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JP3307144B2 - Display device - Google Patents

Display device

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Publication number
JP3307144B2
JP3307144B2 JP6518595A JP6518595A JP3307144B2 JP 3307144 B2 JP3307144 B2 JP 3307144B2 JP 6518595 A JP6518595 A JP 6518595A JP 6518595 A JP6518595 A JP 6518595A JP 3307144 B2 JP3307144 B2 JP 3307144B2
Authority
JP
Japan
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wiring pattern
pattern
light
pixel
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6518595A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH08234239A (en
Inventor
真悟 牧村
拓生 佐藤
祐司 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP6518595A priority Critical patent/JP3307144B2/en
Publication of JPH08234239A publication Critical patent/JPH08234239A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3307144B2 publication Critical patent/JP3307144B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は表示基板と対向基板を互
いに接合したパネル構造を有するアクティブマトリクス
型の表示装置に関する。より詳しくは、配線パタンに加
え遮光パタンが形成された所謂オンチップブラック構造
を有する表示基板に関する。さらに詳しくは、遮光パタ
ンを補助的に利用した配線パタンの低抵抗化技術に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix type display device having a panel structure in which a display substrate and a counter substrate are joined to each other. More specifically, the present invention relates to a display substrate having a so-called on-chip black structure in which a light-shielding pattern is formed in addition to a wiring pattern. More specifically, the present invention relates to a technique for lowering the resistance of a wiring pattern using a light-shielding pattern in an auxiliary manner.

【0002】[0002]

【従来の技術】図9は、従来の表示基板の一例を示す模
式的な等価回路図である。表示基板100上には行方向
に延びるゲート配線パタン101と列方向に延びる信号
配線パタン(金属パタン)102とが形成されている。
又、ゲート配線パタン101と平行に補助配線パタン1
03も形成されている。ゲート配線パタン101は同一
基板上に集積形成された垂直走査回路104に接続する
一方、信号配線パタン102は同一基板上に集積形成さ
れた画像信号供給スイッチ105を介して水平走査回路
106に接続している。垂直走査回路104及び水平走
査回路106には外部から電源電圧、クロックパルス、
スタートパルス等が供給される。画像信号供給スイッチ
105には外部から画像信号が供給される。ゲート配線
パタン101と信号配線パタン102の交差部に画素が
規定される。各画素には液晶セルLCとこれをスイッチ
ング駆動する薄膜トランジスタ素子Trと容量素子Cs
とが形成されている。トランジスタ素子Trのゲート電
極はゲート配線パタン101の一部を構成し、ソース電
極は対応する信号配線パタン102に接続され、ドレイ
ン電極は液晶セルLCに接続している。前述した容量素
子Csは液晶セルLCと並列に接続され、片方の電極は
補助配線パタン103を介して共通電位に保持されてい
る。垂直走査回路104は順次ゲート配線パタン101
にゲート信号を供給し、線順次でトランジスタ素子Tr
を開閉制御する。水平走査回路106はこれに同期して
画像信号供給スイッチ105及び信号配線パタン102
を介し画像信号を供給する。この画像信号は線順次で選
択されたトランジスタ素子Trを通して液晶セルLCに
書き込まれる。容量素子Csは書き込まれた画像信号の
電荷を補助的に保持する。
2. Description of the Related Art FIG. 9 is a schematic equivalent circuit diagram showing an example of a conventional display substrate. On the display substrate 100, a gate wiring pattern 101 extending in the row direction and a signal wiring pattern (metal pattern) 102 extending in the column direction are formed.
The auxiliary wiring pattern 1 is arranged in parallel with the gate wiring pattern 101.
03 is also formed. The gate wiring pattern 101 is connected to a vertical scanning circuit 104 integrated on the same substrate, while the signal wiring pattern 102 is connected to a horizontal scanning circuit 106 via an image signal supply switch 105 integrated on the same substrate. ing. The vertical scanning circuit 104 and the horizontal scanning circuit 106 receive a power supply voltage, a clock pulse,
A start pulse or the like is supplied. An image signal is externally supplied to the image signal supply switch 105. A pixel is defined at the intersection of the gate wiring pattern 101 and the signal wiring pattern 102. Each pixel includes a liquid crystal cell LC, a thin film transistor Tr for driving the liquid crystal cell LC, and a capacitor Cs.
Are formed. The gate electrode of the transistor element Tr forms a part of the gate wiring pattern 101, the source electrode is connected to the corresponding signal wiring pattern 102, and the drain electrode is connected to the liquid crystal cell LC. The above-described capacitance element Cs is connected in parallel with the liquid crystal cell LC, and one electrode is held at a common potential via the auxiliary wiring pattern 103. The vertical scanning circuit 104 sequentially includes the gate wiring pattern 101.
To the transistor element Tr in line-sequential manner.
Open / close control. The horizontal scanning circuit 106 synchronizes with the image signal supply switch 105 and the signal wiring pattern 102.
The image signal is supplied via the. This image signal is written into the liquid crystal cell LC through the transistor element Tr selected in a line-sequential manner. The capacitive element Cs additionally holds the charge of the written image signal.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した様に、表示基
板100の上には行方向に沿ってゲート配線パタン10
1や補助配線パタン103が形成され、列方向に沿って
信号配線パタン102が形成されている。一般に、配線
プロセスの観点から、信号配線パタンはアルミニウム等
からなる金属膜で形成し、これと交差するゲート配線パ
タン及び補助配線パタンについては多結晶シリコン又は
非晶質シリコン等の半導体膜で形成している。この半導
体膜は不純物が比較的高濃度でドーピングされその低抵
抗化を図っているが、金属膜に比べると比較的高抵抗で
あり30Ω/□以上になる。配線パタンの抵抗が高い事
に起因して、表示装置の性能に様々な悪影響を及ぼして
いる。第1に、配線抵抗が高い事に起因してシェーディ
ング等が発生し、表示された画質の画面内均一性を損な
っている。例えば、ゲート配線パタンの抵抗が大きい
と、ゲート信号の応答性が垂直走査回路から離れるに従
って悪化する。垂直走査回路に近い画素ではゲート信号
が略矩形を保っているのに対し、垂直走査回路から離れ
た画素ではゲート信号の立ち上がり及び立ち下がりが極
端になまっている。ゲート信号の応答性悪化に伴ない、
画面にはシェーディングが現われ著しく画質を損なう。
このような画質の劣化は特に表示装置の大画面化及び高
精細化が進むにつれて大きな問題となっている。しかし
ながら、配線パタンの材料として半導体膜を使用してい
る限りその低抵抗化には限界がある。第2に、ゲート配
線パタン及び補助配線パタンと信号配線パタンとの交差
部で寄生容量が発生する為、配線抵抗が高い場合容量カ
ップリングにより信号配線パタンの電位に乱れが生じ画
質に悪影響を及ぼす。第3に、配線抵抗を下げる為に配
線幅を太くすると、画素の開口率が犠牲になり表示装置
の透過率が低下する。第4に、配線抵抗を下げる為半導
体膜の厚みを大きくすると、配線パタンの端面で段差が
激しくなる。この段差で配線パタンの断線が生じたり層
間絶縁膜の電気絶縁性が劣化する。これにより、表示基
板の製造歩留りの低下を招く。
As described above, the gate wiring pattern 10 is formed on the display substrate 100 along the row direction.
1 and an auxiliary wiring pattern 103 are formed, and a signal wiring pattern 102 is formed along the column direction. Generally, from the viewpoint of a wiring process, a signal wiring pattern is formed of a metal film made of aluminum or the like, and a gate wiring pattern and an auxiliary wiring pattern crossing the signal wiring pattern are formed of a semiconductor film such as polycrystalline silicon or amorphous silicon. ing. This semiconductor film is doped with impurities at a relatively high concentration to reduce its resistance. However, the semiconductor film has a relatively high resistance as compared with a metal film and has a resistance of 30 Ω / □ or more. The high resistance of the wiring pattern has various adverse effects on the performance of the display device. First, shading or the like occurs due to the high wiring resistance, which impairs the in-screen uniformity of the displayed image quality. For example, if the resistance of the gate wiring pattern is large, the response of the gate signal becomes worse as the distance from the vertical scanning circuit increases. In a pixel near the vertical scanning circuit, the gate signal keeps a substantially rectangular shape, whereas in a pixel far from the vertical scanning circuit, the rise and fall of the gate signal are extremely extreme. As the response of the gate signal deteriorates,
Shading appears on the screen and significantly impairs image quality.
Such deterioration of the image quality has become a serious problem particularly as the screen size and definition of the display device have been increased. However, as long as a semiconductor film is used as a material for the wiring pattern, there is a limit in reducing the resistance. Secondly, since a parasitic capacitance is generated at the intersection of the gate wiring pattern and the auxiliary wiring pattern with the signal wiring pattern, when the wiring resistance is high, the potential of the signal wiring pattern is disturbed by the capacitive coupling, which adversely affects the image quality. . Third, when the wiring width is increased to reduce the wiring resistance, the aperture ratio of the pixel is sacrificed and the transmittance of the display device is reduced. Fourth, when the thickness of the semiconductor film is increased in order to reduce the wiring resistance, the step at the end face of the wiring pattern becomes large. This step causes disconnection of the wiring pattern and deteriorates the electrical insulation of the interlayer insulating film. As a result, the production yield of the display substrate is reduced.

【0004】なお、近年ゲート配線パタンや補助配線パ
タンの低抵抗化を図る為、金属ゲート電極を採用した薄
膜トランジスタ素子が開発されており、例えば特開平2
−3286号公報に開示されている。この例では、ゲー
ト電極として単層の金属膜を使用している。しかしなが
ら、金属膜には熱塑性変化や形状変化が生じる為問題が
生じている。例えば、アルミニウムをゲート電極材料と
して用いた場合、後工程で加わる熱処理により所謂ヒロ
ックが発生し短絡欠陥等の原因になっていた。又、後工
程で加わる熱履歴により電気抵抗も変動しやすい。さら
には、熱処理により金属膜の塑性変化もしくは金属原子
の拡散が生じ、トランジスタ特性を劣化させる。
In recent years, in order to reduce the resistance of a gate wiring pattern and an auxiliary wiring pattern, a thin film transistor element using a metal gate electrode has been developed.
-3286. In this example, a single-layer metal film is used as a gate electrode. However, a problem arises because the metal film undergoes a thermoplastic change and a shape change. For example, when aluminum is used as a gate electrode material, a so-called hillock is generated due to a heat treatment applied in a later step, which causes a short circuit defect or the like. In addition, the electric resistance tends to fluctuate due to the heat history applied in the post-process. Furthermore, the heat treatment causes a plastic change of the metal film or diffusion of metal atoms, which deteriorates transistor characteristics.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題に鑑み、本発明は半導体膜からなる配線パタンの低抵
抗化を図る事を目的とする。この目的を達成する為、本
発明では表示基板にブラックマスクとして形成されてい
る遮光パタンを利用して配線パタンの低抵抗化を実現し
ている。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems of the prior art, an object of the present invention is to reduce the resistance of a wiring pattern made of a semiconductor film. In order to achieve this object, in the present invention, the resistance of the wiring pattern is reduced by using a light shielding pattern formed as a black mask on the display substrate.

【0006】本発明にかかる表示装置は基本的な構成と
して、マトリクス状に配列した画素を有する表示基板
と、所定の間隙を介して該表示基板に接合した透明な対
向基板と、該間隙に保持された電気光学物質とを備えて
いる。前記表示基板は、画素毎に配された画素電極と、
同じく画素毎に配され対応する画素電極の駆動に用いる
素子と、個々の素子の電気接続用に配され比較的抵抗の
高い半導体膜からなる配線パタンと、個々の画素電極の
周辺に遮光用として配され比較的抵抗の低い金属膜から
なる遮光パタンとを具備している。又、該配線パタンに
該遮光パタンを電気接続するコンタクト部が設けられ、
該配線パタンの抵抗を実効的に下げる。
The display device according to the present invention has a basic configuration in which a display substrate having pixels arranged in a matrix, a transparent counter substrate joined to the display substrate through a predetermined gap, and Electro-optical material. The display substrate, a pixel electrode arranged for each pixel,
Similarly, an element used for driving a corresponding pixel electrode arranged for each pixel, a wiring pattern made of a relatively high-resistance semiconductor film arranged for electrical connection of each element, and a light-shielding area around each pixel electrode And a light-shielding pattern formed of a metal film having a relatively low resistance. A contact portion for electrically connecting the light-shielding pattern to the wiring pattern;
The resistance of the wiring pattern is effectively reduced.

【0007】本発明の特徴として、前記遮光パタンは異
なる画素間に渡って連続的に形成される一方、前記配線
パタンは画素毎に分断され不連続的に形成されている。
他の特徴として、前記表示基板はマトリクス状に配列し
た画素の行に平行な遮光パタンを有すると共に、画素の
列に平行に形成され且つ各素子に信号電荷を供給する金
属パタン(信号配線パタン)を含んでいる。該遮光パタ
ンと金属パタンは互いに交差して格子状に個々の画素電
極を囲みブラックマスク(ブラックマトリクス)を構成
する。具体的には前記素子は画素電極に信号電荷を供給
するトランジスタ素子と該信号電荷を補助的に保持する
容量素子とを含んでいる。これに対応して、前記配線パ
タンは各トランジスタ素子のゲート電極に接続するゲー
ト配線パタンと、各容量素子に接続する補助配線パタン
とを含む。この場合、前記コンタクト部は該ゲート配線
パタンと該補助配線パタンの何れか一方を該遮光パタン
に電気接続する。該補助配線パタンの方に電気接続する
場合には、前記遮光パタンは表示画面全体に渡って所定
の共通電位に保持されている。又、画素の行毎に対応す
るゲート配線パタンの方に電気接続する場合には、前記
遮光パタンは同じくマトリクス状に配列した画素の行毎
に分割されている。
As a feature of the present invention, the light-shielding pattern is formed continuously between different pixels, while the wiring pattern is divided and formed discontinuously for each pixel.
As another feature, the display substrate has a light-shielding pattern parallel to a row of pixels arranged in a matrix and a metal pattern (signal wiring pattern) formed parallel to a column of pixels and supplying signal charges to each element. Contains. The light-shielding pattern and the metal pattern intersect each other to surround the individual pixel electrodes in a grid pattern and form a black mask (black matrix). Specifically, the element supplies signal charges to the pixel electrodes
Transistor element and auxiliary holding of the signal charge
A capacitive element. Correspondingly, the wiring path
Button is the gate connected to the gate electrode of each transistor element.
Wiring pattern and auxiliary wiring pattern connected to each capacitance element
And In this case, the contact portion is the gate wiring
Either the pattern or the auxiliary wiring pattern is
Electrical connection. Electrically connect to the auxiliary wiring pattern
In such a case, the light-shielding pattern is predetermined over the entire display screen.
Are held at the common potential. In addition, each pixel row corresponds to
When electrically connecting to the gate wiring pattern
The light-shielding pattern is the same for each row of pixels arranged in a matrix.
Is divided into

【0008】[0008]

【作用】表示基板には比較的抵抗の高い半導体膜からな
る配線パタンがトランジスタ素子や容量素子の電気接続
用に配されている。この半導体膜は薄膜トランジスタ素
子のゲート電極や薄膜容量素子の電極と同一材料であ
る。又、比較的抵抗の低い金属膜からなる遮光パタンが
形成されており、個々の画素電極の周辺にブラックマト
リクスとして配されている。本発明では、配線パタンと
遮光パタンとの間に介在する層間絶縁膜にコンタクト部
を設け両者を電気接続している。従って、配線構造が実
質的に配線パタンと遮光パタンの二層構造となり、電流
の大部分が金属膜を流れる為配線抵抗の低下に大きく寄
与できる。配線パタン自体は何等金属膜を用いる事なく
半導体膜で構成できる為、プロセス上薄膜素子の形成と
整合性がとれる上信頼性も高くなる。
In the display substrate, a wiring pattern made of a semiconductor film having a relatively high resistance is arranged for electrical connection of a transistor element or a capacitor element. This semiconductor film is made of the same material as the gate electrode of the thin film transistor and the electrode of the thin film capacitor. Further, a light-shielding pattern made of a metal film having a relatively low resistance is formed, and is arranged as a black matrix around each pixel electrode. According to the present invention, a contact portion is provided in an interlayer insulating film interposed between a wiring pattern and a light-shielding pattern, and both are electrically connected. Accordingly, the wiring structure has a substantially two-layer structure of a wiring pattern and a light-shielding pattern, and most of the current flows through the metal film, which can greatly contribute to a reduction in wiring resistance. Since the wiring pattern itself can be composed of a semiconductor film without using any metal film, it is possible to obtain high consistency with the formation of a thin film element in the process and to increase reliability.

【0009】[0009]

【実施例】以下図面を参照して本発明の好適な実施例を
詳細に説明する。図1は本発明にかかる表示装置の第1
実施例を示す模式的な部分断面図である。本表示装置は
互いに所定の間隙を介して接合した表示基板1及び対向
基板2とその間隙に保持された液晶3等からなる電気光
学物質とを備えたパネル構造を有している。透明なガラ
ス等からなる対向基板2の内表面には透明な対向電極4
が全面的に形成されている。一方、表示基板1はマトリ
クス状に配列した画素5を有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a first view of a display device according to the present invention.
It is a typical partial sectional view showing an example. The display device has a panel structure including a display substrate 1 and a counter substrate 2 joined to each other with a predetermined gap therebetween, and an electro-optical material such as a liquid crystal 3 held in the gap. A transparent opposing electrode 4 is provided on the inner surface of the opposing substrate 2 made of transparent glass or the like.
Are formed over the entire surface. On the other hand, the display substrate 1 has pixels 5 arranged in a matrix.

【0010】表示基板1には画素5毎に配された画素電
極6が形成されている。同じく画素5毎に配され対応す
る画素電極6の駆動に用いる薄膜素子も形成されてい
る。この薄膜素子には画素電極6に信号電荷を供給する
トランジスタ素子Trと、信号電荷を補助的に保持する
容量素子Csとがある。トランジスタ素子Tr及び容量
素子Csは何れも薄膜構造であり、共通の半導体薄膜7
を素子領域としている。トランジスタ素子Trのソース
領域Sには金属パタン(信号配線パタン)8が接続して
いる。トランジスタ素子Trのドレイン領域Dには電極
パッド9を介して画素電極6が接続している。さらに、
個々の素子の電気接続用に配され比較的抵抗の高い半導
体膜からなる配線パタンが形成されている。本例では、
この配線パタンはトランジスタ素子Trのゲート電極に
接続するゲート配線パタン10と容量素子Csに接続す
る補助配線パタン11である。なお、図示では丁度ゲー
ト配線パタン10のゲート電極部分と補助配線パタン1
1の容量電極部分が断面として現われている。これらゲ
ート電極及び容量電極はゲート絶縁膜12を介して半導
体薄膜7の上にパタニング形成されている。さらに、個
々の画素電極6の周辺にブラックマトリクスの一部とし
て遮光パタン13が形成されている。この遮光パタン1
3は比較的抵抗の低い金属膜からなる。本発明の特徴事
項としてコンタクト部CONが設けられており、配線パ
タンに遮光パタンを電気接続して配線パタンの抵抗を実
効的に下げる。本実施例では、遮光パタン13は第1層
間絶縁膜14及び第2層間絶縁膜15を通して形成され
たコンタクト部CONを介して、ゲート配線パタン10
に電気接続している。なお、これに代えて遮光パタン1
3を補助配線パタン11側に接続する構成もある。図か
ら理解される様に、ゲート配線パタン10と遮光パタン
13は実質的に二層配線構造となり、電流の大部分が遮
光パタン13を流れる為、配線全体として低抵抗化が図
れる。なお、遮光パタン13は平坦化膜16により被覆
されており、その上に前述した画素電極6がパタニング
形成されている。
[0010] On the display substrate 1, pixel electrodes 6 arranged for each pixel 5 are formed. Similarly, a thin film element arranged for each pixel 5 and used for driving the corresponding pixel electrode 6 is also formed. The thin film element includes a transistor element Tr for supplying signal charges to the pixel electrode 6 and a capacitor element Cs for holding the signal charges in an auxiliary manner. Each of the transistor element Tr and the capacitance element Cs has a thin film structure, and the common semiconductor thin film 7
Is an element region. A metal pattern (signal wiring pattern) 8 is connected to the source region S of the transistor element Tr. The pixel electrode 6 is connected to the drain region D of the transistor element Tr via the electrode pad 9. further,
A wiring pattern made of a semiconductor film having a relatively high resistance is formed for electrical connection of the individual elements. In this example,
These wiring patterns are a gate wiring pattern 10 connected to the gate electrode of the transistor element Tr and an auxiliary wiring pattern 11 connected to the capacitance element Cs. In the drawing, the gate electrode portion of the gate wiring pattern 10 and the auxiliary wiring pattern 1
One capacitor electrode portion is shown as a cross section. The gate electrode and the capacitor electrode are patterned on the semiconductor thin film 7 via the gate insulating film 12. Further, a light-shielding pattern 13 is formed around each pixel electrode 6 as a part of a black matrix. This shading pattern 1
3 is made of a metal film having a relatively low resistance. A contact part CON is provided as a feature of the present invention, and a light-shielding pattern is electrically connected to the wiring pattern to effectively reduce the resistance of the wiring pattern. In this embodiment, the light-shielding pattern 13 is applied to the gate wiring pattern 10 via the contact portion CON formed through the first interlayer insulating film 14 and the second interlayer insulating film 15.
Is electrically connected to Instead of this, the light shielding pattern 1
3 may be connected to the auxiliary wiring pattern 11 side. As can be understood from the figure, the gate wiring pattern 10 and the light shielding pattern 13 have a substantially two-layer wiring structure, and most of the current flows through the light shielding pattern 13, so that the resistance of the entire wiring can be reduced. The light-shielding pattern 13 is covered with a flattening film 16, and the above-described pixel electrode 6 is formed on the light-shielding pattern 13 by patterning.

【0011】引き続き図1を参照して、本表示装置の製
造方法を詳細に説明する。ガラス又は石英等からなる表
示基板1上に、減圧CVD法により50nmの厚みで多結
晶シリコン又は非晶質シリコンからなる半導体薄膜7を
成膜する。この半導体薄膜7はアイランド状にパタニン
グされる。半導体薄膜7は薄膜トランジスタ素子Trの
活性層になると共に、容量素子Csの下部電極を構成し
ている。半導体薄膜7の上にゲート絶縁膜12を成膜す
る。このゲート絶縁膜12は一部容量素子Csの誘電体
層となり、例えば酸化物からなる。但し、ゲート絶縁膜
12の材料としては酸化物の他に、窒化物等も用いられ
る。あるいは、酸化物と窒化物の積層構造を採用しても
良い。次に、減圧CVD法により、350nm程度の膜厚
で多結晶シリコン又は非晶質シリコンを成膜する。この
多結晶シリコン又は非晶質シリコンには不純物がドーピ
ングされ低抵抗化が図られると共に、所定の形状にパタ
ニングされゲート配線パタン10及び補助配線パタン1
1となる。これらゲート配線パタン10(ゲート電極を
含む)及び補助配線パタン11は第1層間絶縁膜14に
より被覆される。この第1層間絶縁膜14は例えば常圧
CVD法で600nm程度の厚みにPSGを成膜して得ら
れる。この第1層間絶縁膜14には、トランジスタ素子
Trのソース領域S及びドレイン領域Dに達するコンタ
クト部と、ゲート配線パタン10に達するコンタクト部
CONが開口される。第1層間絶縁膜14の材料として
は一般に常圧CVD法又はプラズマCVD法による酸化
膜や窒化膜等を用いる事ができる。あるいは、SOG等
他の形成方法による絶縁膜や、ポリイミド、アクリル樹
脂等の様な有機膜を用いる事も可能である。第1層間絶
縁膜14の上にはスパッタリング法により600nm程度
の膜厚でアルミニウムが堆積される。このアルミニウム
は所定の形状にパタニングされ、信号配線となる金属パ
タン8及び接続用の電極パッド9が形成される。金属パ
タン8はコンタクト部を介してトランジスタ素子Trの
ソース領域Sに接続され、電極パッド9は同じくコンタ
クト部を介してトランジスタ素子Trのドレイン領域D
に電気接続される。金属パタン8及び電極パッド9の材
料としてはアルミニウムの代わりに、タンタル、モリブ
デン、クロム、ニッケル等を用いても良い。金属パタン
8及び電極パッド9は第2層間絶縁膜15により被覆さ
れる。この第2層間絶縁膜15は常圧CVD法で400
nm程度の膜厚にPSGを堆積して得られる。第2層間絶
縁膜15には電極パッド9に達するコンタクト部と、ゲ
ート配線パタン10に達するコンタクト部CONが開口
される。第2層間絶縁膜15の上には、スパッタリング
法により250nm程度の厚みでチタンが堆積される。こ
のチタンは所定の形状にパタニングされ、遮光パタン1
3に加工される。この遮光パタン13はコンタクト部C
ONを介してゲート配線パタン10に電気接続される。
遮光パタン13としては良好な遮光性と配線パタンに対
する良好なコンタクト性を備えた金属材料が選択され
る。金属材料としてはチタンの他に、モリブデン、クロ
ム、ニッケル、タングステン、タンタル、プラチナ、パ
ラジウム等を用いる事ができる。金属遮光パタン13は
第3層間絶縁膜16により覆われる。この第3層間絶縁
膜16は、例えば常圧CVD法により600nm程度の膜
厚でPSGを堆積して得られる。この第3層間絶縁膜1
6には電極パッド9に達するコンタクト部が開口されて
いる。第3層間絶縁膜16の上にはスパッタリング法に
より150nm程度の膜厚でITOが成膜される。このI
TOを所定の形状にパタニングして透明な画素電極6が
得られる。以上の様にして形状された表示基板1は、予
め対向電極4が形成された対向基板2に所定の間隙を介
して接合される。この間隙にツイストネマチック配向し
た液晶3が保持され、アクティブマトリクス型の表示装
置が完成する。
With reference to FIG. 1, a method of manufacturing the present display device will be described in detail. On a display substrate 1 made of glass, quartz, or the like, a semiconductor thin film 7 made of polycrystalline silicon or amorphous silicon is formed with a thickness of 50 nm by a low pressure CVD method. The semiconductor thin film 7 is patterned in an island shape. The semiconductor thin film 7 serves as an active layer of the thin film transistor Tr and constitutes a lower electrode of the capacitor Cs. A gate insulating film 12 is formed on the semiconductor thin film 7. The gate insulating film 12 partially becomes a dielectric layer of the capacitor Cs, and is made of, for example, an oxide. However, as the material of the gate insulating film 12, a nitride or the like is used in addition to the oxide. Alternatively, a stacked structure of an oxide and a nitride may be employed. Next, polycrystalline silicon or amorphous silicon is formed with a thickness of about 350 nm by a low pressure CVD method. The polycrystalline silicon or amorphous silicon is doped with impurities to reduce the resistance, and is patterned into a predetermined shape to form a gate wiring pattern 10 and an auxiliary wiring pattern 1.
It becomes 1. The gate wiring pattern 10 (including the gate electrode) and the auxiliary wiring pattern 11 are covered with a first interlayer insulating film 14. The first interlayer insulating film 14 is obtained, for example, by forming PSG to a thickness of about 600 nm by normal pressure CVD. In the first interlayer insulating film 14, a contact portion reaching the source region S and the drain region D of the transistor element Tr and a contact portion CON reaching the gate wiring pattern 10 are opened. As a material of the first interlayer insulating film 14, an oxide film, a nitride film, or the like by a normal pressure CVD method or a plasma CVD method can be generally used. Alternatively, it is also possible to use an insulating film formed by another forming method such as SOG, or an organic film such as polyimide or acrylic resin. Aluminum is deposited on the first interlayer insulating film 14 to a thickness of about 600 nm by a sputtering method. This aluminum is patterned into a predetermined shape to form a metal pattern 8 serving as a signal wiring and an electrode pad 9 for connection. The metal pattern 8 is connected to the source region S of the transistor element Tr via a contact portion, and the electrode pad 9 is similarly connected to the drain region D of the transistor element Tr via the contact portion.
Is electrically connected to As the material of the metal pattern 8 and the electrode pad 9, tantalum, molybdenum, chromium, nickel, or the like may be used instead of aluminum. The metal pattern 8 and the electrode pad 9 are covered with the second interlayer insulating film 15. This second interlayer insulating film 15 is 400
It is obtained by depositing PSG to a thickness of about nm. A contact portion reaching the electrode pad 9 and a contact portion CON reaching the gate wiring pattern 10 are opened in the second interlayer insulating film 15. Titanium is deposited on the second interlayer insulating film 15 to a thickness of about 250 nm by a sputtering method. This titanium is patterned into a predetermined shape, and a light shielding pattern 1 is formed.
It is processed into 3. This light-shielding pattern 13 has a contact portion C
It is electrically connected to the gate wiring pattern 10 via ON.
As the light-shielding pattern 13, a metal material having good light-shielding properties and good contact with a wiring pattern is selected. In addition to titanium, molybdenum, chromium, nickel, tungsten, tantalum, platinum, palladium, and the like can be used as the metal material. The metal light shielding pattern 13 is covered with the third interlayer insulating film 16. The third interlayer insulating film 16 is obtained by depositing PSG to a thickness of about 600 nm by, for example, a normal pressure CVD method. This third interlayer insulating film 1
6 is provided with a contact portion reaching the electrode pad 9. ITO is formed on the third interlayer insulating film 16 to a thickness of about 150 nm by a sputtering method. This I
The transparent pixel electrode 6 is obtained by patterning the TO into a predetermined shape. The display substrate 1 shaped as described above is bonded to the counter substrate 2 on which the counter electrode 4 is formed in advance with a predetermined gap. The liquid crystal 3 having a twisted nematic orientation is held in the gap, and an active matrix type display device is completed.

【0012】図2は、図1に示した表示装置の平面パタ
ン形状を表わす模式図である。図示する様に、表示基板
はマトリクス状に配列した画素5の行に平行な遮光パタ
ン13を有すると共に、画素5の列に平行に形成された
金属パタン8を含んでいる。遮光パタン13と金属パタ
ン8とは互いに交差して、格子状に個々の画素電極を囲
むブラックマスク(ブラックマトリクス)を構成する。
又、画素5の行方向に沿ってゲート配線パタン10及び
補助配線パタン11も形成されている。本例では、金属
遮光パタン13とゲート配線パタン10がコンタクト部
CONにより互いに電気接続されている。金属遮光パタ
ン13は機能的に行方向の配線パタンと見做す事がで
き、ゲート配線パタン10の実質的な低抵抗化を実現で
きる。なお、遮光パタン13はマトリクス状に配列した
画素5の行毎に分割され且つ浮遊電位となっている。個
々の画素5は液晶セルLCを含んでいる。この液晶セル
LCは画素電極6と対向電極4との間に保持された液晶
3からなる。トランジスタ素子Trは金属パタン8から
供給された信号電荷を画素電極6に供給する。容量素子
Csはこの信号電荷を補助的に保持する。前述した様
に、金属遮光パタン13は画素5の行毎に分割され且つ
浮遊電位となっている。換言すると、画素電極6の電位
(画素電位)、金属パタン8の電位(信号電位)、補助
配線パタン11の電位(共通電位)、他段のゲート配線
パタン10の電位(ゲート電位)からは電気的に絶縁が
保たれている。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a planar pattern shape of the display device shown in FIG. As shown in the drawing, the display substrate has a light shielding pattern 13 parallel to the rows of the pixels 5 arranged in a matrix and includes a metal pattern 8 formed parallel to the columns of the pixels 5. The light-shielding pattern 13 and the metal pattern 8 intersect each other to form a black mask (black matrix) that surrounds each pixel electrode in a grid pattern.
Further, a gate wiring pattern 10 and an auxiliary wiring pattern 11 are also formed along the row direction of the pixels 5. In this example, the metal light-shielding pattern 13 and the gate wiring pattern 10 are electrically connected to each other by the contact part CON. The metal light-shielding pattern 13 can be functionally regarded as a wiring pattern in the row direction, and the resistance of the gate wiring pattern 10 can be substantially reduced. The light shielding pattern 13 is divided for each row of the pixels 5 arranged in a matrix and has a floating potential. Each pixel 5 includes a liquid crystal cell LC. This liquid crystal cell LC is composed of liquid crystal 3 held between a pixel electrode 6 and a counter electrode 4. The transistor element Tr supplies the signal charge supplied from the metal pattern 8 to the pixel electrode 6. The capacitance element Cs additionally holds this signal charge. As described above, the metal light-shielding pattern 13 is divided for each row of the pixels 5 and has a floating potential. In other words, from the potential of the pixel electrode 6 (pixel potential), the potential of the metal pattern 8 (signal potential), the potential of the auxiliary wiring pattern 11 (common potential), and the potential (gate potential) of the gate wiring pattern 10 in another stage, Insulation is maintained.

【0013】図3は、図1及び図2に示した表示装置の
全体的な構成を表わす等価回路図である。表示基板1上
には各画素毎に液晶セルLC、トランジスタ素子Tr、
容量素子Csが形成されている。又、行状に配置したゲ
ート配線パタン10、補助配線パタン11、遮光パタン
13も形成されている。画面部を構成するこれらの要素
に加えて、表示基板1の周辺部には垂直走査回路21、
水平走査回路22、画像信号供給スイッチ23等が形成
されている。ゲート配線パタン10は垂直走査回路21
に接続する一方、金属パタン8は画像信号供給スイッチ
23を介して水平走査回路22に接続している。トラン
ジスタ素子Trのゲート電極はゲート配線パタン10の
一部を構成し、ソース電極は対応する金属パタン8に接
続され、ドレイン電極は液晶セルLCに接続している。
液晶セルLCと並列に配された補助容量Csの片側の電
極は補助配線パタン11に接続している。この補助配線
パタン11は共通電位に保持されている。垂直走査回路
21は順次ゲート配線パタン10にゲート信号を供給
し、線順次でトランジスタ素子Trを開閉制御する。水
平走査回路22はこれに同期して画像信号供給スイッチ
23を順次開閉制御し、金属パタン8を介し画像信号を
供給する。この画像信号は線順次で選択されたトランジ
スタ素子Trを通して液晶セルLCに書き込まれる。容
量素子Csは補助的に画像信号の電荷を保持する。前述
した様に、ゲート配線パタン10はコンタクト部CON
を介して遮光パタン13に電気接続している。この遮光
パタン13は画素電位、信号電位、共通電位、他段のゲ
ート電位からは電気的に絶縁が保たれている。コンタク
ト部CONにより互いに接続されたゲート配線パタン1
0と遮光パタン13は図示する様に等価的な二重配線構
造となり、合成された配線抵抗は顕著に低下する。
FIG. 3 is an equivalent circuit diagram showing the overall configuration of the display device shown in FIGS. On the display substrate 1, a liquid crystal cell LC, a transistor element Tr,
The capacitance element Cs is formed. Further, a gate wiring pattern 10, an auxiliary wiring pattern 11, and a light shielding pattern 13 arranged in a row are also formed. In addition to these elements constituting the screen section, a vertical scanning circuit 21
A horizontal scanning circuit 22, an image signal supply switch 23, and the like are formed. The gate wiring pattern 10 includes a vertical scanning circuit 21
On the other hand, the metal pattern 8 is connected to the horizontal scanning circuit 22 via the image signal supply switch 23. The gate electrode of the transistor element Tr forms a part of the gate wiring pattern 10, the source electrode is connected to the corresponding metal pattern 8, and the drain electrode is connected to the liquid crystal cell LC.
One electrode of the auxiliary capacitor Cs arranged in parallel with the liquid crystal cell LC is connected to the auxiliary wiring pattern 11. This auxiliary wiring pattern 11 is held at a common potential. The vertical scanning circuit 21 sequentially supplies a gate signal to the gate wiring pattern 10 and controls opening and closing of the transistor elements Tr in a line-sequential manner. The horizontal scanning circuit 22 sequentially controls the opening and closing of the image signal supply switch 23 in synchronization with this, and supplies the image signal via the metal pattern 8. This image signal is written into the liquid crystal cell LC through the transistor element Tr selected in a line-sequential manner. The capacitance element Cs additionally holds the charge of the image signal. As described above, the gate wiring pattern 10 is
Is electrically connected to the light-shielding pattern 13 via the. The light-shielding pattern 13 is electrically insulated from the pixel potential, the signal potential, the common potential, and the gate potential at another stage. Gate wiring pattern 1 connected to each other by contact part CON
0 and the light shielding pattern 13 have an equivalent double wiring structure as shown, and the combined wiring resistance is significantly reduced.

【0014】図4は、図2に示したパタン構造の変形例
を表わしている。基本的な構造は同様であり、対応する
部分には対応する参照番号を付して理解を容易にしてい
る。異なる点は、遮光パタン13が異なる画素5の間に
渡って連続的に形成されているのに対し、ゲート配線パ
タン10は画素5毎に分断され不連続的に形成されてい
る事である。具体的には、列方向の金属パタン8と交差
する部分から、ゲート配線パタン10が除かれている。
ゲート配線パタン10と金属パタン8との間の交差を除
去できるので、画質に悪影響を及ぼす寄生容量を減らす
事が可能になる。なお、この様にゲート配線パタン10
を分断化しても、個々にコンタクト部CONを介して金
属遮光パタン13に接続されている為、全体としては各
行毎にゲート配線パタンは電気的に連続しており、何等
機能上問題はない。
FIG. 4 shows a modification of the pattern structure shown in FIG. The basic structure is the same, and corresponding parts are denoted by corresponding reference numerals to facilitate understanding. The difference is that the light-shielding pattern 13 is formed continuously between different pixels 5, whereas the gate wiring pattern 10 is divided and formed discontinuously for each pixel 5. Specifically, the gate wiring pattern 10 is removed from a portion that intersects the metal pattern 8 in the column direction.
Since the intersection between the gate wiring pattern 10 and the metal pattern 8 can be eliminated, it is possible to reduce the parasitic capacitance that adversely affects the image quality. It should be noted that the gate wiring pattern 10
Even if the gate wiring pattern is divided, the gate wiring pattern is electrically continuous for each row as a whole, since there is no problem in terms of function because it is individually connected to the metal light shielding pattern 13 via the contact part CON.

【0015】図5は、本発明にかかる表示装置の第2実
施例を示す模式的な断面図であり、図示を簡略化する為
表示基板1側のみを示している。基本的な構成は図1に
示した第1実施例と同様であり、対応する部分には対応
する参照番号を付して理解を容易にしている。異なる点
は、遮光パタン13がゲート配線パタン10ではなく補
助配線パタン11側にコンタクト部CONを介して接続
されている事である。即ち、本実施例では金属遮光パタ
ン13と補助配線パタン11を互いに接合して二層配線
構造を得ている。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a second embodiment of the display device according to the present invention, and shows only the display substrate 1 side for simplification of the drawing. The basic configuration is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1, and the corresponding parts are denoted by the corresponding reference numerals to facilitate understanding. The difference is that the light-shielding pattern 13 is connected to the auxiliary wiring pattern 11 side instead of the gate wiring pattern 10 via the contact part CON. That is, in this embodiment, the metal light-shielding pattern 13 and the auxiliary wiring pattern 11 are joined to each other to obtain a two-layer wiring structure.

【0016】図6は、図5に示した第2実施例の平面パ
タン形状を表わす模式図である。前述した様に、補助配
線パタン11は各画素5毎に開口したコンタクト部CO
Nを介して遮光パタン13に接続されている。一般に、
容量素子Csの片側電極を共通接続する補助配線パタン
11は所定の共通電位に接続されている。従って、遮光
パタン13もこの共通電位となる。この為、金属遮光パ
タン13は表示領域内において全て同電位に保たれる
為、各行に対応した遮光パタン13が物理的に互いに分
離している必要はなく、表示領域内に渡って互いに接続
されていても構わない。
FIG. 6 is a schematic diagram showing the planar pattern shape of the second embodiment shown in FIG. As described above, the auxiliary wiring pattern 11 is formed in the contact portion CO opened for each pixel 5.
It is connected to the light shielding pattern 13 via N. In general,
The auxiliary wiring pattern 11 for commonly connecting one side electrode of the capacitive element Cs is connected to a predetermined common potential. Therefore, the light shielding pattern 13 also has this common potential. For this reason, since the metal light-shielding patterns 13 are all kept at the same potential in the display area, the light-shielding patterns 13 corresponding to each row need not be physically separated from each other, but are connected to each other over the display area. It does not matter.

【0017】図7は、図5及び図6に示した第2実施例
の全体構成を示す等価回路図である。基本的には、図3
に示した第1実施例の構成と同様であり、対応する部分
には対応する参照番号を付して理解を容易にしている。
異なる点は、遮光パタン13がコンタクト部CONを介
してゲート配線パタン10ではなく補助配線パタン11
に接続している事である。遮光パタン13は共通電位に
保持される一方、画素電位、信号電位、ゲート電位から
は電気的に絶縁状態が保たれる。金属遮光パタン13と
補助配線パタン11との相互接続により、実質的な配線
の低抵抗化を実現する事ができる。
FIG. 7 is an equivalent circuit diagram showing the entire configuration of the second embodiment shown in FIGS. Basically, Figure 3
Is similar to that of the first embodiment, and corresponding parts are denoted by corresponding reference numerals to facilitate understanding.
The difference is that the light shielding pattern 13 is not the gate wiring pattern 10 but the auxiliary wiring pattern 11 via the contact part CON.
It is connected to. The light-shielding pattern 13 is maintained at a common potential, while being electrically insulated from the pixel potential, signal potential, and gate potential. The interconnection between the metal light-shielding pattern 13 and the auxiliary wiring pattern 11 makes it possible to substantially reduce the resistance of the wiring.

【0018】図8は、図5ないし図7を参照して説明し
た第2実施例の変形例を表わしている。基本的には図6
に示した構造と類似しており、対応する部分には対応す
る参照番号を付して理解を容易にしている。図6に示し
た例では補助配線パタン11が行方向に沿って連続して
いるのに対し、本例では補助配線パタン11が画素毎に
分断されている。換言すると、各画素5毎に独立した容
量素子の上部電極が設けられている。この上部電極(即
ち、分断化された補助配線パタン11)はコンタクト部
CONを介して金属遮光パタン13に接続されている。
金属遮光パタン13は表示領域全面に渡って連続してお
り、さらに表示領域外で共通電位に接続されている。従
って、各容量素子Csの上部電極は共通電位に接続され
ている。この結果、行方向に沿った各画素間において上
部電極を互いに接続しなくても良い事になり、これに必
要な補助配線パタン11の占有面積を縮小化でき、高開
口率の画素レイアウトが実現可能である。さらに、補助
配線パタン11と金属パタン(信号配線)8の交差をな
くす事ができる為、画質に悪影響を及ぼす寄生容量を低
減化できる。
FIG. 8 shows a modification of the second embodiment described with reference to FIGS. Basically Figure 6
And the corresponding parts are given the same reference numerals to facilitate understanding. In the example shown in FIG. 6, the auxiliary wiring pattern 11 is continuous along the row direction, whereas in the present example, the auxiliary wiring pattern 11 is divided for each pixel. In other words, an upper electrode of an independent capacitive element is provided for each pixel 5. This upper electrode (that is, the divided auxiliary wiring pattern 11) is connected to the metal light shielding pattern 13 via the contact part CON.
The metal light shielding pattern 13 is continuous over the entire display area, and is connected to a common potential outside the display area. Therefore, the upper electrode of each capacitance element Cs is connected to a common potential. As a result, the upper electrodes do not need to be connected to each other between the pixels along the row direction, the area occupied by the auxiliary wiring pattern 11 required for this can be reduced, and a pixel layout with a high aperture ratio is realized. It is possible. Furthermore, since the intersection between the auxiliary wiring pattern 11 and the metal pattern (signal wiring) 8 can be eliminated, the parasitic capacitance that adversely affects the image quality can be reduced.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、金
属遮光パタンと半導体配線パタンとを相互に結線して複
合化し、配線の実効抵抗を下げる事ができる為、配線抵
抗に起因する画質の劣化を回避可能である。実質的な配
線抵抗が低下する為、配線パタン自体の線幅を細くする
事ができ、高開口率な画素レイアウトが可能となる。特
に、金属遮光パタンを容量素子の補助配線パタンと接続
させた場合、各パタンを画素毎に分断できる為各画素毎
に独立したレイアウトが可能になり高開口率化が実現で
きる。加えて、補助配線パタンと信号配線用金属パタン
との交差部をなくす事ができる為、容量カップリング等
に起因する画質の低下を回避可能である。
As described above, according to the present invention, the metal light-shielding pattern and the semiconductor wiring pattern are connected to each other to form a composite, and the effective resistance of the wiring can be reduced. Deterioration of image quality can be avoided. Since the substantial wiring resistance is reduced, the line width of the wiring pattern itself can be reduced, and a pixel layout with a high aperture ratio can be realized. In particular, when a metal light-shielding pattern is connected to an auxiliary wiring pattern of a capacitor, each pattern can be divided for each pixel, so that an independent layout can be performed for each pixel and a high aperture ratio can be realized. In addition, since the intersection between the auxiliary wiring pattern and the signal wiring metal pattern can be eliminated, it is possible to avoid deterioration in image quality due to capacitive coupling or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明にかかる表示装置の第1実施例を示す模
式的な部分断面図である。
FIG. 1 is a schematic partial sectional view showing a first embodiment of a display device according to the present invention.

【図2】同じく第1実施例の模式的な平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view of the first embodiment.

【図3】同じく第1実施例の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the first embodiment.

【図4】第1実施例の変形例を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing a modification of the first embodiment.

【図5】本発明にかかる表示装置の第2実施例を示す模
式的な部分断面図である。
FIG. 5 is a schematic partial sectional view showing a second embodiment of the display device according to the present invention.

【図6】同じく第2実施例の平面図である。FIG. 6 is a plan view of the second embodiment.

【図7】同じく第2実施例の等価回路図である。FIG. 7 is an equivalent circuit diagram of the second embodiment.

【図8】第2実施例の変形例を示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing a modification of the second embodiment.

【図9】従来の表示装置の一例を示す等価回路図であ
る。
FIG. 9 is an equivalent circuit diagram illustrating an example of a conventional display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 表示基板 2 対向基板 3 液晶 4 対向電極 5 画素 6 画素電極 7 半導体薄膜 8 金属パタン 10 ゲート配線パタン 11 補助配線パタン 13 遮光パタン Tr トランジスタ素子 Cs 容量素子 LC 液晶セル CON コンタクト部 Reference Signs List 1 display substrate 2 counter substrate 3 liquid crystal 4 counter electrode 5 pixel 6 pixel electrode 7 semiconductor thin film 8 metal pattern 10 gate wiring pattern 11 auxiliary wiring pattern 13 light shielding pattern Tr transistor element Cs capacitance element LC liquid crystal cell CON contact part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−257164(JP,A) 特開 昭63−208896(JP,A) 特開 平5−249492(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1368 G02F 1/1343 G09F 9/30 H01L 29/786 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-5-257164 (JP, A) JP-A-63-208896 (JP, A) JP-A-5-249492 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/1368 G02F 1/1343 G09F 9/30 H01L 29/786

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 マトリクス状に配列した画素を有する表
示基板と、所定の間隙を介して該表示基板に接合した透
明な対向基板と、該間隙に保持された電気光学物質とを
備えた表示装置であって、 前記表示基板は、画素毎に配された画素電極と、 同じく画素毎に配され対応する画素電極の駆動に用いる
素子と、 個々の素子の電気接続用に配され比較的抵抗の高い半導
体膜からなる配線パタンと、 個々の画素電極の周辺に遮光用として配され比較的抵抗
の低い金属膜からなる遮光パタンと、 該配線パタンに該遮光パタンを電気接続して、該配線パ
タンの抵抗を実効的に下げるコンタクト部とを具備し、 前記遮光パタンは異なる画素間に渡って連続的に形成さ
れている一方、前記配線パタンは画素毎に分断され不連
続的に形成されている 事を特徴とする表示装置。
1. A display device comprising: a display substrate having pixels arranged in a matrix; a transparent opposing substrate bonded to the display substrate via a predetermined gap; and an electro-optical material held in the gap. The display substrate includes a pixel electrode arranged for each pixel, an element arranged for each pixel and used for driving a corresponding pixel electrode, and a relatively resistive element arranged for electrical connection of each element. A wiring pattern made of a high semiconductor film, a light shielding pattern made of a metal film having a relatively low resistance arranged around the individual pixel electrodes for light shielding, and electrically connecting the light shielding pattern to the wiring pattern to form the wiring pattern. And a contact portion for effectively lowering the resistance of the pixel , wherein the light shielding pattern is formed continuously between different pixels.
On the other hand, the wiring pattern is divided for each pixel and disconnected.
A display device characterized by being formed continuously .
【請求項2】 マトリクス状に配列した画素を有する表
示基板と、所定の間隙を介して該表示基板に接合した透
明な対向基板と、該間隙に保持された電気光学物質とを
備えた表示装置であって、 前記表示基板は、画素毎に配された画素電極と、 同じく画素毎に配され対応する画素電極の駆動に用いる
素子と、 個々の素子の電気接続用に配され比較的抵抗の高い半導
体膜からなる配線パタンと、 個々の画素電極の周辺に遮光用として配され比較的抵抗
の低い金属膜からなる遮光パタンと、 該配線パタンに該遮光パタンを電気接続して、該配線パ
タンの抵抗を実効的に下げるコンタクト部とを具備し、 前記表示基板は、マトリクス状に配列した画素の行に平
行な遮光パタンを有すると共に、画素の列に平行に形成
され且つ各素子に信号電荷を供給する金属パタンとを含
んでおり、該遮光パタンと金属パタンは互いに交差して
格子状に個々の 画素電極を囲むブラックマスクを構成す
る事を特徴とする表示装置。
2. A table having pixels arranged in a matrix.
And a transparent substrate bonded to the display substrate via a predetermined gap.
Clear opposing substrate and the electro-optical material held in the gap.
A display device, wherein the display substrate is used for driving a pixel electrode disposed for each pixel and a corresponding pixel electrode disposed for each pixel.
Elements and relatively high resistance semi-conductors arranged for electrical connection of individual elements
A wiring pattern consisting of a body film and a relatively
A light-shielding pattern made of a metal film having a low thickness, and electrically connecting the light- shielding pattern to the wiring pattern to form the wiring pattern.
A contact portion for effectively lowering the resistance of the button, and the display substrate is arranged in a row of pixels arranged in a matrix.
It has a row light-shielding pattern and is formed parallel to the pixel columns.
And a metal pattern for supplying a signal charge to each element.
The light-shielding pattern and the metal pattern cross each other.
Configure a black mask surrounding each pixel electrode in a grid
A display device characterized in that:
【請求項3】 前記素子は画素電極に信号電荷を供給す
るトランジスタ素子と該信号電荷を補助的に保持する容
量素子とを含み、 前記配線パタンは各トランジスタ素子のゲート電極に接
続するゲート配線パタンと、各容量素子に接続する補助
配線パタンとを含み、 前記コンタクト部は該ゲート配線パタンと該補助配線パ
タンの何れか一方を該遮光パタンに電気接続し、 前記遮光パタンは表示基板全体に渡って所定の共通電位
に保持されていると共に、該コンタクト部を介して該補
助配線パタンの方に電気接続されている事を特徴とする
請求項2記載の表示装置。
3. The element supplies a signal charge to a pixel electrode.
Transistor element and a capacity for auxiliary holding the signal charge.
The wiring pattern is in contact with the gate electrode of each transistor element.
Connected gate wiring pattern and auxiliary to connect to each capacitance element
A wiring pattern, wherein the contact portion includes the gate wiring pattern and the auxiliary wiring pattern.
One of the buttons is electrically connected to the light-shielding pattern , and the light-shielding pattern has a predetermined common potential over the entire display substrate.
And the supplement through the contact portion.
It is characterized by being electrically connected to the auxiliary wiring pattern
The display device according to claim 2.
【請求項4】 前記素子は画素電極に信号電荷を供給す
るトランジスタ素子と該信号電荷を補助的に保持する容
量素子とを含み、 前記配線パタンは各トランジスタ素子のゲート電極に接
続するゲート配線パタンと、各容量素子に接続する補助
配線パタンとを含み、 前記コンタクト部は該ゲート配線パタンと該補助配線パ
タンの何れか一方を該遮光パタンに電気接続し、 前記遮光パタンはマトリクス状に配列した画素の行毎に
分割されていると共に、該コンタクト部を介して画素の
行毎に対応するゲート配線パタンの方に電気接続されて
いる事を特徴とする請求項2記載の表示装置。
4. The element supplies a signal charge to a pixel electrode.
Transistor element and a capacity for auxiliary holding the signal charge.
The wiring pattern is in contact with the gate electrode of each transistor element.
Connected gate wiring pattern and auxiliary to connect to each capacitance element
A wiring pattern, wherein the contact portion includes the gate wiring pattern and the auxiliary wiring pattern.
One of the buttons is electrically connected to the light-shielding pattern , and the light-shielding pattern is provided for each row of pixels arranged in a matrix.
Of the pixel through the contact portion.
Each row is electrically connected to the corresponding gate wiring pattern
The display device according to claim 2, wherein:
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