JP3318776B2 - 張り合わせ基板の製造方法と張り合わせ装置 - Google Patents
張り合わせ基板の製造方法と張り合わせ装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、張り合わせ基板の製造
方法と張り合わせ装置に係り、たとえば半導体ウェーハ
などの半導体基板相互を張り合わせたSOI(Silicon
on Insulator)構造の張り合わせ基板などを好適に製
造するための方法および装置に関する。
方法と張り合わせ装置に係り、たとえば半導体ウェーハ
などの半導体基板相互を張り合わせたSOI(Silicon
on Insulator)構造の張り合わせ基板などを好適に製
造するための方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば半導体技術の分野では、高集積
化および高密度化を図るため、SOI構造の半導体装置
が盛んに開発されている。SOI構造の半導体装置を得
るための一手段として、半導体基板相互を張り合わせる
技術が開発されている。
化および高密度化を図るため、SOI構造の半導体装置
が盛んに開発されている。SOI構造の半導体装置を得
るための一手段として、半導体基板相互を張り合わせる
技術が開発されている。
【0003】半導体基板相互を張り合わせるには、たと
えば、張り合わせようとする半導体基板相互の面を研磨
し、その研磨面相互を、清浄な条件下で接触させ、両面
に存在する水ないし水酸基の作用による水素結合によっ
て仮接着し、その後、熱処理することなどにより、完全
な張り合わせ基板が完成する。熱処理後の基板相互の張
り合わせ強度は、一般に、200kg/cm2 以上であ
り、場合によっては、2000kg/cm2 にもなる。
えば、張り合わせようとする半導体基板相互の面を研磨
し、その研磨面相互を、清浄な条件下で接触させ、両面
に存在する水ないし水酸基の作用による水素結合によっ
て仮接着し、その後、熱処理することなどにより、完全
な張り合わせ基板が完成する。熱処理後の基板相互の張
り合わせ強度は、一般に、200kg/cm2 以上であ
り、場合によっては、2000kg/cm2 にもなる。
【0004】このような張り合わせ基板の製造方法にお
いては、仮接着時の基板相互の張り合わせ時に、基板の
反りなどのために、基板周辺部相互が先に接触し、張り
合わせ中央部に気泡が取り残されることがしばしばあ
る。張り合わせ部に気泡などが残存すると、その部分が
良好に接着されず、剥がれ易くなると共に、汚染の原因
となり、素子の信頼性を低下させる。
いては、仮接着時の基板相互の張り合わせ時に、基板の
反りなどのために、基板周辺部相互が先に接触し、張り
合わせ中央部に気泡が取り残されることがしばしばあ
る。張り合わせ部に気泡などが残存すると、その部分が
良好に接着されず、剥がれ易くなると共に、汚染の原因
となり、素子の信頼性を低下させる。
【0005】この対策として、張り合わせを真空中で行
うことも考えられる。しかしながら、このような方法で
は、装置が大がかりとなり、経済的でないという問題点
を有する。そこで、従来では、半導体基板相互を張り合
わせる方法および装置として、たとえば特開昭61−1
45839号公報および図11に示す技術が知られてい
る。図11に示すように、この方法では、一方の半導体
基板10を固定吸着保持具3により平坦に保持し、他方
の半導体基板8を、その研磨面中央部が凸状になるよう
に保持する可動吸着保持具1で保持する。そして、可動
吸着保持具1を固定吸着保持具3に対して近づけ、半導
体基板8の研磨面中央部を他方の半導体基板10の研磨
面に接触させ、その後、可動吸着保持具1による吸着を
解除することにより、両半導体基板8,10相互を、間
に気泡が入らないように仮接着する。
うことも考えられる。しかしながら、このような方法で
は、装置が大がかりとなり、経済的でないという問題点
を有する。そこで、従来では、半導体基板相互を張り合
わせる方法および装置として、たとえば特開昭61−1
45839号公報および図11に示す技術が知られてい
る。図11に示すように、この方法では、一方の半導体
基板10を固定吸着保持具3により平坦に保持し、他方
の半導体基板8を、その研磨面中央部が凸状になるよう
に保持する可動吸着保持具1で保持する。そして、可動
吸着保持具1を固定吸着保持具3に対して近づけ、半導
体基板8の研磨面中央部を他方の半導体基板10の研磨
面に接触させ、その後、可動吸着保持具1による吸着を
解除することにより、両半導体基板8,10相互を、間
に気泡が入らないように仮接着する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来の張り合わせ装置を用いた張り合わせ方法では、可
動吸着保持具1による吸着を解除した段階で、基板8の
周辺部が瞬間的に他方の基板10に対して張り合わされ
ることになり、依然として気泡が残った状態で張り合わ
せが行われるおそれがある。
従来の張り合わせ装置を用いた張り合わせ方法では、可
動吸着保持具1による吸着を解除した段階で、基板8の
周辺部が瞬間的に他方の基板10に対して張り合わされ
ることになり、依然として気泡が残った状態で張り合わ
せが行われるおそれがある。
【0007】また、半導体基板8を反らせた状態から、
瞬間的に張り合わせするため、半導体基板に既に形成し
てあるパターンが伸縮したりするなどのおそれもある。
特に、パターンの微細化が進んでいる今日では、パター
ンの伸縮を生じさせるおそれがあるような張り合わせ方
法は、好ましくない。
瞬間的に張り合わせするため、半導体基板に既に形成し
てあるパターンが伸縮したりするなどのおそれもある。
特に、パターンの微細化が進んでいる今日では、パター
ンの伸縮を生じさせるおそれがあるような張り合わせ方
法は、好ましくない。
【0008】本発明は、このような実状に鑑みてなさ
れ、基板に対して過度の伸縮を加えることなく、しかも
内部に気泡が入らない状態で良好に接合することが可能
な張り合わせ基板の製造方法および張り合わせ装置を提
供することを目的とする。
れ、基板に対して過度の伸縮を加えることなく、しかも
内部に気泡が入らない状態で良好に接合することが可能
な張り合わせ基板の製造方法および張り合わせ装置を提
供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の張り合わせ基板の製造方法は、少なくとも
一方の基板の外側に磁力発生手段を設置し、この磁力発
生手段の磁力を、基板相互を張り合わせるための加圧力
として用い、この磁力を基板の面方向に沿って変化させ
ることにより、基板相互を張り合わせることを特徴とす
る。磁力発生手段は、電磁石であっても良いし、永久磁
石であっても良い。磁力発生手段は、たとえば、磁力
が、基板の中央から周辺に向けて順次強めるように、あ
るいは基板の一方の端部から他方の端部に向けて順次強
めるように制御される。
に、本発明の張り合わせ基板の製造方法は、少なくとも
一方の基板の外側に磁力発生手段を設置し、この磁力発
生手段の磁力を、基板相互を張り合わせるための加圧力
として用い、この磁力を基板の面方向に沿って変化させ
ることにより、基板相互を張り合わせることを特徴とす
る。磁力発生手段は、電磁石であっても良いし、永久磁
石であっても良い。磁力発生手段は、たとえば、磁力
が、基板の中央から周辺に向けて順次強めるように、あ
るいは基板の一方の端部から他方の端部に向けて順次強
めるように制御される。
【0010】本発明の張り合わせ装置は、一方の基板を
吸着固定する吸着盤と、他方の基板の外側に設置された
磁性体と、上記吸着盤の外側に設けられ、基板の面方向
に沿って、基板を貫通して磁性体に作用する磁力を変化
させることが可能な磁力発生手段とを有し、上記磁力発
生手段によって発生する磁力を加圧力として用い、この
磁力を基板の面方向に沿って変化させることにより、基
板相互を張り合わせることを特徴とする。磁力発生手段
は、基板の面方向に沿って、同心状に配列してある複数
の電磁石、あるいは、基板の面方向に沿って、一方の端
部から他方の端部に向けて並列に配列してある電磁石な
どで構成される。これら電磁石の代わりに、永久磁石を
用いることも可能である。その場合には、各永久磁石
を、吸着盤に対して独立して接近離反移動させる移動手
段を設けることが好ましい。また、磁力発生手段は、単
一の永久磁石で構成し、この永久磁石を、吸着盤に沿っ
て、一方の端部から他方の端部に向けて平行に移動させ
るように構成することもできる。
吸着固定する吸着盤と、他方の基板の外側に設置された
磁性体と、上記吸着盤の外側に設けられ、基板の面方向
に沿って、基板を貫通して磁性体に作用する磁力を変化
させることが可能な磁力発生手段とを有し、上記磁力発
生手段によって発生する磁力を加圧力として用い、この
磁力を基板の面方向に沿って変化させることにより、基
板相互を張り合わせることを特徴とする。磁力発生手段
は、基板の面方向に沿って、同心状に配列してある複数
の電磁石、あるいは、基板の面方向に沿って、一方の端
部から他方の端部に向けて並列に配列してある電磁石な
どで構成される。これら電磁石の代わりに、永久磁石を
用いることも可能である。その場合には、各永久磁石
を、吸着盤に対して独立して接近離反移動させる移動手
段を設けることが好ましい。また、磁力発生手段は、単
一の永久磁石で構成し、この永久磁石を、吸着盤に沿っ
て、一方の端部から他方の端部に向けて平行に移動させ
るように構成することもできる。
【0011】
【作用】本発明の張り合わせ基板の製造方法では、磁力
発生手段の磁力を、基板相互を張り合わせるための加圧
力として用い、この磁力を基板の面方向に沿って変化さ
せることにより、基板相互を張り合わせる。たとえば、
最初に基板相互の中央部に磁力をかけて、基板相互の中
央部を、磁力に対応する加圧力で接触させ、徐々に、周
辺方向に磁力を印加して行けば、基板の中央部から周辺
部に向けて徐々に所定の加圧力で接触して行き、基板相
互間の気泡は外側に押し出されながら、基板相互が張り
合わされる。この際に、本発明では、基板相互を吸着盤
などで強制的に曲折することはないので、基板に対して
ほとんど伸縮力が作用せず、この基板上に何らかのパタ
ーンが形成されている場合でも、パターンの伸縮はほと
んどない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーで
ある。また、磁力を加圧力として用いているため、電磁
石に対する供給電圧の変化あるいは永久磁石の移動など
により、加圧力としての磁力を容易に変化させることが
できると共に、基板面方向の張り合わせ速度の制御も可
能である。その結果、基板条件などに応じて、基板張り
合わせ条件の最適化を図ることも可能であり、常に良好
な張り合わせが可能である。本発明の張り合わせ装置
は、本発明の方法を好適に実現することができる。
発生手段の磁力を、基板相互を張り合わせるための加圧
力として用い、この磁力を基板の面方向に沿って変化さ
せることにより、基板相互を張り合わせる。たとえば、
最初に基板相互の中央部に磁力をかけて、基板相互の中
央部を、磁力に対応する加圧力で接触させ、徐々に、周
辺方向に磁力を印加して行けば、基板の中央部から周辺
部に向けて徐々に所定の加圧力で接触して行き、基板相
互間の気泡は外側に押し出されながら、基板相互が張り
合わされる。この際に、本発明では、基板相互を吸着盤
などで強制的に曲折することはないので、基板に対して
ほとんど伸縮力が作用せず、この基板上に何らかのパタ
ーンが形成されている場合でも、パターンの伸縮はほと
んどない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーで
ある。また、磁力を加圧力として用いているため、電磁
石に対する供給電圧の変化あるいは永久磁石の移動など
により、加圧力としての磁力を容易に変化させることが
できると共に、基板面方向の張り合わせ速度の制御も可
能である。その結果、基板条件などに応じて、基板張り
合わせ条件の最適化を図ることも可能であり、常に良好
な張り合わせが可能である。本発明の張り合わせ装置
は、本発明の方法を好適に実現することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係る張り合わせ基
板の製造方法および張り合わせ装置について、図面を参
照しつつ詳細に説明する。図1は本発明の一実施例に係
る張り合わせ基板の製造過程を示す概略断面図、図2は
図1に示すII−II線に沿う電磁石の断面図、図3,4は
張り合わせ工程前の研磨工程の例を示す概略図、図5,
6は本発明の方法で張り合わされる張り合わせ型SOI
構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図、図7は本
発明の他の実施例で用いる磁力発生手段の変形例を示す
平面側断面図、図8は図7に示す装置を用いた方法を示
す概略断面図、図9は本発明の他の実施例に係る張り合
わせ基板の製造方法を示す概略断面図、図10は本発明
のさらにその他の実施例に係る張り合わせ基板の製造方
法を示す概略断面図である。
板の製造方法および張り合わせ装置について、図面を参
照しつつ詳細に説明する。図1は本発明の一実施例に係
る張り合わせ基板の製造過程を示す概略断面図、図2は
図1に示すII−II線に沿う電磁石の断面図、図3,4は
張り合わせ工程前の研磨工程の例を示す概略図、図5,
6は本発明の方法で張り合わされる張り合わせ型SOI
構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図、図7は本
発明の他の実施例で用いる磁力発生手段の変形例を示す
平面側断面図、図8は図7に示す装置を用いた方法を示
す概略断面図、図9は本発明の他の実施例に係る張り合
わせ基板の製造方法を示す概略断面図、図10は本発明
のさらにその他の実施例に係る張り合わせ基板の製造方
法を示す概略断面図である。
【0013】図1〜6に示す実施例は、本発明の一実施
例に係る張り合わせ装置を用いて、半導体基板相互の張
り合わせを実現し、たとえばSOI構造の半導体装置を
得る例を示している。まず、本発明の一実施例に係る張
り合わせ装置について説明する。図1に示すように、本
実施例の張り合わせ装置は、張り合わせを行おうとする
一方の半導体基板8を吸着固定する吸着盤2を有する。
この吸着盤2には、真空吸引穴4が形成してあり、真空
吸引穴4から真空引きを行い、一方の半導体基板8を、
平坦性を保持しつつ、真空吸着して固定する。
例に係る張り合わせ装置を用いて、半導体基板相互の張
り合わせを実現し、たとえばSOI構造の半導体装置を
得る例を示している。まず、本発明の一実施例に係る張
り合わせ装置について説明する。図1に示すように、本
実施例の張り合わせ装置は、張り合わせを行おうとする
一方の半導体基板8を吸着固定する吸着盤2を有する。
この吸着盤2には、真空吸引穴4が形成してあり、真空
吸引穴4から真空引きを行い、一方の半導体基板8を、
平坦性を保持しつつ、真空吸着して固定する。
【0014】吸着盤2の外側(半導体基板8と反対側)
には、磁力発生手段としての電磁石M1〜M4が配置し
てある。これら電磁石M1〜M4は、図2に示すよう
に、同心上に配置してある。これら電磁石M1〜M4
は、それぞれ独立に磁力の制御が可能である。これら電
磁石M1〜M4の配置数は、いくらでも多くすることが
できる。
には、磁力発生手段としての電磁石M1〜M4が配置し
てある。これら電磁石M1〜M4は、図2に示すよう
に、同心上に配置してある。これら電磁石M1〜M4
は、それぞれ独立に磁力の制御が可能である。これら電
磁石M1〜M4の配置数は、いくらでも多くすることが
できる。
【0015】他方の半導体基板10の外側には、磁性体
としての磁性盤6が設置してある。半導体基板10は、
磁性盤10に対して弱い力で吸着保持されていても良い
が、単に接触しているだけでも良い。磁性盤6が電磁石
M1〜M4の反対側に位置することで、電磁石M1〜M
4に磁力が発生した場合に、磁性盤がヨークとして機能
し、両基板8,10に対して加圧力が作用する。
としての磁性盤6が設置してある。半導体基板10は、
磁性盤10に対して弱い力で吸着保持されていても良い
が、単に接触しているだけでも良い。磁性盤6が電磁石
M1〜M4の反対側に位置することで、電磁石M1〜M
4に磁力が発生した場合に、磁性盤がヨークとして機能
し、両基板8,10に対して加圧力が作用する。
【0016】本実施例で用いる半導体基板8には、たと
えば図5に示すような方法で薄膜が成膜してある。すな
わち、同図(a)に示すように、半導体基板8の表面に
は、素子分離用段差が形成され、同図(b)に示すよう
に、その表面に酸化シリコンなどで構成される絶縁膜2
2が熱酸化などの手段手で成膜される。そして、同図
(c)に示すように、絶縁膜22の上に、たとえばポリ
シリコン膜などで構成される平坦化層24がCVD法な
どで成膜され、同図(c)に示すように、平坦化層24
の表面が平坦に研磨される。
えば図5に示すような方法で薄膜が成膜してある。すな
わち、同図(a)に示すように、半導体基板8の表面に
は、素子分離用段差が形成され、同図(b)に示すよう
に、その表面に酸化シリコンなどで構成される絶縁膜2
2が熱酸化などの手段手で成膜される。そして、同図
(c)に示すように、絶縁膜22の上に、たとえばポリ
シリコン膜などで構成される平坦化層24がCVD法な
どで成膜され、同図(c)に示すように、平坦化層24
の表面が平坦に研磨される。
【0017】SOI構造の半導体装置を製造するために
は、一方の半導体基板8の表面に成膜してある平坦化層
24の表面を研磨し、その研磨面に対し、図6(e)に
示すように、他方の半導体基板10の研磨面を張り合わ
せる。張り合わせ後には、同図(f)および(g)に示
すように、一方の半導体基板8の表面を素子分離用段差
部分まで研磨することにより、絶縁膜22上に分離され
た半導体層8aを得る。このようなSOI構造を採用す
ることにより、SRAM、DRAMおよびその他の半導
体装置の高集積度化あるいは高性能化などを実現でき
る。
は、一方の半導体基板8の表面に成膜してある平坦化層
24の表面を研磨し、その研磨面に対し、図6(e)に
示すように、他方の半導体基板10の研磨面を張り合わ
せる。張り合わせ後には、同図(f)および(g)に示
すように、一方の半導体基板8の表面を素子分離用段差
部分まで研磨することにより、絶縁膜22上に分離され
た半導体層8aを得る。このようなSOI構造を採用す
ることにより、SRAM、DRAMおよびその他の半導
体装置の高集積度化あるいは高性能化などを実現でき
る。
【0018】本実施例の張り合わせ装置およびそれを用
いた張り合わせ基板の製造方法は、このようなSOI構
造の半導体装置を得るための一手段として好適に用いる
ことができる。
いた張り合わせ基板の製造方法は、このようなSOI構
造の半導体装置を得るための一手段として好適に用いる
ことができる。
【0019】本実施例の張り合わせ装置を用いた張り合
わせ半導体基板の製造方法の一例を次に示す。まず、張
り合わせ工程に先立ち、各半導体基板8,10における
張り合わせ面の研磨を行う。研磨に際しては、図3に示
す研磨装置を用いることが好ましい。この研磨装置は、
半導体基板10が保持されるテンプレート12を有す
る。テンプレート12の周辺部には、テンプレートガイ
ド16が設置してあると共に、テンプレート12と半導
体基板10との間には、マウンティングシート14が装
着してある。半導体基板10は、テンプレートガイド1
6により位置決めされてテンプレート12に取り付けら
れ、研磨用クロス18が、半導体基板10の面方向に沿
って移動することにより、半導体基板10の表面が研磨
される。
わせ半導体基板の製造方法の一例を次に示す。まず、張
り合わせ工程に先立ち、各半導体基板8,10における
張り合わせ面の研磨を行う。研磨に際しては、図3に示
す研磨装置を用いることが好ましい。この研磨装置は、
半導体基板10が保持されるテンプレート12を有す
る。テンプレート12の周辺部には、テンプレートガイ
ド16が設置してあると共に、テンプレート12と半導
体基板10との間には、マウンティングシート14が装
着してある。半導体基板10は、テンプレートガイド1
6により位置決めされてテンプレート12に取り付けら
れ、研磨用クロス18が、半導体基板10の面方向に沿
って移動することにより、半導体基板10の表面が研磨
される。
【0020】従来の研磨装置では、図4に示すように、
テンプレートガイド16とマウンティングシート14a
との隙間l1は、0〜1mmと非常に小さく、このため
に、研磨用クロス18と半導体基板10との面圧が、周
辺部で大きく、中心部で小さいという問題点を有してい
る。このために、周辺部での研磨速度が大きく、基板周
辺部において、いわゆるダレが生じるおそれがあった。
テンプレートガイド16とマウンティングシート14a
との隙間l1は、0〜1mmと非常に小さく、このため
に、研磨用クロス18と半導体基板10との面圧が、周
辺部で大きく、中心部で小さいという問題点を有してい
る。このために、周辺部での研磨速度が大きく、基板周
辺部において、いわゆるダレが生じるおそれがあった。
【0021】本実施例では、図3に示すように、テンプ
レートガイド16とマウンティングシートとの隙間l2
を、たとえば5〜20mmと大きくしてある。そのため、
研磨用クロス14と半導体基板10との研磨圧力が周辺
部で大きくなれば、マウンティングシート14が存在し
ない凹部分に、半導体基板10の周辺部が逃げることに
なる。その結果、周辺部において、半導体基板10と研
磨用クロス18との面圧が減少し、基板の全面にわたり
面圧が均一となる。したがって、基板周辺におけるダレ
が減少する。
レートガイド16とマウンティングシートとの隙間l2
を、たとえば5〜20mmと大きくしてある。そのため、
研磨用クロス14と半導体基板10との研磨圧力が周辺
部で大きくなれば、マウンティングシート14が存在し
ない凹部分に、半導体基板10の周辺部が逃げることに
なる。その結果、周辺部において、半導体基板10と研
磨用クロス18との面圧が減少し、基板の全面にわたり
面圧が均一となる。したがって、基板周辺におけるダレ
が減少する。
【0022】図3に示す例では、半導体基板10の研磨
工程について説明したが、半導体基板8に対しても同様
に研磨する。
工程について説明したが、半導体基板8に対しても同様
に研磨する。
【0023】半導体基板8,10の研磨が終了した後に
は、これら基板8,10の研磨面同士の水素結合力を十
分に利用するため、研磨面の親水性処理を行うことが好
ましい。親水性処理は、まずフッ酸などで半導体基板
8,10の表面を洗浄し、次いて直ちにアンモニア−過
酸化水素水混合液で処理することなどにより行われる。
場合によっては、フッ酸処理は省略しても良い。このよ
うな処理により、基板表面がOHリッチとなり、結合力
が高まると考えられる。
は、これら基板8,10の研磨面同士の水素結合力を十
分に利用するため、研磨面の親水性処理を行うことが好
ましい。親水性処理は、まずフッ酸などで半導体基板
8,10の表面を洗浄し、次いて直ちにアンモニア−過
酸化水素水混合液で処理することなどにより行われる。
場合によっては、フッ酸処理は省略しても良い。このよ
うな処理により、基板表面がOHリッチとなり、結合力
が高まると考えられる。
【0024】次に、図1に示すように、一方の半導体基
板8を、その平坦性を保持しつつ、しかも研磨面が上に
位置するように、真空盤2で真空吸着固定する。また、
他方の半導体基板10は、その研磨面が半導体基板8と
向き合うように、半導体基板8に対して近づける。その
際に、半導体基板10の外側(図示上では、上側)に
は、磁性盤6を装着する。
板8を、その平坦性を保持しつつ、しかも研磨面が上に
位置するように、真空盤2で真空吸着固定する。また、
他方の半導体基板10は、その研磨面が半導体基板8と
向き合うように、半導体基板8に対して近づける。その
際に、半導体基板10の外側(図示上では、上側)に
は、磁性盤6を装着する。
【0025】磁性盤6が装着してある半導体基板10
を、上側から、図示しない真空盤などを用いて、半導体
基板8に対して接触しない間隔(数mm〜数μm)で近づ
け、その位置で半導体基板10を保持する真空盤の吸着
固定を解除すると、半導体基板10は、磁性盤6と共
に、半導体基板8に向けて落下することになるが、数μ
mの間隔になると、空気の粘性抵抗および静電気力など
が原因で、基板10は基板8に対して僅かに浮上した状
態となる。なお、強制的な静電気力を利用して、半導体
基板10を半導体基板8に対して僅かに浮かせることも
できる。
を、上側から、図示しない真空盤などを用いて、半導体
基板8に対して接触しない間隔(数mm〜数μm)で近づ
け、その位置で半導体基板10を保持する真空盤の吸着
固定を解除すると、半導体基板10は、磁性盤6と共
に、半導体基板8に向けて落下することになるが、数μ
mの間隔になると、空気の粘性抵抗および静電気力など
が原因で、基板10は基板8に対して僅かに浮上した状
態となる。なお、強制的な静電気力を利用して、半導体
基板10を半導体基板8に対して僅かに浮かせることも
できる。
【0026】このような状態から、真空盤2の下方に設
置してある電磁石M1〜M4を次のような順序で駆動す
る。すなわち、まず、図1(B)に示すように、基板の
中央部に位置する電磁石M1に電力を供給し、磁力を発
生させる。この磁力により、磁性盤6の中央部は、電磁
石M1側に吸引され、半導体基板8,10の中央部が、
電磁石の磁力に応じた所定の加圧力で圧接する。その結
果、半導体基板8,10相互の中央部で水素結合力を利
用した張り合わせが開始する。
置してある電磁石M1〜M4を次のような順序で駆動す
る。すなわち、まず、図1(B)に示すように、基板の
中央部に位置する電磁石M1に電力を供給し、磁力を発
生させる。この磁力により、磁性盤6の中央部は、電磁
石M1側に吸引され、半導体基板8,10の中央部が、
電磁石の磁力に応じた所定の加圧力で圧接する。その結
果、半導体基板8,10相互の中央部で水素結合力を利
用した張り合わせが開始する。
【0027】その後、順次、電磁石M2〜M4を駆動
し、半導体基板8,10を中央部から周辺部に向けて徐
々に圧接して行く。その結果、基板8,10相互間の気
泡は外側に押し出されながら、基板8,10相互が水素
結合力により張り合わされる。
し、半導体基板8,10を中央部から周辺部に向けて徐
々に圧接して行く。その結果、基板8,10相互間の気
泡は外側に押し出されながら、基板8,10相互が水素
結合力により張り合わされる。
【0028】本実施例では、高精度な平坦度を有する吸
着盤2に固定してある半導体基板8に沿って、半導体基
板10の張り合わせが成され、半導体基板10を強制的
に曲折することはないので、基板8,10に対してほと
んど伸縮力が作用せず、この基板上に何らかのパターン
が形成されている場合でも、パターンの伸縮はほとんど
ない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーであ
る。その後、アニール用熱処理を行い、両基板8,10
の張り合わせが完了する。熱処理温度は、特に限定され
ないが、500〜1200℃、好ましくは800〜11
00℃である。
着盤2に固定してある半導体基板8に沿って、半導体基
板10の張り合わせが成され、半導体基板10を強制的
に曲折することはないので、基板8,10に対してほと
んど伸縮力が作用せず、この基板上に何らかのパターン
が形成されている場合でも、パターンの伸縮はほとんど
ない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーであ
る。その後、アニール用熱処理を行い、両基板8,10
の張り合わせが完了する。熱処理温度は、特に限定され
ないが、500〜1200℃、好ましくは800〜11
00℃である。
【0029】次に、本発明の他の実施例について説明す
る。図7,8に示すように、この実施例では、吸着盤2
の下方に設置する電磁石M10〜M17の配列を、半導
体基板8の一方の端部から他方の端部に向けて並列にし
てある。その他の構成は、前述した実施例と同様であ
る。
る。図7,8に示すように、この実施例では、吸着盤2
の下方に設置する電磁石M10〜M17の配列を、半導
体基板8の一方の端部から他方の端部に向けて並列にし
てある。その他の構成は、前述した実施例と同様であ
る。
【0030】この実施例では、半導体基板8の一方の端
部に位置する電磁石M10から、他方の端部に位置する
電磁石17方向に順次駆動して行く。このように電磁石
M10〜M17を順次駆動することで、図8に示すよう
に、半導体基板8,10の一方の端部側から、両基板間
の気泡を押し出しながら、電磁石の磁力を加圧力とし
て、両基板8,10の張り合わせが行われる。
部に位置する電磁石M10から、他方の端部に位置する
電磁石17方向に順次駆動して行く。このように電磁石
M10〜M17を順次駆動することで、図8に示すよう
に、半導体基板8,10の一方の端部側から、両基板間
の気泡を押し出しながら、電磁石の磁力を加圧力とし
て、両基板8,10の張り合わせが行われる。
【0031】図9に示す実施例では、吸着盤2の下方に
永久磁石M20〜M23を同心状に配列してある。しか
も、各永久磁石M20〜M23には、各永久磁石を、吸
着盤2に対して独立して接近離反移動させる移動手段と
してのアクチュエータP0〜P3が装着してある。その
他の構成は、図1に示す実施例と同様である。
永久磁石M20〜M23を同心状に配列してある。しか
も、各永久磁石M20〜M23には、各永久磁石を、吸
着盤2に対して独立して接近離反移動させる移動手段と
してのアクチュエータP0〜P3が装着してある。その
他の構成は、図1に示す実施例と同様である。
【0032】この実施例では、アクチュエータP0〜P
3を用いて中央側の永久磁石M20から順次吸着盤2に
対して近づけ、図1に示す実施例と同様にして、磁力を
加圧力として用いて基板の張り合わせを行う。なお、図
9に示す実施例の変形例として、永久磁石を図7に示す
ように並列に配置し、各永久磁石をアクチュエータなど
により吸着盤2に対して独立して接近離反移動自在とす
ることもできる。
3を用いて中央側の永久磁石M20から順次吸着盤2に
対して近づけ、図1に示す実施例と同様にして、磁力を
加圧力として用いて基板の張り合わせを行う。なお、図
9に示す実施例の変形例として、永久磁石を図7に示す
ように並列に配置し、各永久磁石をアクチュエータなど
により吸着盤2に対して独立して接近離反移動自在とす
ることもできる。
【0033】図10に示す実施例では、吸着盤2の下方
に、単一の永久磁石M30を、スライド盤30に沿っ
て、吸着盤2に対して平行に移動自在に設置し、永久磁
石M30を、移動手段としてのアクチュエータP10に
よりスライド移動させる。永久磁石M30の長さは、半
導体基板8,10の直径以上の長さであることが好まし
い。その他の構成は、図1に示す実施例と同様である。
に、単一の永久磁石M30を、スライド盤30に沿っ
て、吸着盤2に対して平行に移動自在に設置し、永久磁
石M30を、移動手段としてのアクチュエータP10に
よりスライド移動させる。永久磁石M30の長さは、半
導体基板8,10の直径以上の長さであることが好まし
い。その他の構成は、図1に示す実施例と同様である。
【0034】この実施例では、永久磁石M30を、半導
体基板8,10の一方の端部から他方の端部に向けて移
動させることにより、両基板8,10の張り合わせを図
7,8に示す実施例と同様にして行うことができる。
体基板8,10の一方の端部から他方の端部に向けて移
動させることにより、両基板8,10の張り合わせを図
7,8に示す実施例と同様にして行うことができる。
【0035】なお、本発明は、上述した実施例に限定さ
れるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変するこ
とができる。例えば、上述した各実施例では、基板とし
て半導体基板を用いたが、本発明は、これに限定され
ず、半導体基板以外で、精密な張り合わせを必要とする
張り合わせ基板の製造方法に適用することも可能であ
る。また、二枚以上の基板を張り合わせる場合にも適用
することができる。
れるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変するこ
とができる。例えば、上述した各実施例では、基板とし
て半導体基板を用いたが、本発明は、これに限定され
ず、半導体基板以外で、精密な張り合わせを必要とする
張り合わせ基板の製造方法に適用することも可能であ
る。また、二枚以上の基板を張り合わせる場合にも適用
することができる。
【0036】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、基板相互間の気泡は外側に押し出されながら、基板
相互が張り合わされ、接合部に気泡などが存在せず、接
合強度が高く、汚染のない良好な張り合わせ基板を得る
ことができる。また、本発明では、基板相互を吸着盤な
どで強制的に曲折することはないので、基板に対してほ
とんど伸縮力が作用せず、この基板上に半導体パターン
が形成されている場合でも、パターンの伸縮はほとんど
ない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーであ
る。したがって、本発明の方法は、微細パターンが形成
される半導体基板の張り合わせとして好適に用いること
ができる。
ば、基板相互間の気泡は外側に押し出されながら、基板
相互が張り合わされ、接合部に気泡などが存在せず、接
合強度が高く、汚染のない良好な張り合わせ基板を得る
ことができる。また、本発明では、基板相互を吸着盤な
どで強制的に曲折することはないので、基板に対してほ
とんど伸縮力が作用せず、この基板上に半導体パターン
が形成されている場合でも、パターンの伸縮はほとんど
ない。あるとしても数ppm以下程度のオーダーであ
る。したがって、本発明の方法は、微細パターンが形成
される半導体基板の張り合わせとして好適に用いること
ができる。
【0037】また、磁力を加圧力として用いているた
め、電磁石に対する供給電圧の変化あるいは永久磁石の
移動などにより、加圧力としての磁力を容易に変化させ
ることができると共に、基板面方向の張り合わせ速度の
制御も可能である。その結果、基板条件などに応じて、
基板張り合わせ条件の最適化を図ることも可能であり、
常に良好な張り合わせが可能である。
め、電磁石に対する供給電圧の変化あるいは永久磁石の
移動などにより、加圧力としての磁力を容易に変化させ
ることができると共に、基板面方向の張り合わせ速度の
制御も可能である。その結果、基板条件などに応じて、
基板張り合わせ条件の最適化を図ることも可能であり、
常に良好な張り合わせが可能である。
【図1】本発明の一実施例に係る張り合わせ基板の製造
過程を示す概略断面図である。
過程を示す概略断面図である。
【図2】図1に示すII−II線に沿う電磁石の断面図であ
る。
る。
【図3】張り合わせ工程前の研磨工程の例を示す概略図
である。
である。
【図4】張り合わせ工程前の研磨工程の例を示す概略図
である。
である。
【図5】本発明の方法で張り合わされる張り合わせ型S
OI構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図であ
る。
OI構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図であ
る。
【図6】本発明の方法で張り合わされる張り合わせ型S
OI構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図であ
る。
OI構造の半導体装置の製造例を示す要部断面図であ
る。
【図7】本発明の他の実施例で用いる磁力発生手段の変
形例を示す平面側断面図である。
形例を示す平面側断面図である。
【図8】図7に示す装置を用いた方法を示す概略断面図
である。
である。
【図9】本発明の他の実施例に係る張り合わせ基板の製
造方法を示す概略断面図である。
造方法を示す概略断面図である。
【図10】本発明のさらにその他の実施例に係る張り合
わせ基板の製造方法を示す概略断面図である。
わせ基板の製造方法を示す概略断面図である。
【図11】従来例に係る張り合わせ基板の製造過程を示
す概略図である。
す概略図である。
2… 吸着盤 6… 磁性盤 8… 半導体基板 10… 半導体基板 M1〜M4,M10〜M16… 電磁石 M20〜M23,M30… 永久磁石 P0〜P3,P10… アクチュエータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 弘 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/02 H01L 27/12
Claims (11)
- 【請求項1】 少なくとも二枚の基板を張り合わせて張
り合わせ基板を製造する方法において、 少なくとも一方の基板の外側に磁力発生手段を設置し、
この磁力発生手段の磁力を、基板相互を張り合わせるた
めの加圧力として用い、この磁力を基板の面方向に沿っ
て変化させることにより、基板相互を張り合わせること
を特徴とする張り合わせ基板の製造方法。 - 【請求項2】 上記磁力発生手段が、電磁石である請求
項1に記載の張り合わせ基板の製造方法。 - 【請求項3】 上記磁力発生手段が、永久磁石である請
求項1に記載の張り合わせ基板の製造方法。 - 【請求項4】 上記基板相互に作用する加圧力としての
磁力が、基板の中央から周辺に向けて順次強めるように
磁力発生手段を制御する請求項1から3のいずれかに記
載の張り合わせ基板の製造方法。 - 【請求項5】 上記基板相互に作用する加圧力としての
磁力が、基板の一方の端部から他方の端部に向けて順次
強めるように磁力発生手段を制御する請求項1から3の
いずれかに記載の張り合わせ基板の製造方法。 - 【請求項6】 少なくとも二枚の基板を張り合わせて張
り合わせ基板を製造するための張り合わせ装置におい
て、 一方の基板を吸着固定する吸着盤と、 他方の基板の外側に設置された磁性体と、 上記吸着盤の外側に設けられ、基板の面方向に沿って、
基板を貫通して磁性体に作用する磁力を変化させること
が可能な磁力発生手段とを有し、 上記磁力発生手段によって発生する磁力を加圧力として
用い、この磁力を基板の面方向に沿って変化させること
により、基板相互を張り合わせることを特徴とする張り
合わせ装置。 - 【請求項7】 上記磁力発生手段は、基板の面方向に沿
って、同心状に配列してある複数の電磁石で構成される
請求項6に記載の張り合わせ装置。 - 【請求項8】 上記磁力発生手段は、基板の面方向に沿
って、一方の端部から他方の端部に向けて並列に配列し
てある電磁石で構成してある請求項6に記載の張り合わ
せ装置。 - 【請求項9】 上記磁力発生手段は、基板の面方向に沿
って、同心状に配列してある複数の永久磁石であり、各
永久磁石には、各永久磁石を、上記吸着盤に対して独立
して接近離反移動させる移動手段が装着してある請求項
6に記載の張り合わせ装置。 - 【請求項10】 上記磁力発生手段は、基板の面方向に
沿って、一方の端部から他方の端部に向けて並列に配列
してある複数の永久磁石であり、各永久磁石には、各永
久磁石を、上記吸着盤に対して独立して接近離反移動さ
せる移動手段が装着してある請求項6に記載の張り合わ
せ装置。 - 【請求項11】 上記磁力発生手段は、単一の永久磁石
であり、この永久磁石には、この永久磁石を、上記吸着
盤に沿って、一方の端部から他方の端部に向けて平行に
移動させる移動手段が装着してある請求項6に記載の張
り合わせ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25598192A JP3318776B2 (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 張り合わせ基板の製造方法と張り合わせ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25598192A JP3318776B2 (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 張り合わせ基板の製造方法と張り合わせ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0684735A JPH0684735A (ja) | 1994-03-25 |
JP3318776B2 true JP3318776B2 (ja) | 2002-08-26 |
Family
ID=17286253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25598192A Expired - Fee Related JP3318776B2 (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 張り合わせ基板の製造方法と張り合わせ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3318776B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11984328B2 (en) | 2021-03-04 | 2024-05-14 | Kioxia Corporation | Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method |
US12002700B2 (en) | 2020-09-08 | 2024-06-04 | Kioxia Corporation | Substrate bonding apparatus and method of manufacturing a semiconductor device |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4821091B2 (ja) * | 2004-04-08 | 2011-11-24 | 株式会社ニコン | ウェハの接合装置 |
JP5305220B2 (ja) * | 2007-11-12 | 2013-10-02 | 株式会社ニコン | 基板張り合わせ装置 |
JP5397330B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2014-01-22 | 株式会社デンソー | ウェハレベルパッケージ構造体の製造方法 |
AT511384B1 (de) * | 2011-05-11 | 2019-10-15 | Thallner Erich | Verfahren und vorrichtung zum bonden zweier wafer |
SG2014013023A (en) * | 2013-03-27 | 2015-02-27 | Ev Group E Thallner Gmbh | Retaining system, device and method for handling substrate stacks |
-
1992
- 1992-08-31 JP JP25598192A patent/JP3318776B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US12002700B2 (en) | 2020-09-08 | 2024-06-04 | Kioxia Corporation | Substrate bonding apparatus and method of manufacturing a semiconductor device |
US11984328B2 (en) | 2021-03-04 | 2024-05-14 | Kioxia Corporation | Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0684735A (ja) | 1994-03-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |