ
て、前記トリガ信号をマスクして、前記トリガ信号を分
周した前記トリガダウン信号を出力する第1のゲート回
路とを備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 of the present invention divides a trigger signal input from the outside into a cycle close to a desired sample rate by a trigger circuit. In the electro-optical sampling oscilloscope that outputs a cycled trigger down signal, generates an optical pulse based on a timing signal generated in synchronization with the trigger down signal, and measures the signal under measurement, the trigger circuit is A mask width determination circuit that determines an upper limit value and a lower limit value of the desired sample rate, extracts a pulse of the trigger signal within the range of the upper limit value and the lower limit value, and obtains a mask width based on the period of the extracted pulse. The trigger signal is masked by the mask width determined by the mask width determination circuit, and the trigger signal is divided in frequency. Characterized by comprising a first gate circuit for outputting a down signal.

【0012】請求項2に記載の発明は、前記マスク幅決
定回路は、前記希望サンプルレートの周期より大きい周
期を、上限値の初期値として設定し、前記希望サンプル
レートの周期より小さい周期を、下限値の初期値として
設定し、入力されるカウンタ信号に基づいて、前記上限
値及び前記下限値を変更して出力する制御回路と、前記
下限値を受け、この下限値に相当する幅のパルスを出力
する第1のタイマ回路と、前記上限値を受け、この上限
値に相当する幅のパルスを出力する第2のタイマ回路
と、前記第1のタイマ回路及び前記第2のタイマ回路の
出力に基づいて、前記上限値と前記下限値との間の前記
トリガ信号のパルス列を抽出する第2のゲート回路と、
前記第2のゲート回路において抽出された前記パルス列
のパルスの数をカウントして、結果を前記制御回路へ出
力するカウンタとを備えたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, the mask width determination circuit sets a period larger than the period of the desired sample rate as an initial value of an upper limit value, and a period smaller than the period of the desired sample rate, A control circuit which is set as an initial value of the lower limit value and which changes and outputs the upper limit value and the lower limit value based on an input counter signal, and a pulse having a width corresponding to the lower limit value, which receives the lower limit value. And a second timer circuit that receives the upper limit value and outputs a pulse having a width corresponding to the upper limit value, and outputs of the first timer circuit and the second timer circuit A second gate circuit for extracting a pulse train of the trigger signal between the upper limit value and the lower limit value,
A counter for counting the number of pulses of the pulse train extracted in the second gate circuit and outputting the result to the control circuit.

【0013】請求項3に記載の発明は、前記制御回路
は、前記カウンタのカウント値が0(ゼロ)であった場
合は、前記上限値と前記下限値の間隔を徐々に広げるよ
うに前記上限値及び下限値を設定し、前記カウント値が
2以上であった場合は、前記上限値と前記下限値の間隔
を徐々に狭めるように前記上限値及び下限値を設定し
て、前記カウント値が1になるまで前記設定を繰り返す
ことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, when the count value of the counter is 0 (zero), the control circuit increases the upper limit value and the lower limit value to gradually increase the upper limit value. If a value and a lower limit value are set and the count value is 2 or more, the upper limit value and the lower limit value are set so as to gradually narrow the interval between the upper limit value and the lower limit value, and the count value is It is characterized in that the above setting is repeated until it becomes 1.

【0014】請求項4に記載の発明は、前記制御回路
は、前記カウンタのカウント値が0(ゼロ)であり、前
記上限値と前記下限値の間隔を限界値まで広げても前記
カウンタのカウント値が0(ゼロ)であった場合は前記
上限値及び下限値を設定しないことを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the control circuit, the count value of the counter is 0 (zero), and even if the interval between the upper limit value and the lower limit value is expanded to a limit value, the counter count is increased. When the value is 0 (zero), the upper limit value and the lower limit value are not set.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
電気光学サンプリングオシロスコープを図面を参照して
説明する。図4は、EOSオシロスコープの一構成例を
示す図である。前述の通り、EOSオシロスコープはE
OSオシロスコープの本体1および電気光学プローブ2
により構成される。そして、EOSオシロスコープの本
体1は、トリガ回路4、タイミング発生回路3、光パル
ス発生回路5、A/D変換器6、処理回路7、設定部8
により構成される。なお、EOSオシロスコープの動作
概要は、前述の通りであり、説明を省略する。そして、
以下では本発明の特徴であるトリガ回路4について詳細
に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An electro-optical sampling oscilloscope according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of the EOS oscilloscope. As mentioned above, the EOS oscilloscope
OS oscilloscope body 1 and electro-optic probe 2
It is composed of The main body 1 of the EOS oscilloscope includes a trigger circuit 4, a timing generation circuit 3, an optical pulse generation circuit 5, an A / D converter 6, a processing circuit 7, and a setting unit 8.
It is composed of The outline of the operation of the EOS oscilloscope is as described above, and the description thereof will be omitted. And
The trigger circuit 4, which is a feature of the present invention, will be described in detail below.

【0016】図1は、本発明の一実施形態によるEOS
オシロスコープのトリガ回路4の構成を示す図である。
図1において、符号41aは、外部から入力されたトリ
ガ信号Strに対してマスクをかけてトリガ信号Str
の分周をするゲート回路である。符号4aは、トリガ信
号Strにマスクをかけるときのマスク幅を決定するマ
スク幅決定回路であり、ゲート回路41b、タイマ回路
42a、42b、カウンタ44、および制御回路45に
より構成される。ゲート回路41bは、トリガ信号St
rを分周したトリガダウン信号Stdの周期を希望サン
プルレートの周期に近づけるための回路である。タイマ
回路42aは、マスク幅の下限値を決定するタイマ回路
であり、タイマ回路42bは、マスク幅の上限値を決定
するタイマ回路である。カウンタ44は、ゲート回路4
1bによってマスクされたトリガ信号strのパルスを
カウントする。制御回路45は、カウンタ44のカウン
ト値が「1」になるまで、マスク幅を変更するためにタ
イマ回路42a、42bを制御する制御回路である。符
号43は、パルスの幅を必要なパルス幅に整形するパル
ス幅整形回路である。このパルス幅整形回路43の出力
がトリガダウン信号Stdとなる。
FIG. 1 shows an EOS according to an embodiment of the present invention.
It is a figure which shows the structure of the trigger circuit 4 of an oscilloscope.
In FIG. 1, reference numeral 41a denotes a trigger signal Str that masks a trigger signal Str input from the outside.
It is a gate circuit that divides the frequency. Reference numeral 4a is a mask width determination circuit that determines the mask width when masking the trigger signal Str, and includes a gate circuit 41b, timer circuits 42a and 42b, a counter 44, and a control circuit 45. The gate circuit 41b uses the trigger signal St
It is a circuit for approximating the cycle of the trigger down signal Std obtained by dividing r to the cycle of the desired sample rate. The timer circuit 42a is a timer circuit that determines the lower limit value of the mask width, and the timer circuit 42b is a timer circuit that determines the upper limit value of the mask width. The counter 44 is the gate circuit 4
The pulses of the trigger signal str masked by 1b are counted. The control circuit 45 is a control circuit that controls the timer circuits 42a and 42b to change the mask width until the count value of the counter 44 becomes "1". Reference numeral 43 is a pulse width shaping circuit for shaping the pulse width into a required pulse width. The output of the pulse width shaping circuit 43 becomes the trigger down signal Std.

【0017】次に、図1に示した実施形態の動作を図2
を用いて説明する。ここでは、外部から入力されたトリ
ガ信号Strの周期が30[nS]である(図2(a)
参照)として説明する。先ず、マスクの幅を求める動作
について説明する。制御回路45は、処理回路7より入
力される希望サンプルレートに基づき、希望サンプルレ
ートの周期の上限値と下限値を求める。例えば、上限値
と下限値は、希望サンプルレートの周期の、+10%を
上限値とし、−10%を下限値とする。このとき、希望
サンプルレートの周期が250[nS]であった場合
は、上限値は275[nS]、下限値は225[nS]
となる。次に、制御回路45は、タイマ回路42aに対
して、求めた下限値を出力するとともに、タイマ回路4
2bに対して、求めた上限値を出力する。タイマ回路4
2aは、ゲート回路41aの出力をトリガとして、入力
された下限値に相当するパルス幅のパルスを出力する
(図2(b)参照)。この波形は、ゲート回路41aの
出力とほぼ同時に立ち上がり、下限値に相当する時間
(225[nS])後に立ち下がる。なお、図2(a)
(b)ではゲート回路41aにより選択されるトリガ信
号Strとの対応を表している。
Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG.
Will be explained. Here, the cycle of the trigger signal Str input from the outside is 30 [nS] (FIG. 2A).
Refer to). First, the operation of obtaining the width of the mask will be described. The control circuit 45 obtains the upper limit value and the lower limit value of the cycle of the desired sample rate based on the desired sample rate input from the processing circuit 7. For example, for the upper limit value and the lower limit value, + 10% of the cycle of the desired sample rate is the upper limit value, and -10% is the lower limit value. At this time, when the cycle of the desired sample rate is 250 [nS], the upper limit value is 275 [nS] and the lower limit value is 225 [nS].
Becomes Next, the control circuit 45 outputs the obtained lower limit value to the timer circuit 42a and the timer circuit 4a.
The obtained upper limit value is output for 2b. Timer circuit 4
2a triggers the output of the gate circuit 41a and outputs a pulse having a pulse width corresponding to the input lower limit value (see FIG. 2B). This waveform rises almost at the same time as the output of the gate circuit 41a, and falls after a time (225 [nS]) corresponding to the lower limit value. 2 (a)
(B) shows the correspondence with the trigger signal Str selected by the gate circuit 41a.

【0018】次に、タイマ回路42bは、タイマ回路4
2aの出力の立ち上がりと同時に立ち上がり、上限値に
相当するパルス幅のパルスを出力する(図2(c)参
照)。この波形は、タイマ回路42aと同様に、トリガ
信号Strとほぼ同時に立ち上がり、上限値に相当する
時間(275[nS])後に立ち下がる。
Next, the timer circuit 42b is connected to the timer circuit 4
At the same time when the output of 2a rises, it rises and outputs a pulse having a pulse width corresponding to the upper limit value (see FIG. 2C). Similar to the timer circuit 42a, this waveform rises almost at the same time as the trigger signal Str and falls after a time corresponding to the upper limit value (275 [nS]).

【0019】次にゲート回路41bは、タイマ回路42
aの出力の立ち下がりとタイマ回路42bの出力の立ち
下がりの間だけ”H”(ハイ)になる(図2(d)参
照)信号を内部で生成させ、この信号と、トリガ信号S
trとの論理積を出力する(図2(e)参照)。この論
理積の出力は、希望サンプルレートの周期の±10%範
囲内のトリガ信号Strのパルス列が取り出されたこと
になり、このパルス列は、カウンタ44へ出力される。
Next, the gate circuit 41b is connected to the timer circuit 42.
A signal that becomes "H" (high) (see FIG. 2D) is generated internally only between the fall of the output of a and the fall of the output of the timer circuit 42b, and this signal and the trigger signal S
The logical product with tr is output (see FIG. 2 (e)). The output of this logical product means that the pulse train of the trigger signal Str within the range of ± 10% of the period of the desired sample rate is taken out, and this pulse train is output to the counter 44.

【0020】次に、カウンタ44は、入力されたパルス
列のパルスの立ち上がりをカウントして制御回路45へ
出力する。ここで制御回路45は、カウンタ44のカウ
ント値が「1」であるか否かを判断し、「2」以上であ
った場合は、希望サンプルレートより求めた上限値及び
下限値を、タイマ回路42aの出力の立ち下がりとタイ
マ回路42bの出力の立ち下がりとの間隔が狭くなるよ
うに変更(図2(f)及び(g)参照)する。つまり、
下限値の値をこの時点で設定されている値より大きく
し、上限値の値をこの時点で設定されている値より小さ
くする。上限値及び下限値の変更は、制御回路45を構
成するハードウェアの分解能等から1ステップ毎に変更
する。次に、変更された上限値及び下限値に基づいて、
タイマ回路42aの出力の立ち下がりとタイマ回路42
bの出力の立ち下がりとの間だけ”H”(ハイ)になる
信号(ゲート回路41bの内部信号、図2(h)参照)
によって、トリガ信号Strのパルスを切り出す(図2
(i)参照)。このように、カウンタ44のカウント値
が「1」になるまで上限値と下限値を変更する動作を繰
り返す。この動作によって、下限値のパルス幅は、22
5+T1[nS]となり(図2(f)参照)、上限値の
パルス幅は、275−T2[nS](図2(g)参照)
となる。この下限値のパルス幅が、トリガ信号Strを
マスクするためのマスク幅となる。
Next, the counter 44 counts the rising edge of the pulse of the input pulse train and outputs it to the control circuit 45. Here, the control circuit 45 determines whether or not the count value of the counter 44 is “1”. If the count value is “2” or more, the upper limit value and the lower limit value obtained from the desired sample rate are set to the timer circuit. The interval between the fall of the output of 42a and the fall of the output of the timer circuit 42b is changed to be narrow (see FIGS. 2F and 2G). That is,
The lower limit value is made larger than the value set at this time, and the upper limit value is made smaller than the value set at this time. The upper limit value and the lower limit value are changed step by step depending on the resolution of the hardware configuring the control circuit 45. Then, based on the changed upper and lower limits,
Fall of output of timer circuit 42a and timer circuit 42
A signal which becomes "H" (high) only during the falling edge of the output of b (internal signal of the gate circuit 41b, see FIG. 2 (h))
The pulse of the trigger signal Str is cut out by
(See (i)). In this way, the operation of changing the upper limit value and the lower limit value is repeated until the count value of the counter 44 becomes "1". By this operation, the lower limit pulse width is 22
5 + T1 [nS] (see FIG. 2 (f)), and the upper limit pulse width is 275-T2 [nS] (see FIG. 2 (g)).
Becomes The pulse width of this lower limit value becomes the mask width for masking the trigger signal Str.

【0021】次に、前述した処理によって、求められた
マスク幅を使用して、トリガ信号Strを分周する動作
について説明する。まず、カウンタ44のカウント値が
「1」になった時点で、ゲート回路41aは、タイマ回
路42aの出力を反転して、この反転した信号とトリガ
信号Strとの論理積を出力する(図2(j)参照)。
この出力は、周期が240[nS]となり、さらにこの
出力を、パルス幅整形回路43によって必要なパルス幅
に整形して出力する。この出力(図示せず)が、トリガ
ダウン信号Stdとなり、その周期は240[nS]と
なる。また、カウンタ44のカウント値が「2」以上で
あり、上限値と下限値を変更しながら、カウンタ44の
カウント値が「1」になるまでの間も、ゲート回路41
aの出力は、その時点での下限値でマスクされたパルス
が出力されるために、トリガダウン信号Stdが不定に
なったり、出力されないといったことはない。
Next, the operation of dividing the frequency of the trigger signal Str by using the mask width obtained by the above-mentioned processing will be described. First, when the count value of the counter 44 becomes "1", the gate circuit 41a inverts the output of the timer circuit 42a and outputs a logical product of the inverted signal and the trigger signal Str (FIG. 2). (See (j)).
This output has a period of 240 [nS], and this output is shaped into a required pulse width by the pulse width shaping circuit 43 and output. This output (not shown) becomes the trigger down signal Std, and its cycle becomes 240 [nS]. Further, the count value of the counter 44 is equal to or more than “2”, and while the upper limit value and the lower limit value are changed, the gate circuit 41 can be operated until the count value of the counter 44 becomes “1”.
As for the output of a, since the pulse masked by the lower limit value at that time is output, the trigger down signal Std does not become undefined or not output.

【0022】また、希望サンプルレートの周期の±10
%に上限値と下限値が設定された時点でカウンタ44の
カウント値が「0」であった場合は、制御回路45は、
カウント値が「1」になるまで、上限値と下限値を差を
徐々に大きくする。すなわち、タイマ回路42aの出力
の立ち下がりとタイマ回路42bの出力の立ち下がりの
間が大きくなるように上限値と下限値を変更する。な
お、カウンタ44のカウンタ値が「0」であり、上限値
と下限値の差を大きくしていく場合は、大きくする限界
値を決めておき、その値まで大きくする。上限値と下限
値の差を限界値まで大きくしても、カウンタ44のカウ
ント値が「0」の場合は、トリガ信号Strの周期が希
望サンプルレートの周期と比べ非常に大きい場合であ
る。この場合は、上限値及び下限値を設定しない。この
結果、タイマ回路42aの出力は常に”L”(ロー)と
なるため、結果的にトリガ信号Strがそのままトリガ
ダウン信号Stdとなる。または、希望サンプルレート
の周期を変更できる場合は希望サンプルレートを変更す
る処理を行う。
Further, the period of the desired sample rate ± 10
When the count value of the counter 44 is “0” at the time when the upper limit value and the lower limit value are set to%, the control circuit 45
The difference between the upper limit value and the lower limit value is gradually increased until the count value becomes “1”. That is, the upper limit value and the lower limit value are changed so that the interval between the fall of the output of the timer circuit 42a and the fall of the output of the timer circuit 42b becomes large. When the counter value of the counter 44 is “0” and the difference between the upper limit value and the lower limit value is to be increased, a limit value to be increased is determined and increased to that value. Even if the difference between the upper limit value and the lower limit value is increased to the limit value, if the count value of the counter 44 is “0”, the cycle of the trigger signal Str is much larger than the cycle of the desired sample rate. In this case, the upper limit and lower limit are not set. As a result, the output of the timer circuit 42a is always "L" (low), and as a result, the trigger signal Str becomes the trigger down signal Std as it is. Alternatively, if the period of the desired sample rate can be changed, the process of changing the desired sample rate is performed.

【0023】次に、図3を参照して、トリガ信号Str
の周期が240[nS]であった場合(図2(a)参
照)の動作について説明する。希望サンプルレートは、
前述した例と同様に250[nS]とする。まず、タイ
マ回路42aは、下限値としてパルス幅が225[n
S]のパルスを出力する(図3(b)参照)。一方、タ
イマ回路42bは、上限値としてパルス幅が275[n
S]のパルスを出力する(図3(c)参照)。次に、下
限値と上限値の間(ゲート回路41bの出力が”H”
(ハイ)の間、図3(d)参照)の、トリガ信号Str
のパルスの立ち上がりの数をカウントする。この時点
で、パルスの立ち上がりの数は「1」である(図3
(e)参照)ため、上限値と下限値の変更は行わない。
ゲート回路41aは、この時点のタイマ回路42aの出
力を反転して(図3(f)参照)、この出力とトリガ信
号Strの論理積を出力する(図3(g)参照)。パル
ス幅整形回路43は、ゲート回路41aの出力パルスを
必要なパルス幅に整形して出力する(図3(h)参
照)。この出力がトリガダウン信号Stdとなり、24
0[nS]の周期でパルスが出力される。このように、
従来の技術では480[nS]の周期にトリガダウンさ
れたが、本実施形態では、希望サンプルレートの周期で
ある250[nS]に近い240[nS]の周期にトリ
ガダウンすることができる。
Next, referring to FIG. 3, the trigger signal Str
The operation when the cycle is 240 [nS] (see FIG. 2A) will be described. The desired sample rate is
It is set to 250 [nS] as in the above-mentioned example. First, the timer circuit 42a has a pulse width of 225 [n
S] pulse is output (see FIG. 3B). On the other hand, the timer circuit 42b has a pulse width of 275 [n
S] pulse is output (see FIG. 3C). Next, between the lower limit value and the upper limit value (the output of the gate circuit 41b is "H")
(High), the trigger signal Str of FIG.
Count the number of rising pulses. At this point, the number of rising edges of the pulse is “1” (FIG. 3).
Therefore, the upper limit value and the lower limit value are not changed.
The gate circuit 41a inverts the output of the timer circuit 42a at this time (see FIG. 3 (f)), and outputs the logical product of this output and the trigger signal Str (see FIG. 3 (g)). The pulse width shaping circuit 43 shapes the output pulse of the gate circuit 41a into a required pulse width and outputs it (see FIG. 3 (h)). This output becomes the trigger down signal Std,
A pulse is output at a cycle of 0 [nS]. in this way,
In the conventional technique, the trigger is down to the cycle of 480 [nS], but in the present embodiment, the trigger can be down to the cycle of 240 [nS] close to the cycle of the desired sample rate of 250 [nS].

【0024】以上説明したように、トリガ信号Strに
対してマスクする幅を希望サンプルレートの周期の±1
0%の範囲に設定して、この範囲を徐々に狭くしてい
き、この範囲にあるパルスを抽出することによって、ト
リガ信号Strを希望サンプルレートの周期に近い周期
にトリガダウンすることができる。なお、希望サンプル
レートの周期より求める上限値及び下限値の範囲(上述
した例では±10%とした)は、EOSオシロスコープ
が希望サンプルレートに対して精度良く動作する範囲に
基づいて定めるとよい。
As described above, the width for masking the trigger signal Str is ± 1 of the cycle of the desired sample rate.
By setting the range to 0%, gradually narrowing this range, and extracting the pulses in this range, the trigger signal Str can be triggered down to a cycle close to the cycle of the desired sample rate. The range of the upper limit value and the lower limit value obtained from the cycle of the desired sample rate (± 10% in the above example) may be determined based on the range in which the EOS oscilloscope operates accurately with respect to the desired sample rate.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明によれば、希望サンプルレートの周期の上限値と下
限値との範囲を設定して、この範囲内の周期に分周する
ようにしたので、希望サンプルレートに周期に近い周期
に分周することができるという効果が得られる。また、
請求項2に記載の発明によれば、マスク幅決定回路に簡
単な回路を使用したために、トリガ回路を簡単な回路の
みで構成できるという効果が得られる。また、請求項3
に記載の発明によれば、設定した上限値と下限値の間の
周期に分周できなかった場合でも、希望サンプルレート
の周期にいちばん近い周期に分周することが可能になる
という効果が得られる。また、請求項4に記載の発明に
よれば、上限値及び下限値の設定がハードウェアの限界
値を超えるようなトリガ信号が入力された場合は、トリ
ガ信号をそのものをトリガダウン信号とすることができ
るので、トリガダウン信号が不定になったり、出力され
なくなることを防げるという効果が得られる。
As described above, according to the invention described in claim 1, the range between the upper limit value and the lower limit value of the cycle of the desired sample rate is set, and the frequency is divided into cycles within this range. Since this is done, it is possible to obtain an effect that the frequency can be divided into a cycle close to the cycle of the desired sample rate. Also,
According to the second aspect of the present invention, since a simple circuit is used as the mask width determination circuit, the effect that the trigger circuit can be configured by only a simple circuit is obtained. Further, claim 3
According to the invention described in (1), even when the frequency cannot be divided into the cycle between the set upper limit value and the lower limit value, it is possible to obtain the effect that the frequency can be divided into the cycle closest to the cycle of the desired sample rate. To be Further, according to the invention described in claim 4, when the trigger signal is input such that the setting of the upper limit value and the lower limit value exceeds the hardware limit value, the trigger signal itself is used as the trigger down signal. Therefore, it is possible to prevent the trigger down signal from becoming undefined or being not output.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態によるEOSオシロスコ
ープにおけるトリガ回路の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a trigger circuit in an EOS oscilloscope according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示す実施形態においてトリガ回路の動
作のタイミングを示すタイミングチャートである。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation timing of the trigger circuit in the embodiment shown in FIG.

【図3】 図1に示す実施形態においてトリガ回路の他
の動作のタイミングを示すタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart showing the timing of another operation of the trigger circuit in the embodiment shown in FIG.

【図4】 EOSオシロスコープの構成を示すブロック
図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of an EOS oscilloscope.

【図5】 EOSオシロスコープにおけるトリガ回路の
一従来例の構成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional example of a trigger circuit in an EOS oscilloscope.

【図6】 図5に示す従来技術のトリガ回路のタイミン
グを示すタイミングチャートである。
FIG. 6 is a timing chart showing the timing of the conventional trigger circuit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・EOSオシロスコープの本体、2・・・電気光
学プローブ、3・・・タイミング発生回路、4・・・ト
リガ回路、4a・・・マスク幅決定回路、41a、41
b・・・ゲート回路、42a、42b・・・タイマ回
路、43・・・パルス幅整形回路、44・・・カウン
タ、45・・・制御回路、5・・・光パルス発生回路、
6・・・A/D変換器、7・・・処理回路、8・・・設
定部。
1 ... Main body of EOS oscilloscope, 2 ... Electro-optical probe, 3 ... Timing generation circuit, 4 ... Trigger circuit, 4a ... Mask width determination circuit, 41a, 41
b ... Gate circuit, 42a, 42b ... Timer circuit, 43 ... Pulse width shaping circuit, 44 ... Counter, 45 ... Control circuit, 5 ... Optical pulse generation circuit,
6 ... A / D converter, 7 ... processing circuit, 8 ... setting unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−54119(JP,A) 特開 平6−167515(JP,A) 特開 昭63−191966(JP,A) 特開 昭55−130232(JP,A) 特開 平8−220144(JP,A) 特開 平5−273247(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 13/00 - 13/42 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Jun Kikuchi 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Within Ando Electric Co., Ltd. (72) Nobuichi Banjo 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Co., Ltd. (72) Inventor Yoshio Endo 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Co., Ltd. (72) Inventor Mitsuru Shinagawa 3-19-2 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Nihon Telegraph Telephone Co., Ltd. (72) Inventor Tadao Nagatsuma 3-19-3 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Japan Telegraph and Telephone Corporation (72) Inventor Junzo Yamada 3-19-3 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation (56) Reference JP-A-9-54119 (JP, A) JP-A-6-167515 (JP, A) JP-A-63-191966 (JP, A) JP-A-55- 130232 (JP, A) -220144 (JP, A) JP flat 5-273247 (JP, A) (58 ) investigated the field (Int.Cl. 7, DB name) G01R 13/00 - 13/42

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 外部から入力されるトリガ信号を、トリ
ガ回路によって希望サンプルレートに近い周期に分周し
たトリガダウン信号を出力し、このトリガダウン信号に
同期して生成されるタイミング信号に基づいて光パルス
を発生して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリ
ングオシロスコープにおいて、 前記トリガ回路は、 前記希望サンプルレートの上限値及び下限値を定め、こ
の上限値と下限値の範囲内の前記トリガ信号のパルスを
抽出して、抽出したパルスの周期に基づいてマスク幅を
求めるマスク幅決定回路と、 前記マスク幅決定回路によって定められたマスク幅によ
って、前記トリガ信号をマスクして、前記トリガ信号を
分周した前記トリガダウン信号を出力する第1のゲート
回路と、 を備えたことを特徴とする電気光学サンプリングオシロ
スコープ。
1. A trigger down signal obtained by dividing a trigger signal input from the outside into a period close to a desired sample rate by a trigger circuit, and based on a timing signal generated in synchronization with the trigger down signal. In an electro-optical sampling oscilloscope that generates an optical pulse and measures a signal under measurement, the trigger circuit defines an upper limit value and a lower limit value of the desired sample rate, and the trigger within the range of the upper limit value and the lower limit value. A mask width determination circuit that extracts a pulse of a signal and obtains a mask width based on the period of the extracted pulse; and a mask width determined by the mask width determination circuit, masks the trigger signal, and the trigger signal A first gate circuit that outputs the trigger-down signal obtained by dividing Pulling oscilloscope.
【請求項2】 前記マスク幅決定回路は、 前記希望サンプルレートの周期より大きい周期を、上限
値の初期値として設定し、前記希望サンプルレートの周
期より小さい周期を、下限値の初期値として設定し、入
力されるカウンタ信号に基づいて、前記上限値及び前記
下限値を変更して出力する制御回路と、 前記下限値を受け、この下限値に相当する幅のパルスを
出力する第1のタイマ回路と、 前記上限値を受け、この上限値に相当する幅のパルスを
出力する第2のタイマ回路と、 前記第1のタイマ回路及び前記第2のタイマ回路の出力
に基づいて、前記上限値と前記下限値との間の前記トリ
ガ信号のパルス列を抽出する第2のゲート回路と、 前記第2のゲート回路において抽出された前記パルス列
のパルスの数をカウントして、結果を前記制御回路へ出
力するカウンタと、 を備えたことを特徴とする請求項1に記載の電気光学サ
ンプリングオシロスコープ。
2. The mask width determination circuit sets a cycle larger than the cycle of the desired sample rate as an initial value of an upper limit value, and sets a cycle smaller than the cycle of the desired sample rate as an initial value of a lower limit value. And a control circuit that changes and outputs the upper limit value and the lower limit value based on the input counter signal, and a first timer that receives the lower limit value and outputs a pulse having a width corresponding to the lower limit value. A circuit, a second timer circuit that receives the upper limit value and outputs a pulse having a width corresponding to the upper limit value, and the upper limit value based on the outputs of the first timer circuit and the second timer circuit. And a second gate circuit for extracting a pulse train of the trigger signal between the lower limit value and the lower limit value, counting the number of pulses of the pulse train extracted in the second gate circuit, Electro-optic sampling oscilloscope according to claim 1, characterized in that it comprises a counter for outputting to the control circuit.
【請求項3】 前記制御回路は、 前記カウンタのカウント値が0(ゼロ)であった場合
は、前記上限値と前記下限値の間隔を徐々に広げるよう
に前記上限値及び下限値を設定し、前記カウント値が2
以上であった場合は、前記上限値と前記下限値の間隔を
徐々に狭めるように前記上限値及び下限値を設定して、
前記カウント値が1になるまで前記設定を繰り返すこと
を特徴とする請求項2に記載の電気光学サンプリングオ
シロスコープ。
3. The control circuit, when the count value of the counter is 0 (zero), sets the upper limit value and the lower limit value so as to gradually widen the interval between the upper limit value and the lower limit value. , The count value is 2
If it is above, set the upper limit and the lower limit to gradually narrow the interval between the upper limit and the lower limit,
The electro-optic sampling oscilloscope according to claim 2, wherein the setting is repeated until the count value becomes 1.
【請求項4】 前記制御回路は、 前記カウンタのカウント値が0(ゼロ)であり、前記上
限値と前記下限値の間隔を限界値まで広げても前記カウ
ンタのカウント値が0(ゼロ)であった場合は前記上限
値及び下限値を設定しないことを特徴とする請求項3に
記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。
4. The count value of the counter is 0 (zero), and the count value of the counter is 0 (zero) even if the interval between the upper limit value and the lower limit value is expanded to a limit value. The electro-optical sampling oscilloscope according to claim 3, wherein if there is, the upper limit value and the lower limit value are not set.
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