JP3137366B2 - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents
磁気共鳴イメージング装置Info
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 40
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
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- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 2
- 101000588924 Anthopleura elegantissima Delta-actitoxin-Ael1a Proteins 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
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- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/58—Calibration of imaging systems, e.g. using test probes, Phantoms; Calibration objects or fiducial markers such as active or passive RF coils surrounding an MR active material
- G01R33/583—Calibration of signal excitation or detection systems, e.g. for optimal RF excitation power or frequency
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気共鳴（ＭＲ：magn
etic resonance ）現象を利用し画像を生成し得る磁気
共鳴イメージング装置に関する。
etic resonance ）現象を利用し画像を生成し得る磁気
共鳴イメージング装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気共鳴現象は、静磁場中に置かれた零
でないスピン及び磁気モ―メントを持つ原子核が特定の
周波数の電磁波のみを共鳴的に吸収・放出する現象であ
り、この原子核は下記式に示す角周波数ω0 （ω0 ＝２
πν0 ，ν0 ；ラ―モア周波数）で共鳴する。 ω0 ＝γＨ0 ここで、γは原子核の種類に固有の磁気回転比であ
り、また、Ｈ0 は静磁場強度である。
でないスピン及び磁気モ―メントを持つ原子核が特定の
周波数の電磁波のみを共鳴的に吸収・放出する現象であ
り、この原子核は下記式に示す角周波数ω0 （ω0 ＝２
πν0 ，ν0 ；ラ―モア周波数）で共鳴する。 ω0 ＝γＨ0 ここで、γは原子核の種類に固有の磁気回転比であ
り、また、Ｈ0 は静磁場強度である。
【０００３】以上の原理を利用して生体診断を行う装置
は、上述の共鳴吸収の後に誘起される上記と同じ周波数
の電磁波を信号処理して、原子核密度，縦緩和時間
Ｔ1 ，横緩和時間Ｔ2 ，流れ，化学シフト等の磁気共鳴
パラメータが反映された診断情報例えば被検者のスライ
ス像等を無侵襲で得るようにしている。
は、上述の共鳴吸収の後に誘起される上記と同じ周波数
の電磁波を信号処理して、原子核密度，縦緩和時間
Ｔ1 ，横緩和時間Ｔ2 ，流れ，化学シフト等の磁気共鳴
パラメータが反映された診断情報例えば被検者のスライ
ス像等を無侵襲で得るようにしている。
【０００４】そして、磁気共鳴による診断情報の収集
は、静磁場中に配置した被検者の全部位を励起し且つ信
号収集することができるものであるが、装置構成上の制
約やイメ―ジング像の臨床上の要請から、実際の装置と
しては特定の部位に対する励起とその信号収集とを行う
ようにしている。
は、静磁場中に配置した被検者の全部位を励起し且つ信
号収集することができるものであるが、装置構成上の制
約やイメ―ジング像の臨床上の要請から、実際の装置と
しては特定の部位に対する励起とその信号収集とを行う
ようにしている。
【０００５】この場合、イメ―ジング対象とする特定部
位は、一般にある厚さを持ったスライス部位であるのが
通例であり、このスライス部位からのエコ―信号やＦＩ
Ｄ信号の磁気共鳴信号（ＭＲ信号）を多数回のデ―タエ
ンコ―ド過程を実行することにより収集し、これらデ―
タ群を、例えば２次元フ―リエ変換法により画像再構成
処理することにより前記特定スライス部位の断層像（ス
ライス像）を生成するようにしている。
位は、一般にある厚さを持ったスライス部位であるのが
通例であり、このスライス部位からのエコ―信号やＦＩ
Ｄ信号の磁気共鳴信号（ＭＲ信号）を多数回のデ―タエ
ンコ―ド過程を実行することにより収集し、これらデ―
タ群を、例えば２次元フ―リエ変換法により画像再構成
処理することにより前記特定スライス部位の断層像（ス
ライス像）を生成するようにしている。
【０００６】このような磁気共鳴イメージング装置には
従来からＡＰＣ手段を備えたものがある。ここで、ＡＰ
Ｃとは、オート・パワー・コントロールの略であり、励
起用ＲＦパルス強度を自動的に最適に設定する機能をい
う。典型的なＡＰＣは特開昭６１−１９１９４９号公報
（昭和６１年８月２６日出願公開）に示されている。従
来のＡＰＣを図５を参照して説明する。すなわち、関心
領域の一断面について、所定のパルス繰返間隔毎に、例
えばアッテネータの減衰率を変化させることにより強度
を段階的に変化させたＲＦパルス（励起用高周波パル
ス）とスライス用傾斜磁場Ｇｓとを印加することによ
り、当該断面からＭＲ信号としてエコー信号を収集す
る。そして、ＭＲ信号が最大のときのＲＦパルス強度
を、当該断面についての最適ＲＦパルス強度であると算
定するものである。ここで、ＲＦパルスの強度は、画質
に大きな影響を与えるスピンのフリップ角を決定するも
のである。この算定されたパルス強度のＲＦパルスにて
当該断面についてスキャンを行うものである。これは、
被検体の領域によって最適ＲＦパルス強度が異なること
を前提とするものであり、被検体のどのような領域につ
いても最適なＭＲ情報を提示する技術である。
従来からＡＰＣ手段を備えたものがある。ここで、ＡＰ
Ｃとは、オート・パワー・コントロールの略であり、励
起用ＲＦパルス強度を自動的に最適に設定する機能をい
う。典型的なＡＰＣは特開昭６１−１９１９４９号公報
（昭和６１年８月２６日出願公開）に示されている。従
来のＡＰＣを図５を参照して説明する。すなわち、関心
領域の一断面について、所定のパルス繰返間隔毎に、例
えばアッテネータの減衰率を変化させることにより強度
を段階的に変化させたＲＦパルス（励起用高周波パル
ス）とスライス用傾斜磁場Ｇｓとを印加することによ
り、当該断面からＭＲ信号としてエコー信号を収集す
る。そして、ＭＲ信号が最大のときのＲＦパルス強度
を、当該断面についての最適ＲＦパルス強度であると算
定するものである。ここで、ＲＦパルスの強度は、画質
に大きな影響を与えるスピンのフリップ角を決定するも
のである。この算定されたパルス強度のＲＦパルスにて
当該断面についてスキャンを行うものである。これは、
被検体の領域によって最適ＲＦパルス強度が異なること
を前提とするものであり、被検体のどのような領域につ
いても最適なＭＲ情報を提示する技術である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のＡＰＣ
手段を備えた磁気共鳴イメージング装置は以下に述べる
ような問題点がある。すなわち、前述した強度可変にて
ＭＲ信号を収集する過程において、ある値に設定された
強度でＭＲ信号を収集した後、次に設定された強度でＲ
Ｆ信号を収集しようとするには、一度励起された面内の
スピンの縦緩和を待つ必要があり、これがために信号収
集サイクル（パルス繰返間隔）を極端に短縮するこはで
きない、という問題があった。通常、パルス繰返間隔
は、１秒或いはそれ以上の間隔を置いて測定がなされて
いる。この場合、たとえカーブフィット等の技法により
測定点を減らしたとしても全過程を終えるのには数秒〜
数１０秒を要することになった。そこで本発明の目的
は、短時間にＡＰＣを実現し得る磁気共鳴イメージング
装置を提供することにある。
手段を備えた磁気共鳴イメージング装置は以下に述べる
ような問題点がある。すなわち、前述した強度可変にて
ＭＲ信号を収集する過程において、ある値に設定された
強度でＭＲ信号を収集した後、次に設定された強度でＲ
Ｆ信号を収集しようとするには、一度励起された面内の
スピンの縦緩和を待つ必要があり、これがために信号収
集サイクル（パルス繰返間隔）を極端に短縮するこはで
きない、という問題があった。通常、パルス繰返間隔
は、１秒或いはそれ以上の間隔を置いて測定がなされて
いる。この場合、たとえカーブフィット等の技法により
測定点を減らしたとしても全過程を終えるのには数秒〜
数１０秒を要することになった。そこで本発明の目的
は、短時間にＡＰＣを実現し得る磁気共鳴イメージング
装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し且つ目
的を達成するために本発明は次のような構成を採る。す
なわち、請求項１に係る発明は、静磁場中に配置された
被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に励起用高周
波パルスを印加することにより前記被検体の特定領域に
磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気共鳴信号を
検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気共鳴イメー
ジング装置において、前記被検体内における複数の領域
のそれぞれを、異なる強度の励起用高周波パルスにより
励起する第１の手段と、前記第１の手段を実行したとき
の磁気共鳴信号を領域毎に得る第２の手段と、前記第２
の手段を実行したときの最大値の磁気共鳴信号を与える
励起用高周波パルスの強度を求める第３の手段と、を具
備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置、で
ある。
的を達成するために本発明は次のような構成を採る。す
なわち、請求項１に係る発明は、静磁場中に配置された
被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に励起用高周
波パルスを印加することにより前記被検体の特定領域に
磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気共鳴信号を
検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気共鳴イメー
ジング装置において、前記被検体内における複数の領域
のそれぞれを、異なる強度の励起用高周波パルスにより
励起する第１の手段と、前記第１の手段を実行したとき
の磁気共鳴信号を領域毎に得る第２の手段と、前記第２
の手段を実行したときの最大値の磁気共鳴信号を与える
励起用高周波パルスの強度を求める第３の手段と、を具
備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置、で
ある。
【０００９】請求項２に係る発明は、静磁場中に配置さ
れた被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に励起用
高周波パルスを印加することにより前記被検体の特定領
域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気共鳴信
号を検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気共鳴イ
メージング装置において、前記被検体内における複数の
領域のそれぞれを、異なる強度の励起用高周波パルスに
より励起する第１の手段と、前記第１の手段を実行した
ときの磁気共鳴信号を領域毎に得る第２の手段と、前記
被検体内における複数の領域のそれぞれを、所定の強度
の励起用高周波パルスにより励起する第３の手段と、前
記第３の手段を実行したときの磁気共鳴信号を領域毎に
得る第４の手段と、
れた被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に励起用
高周波パルスを印加することにより前記被検体の特定領
域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気共鳴信
号を検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気共鳴イ
メージング装置において、前記被検体内における複数の
領域のそれぞれを、異なる強度の励起用高周波パルスに
より励起する第１の手段と、前記第１の手段を実行した
ときの磁気共鳴信号を領域毎に得る第２の手段と、前記
被検体内における複数の領域のそれぞれを、所定の強度
の励起用高周波パルスにより励起する第３の手段と、前
記第３の手段を実行したときの磁気共鳴信号を領域毎に
得る第４の手段と、
【００１０】前記第２の手段により得られる各領域から
の磁気共鳴信号強度を、前記第４の手段により得られた
所定の強度の励起用高周波パルスによる領域毎の磁気共
鳴信号により補正し、補正された磁気共鳴信号強度が最
大となる励起用高周波パルス強度を求める第５の手段
と、を具備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング
装置、である。
の磁気共鳴信号強度を、前記第４の手段により得られた
所定の強度の励起用高周波パルスによる領域毎の磁気共
鳴信号により補正し、補正された磁気共鳴信号強度が最
大となる励起用高周波パルス強度を求める第５の手段
と、を具備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング
装置、である。
【００１１】このように構成された請求項１に係る発明
によれば、近接するが位置が異なる複数スライス面（領
域）をそれぞれ強度が異なる励起用高周波パルスにより
励起し、当該複数スライス面毎の磁気共鳴信号を収集す
るように構成されているので、磁気共鳴信号を最大にす
る励起用高周波パルス強度を短時間で算定できる。
によれば、近接するが位置が異なる複数スライス面（領
域）をそれぞれ強度が異なる励起用高周波パルスにより
励起し、当該複数スライス面毎の磁気共鳴信号を収集す
るように構成されているので、磁気共鳴信号を最大にす
る励起用高周波パルス強度を短時間で算定できる。
【００１２】また、請求項２に係る発明によれば、近接
するが位置が異なる複数スライス面（領域）をそれぞれ
強度が異なる励起用高周波パルスにより励起し、当該複
数スライス面毎の磁気共鳴信号を収集するように構成さ
れているので、磁気共鳴信号を最大にする励起用高周波
パルス強度を短時間で算定でき、かつこの場合におい
て、第２の手段により得られる各領域からの磁気共鳴信
号強度を、第４の手段により得られた所定の強度の励起
用高周波パルスによる領域毎の磁気共鳴信号により補正
するように構成されているので、補正された磁気共鳴信
号に基づいて精度良く励起用高周波パルス強度の算定を
行える。
するが位置が異なる複数スライス面（領域）をそれぞれ
強度が異なる励起用高周波パルスにより励起し、当該複
数スライス面毎の磁気共鳴信号を収集するように構成さ
れているので、磁気共鳴信号を最大にする励起用高周波
パルス強度を短時間で算定でき、かつこの場合におい
て、第２の手段により得られる各領域からの磁気共鳴信
号強度を、第４の手段により得られた所定の強度の励起
用高周波パルスによる領域毎の磁気共鳴信号により補正
するように構成されているので、補正された磁気共鳴信
号に基づいて精度良く励起用高周波パルス強度の算定を
行える。
【００１３】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。図１は、本実施例装置の概略構成を示すブロック
図、図２は同装置の送信部の詳細ブロック図である。図
１に示すように、本実施例装置は、マグネットアッセン
ブリ１０と、寝台２０と、電気系３０とからなる。
する。図１は、本実施例装置の概略構成を示すブロック
図、図２は同装置の送信部の詳細ブロック図である。図
１に示すように、本実施例装置は、マグネットアッセン
ブリ１０と、寝台２０と、電気系３０とからなる。
【００１４】マグネットアッセンブリ１０は、静磁場を
発生するための超電導磁石、常電導磁石、永久磁石の如
き磁石１１と、Ｘ軸方向に沿う傾斜磁場を発生するＸ軸
傾斜磁場コイル１２と、Ｙ軸方向に沿う傾斜磁場を発生
するＹ軸傾斜磁場コイル１３と、Ｚ軸方向に沿う傾斜磁
場を発生するＺ軸傾斜磁場コイル１４と、励起用高周波
パルス磁場（ＲＦパルス）を図示しない被検体に印加す
る送信コイル１５と、図示しない被検体から誘起した磁
気共鳴信号（エコー信号）を収集する受信コイル１６と
からなる。また、マグネットアッセンブリ１０の内部に
は、図示しない被検体を収容できる空間が形成されてい
る。さらに当該空間に静磁場，傾斜磁場，ＲＦパルスを
発生し得、これら合成磁場を当該被検体に印加すること
ができ、被検体から誘起したエコー信号を収集すること
ができるようになっている。寝台２０は、図示しない被
検体を載置し、当該被検体をマグネットアッセンブリ１
０の内部空間に出入れできるようになっている。
発生するための超電導磁石、常電導磁石、永久磁石の如
き磁石１１と、Ｘ軸方向に沿う傾斜磁場を発生するＸ軸
傾斜磁場コイル１２と、Ｙ軸方向に沿う傾斜磁場を発生
するＹ軸傾斜磁場コイル１３と、Ｚ軸方向に沿う傾斜磁
場を発生するＺ軸傾斜磁場コイル１４と、励起用高周波
パルス磁場（ＲＦパルス）を図示しない被検体に印加す
る送信コイル１５と、図示しない被検体から誘起した磁
気共鳴信号（エコー信号）を収集する受信コイル１６と
からなる。また、マグネットアッセンブリ１０の内部に
は、図示しない被検体を収容できる空間が形成されてい
る。さらに当該空間に静磁場，傾斜磁場，ＲＦパルスを
発生し得、これら合成磁場を当該被検体に印加すること
ができ、被検体から誘起したエコー信号を収集すること
ができるようになっている。寝台２０は、図示しない被
検体を載置し、当該被検体をマグネットアッセンブリ１
０の内部空間に出入れできるようになっている。
【００１５】電気系３０は、Ｘ軸傾斜磁場コイル１２に
対応するＸ軸傾斜磁場増幅器３１と、Ｙ軸傾斜磁場コイ
ル１３に対応するＹ軸傾斜磁場増幅器３２と、Ｚ軸傾斜
磁場コイル１４に対応するＺ軸傾斜磁場増幅器３３と、
送信コイル１５に対応するＲＦパワーアンプ３４と、Ｒ
Ｆパワーアンプ３４に与えるべきＲＦ信号を発生する送
信部３５と、受信コイル１６から得られたエコー信号を
増幅するプリアンプ３６と、プリアンプ３６で増幅され
たエコー信号を受信処理する例えば検波する受信部３７
と、送信部３５及び受信部３７に対して基準信号を与え
る基準信号発振器３８と、傾斜磁場増幅器３１，３２，
３３、送信部３５、受信部３７、基準信号発振器３８を
システム制御するシステム制御部３９と、システム制御
部３９を統括制御すると共に受信部３７により得られる
データ群に基づき画像情報を生成する計算機４０と、シ
ステム制御部３９に接続され前記画像情報を表示する表
示装置４１と、パルスシーケンス等の画像診断条件を入
力する入力装置４２とからなる。
対応するＸ軸傾斜磁場増幅器３１と、Ｙ軸傾斜磁場コイ
ル１３に対応するＹ軸傾斜磁場増幅器３２と、Ｚ軸傾斜
磁場コイル１４に対応するＺ軸傾斜磁場増幅器３３と、
送信コイル１５に対応するＲＦパワーアンプ３４と、Ｒ
Ｆパワーアンプ３４に与えるべきＲＦ信号を発生する送
信部３５と、受信コイル１６から得られたエコー信号を
増幅するプリアンプ３６と、プリアンプ３６で増幅され
たエコー信号を受信処理する例えば検波する受信部３７
と、送信部３５及び受信部３７に対して基準信号を与え
る基準信号発振器３８と、傾斜磁場増幅器３１，３２，
３３、送信部３５、受信部３７、基準信号発振器３８を
システム制御するシステム制御部３９と、システム制御
部３９を統括制御すると共に受信部３７により得られる
データ群に基づき画像情報を生成する計算機４０と、シ
ステム制御部３９に接続され前記画像情報を表示する表
示装置４１と、パルスシーケンス等の画像診断条件を入
力する入力装置４２とからなる。
【００１６】次に、図２を参照して送信部３５の詳細を
説明する。すなわち、送信部３５は、波形発生器３５Ａ
と、変調器３５Ｂと、減衰器３５Ｃとからなる。システ
ム制御部３９の制御のもとで基準信号発振器３８は、基
準信号Ｓ1 を発生する。システム制御部３９の制御のも
とで送信部３５の波形発生器３５Ａは所定の波形（ＳＩ
ＮＣ関数波形等）Ｓ2 を発生する。変調器３５Ｂは、基
準信号Ｓ1 を所定の波形Ｓ2 で変調し、変調波を得る。
システム制御部３９の制御のもとで減衰器３５Ｃは前記
変調波を減衰し、この減衰した変調波をＲＦパワーアン
プ３４に与え、ＲＦパワーアンプ３４は前記減衰した変
調波を電力増幅し、該増幅波形を送信コイル１４に与え
る。そうすると、送信コイル１４からは、ＲＦパルス磁
場が発生する。
説明する。すなわち、送信部３５は、波形発生器３５Ａ
と、変調器３５Ｂと、減衰器３５Ｃとからなる。システ
ム制御部３９の制御のもとで基準信号発振器３８は、基
準信号Ｓ1 を発生する。システム制御部３９の制御のも
とで送信部３５の波形発生器３５Ａは所定の波形（ＳＩ
ＮＣ関数波形等）Ｓ2 を発生する。変調器３５Ｂは、基
準信号Ｓ1 を所定の波形Ｓ2 で変調し、変調波を得る。
システム制御部３９の制御のもとで減衰器３５Ｃは前記
変調波を減衰し、この減衰した変調波をＲＦパワーアン
プ３４に与え、ＲＦパワーアンプ３４は前記減衰した変
調波を電力増幅し、該増幅波形を送信コイル１４に与え
る。そうすると、送信コイル１４からは、ＲＦパルス磁
場が発生する。
【００１７】ここで、本実施例の骨子を説明する。すな
わち、本実施例は、システム制御部３９のソフトウェア
に特徴がある。これは、図３又は図４にて示される。以
下、図３を参照して第１の例を説明し、図４を参照して
第２の例を説明する。すなわち、第１の例は、被検体内
における近接する異なるスライス面が順次励起されるべ
く、しかも強度を変えながら励起用高周波パルスを被検
体に印加しつつ、エコー信号を収集し、最大値の磁気共
鳴信号を与える励起用高周波パルスの強度を、当該領域
における最適パルス強度として算定するという、ＡＰＣ
である。図３に示すように、被検体Ｐにおける厚さ２．
５mmの隣合う１０スライス面について選択励起すべく、
当該被検体ＰにＲＦパルス及びスライス用傾斜磁場を印
加する。この場合、スライス面毎にＲＦパルスの強度を
例えば階段状に変える。そして、スライス面毎（ＲＦパ
ルス毎）にＭＲ信号（エコー信号）を収集する。このＭ
Ｒ信号が最大値のときのＲＦパルスの強度を、本例の励
起領域における最適ＲＦパルス強度とする。そして、本
例の励起領域についての撮影においては、この最適パル
ス強度にて、ＲＦパルスを印加する。
わち、本実施例は、システム制御部３９のソフトウェア
に特徴がある。これは、図３又は図４にて示される。以
下、図３を参照して第１の例を説明し、図４を参照して
第２の例を説明する。すなわち、第１の例は、被検体内
における近接する異なるスライス面が順次励起されるべ
く、しかも強度を変えながら励起用高周波パルスを被検
体に印加しつつ、エコー信号を収集し、最大値の磁気共
鳴信号を与える励起用高周波パルスの強度を、当該領域
における最適パルス強度として算定するという、ＡＰＣ
である。図３に示すように、被検体Ｐにおける厚さ２．
５mmの隣合う１０スライス面について選択励起すべく、
当該被検体ＰにＲＦパルス及びスライス用傾斜磁場を印
加する。この場合、スライス面毎にＲＦパルスの強度を
例えば階段状に変える。そして、スライス面毎（ＲＦパ
ルス毎）にＭＲ信号（エコー信号）を収集する。このＭ
Ｒ信号が最大値のときのＲＦパルスの強度を、本例の励
起領域における最適ＲＦパルス強度とする。そして、本
例の励起領域についての撮影においては、この最適パル
ス強度にて、ＲＦパルスを印加する。
【００１８】以上において、１つのデータ収集に要する
時間が３０msecであるとすると、本例のＡＰＣは３００
msecで完了する。この場合、隣合うスライスの干渉を避
けるために、隣り合うスライス面が連続して励起されな
いようにする等の励起順序を工夫することが望ましい。
時間が３０msecであるとすると、本例のＡＰＣは３００
msecで完了する。この場合、隣合うスライスの干渉を避
けるために、隣り合うスライス面が連続して励起されな
いようにする等の励起順序を工夫することが望ましい。
【００１９】上述した第１の例においては、異なる断面
のＭＲ信号を比較するので、近接した各スライス面の性
質（構造）が、ほぼ同一であり、面内のプロトン量はほ
とんど差が無い、ということを前提としている。
のＭＲ信号を比較するので、近接した各スライス面の性
質（構造）が、ほぼ同一であり、面内のプロトン量はほ
とんど差が無い、ということを前提としている。
【００２０】次に、上記前提が成り立たない場合、例え
ば、ＡＰＣが適用される領域が大きい場合（厚いスライ
スにてマルチスライスする場合）に好適なＡＰＣデータ
を得る手法を図４を参照して説明する。すなわち、第２
の例は、ＡＰＣ前過程とＡＰＣ本過程とからなり、ＡＰ
Ｃ前過程を実行した後にＡＰＣ本過程を実行するもので
ある。そしてＡＰＣ前過程により得たデータＳj により
ＡＰＣ本過程により得たデータＰj を補正して補正ＡＰ
ＣデータＡj を得る（１≦ｊ≦ｎ，ｎは測定点数）。
ば、ＡＰＣが適用される領域が大きい場合（厚いスライ
スにてマルチスライスする場合）に好適なＡＰＣデータ
を得る手法を図４を参照して説明する。すなわち、第２
の例は、ＡＰＣ前過程とＡＰＣ本過程とからなり、ＡＰ
Ｃ前過程を実行した後にＡＰＣ本過程を実行するもので
ある。そしてＡＰＣ前過程により得たデータＳj により
ＡＰＣ本過程により得たデータＰj を補正して補正ＡＰ
ＣデータＡj を得る（１≦ｊ≦ｎ，ｎは測定点数）。
【００２１】ＡＰＣ前過程を詳細に説明する。すなわ
ち、ＲＦパルスの強度を一定にした状態で、ＡＰＣ本過
程と同一のスライス面よりＭＲ信号を得、この信号強度
を各スライス面に存在するスピン量を反映する量として
考え、上述したＡＰＣデータをそれぞれこの量で除算す
る。すなわち、ＲＦパルスの強度を一定にして得られた
各スライス面からのＭＲ信号値をＳj （Ｓ1 〜Ｓn ）と
して、ＲＦパルスの強度を順次変化させて得られた各ス
ライス面からのＭＲ信号値をＰj （Ｐ1 〜Ｐn ）とし、
補正ＡＰＣデータＡj ＝Ｐj ／Ｓj を得る。この補正Ａ
ＰＣデータＡj が最大値となるＲＦパルス強度を最適Ｒ
Ｆパルス強度として本例の励起領域について撮影を行
う。
ち、ＲＦパルスの強度を一定にした状態で、ＡＰＣ本過
程と同一のスライス面よりＭＲ信号を得、この信号強度
を各スライス面に存在するスピン量を反映する量として
考え、上述したＡＰＣデータをそれぞれこの量で除算す
る。すなわち、ＲＦパルスの強度を一定にして得られた
各スライス面からのＭＲ信号値をＳj （Ｓ1 〜Ｓn ）と
して、ＲＦパルスの強度を順次変化させて得られた各ス
ライス面からのＭＲ信号値をＰj （Ｐ1 〜Ｐn ）とし、
補正ＡＰＣデータＡj ＝Ｐj ／Ｓj を得る。この補正Ａ
ＰＣデータＡj が最大値となるＲＦパルス強度を最適Ｒ
Ｆパルス強度として本例の励起領域について撮影を行
う。
【００２２】本発明は上述した実施例に限定されるもの
ではなく、例えば、精度向上のために、収集した複数の
ＭＲ信号により描かれる曲線を、ある関数でカーブフィ
ットして最適な設定値を求めることができ、また、測定
点を減らすことにもなる。また、ＲＦパルスの強度を、
最初は荒く掃引し、その後に最適値と想定される付近を
細かく掃引することによっても、精度の向上が図られ
る。さらに、カーブフィット等によって測定点を減らす
場合にあっては、スライス方向の全長を短くして、より
近接したスライス面内からのＭＲ信号を収集し、それを
使用することで、スライス面間のスピン量を補正する過
程を省略することができる。あるいは、１つ１つのスラ
イス厚を厚くすることにより、Ｓ／Ｎの向上、延いては
ＡＰＣデータの精度が図られる。この他、本発明は、そ
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが
できる。
ではなく、例えば、精度向上のために、収集した複数の
ＭＲ信号により描かれる曲線を、ある関数でカーブフィ
ットして最適な設定値を求めることができ、また、測定
点を減らすことにもなる。また、ＲＦパルスの強度を、
最初は荒く掃引し、その後に最適値と想定される付近を
細かく掃引することによっても、精度の向上が図られ
る。さらに、カーブフィット等によって測定点を減らす
場合にあっては、スライス方向の全長を短くして、より
近接したスライス面内からのＭＲ信号を収集し、それを
使用することで、スライス面間のスピン量を補正する過
程を省略することができる。あるいは、１つ１つのスラ
イス厚を厚くすることにより、Ｓ／Ｎの向上、延いては
ＡＰＣデータの精度が図られる。この他、本発明は、そ
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが
できる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように請求項１に係る発明は、静
磁場中に配置された被検体に対して傾斜磁場を作用させ
ると共に励起用高周波パルスを印加することにより前記
被検体の特定領域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起さ
れた磁気共鳴信号を検出して、前記被検体の画像情報を
得る磁気共鳴イメージング装置において、前記被検体内
における近接する異なるスライス面が順次励起されるた
めの可変強度の励起用高周波パルスを発生する第１の手
段と、この第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号を
スライス面毎に得る第２の手段と、この第２の手段を実
行したときに最大値の磁気共鳴信号を与える励起用高周
波パルスの強度を算定する第３の手段と、を具備したこ
とを特徴とする磁気共鳴イメージング装置、である。
磁場中に配置された被検体に対して傾斜磁場を作用させ
ると共に励起用高周波パルスを印加することにより前記
被検体の特定領域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起さ
れた磁気共鳴信号を検出して、前記被検体の画像情報を
得る磁気共鳴イメージング装置において、前記被検体内
における近接する異なるスライス面が順次励起されるた
めの可変強度の励起用高周波パルスを発生する第１の手
段と、この第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号を
スライス面毎に得る第２の手段と、この第２の手段を実
行したときに最大値の磁気共鳴信号を与える励起用高周
波パルスの強度を算定する第３の手段と、を具備したこ
とを特徴とする磁気共鳴イメージング装置、である。
【００２４】このように構成された請求項１に係る発明
によれば、近接するが異なるスライス面個々について可
変強度の励起用高周波パルスにより当該面が励起される
ことになり、当該面個々について縦緩和時間を待つこと
なく磁気共鳴信号が収集されることになる。従って、当
該面を含む領域について磁気共鳴信号を最大にする励起
用高周波パルスの強度が短時間で算定されることにな
る。
によれば、近接するが異なるスライス面個々について可
変強度の励起用高周波パルスにより当該面が励起される
ことになり、当該面個々について縦緩和時間を待つこと
なく磁気共鳴信号が収集されることになる。従って、当
該面を含む領域について磁気共鳴信号を最大にする励起
用高周波パルスの強度が短時間で算定されることにな
る。
【００２５】また、請求項２に係る発明は、静磁場中に
配置された被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に
励起用高周波パルスを印加することにより前記被検体の
特定領域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気
共鳴信号を検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気
共鳴イメージング装置において、前記被検体内における
異なる近接するスライス面が順次励起されるための可変
強度の励起用高周波パルスを発生する第１の手段と、こ
の第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号をスライス
面毎に得る第２の手段と、前記被検体内における近接す
る異なるスライス面が順次励起されるための所定の強度
の励起用高周波パルスを発生する第３の手段と、この第
３の手段を実行したときの磁気共鳴信号をスライス面毎
に得る第４の手段と、
配置された被検体に対して傾斜磁場を作用させると共に
励起用高周波パルスを印加することにより前記被検体の
特定領域に磁気共鳴現象を生じせしめ、誘起された磁気
共鳴信号を検出して、前記被検体の画像情報を得る磁気
共鳴イメージング装置において、前記被検体内における
異なる近接するスライス面が順次励起されるための可変
強度の励起用高周波パルスを発生する第１の手段と、こ
の第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号をスライス
面毎に得る第２の手段と、前記被検体内における近接す
る異なるスライス面が順次励起されるための所定の強度
の励起用高周波パルスを発生する第３の手段と、この第
３の手段を実行したときの磁気共鳴信号をスライス面毎
に得る第４の手段と、
【００２６】前記第２の手段により得られる各スライス
面からの磁気共鳴信号の強度を、前記第４の手段により
得られた所定の強度の励起用高周波パルスによるスライ
ス面毎の磁気共鳴信号により補正し、補正された磁気共
鳴信号強度が最大となる励起用高周波パルス強度を算定
する第５の手段と、を具備したことを特徴とする磁気共
鳴イメージング装置、である。
面からの磁気共鳴信号の強度を、前記第４の手段により
得られた所定の強度の励起用高周波パルスによるスライ
ス面毎の磁気共鳴信号により補正し、補正された磁気共
鳴信号強度が最大となる励起用高周波パルス強度を算定
する第５の手段と、を具備したことを特徴とする磁気共
鳴イメージング装置、である。
【００２７】以上説明したことから本発明によれば、短
時間にＡＰＣを実現し得る磁気共鳴イメージング装置を
提供できるものである。
時間にＡＰＣを実現し得る磁気共鳴イメージング装置を
提供できるものである。
【図１】 本発明の一実施例の磁気共鳴イメージング装
置の構成図。
置の構成図。
【図２】 図１における送信部の詳細名ブロック図。
【図３】 本発明におけるＡＰＣの第１の例を示す図。
【図４】 本発明におけるＡＰＣの第２の例を示す図。
【図５】 従来のＡＰＣを示す図。
１０…マグネットアセッンブリ、２０…寝台、３０…電
気系、３５…送信部、３５Ａ…波形発生器、３５Ｂ…変
調器、３５Ｃ…減衰器。
気系、３５…送信部、３５Ａ…波形発生器、３５Ｂ…変
調器、３５Ｃ…減衰器。
Claims (2)
- 【請求項１】 静磁場中に配置された被検体に対して傾
斜磁場を作用させると共に励起用高周波パルスを印加す
ることにより前記被検体の特定領域に磁気共鳴現象を生
じせしめ、誘起された磁気共鳴信号を検出して、前記被
検体の画像情報を得る磁気共鳴イメージング装置におい
て、 前記被検体内における複数の領域のそれぞれを、異なる
強度の励起用高周波パルスにより励起する第１の手段
と、前記 第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号を領域毎
に得る第２の手段と、前記第２の手段を実行したときの
最大値の磁気共鳴信号を与える励起用高周波パルスの強
度を求める第３の手段と、 を具備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング装
置。 - 【請求項２】 静磁場中に配置された被検体に対して傾
斜磁場を作用させると共に励起用高周波パルスを印加す
ることにより前記被検体の特定領域に磁気共鳴現象を生
じせしめ、誘起された磁気共鳴信号を検出して、前記被
検体の画像情報を得る磁気共鳴イメージング装置におい
て、 前記被検体内における複数の領域のそれぞれを、異なる
強度の励起用高周波パルスにより励起する第１の手段
と、前記 第１の手段を実行したときの磁気共鳴信号を領域毎
に得る第２の手段と、前記被検体内における複数の領域
のそれぞれを、所定の強度の励起用高周波パルスにより
励起する第３の手段と、前記 第３の手段を実行したときの磁気共鳴信号を領域毎
に得る第４の手段と、 前記第２の手段により得られる各領域からの磁気共鳴信
号強度を、前記第４の手段により得られた所定の強度の
励起用高周波パルスによる領域毎の磁気共鳴信号により
補正し、補正された磁気共鳴信号強度が最大となる励起
用高周波パルス強度を求める第５の手段と、 を具備したことを特徴とする磁気共鳴イメージング装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03179850A JP3137366B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| DE1992624564 DE69224564T2 (de) | 1991-07-19 | 1992-07-17 | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Leistungssteuerung bei der Bildgebung mittels magnetischer Resonanz |
| EP19920112288 EP0523740B1 (en) | 1991-07-19 | 1992-07-17 | MRI auto power control method and system |
| US08/354,473 US5481190A (en) | 1991-07-19 | 1994-12-12 | MRI auto power control method and system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03179850A JP3137366B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0523317A JPH0523317A (ja) | 1993-02-02 |
| JP3137366B2 true JP3137366B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=16073007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03179850A Expired - Lifetime JP3137366B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0523740B1 (ja) |
| JP (1) | JP3137366B2 (ja) |
| DE (1) | DE69224564T2 (ja) |
Families Citing this family (6)
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|---|---|---|---|---|
| JP2002360533A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-17 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 利得制御装置および磁気共鳴撮像装置 |
| DE10147941B4 (de) * | 2001-09-28 | 2005-01-05 | Siemens Ag | Verfahren zur Magnetresonanz-Bildgebung bei schwankender Sendefeldstärke |
| WO2005043182A1 (en) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | B1 field control in magnetic resonance imaging |
| JPWO2010038847A1 (ja) * | 2008-10-03 | 2012-03-01 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴イメージング装置及びｒｆパルス調整方法 |
| MX364248B (es) | 2013-07-15 | 2019-04-17 | Halliburton Energy Services Inc | Calibración de herramienta de registro de resonancia magnética nuclear (nmr). |
| JP6304761B2 (ja) | 2014-07-23 | 2018-04-04 | 日本電子株式会社 | 磁気共鳴測定装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2597205B1 (fr) * | 1986-04-15 | 1988-06-17 | Thomson Csf | Procede de calibration d'une excitation radiofrequence en experimentation rmn |
| US4866386A (en) * | 1988-04-26 | 1989-09-12 | Picker International, Inc. | High signal-to-noise, rapid calibration of RF pulses |
| JPH02264881A (ja) * | 1989-04-04 | 1990-10-29 | Toshiba Corp | Ｍｒスペクトロスコピー装置 |
| US4983921A (en) * | 1989-08-18 | 1991-01-08 | The Regents Of The University Of California | Rapid calibration of nutation angles in MRI |
| US5001428A (en) * | 1989-08-21 | 1991-03-19 | General Electric Company | Method for mapping the RF transmit and receive field in an NMR system |
| JP2945048B2 (ja) * | 1990-01-24 | 1999-09-06 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US5107215A (en) * | 1990-06-25 | 1992-04-21 | General Electric | Rf power calibration for an nmr scanner |
-
1991
- 1991-07-19 JP JP03179850A patent/JP3137366B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-07-17 DE DE1992624564 patent/DE69224564T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-07-17 EP EP19920112288 patent/EP0523740B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69224564D1 (de) | 1998-04-09 |
| DE69224564T2 (de) | 1998-10-29 |
| EP0523740A1 (en) | 1993-01-20 |
| EP0523740B1 (en) | 1998-03-04 |
| JPH0523317A (ja) | 1993-02-02 |
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