JP3166665B2 - π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置 - Google Patents
π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置Info
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- JP3166665B2 JP3166665B2 JP18667197A JP18667197A JP3166665B2 JP 3166665 B2 JP3166665 B2 JP 3166665B2 JP 18667197 A JP18667197 A JP 18667197A JP 18667197 A JP18667197 A JP 18667197A JP 3166665 B2 JP3166665 B2 JP 3166665B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、π／４ＤＱＰＳＫ
変調信号の変調を高精度に測定するためのπ／４ＤＱＰ
ＳＫ変調精度測定装置に関する。
変調信号の変調を高精度に測定するためのπ／４ＤＱＰ
ＳＫ変調精度測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の変調精度測定装置として
は、図４，図５に示すようなものがあった。図４は従来
の変調精度測定装置の構成を示すブロック図、図５は従
来の他の変調精度測定装置の構成を示すブロック図であ
る。例えば類似したものに、図４の装置には特開平７−
235956号公報が、図５の装置には特開平７−297859号公
報がある。
は、図４，図５に示すようなものがあった。図４は従来
の変調精度測定装置の構成を示すブロック図、図５は従
来の他の変調精度測定装置の構成を示すブロック図であ
る。例えば類似したものに、図４の装置には特開平７−
235956号公報が、図５の装置には特開平７−297859号公
報がある。
【０００３】以下、図４および図５を参照して、従来の
変調精度測定装置の構成を説明する。まず図４におい
て、30は入力した被測定信号Ａを所定の周期でサンプリ
ングしてＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、31はＡ／Ｄ変換
によりディジタルデータに変換された被測定信号Ａの波
形を表すディジタル時系列データＡi(以下、時系列デー
タＡiという)を記憶する波形メモリであり、Ａ／Ｄ変換
器30と波形メモリ31で波形取り込み手段301を構成す
る。32は被測定信号Ａのシンボル識別点位置Ｂを抽出す
るシンボル識別点抽出手段、33はシンボル識別点抽出手
段32で算出したシンボル識別点位置Ｂに同期したサンプ
リングをＡ／Ｄ変換器30に対してタイミング制御するサ
ンプリングタイミング制御手段、34はシンボル識別点位
置Ｂから被測定信号Ａの時系列データＡiを処理して被
測定信号の変調精度を算出する変調精度演算手段であ
る。
変調精度測定装置の構成を説明する。まず図４におい
て、30は入力した被測定信号Ａを所定の周期でサンプリ
ングしてＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、31はＡ／Ｄ変換
によりディジタルデータに変換された被測定信号Ａの波
形を表すディジタル時系列データＡi(以下、時系列デー
タＡiという)を記憶する波形メモリであり、Ａ／Ｄ変換
器30と波形メモリ31で波形取り込み手段301を構成す
る。32は被測定信号Ａのシンボル識別点位置Ｂを抽出す
るシンボル識別点抽出手段、33はシンボル識別点抽出手
段32で算出したシンボル識別点位置Ｂに同期したサンプ
リングをＡ／Ｄ変換器30に対してタイミング制御するサ
ンプリングタイミング制御手段、34はシンボル識別点位
置Ｂから被測定信号Ａの時系列データＡiを処理して被
測定信号の変調精度を算出する変調精度演算手段であ
る。
【０００４】また図５は図４の構成から、サンプリング
タイミング制御手段33を省略し、変調精度の演算は時系
列データＡiから算出したシンボル識別点位置Ｂに最も
近いサンプル点Ａ0を基に算出するＡ0算出手段35を有す
るようにした構成であり、その他の構成要素は図４に示
すものと同様である。
タイミング制御手段33を省略し、変調精度の演算は時系
列データＡiから算出したシンボル識別点位置Ｂに最も
近いサンプル点Ａ0を基に算出するＡ0算出手段35を有す
るようにした構成であり、その他の構成要素は図４に示
すものと同様である。
【０００５】次に図４，図５を参照して、上記従来の変
調精度測定装置の動作を説明する。まず図４の装置で
は、被測定信号ＡをＡ／Ｄ変換器30により時系列データ
Ａiに変換して波形メモリ31に格納する。この際にシン
ボル識別点抽出手段32では被測定信号のシンボル識別点
の抽出を行ない、サンプリングタイミング制御手段33で
Ａ／Ｄ変換器30のサンプリングタイミングをシンボル識
別点に同期させる。変調精度演算手段34では、シンボル
識別点抽出手段32からシンボル識別点位置Ｂの情報を得
て、時系列データＡiから変調精度を算出し算出値Ｍを
出力する。
調精度測定装置の動作を説明する。まず図４の装置で
は、被測定信号ＡをＡ／Ｄ変換器30により時系列データ
Ａiに変換して波形メモリ31に格納する。この際にシン
ボル識別点抽出手段32では被測定信号のシンボル識別点
の抽出を行ない、サンプリングタイミング制御手段33で
Ａ／Ｄ変換器30のサンプリングタイミングをシンボル識
別点に同期させる。変調精度演算手段34では、シンボル
識別点抽出手段32からシンボル識別点位置Ｂの情報を得
て、時系列データＡiから変調精度を算出し算出値Ｍを
出力する。
【０００６】図５の装置では、Ａ／Ｄ変換器30は被測定
信号Ａのシンボル識別点に非同期でサンプリングを行な
い、時系列データＡiに変換して波形メモリ31に格納す
る。Ａ0算出手段35では、時系列データＡiからシンボル
識別点位置Ｂに最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段34では、Ａ0と時系列データＡiから変調精度
を算出し算出値Ｍを出力する。
信号Ａのシンボル識別点に非同期でサンプリングを行な
い、時系列データＡiに変換して波形メモリ31に格納す
る。Ａ0算出手段35では、時系列データＡiからシンボル
識別点位置Ｂに最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段34では、Ａ0と時系列データＡiから変調精度
を算出し算出値Ｍを出力する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】π／４ＤＱＰＳＫ変調
信号の変調精度は、被測定信号のシンボル識別点を演算
することによって得られる。しかしながら上記図４に示
す従来の装置のような被測定信号のシンボル識別点に同
期した波形取り込み手段は、実現が技術的にかなり困
難、かつ装置の回路規模が大きくなるという問題があっ
た。
信号の変調精度は、被測定信号のシンボル識別点を演算
することによって得られる。しかしながら上記図４に示
す従来の装置のような被測定信号のシンボル識別点に同
期した波形取り込み手段は、実現が技術的にかなり困
難、かつ装置の回路規模が大きくなるという問題があっ
た。
【０００８】一方、図５に示す装置において簡単な構成
で実現できるが、被測定信号のシンボル識別点とＡ／Ｄ
変換器のサンプリングタイミングのずれが測定精度を劣
化させる。また、十分な測定精度を得るためには高いサ
ンプリングレートが必要であり、波形メモリの容量が増
大するという問題があった。
で実現できるが、被測定信号のシンボル識別点とＡ／Ｄ
変換器のサンプリングタイミングのずれが測定精度を劣
化させる。また、十分な測定精度を得るためには高いサ
ンプリングレートが必要であり、波形メモリの容量が増
大するという問題があった。
【０００９】本発明は、上記従来の問題を解決するため
になされたもので、簡単な回路構成で高精度に被測定信
号の変調精度を測定することができるπ／４ＤＱＰＳＫ
変調精度測定装置を提供することを目的とする。
になされたもので、簡単な回路構成で高精度に被測定信
号の変調精度を測定することができるπ／４ＤＱＰＳＫ
変調精度測定装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、π
／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測定信号を、Ａ／Ｄ
変換器によりサンプリングして時系列データＡiに変換
する波形取り込み手段と、前記時系列データＡiから被
測定信号のシンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を
算出するＡ0算出手段と、前記サンプル点Ａ0とその近傍
のＮ点の変調精度を算出する変調精度演算手段と、前記
サンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近似
から被測定信号のシンボル識別点の変調精度を算出する
変調精度近似手段を備えた構成としたものである。
に、本発明のπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、π
／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測定信号を、Ａ／Ｄ
変換器によりサンプリングして時系列データＡiに変換
する波形取り込み手段と、前記時系列データＡiから被
測定信号のシンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を
算出するＡ0算出手段と、前記サンプル点Ａ0とその近傍
のＮ点の変調精度を算出する変調精度演算手段と、前記
サンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近似
から被測定信号のシンボル識別点の変調精度を算出する
変調精度近似手段を備えた構成としたものである。
【００１１】これは前記波形取り込み手段が被測定信号
をＡ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識別点に対
して非同期にサンプリングして時系列データＡiに変換
し、Ａ0算出手段が時系列データＡiから被測定信号のシ
ンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段がサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度を算出し、変調精度近似手段が、サンプル点Ａ0とそ
の近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信号のシ
ンボル識別点の変調精度を算出することにより、被測定
信号のシンボル識別点と非同期サンプリングのサンプリ
ングのずれを補償した測定値を算出することが可能とな
る。
をＡ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識別点に対
して非同期にサンプリングして時系列データＡiに変換
し、Ａ0算出手段が時系列データＡiから被測定信号のシ
ンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段がサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度を算出し、変調精度近似手段が、サンプル点Ａ0とそ
の近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信号のシ
ンボル識別点の変調精度を算出することにより、被測定
信号のシンボル識別点と非同期サンプリングのサンプリ
ングのずれを補償した測定値を算出することが可能とな
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図１ないし図３を用いて説明する。
て図１ないし図３を用いて説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施の形態におけるπ／
４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置の構成を示すブロック図
である。図１に示すπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置
において、20は入力した被測定信号Ａを所定の周期でサ
ンプリングして時系列データＡiに変換するＡ／Ｄ変換
器、21はＡ／Ｄ変換器20により時系列データＡiに変換
された被測定信号の波形を記憶する波形メモリであり、
Ａ／Ｄ変換器20と波形メモリ21で波形取り込み手段201
を構成する。22は時系列データＡiから被測定信号のシ
ンボル識別点位置に最も近いサンプル点Ａ0を算出する
Ａ0算出手段、23はサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変
調精度を算出する変調精度演算手段、24はサンプル点Ａ
0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信
号のシンボル識別点の変調精度を算出する変調精度近似
手段である。
４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置の構成を示すブロック図
である。図１に示すπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置
において、20は入力した被測定信号Ａを所定の周期でサ
ンプリングして時系列データＡiに変換するＡ／Ｄ変換
器、21はＡ／Ｄ変換器20により時系列データＡiに変換
された被測定信号の波形を記憶する波形メモリであり、
Ａ／Ｄ変換器20と波形メモリ21で波形取り込み手段201
を構成する。22は時系列データＡiから被測定信号のシ
ンボル識別点位置に最も近いサンプル点Ａ0を算出する
Ａ0算出手段、23はサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変
調精度を算出する変調精度演算手段、24はサンプル点Ａ
0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信
号のシンボル識別点の変調精度を算出する変調精度近似
手段である。
【００１４】次に上記本実施の形態の動作について図２
及び図３を参照して説明する。図２は波形取り込み手段
201によって被測定信号Ａをサンプリングしたときの時
系列データＡiの被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに
最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点のデータをＩ
／Ｑ座標に表した図であり、図３はシンボル識別点位置
Ｂに最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度算出値を示す図である。
及び図３を参照して説明する。図２は波形取り込み手段
201によって被測定信号Ａをサンプリングしたときの時
系列データＡiの被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに
最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点のデータをＩ
／Ｑ座標に表した図であり、図３はシンボル識別点位置
Ｂに最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度算出値を示す図である。
【００１５】まず、Ａ／Ｄ変換器20は被測定信号Ａを時
系列データＡiに変換して波形メモリ21に格納する。こ
のとき、Ａ／Ｄ変換器のサンプルタイミングは被測定信
号のシンボル識別点位置Ｂに対して非同期であり、時系
列データＡiを復調したものは、図２に示すように被測
定信号のシンボル識別点位置Ｂを復調したものからずれ
が生じる。
系列データＡiに変換して波形メモリ21に格納する。こ
のとき、Ａ／Ｄ変換器のサンプルタイミングは被測定信
号のシンボル識別点位置Ｂに対して非同期であり、時系
列データＡiを復調したものは、図２に示すように被測
定信号のシンボル識別点位置Ｂを復調したものからずれ
が生じる。
【００１６】次に、Ａ0算出手段22によって時系列デー
タＡiから被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに最も近
いサンプル点Ａ0を算出し、変調精度演算手段23によっ
てサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度値…Ｍ(-
1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を算出する。算出した変調精度値…
Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…は、図３に示すように被測定信
号のシンボル識別点から離れるに連れて算出した変調精
度値は大きくなる。最後に、変調精度近似手段24によっ
て、算出した変調精度値…Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を曲
線近似し曲線の最小値を求め、被測定信号のシンボル識
別点の変調精度値Ｍとする。
タＡiから被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに最も近
いサンプル点Ａ0を算出し、変調精度演算手段23によっ
てサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度値…Ｍ(-
1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を算出する。算出した変調精度値…
Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…は、図３に示すように被測定信
号のシンボル識別点から離れるに連れて算出した変調精
度値は大きくなる。最後に、変調精度近似手段24によっ
て、算出した変調精度値…Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を曲
線近似し曲線の最小値を求め、被測定信号のシンボル識
別点の変調精度値Ｍとする。
【００１７】このような本実施の形態は、被測定信号の
シンボル識別点位置における変調精度値はシンボル識別
点位置近傍点の変調精度値の最小点を示すことを利用
し、時系列データＡiから推定したシンボル識別点に最
も近い点Ａ0とその近傍Ｎ点の変調精度算出結果の曲線
近似から被測定信号のシンボル識別点位置の変調精度値
Ｍを近似算出することによって、非同期サンプリングの
サンプリングのずれを補償した測定値を算出することが
可能となり、波形取り込み手段が被測定信号のシンボル
識別点に非同期にサンプリングする構成でも、シンボル
識別点とサンプリングタイミングのずれに影響されずに
簡単な構成で、高精度に変調精度を測定することができ
る。
シンボル識別点位置における変調精度値はシンボル識別
点位置近傍点の変調精度値の最小点を示すことを利用
し、時系列データＡiから推定したシンボル識別点に最
も近い点Ａ0とその近傍Ｎ点の変調精度算出結果の曲線
近似から被測定信号のシンボル識別点位置の変調精度値
Ｍを近似算出することによって、非同期サンプリングの
サンプリングのずれを補償した測定値を算出することが
可能となり、波形取り込み手段が被測定信号のシンボル
識別点に非同期にサンプリングする構成でも、シンボル
識別点とサンプリングタイミングのずれに影響されずに
簡単な構成で、高精度に変調精度を測定することができ
る。
【００１８】なお、本実施の形態におけるπ／４ＤＱＰ
ＳＫ変調精度測定装置はハードウェアまたはソフトウェ
アのいずれでも実現することが可能である。
ＳＫ変調精度測定装置はハードウェアまたはソフトウェ
アのいずれでも実現することが可能である。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によるπ／
４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、特に時系列データＡ
iから推定したシンボル識別点に最も近い点Ａ0とその近
傍Ｎ点の変調精度算出結果の曲線近似から被測定信号の
シンボル識別点位置の変調精度値Ｍを近似算出すること
によって、非同期サンプリングのサンプリングのずれを
補償した測定値を算出することが可能となる。その結
果、非同期サンプリングのサンプリングのずれに影響さ
れず高精度の測定を行なうことが可能となり、かつ回路
構成を単純にできる。
４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、特に時系列データＡ
iから推定したシンボル識別点に最も近い点Ａ0とその近
傍Ｎ点の変調精度算出結果の曲線近似から被測定信号の
シンボル識別点位置の変調精度値Ｍを近似算出すること
によって、非同期サンプリングのサンプリングのずれを
補償した測定値を算出することが可能となる。その結
果、非同期サンプリングのサンプリングのずれに影響さ
れず高精度の測定を行なうことが可能となり、かつ回路
構成を単純にできる。
【図１】本発明の一実施の形態におけるπ／４ＤＱＰＳ
Ｋ変調精度測定装置の構成を示すブロック図である。
Ｋ変調精度測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１におけるディジタル時系列データＡiのＩ
／Ｑ座標表現を示す図である。
／Ｑ座標表現を示す図である。
【図３】図２におけるシンボル識別点に最も近い点Ａ0
とその近傍Ｎ点の変調精度算出値を示す図である。
とその近傍Ｎ点の変調精度算出値を示す図である。
【図４】従来例における変調精度測定装置の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】従来例における変調精度測定装置の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
20…Ａ／Ｄ変換器、 21…波形メモリ、 22…ＡO算出
手段、 23…変調精度演算手段、 24…変調精度近似手
段、 201…波形取り込み手段
手段、 23…変調精度演算手段、 24…変調精度近似手
段、 201…波形取り込み手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−213257（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−291793（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−291797（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 27/00 - 27/38
Claims (1)
- 【請求項１】 π／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測
定信号を、Ａ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識
別点に対して非同期にサンプリングしてディジタル時系
列データＡiに変換する波形取り込み手段と、前記ディ
ジタル時系列データＡiから被測定信号のシンボル識別
点に最も近いサンプル点Ａ0を算出するＡ0算出手段と、
前記サンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度を算出
する変調精度演算手段と、前記サンプル点Ａ0とその近
傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信号のシンボ
ル識別点の変調精度を算出する変調精度近似手段を備え
たことを特徴とするπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18667197A JP3166665B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18667197A JP3166665B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1132093A JPH1132093A (ja) | 1999-02-02 |
| JP3166665B2 true JP3166665B2 (ja) | 2001-05-14 |
Family
ID=16192633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18667197A Expired - Fee Related JP3166665B2 (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3166665B2 (ja) |
-
1997
- 1997-07-11 JP JP18667197A patent/JP3166665B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1132093A (ja) | 1999-02-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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