JP3190061B2 - 画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置 - Google Patents
画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画素を有する光電変換
装置の電気出力を処理する方法及びその装置に関する。
装置の電気出力を処理する方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光反射性の物体の表面形状を測定
したり、光透過性の物体の透視歪を測定するために、光
源と被測定物との間に、格子模様を有する透明板を配置
し、格子模様の反射像又は透過像をスクリーンに投影し
てその歪みを目視で測定するか、カメラ等で撮影してそ
の歪みを測定する方法が一般的に採用されている。しか
しこのような方法では、測定者ごとに測定誤差が生じる
ばかりでなく、検査の自動化を行う観点からは極めて不
便なものであった。
したり、光透過性の物体の透視歪を測定するために、光
源と被測定物との間に、格子模様を有する透明板を配置
し、格子模様の反射像又は透過像をスクリーンに投影し
てその歪みを目視で測定するか、カメラ等で撮影してそ
の歪みを測定する方法が一般的に採用されている。しか
しこのような方法では、測定者ごとに測定誤差が生じる
ばかりでなく、検査の自動化を行う観点からは極めて不
便なものであった。
【０００３】そこでレーザー光等を被測定物に照射し、
その反射光又は透過光の位置をフォトセンサー等の受光
装置で受光して測定することにより、測定者ごとの測定
誤差の差をなくし、検査の自動化を測ることが提案され
ている。この際、受光装置として、ＣＣＤカメラやビデ
オカメラのような多数の画素からなる受光面を有する受
光装置を使用すると、反射又は透過してくる光を広く受
光することができ、かつその受光の視線方向をどの画素
に受光したかを判断することにより決定し得るので好ま
しい。
その反射光又は透過光の位置をフォトセンサー等の受光
装置で受光して測定することにより、測定者ごとの測定
誤差の差をなくし、検査の自動化を測ることが提案され
ている。この際、受光装置として、ＣＣＤカメラやビデ
オカメラのような多数の画素からなる受光面を有する受
光装置を使用すると、反射又は透過してくる光を広く受
光することができ、かつその受光の視線方向をどの画素
に受光したかを判断することにより決定し得るので好ま
しい。
【０００４】このような測定を精度良く行う方法とし
て、被測定物に位置が既知の微小散乱光源からの光を照
射し、被測定物表面で反射した又は被測定物中を透過し
た光を、受光の視線方向を決定し得る受光装置で受光
し、光源位置、受光点の位置、及び受光時の視線方向と
から被測定物の表面三次元形状又は透視歪を測定する方
法が提案されている（特願平１−３３８０９７号な
ど）。
て、被測定物に位置が既知の微小散乱光源からの光を照
射し、被測定物表面で反射した又は被測定物中を透過し
た光を、受光の視線方向を決定し得る受光装置で受光
し、光源位置、受光点の位置、及び受光時の視線方向と
から被測定物の表面三次元形状又は透視歪を測定する方
法が提案されている（特願平１−３３８０９７号な
ど）。
【０００５】この場合の光源としては、位置が既知で少
なくとも１方向に広がりの小さい散乱光源であればよ
い。この広がりは、受光装置の画素の大きさに対応する
光源位置での長さの１０倍以下、好ましくは５倍以下で
あればよい。そのような例として、スクリーン上でレー
ザー光をＸ−Ｙ方向に走査したものなどがある。
なくとも１方向に広がりの小さい散乱光源であればよ
い。この広がりは、受光装置の画素の大きさに対応する
光源位置での長さの１０倍以下、好ましくは５倍以下で
あればよい。そのような例として、スクリーン上でレー
ザー光をＸ−Ｙ方向に走査したものなどがある。
【０００６】この様子を示したのが、図４、図５であ
り、図４は透視歪みを測定する方法を示す概念図であ
り、図５は表面形状を測定する方法を示す概念図であ
る。
り、図４は透視歪みを測定する方法を示す概念図であ
り、図５は表面形状を測定する方法を示す概念図であ
る。
【０００７】図４において、２１はその上でレーザー光
をＸ−Ｙ方向に走査するスクリーン、２６はガラス板等
の被測定物、２７は受光装置の画素からなる受光面、３
０は光源像を画素上に結像するためのレンズ系である。
スクリーン２１上の点状散乱光源Ｐ0 を、被測定物２６
を通さず受光面２７上の画素２７ａ上に結像させたもの
が点Ｑ0 であって、被測定物２６を通した場合、上記Ｑ
0 上に結像するスクリーン２１上の光源の位置がＰ1 で
ある。なお、Ｒ 0 は光源Ｐ 0 からの光が被測定物２６を
透過する点である。
をＸ−Ｙ方向に走査するスクリーン、２６はガラス板等
の被測定物、２７は受光装置の画素からなる受光面、３
０は光源像を画素上に結像するためのレンズ系である。
スクリーン２１上の点状散乱光源Ｐ0 を、被測定物２６
を通さず受光面２７上の画素２７ａ上に結像させたもの
が点Ｑ0 であって、被測定物２６を通した場合、上記Ｑ
0 上に結像するスクリーン２１上の光源の位置がＰ1 で
ある。なお、Ｒ 0 は光源Ｐ 0 からの光が被測定物２６を
透過する点である。
【０００８】スクリーン２１上の点光源の位置は既知で
あるため、スクリーン２１上での被測定物２６を透視し
たことによる光線の移動量が求まる。この移動量を各点
で測定すれば、上記光源からの光が被測定物２６を通過
する点での透視歪みが測定できる。
あるため、スクリーン２１上での被測定物２６を透視し
たことによる光線の移動量が求まる。この移動量を各点
で測定すれば、上記光源からの光が被測定物２６を通過
する点での透視歪みが測定できる。
【０００９】一方、図５において、２１はその上でレー
ザー光をＸ−Ｙ方向に走査するスクリーン、２８はガラ
ス板等の被測定物、２７は受光装置の画素からなる受光
面、３０は光源像を画素上に結像するためのレンズ系で
ある。スクリーン２１上の点状散乱光源Ｐ0 を、あらか
じめ表面形状のわかっている光反射板２９上で反射させ
て、受光面２７上の画素２７ａ上に結像させたものが点
Ｑ0 であって、被測定物２８上を反射させた場合、上記
Ｑ0 上に結像するスクリーン２１上の光源の位置がＰ1
である。なお、Ｒ 0 は光源Ｐ 0 からの光が被測定物２６
上で反射する点である。
ザー光をＸ−Ｙ方向に走査するスクリーン、２８はガラ
ス板等の被測定物、２７は受光装置の画素からなる受光
面、３０は光源像を画素上に結像するためのレンズ系で
ある。スクリーン２１上の点状散乱光源Ｐ0 を、あらか
じめ表面形状のわかっている光反射板２９上で反射させ
て、受光面２７上の画素２７ａ上に結像させたものが点
Ｑ0 であって、被測定物２８上を反射させた場合、上記
Ｑ0 上に結像するスクリーン２１上の光源の位置がＰ1
である。なお、Ｒ 0 は光源Ｐ 0 からの光が被測定物２６
上で反射する点である。
【００１０】スクリーン２１上の点光源の位置は既知で
あるため、光反射板２９上でなく被測定物２８上を反射
したことによる視線方向の移動量、すなわち反射面上で
の法線の方向の変化量が求まる。この変化量を各点で測
定すれば、被測定物２８上での各点の法線の方向が求ま
り、被測定物２８の表面形状が求まる。
あるため、光反射板２９上でなく被測定物２８上を反射
したことによる視線方向の移動量、すなわち反射面上で
の法線の方向の変化量が求まる。この変化量を各点で測
定すれば、被測定物２８上での各点の法線の方向が求ま
り、被測定物２８の表面形状が求まる。
【００１１】ここで、光反射板２９による測定は必ずし
も要せず、少なくとも、被測定物２８上の一点の座標が
求まれば、その表面形状は測定可能である。しかし、レ
ンズ系の収差などを相殺する意味で、表面形状が既知の
光反射板との比較で表面形状を決定することが望まし
い。
も要せず、少なくとも、被測定物２８上の一点の座標が
求まれば、その表面形状は測定可能である。しかし、レ
ンズ系の収差などを相殺する意味で、表面形状が既知の
光反射板との比較で表面形状を決定することが望まし
い。
【００１２】なお、同一の画素に対応する光源位置の差
で被測定物の歪みや反射面上での法線方向の変化を表現
したのは、画素の大きさが有限であり、画素の境界領域
に対応する視線方向は、必ずしも精度良く決定できない
ため、画素の中心位置などの特定位置で、視線方向を特
定した方が精度が高まるためである。
で被測定物の歪みや反射面上での法線方向の変化を表現
したのは、画素の大きさが有限であり、画素の境界領域
に対応する視線方向は、必ずしも精度良く決定できない
ため、画素の中心位置などの特定位置で、視線方向を特
定した方が精度が高まるためである。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】このような場合、受光
装置は多数の画素からなる光電変換装置であり、この光
電変換装置により、光がその強度に対応した電気出力に
変換される。この電気出力は適当なサンプリング間隔で
サンプルホールドして光電変換装置から取り出され、次
いで、アナログ−デジタル（ＡＤ）変換され、画像メモ
リーにストックした後、出力値の大きさ判定などの処理
が行われる。
装置は多数の画素からなる光電変換装置であり、この光
電変換装置により、光がその強度に対応した電気出力に
変換される。この電気出力は適当なサンプリング間隔で
サンプルホールドして光電変換装置から取り出され、次
いで、アナログ−デジタル（ＡＤ）変換され、画像メモ
リーにストックした後、出力値の大きさ判定などの処理
が行われる。
【００１４】このとき、ＡＤ変換されている出力値がど
の画素で受光した光の強度に対応するものなのかは正確
に知られていなければならない。つまり、強度データが
ストックされる画像メモリーの位置と、光電変換装置の
画素とが正確に対応していなければいけない。各画素か
らの出力は、ＣＣＤカメラ、ビデオカメラなどの受光装
置中で作成された駆動信号により各画素が走査されるそ
れぞれのタイミングで行われる。したがって、画素の走
査のタイミングを知って、ＡＤ変換を行う必要がある。
の画素で受光した光の強度に対応するものなのかは正確
に知られていなければならない。つまり、強度データが
ストックされる画像メモリーの位置と、光電変換装置の
画素とが正確に対応していなければいけない。各画素か
らの出力は、ＣＣＤカメラ、ビデオカメラなどの受光装
置中で作成された駆動信号により各画素が走査されるそ
れぞれのタイミングで行われる。したがって、画素の走
査のタイミングを知って、ＡＤ変換を行う必要がある。
【００１５】従来はこのタイミングを知るために、たと
えば、現在、日本で広く使用されている映像信号の規格
であるＮＴＳＣ信号により駆動されるＣＣＤカメラ、ビ
デオカメラの場合は、ＮＴＳＣ信号において水平走査期
間開始時に出力される水平同期信号や、垂直同期信号を
ＡＤ変換装置側で読み、画素の走査のタイミングと知
り、タイミングをとっていた。
えば、現在、日本で広く使用されている映像信号の規格
であるＮＴＳＣ信号により駆動されるＣＣＤカメラ、ビ
デオカメラの場合は、ＮＴＳＣ信号において水平走査期
間開始時に出力される水平同期信号や、垂直同期信号を
ＡＤ変換装置側で読み、画素の走査のタイミングと知
り、タイミングをとっていた。
【００１６】しかし、走査開始時の信号を知るだけでは
どの画素からの出力信号であるかの特定が難しいうえ、
サンプルホールドされた出力波形に不定形性があるた
め、適切なタイミングでＡＤ変換できないだけでなく、
極端な場合は、隣の画素を誤って拾ってしまう可能性す
らあった。
どの画素からの出力信号であるかの特定が難しいうえ、
サンプルホールドされた出力波形に不定形性があるた
め、適切なタイミングでＡＤ変換できないだけでなく、
極端な場合は、隣の画素を誤って拾ってしまう可能性す
らあった。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は前述の課題を解
決するためのものであり、画素を有する光電変換装置の
電気出力をアナログ−デジタル変換する際に、アナログ
−デジタル変換のタイミングをとるクロックにより、光
電変換装置がその画素を走査をする駆動信号発生及び電
気出力のサンプルホールドのタイミングをとるととも
に、遅延回路によりアナログ−デジタル変換のタイミン
グと画素の走査のタイミングとを調整することを特徴と
する画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方
法及びその装置を提供するものである。
決するためのものであり、画素を有する光電変換装置の
電気出力をアナログ−デジタル変換する際に、アナログ
−デジタル変換のタイミングをとるクロックにより、光
電変換装置がその画素を走査をする駆動信号発生及び電
気出力のサンプルホールドのタイミングをとるととも
に、遅延回路によりアナログ−デジタル変換のタイミン
グと画素の走査のタイミングとを調整することを特徴と
する画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方
法及びその装置を提供するものである。
【００１８】
【実施例】本発明の実施例の構成を示す概念図が図１で
ある。７は、ＡＤ変換装置９のタイミングをとる２０Ｍ
Ｈｚのクロックである。クロック７により、駆動信号発
生装置８が制御される。駆動信号発生装置８から出力さ
れる駆動信号は遅延回路６を介して、光電変換装置１に
入力される。この駆動信号は光電変換装置１内のＣＣＤ
駆動信号発生装置３に入力され、そこから出力されるＣ
ＣＤ駆動信号により、ＣＣＤ４及び、ＣＣＤ４からの出
力をサンプルホールドするサンプルホールド回路２が駆
動される。サンプルホールド回路２からの出力はアンプ
５を介してＡＤ変換装置９に出力される。
ある。７は、ＡＤ変換装置９のタイミングをとる２０Ｍ
Ｈｚのクロックである。クロック７により、駆動信号発
生装置８が制御される。駆動信号発生装置８から出力さ
れる駆動信号は遅延回路６を介して、光電変換装置１に
入力される。この駆動信号は光電変換装置１内のＣＣＤ
駆動信号発生装置３に入力され、そこから出力されるＣ
ＣＤ駆動信号により、ＣＣＤ４及び、ＣＣＤ４からの出
力をサンプルホールドするサンプルホールド回路２が駆
動される。サンプルホールド回路２からの出力はアンプ
５を介してＡＤ変換装置９に出力される。
【００１９】本発明ではアナログ−デジタル変換のタイ
ミングをとるクロックと、光電変換装置内のＣＣＤを駆
動する駆動信号発生及び電気出力のサンプルホールドの
タイミングをとるクロックとが共用される。そして、駆
動信号発生装置８から出力される駆動信号を遅延回路６
を介して光電変換装置１に入力するようにし、信号が回
線を通過する時間の遅れ等によるタイミングのずれをこ
の遅延回路６で補正する。補正は、駆動信号発生装置８
からの波形とサンプルホールドされた出力波形とをオシ
ロスコープ等で直接比較することにより簡単に行うこと
ができる。
ミングをとるクロックと、光電変換装置内のＣＣＤを駆
動する駆動信号発生及び電気出力のサンプルホールドの
タイミングをとるクロックとが共用される。そして、駆
動信号発生装置８から出力される駆動信号を遅延回路６
を介して光電変換装置１に入力するようにし、信号が回
線を通過する時間の遅れ等によるタイミングのずれをこ
の遅延回路６で補正する。補正は、駆動信号発生装置８
からの波形とサンプルホールドされた出力波形とをオシ
ロスコープ等で直接比較することにより簡単に行うこと
ができる。
【００２０】こうすることにより、従来の画素を有する
光電変換装置の電気出力をＡＤ変換する方法に比べ、極
めて精度良く画素の走査のタイミングとＡＤ変換のタイ
ミングとを合わせることができるので、サンプルホール
ドされた出力波形の不定性を考慮してなお、適切なタイ
ミングでＡＤ変換できるようになる。
光電変換装置の電気出力をＡＤ変換する方法に比べ、極
めて精度良く画素の走査のタイミングとＡＤ変換のタイ
ミングとを合わせることができるので、サンプルホール
ドされた出力波形の不定性を考慮してなお、適切なタイ
ミングでＡＤ変換できるようになる。
【００２１】通常のＣＣＤの駆動においては、クロック
７の周波数は数ＭＨｚ以上、好ましくは１０ＭＨｚ以上
である。また、遅延回路６は、デジタル用パルス遅延回
路が好ましく用いられ、その他ガラスディレーライン等
も使用できる。
７の周波数は数ＭＨｚ以上、好ましくは１０ＭＨｚ以上
である。また、遅延回路６は、デジタル用パルス遅延回
路が好ましく用いられ、その他ガラスディレーライン等
も使用できる。
【００２２】サンプルホールドされた出力は、直接ＡＤ
変換装置９に入力することも可能ではあるが、適宜アン
プで増幅することが好ましい。この際、少なくとも１画
素のデータがサンプルホールド回路でホールドされてい
る時間程度以下のセットリングタイム（ｓｅｔｔｌｉｎ
ｇ ｔｉｍｅ）を有するものであることが好ましい。具
体的には、１画素のデータがホールドされる時間が１０
０ナノ秒程度であれば、セットリングタイムは７０ナノ
秒以下、帯域３０ＭＨｚ以上の高帯域アンプであること
が好ましい。
変換装置９に入力することも可能ではあるが、適宜アン
プで増幅することが好ましい。この際、少なくとも１画
素のデータがサンプルホールド回路でホールドされてい
る時間程度以下のセットリングタイム（ｓｅｔｔｌｉｎ
ｇ ｔｉｍｅ）を有するものであることが好ましい。具
体的には、１画素のデータがホールドされる時間が１０
０ナノ秒程度であれば、セットリングタイムは７０ナノ
秒以下、帯域３０ＭＨｚ以上の高帯域アンプであること
が好ましい。
【００２３】これ以下の低周波数の帯域を持つアンプを
使用すると出力波形がなまってしまい、正確な出力が得
られにくい。この様子を示したのが図２であり、横軸は
時間、縦軸は出力、線１０は低帯域（４．５ＭＨｚ）の
アンプを通した光電変換装置の出力波形、線１１は高帯
域（３０ＭＨｚ）のアンプを通した光電変換装置の出力
波形である。線１０は線１１に比べて変化が平均化され
ており、横軸に示した１画素走査時間ごとに変化して現
れる出力は正確に表現されていないことが分かる。
使用すると出力波形がなまってしまい、正確な出力が得
られにくい。この様子を示したのが図２であり、横軸は
時間、縦軸は出力、線１０は低帯域（４．５ＭＨｚ）の
アンプを通した光電変換装置の出力波形、線１１は高帯
域（３０ＭＨｚ）のアンプを通した光電変換装置の出力
波形である。線１０は線１１に比べて変化が平均化され
ており、横軸に示した１画素走査時間ごとに変化して現
れる出力は正確に表現されていないことが分かる。
【００２４】このような出力を１画素ごとに注目して時
間的な出力変化の図として示したのが図３であり、線１
２は低帯域（４．５ＭＨｚ）のアンプを通した出力の変
化、線１３は高帯域（３０ＭＨｚ）のアンプを通した出
力の変化である。線１２は図２における線１０が出力波
形のなまりにより正しい値となっていないことから、ピ
ークに裾野が現れている。このように、少なくとも１画
素のデータがサンプルホールド回路でホールドされてい
る時間以下のセットリングタイムを有する高帯域アンプ
を使用することにより、正確な値が得られることにな
る。
間的な出力変化の図として示したのが図３であり、線１
２は低帯域（４．５ＭＨｚ）のアンプを通した出力の変
化、線１３は高帯域（３０ＭＨｚ）のアンプを通した出
力の変化である。線１２は図２における線１０が出力波
形のなまりにより正しい値となっていないことから、ピ
ークに裾野が現れている。このように、少なくとも１画
素のデータがサンプルホールド回路でホールドされてい
る時間以下のセットリングタイムを有する高帯域アンプ
を使用することにより、正確な値が得られることにな
る。
【００２５】以上のような画像処理方法及び装置を用い
て、被測定物に位置が既知の微小散乱光源からの光を照
射し、被測定物表面で反射又は被測定物中を透過した光
を、受光の視線方向を決定し得る受光装置で受光し、光
源位置、受光点の位置、及び受光時の視線方向とから被
測定物の表面三次元形状又は透視歪を測定することの精
度を向上することができた。
て、被測定物に位置が既知の微小散乱光源からの光を照
射し、被測定物表面で反射又は被測定物中を透過した光
を、受光の視線方向を決定し得る受光装置で受光し、光
源位置、受光点の位置、及び受光時の視線方向とから被
測定物の表面三次元形状又は透視歪を測定することの精
度を向上することができた。
【００２６】
【発明の効果】本発明によれば、従来の画素を有する光
電変換装置の電気出力をＡＤ変換する方法に比べ、極め
て精度良く画素の走査のタイミングとＡＤ変換のタイミ
ングとを合わせることができるので、データがストック
される画像メモリーの位置と光電変換装置の画素とを正
確に対応させることができ、サンプルホールドされた出
力波形の不定形性があっても、適切なタイミングでＡＤ
変換できるようになる。
電変換装置の電気出力をＡＤ変換する方法に比べ、極め
て精度良く画素の走査のタイミングとＡＤ変換のタイミ
ングとを合わせることができるので、データがストック
される画像メモリーの位置と光電変換装置の画素とを正
確に対応させることができ、サンプルホールドされた出
力波形の不定形性があっても、適切なタイミングでＡＤ
変換できるようになる。
【００２７】さらに、ＡＤ変換前の出力波形のなまりを
防止し、正確なＡＤ変換値を得ることができる。
防止し、正確なＡＤ変換値を得ることができる。
【００２８】以上は、光反射性の物体の表面形状を測定
したり、光透過性物体の透視歪を測定したりする場合の
光電変換装置に応用した場合について説明したが、本発
明の方法及び装置は、光散乱性の物体形状測定や透明板
の厚み測定など、画素を有する光変換装置の電気出力を
処理する方法及び装置に係るものであれば広く応用可能
なものである。
したり、光透過性物体の透視歪を測定したりする場合の
光電変換装置に応用した場合について説明したが、本発
明の方法及び装置は、光散乱性の物体形状測定や透明板
の厚み測定など、画素を有する光変換装置の電気出力を
処理する方法及び装置に係るものであれば広く応用可能
なものである。
【図１】本発明の方法及び装置を示す概念図
【図２】低周波数の帯域を持つアンプを使用するときの
出力波形のなまりを示すグラフ
出力波形のなまりを示すグラフ
【図３】出力波形のなまった出力を１画素ごとの出力変
化の図として示したグラフ
化の図として示したグラフ
【図４】透視歪みを測定する原理を表わす概念図
【図５】表面形状を測定する原理を表わす概念図
１ 光電変換装置 ２ サンプルホールド回路 ３ ＣＣＤ駆動信号発生装置 ４ ＣＣＤ ５ アンプ ６ 遅延回路 ７ クロック ８ 駆動信号発生装置 ９ ＡＤ変換装置 ２１ スクリーン ２６ 被測定物 ２７ 受光面 ２８ 被測定物
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04N 7/18 H04N 5/30 - 5/335 G01B 11/00
Claims (4)
- 【請求項１】画素を有する光電変換装置の電気出力をア
ナログ−デジタル変換する際に、アナログ−デジタル変
換のタイミングをとるクロックにより、光電変換装置が
その画素を走査をする駆動信号発生及び電気出力のサン
プルホールドのタイミングをとるとともに、遅延回路に
よりアナログ−デジタル変換のタイミングと画素の走査
のタイミングとを調整することを特徴とする画素を有す
る光電変換装置の電気出力を処理する方法。 - 【請求項２】画素を有する光電変換装置の電気出力を、
１画素のデータがサンプルホールドされている時間程度
以下のセットリングタイムを有するアンプを介してアナ
ログ−デジタル変換装置に入力することを特徴とする請
求項１記載の画素を有する光電変換装置の電気出力を処
理する方法。 - 【請求項３】画素を有する光電変換装置と、その電気出
力をアナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル変
換装置と、アナログ−デジタル変換のタイミングをとる
とともに光電変換装置の画素の走査のための駆動信号発
生及び電気出力のサンプルホールドのタイミングをとる
クロックと、画素ごとの光電変換のタイミングとアナロ
グ−デジタル変換のタイミングとを調整する遅延回路
と、からなる、画素を有する光電変換装置の電気出力を
処理する装置。 - 【請求項４】光電変換装置とアナログ−デジタル変換装
置との間に１画素のデータがサンプルホールドされてい
る時間程度以下のセットリングタイムを有するアンプを
配置したことを特徴とする画素を有する請求項３記載の
光電変換装置の電気出力を処理する装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12232391A JP3190061B2 (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12232391A JP3190061B2 (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04324786A JPH04324786A (ja) | 1992-11-13 |
| JP3190061B2 true JP3190061B2 (ja) | 2001-07-16 |
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ID=14833127
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12232391A Expired - Fee Related JP3190061B2 (ja) | 1991-04-24 | 1991-04-24 | 画素を有する光電変換装置の電気出力を処理する方法及びその装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3190061B2 (ja) |
-
1991
- 1991-04-24 JP JP12232391A patent/JP3190061B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04324786A (ja) | 1992-11-13 |
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